CN101292168A - 利用短路棒和高频时钟信号检验具有集成驱动器ic的tft-lcd的阵列测试 - Google Patents

利用短路棒和高频时钟信号检验具有集成驱动器ic的tft-lcd的阵列测试 Download PDF

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Abstract

根据本发明，第一短路棒(6081)驱动具有集成栅极驱动器电路的TFT阵列(402)的数据线(606)。另一组短路棒(450)驱动栅极驱动器电路(404)的相应终端。在所有像素由施加至短路棒的驱动信号(Vdd、Vst、CK1等)充电之后测量像素电压。栅极电压通过所述一组短路棒由栅极驱动器集成电路逐渐地施加到栅极线上，该组短路棒依次由从一个或多个图案发生器接收的时钟信号驱动。电压同时施加到由第一短路棒连接在一起的数据线上。施加电压而产生了显示图案，随后将该显示图案与预期的显示图案比较。通过将结果显示图案与预期的显示图案比较来检测可能存在的缺陷。

Description

利用短路棒和高频时钟信号检验具有集成驱动器IC的TFT-LCD的阵列测试
相关申请的交叉引用
本申请与2005年11月15日提交的、题为″Array Test Using TheShorting Bar And High Frequency Clock Signal For The Inspection OfTFT-LCD With Integrated Driver IC(利用短路棒和高频时钟信号检验具有集成驱动器IC的TFT-LCD的阵列测试)″的第60/737,090号美国临时申请相关，并根据35USC 119(e)要求该美国临时申请的优先权，该美国临时申请的全部内容通过引用而并入本文。
发明背景
本发明一般涉及薄膜晶体管(TFT)阵列的检验，更具体地涉及对具有集成电路(IC)驱动器的TFT阵列的检验。
在成品液晶平板中，液晶(LC)材料的薄层设置在两片玻璃之间。在一片玻璃上，已经对二维阵列的电极进行构图。每个电极的尺寸为100微米量级，并且能够通过沿面板边缘设置的多路晶体管而在电极上施加独特的电压。在成品中，由每个单独的电极产生的电场均耦合到LC材料中，并对在像素化的区域中传输的光的数量进行调制。当总计对整个二维阵列生效时，这种效力在平板上产生可视图像。
在将LC材料注入上层和下层玻璃板之间时，产生了与LCD面板相关的很大一部分生产成本。因此，在上述生产步骤之前识别并纠正任何图像质量问题是很重要的。在沉积液晶(LC)材料之前检验LCD面板的问题在于，没有LC材料便没有可用来检验的可视图像。在沉积LC材料之前，如果由外部电源驱动，则在给定的像素上呈现的唯一信号是由该像素上的电压产生的电场。测试这种面板阵列的装置通常利用像素的电学性质(例如作为晶体管栅极或数据线上的变化的驱动电压的函数的电场或像素电压)。如第4,983,911号美国专利所描述的那样，由Photon Dynamics设计的阵列测试器使用电压图像光学系统(VIOS)。由Applied Komatsu出售的阵列测试器使用电子束和成像系统来检测缺陷。上述两种阵列测试器都需要与其各自的检测方法工艺结合的装置来对样品进行电驱动。
授权给Henley等人并且通过引用而全部并入本文的第5,081,687号美国专利描述了一种阵列测试方法，根据该方法将电驱动信号的模式应用于所测试的面板。参照图1，其中示出通常的有源矩阵LCD面板部分10包括像素12的阵列。每个像素12均通过同时对适当的驱动线14和栅极线16进行定址来激活。驱动元件18与每个像素相关联。驱动线14、栅极线16、像素12和像素驱动元件18通过平版印刷或其它工艺而沉积在光亮的玻璃衬底上。奇数编号的栅极线可以通过每隔一个栅极线16连接的短路棒(shorting bar)30而同时定址。偶数编号的栅极线可以通过第二短路棒(未示出)来定址。同样，奇数编号的数据线可以通过每隔一个数据线14连接的短路棒28来定址。偶数编号的数据线可以通过第二短路棒(未示出)来定址。可以将不同的驱动模式应用于栅极线和数据线上，以确定那些像素是有缺陷的。
