CN101183550A - 一次性写入光盘和用于管理一次性写入光盘上的缺陷区的方法及装置 - Google Patents

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Abstract

提供了一种一次性写入记录介质以及一种用于管理该记录介质上的缺陷区的方法和装置。该方法包括：在数据写操作中，当数据被写到数据区上时检测记录介质的数据区中的缺陷区的存在；如果检测到缺陷区，则把写在缺陷区中的数据写到另一数据用户区上；以及把与该缺陷区相关的缺陷管理信息写到记录介质上的至少一个缺陷管理区上。

Description

一次性写入光盘和用于管理一次性写入光盘上的缺陷区的方法及装置
本发明是申请日为2003年9月26日、申请号为03801864.0的相同发明名称的中国专利申请的分案申请。该中国专利申请对应PCT申请WO2004/029939，已获授权。
技术领域
本发明涉及一种诸如一次性写入蓝光盘(BD-WO)的一次性写入光盘和用于管理一次性写入光盘上的缺陷区的方法及装置。
背景技术
现在正在开发新型高密度光盘，例如可重写蓝光盘(BD-RE)。该BD-RE的益处是其具有可重写能力，即高质量视频和音频数据可以在其上面重复写入、擦除和重写入。
图1是用于向诸如BD-RE的光盘写入数据/从中再现数据的一般光盘设备的框图。如图1所示，光盘设备包括：光拾取器11，其用于向BD-RE 10记录信号/从中再现信号；视频盘记录器(VDR)系统12，其用于把来自光拾取器11的信号作为再现的信号处理，或者把外部数据流解调和处理为适合于写入BD-RE 10的可写信号；以及编码器13，其用于对外部模拟信号编码并提供编码的信号至VDR系统12。
图2示出了现有技术的BD-RE的结构。参考图2，该BD-RE被分成导入区(LIA)、数据区和导出区(LOA)以及分配给数据区的前端和末端的内备用区(ISA)和外备用区(OSA)。
参考图1和2，在VDR系统12把外部信号编码和解调为适合写的信号之后，光盘设备的VDR系统12以对应于具有预定记录大小的ECC块单元的簇为单位在BD-RE的数据区中写入外部数据。在写过程中，如果在BD-RE的数据区中发现缺陷区，VDR系统12则进行一系列的置换写操作，其中，写在缺陷区上的数据簇被写到一个备用区上，例如写在置换缺陷区的ISA上。因此，即使在BD-RE的数据区中存在缺陷区，VDR系统12也能够通过把写在缺陷区中的数据簇写到备用区上的方式来事先防止数据写错误。
一次性写入蓝光盘(BD-WO)是正在开发的另一种类型的高密度光盘，其中能够向这种盘记录高质量数据并从中再现。顾名思义，数据在BD-WO上只能写一次且在BD-WO上不能重写，但是可以重复读取BD-WO。因此，BD-WO在无需记录介质上的数据可重写性的情况中是有用的。
遗憾的是，由于BD-WO仍然处在早期开发阶段，现在还未出现关于如何管理BD-WO上的缺陷区、且是BD-WO的商业可行性和操作可行性所需的方案、盘结构、装置和方法。
发明内容
因此，本发明提出一种用于管理诸如BD-WO的一次性写入光盘上的缺陷区的技术。
本发明的目的是提供一种一次性写入光盘和用于有效管理一次性写入光盘的缺陷区的装置和方法。
本发明的其它特征和优点将在随后的说明中部分地描述，经过以下检验或从本发明的实践中学习，上述特征和优点对于本领域的普通技术人员来说是显而易见的。本发明的目的和其它优点可以如书面描述及其权利要求以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。
