CN101256801B - 信息记录方法、信息记录装置和再现装置 - Google Patents

Abstract

本发明涉及信息记录介质、记录装置和方法、再现装置和方法。这种信息记录介质，包括：用于记录用户数据的数据区，和用于记录缺陷列表的缺陷管理区，该列表用于管理存在于数据区中的N个缺陷区，其中N为满足N≥0的整数。所述缺陷列表包括位于缺陷列表中的固定位置处的标题；分别包括关于N个缺陷区的位置的位置信息的N个缺陷记录；和定位符。标题、N个缺陷记录和定位符按照这样的顺序设置。所述标题包括：用于识别缺陷列表的缺陷列表识别符；第一更新次数信息；和表示缺陷记录的数量的缺陷记录数。所述定位符包括：用于识别缺陷列表的定位符的定位符标识；和第二更新次数信息。

Description

信息记录方法、信息记录装置和再现装置

本申请是申请人松下电器产业株式会社于2003年2月27日提交的发明名称为“信息记录介、记录装置方法、再现装置和方法”的中国专利申请No.03806564.9的分案申请。

技术领域

本发明涉及一种信息记录介质、记录装置、再现装置、记录方法和再现方法，其提供了改进的信息可靠性。更加具体地说，本发明涉及一种信息记录介质、记录装置、再现装置、记录方法和再现方法，其允许更新具有2ECC(纠错码)大小或更大的缺陷列表和删除缺陷记录。

背景技术

近来，大容量可替换信息记录介质和用于驱动这种信息记录介质的盘驱动装置正变得越来越流行。作为大容量可替换信息记录介质，类似例如DVD(数字通用盘)的光盘是已知的。光盘驱动装置用激光照射光盘，因此在光盘上形成非常小的凹坑以便记录信息。光盘驱动装置还用激光照射光盘并将凹坑引起的反射率变化再现为信息。大容量信息记录介质适用于以该方式执行信息记录和再现的盘驱动装置。然而，由于光盘是可替换的，所以在其记录表面上可能存在由灰尘或擦伤引起的缺陷。

为了保证盘驱动装置记录或再现的信息的可靠性，需要执行对光盘上存在的缺陷进行管理的缺陷管理。用于传统的盘驱动装置的缺陷管理在DVD-RAM的物理标准(例如“用于可重写盘(DVD-RAM)的DVD规范，物理规范(2.0版)的部分1”；此后称作“DVD-RAM标准”)中有所描述。DVD-RAM标准的第5章包括盘的布局的说明。

图12表示根据DVD-RAM标准的信息记录介质1200的数据结构。

信息记录介质1200包括用于记录与盘有关的信息的导入区1201、用于记录用户数据的数据区1202、以及表示用户数据的结束位置的导出区1203。

导入区1201包括用于记录缺陷管理信息的DMA1(缺陷管理区)和DMA2，以及用于将来扩展的保留区1204和1205，所述缺陷管理信息用于管理数据区1202上存在的缺陷区。

数据区1202包括用于记录用户数据的用户区1206和备用区1207。当在用户区1206中有缺陷区时，将要记录在缺陷区中的用户数据被记录在备用区1207中，而不是记录在用户区1206的与缺陷区相应的部分上。

类似于导入区1201，导出区1203包括用于记录缺陷管理信息的DMA3和DMA4，以及用于将来扩展的保留区，所述缺陷管理信息用于管理数据区1202中存在的缺陷区。

DMA1至DMA4具有相同的以多路复用方式(multiplex)记录的缺陷管理信息。其原因是DMA1至DMA4中记录的信息不能是缺陷管理的目标。即使DMA1至DMA4中的一些具有缺陷管理区并且记录在信息记录介质上的信息不能被再现，只要DMA1至DMA4中的至少一个不是缺陷的，则记录在那个区域上的缺陷管理信息就能被正常再现。因此，防止了用户数据的丢失，从而提高了可靠性。

DMA1包括DDS(数据定义结构)1210、PDL(主缺陷列表)1211、和SDL(次缺陷列表)1212。

DDS1210包括与定义PDL1211和SDL1212的分区有关的信息。

PDL1211是在运输信息记录介质时，即信息记录介质初始化时在用户区1206和备用区1207中检测到的缺陷区(例如缺陷扇区)的位置信息(列表)。该列表基本上不会发生变化，除非信息记录介质被进行物理格式化。

根据DVD-RAM标准，DDS1210和PDL1211的总共大小适合一个ECC(纠错码)块。SDL1212的大小也适合一个ECC块。ECC块为DVD-RAM中纠错的单位，并且在16个扇区中(每个扇区具有2千个字节)具有32k字节。一个ECC块的这种大小将被称作“1ECC尺寸”。

图13表示SDL1212的详细数据结构。

与PDL1211不同，SDL1212是在记录或再现过程中检测到缺陷区(例如，坏扇区)时发生变化的信息(列表)。当检测到缺陷区域时，在适用于盘驱动装置的时刻在DMA1至DMA4的每一个中写入SDL1212。

SDL1212包括头信息1301、第一缺陷记录1302、第二缺陷记录1303、……第N个缺陷记录1304、以及未使用的区域1305。

头信息1301包括，例如表示该区域为SDL1212的识别符、缺陷记录的总数(在图13的情况下为N)、以及SDL1212已经被更新的次数。

第一缺陷记录1302包括表示用户区1206中存在的缺陷区的位置的第一缺陷位置信息1306，和表示部分备用区1207的位置的第一替换位置信息1307，代替缺陷区在所述部分备用区(例如替换扇区)1207中已经记录了用户数据。第二缺陷记录1303包括第二缺陷位置信息和第二替换位置信息。第N个缺陷记录包括第N个缺陷位置信息和第N个替换位置信息。缺陷位置信息和替换位置信息中的每一个一般是扇区号。

在头信息1301和第一至第N个缺陷记录1302至1304的总共大小小于1ECC尺寸的情况下存在未使用区1305。在该情况下，为无意义信息的填充数据(例如，0)被记录在未使用区1305中。

存在有这样的风险：在盘驱动装置将SDL1212写入信息记录介质1200的DMA1至DMA4时，盘驱动装置的电源可能被关掉并且处理过程被中断。在这种情况下，盘驱动装置通过下列过程确定缺陷管理区(DMA1至DMA4)的更新结果。

(1)对具有1ECC大小的SDL1212执行纠错。当纠错被精确执行时，确定SDL1212已经被正常更新。

(2)对DMA1至DMA4中包括的所有SDL执行(1)的步骤。

(3)关于在步骤(2)中被确定已经进行了正常更新的所有SDL，头信息中包括的SDL的更新数量被彼此进行比较。具有最大更新数的SDL被确定为是正确SDL(最新的SDL)。

如上所述，当SDL1212的尺寸为1ECC大小时，即使当盘驱动装置的电源被关掉时，也能精确执行正确SDL的确定。因此，用户数据的可靠性被保证没有用户数据丢失。

近来，随着信息记录介质上记录的信息量的增加，高密度记录技术和大容量记录技术得到了显著的改进。例如，使用蓝光的具有比传统的光盘的容量大的信息记录介质现在正在开发中。因为这种信息记录介质允许在其上记录较大容量的信息，所以SDL的尺寸比1ECC尺寸大。只要SDL的尺寸根据DVD-RAM标准是1ECC大或者较其小，则不会出现问题。当SDL的尺寸超过1ECC大时，将出现下列问题。在下述情况中，假定SDL的尺寸是4ECC大。

假定对一个DMA(例如DMA1)执行下述过程，结果SDL的尺寸变成4ECC大，而不是传统的1ECC大。

·头信息被完全更新。

·SDL被更新至2ECC块，并且就在第三ECC块将开始被更新时关掉盘驱动装置的电源。

在该情况下，根据确定SDL更新结果的传统方法，通常以1ECC为单元执行纠错。将DMA1中的SDL的更新数字与DMA2至DMA4中的SDL的更新数字进行比较。DMA1中的SDL的更新数最大。因此，虽然DMA1中的SDL更新落在了中间，但DMA1中的SDL被错误的确定为是正常的、最新的SDL。

提出的解决该问题的一个解决方案是为具有4ECC大的SDL的每个ECC块添加头信息。每个头信息例如包括表示该区域是SDL的识别符、缺陷记录的总数和SDL的更新数。

图14表示具有4ECC大小的SDL1400的数据结构。

SDL1400包括第一ECC块1401、第二ECC块1402、第三ECC块1403和第四ECC块1404。

第一ECC块1401包括头信息1405、第一缺陷记录1406、第二缺陷记录1407、……第(M-1)个缺陷记录1408和第M个缺陷记录1409。

第二ECC块1402包括头信息1410、第(M+1)个缺陷记录1411、……第N个缺陷记录1412和未使用区1413。

第三ECC块1403包括头信息1414和未使用区1415。

第四ECC块1404包括头信息1416和未使用区1417。

每个头信息1405、1410、1414和1416例如包括表示该区域是SDL的识别符、缺陷记录的总数和SDL更新数。第一至第N个缺陷记录1406至1409每个都包括缺陷位置信息和替换位置信息。在未使用区1413、1415和1417中，记录有作为无意义信息的添加数据(例如，0)。

在该情况下，盘驱动装置通过下述过程来确定缺陷管理区(DMA1至DMA4)的更新结果。

(1)对于具有4ECC大小的SDL1400，对第一ECC块1401执行纠错。当纠错被精确执行时，第一ECC块1401被确定已经进行了正常更新。对SDL1400中的第二至第四ECC块1402至1404执行该步骤。当第一至第四ECC块1401至1404上的纠错被精确执行时，执行步骤(2)。

(2)分别被添加到第一至第四ECC块1401至1404的头信息1405、1410、1414和1416的更新数被彼此进行比较。当头信息1405、1410、1414和1416的更新数所有都是相同值时，SDL1400被确定已经进行了正常更新。

(3)对DMA2至DMA4中的所有SDL执行步骤(1)和(2)。

(4)关于在步骤(3)中被确定已经进行了正常更新的SDL，头信息中包括的SDL的更新数被彼此进行比较。具有最大更新数的SDL被确定为是正确的SDL(最新的SDL)。

如上所述，当SDL1400的尺寸超过1ECC大时，为SDL的每个1ECC块提供一个头信息，使得即使在关掉盘驱动装置的电源时也能确定正确的SDL。因此，用户数据的可靠性被保证没有用户数据丢失。

有另外一种传统的用于改进数据可靠性的技术(例如，参见日本公开的文本第8-293187号)。

图15表示另一种传统的信息记录介质1500的数据结构。

信息记录介质1500的结构与信息记录介质1200的结构一致，除了SDL1501的结构并且SDL1501的尺寸不限于1ECC大。关于图15，先前参照图12讨论的相同的元件被给以相同的参考标记，并且将省略其详细说明。

SDL1501包括表示该区域是SDL1501的缺陷列表识别符1502、用于将来扩展的保留字段1503、用于确定缺陷管理信息是新的还是旧的第一更新信息1504和第二更新信息1510、表示在SDL1501中注册的缺陷扇区数的注册缺陷数1505、表示缺陷扇区位置的第一缺陷位置信息1506和第二缺陷位置信息1508、表示用于替换缺陷扇区的替换扇区的位置第一替换位置信息1507和第二替换位置信息1509、以及用于注册将来可被检测到的缺陷扇区的未使用字段1511。第一更新信息1504和第二更新信息1510例如是记录次数。只要SDL15014被正常更新，第一更新信息1504的内容和第二更新信息1510的内容彼此是相同的。

在该情况下，盘驱动装置通过下述过程确定缺陷管理区(DMA1至DMA4)的更新结果。

(1)关于SDL1501，第一更新信息1504的内容和第二更新信息1510的内容彼此进行比较。当第一更新信息1504的内容和第二更新信息1510的内容彼此相同时，SDL1501被确定已经进行了正常更新。

(2)对DMA2至DMA4中的所有SDL执行步骤(1)。

(3)关于在步骤(2)中被确定已经进行了正常更新的SDL，SDL中的更新信息内容被彼此进行比较。具有最大更新信息数量的SDL被确定为是正确的SDL(最新的SDL)。

如上所述，只要添加到DMA1至DMA4中的一个包括的SDL的第一更新信息和第二更新信息被正确读取，就能精确执行正确SDL的确定，而不用考虑SDL的大小。

然而，图14中所示的SDL具有下述问题。头信息需要添加到SDL1400中包括的所有四个ECC块。这降低了更新SDL1400的处理效率。另外，头信息(例如，头信息1410)被提供在一个缺陷记录(例如，第M个缺陷记录1409)和另一个缺陷记录(例如，第(M+1)个缺陷记录1411)之间。由于这样的结构，例如，搜索、添加和删除缺陷记录的操作变得复杂化。

图15中所示的信息记录介质1500具有这样的问题：第二更新信息1511不能被正确读取。

图16表示图15中所示的信息记录介质1500中的SDL1501的各种状态下的缺陷列表的数据结构。部分(a)表示更新之前的缺陷列表的数据结构。部分(b)表示已经进行正常更新的缺陷列表的数据结构。部分(c)表示未进行正常更新的缺陷列表的数据结构。参照图16，将说明在扇区先前被确定为作为缺陷区被注册，然后被确定为稍后是正常的情况下如何更新SDL1501。

图16的部分(a)中所示的SDL1501的数据结构与图15中所示的相同。在图16的部分(a)中，第一更新信息1504和第二更新信息1510的内容都是M，并且注册的缺陷数量为2。

图16的部分(b)表示在SDL1501被正常更新的情况下的更新后的SDL1501的数据结构。第一更新信息1504的内容从M更新为M+1。注册的缺陷数1505从2更新为1。已经被确定为是正常的缺陷扇区的位置信息(第二缺陷位置信息1508)和用于替换那个扇区的替换扇区的位置信息(第二替换位置信息1509)被删除。因此，第一缺陷位置信息1506和第一缺陷位置信息被留下。第二更新信息1510的内容从M更新为M+1，类似于第一更新信息1504。第二更新信息1510位于第一替换位置信息1507之后。相应于已经被删除的第二缺陷位置信息1508和第二替换位置信息1509，未使用的字段1511的大小得以增加。

图16的部分(c)表示在SDL1501未被正常更新的情况下SDL1501更新后的数据结构。假定在注册的缺陷数1505被更新之后，盘驱动器被关闭。在这种情况下，第一更新信息1504和注册的缺陷数1505按照图16的部分(b)进行正常更新。然而，第二缺陷位置信息1508、第二替换位置信息1509、第二更新信息1510和未使用的字段1511保持与图16的部分(a)中所示的更新后的数据结构相同。

在图16的部分(c)所示的数据结构的情况下，在更新结果的基础上执行确定。盘驱动装置例如使用更新的注册缺陷数1505来读取第二缺陷位置信息1508作为第二更新信息1510。盘驱动装置将第一更新信息1504的内容与读取作为第二更新信息1510的第二缺陷位置信息1508进行比较。当第一更新信息1504的内容与第二缺陷位置信息1508的内容不幸彼此匹配时，即使SDL1501的更新是失败的，但盘驱动装置也确定SDL1501进行了正常更新。

在图15中所示的信息记录介质1500考虑1ECC大小的纠错并且SDL1501的尺寸不超过1ECC大的情况下，上面参照图16的部分(c)所述的问题不会出现。然而，当SDL1501的尺寸超过1ECC大时，将出现上述问题。

