CN100493139C - 显示器校正系统 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及显示器校正系统，其中具体提供了一种具有以从发射电流中导出的校正系数的校正系统(105)的场发射显示器(110)。在一个实施例中，场发射显示器(110)具有在面板上的阳极(25)和焦点结构(90)。在焦点结构(90)电位保持在(但不限于)40和50伏特之间的同时阳极电位保持在地电位。测量流到焦点结构(90)的电流并将其用作场发射显示器(110)的校正系数的基础。

Description

显示器校正系统
技术领域
本发明涉及显示屏领域。更具体地说，本发明涉及但不限于平板场发射显示器(FED)和/或阴极射线管(CRT)显示器的领域。本发明描述了再校准平板场发射显示器的系统和方法。
背景技术
平板场发射显示器(FED)与标准的阴极射线管(CRT)显示器类似，通过将高能量电子撞击到荧光屏的图形元素(像素)上发光。接着激励的荧光将电子能转换为可见光。然而，与使用单个或在某些情况下使用三个电子束扫描光栅模式的荧光屏的常规CRT显示器不同的是，对于每个像素的每种颜色元素FED使用静止的电子束。与常规CRT的扫描电子束所要求的距离相比，这允许从电子源到显示屏的距离可以非常小。此外，FED的真空管可以由比常规的CRT的玻璃薄得多的玻璃制成。此外，FED的功耗比CRT低得多。这些因素使得FED对于便携式电子产品比如膝上型计算机、袖珍TV和便携式电子游戏机比较理想。
如上文所述，FED和常规的CRT显示器在图像扫描方式上不同。常规的CRT显示器通过以光栅模式扫描在荧光屏上的电子束产生图像。通常，在电子束沿行(水平)方向扫描时，它的强度根据每个像素行所需的亮度可调节。在扫描像素行之后，电子束逐步减低并以根据该行所需的亮度调制的强度扫描下一行。相反，FED通常根据“矩阵”寻址方案产生图像。在显示器的单行和列的交叉点上形成每个FED的电子束。顺序地更新行。单独启动单个行电极，并使所有的列有效，施加到每个列上的电压确定了在行和列的交叉点上形成的电子束的强度。然后，下一行随后被启动并在每个列上再次设定新的亮度信息。在已经更新了所有的行时，显示新的帧。
然而，在FED中形成每个像素的束的电子结构不必均匀。因为在制造的过程中的偏差的缘故，在给定相同的输入时不同的像素产生不同的强度。因此目前需要一种测量并校正不均匀的像素且不依赖于外部光学设备和/或以更高的工作电压进行测量的系统。
发明内容
本发明描述了一种测量并校正显示装置的不均匀的像素且不依赖于外部光学设备和/或以更高的工作电压进行测量的系统和方法。
具体地，提供了一种具有以从发射电流中导出的校正系数的校正系统的平板场发射显示器(FED)。在根据本发明的一个实施例中，FED具有在面板上的阳极和焦点结构。在焦点结构电位保持在(但不限于)40和50伏特之间的同时阳极电位保持在地电位。测量流到焦点结构的电流并将其用作场发射显示器的校正系数的基础。
在另一实施例中，本发明描述了一种显示器校正系统。显示器校正系统包括耦合到场发射显示器的部件以产生电流测量值的电流测量系统。此外，显示器校正系统包括耦合成从电流测量系统接收电流测量值以产生校正系数的计算系统。应该理解，校正系数被用于从场发射显示器的未校正的视频输入信号中产生校正的视频信号。
在另一实施例中，本发明描述了一种在前述段落中描述的显示器校正系统，其中场发射显示器的部件从阴极驱动器、栅极驱动器、焦点结构和阳极驱动器中选择。
在再一实施例中，本发明描述了一种在场发射显示器中估计校正系数的方法。该方法包括将输入模式应用到场发射显示器。此外，该方法包括从场发射显示器的部件中确定电流测量值。该方法也包括利用电流测量值确定校正系数。此外，该方法包括利用校正系数从场发射显示器的未校正的视频输入中产生校正的视频信号。