通常，在将面板制造和装配成其最终形式(例如，电脑监视器、手机显示器、电视机等)时，加入最终显示板的电驱动电路。图2示出了面板200，其利用多个连接器204与印刷电路板204电连接。假定图2中的面板200包括图1中示出的电路。栅极驱动器集成电路(IC)(未示出)安装在印刷电路板204上，然后使印刷电路板204与面板200电接触以驱动像素栅极线。
然而，最近随着非晶硅材料与相关工艺和设计的应用的增加，集成电路(IC)栅极驱动器在面板上形成，如图3所示。例如，参见SID05Diges第939页Kim等人的″High-Resolution Integrated a-Si RowDrivers(高分辨率集成的Si列驱动器)″；SID 05 Digest第950页上Lebrun等人的″Design of Integrated Drivers with Amorphous SiliconTFTs for Small Displays，Basic Concepts(用于小显示器的具有非晶硅TFT的集成驱动器的设计、基本原理)″。
发明内容
根据本发明，第一短路棒驱动具有集成栅极驱动器电路的TFT阵列的数据线。另一组短路棒驱动栅极驱动器电路的相应终端。在所有像素由施加至短路棒的驱动信号充电之后测量像素电压。栅极电压通过所述一组短路棒由栅极驱动器集成电路(IC)逐渐地施加到栅极线上，所述短路棒依次由从一个或多个图案发生器接收的时钟信号驱动。电压同时施加到由第一短路棒连接在一起的数据线上。施加电压而产生了显示图案，随后将该显示图案与预期的显示图案进行比较。通过将结果显示图案与预期的显示图案进行比较来检测可能存在的缺陷。
附图说明
图1示出了如现有技术中所公知的典型有源矩阵LCD面板部分；
图2示出了如现有技术中所公知的部分装配的面板，该面板与包括集成电路栅极驱动器的印刷电路板相电接触；
图3示出了部分装配的面板，该面板具有适于对形成在面板上的像素的栅极线进行驱动的集成电路；
图4A示出了设置在集成于TFT面板上的栅极驱动器IC中的多个移位寄存器；
图4B示出了施加到图4A中的栅极驱动电路上的多个输入信号的时序图；
图4C示出了由图4A中的栅极驱动电路产生的输出信号的时序图；
图5是根据本发明的一个实施方式、利用多个短路棒测试的平板的简化俯视方块图；
图6是用于测试图5中的平板的多种信号的示例性时序图；
图7A为示出了另一示例性栅极驱动器IC的输入信号数量的表格；
图7B为图5A中示出的输入信号的示例性时序图；以及
图8示出了用于产生信号的多个示例性电路方块，该信号驱动本发明的短路棒。
具体实施方式
根据本发明，第一短路棒驱动具有集成栅极驱动器电路的TFT阵列的数据线，即，具有在其上形成集成电路的衬底的TFT阵列的数据线。另一组短路棒驱动栅极驱动器电路的相应终端。在像素由驱动信号充电后测量像素电压。栅极电压通过所述一组短路棒由栅极驱动器IC逐渐地施加到栅极线上，该组短路棒依次由从一个或多个图案发生器接收的时钟信号驱动。电压同时施加到由第一短路棒连接在一起的数据线上。本发明产生了具有用于栅极驱动器IC的高频的以及用于数据线的低频的任意波形。在某些实施方式中，多个第一短路棒可用来向数据线提供信号而多个第二短路棒可用来向栅极线提供信号。