发明内容

根据本发明的一个方面，一种信息记录介质包括：用于记录用户数据的数据区，和用于记录缺陷列表的缺陷管理区，该列表用于管理存在于数据区中的N个缺陷区，其中N为满足N≥0的整数。所述缺陷列表包括：位于缺陷列表中的固定位置处的头信息；分别包括关于N个缺陷区的位置的位置信息的N个缺陷记录；和定位符。头信息、N个缺陷记录和定位符按照这样的顺序设置在缺陷列表中。所述头信息包括：用于识别缺陷列表的缺陷列表识别符；表示缺陷列表已经被更新的次数的第一更新次数信息；和表示N个缺陷记录的数量的缺陷记录数。所述定位符包括：用于识别缺陷列表的定位符的定位符标识；和表示缺陷列表已经被更新的次数的第二更新次数信息。

在本发明的一个实施例中，缺陷列表包括至少两个块，并且缺陷列表以一个块为单位进行记录。

根据本发明的另一个方面，提供有一种用于在信息记录介质上记录信息的记录装置。所述信息记录介质包括用于记录用户数据的数据区，和用于记录缺陷列表的缺陷管理区，该列表用于管理存在于数据区中的N个缺陷区，其中N为满足N≥0的整数。所述缺陷列表包括位于缺陷列表中的固定位置处的头信息、分别包括关于N个缺陷区的位置的位置信息的N个缺陷记录、和定位符。头信息、N个缺陷记录和定位符按照这样的顺序设置在缺陷列表中。所述头信息包括用于识别缺陷列表的缺陷列表识别符、表示缺陷列表已经被更新的次数的第一更新次数信息、和表示N个缺陷记录的数量的缺陷记录数。所述定位符包括用于识别缺陷列表的定位符的定位符标识、和表示缺陷列表已经被更新的次数的第二更新次数信息。所述记录装置包括：用于在信息记录介质上记录信息的记录部分，用于存储将被记录在信息记录介质上的信息和最新缺陷列表的存储部分，和用于控制缺陷管理处理的执行情况的控制部分，使用记录部分和存储部分来执行所述缺陷管理处理。最新缺陷列表包括最新头信息、P个最新缺陷记录、和最新定位符，其中P为满足P≥0的整数，其中P＝N或P≠N。最新头信息包括第一最新更新次数信息和最新缺陷记录数P。最新定位符包括第二更新次数信息，其具有与第一更新次数信息相同的内容。所述缺陷管理处理包括步骤：(a)确定(i)在数据区中是否存在另外的缺陷区，(ii)N个缺陷区中是否存在正常的缺陷区，或(iii)所述情况既不是(i)也不是(ii)，(b)当在步骤(a)确定在数据区中存在另外的缺陷区时，或在N个缺陷区中存在正常的缺陷区时，将P个最新缺陷记录更新为P′个最新缺陷记录，其中P′为满足P′≥0的整数，其中P＝P′或P≠P′，并且将最新缺陷记录数从P更新为P′；(c)将第一最新更新次数信息和第二最新更新次数信息中的每一个加一，和(d)在缺陷管理区中记录在步骤(b)和(c)更新的最新缺陷列表。

在本发明的一个实施例中，步骤(d)包括这样的步骤：按照更新的最新头信息、更新的P′个最新缺陷记录和更新的最新定位符这样的顺序，或按照更新的最新定位符、更新的P′个最新缺陷记录和更新的最新头信息这样的顺序在缺陷管理区中记录更新的最新缺陷列表。

在本发明的一个实施例中，步骤(b)包括这样的步骤：当在步骤(a)确定在数据区中存在另外的缺陷区时，将另外的缺陷记录添加到最新缺陷列表中。

在本发明的一个实施例中，步骤(b)包括这样的步骤：当在步骤(a)确定在N个缺陷区中存在正常缺陷区时，从P个最新缺陷记录中删除包含关于正常缺陷区的位置的位置信息的缺陷记录。

在本发明的一个实施例中，所述信息记录介质进一步包括用于记录具有与记录在所述缺陷管理区中的缺陷列表的内容相同的内容的缺陷列表的另一个缺陷管理区。控制部分控制用于另外的缺陷管理区的步骤(d)的执行。

根据本发明的进一个方面，提供有一种用于在信息记录介质上记录信息的记录方法，其中所述信息记录介质包括用于记录用户数据的数据区，和用于记录缺陷列表的缺陷管理区，该列表用于管理存在于数据区中的N个缺陷区，其中N为满足N≥0的整数。所述缺陷列表包括位于缺陷列表中的固定位置处的头信息、分别包括关于N个缺陷区的位置的位置信息的N个缺陷记录、和定位符。头信息、N个缺陷记录和定位符按照这样的顺序设置在缺陷列表中。所述头信息包括用于识别缺陷列表的缺陷列表识别符、表示缺陷列表已经被更新的次数的第一更新次数信息、和表示N个缺陷记录的数量的缺陷记录数。所述定位符包括用于识别缺陷列表的定位符的定位符标识、和表示缺陷列表已经被更新的次数的第二更新次数信息。使用一最新缺陷列表来执行所述记录。最新缺陷列表包括最新头信息、P个最新缺陷记录、和最新定位符，其中P为满足P≥0的整数，其中P＝N或P≠N。最新头信息包括第一最新更新次数信息和最新缺陷记录数P。最新定位符包括第二更新次数信息，其具有与第一更新次数信息相同的内容。所述记录方法包括步骤：(a)确定(i)在数据区中是否存在另外的缺陷区，(ii)N个缺陷区中是否存在正常的缺陷区，或(iii)所述情况既不是(i)也不是(ii)，(b)当在步骤(a)确定在数据区中存在另外的缺陷区时，或在N个缺陷区中存在正常的缺陷区时，将P个最新缺陷记录更新为P′个最新缺陷记录，其中P′为满足P′≥0的整数，其中P＝P′或P≠P′，并且将最新缺陷记录数从P更新为P′；(c)将第一最新更新次数信息和第二最新更新次数信息中的每一个加一，和(d)在缺陷管理区中记录在步骤(b)和(c)更新的最新缺陷列表。

在本发明的一个实施例中，步骤(d)包括这样的步骤：按照更新的最新头信息、更新的P′个最新缺陷记录和更新的最新定位符这样的顺序，或按照更新的最新定位符、更新的P′个最新缺陷记录和更新的最新头信息这样的顺序在缺陷管理区中记录更新的最新缺陷列表。

在本发明的一个实施例中，步骤(b)包括这样的步骤：当在步骤(a)确定在数据区中存在另外的缺陷区时，将另外的缺陷记录添加到最新缺陷列表中。

在本发明的一个实施例中，步骤(b)包括这样的步骤：当在步骤(a)确定在N个缺陷区中存在正常缺陷区时，从P个最新缺陷记录中删除包含关于正常缺陷区的位置的位置信息的缺陷记录。

在本发明的一个实施例中，所述信息记录介质进一步包括用于记录具有与记录在所述缺陷管理区中的缺陷列表的内容相同的内容的缺陷列表的另一个缺陷管理区。控制部分控制用于另外的缺陷管理区的步骤(d)的执行。

根据本发明的进一个方面，提供有一种用于再现记录在信息记录介质上的信息的再现装置。所述信息记录介质包括用于记录用户数据的数据区，和用于记录缺陷列表的缺陷管理区，该列表用于管理存在于数据区中的N个缺陷区，其中N为满足N≥0的整数。所述缺陷列表包括头信息、分别包括关于N个缺陷区的位置的位置信息的N个缺陷记录、和定位符。位于缺陷列表中的固定位置处的头信息、N个缺陷记录和定位符按照这样的顺序设置在缺陷列表中。所述头信息包括用于识别缺陷列表的缺陷列表识别符、表示缺陷列表已经被更新的次数的第一更新次数信息、和表示N个缺陷记录的数量的缺陷记录数。所述定位符包括用于识别缺陷列表的定位符的定位符标识、和表示缺陷列表已经被更新的次数的第二更新次数信息。所述再现装置包括：用于再现记录在信息记录介质上的信息的再现部分，用于存储再现的信息的存储部分，和用于控制缺陷管理处理的执行情况的控制部分，使用再现部分和存储部分来执行所述缺陷管理处理，所述控制部分具有用于识别缺陷列表的内在缺陷列表识别符和用于识别缺陷列表的定位符的内在定位符标识。所述缺陷管理处理包括步骤：(a)再现头信息中所包括的缺陷列表识别符、缺陷记录数和第一更新次数信息，并确定内在缺陷列表识别符的内容是否与再现的缺陷列表识别符的内容相匹配，(b)当在步骤(a)确定内在缺陷列表识别符的内容与再现的缺陷列表识别符的内容相匹配时，使用再现的缺陷记录数计算缺陷列表中的定位符的位置，(c)根据定位符的计算位置再现定位符标识和第二更新次数信息，并确定内在定位符标识的内容是否与再现的定位符标识的内容相匹配，(d)当在步骤(c)确定内在定位符标识的内容与再现的定位符标识的内容相匹配时，确定第一更新次数信息的内容是否与第二更新次数信息的内容相匹配，和(e)当在步骤(d)确定第一更新次数信息的内容与第二更新次数信息的内容相匹配时，指定缺陷管理区中记录的缺陷列表作为最新缺陷列表。

在本发明的一个实施例中，所述信息记录介质进一步包括用于记录具有与记录在所述缺陷管理区中的缺陷列表的内容相同的内容的缺陷列表的另一个缺陷管理区。控制部分控制用于另一个缺陷管理区的缺陷管理处理的执行。步骤(e)包括步骤：(e1)对另一个缺陷管理区执行步骤(a)至(d)，和(e2)指定包括具有最大更新数的更新次数信息的缺陷列表作为最新的缺陷列表。

根据本发明的进一个方面，提供有一种用于再现记录在信息记录介质上的信息的再现方法。所述信息记录介质包括用于记录用户数据的数据区，和用于记录缺陷列表的缺陷管理区，该列表用于管理存在于数据区中的N个缺陷区，其中N为满足N≥0的整数。所述缺陷列表包括头信息、分别包括关于N个缺陷区的位置的位置信息的N个缺陷记录、和定位符。位于缺陷列表中的固定位置处的头信息、N个缺陷记录和定位符按照这样的顺序设置在缺陷列表中。所述头信息包括用于识别缺陷列表的缺陷列表识别符、表示缺陷列表已经被更新的次数的第一更新次数信息、和表示N个缺陷记录的数量的缺陷记录数。所述定位符包括用于识别缺陷列表的定位符的定位符标识、和表示缺陷列表已经被更新的次数的第二更新次数信息。所述再现方法包括步骤：(a)再现头信息中所包括的缺陷列表识别符、缺陷记录数和第一更新次数信息，并确定用于识别缺陷列表的内在缺陷列表识别符的内容是否与再现的缺陷列表识别符的内容相匹配，(b)当在步骤(a)确定内在缺陷列表识别符的内容与再现的缺陷列表识别符的内容相匹配时，使用再现的缺陷记录数计算缺陷列表中的定位符的位置，(c)根据定位符的计算位置再现定位符标识和第二更新次数信息，并确定用于识别缺陷列表的定位符的内在定位符标识的内容是否与再现的定位符标识的内容相匹配，(d)当在步骤(c)确定内在定位符标识的内容与再现的定位符标识的内容相匹配时，确定第一更新次数信息的内容是否与第二更新次数信息的内容相匹配，和(e)当在步骤(d)确定第一更新次数信息的内容与第二更新次数信息的内容相匹配时，指定缺陷管理区中记录的缺陷列表作为最新缺陷列表。

在本发明的一个实施例中，所述信息记录介质进一步包括用于记录具有与记录在所述缺陷管理区中的缺陷列表的内容相同的内容的缺陷列表的另一个缺陷管理区。步骤(e)包括步骤：(e1)对另一个缺陷管理区执行步骤(a)至(d)，和(e2)指定包括具有最大更新数的更新次数信息的缺陷列表作为最新的缺陷列表。

根据本发明的进一个方面，一种信息记录介质，包括：用于记录用户数据的数据区，和用于记录缺陷列表的缺陷管理区，该列表用于管理存在于数据区中的N个缺陷区，其中N为满足N≥0的整数。所述缺陷列表包括：位于缺陷列表中的固定位置处的头信息；分别包括关于N个缺陷区的位置的位置信息的N个缺陷记录；和位于缺陷列表中的固定位置处的定位符。头信息、N个缺陷记录和定位符按照这样的顺序设置在缺陷列表中。所述头信息包括：用于识别缺陷列表的缺陷列表识别符；表示缺陷列表已经被更新的次数的第一更新次数信息；和表示N个缺陷记录的数量的缺陷记录数。所述定位符包括：表示缺陷列表已经被更新的次数的第二更新次数信息。

在本发明的一个实施例中，缺陷列表包括至少两个块，并且缺陷列表以一个块为单位进行记录。

根据本发明的进一个方面，提供有一种用于在信息记录介质上记录信息的记录装置。所述信息记录介质包括用于记录用户数据的数据区，和用于记录缺陷列表的缺陷管理区，该列表用于管理存在于数据区中的N个缺陷区，其中N为满足N≥0的整数。所述缺陷列表包括位于缺陷列表中的固定位置处的头信息、分别包括关于N个缺陷区的位置的位置信息的N个缺陷记录、和位于缺陷列表中的固定位置处的定位符。头信息、N个缺陷记录和定位符按照这样的顺序设置在缺陷列表中。所述头信息包括用于识别缺陷列表的缺陷列表识别符、表示缺陷列表已经被更新的次数的第一更新次数信息、和表示N个缺陷记录的数量的缺陷记录数。所述定位符包括表示缺陷列表已经被更新的次数的第二更新次数信息。所述记录装置包括：用于在信息记录介质上记录信息的记录部分，用于存储将被记录在信息记录介质上的信息和最新缺陷列表的存储部分，和用于控制缺陷管理处理的执行情况的控制部分，使用记录部分和存储部分来执行所述缺陷管理处理。最新缺陷列表包括最新头信息、P个最新缺陷记录、和最新定位符，其中P为满足P≥0的整数，其中P＝N或P≠N。最新头信息包括第一最新更新次数信息和最新缺陷记录数P。最新定位符包括第二更新次数信息，其具有与第一更新次数信息相同的内容。所述缺陷管理处理包括步骤：(a)确定(i)在数据区中是否存在另外的缺陷区，(ii)N个缺陷区中是否存在正常的缺陷区，或(iii)所述情况既不是(i)也不是(ii)，(b)当在步骤(a)确定在数据区中存在另外的缺陷区时，或在N个缺陷区中存在正常的缺陷区时，将P个最新缺陷记录更新为P′个最新缺陷记录，其中P′为满足P′≥0的整数，其中P＝P′或P≠P′，并且将最新缺陷记录数从P更新为P′。(c)将第一最新更新次数信息和第二最新更新次数信息中的每一个加一，和(d)在缺陷管理区中记录在步骤(b)和(c)更新的最新缺陷列表。

在本发明的一个实施例中，步骤(d)包括这样的步骤：按照更新的最新头信息、更新的P′个最新缺陷记录和更新的最新定位符这样的顺序，或按照更新的最新定位符、更新的P′个最新缺陷记录和更新的最新头信息这样的顺序在缺陷管理区中记录更新的最新缺陷列表。

在本发明的一个实施例中，所述信息记录介质进一步包括用于记录具有与记录在所述缺陷管理区中的缺陷列表的内容相同的内容的缺陷列表的另一个缺陷管理区。控制部分控制用于另外的缺陷管理区的步骤(d)的执行。