在另一实施例中，本发明描述了一种在前述段落中描述的方法，其中场发射显示器的部件从阴极驱动器、栅极驱动器、焦点结构和阳极驱动器中选择。
在另一实施例中，本发明描述了一种从场发射显示器的未校正的视频输入信号中产生校正的视频信号的显示器校正系统。显示器校正系统包括从场发射显示器的部件中确定电流测量值的装置。此外，显示器校正系统包括利用电流测量值确定校正系数的装置。显示器校正系统也包括利用校正系数从场发射显示器的未校正的视频输入中产生校正的视频信号的装置。
在另一实施例中，本发明描述了一种在前述段落中描述的显示器校正系统，其中场发射显示器的部件从阴极驱动器、栅极驱动器、焦点结构和阳极驱动器中选择。
在根据本发明的一个实施例中，FED的阳极和焦点结构保持在地电位。在栅极结构电位保持在(但不限于)40和50伏特之间。应用测试模式以启动像素。测量流到栅极的电流并将其用作该像素的校正系数的基础。
在根据本发明的一个实施例中，FED被以正常的操作电压构造。应用启动单个像素的测试模式。测量流到阳极的电流。在校正系统中导出并使用校正系数。校正系统具有保存校正系数的系数存储器。使用校正系数换算进入的视频信号的每个分量。经校正的信号然后提供给FED。
在根据本发明的再一实施例中，FED被以正常的操作电压构造。应用启动单个子像素的测试模式。测量流到阳极的电流。在校正系统中导出并使用校正系数。校正系统具有保存校正系数的系数存储器。使用校正系数换算对应于子像素的进入的视频信号的色彩分量。给每个子像素提供单独的校正系数。经校正的信号然后提供给FED。
在根据本发明的一个实施例中，FED具有保持在地电位的阳极。焦点结构保持在(但不限于)约40和50伏特的电位。应用同时启动几个像素的测试模式。测量流到焦点结构的电流并将其用作计算校正系数的基础。将校正系数应用到对应于在校正系统中的像素的数据中。
在根据本发明的一个实施例中，从系数存储器中检索校正系数。通过将校正系数转换为模拟电压并将该电压乘以模拟亮度信号而将所检索的系数应用到模拟亮度信号。然后利用所得到的校正亮度信号以驱动阴极射线管(CRT)显示器。
在阅读下文对在附图中示出的实施例的详细描述之后，毫无疑问本发明的这些和其它优点对于本领域普通技术人员是显而易见的。
总之本发明公开了一种具有从发射电流中导出的校正系数的校正系统的场发射显示器(FED)。在一个实施例中，描述了这样的场发射显示器，具有在面板上的阳极和焦点结构。在焦点结构电位保持在(但不限于)40和50伏特之间的同时阳极电位保持在地电位。测量流到焦点结构的电流并将其用作场发射显示器的校正系数的基础。
附图说明
并入在本说明书中并构成它的一部分的附图示出了本发明的实施例，连同文字描述一起用于解释本发明的原理。
附图1所示为根据本发明第一种实施例在校正系统、显示器和确定校正系数的子系统之间的关系的系统的方块图。
附图2所示为根据本发明的一种实施例利用在行和列线交叉点上的栅极场发射极的平板场发射显示器(FED)显示屏的截面结构视图。
附图3所示为根据本发明的一种实施例在FED中包括用于子像素阵列的控制线和功率分布的系统的方块图。
附图4所示为根据本发明的一种实施例说明如何电气地控制单个子像素单元的系统的示意图。
附图5所示为根据本发明的一种实施例作为在阴极和栅极之间的相对电压的函数流动的电流的曲线图。
附图6所示为根据本发明的一种实施例用于测量流经焦点结构的电流的系统的示意图。
附图7所示为根据本发明的一种实施例用于测量流经栅极的电流的系统的示意图。
附图8所示为根据本发明的一种实施例使用红-绿-蓝视频信号的单个校正系数的校正系统的方块图。
附图9所示为根据本发明的一种实施例使用红-绿-蓝视频信号的每个分量的校正系数的校正系统的方块图。
