CN101351689A - 光时域反射仪和用于使用光脉冲来测试光纤的方法 - Google Patents

Abstract

在实时测量的时候，当由标志来指定测量位置时，标志电平取得部件从存储在波形存储器中的波形数据取得波形电平。电平比较部件判断由标志电平取得部件取得的波形电平是否属于依照当前选择的衰减器(ATT)值设置的、有效的测量电平范围。当电平比较部件判断波形电平不属于有效的测量电平范围时，ATT值改变部件将ATT值改变成新的ATT值，从而波形电平包含在相应的有效测量电平范围中。控制部件基于新的ATT值，允许来测量被测量的光纤，以致基于在显示部件的屏幕上显示的测量波形，使有不小于预定值的、好的S/N(信噪)比的波形测量成为可能。

Description

光时域反射仪和用于使用光脉冲来测试光纤的方法

技术领域

本发明涉及光时域反射仪和用于使用光脉冲来测试光纤的方法，并且特别地涉及作为光脉冲测试仪的光时域反射仪(OTDR)，其允许光脉冲入射到被测量的光纤上，根据光脉冲的入射、基于从被测量的光纤返回的反射光的检测结果，来检测被测量的光纤的故障点位置，并测量被测量的光纤的传输损耗特性和连接损耗特性，并且涉及用于使用光脉冲来测试光纤的方法。

背景技术

作为光脉冲测试仪的光时域反射仪(OTDR)发射光脉冲以入射到被测量的光纤上，根据光脉冲的入射来检测从被测量的光纤返回的反射光，以致基于反射光的检测结果来检测被测量的光纤的故障点位置，并且测量被测量的光纤的传输损耗特性和连接损耗特性。

图9为说明在下列的专利文件1中公开的光脉冲测试仪的构造的框图，而所述光脉冲测试仪作为如按惯例为普遍已知的光脉冲测试仪这样的、传统的光时域反射仪(OTDR)的一个实例。

由计时发生部件52、驱动电路53、光源54、光定向耦合器55、光接收器56、放大部件57、信号平均处理部件58、对数转换部件59和显示部件60来组成图9中展示的光脉冲测试仪(OTDR)49。

所述类型的光脉冲测试仪(OTDR)49基于来自计时发生部件52的电脉冲，来在驱动电路53中产生脉冲电流，以致允许光源54发射光。

从光源54输出的光脉冲通过光定向耦合器55，并入射到被测量的光纤61上以被测试。

将诸如来自被测量的光纤61的反散射光或反射光这样的回光从光定向耦合器55传输到光接收器56。

光接收器56将诸如来自被测量的光纤61的反散射光或反射光这样的回光转换成电信号，而将所述回光从光定向耦合器55传输到光接收器56。

由放大部件57来放大从光接收器56输出的电信号。

信号平均处理部件58依靠内置的模/数(A/D)转换器，来将由放大部件57放大的模拟电信号转换成数字信号，并将信号相加预定数目的次数，以致求其平均值。

由对数转换部件59来对数地转换来自信号平均处理部件58的、被平均的输出，并且通常在显示部件60上将对数转换的结果显示为向下倾斜的测量波形。

主要地，在所述类型的光脉冲测试仪(OTDR)49中，两个类型的测量方法，即是，平均测量和实时测量为已知的。

平均测量为对于从几秒到几十秒的、相对长的时间，将测量波形重复地相加预定数目的次数，并求所述测量波形的平均值，以致取得有极好的信噪比(S/N比)的测量波形。

在平均测量中，如在专利文件1中公开的光脉冲测试仪(OTDR)49一样，在合适地转变放大部件57的增益和在信号平均处理部件58中的、相加次数的数目(次数的平均数目)的同时，在有不令人满意的S/N比的测量波形的部分上施行测量，并且只接合有极好的S/N比的测量波形的部分，以便可以在宽的范围中取得有不小于预定值的、极好的S/N比的能够用于观察的区域。