根据本发明的进一个方面，提供有一种用于在信息记录介质上记录信息的记录方法。所述信息记录介质包括用于记录用户数据的数据区，和用于记录缺陷列表的缺陷管理区，该列表用于管理存在于数据区中的N个缺陷区，其中N为满足N≥0的整数。所述缺陷列表包括位于缺陷列表中的固定位置处的头信息、分别包括关于N个缺陷区的位置的位置信息的N个缺陷记录、和位于缺陷列表中的固定位置处的定位符。头信息、N个缺陷记录和定位符按照这样的顺序设置在缺陷列表中。所述头信息包括用于识别缺陷列表的缺陷列表识别符、表示缺陷列表已经被更新的次数的第一更新次数信息、和表示N个缺陷记录的数量的缺陷记录数。所述定位符包括表示缺陷列表已经被更新的次数的第二更新次数信息。使用一最新缺陷列表来执行所述记录。最新缺陷列表包括最新头信息、P个最新缺陷记录、和最新定位符，其中P为满足P≥0的整数，其中P＝N或P≠N。最新头信息包括第一最新更新次数信息和最新缺陷记录数P。最新定位符包括第二更新次数信息，其具有与第一更新次数信息相同的内容。所述记录方法包括步骤：(a)确定(i)在数据区中是否存在另外的缺陷区，(ii)N个缺陷区中是否存在正常的缺陷区，或(iii)所述情况既不是(i)也不是(ii)，(b)当在步骤(a)确定在数据区中存在另外的缺陷区时，或在N个缺陷区中存在正常的缺陷区时，将P个最新缺陷记录更新为P′个最新缺陷记录，其中P′为满足P′≥0的整数，其中P＝P′或P≠P′，并且将最新缺陷记录数从P更新为P′；(c)将第一最新更新次数信息和第二最新更新次数信息中的每一个加一，和(d)在缺陷管理区中记录在步骤(b)和(c)更新的最新缺陷列表。

在本发明的一个实施例中，步骤(d)包括这样的步骤：按照更新的最新头信息、更新的P′个最新缺陷记录和更新的最新定位符这样的顺序，或按照更新的最新定位符、更新的P′个最新缺陷记录和更新的最新头信息这样的顺序在缺陷管理区中记录更新的最新缺陷列表。

在本发明的一个实施例中，所述信息记录介质进一步包括用于记录具有与记录在所述缺陷管理区中的缺陷列表的内容相同的内容的缺陷列表的另一个缺陷管理区。所述方法进一步包括步骤：对所述另外的缺陷管理区执行步骤(d)。

根据本发明的进一个方面，提供有一种用于再现记录在信息记录介质上的信息的再现装置，其中所述信息记录介质包括用于记录用户数据的数据区，和用于记录缺陷列表的缺陷管理区，该列表用于管理存在于数据区中的N个缺陷区，其中N为满足N≥0的整数。所述缺陷列表包括位于缺陷列表中的固定位置处的头信息、分别包括关于N个缺陷区的位置的位置信息的N个缺陷记录、和位于缺陷列表中的固定位置处的定位符。头信息、N个缺陷记录和定位符按照这样的顺序设置在缺陷列表中。所述头信息包括用于识别缺陷列表的缺陷列表识别符、表示缺陷列表已经被更新的次数的第一更新次数信息、和表示N个缺陷记录的数量的缺陷记录数。所述定位符包括表示缺陷列表已经被更新的次数的第二更新次数信息。所述再现装置包括：用于再现记录在信息记录介质上的信息的再现部分，用于存储再现的信息的存储部分，和用于控制缺陷管理处理的执行情况的控制部分，使用再现部分和存储部分来执行所述缺陷管理处理，所述控制部分具有用于识别缺陷列表的内在缺陷列表识别符。所述缺陷管理处理包括步骤：(a)再现头信息中所包括的缺陷列表识别符、缺陷记录数和第一更新次数信息，并确定内在缺陷列表识别符的内容是否与再现的缺陷列表识别符的内容相匹配，(b)当在步骤(a)确定内在缺陷列表识别符的内容与再现的缺陷列表识别符的内容相匹配时，再现定位符中所包括的第二更新次数信息并确定第一更新次数信息的内容是否与第二更新次数信息的内容相匹配，和(c)当在步骤(b)确定第一更新次数信息的内容与第二更新次数信息的内容相匹配时，指定缺陷管理区中记录的缺陷列表作为最新缺陷列表。

在本发明的一个实施例中，所述信息记录介质进一步包括用于记录具有与记录在所述缺陷管理区中的缺陷列表的内容相同的内容的缺陷列表的另一个缺陷管理区。控制部分控制用于另一个缺陷管理区的缺陷管理处理的执行。步骤(c)包括步骤：(c1)对另一个缺陷管理区执行步骤(a)和(b)，和(c2)指定包括具有最大更新数的更新次数信息的缺陷列表作为最新的缺陷列表。

根据本发明的进一个方面，提供有一种用于再现记录在信息记录介质上的信息的再现方法。所述信息记录介质包括用于记录用户数据的数据区，和用于记录缺陷列表的缺陷管理区，该列表用于管理存在于数据区中的N个缺陷区，其中N为满足N≥0的整数。所述缺陷列表包括位于缺陷列表中的固定位置处的头信息、分别包括关于N个缺陷区的位置的位置信息的N个缺陷记录、和位于缺陷列表中的固定位置处的定位符。头信息、N个缺陷记录和定位符按照这样的顺序设置在缺陷列表中。所述头信息包括用于识别缺陷列表的缺陷列表识别符、表示缺陷列表已经被更新的次数的第一更新次数信息、和表示N个缺陷记录的数量的缺陷记录数。所述定位符包括表示缺陷列表已经被更新的次数的第二更新次数信息。所述再现方法包括步骤：(a)再现头信息中所包括的缺陷列表识别符、缺陷记录数和第一更新次数信息，并确定内在缺陷列表识别符的内容是否与再现的缺陷列表识别符的内容相匹配，(b)当在步骤(a)确定内在缺陷列表识别符的内容与再现的缺陷列表识别符的内容相匹配时，再现定位符中所包括的第二更新次数信息，并确定第一更新次数信息的内容是否与第二更新次数信息的内容相匹配，和(c)当在步骤(b)确定第一更新次数信息的内容与第二更新次数信息的内容相匹配时，指定缺陷管理区中记录的缺陷列表作为最新缺陷列表。

在本发明的一个实施例中，所述信息记录介质进一步包括用于记录具有与记录在所述缺陷管理区中的缺陷列表的内容相同的内容的缺陷列表的另一个缺陷管理区。步骤(c)包括步骤：(c1)对另一个缺陷管理区执行步骤(a)和(b)，和(c2)指定包括具有最大更新数的更新次数信息的缺陷列表作为最新的缺陷列表。

因此，在此所述的本发明能够产生这样的优点：其提供的信息记录介质、记录装置、再现装置、记录方法和再现方法允许更新具有2ECC大或更大的SDL(缺陷列标)和删除缺陷列表。

对于本领域技术人员来说，通过参照附图阅读和理解下述的详细说明，本发明的这些和其它优点将变得显而易见。

附图的简略说明

图1表示根据本发明第一实施例的信息记录介质100的数据结构；

图2A至2D表示头信息121、第一缺陷记录122、定位符126和未使用区113的详细数据结构；

图3为根据本发明第一实施例的记录和再现装置300的方框图；

图4为说明第一实施例中的用于指定最新缺陷列表的缺陷管理处理的过程的流程图；

图5为说明第一实施例中的用于更新最新缺陷列表的缺陷管理处理的过程的流程图；

图6表示在第一实施例中的用于添加缺陷记录的处理期间各种状态下的缺陷列表的数据结构，所述各种状态包括(a)更新前，(b)当缺陷列表已经被正常更新时，和(c)当缺陷列表还未被正常更新时；

图7表示在第一实施例中的用于删除缺陷记录的处理期间各种状态下的缺陷列表的数据结构，所述各种状态包括(a)更新前，(b)当缺陷列表已经被正常更新时，和(c)当缺陷列表还未被正常更新时；

图8表示在第一实施例中的用于改变缺陷记录的处理期间各种状态下的缺陷列表的数据结构，所述各种状态包括(a)更新前，(b)当缺陷列表已经被正常更新时，和(c)当缺陷列表还未被正常更新时；

图9表示根据本发明第二实施例的信息记录介质900的数据结构；

图10为说明第二实施例中的用于指定最新缺陷列表的缺陷管理处理的过程的流程图；

图11表示在第二实施例中的用于添加缺陷记录的处理期间各种状态下的缺陷列表的数据结构，所述各种状态包括(a)更新前，(b)当缺陷列表已经被正常更新时，和(c)当缺陷列表还未被正常更新时；

图12表示根据DVD-RAM标准的信息记录介质1200的数据结构；

图13表示SDL1212的详细数据结构；

图14表示具有4ECC大小的SDL1400的数据结构；

图15为另一传统的信息记录介质1500的数据结构；

图16表示图15中所示的信息记录介质1500的SDL1501在各种状态下的数据结构，所述各种状态包括(a)更新前，(b)当缺陷列表已经被正常更新时，和(c)当缺陷列表还未被正常更新时。

具体实施方式

此后，将参照附图利用示意性实施例对本发明进行说明。

(实施例1)

(1)信息记录介质

图1表示根据本发明第一实施例的信息记录介质100的数据结构。

信息记录介质(光盘)100可以是例如可重写光盘。假设光盘100以1ECC块为单位进行纠错。ECC块是光盘字段中的纠错单位。例如，一个ECC块在16个扇区(每个扇区具有2k字节)中具有32k字节的大小。此后，一个ECC块的该尺寸将被称作“1ECC大小”。假定信息在光盘100上的记录和信息在光盘100上的更新是以1ECC为单位进行的。

图1所示的数据结构为缺陷管理区中的N个缺陷区的位置信息被正常记录之后的光盘100的结构(N为满足N≥0的整数)。缺陷区例如是缺陷扇区。

光盘100包括用于记录用户数据的数据区102、以及当记录和再现装置(未示出)通过光头(未示出)的移动而超出限度时用作缓冲区的导入区101和导出区103。

数据区102包括用于记录用户数据的用户区106和备用区107。当在用户区106中有缺陷区(例如，坏扇区)时，将要记录在缺陷区中的用户数据被记录在备用区107中，而不是记录在用户区106的与缺陷区相应的部分上。

导入区101包括用于记录缺陷管理信息的第一缺陷管理区104和第二缺陷管理区105，所述缺陷管理信息用于管理数据区102中存在的缺陷区。

类似于导入区101，导出区103包括用于记录缺陷管理信息的第三缺陷管理区108和第四缺陷管理区109，所述缺陷管理信息用于管理数据区102中存在的缺陷区。

第一缺陷管理区104、第二缺陷管理区105、第三缺陷管理区108和第四缺陷管理区109分别位于光盘100上的物理特定的位置处。

在第一缺陷管理区104、第二缺陷管理区105、第三缺陷管理区108和第四缺陷管理区109中，用于缺陷管理的相同的信息以多路复用方式记录。如上所述，其原因是在第一、第二、第三和第四缺陷管理区104、105、108和109中记录的信息不能是缺陷管理的目标。即使第一、第二、第三和第四缺陷管理区104、105、108和109中的一些具有缺陷管理区并且记录在该缺陷区上的信息不能被再现，只要四个缺陷管理区中的至少一个不是缺陷的，则记录在那个区域上的缺陷管理信息就能被正常再现。因此，防止了用户数据的丢失，从而提高了可靠性。在第一实施例中，光盘100包括四个缺陷管理区104、105、108和109，但缺陷管理区的数量可以是一个或多个中的任何数量。

在第一缺陷管理区104中，记录有盘定义结构111和用于管理数据区102中存在的N个缺陷区的缺陷列表112(N为满足N≥0的整数)。第一缺陷管理区104包括未使用区113。

盘定义结构111是表示盘结构的信息，例如，盘100是否进行缺陷管理。该信息还包括与备用区107有关的信息。盘定义结构111位于第一缺陷管理区104中的物理特定的位置处。盘定义结构111具有预定的大小。

在未使用区113中，当前无意义的信息被记录。一般，填充数据127(例如，0)被记录在未使用区113中。当在用户区106中检测到新的缺陷区时，用于管理新的缺陷区的缺陷记录被添加到缺陷列表112中。结果，由于添加的缺陷记录的尺寸而减小了未使用区113的大小。

缺陷列表112包括头信息121、第一缺陷记录122、第二缺陷记录123、……、第(N-1)个缺陷记录、第N个缺陷记录125、定位符126。头信息121、第一至第N个记录122至125和定位符126按顺序位于缺陷列表112中。

在第一实施例中，假设缺陷列表112的大小和未使用区113的大小的总和为4ECC。该和尺寸不局限于4ECC，而是任意的。

头信息121包括表示该区是缺陷列表112的缺陷列表识别符131、表示缺陷列表112中包括的缺陷数的缺陷记录数132、和表示更新的缺陷列表已经记录在第一缺陷管理区中的次数的第一更新次数信息133。在图1中，缺陷记录数132为N(N是满足N≥0的整数)，第一更新次数信息133的内容是M(M是满足M≥0的整数)。缺陷列表识别符131例如位于头信息121的开始处，如图1所示。

头信息121位于物理上规定的位置处。在第一实施例中，头信息121位于缺陷列表112的开始处。只要头信息121、第一至第N缺陷记录122至125和定位符126按照这种顺序位于缺陷列表112中，头信息121在缺陷列表112中的位置是任意的。

在图1所示的光盘100的情况下，缺陷记录数132为N。因此，缺陷列表112包括第一缺陷记录122、……、和第N个缺陷记录125。第一缺陷记录122包括为表示缺陷区的位置的位置信息的第一缺陷位置信息141、和为表示备用区107的一部分的位置的位置信息的第一替换位置信息142，所述备用区107可代替缺陷区使用。另外，第二缺陷记录123包括第二缺陷位置信息和第二替换位置信息。第(N-1)个缺陷记录124和第N个缺陷记录125也具有基本相同的结构。这里，第一缺陷位置信息141和第一替换位置信息中的每一个一般为扇区号。

缺陷记录一般这样定位使得其中包括的缺陷位置信息处于升序。更加具体地说，例如当缺陷位置信息为扇区号时，具有较小扇区号的缺陷位置信息定位在第一缺陷记录122中作为第一缺陷位置信息141。此后，按照扇区号的顺序定位缺陷记录。具有较大扇区号的缺陷位置信息位于第N个缺陷记录125中作为第N个缺陷位置信息。

缺陷列表112中的缺陷记录不需要按照升序定位。例如，缺陷记录可被定位使得扇区号处于升序。可选择的，可随机定位缺陷记录。

定位符126包括用于识别该区是缺陷列表112的定位符的定位符标识151、表示更新的缺陷列表已经被记录在第一缺陷管理区104中的次数的第二更新次数信息152、和用于将来扩展的保留信息153。在图1中，第二更新次数信息152的内容是M(M是满足M≥0的整数)，并且与第一更新次数信息133的相同。只要第一缺陷管理区104被正常更新，则第一更新次数信息133的内容和第二更新次数信息152的内容彼此相同。定位符标识151例如可以位于定位符126的开始处，如图1所示。

在本说明中，第一和第二更新次数信息133和152表示更新的缺陷列表已经记录在第一缺陷管理区中的次数(也就是，缺陷列表112已经被更新并且记录在光盘100上的次数)。第一和第二更新次数信息133和152可代表缺陷列表已经被更新的次数(也就是，缺陷列表在下述的存储部分中已经被更新的次数)。在下述的说明中，第一和第二更新次数信息133和152表示更新的缺陷列表已经被记录在第一缺陷管理区104中的次数。