根据本发明的一个方面，提供了一种用于管理一次性写入记录介质上的缺陷区的方法，该记录介质包括数据区，该方法包括：(a)在数据写操作中，当数据被写到数据区上时检测记录介质的数据区中缺陷区的存在；(b)如果检测到缺陷区，则把写在缺陷区中的数据写到另一数据用户区中；以及(c)把与该缺陷区相关的缺陷管理信息写到记录介质上的至少一个缺陷管理区上。
根据本发明的另一方面，提供了一种用于管理一次性写入记录介质上的缺陷区的方法，该记录介质包括数据区和导入区，该数据区包括备用区，该方法包括：(a)在数据写操作中，在把数据写到数据区上之后，检测记录介质的数据区中缺陷区的存在；(b)如果检测到缺陷区，则把写在缺陷区中的数据写到备用区中；以及(c)把与该缺陷区相关的缺陷列表信息写到导入区上。
根据本发明的另一方面，一种一次性写入记录介质包括数据区，该数据区包括记录区、置换区和至少一个缺陷管理区，其中，在数据写操作期间，在把数据写到记录区上之后，检测记录介质的数据区中缺陷区的存在，如果检测到缺陷区，则把写在缺陷区中的数据写到置换区中，以及把与该缺陷区相关的缺陷管理信息写到该至少一个缺陷管理区上。
根据本发明的另一方面，一种一次性写入记录介质包括具有备用区的数据区和导入区，其中，在数据写操作中，在把数据写到数据区上之后，检测记录介质的数据区中缺陷区的存在，如果检测到缺陷区，则把写在缺陷区中的数据写到备用区中，以及把与该缺陷区相关的缺陷列表信息写到导入区上。
根据本发明的另一方面，提供了一种用于管理一次性写入记录介质上的缺陷区的装置，该记录介质包括数据区，该装置包括：(a)用于在数据写操作中，当把数据写到数据区上时，检测记录介质的数据区中是否存在缺陷区的配置部分；(b)如果检测到缺陷区，则把写在缺陷区中的数据写到另一数据用户区中的配置部分；以及(c)把与该缺陷区相关的缺陷管理信息写到记录介质上的至少一个缺陷管理区上的配置部分。
根据本发明的另一方面，提供了一种用于管理一次性写入记录介质上的缺陷区的装置，该记录介质包括数据区和导入区，该数据区包括备用区，该装置包括：(a)用于在数据写操作中，在把数据写到数据区上之后，检测记录介质的数据区中缺陷区的存在的配置部分；(b)用于如果检测到缺陷区，则把写在缺陷区中的数据写到备用区中的配置部分；以及(c)用于把与该缺陷区相关的缺陷列表信息写到导入区上的配置部分。
应当理解，本发明的上面描述和下面详细的描述只是示例性和解释性的且用于对所要求保护的本发明提供进一步的解释说明。
附图说明
所包括的附图用于对本发明提供进一步的理解，该附图被合并和构成本申请的组成部分，用于示出本发明的实施例，并结合描述用来解释本发明的原理。在附图中：
图1示意性地示出了现有技术的光盘设备；
图2示出了现有技术的BD-RE的结构；
图3示出了根据本发明的光盘记录/再现设备的框图；
图4A和4B分别示出了根据本发明的实施例的单层BD-WO和双层BD-WO的结构；
图5示出了根据本发明的第一优选实施例的管理BD-WO上的缺陷区的方法；
图6A和6B示出了根据本发明的第一优选实施例的变型的管理BD-WO上的缺陷区的方法；
图7示出了根据本发明的第二优选实施例的管理BD-WO上的缺陷区的方法；
图8示出了根据本发明的第三优选实施例的管理BD-WO上的缺陷区的方法；
图9示出了根据本发明的第四优选实施例的管理BD-WO上的缺陷区的方法；以及
图10A、10B和10C示出了根据本发明的第五优选实施例的各种示例的管理BD-WO上的缺陷区的方法。
具体实施方式
现在为本发明的优选实施例给出详细的参考，其示例在附图中示出。