在所述情况下，除了上面的构造，在图9中展示的光脉冲测试仪(OTDR)49进一步包括S/N比比较部件50和数据存储部件51。

基于S/N比比较部件50的比较结果，来将在有不小于预定值的、极好的S/N比的测量波形的部分上的数据直接地存储在数据存储部件51中。

然后，在合适地转变放大部件57的增益和在信号平均处理部件58中的、相加次数的数目(次数的平均数目)的同时，基于S/N比比较部件50的比较结果，来在有不多于预定值的、不令人满意的S/N比的测量波形的部分上施行测量。结果，将有被改善到不小于预定值的、极好的S/N比的测量波形部分的数据，顺序地存储在数据存储部件51中。

结果，只接合存储在数据存储部件51中的、有不小于预定值的极好的S/N比的测量波形部分的数据，并将其显示在显示部件60上，以便可以在宽的范围之上取得有不小于预定值的、极好的S/N比的能够用于观察的区域。

还可以将其认作为，由于不能连续地改变放大部件57的增益，因此当通常由衰减器值来表示包括放大部件57的增益与频率特性和在信号平均处理部件58中的相加次数的数目(次数的平均数目)的硬设置的、指定的组合时，由以dB为单位的衰减量来指示衰减器值的多个集合，并且因而合适地设置根据测量波形的S/N比变成最佳的衰减器值。

为此，还可以认作为的是放大部件57和信号平均处理部件58组成与在被转换成电信号之前的光信号等效的衰减器。

在其中施行平均测量的情况下，在由放大部件57和信号平均处理部件58组成的、等价的衰减器中，在根据测量波形的S/N比，来合适地改变由包括放大部件57的增益与频率特性和在信号平均处理部件58中的相加次数的平均数目的硬设置的多个组合获得的、指定的衰减器值的同时，施行测量。结果，可以单独地接合有不小于预定值的、极好的S/N比的测量波形部分。

与其中在合适地改变衰减器值的同时施行测量的平均测量相反，实时测量适合于将测量波形相加从0.1秒到大约1秒的、比较短的时间，并以固定衰减器值来求所述测量波形的平均值，并且顺序地更新测量结果来将其显示，以致观察光纤在所述时间的状况和改变。

因为所述理由，所以实时测量广泛地用于要求速度的应用，例如在其中在正由连接器连接和熔接来连接光纤的同时，需要在铺设光纤的同时检查光纤的连接的、好的/坏的状况的情况下。

由在光纤61中产生的Rayleight散射，导致从将被测量的被测量的光纤61返回的后散射光。

当被测量的光纤61为通常的单模光纤，并且入射到被测量的光纤上的光脉冲的宽度为1×10^-6秒时，后散射光的电平变成比入射的脉冲光的电平低大约50dB。

因此，为了处理所述非常小的信号，光脉冲测试仪(OTDR)49需要通过使用用于将测量重复地施行预定次数的数字平均，相加测量结果并求所述测量结果的平均值，来改善S/N比。

在图9中展示的光脉冲测试仪(OTDR)49的信号平均处理部件58使用所述数字平均，以致改善S/N比。

在其中使用数字平均的情况下，当合并于信号平均处理部件58中的A/D转换器的量化比特为8时，在图10中展示的关系保持在求平均值的次数的数目和S/N比之间。

例如，在图10中，当求平均值的次数的数目为10⁰，而S/N比为-30dB时，在平均为10²次的时候S/N比变成10dB，而这意味着将S/N比改善20dB。

还在下列的非专利文件1中描述使用所述数字平均来改善S/N比的技术。

图11为说明当通过使用在图9中展示的、传统的光脉冲测试仪(OTDR)49的平均测量，来测量其在测量波形中的电平差为大的反射衰减时的测量波形的图。

更确切地说，如图11中所示，在其中通过平均测量来测量其在测量波形中的电平差为大的反射衰减的情况下，花费更多的时间，以致于可以充分地增加用于相加(次数的平均数目)测量波形的次数的数目。因为所述理由，所以可以同时观察在标志1的位置上的、正好在Fresnel反射之前的波形电平和在标志2的位置上的、Fresnel反射的顶点的电平，并且因而可以基于在那之间的差来测量反射衰减。

当不同于所述操作员的操作员在距测量末端20公里或更远的远距离的地方中的、光纤的铺设地点处，熔接将被连接的光纤的末端表面时，施行反射衰减的测量。

由于在平均测量中测量反射衰减花费一定数量的时间，因此当清楚的是反射衰减的测量结果偏离可接受的范围时，熔接的操作员对随后的光纤频繁地实行熔接操作，并且因而测量和熔接不能同时发生。