定位符126位于第N个缺陷记录125之后。应该注意因为缺陷列表112的大小是可变化的，所以定位符126所存在的位置也是可变化的。

接着，将详细说明头信息121、第一缺陷记录122、定位符126和未使用区113。

图2A至2D分别表示头信息121、第一缺陷记录122、定位符126和未使用区113的详细数据结构。

在图2A至2D中，“BP”表示比特位置，“Val”表示与每个BP对应的二进制值。在图2A至2D所示的例子中，头信息121、第一缺陷记录122、定位符126和未使用区113中的每一个的大小都是8字节(比特位置0至比特位置63)。

图2A表示头信息121的典型详细结构。在该例子中，仅用于缺陷列表识别符131的比特位置62的Val是1(Val＝1)，也就是，在十六进制表示法中为0×4000。

图2B表示第一缺陷记录122的典型详细结构。假定数据区102中可使用的扇区中的最大扇区数在十六进制表示法中为0×07FFFFFF。能够在第一缺陷记录122中注册为第一缺陷位置信息141的最大数值在十六进制表示法中为0×07FFFFFF，如图2B所示。

图2C表示定位符126的典型详细结构。在该例子中，用于定位符标识151中的所有比特位置59至63的Val是1(Val＝1)，也就是在十六进制表示法中为0×FFFF。

图2D表示未使用区113的典型详细结构。在未使用区113中，一般记录有填充数据127。在未使用区113中，Val＝0。在图2D中，0被记为填充数据，但是填充数据不局限于0。

对于缺陷列表识别符131和定位符标识151，采用了可从任何其他缺陷记录和未使用区区别开来的值。如图2C所示，Val＝1被设置用于比特位置59至63中的至少一个，其中所述比特位置在任何一个缺陷记录或未使用区113中都不曾是1。

类似的，如图2A所示，Val＝1被设置用于比特位置59至63中的至少一个，其中所述比特位置在任何一个缺陷记录或未使用区113中都不曾是1，使得缺陷列表识别符131中的比特位置59至63的值序列与定位符标识151中的比特位置59至63的不同。

由于这种设置，定位符标识151可从缺陷列表识别符131、任何缺陷记录和未使用区113中区别出来。缺陷列表识别符131也可以从定位符标识151、任何缺陷记录和未使用区113区别出来。

图2A和2C中的缺陷列表识别符131和定位符标识151的值仅仅是例子，这些值不局限于此。

在第一例子中，缺陷列表识别符131和定位符标识151被从任何缺陷记录和未使用区113区别开，另外缺陷列表识别符和定位符标识151如上所述是可区别开的。因此，即使当任何缺陷记录被读作定位符126中的定位符标识151时，那个缺陷记录也不会被错误的确定为定位符标识151。因此，能够容易的确定缺陷列表112是否已经被正常更新。

因为不需要为每个1ECC尺寸提供头信息，所以更新缺陷列表的处理效率得以改进。由于头信息不是插在两个缺陷记录之间，所以缺陷记录能被容易的搜索、添加和删除。

下面做出的说明假定光盘100具有图1所示的数据结构。

(2)再现/记录(更新)

图3为根据本发明第一实施例的记录和再现装置300的方框图。记录和再现装置300在光盘100上记录信息和/或再现记录在光盘100上的信息。

记录和再现装置300包括控制部分301、记录和再现部分302、以及存储部分303。

控制部分301控制记录和再现部分302的操作。控制部分301例如可以是CPU。控制部分301局有一个内在的用于识别光盘100的缺陷列表的缺陷列表识别符和一个内在的用于识别光盘100的缺陷列表112的定位符126的定位符标识，它们在最初就被存储。内在缺陷列表识别符和内在定位符标识的内容(值)是正确的并且是不可重写的。控制部分301使用记录和再现部分302和存储部分303来控制执行下列处理：(a)用于在记录在第一至第四缺陷管理区104、105、108和109中的缺陷列表中指定最新的缺陷列表的缺陷管理处理；和(b)用于将记录在第一至第四缺陷管理区104、105、108和109中的缺陷列表更新至最新的缺陷列表中的缺陷管理处理。

记录和再现部分302在光盘100上记录信息和/或再现记录在光盘100上的信息。这样的记录/再现例如是通过发射激光以便在光盘上写入信息作为信号和/或以便读取读取作为信号写入到光盘100上的信息来执行的。

存储部分303存储将要记录在光盘100上的信息和/或存储已经从光盘100再现的信息。存储部分303例如可以是随机存取存储器(RAM)。由于控制部分301的操作，存储部分303包括为存储从光盘100的缺陷管理区(例如，第一缺陷管理区104)再现的缺陷列表或将要记录在缺陷管理区中的最新缺陷列表而保留的缺陷列表区。

(2-1)用于指定最新缺陷列表的缺陷管理处理

下面将说明由记录和再现装置300执行的用于指定最新缺陷列表的缺陷管理处理的操作。

控制部分301执行缺陷管理处理。控制部分301遵从缺陷管理处理的过程请求记录和再现部分302再现位于第一缺陷管理区104的开始位置处的盘定义结构111的信息，并将该从盘定义结构111再现的信息存储在存储部分303中。

一旦接收到来自控制部分301的请求，记录和再现部分302从光盘100再现盘定义结构111的信息并将该信息存储在存储部分303中。记录和再现部分302向控制部分301报告盘定义结构111的信息的再现和存储已经完成。

当从记录和再现部分302接收到报告时，控制部分301根据存储部分303中存储的盘定义结构111的信息检查光盘100是否已经进行了缺陷管理。

当确认光盘100已经进行了缺陷管理时，控制部分301请求记录和再现部分302再现位于缺陷列表112的固定位置处(在图1的例子中，在缺陷列表112的开始处)的头信息121并将再现的头信息121存储在存储部分303中，所述缺陷列表112记录在第一缺陷管理区104中。

当接收到来自控制部分301的请求时，记录和再现部分302再现位于缺陷列表112的开始处的头信息121并将该再现的头信息存储在存储部分303中，所述缺陷列表112记录在第一缺陷管理区104中。记录和再现部分302向控制部分301报告头信息121的再现和存储已经完成。

当从记录和再现部分302接收到报告时，控制部分301将初始存储在控制部分301中的内在缺陷列表识别符的内容与存储部分303中存储的头信息121中所包括的缺陷列表识别符131的内容进行比较以检查该存储的信息是否为缺陷列表112中的头信息121。

当比较的两个内容彼此匹配时，控制部分301确定所述存储的信息是缺陷列表112中的头信息并且继续进行缺陷管理处理。当比较的两个内容彼此不匹配时，控制部分301确定第一缺陷管理区104的更新失败(不正常的缺陷管理区)并中止缺陷管理处理。例如，当第一缺陷管理区104中有一个缺陷区并且因此不能从其读取信息时，所比较的两个内容彼此不匹配。

为了识别第一缺陷管理区104中记录的缺陷列表112中的定位符126，控制部分301使用存储部分303中存储的头信息121中包括的缺陷记录数132来计算缺陷列表112中的定位符126的开始位置。定位符126的开始位置可通过用为固定值的一个缺陷记录的大小乘以缺陷记录数132获得。

控制部分301请求记录和再现部分302根据计算的位置再现缺陷列表112中的定位符126，并将该再现的信息存储在存储部分303中。

当从控制部分301接收到请求时，记录和再现部分302再现出现在缺陷列表112中的指定位置处的信息并将该再现的信息存储在存储部分303中。记录和再现部分302向控制部分301报告出现在指定位置处的信息的再现和存储已经完成。

当从记录和再现部分302接收到报告时，控制部分301将初始存储在控制部分301中的内在定位符标识的内容与位于存储在存储部分303中的整个信息的开始处的信息的内容进行比较，以检测所存储的信息是否是缺陷列表112中的定位符126。“位于存储在存储部分303中的整个信息的开始处的信息”是指望为定位符126中所包括的定位符标识151。

当比较的两个内容彼此匹配时，控制部分301确定所存储的信息是缺陷列表112中的定位符126并继续进行缺陷管理处理。当比较的两个内容不匹配时，控制部分301确定第一缺陷管理区104的更新失败(非正常缺陷管理区)并中止缺陷管理处理。例如，当出现在使用缺陷记录数132计算的位置处的信息不是定位符126时，所比较的两个内容彼此不匹配。更加具体的说，例如，在缺陷列表112中的第一至第N个缺陷记录122至125正被更新时记录和再现装置300被关闭的情况下，所比较的两个内容彼此不匹配。在该情况下，头信息121中包括的缺陷记录数132与第一至第N个缺陷记录122至125的总数不匹配。

控制部分301将头信息121中包括的第一更新次数信息133的内容与存储部分303中存储的定位符126中所包括的第二更新次数信息152进行比较。

当比较的两个内容彼此匹配时，控制部分301确定第一缺陷管理区104已经被正常更新，并继续进行缺陷管理处理。

当比较的两个内容彼此不匹配时，控制部分301确定第一缺陷管理区104的更新失败(非正常缺陷管理区)并中止缺陷管理处理。例如，在缺陷列表112中的第一至第N个缺陷记录122至125正被更新的同时记录和再现装置300被关闭并因此缺陷记录的更新未完成的情况下，所比较的两个内容彼此不匹配。在该情况下，头信息121中包括的第一更新次数信息133的内容与定位符126中包括的第二更新次数信息152的内容不匹配。

控制部分301对第二缺陷管理区105、第三缺陷管理区108和第四缺陷管理区109中的每一个执行基本相同的处理。

在检测第一至第四缺陷管理区104、105、108和109中的每一个是否为正常缺陷管理区之后，控制部分301如下所述的在已经被确定为是正常的缺陷管理区中指定最新的缺陷管理区。控制部分301对记录在已经被确定为是正常的缺陷管理区中的第一更新次数信息133作出比较，并指定具有最大更新数的缺陷管理区作为最新的缺陷管理区。在指定的最新缺陷管理区中记录的缺陷列表被指定为最新的缺陷列表。

为了指定最新的缺陷管理区，可代替第一更新次数信息133使用定位符126中所包括的第二更新次数信息152。

控制部分301请求记录和再现部分302再现记录在指定的最新缺陷管理区中的缺陷列表，并将该再现的缺陷列表存储在保存在存储部分303中的缺陷列表区内。

当接收到来自控制部分301的请求时，记录和再现部分302再现记录在指定的最新缺陷管理区中的缺陷列表，并将该再现的缺陷列表存储在存储部分303内的缺陷列表区中。记录和再现部分302向控制部分301报告缺陷列表的再现和存储已经完成。

因此，由记录和再现装置300执行的用于指定最新的缺陷列表的缺陷管理处理的操作就完成了。

使用指定的最新缺陷列表，例如，用户能够再现记录在数据区102中的用户数据。在该情况下，控制部分301根据最新的缺陷列表请求记录和再现部分302再现用户数据并将该再现的用户数据记录在存储部分303中。

当接收到来自控制部分301的请求时，记录和再现部分302从数据区102再现用户数据并将该再现的用户数据存储在存储部分303中。

可使用指定的最新缺陷列表来执行信息记录。

图4表示第一实施例中的用于指定最新缺陷列表的缺陷管理处理的过程。所述缺陷管理处理由控制部分301来执行。此后，将介绍缺陷管理处理过程的每一步。缺陷管理处理过程在确认光盘100已经进行缺陷管理之后开始。根据光盘100中的盘定义结构111来确定光盘100是否已经进行了缺陷管理。

步骤S401：再现头信息121中所包括的缺陷列表识别符131、缺陷记录数132和第一更新次数信息133。所再现的缺陷列表识别符131的内容与内在缺陷列表识别符的内容进行比较。内在缺陷列表识别符用于识别光盘100中的缺陷列表112。内在缺陷列表识别符具有不可重写的正确值。内在缺陷列表识别符最初可被存储在控制部分301中。当比较的两个内容彼此不匹配时，缺陷管理处理进入到步骤S402。当比较的两个内容彼此匹配时，缺陷管理处理进入到步骤S406。

步骤S402：当在步骤S401确定缺陷列表识别符131的内容与内在缺陷列表识别符的内容彼此匹配时，再现的信息被确定是缺陷列表112中的头信息121。使用头信息121中所包括的缺陷记录数132，计算缺陷列表112中的定位符126的开始位置。通过用一个为固定值的缺陷记录的大小乘以缺陷记录数132来获得定位符126的开始位置。缺陷管理处理进入步骤S403。

步骤S403：根据在步骤S402获得的位置，再现指望是定位符标识151的信息和定位符126中所包括的第二更新次数信息152。指望是定位符标识151的信息的内容与内在定位符标识的内容进行比较。内在定位符标识用于识别缺陷列表112的定位符。内在定位符标识具有不可重写的正确值。内在定位符标识最初被存储在控制部分301中。当比较的两个内容被确定彼此匹配时，缺陷管理处理进入到步骤S404。当确定比较的两个内容彼此不匹配时，缺陷管理处理进入到步骤S406。

步骤S404：当在步骤S403中确定指望是定位符标识151的信息内容与内在定位符标识的内容彼此匹配时，所存储的信息被确定是缺陷列表112中的定位符126。头信息121中所包括的第一更新次数信息133的内容与定位符126中包括的第二更新次数信息152的内容进行比较。当确定所比较的两个内容彼此匹配时，缺陷管理处理进入步骤S405。当确定所比较的两个内容彼此不匹配时，缺陷管理处理进入步骤S406。

步骤S405：当在步骤S404确定第一更新次数信息133的内容与第二更新次数信息的内容彼此不匹配时，第一缺陷管理区104被确定已经进行了正常更新。然后，缺陷管理处理进入步骤S407。

步骤S406：当在步骤S401、S403或S404中确定所比较的内容彼此不匹配时，第一缺陷管理区104的更新被确定已经失败(非正常缺陷管理区)，并且第一缺陷管理区104的缺陷管理处理被终止。缺陷管理处理进入步骤S407。

步骤S407：确定是否已经对光盘100上的所有缺陷管理区都进行了步骤S401至S406中的操作。当对所有缺陷管理区都已经进行了步骤S401至S406中的操作时，缺陷管理处理返回到步骤S401。当还未对所有缺陷管理区进行步骤S401至S406中的操作时，缺陷管理处理进入到步骤S408。

步骤S408：最新缺陷列表被指定。更加具体地说，按如下方式在被确定是正常的缺陷管理区中指定最新的缺陷管理区。对记录在被确定是正常的缺陷管理区中的第一更新次数信息(或第二更新次数信息)产生比较，并且具有最大更新数的缺陷管理区被指定为最新的缺陷管理区。记录在指定的最新缺陷管理区中的缺陷列表被指定为最新的缺陷列表。

当通过步骤S401至S408指定了光盘100的最新缺陷列表时，就完成了缺陷管理处理。例如，使用在步骤S408中获得的最新缺陷列表能够再现记录在数据区102中的用户数据。

(2-2)用于更新最新缺陷列表的缺陷管理处理

返回图3，将介绍由记录和再现装置300执行的用于更新最新缺陷列表的缺陷管理处理的操作。在下面的例子中，在光盘100的数据区102中正在记录用户数据的同时检测到另一个缺陷管理区时，或者在再现记录在数据区102中的用户数据的同时先前已经被确定是缺陷区的用户区106的一部分被确定是正常缺陷区时，缺陷列表被更新。该说明书通篇将“正常缺陷区”定义为表示先前已经被确定是缺陷区但当前不具有缺陷的区域，并且允许将信息记录其中和/或再现其中的信息。例如，当缺陷是由灰尘或污点例如光盘表面上的指纹引起的时，现前已经被确定是缺陷区的区域当前被确定是正常缺陷区。在该情况下，当用户清洁光盘表面以便除去灰尘或污点时，其中存在灰尘或污点的区域(也就是，先前被确定是缺陷区的区域)当前被确定是用于记录/再现的正常区域。