图3示出了根据本发明的实施例的光盘记录/再现设备20的框图的示例。光盘记录/再现设备20包括：光拾取器22，其用于向光记录介质21写入数据/从中读出数据；伺服单元23，其用于控制拾取器22保持拾取器22的物镜与记录介质21之间的距离和用于跟踪记录介质21上的相关轨道；数据处理器24，其用于处理用于写入的输入数据并把其供应给拾取器22，以及用于处理从记录介质21读出的数据；接口，其用于与任何外部主机30交换数据和/命令；存储器或储存器27，其用于在其中存储信息和数据，包括与记录介质21相关的缺陷管理数据；以及微处理器或控制器26，其用于控制记录/再现设备20的操作和组件。要被写入记录介质21/从中读出的数据也可以被存储在存储器27中。光盘记录/再现设备20的所有元件均被可操作的连接。
记录介质21是一次性写入记录介质，例如BD-WO。
图4A和4B分别示出了根据本发明的两种类型的一次性写入光盘(例如BD-WO)的结构。如图4A和4B所示，BD-WO可以具有一层或两层记录层。在图4A中，只具有单层记录层(层0)的BD-WO包括由导入区(LIA)、数据区和导出区(LOA)构成的单层记录层且在下文中称为单层盘。在图4B中，双层BD-WO包括两层记录层(层0和1)。第一记录层(层0)包括LIA、数据区和外区。第二记录层(层1)包括LOA、数据区和外区且在下文中称为双层盘。一般而言，数据写在双层盘中以如虚线箭头所示的方向进行。单层盘可以具有23.3、25.0或27.0吉字节(Gbyte)的容量，而双层盘可以具有46.6、50.0或54.0吉字节的容量。
应当注意，本发明的所有不同的实施例(如下面所讨论的各种方法)可以应用于任何类型的一次性写入光盘，例如单层BD-WO或双层BD-WO。此外，虽然下面结合本发明的各方法讨论了图3的记录/再现设备的使用，但是本发明并不限于此，且涵盖其它记录/再现设备，只要它们被配置成实现本方法。例如，根据需要，如图1所示的设备可以用于实现本方法。
图5示出了根据本发明的第一优选实施例的管理BD-WO上的缺陷区的方法。
参考图3和5，根据本发明的第一实施例的管理一次性写入光盘的缺陷区的方法如下所述。光盘记录/再现设备20在BD-WO的数据区中的预定写扇区上连续写入数据，其中，写扇区可以设置为具有等效于BD-WO上的一个或多于一个的物理轨道或簇的确定记录大小的缺陷验证单元(DVU)。
在DVU上连续写入一组数据之后(记录1)，微计算机26控制拾取器22以在BD-WO的记录1区上进行一系列的缺陷区检测操作。缺陷区检测操作包括再现写在DVU中的数据，并通过(例如)把从DVU再现的实际数据与将要被写在DVU上的数据进行比较的方式来验证该数据是否被正确写在DVU上。如果验证结果表示确定数据未被正确记录在DVU上，则记录/再现设备20假定在BD-WO的该DVU中存在缺陷区并使用线性置换方案来把该数据(关于该缺陷DVU)重新写到BD-WO上的下一可用记录区上。
例如，在连续写入第一至第五数据簇(簇#1～#5)作为第一缺陷验证单元DVU#1(步骤S10)之后，微计算机26控制拾取器22来主动再现(例如一簇接一簇地)写在DVU#1上的数据，并通过检查所再现的数据来检测是否在DVU#1中存在任何缺陷区。例如，如果在第二簇Cluster#2(簇#2)中检测到缺陷区(步骤S11)，微计算机26则控制数据处理器24和拾取器22来进行置换写操作。在置换写操作中，写入簇#2的数据(暂存在存储器27中或某个其它存储器中)被写到第五簇Cluster#5(簇#5)后面的簇区上(步骤S12)。