另一方面，在使用光脉冲测试仪(OTDR)49的实时测量中，由于测量反射衰减不花费很多时间，因此可以避免测量和熔接不能同时发生的问题。

在实时测量中，用于相加(次数的平均数目)测量波形的次数的数目小于在平均测量中的所述次数的数目，并且以固定衰减器值来施行测量。结果，在取得的测量波形中适合于有极好的S/N比的波形的观察的区域变窄。

因为所述理由，所以在图9中展示的、传统的光脉冲测试仪(OTDR)49中，在实时测量中，在其中在取得的测量波形中被测量的波形电平很大地波动，并且尝试来观察另一个距离状况的情况下，操作员注意的距离的波形电平容易偏离合适的测量区。

进一步地，在图9中展示的、传统的光脉冲测试仪(OTDR)49中，在实时测量中，在其中期望来知道在取得的测量波形内的两点之间的损耗值，并且期望来测量基于在所述两点之间的损耗值来计算的反射衰减的情况下，不能这样设置衰减器值，以致于将所述两点的波形电平同时包括在适合于在所述两点之间的波形电平差为大的时候的测量的区域中。

为此，在图9中展示的、传统的光脉冲测试仪(OTDR)49中，非常困难的是在所述境况下施行包括反射衰减的测量的、令人满意的实时测量。

图12和13为说明当通过使用在图9中展示的、传统的光脉冲测试仪(OTDR)49，来施行实时测量时的测量波形的图。

如图12中所示，在其中由实时测量来测量其中电平差为大的反射衰减的情况下，当选取衰减器值，以致于可以测量在标志2的位置上的、Fresnel反射的顶点的波形电平时，使在标志1的位置上的、正好在Fresnel反射之前的波形电平的S/N比恶化，并且不能看见波形。

如图13中所示，通过实时测量来测量其中电平差为大的反射衰减。在所述情况下，当根据在标志1的位置上的、正好在Fresnel反射之前的波形电平来选取衰减器值时，使在标志2的位置上的、Fresnel反射的顶点的波形电平饱和，以致于不能施行精确的测量。

为此，在图12和13中展示的实时测量中，在任何情况下，困难的是精确地测量反射衰减。

进一步地，就被测量的光纤的状态中的改变而言，对于要求迅敏的应用来施行实时测量。

在将被测量的被测光纤及其状态被改变成具有正被测量的一些光纤的另一光纤的情况下，应该由操作员来人工地改变衰减器值，以便调整测量范围。

另一方面，在实时测量中，期望的是可以仅仅通过把如测量位置指定装置这样的、将被显示在显示部件60上的标志移动到目标位，以不小于预定值的、极好的S/N比来观察在期望的位置上的波形。

例如，在实时测量中，在显示部件60上将标志(未展示)移动到有不多于预定值的、不令人满意的S/N比的测量波形的部分，并且根据在标志位置上的S/N比来自动地将衰减器值改变成最佳值，以致于施行测量。结果，期望的是改善在标志位置上的S/N比，并且可以自动地观察有不小于预定值的、极好的S/N比的测量波形。

在图9中展示的、传统的光脉冲测试仪(OTDR)49中，在实时测量中，因为上述的许多问题，所以极端困难的是满足所述类型的期望。

专利文件1：Jpn.Pat.Appln.KOKAI，Publication No.04-158237

非专利文件1：“Backscattering Measurement and Fault Location inOptical Fibers”，Kenji OKADA et al.THE TRANSACTION OF THE IECE JAPAN.VOL.E 63.NO.2.ABSTRACTS FEBRUARY 1980pp 145-146

发明内容

考虑到上面的问题已发明本发明，并且其目的为将提供光时域反射仪和用于使用光脉冲来测试光纤的方法，而所述光时域反射仪基于确定如测量位置指定部件这样的、将被显示在显示部件上的标志的波形电平是否属于预置的、有效的测量电平范围的结果，将衰减器值设置成最佳值，并测量被测量的光纤，以致仅仅通过将标志移动到目标位，来使以不小于预定值的极好的S/N比的、在期望的位置上的波形观察成为可能，并且在实时测量中自动地根据归因于在被测量的光纤的状态中的改变的电平波动，甚至容易地使其中测量波形的电平差为大的反射衰减的测量成为可能。