存储部分303存储最新的缺陷列表。最新的缺陷列表位于存储部分303中的缺陷列表区内。最新的缺陷列表包括最新的头信息、P个最新的缺陷记录(P为满足P≥0或P≠N的整数)、和最新的定位符。在第一实施例中，最新的头信息、P个最新的缺陷记录和最新的定位符按顺序存储存储在最新缺陷列表中。最新的头信息位于最新的缺陷列表中的固定位置处。最新的定位符连续的位于P个最新的缺陷记录中的第P个最新缺陷记录之后。最新头信息包括最新缺陷列表识别符、第一最新更新次数信息和最新缺陷记录数P。最新缺陷列表识别符的内容总是与控制部分301中存储的内在缺陷列表识别符相同。最新的定位符包括最新的定位符标识和具有与第一最新更新次数信息相同的内容的第二最新更新次数信息。最新定位符标识的内容总是与控制部分301中存储的内在定位符标识的内容相同。假定按照缺陷位置信息(缺陷扇区号)的升序来布置P个最新缺陷记录。最新缺陷列表可包括未使用区。最新的头信息不总是需要包括最新缺陷列表识别符。类似的，最新定位符也不总是需要包括最新定位符标识。

最新头信息和P个最新缺陷记录和最新定位符的上述布置仅仅是例子。最新缺陷列表中的最新头信息和P个最新缺陷记录和最新定位符的布置是任意的。

控制部分301执行缺陷管理处理。控制部分301请求记录和再现部分302确定(a)在数据区102中是否存在另一个缺陷区，(b)先前被确定是缺陷区的缺陷区当前是否为正常缺陷区，或(c)所述情况既不是(a)也不是(b)。例如，通过将用户数据被记录之后就再现数据获得的信号与代表将被记录的用户数据的信号进行比较来确定数据区102中是否存在其它的缺陷区。当这些信号彼此匹配时，用户数据被确定是已经正常记录在数据区102中。当这些信号彼此不匹配时，确定用户数据未正常记录在数据区102中并且在数据区102中存在另外的缺陷区。

当确定在数据区102中存在另外的缺陷区或者先前被确定是缺陷区的区域当前是正常缺陷区时，控制部分301更新存储部分303中存储的最新缺陷列表。

下面将介绍更新最新缺陷列表的特定过程。更新最新缺陷列表存在有三种情况，即(i)添加缺陷记录，(ii)删除缺陷记录；和(iii)更改缺陷记录。将逐一的介绍这些情况中的每一种。

(i)添加缺陷记录

当确定在用户区106中存在有另外的缺陷区时，包括关于另外的缺陷区的位置的位置信息被加入到最新的缺陷列表。根据检测的缺陷区的缺陷位置信息，控制部分301确定将被添加的缺陷记录的位置。控制部分301朝向未使用区移动存在于确定的位置之后的其它缺陷记录和最新定位符，并将包括另外的缺陷区的位置信息的缺陷记录添加在确定的位置处。结果，P个最新缺陷记录被更新为P′个最新缺陷记录(P≠P′，P＜P′)。

在添加了缺陷记录之后，控制部分301将最新缺陷记录数从P更新为P′。在该情况下，最新缺陷记录数增加了加入的缺陷记录数(也就是，检测到的缺陷扇区数)。

在P个最新缺陷记录和最新缺陷记录数P被更新之后，控制部分301将最新头信息中包括的第一最新更新次数信息的内容和最新定位符中包括的第二最新更新次数信息的内容加一。

(ii)删除缺陷记录

当先前被确定是缺陷区的区域现在被确定是正常缺陷区时，控制部分301删除包括被确定是正常缺陷区的区域的位置信息的缺陷记录。然后控制部分301将位于删除的缺陷记录之后的缺陷记录和最新的定位符朝向最新的头信息移动所删除的缺陷记录的大小。未使用的区域被扩大了所删除的缺陷记录的大小，并且控制部分301在未使用区的扩展部分中记录填充数据(例如，0)。结果，P个最新缺陷记录被更新至P′个最新缺陷记录(P≠P′，P＞P′)。

在删除了缺陷记录之后，控制部分301将最新缺陷记录数从P更新为P′。在该情况下，最新缺陷记录数减少了所删除的缺陷记录数(也就是，被确定是正常的缺陷扇区数)。

在P个最新缺陷记录和最新缺陷记录数P被更新之后，控制部分301将最新头信息中包括的第一最新更新次数信息的内容和最新定位符中包括的第二最新更新次数信息的内容加一。

(iii)更改缺陷记录

当确定在备用区107中存在另外的缺陷区时，控制部分301重写与最新缺陷列表中的另外的缺陷区对应的替换位置信息。与另外的缺陷区对应的替换位置信息被重写成表示备用区107中的一部分而不是其中的另外缺陷区的替换位置信息。

控制部分301将最新缺陷记录数从P更新为P′(P＝P′，因为没有向最新缺陷列表中添加缺陷记录或没有从其删除缺陷记录)。虽然最新缺陷记录数保持相同，但所包括的替换位置信息是不同的。在整篇说明中，除了改变缺陷列表中所包括的缺陷记录数这种情况之外，“缺陷列表的更新”还包括这种情况：不改变缺陷列表中所包括的缺陷记录数。

在P个最新缺陷记录和最新缺陷记录数P被更新之后，控制部分301将最新头信息中包括的第一最新更新次数信息的内容和最新定位符中包括的第二最新更新次数信息的内容加一。

通过控制部分301对存储部分303中存储的最新缺陷列表执行操作(i)至(iii)。在第一和第二更新次数信息133和152表示更新的最新缺陷列表已经被记录在第一缺陷管理区104中的次数的情况下，只有在更新的最新缺陷列表被记录在第一缺陷管理区104中之前，第一和第二最新更新次数信息中的每一个才可以加一。相反，在第一和第二更新次数信息133和152表示存储部分303中的最新缺陷列表已经被更新的情况下，在每次更新最新缺陷记录和最新缺陷记录数时，可以将第一和第二最新更新次数信息加一。

控制部分301请求记录和再现部分302在光盘100的第一缺陷管理区104中记录在存储部分303内更新的最新缺陷列表。例如，控制部分3014请求记录和再现部分302按顺序在第一缺陷管理区104中记录更新的最新头信息、更新的P′个最新缺陷记录和更新的最新定位符。

当接收到来自控制部分301的请求时，记录和再现部分302在第一缺陷管理区104中记录更新的最新缺陷列表。替换缺陷列表112的更新缺陷列表按照这样的顺序记录在第一缺陷管理区104中：替换头信息121的最新头信息、替换第一至第N个缺陷记录122至125的最新缺陷记录、替换定位符126的最新定位符。记录和再现部分302向控制部分报告更新的最新缺陷列表在第一缺陷管理区104中的记录已经完成。

控制部分301请求记录和再现部分302在第二至第四缺陷管理区105、108和109的每一个中记录在存储部分303内更新的最新缺陷列表。更加具体地说，控制部分301再次请求记录和再现部分302按顺序在第二至第四缺陷管理区105、108和109中记录更新的最新头信息、更新的最新缺陷记录、和更新的最新定位符。

当接收到来自控制部分301的请求时，记录和再现部分302在第二至第四缺陷管理区105、108和109的每一个中记录更新的最新缺陷列表。

因此，由记录和再现装置300执行的用于更新最新的缺陷列表的缺陷管理处理的操作就完成了。

记录更新的最新缺陷列表的顺序不限于上述的顺序：最新头信息、P′个最新缺陷记录和最新定位符。只要头信息121、N个缺陷记录122至125和定位符126按照该顺序存储在缺陷列表112中，控制部分301就可以请求记录和再现部分302在第一至第四缺陷管理区104、105、108和109的每一个内按照该顺序记录更新的最新定位符、更新的P′个最新缺陷记录、和更新的最新头信息，并且当接收到来自控制部分301的请求时，记录和再现部分302可在第一至第四缺陷管理区104、105、108和109的每一个中记录更新的最新缺陷列表。

图5表示第一实施例中的用于更新最新缺陷列表的缺陷管理处理过程。所述缺陷管理处理由控制部分301来执行。此后，将介绍缺陷管理处理过程的每一步。

步骤S 501：确定(a)数据区102中是否存在另外的缺陷区，(b)先前被确定是缺陷区的缺陷区现在是否是正常缺陷区，或者(c)该情况既不是(a)也不是(b)。当在数据区102中存在另外的缺陷区或者缺陷区当前不是正常的缺陷区时，缺陷管理处理进入到步骤S502。当确定的情况既不是(a)也不是(b)时，缺陷管理处理被终止。例如，当在数据区102中记录用户数据或再现记录在数据区102中的用户数据时，执行所述确定过程。

步骤S502：最新缺陷记录和最新缺陷记录数P被更新。P个最新的缺陷记录被更新为P′个最新的缺陷记录。最新的缺陷记录数P被更新为P′。

更加具体地说，当确定在用户区106中存在另外的缺陷区时，另外的缺陷记录被添加到最新缺陷列表中。接着，所述缺陷记录数被增加所加入的缺陷记录数(P≠P′，P＜P′)。

当确定在备用区107中存在另外的缺陷时，缺陷列表中的与另外的缺陷区对应的替换位置信息被重写。与所述另外的缺陷区对应的替换位置信息被重写为表示备用区107中的一部分而不仅仅是其中的另外的缺陷区的替换位置信息。最新的缺陷记录数未改变(P＝P′)。

当先前被确定是缺陷区的区域现在被确定是正常缺陷区时，包括关于先前被确定是缺陷区的缺陷区的位置的位置信息的缺陷记录被删除。接着，最新缺陷记录数被减少所删除的缺陷记录数(也就是，当前被确定是正常的缺陷区的数量(扇区数)(P≠P′，P＞P′)。

当最新的缺陷记录和最新的缺陷记录数P被更新时，缺陷管理处理进入到步骤S503。

步骤S503：第一和第二最新更新次数信息每个都被增加一。然后，缺陷管理处理进入步骤S504。

步骤S504：在光盘100的第一缺陷管理区104中记录在步骤S502和S503更新的最新缺陷。例如，按顺序在第一缺陷管理区104中记录更新的最新头信息、更新的P′个最新缺陷记录和更新的最新定位符。然后，缺陷管理处理进入到步骤S505。只要头信息121、N个缺陷记录122至125、和定位符126按照该顺序存储在缺陷列表112中，就可以在第一缺陷管理区104中按照这样的顺序来记录更新的最新定位符、更新的P′个最新缺陷记录和更新的最新头信息。

步骤S505：确定在光盘100的所有缺陷管理区(在该情况下，为第一至第四缺陷管理区104、105、108和109)中是否都已经记录了更新的缺陷列表。当在光盘100的所有缺陷管理区中都已经记录了更新的缺陷列表时，缺陷管理处理终止。当更新的缺陷列表还未记录在光盘100的所有缺陷管理区中时，缺陷管理处理返回到步骤S504。

如上所述，最新头信息、P′个最新缺陷记录和最新定位符是任意的。更新的最新缺陷列表被如下所述的记录在光盘100的第一至第四缺陷管理区104、105、108和109的每一个中。从而，更新的最新缺陷列表按照更新的最新头信息、更新的P′个最新缺陷记录和更新的最新定位符的顺序或按照更新的最新定位符、更新的P′个最新缺陷记录和更新的最新头信息的顺序被记录在第一至第四缺陷管理区104、105、108和109的每一个中，将更新的最新头信息定位在头信息121的位置处，将更新的P′个最新缺陷记录定位在缺陷记录122至125的位置处，将更新的最新定位符定位在定位符126的位置。

在上面的说明中，更新的最新缺陷列表被记录在图1所示的光盘100上，其中光盘100已经进行了缺陷管理。接着，将介绍在从工厂运输后在处于初始状态的光盘上记录更新的最新缺陷列表的过程。

假定处于初始状态下的光盘具有与图1所示相同的结构，除了，例如缺陷列表112(图1)不具有信息。在这种光盘中，既没有记录用于识别缺陷列表的缺陷列表识别符，也没有记录用于识别定位符的定位符标识。因此，在最新缺陷列表既不包括最新缺陷列表识别符也不包括最新定位符标识的情况下，除了在缺陷管理区中记录最新缺陷列表的处理外，记录最新缺陷列表的缺陷管理处理还包括记录缺陷列表识别符和定位符标识的处理。在缺陷列表包括最新缺陷列表识别符和最新定位符标识的情况下，由于已经参照图5对所述进行了说明，所以没有给出详细的说明。

控制部分301请求记录和再现部分302在光盘的缺陷管理区中记录存储在存储部分303内的最新缺陷列表，并在光盘的缺陷管理区中记录初始存储在控制部分301中的内在缺陷识别符和内在定位符标识。更加具体的说，内在缺陷列表识别符被记录在缺陷管理区中以便将其定位在头信息121的开始处。内在定位符标识被记录在缺陷管理区中以便将其定位在定位符126的开始处。在这种情况下，可将任意值记录为最新缺陷记录数和最新缺陷列表的最新缺陷记录，它们分别对应于缺陷记录数132和第一至第N个缺陷记录122至125。例如，0或者1被记录为第一更新次数信息和第二更新次数信息。将被记录为第一和第二更新次数信息的值是任意的，只要这些值彼此相等并且表示已经对初始状态下的光盘执行了一次记录。

用于在缺陷管理区中记录缺陷列表识别符和定位符标识的方法不局限于上述方法。例如，已经存储在控制部分301中的内在缺陷列表识别符在存储部分303中存储的最新缺陷列表的最新头信息的开始处被给作最新缺陷列表识别符。类似的，已经存储在控制部分301中的内在定位符标识在最新缺陷列表的最新定位符的开始处被给作最新定位符标识。作为在初始状态下的光盘上执行的缺陷管理处理，包括以此方式方式获得的最新缺陷列表识别符和最新定位符标识的最新缺陷列表可被记录在缺陷管理区中。

缺陷管理处理的这个过程在图5的步骤S504和S505中执行。

在所述第一实施例中，缺陷管理区是否已经进行了正常更新被精确确定。这一过程将以三种不同的更新情况来说明。在下述说明中，使用了光盘100。

(特定实施例1：当缺陷记录被加入时)

图6表示在各种状态下的缺陷列表的数据结构。部分(a)表示更新缺陷列表前的数据结构。部分(b)表示已经被正常更新的缺陷列表的数据结构。部分(c)表示未被正常更新的缺陷列表的数据结构。

图6表示在用户区106中检测到另外的缺陷区(缺陷扇区)并且加入了一个缺陷记录的情况。缺陷记录的添加如上所述的参照图3和5来执行。

图6的部分(a)表示缺陷列表被更新之前的数据结构。部分(a)所示的缺陷列表与图1所示的缺陷列表112相同。该缺陷列表包括第一缺陷记录、......、和第N个缺陷记录。缺陷记录数为N，并且第一更新次数信息和第二更新次数信息的每一个的内容都是M。

图6的部分(b)表示缺陷列表被正常更新(一个缺陷记录被正常添加)之后的数据结构。当一个缺陷记录被正常添加到缺陷列表时，缺陷列表包括第一缺陷记录、......、和第N个缺陷记录、以及第(N+1)个缺陷记录。缺陷记录数从图6的部分(a)中的状态增加一。所述缺陷记录数从N更新为N+1。第一更新次数信息和第二更新次数信息的每一个的内容从M更新为M+1。