在完成对簇#2的置换写之后，记录/再现设备20检查下一簇等，直到检查到该DVU中的最末簇为止。例如，如果在第四簇Cluster#4(簇#4)中检测到缺陷区(S13)，记录/再现设备20则进行如上面所讨论的置换写操作，以把写在缺陷簇#4中的数据写到下一可用簇区上，例如用于簇#2的置换区之后的簇区(步骤S14)。
置换写操作继续到该DVU中的所有缺陷簇上的数据被写入到其它簇区(置换区)中为止。结果，在这个示例中，DVU#1最后具有簇#1、#3和#5以及两个缺陷区(原来的簇#2和#4)，其中，使用线性置换方案把置换区用来代替两个缺陷区在其上面写入数据。
当具有暂时连续性的数据记录(记录1)结束时(其包括关于DVU#1、DVU#2、......、DVU#n的缺陷区检测操作和置换写操作)，微计算机26把管理信息写到记录1的最末DVU后面的区域32上。
管理信息用于管理BD-WO的数据区中的缺陷区和管理写入到对应于缺陷区的置换区中的数据。可以把管理信息作为缺陷列表(DFL)信息进行管理，其中，该DFL信息可以包括一个或多个缺陷项目Defect_Entry#1-Defect_Entry#n，每个缺陷项目具有对应缺陷区的第一物理扇区编号(缺陷区的PSN)、对应于该缺陷区的置换区的第一物理扇区编号(置换区的PSN)以及属于缺陷项目的任何其它数据。
一旦关于记录1的DFL信息(例如DFL#1)的写完成，该记录/再现设备20可以继续具有暂时连续性的另一数据写操作(例如记录2)。当数据写操作(记录2)结束时(其包括关于如上所述的记录2的所有DVU的缺陷区检测操作和置换写操作)，把关于记录2的管理信息写到记录2的最末DVU后面的区域33上。该过程重复进行到要被写入到BD-WO的数据区中的所有数据都正确写入为止。
至于快速访问所写入的管理信息，微计算机26可以被配置成在BD-WO的其它部分中写入快速访问信息。例如，可以在BD-WO的LIA上写入包括写在其上面的缺陷列表的物理扇区编号的快速访问信息，作为盘定义结构(DDS)信息。即，在LIA中存储DFL#1的物理扇区编号(区域32)、DFL#2的物理扇区编号(区域33)等作为DDS的一部分。在另一实施例中，当根据数据写操作所有缺陷列表(例如DFL#1-DFL#i)被分散写在BD-WO的整个数据区中时，这些缺陷列表的位置信息(例如物理扇区编号)可以被存储在LIA中，作为DDS的一部分。根据这些配置，在数据再现操作期间，记录/再现设备能够读取并参考写在LIA中的DDS信息来定位DFL位于BD-WO的数据区中的位置。然后，可以搜索DFL来定位和再现被写在对应于缺陷的所要求区的置换区中的数据。
如图5所示，在第一实施例中，BD-WO的数据区中没有预分配的备用区。随着记录操作的进行，所存储的DFL被分散在整个数据区中。
图6A和6B示出了根据本发明的第一优选实施例的变型的用于管理BD-WO上的缺陷区的方法。第一实施例的变型除了BD-WO包括在盘再现期间初始分配给数据区的前端部分(ISA)或后端部分的具有固定大小的备用区之外，其他与上面所讨论的第一实施例(图5)相同。在这个示例中，示出了分配给数据区的后端部分的外备用区34(OSA)。
在这个变型实施例中，备用区(例如OSA 34)初始具有固定的大小，但是在数据写/记录操作中根据使用备用区的需要而变化。例如，当数据区中的缺陷增多时，由于数据写操作中的数据写被推到备用区中，所以所分配的备用区的大小可以减小，从而降低了备用区的大小。即，在第一实施例的变型中，该备用区被分配，并用作为一指定附加空间用于数据写操作，且并不一定作为可以使用线性置换方案把缺陷区的数据写到其上面的置换区。