本发明的第一方面提供光时域反射计，以便达到上述的目的，其包含：

光源(54)，其发射光脉冲，来入射到被测量的光纤(61)上；

光接收部件(56)，其根据从光源(54)发射的光脉冲，来接收从被测量的光纤(61)返回的后散射光；

等价的衰减器(ATT)(11)，其由以预定的增益来放大来自光接收部件(56)的输出信号的放大部件(57)，和将由放大部件(57)放大的输出信号相加预定数目的次数以致求其平均值的信号平均处理部件(58)组成。

对数转换部件(59)，其对数地转换来自等价的衰减器(ATT)(11)的输出信号；

波形存储器(62)，其将来自对数转换部件(59)的输出信号作为波形数据存储在其中。

显示部件(60)，其读取存储在波形存储器(62)中的波形数据，以致将作为测量波形的数据显示在屏幕上；

标志设置部件(63)，其在显示部件(60)的屏幕上显示的测量波形上任意地设置标志，并使能够移动标志设置位置；

衰减器(ATT)值设置状况存储部件(6)，其将用于实时测量的多个衰减器(ATT)值设置状况，和对于多个衰减器(ATT)值设置状况预置的、有效的测量电平范围(ΔLi)存储在其中，而相应于由标志设置部件(63)来在显示部件(60)的屏幕上的测量波形上设置的标志的设置位置，来预置所述多个衰减器值设置状况，并且由组成等价的衰减器(ATT)(11)的放大部件(57)的增益a与在信号平均处理部件(58)中的相加次数的数目m的组合来组成所述多个衰减器值设置状况；

标志电平取得部件(5)，其从存储在波形存储器(62)中的波形数据，来取得在标志的设置位置上的波形电平，而由标志设置部件(63)来在显示部件(60)的屏幕上显示的测量波形设置为可移动的；

电平比较部件(8)，其确定由标志电平取得部件(5)取得的、在标志设置位置上的波形电平是否属于存储在衰减器(ATT)值设置状况存储部件(6)中的、有效的测量电平范围(ΔLi)；

衰减器(ATT)值改变确定部件(9)，其当电平比较部件(8)确定由标志电平取得部件(5)取得的标志设置位置的波形电平不属于存储在衰减器(ATT)值设置状况存储部件(6)中的、有效的测量电平范围(ΔLi)时，确定在衰减器(ATT)值设置状况中的改变；

衰减器(ATT)值设置状况改变部件(7)，其在来自衰减器(ATT)值改变确定部件(9)的改变的确定的情况下，将存储在衰减器(ATT)值设置状况存储部件(6)中的衰减器(ATT)值设置状况，改变成其中由标志电平取得部件(5)取得的在标志设置位置上的波形电平属于有效的测量电平范围的、新的衰减器(ATT)值设置状况；

衰减器(ATT)值设置部件(10)，其将未改变的、存储在衰减器(ATT)值设置状况存储部件(6)中的衰减器(ATT)值设置状况，或被改变的、新的衰减器(ATT)值设置状况设置在等价的衰减器(ATT)(11)中；和

控制部件(3)，其基于由衰减器(ATT)值设置部件(10)设置在等价的衰减器(ATT)(11)中的衰减器(ATT)值设置状况，允许来测量被测量的光纤(61)，读取存储在波形存储器(62)中的波形数据，并接连地将数据在显示部件(60)的屏幕上，以致使其中接连地更新在显示部件(60)的屏幕上显示的测量波形的实时测量成为可能，

其中基于确定如测量位置指定部件这样的、由标志设置部件(63)设置在显示部件(60)的屏幕上的标志的波形电平是否属于预置的、有效的测量电平范围(ΔLi)的结果，来把将在等价的衰减器(ATT)(11)上设置的衰减器(ATT)值设置状况设置在最佳值，并且测量被测量的光纤(61)，并且可以基于在显示部件(60)的屏幕上显示的测量波形，单独地通过依靠标志设置部件(63)将标志移动到目标位，以不小于预定值的、好的信噪比(S/N比)来观察在期望的位置上的波形。