在缺陷记录的添加之后，将定位符的位置从图6的部分(a)所示的位置朝向未使用区移动所添加的缺陷记录的大小。定位符的移动位置被如下计算。用一个缺陷记录的大小乘以头信息中所包含的缺陷记录数(N+1)。定位符的移动位置从头信息的末尾朝向未使用区偏移一个相乘的结果。此时，从计算的位置读取的信息与控制部分301的内在定位符标识的值匹配。因此，证实定位符被读取。另外，第一更新次数信息的内容与第二更新次数信息的内容匹配。因此，能够确定缺陷列表已经被正常更新。

图6的部分(c)表示在记录定位符之前更新失败的情况下的缺陷列表的数据结构。例如，在缺陷列表正被更新的同时记录和再现装置300被关闭时发生所述故障。在图6的部分(c)中，缺陷列表包括第一缺陷记录、......、和第N个缺陷记录，类似于图6的部分(a)。虽然所述缺陷列表包括与图6的部分(a)相同的缺陷记录，但缺陷记录数被从N更新为N+1。第一更新次数信息的内容从M更新为(M+1)。然而，第二更新次数信息的内容为M，与图6的部分(a)中的相同。在该情况下，定位符不是位于通过用一个缺陷记录的大小乘以头信息中所包括的缺陷记录数(N+1)获得的位置处。从计算的位置读取的作为定位符的位置的信息为记录在未使用区中的且为无意义信息的填充数据(在图6的部分(c)中＝0)。被读取作为定位符位置的信息与控制部分301的内在定位符标识的值不同。因此，确定缺陷列表的更新失败。

(特定实施例2：当缺陷记录被删除时)

图7表示在各种状态下的缺陷列表的数据结构。部分(a)表示更新前缺陷列表的数据结构。部分(b)表示已被正常更新的缺陷列表的数据结构。部分(c)表示未被正常更新的缺陷列表的数据结构。

图7表示这样的情况，其中先前被确定是缺陷区的缺陷区当前被确定是正常缺陷区，且包括关于当前被确定是正常缺陷区的缺陷区的位置的位置信息的缺陷记录被删除。缺陷记录的删除如上所述的参照图3和5来执行。

图7的部分(a)表示缺陷列表被更新之前的数据结构。部分(a)所示的缺陷列表与图1所示的缺陷列表112相同。

图7的部分(b)表示缺陷列表被正常删除之后的数据结构。当从缺陷列表正常删除一个缺陷记录时，缺陷列表包括第一缺陷记录、......、和第(N-1)个缺陷记录。缺陷记录数从图7的部分(a)中的状态减一。所述缺陷记录数从N更新为N-1。第一更新次数信息和第二更新次数信息的每一个的内容从M更新为M+1。

在缺陷记录的删除之后，将定位符的位置从图7的部分(a)所示的位置朝向头信息移动所删除的缺陷记录的大小。定位符的移动位置被如下计算。用一个缺陷记录的大小乘以头信息中所包含的缺陷记录数(N-1)，类似于特定实施例1。定位符的移动位置从头信息的末尾朝向未使用区偏移一个相乘的结果。此时，从计算的位置读取的信息与控制部分301的内在定位符标识的值匹配。因此，证实定位符被读取。另外，第一更新次数信息的内容与第二更新次数信息的内容匹配。因此，能够确定缺陷列表已经被正常更新。

图7的部分(c)表示在记录定位符之前更新失败的情况下的缺陷列表的数据结构。例如，在缺陷列表正被更新的同时记录和再现装置300被关闭时发生所述故障。在图7的部分(c)中，缺陷列表包括第一缺陷记录、......、和第N个缺陷记录，类似于图7的部分(a)。虽然所述缺陷列表包括与图7的部分(a)相同的缺陷记录，但缺陷记录数被从N更新为(N-1)。第一更新次数信息的内容从M更新为(M+1)。然而，第二更新次数信息的内容为M，与图7的部分(a)中的相同。在该情况下，定位符不是位于通过用一个缺陷记录的大小乘以头信息中所包括的缺陷记录数(N-1)获得的位置处。从计算的位置读取的作为定位符的位置的信息为第N个缺陷记录中所包含的第N个缺陷位置信息。控制部分301的内在定位符标识的值与如上面参照图2A至2D所述的缺陷列表识别符、缺陷记录或填充数据中的任何一个不同。因此，从不会发生第N个缺陷位置信息的内容偶然与内在定位符标识的值相匹配，结构导致缺陷列表已经被正常更新的错误确定。

(特定实施例3：当缺陷记录被改变时)

图8表示在各种状态下的缺陷列表的数据结构。部分(a)表示更新前缺陷列表的数据结构。部分(b)表示已被正常更新的缺陷列表的数据结构。部分(c)表示未被正常更新的缺陷列表的数据结构。

图8表示这样的情况，其中在被用作替换区(替换扇区)的备用区107中存在另外的缺陷区，所述替换区用于替换由第(N-1)个缺陷位置信息表示的缺陷区(缺陷扇区)，并且第(N-1)个缺陷记录中的替换位置信息被改变。缺陷记录的改变如上所述的参照图3和5来执行。

图8的部分(a)表示缺陷列表被更新之前的数据结构。部分(a)所示的缺陷列表与图1所示的缺陷列表112相同。

图8的部分(b)表示缺陷列表被正常改变之后(在替换位置信息被正常改变之后)的数据结构。当因为没有缺陷记录被添加或删除，所以缺陷列表包括第一缺陷记录、......、和第N个缺陷记录，与图8的部分(a)相同。缺陷记录数为N，与图8的部分(a)相同。第一更新次数信息和第二更新次数信息的每一个的内容从M更新为M+1。

因此，定位符的位置在更新之后与更新之前定位符的位置相同。定位符的位置被如下计算。用一个缺陷记录的大小乘以头信息中所包含的缺陷记录数N。定位符的位置从头信息的末尾朝向未使用区偏移一个相乘的结果。此时，从计算的位置读取的信息与控制部分301的内在定位符标识的值匹配。因此，证实定位符被读取。另外，第一更新次数信息的内容与第二更新次数信息的内容匹配。因此，能够确定缺陷列表已经被正常更新。

图8的部分(c)表示在记录定位符之前更新失败的情况下的缺陷列表的数据结构。例如，在缺陷列表正被更新的同时记录和再现装置300被关闭时发生所述故障。在图8的部分(c)中，缺陷列表包括第一缺陷记录、......、和第N个缺陷记录，类似于图8的部分(a)。缺陷记录数为N，与图8的部分(a)相同。第一更新次数信息的内容从M更新为(M+1)。然而，第二更新次数信息的内容为M，与图8的部分(a)中的相同。在该情况下，通过用一个缺陷记录的大小乘以头信息中所包括的缺陷记录数N获得的位置是定位符的正确位置。然而，因为第一更新次数信息的内容与第二更新次数信息的内容不同，所以不会发生缺陷列表被错误确定的确定为已经进行了正常的更新。

在第一实施例中，头信息121包括缺陷列表识别符131。头信息121位于光盘100中的物理特定的位置处，因此不需要包括缺陷列表识别符131。即使在没有缺陷列表识别符131的情况下，也能够取得与第一实施例中所述的相同的效果。

如上所述，根据本发明的第一实施例，信息记录介质100包括用于记录用户数据的数据区102、和用于记录缺陷列表的缺陷管理区104、105、108和109，所述缺陷列表用于管理数据区102中存在的N个缺陷区(N为满足N≥0)。缺陷列表112包括头信息121、N个缺陷记录和定位符126，所述缺陷记录分别包括关于N个缺陷区的位置的位置信息。头信息121、N个缺陷区和定位符按照这样的顺序存储在缺陷列表112中。

由于这样的结构，缺陷列表112的大小是可变的。由于缺陷列表112的大小根据删除的缺陷区(缺陷扇区)数是变化的，所以当缺陷区数较少时，缺陷列表112的尺寸减小。即，缺陷列表112被容纳在较小的ECC尺寸(例如1ECC大)中。当缺陷列表112的尺寸较小时，在缺陷管理区中记录缺陷列表112所需的时间被缩短，并且提高了处理效率。除了缺陷列表112之外，即使在缺陷管理区的剩余ECC块(未使用区)中存在缺陷区时，缺陷管理区能被作为正常的缺陷管理区来处理。因此，缺陷管理区中的数据能被正常再现。

根据本发明的第一实施例，头信息121包括用于识别缺陷列表112的缺陷列表识别符，表示缺陷列表已经被更新的次数的第一更新次数信息133，和表示缺陷记录数的缺陷记录数132。定位符126包括用于识别缺陷列表112的定位符的定位符标识151，和表示缺陷列表已经被更新的次数的第二更新次数信息152。

由于这样的结构，即使当缺陷列表112的尺寸不能容纳在1ECC尺寸中时，也不需要为每个1ECC尺寸提供一个头信息。因此，更新缺陷列表112的处理效率得以提高。由于头信息不是放在两个缺陷记录之间，所以例如能够容易的搜索、添加和删除缺陷记录。

定位符标识151的内容与任何的缺陷列表识别符131、缺陷记录数132、第一更新次数信息133、缺陷记录或第二更新次数信息152都不同。这样，即使当缺陷记录被删除时，被错误的读作定位符标识151的信息也不会与内在定位符标识的内容相匹配。因此，当缺陷列表112还未被正常更新时，也不会将其错误的确定为已经进行了正常更新。

(实施例2)

(1)信息记录介质

图9表示根据本发明第二实施例的信息记录介质900的数据结构。

信息记录介质(光盘)900可以是例如可重写光盘。假设光盘900以1ECC块为单位进行纠错。ECC块是光盘字段中的纠错单位。此后，一个ECC块的该尺寸将被称作“1ECC大”。假定信息在光盘900上的记录和信息在光盘900上的更新是以1ECC块为单位进行的。

图9所示的数据结构为缺陷管理区中的N个缺陷区的位置信息被正常记录之后的光盘900的结构(N为满足N≥0的整数)。缺陷区例如是缺陷扇区。

光盘900包括用于记录用户数据的数据区902、以及当记录和再现装置(未示出)通过光头(未示出)的移动而超出限度时用作缓冲区的导入区901和导出区903。

数据区902包括用于记录用户数据的用户区906和备用区907。当在用户区906中有缺陷区(例如，坏扇区)时，将要记录在缺陷区中的用户数据被记录在备用区907中，而不是记录在用户区906的与缺陷区相应的部分上。

导入区901包括用于记录缺陷管理信息的第一缺陷管理区904和第二缺陷管理区905，所述缺陷管理信息用于管理数据区902中存在的缺陷区。

类似于导入区901，导出区903包括用于记录缺陷管理信息的第三缺陷管理区908和第四缺陷管理区909，所述缺陷管理信息用于管理数据区902中存在的缺陷区。

第一缺陷管理区904、第二缺陷管理区905、第三缺陷管理区908和第四缺陷管理区909分别位于光盘900上的物理特定的位置处。

在第一缺陷管理区904、第二缺陷管理区905、第三缺陷管理区908和第四缺陷管理区909中，用于缺陷管理的相同的信息以多路复用方式记录。如上在第一实施例中所述的，其原因是在第一、第二、第三和第四缺陷管理区904、905、908和909中记录的信息不能是缺陷管理的目标。即使第一、第二、第三和第四缺陷管理区904、905、908和909中的一些具有缺陷管理区并且记录在该缺陷区上的信息不能被再现，只要四个缺陷管理区中的至少一个不是缺陷的，则记录在那个区域上的缺陷管理信息就能被正常再现。因此，防止了用户数据的丢失，从而提高了可靠性。在第二实施例中，光盘900包括四个缺陷管理区904、905、908和909，但缺陷管理区的数量可以是一个或多个中的任何数量。

在第一缺陷管理区904中，记录有盘定义结构911和用于管理数据区102中存在的N个缺陷区的缺陷列表912(N为满足N≥0的整数)。

盘定义结构911是表示盘结构的信息，例如，盘900是否已经进行缺陷管理。该信息还包括与备用区907有关的信息。盘定义结构911位于第一缺陷管理区904中的物理特定的位置处。盘定义结构911具有预定的大小。

缺陷列表912包括头信息921、第一缺陷记录922、第二缺陷记录923、……、第(N-1)个缺陷记录924、第N个缺陷记录925、和位于缺陷列表912中的固定位置处的定位符927。缺陷列表912还包括未使用区926，与第一实施例中的不同。头信息921、第一至第N个记录922至925和定位符927按顺序位于缺陷列表912中。

在第二实施例中，假设缺陷列表912的大小为4ECC。该缺陷列表的大小不局限于4ECC，而是任意的。

头信息921包括表示该区是缺陷列表912的缺陷列表识别符931、表示缺陷列表912中包括的缺陷记录数的缺陷记录数932、和表示更新的缺陷列表已经记录在第一缺陷管理区904中的次数的第一更新次数信息933。在图9中，缺陷记录数932为N(N是满足N≥0的整数)，第一更新次数信息933的内容是M(M是满足M≥0的整数)。缺陷列表识别符931例如位于头信息921的开始处，如图9所示。

头信息921位于物理上规定的位置处。在第二实施例中，头信息

921位于缺陷列表912的开始处。只要头信息921、第一至第N缺陷记录922至925和定位符927按照这种顺序位于缺陷列表912中，头信息921在缺陷列表912中的位置是任意的。

在图9所示的光盘900的情况下，缺陷记录数932为N。因此，缺陷列表912包括第一缺陷记录922、……、和第N个缺陷记录925。第一缺陷记录922包括为表示缺陷区的位置的位置信息的第一缺陷位置信息941、和为表示备用区907的一部分的位置的位置信息的第一替换位置信息942，所述备用区907可代替缺陷区使用。同样，第二缺陷记录923包括第二缺陷位置信息和第二替换位置信息。第(N-1)个缺陷记录924和第N个缺陷记录925也具有基本相同的结构。这里，第一缺陷位置信息941和第一替换位置信息942中的每一个一般为扇区号。

缺陷记录一般这样定位使得其中包括的缺陷位置信息处于升序。更加具体地说，例如当缺陷位置信息为扇区号时，具有较小扇区号的缺陷位置信息定位在第一缺陷记录中作为第一缺陷位置信息941。此后，按照扇区号的顺序定位缺陷记录。具有较大扇区号的缺陷位置信息位于第N个缺陷记录925中作为第N个缺陷位置信息。

缺陷列表912中的缺陷记录不需要按照升序定位。例如，缺陷记录可被定位使得扇区号处于升序。可选择的，可随机定位缺陷记录。

在未使用区926中，当前无意义的信息被记录。一般，填充数据952(例如，0)被记录在未使用区926中。当在用户区906中检测到新的缺陷区时，用于管理新的缺陷区的缺陷记录被添加到缺陷列表912中。结果，由于添加的缺陷记录的尺寸而减小了未使用区113的大小。

定位符927包括表示更新的缺陷列表已经被记录在第一缺陷管理区904中的次数的第二更新次数信息951。在图9中，第二更新次数信息951的内容是M(M是满足M≥0的整数)，并且与第一更新次数信息933的相同。只要第一缺陷管理区904被正常更新，则第一更新次数信息933的内容和第二更新次数信息951的内容彼此相同。

在本说明中，第一和第二更新次数信息933和951表示更新的缺陷列表已经记录在第一缺陷管理区904中的次数(也就是，缺陷列表112已经被更新并且记录在光盘900上的次数)。第一和第二更新次数信息933和951可代表缺陷列表已经被更新的次数(也就是，缺陷列表在下述的存储部分中已经被更新的次数)。在下述的说明中，第一和第二更新次数信息933和951表示更新的缺陷列表已经被记录在第一缺陷管理区904中的次数。