例如，如图6A和6B所示，随着缺陷区检测操作和置换写操作的进行，根据置换区的记录大小(例如置换簇#2和#4的大小)和DFL的大小来降低数据区的记录大小(不包括OSA 34)。在这个方面中，如果在用户数据(不包括OSA 34)中的数据的最末写入位置未延伸(protrude into)在盘生产的初始阶段所分配的OSA 34的开始写入位置，则保持数据区(不包括OSA 34)的原记录大小。但是，如果在用户数据中的数据的最末写入位置超出在盘生产的初始阶段所分配的OSA 34的开始写入位置，则增大用户数据(不包括OSA 34)的记录大小且相应降低OSA 34的大小。
因此，通过分配和使用具有可变化地降低的记录大小的OSA 34，记录/再现设备20可以使在开始数据写操作之前所检测到的可写数据容量与由于该盘的数据区中存在任何缺陷区而导致降低的实际可写数据容量之间的任何错误降到最低。
图7示出了根据本发明的第二优选实施例的管理BD-WO上的缺陷区的方法。在第二实施例中，BD-WO包括分配给数据区的前端部分(内备用区ISA)和/或后端部分(外备用区OSA)的备用区。在图7中，示出了外备用区35(OSA)。由于第二实施例中的备用区被用作用于使用线性置换方案而写入对应于缺陷区的数据的置换区，所以第二实施例中的备用区(例如OSA 35)与第一实施例中的备用区(例如OSA 34)不同。第二实施例中的备用区具有可变大小，但是如果需要的话，可以具有固定大小。
参考图7，记录/再现设备20进行置换写操作，其中，在连续写入第一至第五数据簇(簇#1～#5)作为第一缺陷验证单元DVU#1之后(步骤S10)，执行缺陷区检测操作和置换写操作。如果在第二簇区(簇#2)中发现存在缺陷区，则根据线性置换方案也把第二簇的数据写到OSA35的区域35a中(步骤S22)。然后，如果在第四簇(簇#4)中发现缺陷区，则根据线性置换方案也把第四簇的数据写到OSA 35的区域35b中(步骤S24)。在每个DVU中所发现的缺陷区上的任何数据被使用线性置换方案重新写入到诸如OSA 35的备用区的对应区中。
因此，在这个示例中，第一缺陷验证单元DVU#1具有正常写入的第一、第三和第五簇(簇#1、#3和#5)以及两个缺陷区(簇#2和#4)。该OSA 35具有用于存储与缺陷簇#2和#4的数据相同的数据的置换区。
与在第一实施例中一样，当具有暂时连续性的每个数据记录(例如记录1、记录2等)结束时，本发明的第二实施例写入分散在该盘的整个数据区中的管理信息。例如，记录/再现设备20把DFL信息(即DFL#1)作为管理信息写在记录1的最末DVU后面的区域32上。管理信息(例如，DFL)写操作和DDS(例如，用于快速访问)写操作与本发明的第一实施例中所讨论的一样。
图8示出了根据本发明的第三优选实施例的用于管理BD-WO上的缺陷区的方法。第三实施例与本发明的第二实施例相同，除了DFL(管理信息)未被分散的存储在整个数据区中而是存储在诸如ISA或OSA的所分配的备用区中之外。
如图8所示，例如，在具有暂时连续性的每个数据记录(例如记录1)结束之后，记录/再现设备20把对应刚结束的数据记录的DFL写入OSA 35。因此，对应于不同记录1、2......的所有DFL被存储在OSA 35的区域中。此外，该OSA 35作为置换区，用于存储与数据区中的任何缺陷区的数据相同的数据。在诸如OSA 35的一个区域中具有DFL和在OSA 35具有所有置换区可以使用DDS和DFL来加快定位所需的置换区的过程。
图9示出了根据本发明的第四优选实施例的管理BD-WO上的缺陷区的方法的视图。第四实施例与本发明的第三实施例相同，除了DFL(管理信息)被写在数据区外的特定写扇区中，例如写在导入区LIA中。