图4A示出了包括多个移位寄存器4061....406N(在本文中全体并可选地称为406)的栅极驱动器IC404，每个寄存器406均接收一对180异相的时钟信号，以及启动信号Vst。当保持每个寄存器406关联的启动信号Vst时，每个寄存器406均被配置为输出脉冲。图4B是施加到栅极驱动器IC 404上的信号的时序图，图4C是由栅极驱动器IC404产生的信号的时序图。如从上述时序图中看出的那样，当施加到移位寄存器4061输入终端上的信号Vst进行低至高的转变时，移位寄存器406产生与提供给栅极4141(未示出)的时钟信号CK1和CK2同步的输出脉冲。也就是说，信号Vst启动了驱动模式。移位寄存器4061的输出脉冲用作移位寄存器4062的启动信号，移位寄存器4062依次将其输出信号提供至栅极4142(未示出)等。因此，与输入信号流CK1和CK2相对应，及时地以阶梯形式产生输出信号414。根据本发明，第一短路棒450用来向移位寄存器406提供时钟信号CK1，第二短路棒452用来向移位寄存器406提供时钟信号CK2，而第三短路棒454用来提供电压Vdd。这种两相时钟设计，即，一对180°异相的互补时钟信号，允许来自时钟馈通(feed-through)和高寄生电容的任何信号失真由相对的时钟来补偿。
为了对TFT阵列进行电测试，应用了电驱动信号的模式，并且例如Photon Dynamics的电压成像系统(VIOS)的检测装置在面板上扫描，以光学地或电学地观察没有对信号模式作出反应的所有像素。如上所述，电驱动信号的模式施加到IC栅极驱动器上，并且也通过数据短路棒或单独的数据线施加到数据线上。将所产生的显示图案与预期的显示图案进行比较以检测出缺陷。
图5是面板400的高度简化的俯视图。如图所示，面板400部分地包括像素阵列402以及栅极驱动器IC 404。栅极驱动器IC 404包括多个如在图4A中示出的移位寄存器。在图5的实例中，IC栅极驱动器404需要三个输入信号，即，信号Vst，CLK1、CLK2以及电源电压VDD。信号CLK1和CLK2分别由短路棒450和452驱动。利用短路棒454提供电压Vdd。
通过短路棒6081和6082来驱动数据线。数据线分为一组“奇数”线和一组“偶数”线，“奇数”线和“偶数”线分别通过短路棒6081和6082连接至接触点DO(“数据奇数”)610和DE(“数据偶数”)612。根据本发明的测试方法，与相同短路棒连接在一起的像素同时被启动。图6是在图5中示出的多种信号的示例性时序图。如图6所示，通常以相对于栅极线(“CK1”和“CK2”)而言较低的频率驱动数据线(“数据奇数”和“数据偶数”)。
每个平板制造者均对IC栅极驱动器进行不同的设计，并且可以具有不同的输入信号定义以及需要不同数量的输入信号。图7A为示出了栅极驱动器IC(未示出)另一实例的表格，该栅极驱动器IC具有10个输入终端并因而需要10个输入信号来工作。图7B示出了与图6中示出的表格对应的输入信号的时序图的实例。根据本发明，采用提供信号Reset、CLK1、CLK2、CLK3、CLK4以及VgI的6个短路棒，其中每个短路棒均向上述栅极驱动器IC的10个输入终端中的不同的输入终端提供信号。三个以上的短路棒向晶体管提供驱动电压Vdd、Vdd1以及Vdd2。
图8示出了用来测试具有集成栅极驱动器电路的TFT阵列的系统配置的一个实例。图案发生器产生任意的波形并且电压放大器804对所产生的波形进行放大。多路复用器806选择面板进行测试，并将所需的信号传输至IC栅极驱动器和数据线短路棒。在一个实施方式中，栅极驱动器IC可以设计为在60Hz或75Hz的频率上工作。具有用于驱动XGA分辨率面板的60Hz时钟信号的典型脉冲宽度为20μs。如果针对安全因素的设计参数为2，则脉冲宽度应大于10μs，以驱动栅极驱动器IC。在图6中示出的实施例中，脉冲宽度为16μs，其小于用于驱动XGA的60Hz的典型脉冲宽度。然而，这能够适当地启动像素。本发明可以利用同一系统来检测两种TFT阵列，即，传统的TFT阵列和具有栅极驱动器IC的TFT阵列。
本发明的以上实施方式为说明性的而非限制性的。各种替代和等同方式都是可能的。本发明不受平板显示器类型的限制，也不受集成有平板的栅极驱动器电路类型的限制。本发明不受集成的栅极驱动器的输入信号数量的限制。根据本发明，其它的增加、减少或替代是显而易见的并且旨在落在所附权利要求的范围之内。