附图10所示为根据本发明的一种实施例用于模拟色度/亮度信号的校正系统的方块图。
附图11所示为根据本发明的一种实施例地址发生器和系数存储器的实例性系统的附图。
附图12所示为根据本发明的一种实施例使用红-绿-蓝视频信号的每个分量的几个校正系数的校正系统的方块图。
附图13所示为根据本发明的一种实施例使用红-绿-蓝视频信号的每个分量的查询表的校正系统的方块图。
在本说明书中的附图都不应该理解为按比例绘制，除非特别注明。
具体实施方式
现在详细地描述本发明的在附图中示出的本实施例。虽然结合本实施例描述本发明，但是应该理解的是并不希望它们将本发明限制到这些实施例。相反，本发明希望涵盖在附加的权利要求所界定的本发明的精神和范围内的变型、修改和等同物。此外，在下文的描述中，为解释的目的，阐述了许多具体的细节以提供对本发明的完整理解。但是，对于本领域普通技术人员来说，通过阅读本说明书，显然可以理解实施本发明不需要这些具体细节。在其它的实例中，十分公知的结构和装置也没有详细描述以免弱化本发明的特征。
附图1所示为说明根据本发明的一种实施例在校正系统105、显示器110和确定校正系数的子系统之间的关系的系统50的方块图。在系统50内，视频源100将视频信号提供给校正系统105。在系统50的一种实施例中，通过视频源100提供的视频信号可以是红-绿-蓝(RGB)信号的形式。在系统50的另一实施例中，通过视频源100提供的视频信号可以是亮度-色度信号的形式。一旦接收到通过视频源100提供的视频信号，校正系统105以校正系数缩放它以补偿在显示器110内的非均匀性。然后通过校正系统105输出的校正信号驱动显示器110以显示图像给用户人115。在系统50的一种实施例中，显示器110可以是但不限于场发射显示器(FED)或阴极射线管(CRT)显示器。
如果显示器110实施为在系统50内的FED，则在校正系统105中使用的校正系数可以通过以电流测量系统120首先测量在FED内的发射电流而获得。然后系数计算系统125从电流测量数据通过相对于在显示器110内的参考电流和基础负载适当地换算和偏移来计算校正系数。
附图2所示为根据本发明的一种实施例利用位于在行和列的交点上的栅极场发射极的平板FED显示屏(例如110)一部分的横截面的结构视图。具体地，附图2示出了作为FED平板显示器(例如110)的多层结构75。多层结构75包含场发射的背板结构45(也称为基板结构)和接收电子的面板结构70。应该理解图像可以通过面板结构70产生。背板结构45一般由电子绝缘背板65、发射极(或阴极)电极60、电绝缘层55、经构图的栅电极50和位于通过绝缘层55的孔中的锥形电子发射元件40构成。此外，电子发射元件40的顶部通过在栅电极50中的对应开口暴露。应该理解的是，发射极电极60和电子发射元件40一起构成了FED平板显示器(例如110)的所示的部分75的阴极。传导焦点结构90通过绝缘层91与栅电极50分离。面板结构70可以以电绝缘面板15、阳极25和荧光体20的涂层形成。
根据本实施例的一种类型的电子发射元件40描述在1997年3月4日授予给Twichell等人的美国专利US 5,608,283中，另一种类型的电子发射元件40描述在1997年3月4日授予给Spindt等人的美国专利US 5,607,335中，在此以引用参考的方式将它们并入在本申请中。根据本实施例的焦点结构90描述在1996年6月18日授予给Spindt等人的美国专利US 5,528,103中，在此以引用参考的方式将它并入在本申请中。根据本实施例的FED平板显示器(例如110)的一般操作更详细地描述在下列美国专利中：1996年7月30日授予给Duboc，Jr.等人的美国专利US 5,541,473；1996年9月24日授予给Spindt等人的美国专利US 5,559,389；1996年10月15日授予给Spindt等人的美国专利US 5,564,959；和1996年11月26日授予给Haven等人的美国专利US 5,578,899，在此以引用参考的方式将它们并入在本申请中。根据本实施例测量每像素的电流发射的技术描述在Cummings等人在2001年6月28日申请的未决的美国申请09/895,985中，在此以引用参考的方式将它并入在本申请中。