如图9所示，例如，在具有暂时连续性的每个数据记录(例如记录1)结束之后，记录/再现设备20在LIA 36写入对应于刚结束的数据记录的DFL。因此，对应于不同记录1、2......的所有DFL被存储在LIA 36中。除了DFL之外，该LIA 36还存储在前面的实施例中所讨论的DDS。该OSA 35仍作为置换区，用于存储与数据区中的任何缺陷区的数据相同的数据。在诸如LIA 36的一个区域中具有DFL、在OSA 35具有所有置换区、和/或在诸如LIA 36的一个区域中同时具有DDS和DFL可以加快缺陷管理过程和使用DDS和DFL来定位所需置换区的过程。
图10A、10B和10C是示出了根据本发明的第五优选实施例的用于管理BD-WO上的缺陷区的方法的各示例。第五实施例与前面的实施例的不同之处在于其允许DFL的累加写(cumulative writing)。这种DFL的累加写可以应用于前面所讨论的第一至第四实施例中的每个实施例。
作为示例，根据第五实施例，图10A示出了DFL的累加写如何应用于如图5～7所示的第一和第二实施例。参考图10A，在具有暂时连续性的第一数据写操作(例如记录1)结束时，记录/再现设备20把对应于刚结束的第一写操作的DFL(DFL#1)写入数据区的第一DFL区37。如在第一和第二实施例中所讨论的一样，第一DFL区37紧跟在第一记录区(记录1的区域)的最末DVU之后。然后，记录/再现设备20继续第二数据写操作(即记录2)。在第二数据写操作结束之后，该记录/再现设备20把对应于第二写操作的DFL(DFL#2)以及第一DFL(DFL#1)写入数据区的DFL区38。第二DFL区38紧跟在第二记录区(记录2的区域)的最末DVU之后。然后，记录/再现设备20进继续第三数据写操作(即记录3)。在第三数据写操作结束之后，该记录/再现设备20把对应于第三写操作的DFL(DFL#3)以及第一和第二DFL(DFL#1和#2)写入数据区的第三DFL区39。该第三DFL区39紧跟在第三记录区(记录3的区域)的最末DVU之后。该过程继续执行任何后续的数据写操作。因此，随着数据写操作的继续，该DFL被累加地写在数据区中。
作为另一示例，根据第五实施例，图10B示出了DFL的累加写如何应用于如图8所示的第三实施例，其中，该DFL被写入到诸如OSA35的备用区中。参考图10B，在具有暂时连续性的第一数据写操作(例如记录1)结束时，记录/再现设备20把对应于刚结束的第一写操作的DFL(DFL#1)写入到OSA 35的DFL区35d中。然后，该记录/再现设备20继续第二数据写操作(即记录2)。在第二数据写操作结束之后，该记录/再现设备20把对应于第二写操作的DFL(DFL#2)以及第一DFL(DFL#1)写入到OSA 35的第二DFL区35e中。在这个示例中，第二DFL区35e紧邻第一DFL区35d。然后，记录/再现设备20继续第三数据写操作(即记录3)。在第三数据写操作结束之后，记录/再现设备20把对应于第三写操作的DFL(DFL#3)以及第一和第二DFL(DFL#1和#2)写入到OSA 35的第三DFL区35f中。在这个示例中，第三DFL区35f紧跟在第二DFL区35e之后。对任何后续的数据写操作继续执行该过程。因此，随着数据写操作的继续，该DFL被累加写在数据区的备用区中。