Claims (8)

1.一种用于测试平板显示器的方法，所述平板显示器具有多个第一驱动线和多个第二驱动线，所述方法包括：
将第一短路棒耦合至所述多个第一驱动线；
将多个第二短路棒耦合至所述多个第二驱动线；
将第一测试信号施加至所述第一短路棒；
将多个第二测试信号施加至所述多个第二短路棒以产生第一结果显示图案；以及
检测所述第一结果显示图案与预期的显示图案之间的差别。
2.如权利要求1所述的方法，其中所述预期的显示图案包括预期的图像数据，所述方法进一步包括：
对所述第一结果显示图案的一部分进行成像，以产生感测的图像数据；以及
将所述感测的图像数据与所述预期的图像数据进行比较，以检测二者之间的差别。
3.一种用于测试平板显示器的装置，所述面板具有多个第一信号线以及多个第二信号线，所述装置包括：
第一短路棒，其适于耦合至所述多个第一驱动线；
多个第二短路棒，其适于耦合至所述多个第二驱动线；
控制电路，其适于对所述第一短路棒和所述多个第二短路棒提供信号以产生结果显示图案；
用于对所述结果显示图案进行成像以产生感测的图像数据的装置；以及
用于检测所述第一结果显示图案与预期的显示图案之间差别的装置。
4.如权利要求3所述的装置，其中所述预期的显示图案包括预期的图像数据，所述装置进一步包括：
用于对所述第一结果显示图案的一部分进行成像以产生感测的图像数据的装置；以及
将所述感测的图像数据与所述预期的图像数据进行比较、以检测二者之间差别的装置。
5.一种用于测试平板显示器的方法，所述平板显示器具有多个第一驱动线和多个第二驱动线，所述方法包括：
将多个第一短路棒耦合至所述多个第一驱动线；
将多个第二短路棒耦合至所述多个第二驱动线；
将多个第一信号施加至所述多个第一短路棒；
将多个第二信号施加至所述多个第二短路棒以产生第一结果显示图案；以及
检测所述第一结果显示图案与预期的显示图案之间的差别。
6.如权利要求5所述的方法，其中所述预期的显示图案包括预期的图像数据，所述方法进一步包括：
对所述第一结果显示图案的一部分进行成像以产生感测的图像数据；以及
将所述感测的图像数据与所述预期的图像数据进行比较以检测二者之间的差别。
7.一种用于测试平板显示器的装置，所述面板具有多个第一信号线以及多个第二信号线，所述装置包括：
多个第一短路棒，其适于耦合至所述多个第一驱动线；
多个第二短路棒，其适于耦合至所述多个第二驱动线；
控制电路，其适于对所述多个第一短路棒和所述多个第二短路棒提供信号以产生结果显示图案；
用于对所述结果显示图案进行成像以产生感测的图像数据的装置；以及
用于检测所述第一结果显示图案与预期的显示图案之间差别的装置。
8.如权利要求7所述的装置，其中所述预期的显示图案包括预期的图像数据，所述装置进一步包括：
用于对所述第一结果显示图案的一部分进行成像以产生感测的图像数据的装置；以及
将所述感测的图像数据与所述预期的图像数据进行比较以检测二者之间差别的装置。
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103033955A (zh) * 2011-10-05 2013-04-10 瀚宇彩晶股份有限公司 用于液晶显示面板的测试方法及液晶显示面板
CN103995369A (zh) * 2014-04-18 2014-08-20 京东方科技集团股份有限公司 阵列基板、显示面板及其测试方法
CN104732901A (zh) * 2013-10-09 2015-06-24 飞腾动力公司 测试扁平面板显示器的方法及经配置以测试扁平面板显示器的系统
CN109300440A (zh) * 2018-10-15 2019-02-01 深圳市华星光电技术有限公司 显示装置
WO2019095431A1 (zh) * 2017-11-15 2019-05-23 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 显示面板及显示装置

Families Citing this family (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20150097592A1 (en) * 2005-11-15 2015-04-09 Photon Dynamics, Inc. Direct testing for peripheral circuits in flat panel devices
US7786742B2 (en) * 2006-05-31 2010-08-31 Applied Materials, Inc. Prober for electronic device testing on large area substrates
US7602199B2 (en) * 2006-05-31 2009-10-13 Applied Materials, Inc. Mini-prober for TFT-LCD testing
FR2920907B1 (fr) * 2007-09-07 2010-04-09 Thales Sa Circuit de commande des lignes d'un ecran plat a matrice active.
KR20110033846A (ko) * 2008-07-03 2011-03-31 가부시키가이샤 어드밴티스트 시험 장치 및 소켓 보드
TWI375831B (en) * 2009-02-10 2012-11-01 Au Optronics Corp Display device and repairing method therefor
JP5391819B2 (ja) * 2009-05-14 2014-01-15 日本電産リード株式会社 タッチパネル検査装置
TWI478018B (zh) * 2011-01-21 2015-03-21 Egalax Empia Technology Inc 觸控面板感測器斷線檢測方法及裝置
KR102022698B1 (ko) 2012-05-31 2019-11-05 삼성디스플레이 주식회사 표시 패널
CN103728515B (zh) * 2013-12-31 2017-01-18 深圳市华星光电技术有限公司 一种针对密集布线的阵列基板的线路检测设备和检测方法
KR102201623B1 (ko) 2014-02-27 2021-01-13 삼성디스플레이 주식회사 어레이 기판 및 이를 포함하는 표시 장치
CN104036706A (zh) * 2014-05-26 2014-09-10 京东方科技集团股份有限公司 故障检测方法、故障检测装置和故障检测系统
CN104218042B (zh) * 2014-09-02 2017-06-09 合肥鑫晟光电科技有限公司 一种阵列基板及其制备方法、显示装置
CN104777636B (zh) * 2015-04-20 2018-06-12 合肥鑫晟光电科技有限公司 测试系统及测试方法
KR102386205B1 (ko) 2015-08-05 2022-04-13 삼성디스플레이 주식회사 어레이 테스트 장치 및 어레이 테스트 방법
US10741133B2 (en) * 2016-11-30 2020-08-11 Samsung Display Co., Ltd. Display device
CN107315291B (zh) * 2017-07-19 2020-06-16 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 一种goa显示面板及goa显示装置