在FED平板显示器(例如110)中，显示器划分为称为像素的图画元素。在根据本发明的一个实施例中，每个像素划分为对应于红色、绿色和蓝色的三种子像素。附图2所示为分解为三个子像素80、81和82的单个像素的结构。通过改变在栅极50、阴极60/40、阳极25和在子像素(例如80、81或82)上的焦点结构90上的电压和电流，光的不同强度出现在该子像素上的面板15上。该子像素(例如80、81或82)的色彩可以通过在栅极50和对应于该子像素的阴极60/40上的磷涂层20的特定混合物确定。
在FED(例如110)内，像素以行和列的阵列设置。在根据本发明的一种实施例中，对应于像素的子像素(例如80、81或82)置于相邻的列上。在一种实施例中，阴极60/40在给定的行上对所有的子像素是公共的，而栅极在给定列上对所有的子像素是公共的。在另一实施例中，阴极60/40在给定的列上对所有的子像素是公共的，而栅极50在给定的行对所有的子像素是公共的。在给定的行和列上的特定的子像素(例如80、81或82)通过该行和该列上的电信号的交互作用控制。
附图3所示为根据本发明一种实施例包括在FED(例如110)中的子像素阵列的功率分布和控制线的系统300的方块图。在系统300的这种实施例中，列耦合到阴极(例如60/40)和行耦合到栅极(例如50)。具体地，对于在该阵列中的子像素元素的每个列，存在列驱动器210(也称为阴极驱动器210)。列驱动器线320在相同列上通过每个子像素单元301运行。此外，行驱动器线320在相同的列上通过每个子像素单元301运行。每个列驱动器210与其它的列驱动器并行工作。列驱动器210共有列驱动器电压线324和列驱动器返回线325。每个行驱动器200(也称为栅极驱动器200)与其它的行驱动器并行工作。行驱动器200共有公共行驱动器电压线322和行驱动器返回线323。应该理解的是根据本发明的某些实施例可以在行返回线323和列返回线325中分别采用电流测量装置306和/或305。
附图4所示为说明根据本发明的一种实施例如何电气地控制单个子像素单元(例如301)的系统400的示意图。在本实施例内，行驱动器200耦合到栅极50，同时列驱动器210耦合到阴极60/40。在开关202关闭并且开关203打开时行有效(因此能够提供电子以点亮面板70的该部分)。
对于每个帧，每个子像素(例如80、81或82)具有描述该子像素的强度的所需电平的值。在包含特定的子像素的行有效时，使用该子像素的值控制包含该子像素的列的列驱动器210。在根据本发明的一种实施例中，该值可以是指定电压电平的数字量。在一种变型实施例中，该值可以是模拟值，
在附图4的系统400内，列驱动器210可以作为使用数字逻辑以关闭一组开关中的一个开关的分压器。例如，对于最大电流，可以关闭开关217。相反，对于最小电流，可以关闭开关212。
在本实施例的正常操作中，阳极25可以设定到利用阳极电压源250(也称为阳极驱动器250)的相对较高的电压。因此，阳极电流240将流经阴极60/40并离开列驱动器210作为电流的一部分235。通过在阳极电压源250或者在列驱动器210的输出上应用常规的电流测量技术，可以获得该电流的数字值。应该理解耦合到阳极25的电压源可以称为阳极驱动器。