作为另一示例，根据第五实施例，图10C示出了DFL的累加写如何应用于如图9所示的第四实施例，其中，该DFL被写入到诸如导入区LIA 36的数据区外的区域中。参考图10C，在具有暂时连续性的第一数据写操作(例如记录1)结束时，记录/再现设备20把对应于第一写操作的DFL(DFL#1)写入到LIA 36的DFL区36a中。然后，记录/再现设备20继续第二数据写操作(即记录2)。在第二数据写操作结束之后，记录/再现设备20把对应于第二写操作的DFL(DFL#2)连同第一DFL(DFL#1)写入到LIA 36的第二DFL区35b中。在这个示例中，第二DFL区36b紧邻第一DFL区36a。然后，记录/再现设备20继续第三数据写操作(即记录3)。在第三数据写操作结束之后，该记录/再现设备20把对应于第三写操作的DFL(DFL#3)连同第一和第二DFL(DFL#1和#2)写入到LIA 36的第三DFL区36c中。在这个示例中，第三DFL区36c紧跟在第二DFL区36b之后。对任何后续的数据写操作继续执行该过程。因此，随着数据写操作的继续，该DFL被累加地写在数据区前面/后面的区域中，例如写在导入区中。
在第五实施例中，通过访问数据区、备用区或导入区的最末DFL区，可以方便并立即访问与所有数据写操作相关的DFL。因此，即使当在第一数据写操作(记录1)时所写入的第一缺陷列表信息(DFL#1)未被正确读取时，也可以通过读取任何后续的DFL信息来访问DFL#1信息。这防止了或减少了可能由于对任何缺陷列表的损害而导致的再现错误的发生。
除了上面参考图3～9所描述的各种实施例之外，用于累加写和管理缺陷列表信息的方法的应用还可以延伸至用于写和管理缺陷列表信息的其它实施例。
在本发明中，数据再现操作可以与数据写操作同时、在其后面或在其前面发生。该数据写操作可以与缺陷检测操作和/或数据置换写操作和/或管理信息写操作同时、在其后面或在其前面发生。
工业应用
如上所述，在数据再现中，根据本发明的用于管理一次性写入光盘上的缺陷区的方法和装置通过把数据写到置换缺陷区的备用区或其它数据区上和通过有效管理与缺陷区相关的数据和缺陷管理数据来正确读取和再现写在诸如BD-WO的光盘的缺陷区上的数据。本发明还使在开始数据写操作之前所检测到的记录介质的可写数据容量与由于存在缺陷区而导致降低的记录介质的实际可写数据容量之间的任何错误降到最低，以及使可能由于对缺陷列表的损害而导致的再现错误的发生降到最低。
对于本领域的普通技术人员来说显然可见，在不脱离本发明的精神或范围的情况下，可以对本发明作出各种修改和变化。因此，本发明涵盖了处于所附权利要求书及其等同物内的范围内的本发明的修改和变化。

Claims (17)

1.一种管理记录介质上的缺陷区的方法，所述记录介质包括数据区和导入区，所述数据区包括至少一个备用区，所述方法包括：
(a)检测在所述记录介质的所述数据区内缺陷区的存在；
(b)如果检测到所述缺陷区，则把写在所述缺陷区中的数据写到所述至少一个备用区的置换区中；以及
(c)把与所述缺陷区相关的缺陷管理信息写到所述记录介质上的多个缺陷管理区之一中；
其中所述记录介质上的这些缺陷管理区被分配在所述记录介质的所述导入区上，并位于所述记录介质的所述至少一个备用区内。
2.如权利要求1所述的方法，其中在写步骤(c)中，所述缺陷管理信息包括多个缺陷列表。
3.如权利要求2所述的方法，其中所述每一个缺陷列表包括当前缺陷列表和任何以前缺陷列表，使得所述每一个缺陷列表变成累加缺陷列表。
4.如权利要求1所述的方法，其中所述至少一个备用区是位于所述数据区的前面部分上的内备用区，或者是位于所述数据区的末端上的外备用区。
5.如权利要求1所述的方法，其中所述缺陷管理信息包括有关所述缺陷区的位置信息和有关在写步骤(b)中使用的所述备用区的所述置换区的位置信息。
6.如权利要求1所述的方法，还包括：