Family Cites Families (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS602989A (ja) * 1983-06-20 1985-01-09 セイコーエプソン株式会社 液晶表示装置
US4983911A (en) * 1990-02-15 1991-01-08 Photon Dynamics, Inc. Voltage imaging system using electro-optics
US5081687A (en) * 1990-11-30 1992-01-14 Photon Dynamics, Inc. Method and apparatus for testing LCD panel array prior to shorting bar removal
US5465052A (en) * 1991-09-10 1995-11-07 Photon Dynamics, Inc. Method of testing liquid crystal display substrates
US5852480A (en) * 1994-03-30 1998-12-22 Nec Corporation LCD panel having a plurality of shunt buses
JP3203971B2 (ja) * 1994-08-19 2001-09-04 ソニー株式会社 表示素子
US5999012A (en) * 1996-08-15 1999-12-07 Listwan; Andrew Method and apparatus for testing an electrically conductive substrate
KR100281058B1 (ko) * 1997-11-05 2001-02-01 구본준, 론 위라하디락사 액정표시장치
KR100494685B1 (ko) * 2000-12-30 2005-06-13 비오이 하이디스 테크놀로지 주식회사 액정표시장치의 패널내 배선의 결함 테스트 방법
TW543145B (en) * 2001-10-11 2003-07-21 Samsung Electronics Co Ltd A thin film transistor array panel and a method of the same
KR100864487B1 (ko) * 2001-12-19 2008-10-20 삼성전자주식회사 비쥬얼 인스펙션 수단을 구비한 박막 트랜지스터 기판 및비쥬얼 인스펙션 방법
KR100800330B1 (ko) * 2001-12-20 2008-02-01 엘지.필립스 엘시디 주식회사 라인 온 글래스형 신호라인 검사를 위한 액정표시패널
KR100841613B1 (ko) * 2001-12-28 2008-06-27 엘지디스플레이 주식회사 박막 트랜지스터 검사용 단락 배선을 갖는 액정 표시장치
KR100528695B1 (ko) * 2003-05-06 2005-11-16 엘지.필립스 엘시디 주식회사 평판표시장치의 검사방법 및 장치
KR100555545B1 (ko) * 2004-01-05 2006-03-03 삼성전자주식회사 플랫 패널에 장착된 위치를 인식하는 플랫 패널 드라이버
CN100498479C (zh) * 2004-01-09 2009-06-10 友达光电股份有限公司 平面显示器的测试装置
US7038484B2 (en) * 2004-08-06 2006-05-02 Toshiba Matsushita Display Technology Co., Ltd. Display device
TWI312087B (en) * 2005-08-26 2009-07-11 Au Optronics Corporatio Test circuit for flat panel display device

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103033955A (zh) * 2011-10-05 2013-04-10 瀚宇彩晶股份有限公司 用于液晶显示面板的测试方法及液晶显示面板
CN103033955B (zh) * 2011-10-05 2015-04-22 瀚宇彩晶股份有限公司 用于液晶显示面板的测试方法及液晶显示面板
CN104732901A (zh) * 2013-10-09 2015-06-24 飞腾动力公司 测试扁平面板显示器的方法及经配置以测试扁平面板显示器的系统
CN104732901B (zh) * 2013-10-09 2019-05-10 飞腾动力公司 测试扁平面板显示器的方法及经配置以测试扁平面板显示器的系统
CN103995369A (zh) * 2014-04-18 2014-08-20 京东方科技集团股份有限公司 阵列基板、显示面板及其测试方法
WO2019095431A1 (zh) * 2017-11-15 2019-05-23 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 显示面板及显示装置
CN109300440A (zh) * 2018-10-15 2019-02-01 深圳市华星光电技术有限公司 显示装置

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