附图5所示为说明根据本发明的一种实施例作为在阴极(例如60/40)和栅极(例如50)之间的相对电压函数流动的电流的曲线图500。如曲线图500所示，子像素(例如80、81或82)的亮度将直接与下列相关(i)从子像素的阴极(例如60/40)流到阳极(例如25)的电流和(ii)电流持续时间。电流通过在列驱动器210中设定的电压和行驱动器200的电压控制。子像素(例如80、81或82)的电流持续时间可以通过列驱动器210控制。
在根据本发明的一种实施例中，使用一个值来设定在列驱动器210中的电压电平。在另一实施例中，一个值被用于确定通过列驱动器210产生电流的持续时间。这个变型实施例提供了用于显示器(例如110)的脉冲宽度调制的控制。
理想地，附图5的曲线图500所示的电流-电压响应将与在FED(例如110)中的每个子像素(例如80、81或82)相同。不幸的是，由于各种原因，包括制造和在正常工作寿命中在FED(例如110)中的老化的问题，电流电压响应在不同子像素(例如80、81或82)之间改变。因此，在两个不同的子像素上提供的相同的驱动值可以产生不同亮度级。在亮度级上的这个差别可以通过在电流上的差别测量。一个子像素(例如80、81或82)的电流可以通过应用仅启动该子像素的测试输入模式测量。另一子像素的电流可以通过应用启动另一子像素的第二模式测量。通过这种电流测量阵列，可以确定如何换算特定的像素的驱动值以改善实际的显示器(例如110)的均匀性。
应该理解的是，测量和比较电流的电路在本领域中是十分公知的。因此，在此不讨论这些电路的详细描述以免淡化根据本发明的实施例的某些方面。
附图6所示为根据本发明一种实施例用于测量通过焦点结构(例如90)的电流的系统600的示意图。在本实施例中，焦点结构90通过焦点结构电压电源260可以保持在(但不限于)40至50伏特的电压。此外，阳极25可以保持在地电位。应该理解的是，耦合到阳极25的地电位可以称为阳极驱动器。焦点结构电流265流经阴极60/40并流出列驱动器210作为列驱动器电流235的一部分。因为本实施例的电压远低于通常用于在面板(例如70)上产生图像的电压，因此可以使用更简单的电流测量电路。
附图7所示为用于测量根据本发明的一种实施例流经栅极(例如50)电流的系统700的示意图。在本实施例中，焦点结构90和阳极25都保持在地电位。应该理解的是耦合到阳极25的地电位可以称为阳极驱动器。流经行驱动器200的栅极电流270流经阴极60/40并作为列驱动器电流235的一部分存在。因此，可以测量列驱动器电流235或行驱动器电流。正如附图6的系统600所示，本实施例的系统700的电压远低于在阳极25中使用的常规电压，由此简化了电流测量过程。
应该理解的是，由于在本实施例内列驱动器(例如210)和行驱动器(例如，200)并行，因此可以对一组子像素(例如80、81和82)进行单个电流测量。例如，对应于特定像素的所有的子像素(例如80、81和82)可以一次启动并进行对应的电流测量。此外，对于单个电流测量可以同时启动小的像素组。
在本实施例的一个实施例中，可以通过将电流测量值乘以标量并加上常数偏移从为该元素进行的电流测量中获得特定的子像素、像素或像素组的校正系数。标量和常数偏移可以通过以特定的FED(例如，110)进行实验确定。
在根据本发明的另一实施例中，通过二维高通滤波器进行电流测量以形成计算校正系数的基础。应该理解的是高通滤波器可以从该数据中消除大范围的亮度变化(例如那些大于1厘米的变化)。此外，通过电流测量数据的傅立叶分析可以自适应地确定滤波器的特性以使校正的图像没有超过在每个空间频率上的人可识别的阈值的亮度变化。
在根据本发明的实施例中，电流测量值拟合到低阶二维多项式，比如
A+Bx+Cx2+Dy+Ey2+Fxy
这里“x”和“y”是像素坐标。特定的像素的校正系数可以是多项式的值的倒数。
在根据本发明的一种实施例中，对由与内部支撑结构的电子交互作用产生的局部异常可以调节电流测量值。对于到内部支撑结构的像素接近度可以调节该像素的电流测量值。