(d)把盘定义结构信息写到所述导入区中，所述盘定义结构信息包括与所述缺陷管理信息相关的位置信息。
7.一种记录介质，包括：
包括记录区和至少一个备用区的数据区，每一个所述至少一个备用区包括置换区和缺陷管理区，
包括另一缺陷管理区的导入区，
在所述记录介质中，如果检测到在所述记录区内的缺陷区，则把写在所述缺陷区中的数据写到在所述至少一个备用区内的所述置换区中，并把与所述缺陷区相关的缺陷管理信息写到在所述至少一个备用区和所述导入区内的缺陷管理区的一个中。
8.一种管理在记录介质上的缺陷区的装置，所述记录介质包括数据区和导入区，所述数据区包括至少一个备用区，所述装置包括：
拾取器，将数据记录在所述记录介质上和从所述记录介质再现数据；以及
控制器，控制所述拾取器检测在所述记录介质的所述数据区内缺陷区的存在，如果检测到所述缺陷区，则控制所述拾取器把写在所述缺陷区中的数据写到所述至少一个备用区的置换区中，以及控制所述拾取器把与所述缺陷区相关的缺陷管理信息写到所述记录介质上的多个缺陷管理区之一中，
其中所述记录介质上的这些缺陷管理区被分配在所述记录介质的所述导入区上，并位于所述记录介质的所述至少一个备用区内。
9.如权利要求8所述的装置，其中所述缺陷管理信息包括多个缺陷列表。
10.如权利要求9所述的装置，其中所述每一个缺陷列表包括当前缺陷列表和任何以前缺陷列表，使得所述每一个缺陷列表变成累加缺陷列表。
11.如权利要求8所述的装置，其中所述至少一个备用区是位于所述数据区的前面部分上的内备用区，或者是位于所述数据区的末端上的外备用区。
12.如权利要求8所述的装置，其中所述缺陷管理信息包括有关所述缺陷区的位置信息和有关所述备用区的所述置换区的位置信息。
13.如权利要求8所述的装置，其中所述导入区还包括盘定义结构信息，所述盘定义结构信息包括与所述缺陷管理信息相关的位置信息。
14.一种管理记录介质上的缺陷区的方法，所述记录介质包括数据区和导入区，所述数据区包括记录区和至少一个备用区，所述方法包括以下步骤：
(a)检测在所述记录介质的所述记录区内缺陷区的存在；
(b)如果检测到所述缺陷区，则把写在所述缺陷区中的数据写到所述至少一个备用区的一个中；
(c)在所述记录区内分配缺陷管理区；以及
(d)把与所述缺陷区相关的缺陷管理信息写到所述分配的缺陷管理区中。
15.如权利要求14所述的方法，还包括：
(e)把盘定义结构信息写到所述导入区中，所述盘定义结构信息包括在所述记录区内分配的缺陷管理区的位置信息。
16.一种管理记录介质上的缺陷区的装置，所述记录介质包括数据区和导入区，所述数据区包括记录区和至少一个备用区，所述装置包括：
拾取器，将数据记录在所述记录介质上和从所述记录介质再现数据；以及
控制器，控制所述拾取器检测在所述记录介质的所述记录区内缺陷区的存在，如果检测到所述缺陷区，则控制所述拾取器把写在所述缺陷区中的数据写到所述至少一个备用区的一个中，控制所述拾取器在所述记录区内分配缺陷管理区，以及控制所述拾取器把与所述缺陷区相关的缺陷管理信息写到所述分配的缺陷管理区中。
17.一种记录介质，包括：
包括记录区和至少一个备用区的数据区，
在所述记录介质中，如果检测到在所述记录区内的缺陷区，则写在所述缺陷区中的数据被写到所述至少一个备用区中，与所述缺陷区相关的缺陷管理信息被写到缺陷管理区中，所述缺陷管理区被分配在所述记录区内；所述记录介质还包括：
导入区，用于写盘定义结构信息，所述盘定义结构信息包括被分配在所述记录区内的缺陷管理区的位置信息。
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