定位符927位于缺陷列表912中的固定位置处，与第一实施例中的不同。定位符927优选的位于根据头信息921的位置确定的位置处。在第二实施例中，定位符927位于缺陷列表912的末端位置处，也就是第一缺陷管理区的末尾处。因为缺陷列表112的大小固定为4ECC，所以定位符927位于从缺陷列表912开始处的第四ECC块的末尾。然而，只要头信息921、第一至第N个缺陷记录922至925和定位符927按照这种顺序位于缺陷列表912中，定位符927可位于缺陷列表912中的任意位置处。

在第二实施例的光盘900中，定位符927位于缺陷列表912中的物理上固定的位置处。头信息921包括第一更新次数信息933，定位符927包括第二更新次数信息951。由于定位符927的位置是固定的，所以第一更新次数信息933的内容和第二更新次数信息的内容能够没有失败的彼此进行比较。因此，能够容易的确定缺陷列表912是否已经被正常更新。

下面是在光盘900具有图9所示的数据结构的前提下做出的说明。

(2)再现/记录(更新)

图3所示的记录和再现装置300用于在根据第二实施例的光盘900上记录信息和/或再现记录在光盘900上的信息。与第一实施例中的不同，第二实施例中的控制部分301具有用于识别存储在光盘900上的缺陷列表912的内在缺陷列表识别符。内在缺陷列表识别符的内容(值)是正确的并且不可重写。对图3所示的记录和再现装置300的说明已经在第一实施例中提供，这里将不再重复。

(2-1)用于指定最新缺陷列表的缺陷管理处理

下面将参照图3说明由记录和再现装置300执行的用于指定最新缺陷列表的缺陷管理处理的操作。

控制部分301执行缺陷管理处理。控制部分301遵从缺陷管理处理的过程请求记录和再现部分302再现位于第一缺陷管理区904的开始位置处的盘定义结构911的信息，并将该从盘定义结构911再现的信息存储在存储部分303中。

一旦接收到来自控制部分301的请求，记录和再现部分302从光盘900再现盘定义结构911的信息并将该信息存储在存储部分303中。记录和再现部分302向控制部分301报告盘定义结构911的信息的再现和存储已经完成。

当从记录和再现部分302接收到报告时，控制部分301根据存储部分303中存储的盘定义结构911的信息检查光盘900是否已经进行了缺陷管理。

当确认光盘900已经进行了缺陷管理时，控制部分301请求记录和再现部分302再现位于缺陷列表912的固定位置处(在图9的例子中，在缺陷列表912的开始处)的头信息921并将再现的头信息921存储在存储部分303中，所述缺陷列表912记录在第一缺陷管理区904中。

当接收到来自控制部分301的请求时，记录和再现部分302再现位于缺陷列表912的开始处的头信息921并将该再现的头信息921存储在存储部分303中，所述缺陷列表912记录在第一缺陷管理区904中。记录和再现部分302向控制部分301报告头信息921的再现和存储已经完成。

当从记录和再现部分302接收到报告时，控制部分301将初始存储在控制部分301中的内在缺陷列表识别符的内容与存储部分303中存储的头信息921中所包括的缺陷列表识别符931的内容进行比较以检查该存储的信息是否为缺陷列表912中的头信息921。

当比较的两个内容彼此匹配时，控制部分301确定所述存储的信息是缺陷列表912中的头信息并且继续进行缺陷管理处理。当比较的两个内容彼此不匹配时，控制部分301确定第一缺陷管理区904的更新失败(不正常的缺陷管理区)并中止缺陷管理处理。例如，当第一缺陷管理区904中有一个缺陷区并且因此不能从其读取信息时，所比较的两个内容彼此不匹配。

为了证实第一缺陷管理区904中的第一更新次数信息933的内容和第二更新次数信息的内容，控制部分301请求记录和再现部分302再现位于缺陷列表912中的固定位置处的定位符927(在图9中，在缺陷列表开始起的第四个ECC块的末尾)并将再现的定位符927存储在存储部分303中。

当从控制部分301接收到请求时，记录和再现部分302再现位于缺陷列表112中的指定位置处的定位符927并将该再现的定位符存储在存储部分303中。记录和再现部分302向控制部分301报告定位符927的再现和存储已经完成。

控制部分301将头信息921中所包括的第一更新次数信息933的内容与存储在存储部分303中的定位符927中所包括的第二更新次数信息951的内容进行比较。

当比较的两个内容彼此匹配时，控制部分301确定第一缺陷管理区904已经被正常更新，并继续进行缺陷管理处理。

当比较的两个内容彼此不匹配时，控制部分301确定第一缺陷管理区904的更新失败(非正常缺陷管理区)并中止缺陷管理处理。例如，在缺陷列表912中的第一至第N个缺陷记录922至925正被更新时记录和再现装置300被关闭的情况下，所比较的两个内容彼此不匹配。在该情况下，头信息921中包括的第一更新次数信息933的内容与定位符927中包括的第二更新次数信息951的内容不匹配。

控制部分301对第二缺陷管理区905、第三缺陷管理区908和第四缺陷管理区909中的每一个执行基本相同的处理。

在检测第一至第四缺陷管理区904、905、908和909中的每一个是否为正常缺陷管理区之后，控制部分301如下所述的在已经被确定为是正常的缺陷管理区中指定最新的缺陷管理区。控制部分301对记录在已经被确定为是正常的缺陷管理区中的第一更新次数信息933作出比较，并指定具有最大更新数的缺陷管理区作为最新的缺陷管理区。在指定的最新缺陷管理区中记录的缺陷列表被指定为最新的缺陷列表。

为了指定最新的缺陷管理区，可代替第一更新次数信息933使用定位符927中所包括的第二更新次数信息951。

控制部分301请求记录和再现部分302再现记录在指定的最新缺陷管理区中的缺陷列表，并将该再现的缺陷列表存储在保存在存储部分303中的缺陷列表区内。

当接收到来自控制部分301的请求时，记录和再现部分302再现记录在指定的最新缺陷管理区中的缺陷列表，并将该再现的缺陷列表存储在存储部分303内的缺陷列表区中。记录和再现部分302向控制部分301报告缺陷列表的再现和存储已经完成。

从而，由记录和再现装置300执行的用于指定最新缺陷列表的缺陷管理处理的操作就完成了。

例如，使用指定的最新缺陷列表，可再现记录在数据区902中的用户数据。在这种情况下，控制部分301根据最新缺陷列表请求记录和再现部分302再现用户数据并将再现的用户数据存储在存储部分303中。

当接收到来自控制部分301的请求时，记录和再现部分302从数据区902再现用户数据并将再现的用户数据存储在存储部分303内。

可使用指定的最新缺陷列表来执行信息记录。

图10表示第二实施例中的用于指定最新缺陷列表的缺陷管理处理的过程。所述缺陷管理处理由控制部分301来执行。此后，将介绍缺陷管理处理过程的每一步。缺陷管理处理过程在确认光盘900已经进行缺陷管理之后开始。根据光盘900中的盘定义结构911来确定光盘900是否已经进行了缺陷管理。

步骤S1001：再现头信息921中所包括的缺陷列表识别符931、缺陷记录数932和第一更新次数信息933。所再现的缺陷列表识别符931的内容与内在缺陷列表识别符的内容进行比较。内在缺陷列表识别符用于识别光盘900中的缺陷列表912。内在缺陷列表识别符具有不可重写的正确值。内在缺陷列表识别符最初可被存储在控制部分301中。当比较的两个内容彼此匹配时，缺陷管理处理进入到步骤S1002。当比较的两个内容彼此不匹配时，缺陷管理处理进入到步骤S1003。

步骤S402：当在步骤S1001确定缺陷列表识别符931的内容与内在缺陷列表识别符的内容彼此匹配时，再现的信息被确定是缺陷列表912中的头信息921。再现位于固定位置处(在图9中，在从缺陷列表912开始起的第四个ECC块的位置处)的定位符927。头信息921中所包括的第一更新次数信息933的内容与定位符927中包括的第二更新次数信息951的内容进行比较。当确定所比较的两个内容彼此匹配时，缺陷管理处理进入步骤S1004。当确定所比较的两个内容彼此不匹配时，缺陷管理处理进入步骤S1003。

步骤S1003：当在步骤S1001确定缺陷列表识别符931的内容与内在缺陷列表识别符的内容彼此匹配时，或者当在步骤S1002确定第一更新次数信息933的内容与第二更新次数信息951的内容彼此不匹配时，第一缺陷管理区904的更新被确定已经失败(非正常缺陷管理区)，并且第一缺陷管理区904的缺陷管理处理被终止。缺陷管理处理进入步骤S1005。

步骤S1004：当在步骤S1002确定第一更新次数信息933的内容与第二更新次数信息951的内容彼此匹配时，第一缺陷管理区904被确定已经进行了正常更新。然后，缺陷管理处理进入步骤S1005。

步骤S1005：确定是否已经对光盘900上的所有缺陷管理区都进行了步骤S1001至S1004中的操作。当对所有缺陷管理区都已经进行了步骤S1001至S1004中的操作时，缺陷管理处理返回到步骤S1001。当还未对所有缺陷管理区进行步骤S1001至S1004中的操作时，缺陷管理处理进入到步骤S1006。

步骤S1006：最新缺陷列表被指定。更加具体地说，按如下方式在被确定是正常的缺陷管理区中指定最新的缺陷管理区。对记录在被确定是正常的缺陷管理区中的第一更新次数信息(或第二更新次数信息)产生比较，并且具有最大更新数的缺陷管理区被指定为最新的缺陷管理区。记录在指定的最新缺陷管理区中的缺陷列表被指定为最新的缺陷列表。

当通过步骤S1001至S1006指定了光盘900的最新缺陷列表时，就完成了缺陷管理处理。例如，使用在步骤S1006中获得的最新缺陷列表能够再现记录在数据区902中的用户数据。

(2-2)用于更新最新缺陷列表的缺陷管理处理

返回图3，将介绍由记录和再现装置300执行的用于更新最新缺陷列表的缺陷管理处理的操作。在下面的例子中，在光盘900的数据区902中正在记录用户数据的同时检测到另一个缺陷管理区时，或者在再现记录在数据区902中的用户数据的同时先前已经被确定是缺陷区的用户区906的一部分被确定是正常缺陷区时，缺陷列表被更新。该说明书通篇将“正常缺陷区”定义为表示先前已经被确定是缺陷区但当前不具有缺陷的区域，并且允许将信息记录其中和/或再现其中的信息。例如，当缺陷是由灰尘或污点例如光盘表面上的指纹引起的时，先前已经被确定是缺陷区的区域当前被确定是正常缺陷区。在该情况下，当用户清洁光盘表面以便除去灰尘或污点时，其中存在灰尘或污点的区域(也就是，先前被确定是缺陷区的区域)当前被确定是用于记录/再现的正常区域。

存储部分303存储最新的缺陷列表。最新的缺陷列表位于存储部分303中的缺陷列表区内。最新的缺陷列表包括最新的头信息、P个最新的缺陷记录(P为满足P≥0的整数，其中P＝N，或P≠N)、和最新的定位符。最新的头信息、P个最新的缺陷记录和最新的定位符按顺序存储在最新缺陷列表中。最新的头信息位于最新的缺陷列表中的固定位置处。最新的定位符也位于最新缺陷列表的固定位置处。最新头信息包括最新缺陷列表识别符、第一最新更新次数信息和最新缺陷记录数P。最新缺陷列表识别符的内容总是与控制部分301中存储的内在缺陷列表识别符相同。最新的定位符包括具有与第一最新更新次数信息相同的内容的第二最新更新次数信息。假定按照缺陷位置信息(缺陷扇区号)的升序来布置P个最新缺陷记录。最新缺陷列表可包括未使用区。最新的头信息不总是需要包括最新缺陷列表识别符。

最新头信息和P个最新缺陷记录和最新定位符的上述布置仅仅是例子。最新缺陷列表中的最新头信息和P个最新缺陷记录和最新定位符的布置是任意的。

控制部分301执行缺陷管理处理。控制部分301请求记录和再现部分302确定(a)在数据区902中是否存在另外的缺陷区，(b)先前被确定是缺陷区的缺陷区当前是否为正常缺陷区，或(c)所述情况既不是(a)也不是(b)。例如，通过将用户数据被记录之后就再现数据获得的信号与代表将被记录的用户数据的信号进行比较来确定数据区902中是否存在另外的缺陷区。当这些信号彼此匹配时，用户数据被确定是已经正常记录在数据区902中。当这些信号彼此不匹配时，确定用户数据未正常记录在数据区902中并且在数据区902中存在另外的缺陷区。

当确定在数据区902中存在另外的缺陷区或者先前被确定是缺陷区的区域当前是正常缺陷区时，控制部分301更新存储部分303中存储的最新缺陷列表。

下面将介绍更新最新缺陷列表的特定过程。更新最新缺陷列表存在有三种情况，即(i)添加缺陷记录，(ii)删除缺陷记录；和(iii)更改缺陷记录。将逐一的介绍这些情况中的每一种。

(i)添加缺陷记录

当确定在用户区906中存在有另外的缺陷区时，包括关于另外的缺陷区的位置的位置信息的缺陷记录被加入到最新的缺陷列表。根据检测的缺陷区的缺陷位置信息，控制部分301确定将被添加的缺陷记录的位置。控制部分301朝向未使用区移动存在于确定的位置之后的其它缺陷记录和最新定位符，并将包括另外的缺陷区的位置信息的缺陷记录添加在确定的位置处。结果，P个最新缺陷记录被更新为P′个最新缺陷记录(P≠P′，P＜P′)。

在添加了缺陷记录之后，控制部分301将最新缺陷记录数从P更新为P′。在该情况下，最新缺陷记录数增加了加入的缺陷记录数(也就是，检测到的缺陷扇区数)。

在P个最新缺陷记录和最新缺陷记录数P被更新之后，控制部分301将最新头信息中包括的第一最新更新次数信息的内容和最新定位符中包括的第二最新更新次数信息的内容加一。

(ii)删除缺陷记录

当先前被确定是缺陷区的区域现在被确定是正常缺陷区时，控制部分301删除包括被确定是正常缺陷区的区域的位置信息的缺陷记录。然后控制部分301将位于删除的缺陷记录之后的缺陷记录朝向最新的头信息移动所删除的缺陷记录的大小。未使用的区域被扩大了所删除的缺陷记录的大小，并且控制部分301在未使用区的扩展部分中记录填充数据(例如，0)。结果，P个最新缺陷记录被更新至P′个最新缺陷记录(P≠P′，P＞P′)。

在删除了缺陷记录之后，控制部分301将最新头信息中所包括的最新缺陷记录数从P更新为P′。在该情况下，最新缺陷记录数减少了所删除的缺陷记录数(也就是，被确定是正常的缺陷扇区数)。

在P个最新缺陷记录和最新缺陷记录数P被更新之后，控制部分301将最新头信息中包括的第一最新更新次数信息的内容和最新定位符中包括的第二最新更新次数信息的内容加一。

(iii)更改缺陷记录

此情况下的操作与第一实施例中所述的操作相同，这里将不再重复。

通过控制部分301对存储部分303中存储的最新缺陷列表执行操作(i)至(iii)。如在第一实施例中，在第一和第二更新次数信息933和951表示更新的最新缺陷列表已经被记录在第一缺陷管理区904中的次数的情况下，只有在更新的最新缺陷列表被记录在第一缺陷管理区904中之前，第一和第二最新更新次数信息中的每一个才可以加一。相反，在第一和第二更新次数信息933和951表示存储部分303中的最新缺陷列表已经被更新的次数的情况下，在每次更新最新缺陷记录和最新缺陷记录数时，可以将第一和第二最新更新次数信息加一。

控制部分301请求记录和再现部分302在光盘900的第一缺陷管理区904中记录在存储部分303中更新的最新缺陷列表。例如，控制部分301请求记录和再现部分302按顺序在第一缺陷管理区904中记录更新的最新头信息、更新的P′个最新缺陷记录和更新的最新定位符。