应该理解，除了在此所描述的电流测量技术之外，阴极驱动器(例如，210)、栅极驱动器(例如，200)或者阳极驱动器(例如，250)可以将模拟信号输送给它的输出电流。例如，输送的信号可以是可变DC电压或脉冲串。这样，根据本发明的一种实施例通过阴极驱动器(例如，200)、栅极驱动器(例如，200)或者阳极驱动器(例如，250)输送的信号也可用于确定它的输出电流。因此，以类似于在此所描述的方式利用电流测量值。
附图8所示为根据本发明的一种实施例使用红-绿-蓝视频信号的单个校正系数的校正系统800的方块图。具体地，系统800是附图1的校正系统105的一种实施例的实例性结构。在本实施例中，像素的红-绿-蓝分量的数字值分别通过视频输入501、502和503接收。此外，控制信号540包含指示在帧中的特定像素的信息。在校正系统80的本实施例中，控制信号540可以包括时钟、第一线标记和线脉冲。应该理解的是，时钟可以在帧中每个像素滴答一次，同时在线的开始线脉冲滴答一次。此外，第一行标记对于在帧的第一线滴答一次。因此，在控制信号540的另一实施例中，数据启动信号也可以提供以指示当前的电流像素数据有效。
附图8的地址发生器510使用控制信号540以计算在帧中每个像素的地址。随后在系数存储器515中使用该地址以获得该像素的校正系数。然后通过系数存储器515将该校正系数提供给乘法器550、551和552以换算每个色彩分量的强度值。乘法器550、551和552将经校正的色彩分量分别通过视频输出511、512和513提供给显示系统110。在本实施例中，乘法器550-552、地址发生器510和系数存储器515可以做成管线形式以提高产量。本实施例的控制信号延迟单元520用于延迟控制信号540以补偿在校正系统105的其他部件中产生的任何管线延迟。
附图9所示为根据本发明的一种实施例使用红-绿-蓝视频信号的每个分量的校正系数的校正系统900的方块图。具体地，系统900是用于附图1的校正系统105的实例性结构的另一实施例。在附图9的系统900中，系数存储器515提供单独的校正系数给像素的每个色彩分量。应该理解的是，校正系统900的乘法器550-552、视频输入501-503、视频输出511-513、地址发生器510、控制信号540和信号控制延迟520以类似于参考附图8描述的校正系统800的方式工作。
在根据本发明的一种实施例中，使用校正的值设定在列驱动器210中的电压电平。在另一实施例中，经校正的值用于确定通过列驱动器210产生的电流的持续时间。
附图10所示为根据本发明的一种实施例的模拟色度/亮度的校正系统1000的方块图。具体地，系统1000是附图1的校正系统105的实例性结构的另一实施例。附图10的系统1000接收色度-亮度信号(例如506-508)形式的模拟视频信息。经校正的模拟数据用于驱动阴极射线管(CRT)，例如110。在系统1000内，亮度分量(例如506)可以是通过校正系数换算的分量。例如，转换器/乘法器560将校正系数转换为模拟值并使用模拟乘法器将输入亮度信号506乘以模拟校正系数以产生经校正的亮度信号516。此外，输出色度信号517和518分别被延迟延迟561和562以使他们与经校正的亮度信号516保持同步。
附图11所示为根据本发明的一种实施例地址发生器(例如510)和系数存储器(例如，515)的实例性系统1100的附图。具体地，系统1100所示为耦合到系数存储器515的地址发生器510的一种实施例。应该理解的是将像素分组为一帧并且像素可以一行一行地顺序到达。在本实施例中，第一线标记(FLM)信号543用于指示像素帧的开始。此外，它使列计数器610和行计数器620复位以指向校正系数阵列的开始。时钟(CLK)信号541每个像素滴答一次。此外，时钟信号541超过列计数器610。在每线的开始，线脉冲(LP)信号542滴答一次，使列计数器610复位并超过行计数器620。计数器值串联在一起以形成系数存储器515的地址。应该理解的是，每个像素的校正系数可以存储在对应于在帧内的该像素的行和列的位置上的系数存储器515中。在一种变型实施例中，三个并行存储器可用于系数存储器515以提供每个像素的不同的色彩分量的单独系数。