本发明的第二方面根据第一方面来提供光时域反射仪，以便达到上述的目的，其中当将由标志设置部件(63)在显示部件(60)的屏幕上的测量波形上的第一位置上设置的标志(1)移动到在有不大于预定值的、坏的S/N比的测量波形上的第二位置时，将相应于在第二位置上的标志(1)的衰减器(ATT)值设置状况设置成最佳值，并且测量被测量的光纤(61)，以致于可以基于在显示部件(60)的屏幕上显示的测量波形，以不小于预定值的、好的S/N比来观察在第二位置上的波形。

本发明的第三方面根据第一方面来提供光时域反射仪，以便达到上述的目的，进一步包含：

标志指定部件(2)，其当由标志设置部件(63)在显示部件(60)的屏幕上的测量波形上任意地设置多个标志时，从多个标志来指定将被测量的标志，

其中对于实时测量，衰减器(ATT)值设置状况存储部件(6)已将多个衰减器(ATT)值设置状况，和对于多个衰减器(ATT)值设置状况预置的、有效的测量电平范围(ΔLi)存储在其中，而相应于由标志设置部件(63)在显示部件(60)的屏幕上的测量波形上设置的多个标志的设置位置，来预置所述多个衰减器(ATT)值设置状况，并且由组成等价的衰减器(ATT)(11)的放大部件(57)的增益a和在信号平均处理部件(58)中的相加次数的数目m的组合来组成所述多个衰减器(ATT)值设置状况，

标志电平取得部件(5)从存储在波形存储器(62)中的波形数据，来取得在将被测量的标志的设置位置上的波形电平，而由标志指定部件(2)来从由标志设置部件(63)在显示部件(60)的屏幕上的测量波形上设置的多个标志来指定所述被测量的标志，

电平比较部件(8)确定由标志电平取得部件(5)取得的、在将被测量的标志的设置位置上的波形电平是否属于存储在衰减器(ATT)值设置状况存储部件(6)中并相应于将被测量的标志的设置位置的、有效的测量电平范围(ΔLi)，

当电平比较部件(8)确定将被测量的标志的设置位置的波形电平不属于存储在衰减器(ATT)值设置状况存储部件(6)中并相应于将被测量的标志的、有效的测量电平范围(ΔLi)时，衰减器(ATT)值改变确定部件(9)确定在衰减器(ATT)值设置状况中的改变，

在来自衰减器(ATT)值改变确定部件(9)的改变的确定的情况下，衰减器(ATT)值设置状况改变部件(7)将存储在衰减器(ATT)值设置状况存储部件(6)中的衰减器(ATT)值设置状况，改变成其中由标志电平取得部件(5)取得的在将被测量的标志的设置位置上的波形电平属于有效的测量电平范围(ΔLi)的、新的衰减器(ATT)值设置状况，

相应于将被测量的标志地，衰减器(ATT)值设置部件(10)将存储在衰减器(ATT)值设置状况存储部件(6)中的、未改变的衰减器(ATT)值设置状况，或改变的、新的衰减器(ATT)值设置状况设置在等价的衰减器(ATT)(11)中，

控制部件(3)基于由衰减器(ATT)值设置部件(10)相应于将被测量的标志地，在等价的衰减器(ATT)(11)中设置的衰减器(ATT)值设置状况，允许来测量被测量的光纤(61)，相应于被测量的标志地来读取存储在波形存储器(62)中的波形数据，并接连地将数据显示在显示部件(60)的屏幕上，以致使其中接连地更新在显示部件(60)的屏幕上显示的测量波形的实时测量成为可能，光时域反射仪进一步包含：

波形合成部件(4)，其基于由衰减器(ATT)值设置部件(10)相应于将被测量的标志地，在等价的衰减器(ATT)(11)中设置的衰减器(ATT)值设置状况，来读取相应于将被测量的标志的、通过测量取得的波形数据，并合成所述数据，以致将合成的波形数据显示在显示部件(60)的屏幕上，并且

基于确定如测量位置指定部件这样的、由标志设置部件(63)在显示部件(60)的屏幕上设置的标志的波形电平是否属于预置的、有效的测量电平范围(ΔLi)的结果，相应于多个标志地，来将在等价的衰减器(ATT)(11)中设置的衰减器(ATT)值设置状况顺序地设置成最佳值，并且重复地测量被测量的光纤(61)，以致于可以基于在显示部件(60)的屏幕上显示的、合成的波形数据的测量波形，在宽的范围之上以不小于预定值的、好的S/N比来测量在期望的位置上的波形，并且甚至通过自动地跟踪归因于在被测量的光纤(61)的状态中的改变的电平波动，来容易地测量其中测量波形的电平差为大的反射衰减。