当接收到来自控制部分301的请求时，记录和再现部分302在第一缺陷管理区904中记录更新的最新缺陷列表。替换缺陷列表912的更新缺陷列表按照这样的顺序记录在第一缺陷管理区904中：替换头信息921的最新头信息、替换第一至第N个缺陷记录922至925的最新缺陷记录、替换定位符927的最新定位符。记录和再现部分302向控制部分报告更新的最新缺陷列表在第一缺陷管理区904中的记录已经完成。与第一实施例不同，定位符927在第二实施例中位于光盘900中的固定位置处，也就是从缺陷列表912开始起的第四个ECC块的末尾处。因此，即是当缺陷列表912中的头信息和缺陷记录的总共大小被容纳在1ECC尺寸中时，需要记录至少两个ECC块的数据，也就是第一ECC块的数据和第四ECC块的数据。

控制部分301请求记录和再现部分302在第二至第四缺陷管理区905、908和909的每一个中存储在存储部分303内更新的最新缺陷列表。更加具体地说，控制部分301再次请求记录和再现部分302按顺序在第二至第四缺陷管理区905、908和909中记录更新的最新头信息、更新的最新缺陷记录、和更新的最新定位符。

当接收到来自控制部分301的请求时，记录和再现部分302在第二至第四缺陷管理区905、908和909的每一个中记录更新的最新缺陷列表。

因此，由记录和再现装置300执行的用于更新最新的缺陷列表的缺陷管理处理的操作就完成了。

记录更新的最新缺陷列表的顺序不限于上述的顺序：最新头信息、P′个最新缺陷记录和最新定位符。只要头信息921、N个缺陷记录922至925和定位符927按照该顺序存储在缺陷列表912中，控制部分301就可以请求记录和再现部分302在第一至第四缺陷管理区904、905、908和909的每一个内按照该顺序记录更新的最新定位符、更新的P′个最新缺陷记录、和最新头信息，并且当接收到来自控制部分301的请求时，记录和再现部分302可在第一至第四缺陷管理区904、905、908和909的每一个中记录更新的最新缺陷列表。

在参照图5，将介绍第二实施例中的用于更新最新缺陷列表的缺陷管理处理的过程。所述缺陷管理处理由控制部分301来执行。步骤S501至S505中的操作基本上与第一实施例中的相同，这里将不再重复。

步骤S504：在光盘900的第一缺陷管理区904中记录更新的最新缺陷。例如，按顺序在第一缺陷管理区904中记录更新的最新头信息、更新的P′个最新缺陷记录和更新的最新定位符。只要头信息921、N个缺陷记录922至925、和定位符927按照该顺序存储在缺陷列表912中，就可以在第一缺陷管理区904中按照这样的顺序来记录更新的最新定位符、更新的P′个最新缺陷记录和更新的最新头信息。在光盘900中，定位符927位于缺陷列表912中的固定位置处(在图9中，位于从缺陷列表912的开始起的第ECC块的末尾处)。因此，即使当缺陷列表912中的头信息921和缺陷记录的总尺寸被容纳在1ECC尺寸中，也可以记录至少两个ECC块的数据，也就是第一ECC块的数据和第四ECC块的数据。

如上所述，最新头信息、P′个最新缺陷记录和最新定位符的布置是任意的。更新的最新缺陷列表被如下所述的记录在光盘900的第一至第四缺陷管理区904、905、908和909的每一个中。从而，更新的最新缺陷列表按照更新的最新头信息、更新的P′个最新缺陷记录和更新的最新定位符的顺序或按照更新的最新定位符、更新的P′个最新缺陷记录和更新的最新头信息的顺序被记录在第一至第四缺陷管理区904、905、908和909的每一个中，将更新的最新头信息定位在头信息921的位置处，将更新的P′个最新缺陷记录定位在缺陷记录922至925的位置处，将更新的最新定位符定位在定位符927的位置处。

在上面的说明中，更新的最新缺陷列表被记录在图9所示的光盘900上，其中光盘900已经进行了缺陷管理。接着，将介绍在从工厂运输后在处于初始状态的光盘上记录更新的最新缺陷列表的过程。

假定处于初始状态下的光盘具有与图9所示相同的结构，除了，例如缺陷列表912(图9)不具有信息。在这种光盘中，没有记录用于识别缺陷列表的缺陷列表识别符。因此，在最新缺陷列表不包括最新缺陷列表识别符的情况下，除了在缺陷管理区中记录最新缺陷列表的处理外，记录最新缺陷列表的缺陷管理处理还包括记录缺陷列表识别符的处理。在最新缺陷列表包括最新缺陷列表识别符的情况下，由于上面已经参照图5说明了所述处理，所以没有给出详细的说明。

控制部分301请求记录和再现部分302在光盘的缺陷管理区中记录存储在存储部分303内的最新缺陷列表，并在光盘的缺陷管理区中记录初始存储在控制部分301中的内在缺陷列表识别符。更加具体的说，内在缺陷列表识别符被记录在缺陷管理区中以便将其定位在头信息921的开始处。在该情况下，可将任意值记录为最新缺陷记录数和最新缺陷列表的最新缺陷记录，它们分别对应于缺陷记录数932和第一至第N个缺陷记录922至925。例如，0或者1被记录为第一更新次数信息和第二更新次数信息。将被记录为第一和第二更新次数信息的值是任意的，只要这些值彼此相等并且表示已经对初始状态下的光盘执行了一次记录。

用于在缺陷管理区中记录缺陷列表识别符的方法不局限于上述方法。例如，已经存储在控制部分301中的内在缺陷列表识别符在存储部分303中存储的最新缺陷列表的最新头信息的开始处被给作最新缺陷列表识别符。作为在初始状态下的光盘上执行的缺陷管理处理，包括以此方式获得的最新缺陷列表识别符的最新缺陷列表可被记录在缺陷管理区中。

缺陷管理处理的这个过程在图5的步骤S504和S505中执行。

在所述第二实施例中，缺陷管理区是否已经进行了正常更新被精确确定。这一过程将在下面说明。在下述说明中，使用了光盘900。

(特定实施例1：当缺陷记录被加入时)

图11表示在各种状态下的缺陷列表的数据结构。部分(a)表示更新缺陷列表前的数据结构。部分(b)表示已经被正常更新的缺陷列表的数据结构。部分(c)表示未被正常更新的缺陷列表的数据结构。

图11表示在用户区906中检测到另外的缺陷区(缺陷扇区)并且加入了一个缺陷记录的情况。缺陷记录的添加如上所述的参照图3和5来执行。

图11的部分(a)表示缺陷列表被更新之前的数据结构。部分(a)所示的缺陷列表与图9所示的缺陷列表912相同。该缺陷列表包括第一缺陷记录、......、和第N个缺陷记录。缺陷记录数为N，并且第一更新次数信息和第二更新次数信息的每一个的内容都是M。

图11的部分(b)表示缺陷列表被正常更新(一个缺陷记录被正常添加)之后的数据结构。当一个缺陷记录被正常添加到缺陷列表时，缺陷列表包括第一缺陷记录、......、和第N个缺陷记录、以及第(N+1)个缺陷记录。缺陷记录数从图11的部分(a)中的状态增加一。所述缺陷记录数从N更新为N+1。第一更新次数信息和第二更新次数信息的每一个的内容从M更新为M+1。

在缺陷记录的添加之后，未使用区的大小被增加所添加的缺陷记录的大小，类似于特定实施例1，但定位符的位置是固定的。第一更新次数信息的内容与第二更新次数信息的内容匹配。因此，能够确定缺陷列表已经被正常更新。

图11的部分(c)表示在记录定位符之前更新失败的情况下的缺陷列表的数据结构。例如，在缺陷列表正被更新的同时记录和再现装置300被关闭时发生所述故障。在图11的部分(c)中，缺陷列表包括第一缺陷记录、......、和第N个缺陷记录，类似于图11的部分(a)。虽然所述缺陷列表包括与图11的部分(a)相同的缺陷记录，但缺陷记录数被从N更新为N+1。第一更新次数信息的内容从M更新为(M+1)。然而，第二更新次数信息的内容为M，与图11的部分(a)中的相同。由于第一更新次数信息的内容与第二更新次数信息的内容不匹配，因此，确定缺陷列表的更新失败。

在缺陷记录被改变或缺陷记录被删除的情况下，通过以基本相同的方式比较第一更新次数信息的内容和第二更新次数信息的内容而能够确定缺陷列表是否已经被正常更新。

在第二实施例中，定位符927仅包括第二更新次数信息951。如在第一实施例中，定位符927也可以包括用于识别缺陷列表912中的定位符。在这种情况下，也同样可以得到与在第二实施例中所述的相同的效果。

在第二实施例中，头信息921包括缺陷列表识别符931。头信息921位于光盘900中的物理特定的位置处，因此头信息921不需要包括缺陷列表识别符931。即使在没有缺陷列表识别符931的情况下，也能够得到与第二实施例中所述的相同的效果。

如上所述，根据本发明的第二实施例，信息记录介质900包括用于记录用户数据的数据区902、和用于记录缺陷列表的缺陷管理区904、905、908和909，所述缺陷列表用于管理存在于数据区902中的N个缺陷区(N为满足N≥0的整数)。缺陷列表912包括头信息921、分别包括关于N个缺陷区的位置的位置信息的N个缺陷记录、和位于缺陷列表912中的固定位置处的定位符927。头信息921包括第一更新次数信息933，定位符927包括第二更新次数信息951。

由于定位符927位于固定位置处，所以其它信息不会错误的再现为定位符927。即，第一更新次数信息的内容和第二更新次数信息的内容能够在没有失败的情况下进行比较。因此，能够容易的确定缺陷列表912是否已经被正常更新。

同样，由于定位符927位于固定位置处，所以不需要第一实施例中所需的计算定位符927的位置和检查定位符927是否位于计算的位置处以便再现定位符927这样的过程。因此，缺陷管理处理能被简化并且提高了处理速度。

即使当缺陷列表912的大小未容纳在1ECC尺寸中时，也不需要为每个1ECC尺寸提供一个头信息。因此，更新缺陷列表912的处理效率得以提高。因为头信息不是放在两个缺陷记录之间，所以例如能够容易的搜索、添加和删除缺陷记录。

工业应用

如上所述，根据本发明的信息记录介质包括用于记录用户数据的数据区和用于记录缺陷列表的缺陷管理区，所述缺陷列表用于管理存在于数据区中的N个缺陷区(N为满足N≥0的整数)。缺陷列表包括头信息、分别包括关于N个缺陷区的位置的位置信息的N个缺陷记录、和定位符。头信息、N个缺陷记录和定位符按顺序位于缺陷列表中。由于这种结构，缺陷列表的大小是可变化的，因此，根据缺陷列表的大小而提高了处理速度。

根据本发明的信息记录介质，头信息包括用于识别缺陷列表的缺陷列表识别符、表示缺陷列表已经被更新的次数的第一更新次数信息、和表示缺陷记录数的缺陷记录数。定位符包括用于识别缺陷列表的定位符的定位符标识、和表示缺陷列表已经被更新的次数的第二更新次数信息。即使当缺陷列表的大小未容纳在1ECC尺寸中时，也不需要为每个1ECC尺寸提供一个头信息。因此，更新缺陷列表的处理效率得以提高。因为头信息不是放在两个缺陷记录之间，所以例如能够容易的搜索、添加和删除缺陷记录。

定位符标识的内容不同于任何的缺陷列表识别符、缺陷记录数、第一更新次数信息、缺陷记录或第二更新次数信息。这样，即使当缺陷记录被删除时，被错误的读作定位符标识的信息也不会与内在定位符标识的内容相匹配。因此，当缺陷列表还未被正常更新时，它不会被错误的确定为已经进行了正常更新。

在不脱离本发明的范围和精神的情况下，本领域技术人员可容易的做出各种其它修改，并且这些修改对于本领域技术人员来说是显而易见的。因此，后附的权利要求的范围不趋于限制在这里所作的说明，而是权利要求具有宽范围的构成。

Claims (3)

1.一种用于在信息记录介质上记录信息的信息记录方法，该信息记录介质具有

用于记录用户数据的数据区；以及

用于记录缺陷列表的区，该缺陷列表用于管理存在于数据区中的缺陷区；

所述方法包括下列步骤：

在用于记录缺陷列表的区中，

形成用于存储位于缺陷列表中的固定位置处的头信息的第一区；

在用于存储头信息的第一区之后，形成用于存储包括关于缺陷区的位置的位置信息的缺陷记录的第二区；

在用于存储缺陷记录的第二区之后，形成用于存储定位符的第三区，

其中所述方法还包括下列步骤：

在用于存储头信息的第一区中，

形成用于存储用于识别缺陷列表的缺陷列表识别符的区；

形成用于存储表示缺陷列表已经被更新的次数的第一更新次数信息的区；

形成用于存储表示缺陷记录的数量的缺陷记录数的区；

在用于存储定位符的第三区中，

形成用于存储用于识别缺陷列表的定位符的定位符标识的区；以及

形成用于存储表示缺陷列表已经被更新的次数的第二更新次数信息的区，并且

其中，当缺陷列表最初被记录在用于记录缺陷列表的区中时，第一更新次数信息和第二更新次数信息的值都被设置为零，其表示该缺陷列表为空。

2.一种用于在信息记录介质上记录信息的信息记录装置，

其中该信息记录介质包括

用于记录用户数据的数据区；以及

用于记录缺陷列表的缺陷管理区，该列表用于管理存在于数据区中的缺陷区；

该信息记录装置包括用于记录缺陷列表的缺陷列表记录部分：

其中该缺陷列表记录部分包括：

用于在缺陷列表中的固定位置处记录头信息的头信息记录部分；

用于在该头信息之后记录包括关于缺陷区的位置信息的缺陷记录的缺陷记录记录部分；和

用于在缺陷记录之后记录定位符的定位符记录部分，

其中，该头信息包括：

用于识别缺陷列表的缺陷列表识别符；

表示缺陷列表已经被更新的次数的第一更新次数信息；和

表示缺陷记录的数量的缺陷记录数；

其中，该定位符包括：

用于识别缺陷列表的定位符的定位符标识；以及

表示缺陷列表已经被更新的次数的第二更新次数信息，

其中，当缺陷列表最初被记录在用于记录缺陷列表的区中时，缺陷列表记录部分将第一更新次数信息和第二更新次数信息的值设置为零，其表示该缺陷列表为空。

3.一种用于再现记录在信息记录介质上的信息的再现装置，

其中该信息记录介质包括

用于记录用户数据的数据区；以及

用于记录缺陷列表的缺陷管理区，该列表用于管理存在于数据区中的缺陷区；

该再现装置包括用于再现缺陷列表的缺陷列表再现部分，

其中该缺陷列表再现部分包括：

用于再现在缺陷列表中的固定位置处的头信息的头信息再现部分；

用于再现位于该头信息之后的包括关于缺陷区的位置信息的缺陷记录的缺陷记录再现部分；和

用于再现位于缺陷记录之后的定位符的定位符再现部分，

其中，该头信息包括：

用于识别缺陷列表的缺陷列表识别符；

表示缺陷列表已经被更新的次数的第一更新次数信息；和

表示缺陷记录的数量的缺陷记录数；

其中，该定位符包括：

用于识别缺陷列表的定位符的定位符标识；以及

表示缺陷列表已经被更新的次数的第二更新次数信息，并且

其中，如果第一更新次数信息和第二更新次数信息的值都被设置为零，则缺陷列表再现部分确定缺陷列表最初被记录在缺陷管理区。

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