在附图11的系统1100内，应该理解的是列计数器610可以通过“或”(OR)门630的输出接收线脉冲信号542和第一线标记信号543。具体地说，本实施例的“或”门630耦合成接收线脉冲信号542和第一线标记信号543。此外，“或”门630耦合成输出这些信号中的每个信号给列计数器610的复位输入。这样，线脉冲信号542和/或第一线标记信号543能够使列计数器610复位。
附图12所示为根据本发明的一种实施例使用红-绿-蓝视频信号的每个分量的几个校正系数的校正系统1200的方块图。具体地，系统1200是附图1的校正系统105的实例性结构的一种实施例。如附图12所示，系数矢量存储器690将几个系数传送给每个算术单元650、651和652。每个算术单元650-652从通过视频输入(例如501、502或503)接收的分量值和输送的系数中计算经校正的值。在本实施例中，可以输送两个系数并通过一个系数加上分量值乘以其它的系数计算经校正的值。在系统1200的另一实施例中，可以输送N个系数并按(N-1)度的多项式计算经校正的值。
附图13所示为根据本发明的一种实施例使用红-绿-蓝视频信号的每个分量的查询表的校正系统1300的方块图。具体地，系统1300是附图1的校正系统105的实例性结构的一种实施例。在系统1300的本实施例中，校正单元750、751和752每个可以被实施为利用通过视频输入(例如501、502或503)接收的分量值和通过地址发生器510提供的像素地址的查询表。例如，查询表可以存储对应于在该像素上的分量值的经校正的值。应该理解的是这种类型的查询表允许可以拟合在可用的表空间内的任何函数的实施。
因此，本发明提供了一种测量和校正显示装置的非均匀像素而不依赖于外部光学设备和/或以更高的工作电压进行测量的系统和方法。
为说明的目的前文已经提供了对本发明的具体实施例的描述。它们并非穷举或者限制本发明到所公开的具体形式，根据上述的教导可以做出修改和变化。选择并描述这些实施例以最佳地解释本发明的原理和它的实际应用，由此使本领域的普通技术人员可以最佳地利用本发明和适合于特定应用的进行了各种修改的各种实施例。本发明的范围由附加的权利要求和它们的等同物界定。

Claims (5)

1.一种校正场发射显示器的视频数据的方法，包括以下步骤：
从存储器输出校正系数，其中所述存储器预先存储校正系数，并且其中所述校正系数通过使用以下数据来计算，该数据是用二维高通滤波器对通过测量经过场发射显示器的焦点结构或栅极的电流所获得的数据进行处理而得到的；以及
用所述校正系数校正视频数据。
2.根据权利要求1所述的校正视频数据的方法，其中对应于所述像素的每种颜色分量存储所述校正系数。
3.根据权利要求1所述的校正视频数据的方法，其中在保持所述显示器的阳极处于地电势的同时，测量所述电流。
4.一种产生用于校正场发射显示器的视频数据的校正系数的方法，包括以下步骤：
产生所述校正系数，其中所述产生步骤包括以下步骤：
测量经过场发射显示器的焦点结构或栅极的电流；以及
使用以下数据计算所述校正系数，所述数据是通过用二维高通滤波器对由所述测量而获得的数据进行处理而获得的。
5、根据权利要求4所述的方法，其中在保持所述显示器的阳极处于地电位的同时，测量所述电流。
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