本发明的第四方面根据第三方面来提供光时域反射仪，以便达到上述的目的，其中当由标志设置部件(63)在显示部件(60)的屏幕上的测量波形上设置的多个标志包括设置在测量波形上的正好在Fresnel反射之前的位置上的第一标志(1)，和设置在测量波形上的Fresnel反射的顶点的位置上的第二标志(2)时，顺序地设置相应于第一标志(1)和第二标志(2)的衰减器(ATT)值设置状况，并且重复地测量被测量的光纤(61)，以致于可以基于在显示部件(60)的屏幕上显示的、合成的波形数据的测量波形，以不小于预定值的、好的S/N比来同时观察正好在Fresnel反射之前的波形电平和Fresnel反射的顶点的电平。

本发明的第五方面根据第三方面提供光时域反射仪，以便达到上述的目的，进一步包含：

测量频率存储部件(14)，其存储展示在多个标志中的每一个上的、连续的和重复的测量次数的数目的测量频率Nimax，

其中基于相应于将被测量的标志的、存储在测量频率存储部件(14)中的测量频率Nimax，在相应于将被测量的标志的衰减器(ATT)值设置状况下，重复地测量将被测量的标志，并且然后基于相应于随后的将被测量的标志的、存储在测量频率存储部件(14)中的测量频率Nimax，在相应于随后的、将被测量的标志的衰减器(ATT)值设置状况下，重复地测量随后的、将被测量的标志。

本发明的第六方面根据第五方面来提供光时域反射仪，以便达到上述的目的，进一步包含：

电平波动检测部件(12)，其检测在相应于将被测量的标志的、由标志电平取得部件(5)取得的波形电平中的波动；和

测量频率设置部件(13)，其根据在相应于将被测量的标志的波形电平中的、由电平波动检测部件(12)检测的波动的存在/不存在，来改变相应于标志的、存储在测量频率存储部件(14)中的测量频率。

本发明的第七方面根据第三至第六方面来提供光时域反射仪，以便达到上述的目的，其中波形合成部件(4)从通过重复的测量取得的波形数据，只选取有关包括在有效的测量电平范围(ΔLi)中的波形电平的、相应于将被测量的标志的波形数据，以致合成波形数据。

本发明的第八方面提供用于使用光脉冲来测试光纤的方法，包含：

发射光脉冲来入射到被测量的光纤(61)上的步骤；

接收从被测量的光纤(61)返回的后散射光，以致将后散射光转换成电信号的步骤；

依靠放大部件(57)以预定的增益来放大电信号的步骤；

依靠与放大部件(57)一起组成等价的衰减器(ATT)(11)的信号平均处理部件(58)，来将由放大部件(57)放大的输出信号相加预定数目的次数，以致求被相加的信号的平均值的步骤；

依靠对数转换部件(59)来对数地转换来自等价的衰减器(ATT)(11)的输出信号的步骤；

将来自对数转换部件(59)的输出信号作为波形数据存储在波形存储器(62)中的步骤；

读取存储在波形存储器(62)中的波形数据，以致将作为测量波形的数据显示在显示部件(60)的屏幕上的步骤；

在显示部件(60)的屏幕上显示的测量波形上可移动地、任意地设置标志的步骤；

对于实时测量，将多个衰减器(ATT)值设置状况，和对于多个衰减器(ATT)值设置状况预置的、有效的测量电平范围(ΔLi)存储在衰减器(ATT)值设置状况存储部件(6)中的步骤，而相应于在显示部件(60)的屏幕上的测量波形上设置的标志的设置位置，来预置所述多个衰减器(ATT)值设置状况，并且由组成等价的衰减器(ATT)(11)的放大部件(57)的增益a和在信号平均处理部件(58)中的相加次数的数目m的组合来组成所述多个衰减器(ATT)值设置状况；

从存储在波形存储器(62)中的波形数据，取得在显示部件(60)的屏幕上显示的测量波形上，任意地设置的标志的设置位置上的波形电平的步骤；

确定从存储在波形存储器(62)中的波形数据取得的、在标志设置位置上的波形电平是否属于存储在衰减器(ATT)值设置状况存储部件(6)中的、有效的测量电平范围(ΔLi)的步骤；

当做标志设置位置的波形电平不属于存储在衰减器(ATT)值设置状况存储部件(6)中的、有效的测量电平范围(ΔLi)的确定时，确定在衰减器(ATT)值设置状况中的改变的步骤；

在衰减器(ATT)值设置状况中的改变的确定的情况下，将存储在衰减器(ATT)值设置状况存储部件(6)中的衰减器(ATT)值设置状况，改变成其中在标志设置位置上的波形电平属于有效的测量电平范围(ΔLi)的、新的衰减器(ATT)值设置状况的步骤；

在等价的衰减器(ATT)(11)中，设置存储在衰减器(ATT)值设置状况存储部件(6)中的未改变的衰减器(ATT)值设置状况，或被改变的、新的衰减器(ATT)值设置状况的步骤；以及

基于在等价的衰减器(ATT)(11)中设置的衰减器(ATT)值设置状况，允许来测量被测量的光纤(61)，将存储在波形存储器(62)中的波形数据接连地显示在显示部件(60)的屏幕上，以致使其中接连地更新在显示部件(60)的屏幕上显示的测量波形的实时测量成为可能的步骤，

其中基于确定如测量位置指定部件这样的、在显示部件(60)的屏幕上设置的标志的波形电平是否属于预置的、有效的测量电平范围(ΔLi)的结果，来把将被设置在等价的衰减器(ATT)(11)上的衰减器(ATT)值设置状况设置成最佳值，并且测量被测量的光纤(61)，以致于可以基于在显示部件(60)的屏幕上显示的测量波形，仅仅通过将标志移动到目标位，以不小于预定值的、好的S/N比来观察在期望的位置上的波形。

本发明的第九方面根据第八方面来提供用于使用光脉冲来测试光纤的方法，其中当将在显示部件(60)的屏幕上的测量波形上的第一位置上设置的标志(1)移动到在测量波形上的、有不多于预定值的坏的S/N比的第二位置时，将相应于在第二位置上的标志(1)的衰减器(ATT)值设置状况设置成最佳值，并且测量被测量的光纤(61)，以致于可以基于在显示部件(60)的屏幕上显示的测量波形，以不小于预定值的、好的S/N比来观察在第二位置上的波形。

本发明的第十方面根据第八方面来提供用于使用光脉冲测量来测试光纤的方法，以便达到上述的目的，进一步包含：

当在显示部件(60)的屏幕上显示的测量波形上任意地设置多个标志时，从多个标志指定将被测量的标志的步骤，

其中对于实时测量，衰减器(ATT)值设置状况存储部件(6)已将多个衰减器(ATT)值设置状况，和对于多个衰减器(ATT)值设置状况来预置的、有效的测量电平范围(ΔLi)存储在其中，而相应于在显示部件(60)的屏幕上的测量波形上设置的多个标志的设置位置，来预置所述多个衰减器(ATT)值设置状况，并且由组成等价的衰减器(ATT)(11)的放大部件(57)的增益a与在信号平均处理部件(58)中的相加次数的数目m的组合来组成所述多个衰减器(ATT)值设置状况，

在取得在标志的设置位置上的波形电平的步骤，从存储在波形存储器(62)中的波形数据取得相应于在显示部件(60)的屏幕上的测量波形上设置的多个标志中的、将被测量的标志的设置位置的波形电平，

在确定标志的波形电平的步骤，做关于在将被测量的标志的设置位置上的波形电平是否属于存储在衰减器(ATT)值设置状况存储部件(6)中并相应于将被测量的标志的、有效的测量电平范围(ΔLi)的确定，

在确定在衰减器(ATT)值设置状况中的改变的步骤，当做在将被测量的标志的设置位置上的波形电平不属于相应于将被测量的标志的、存储在衰减器(ATT)值设置状况存储部件(6)中的、有效的测量电平范围(ΔLi)的确定时，确定在衰减器(ATT)值设置状况中的改变，

在改变衰减器(ATT)值设置状况的步骤，在衰减器(ATT)值设置状况中的改变的确定的情况下，将存储在衰减器(ATT)值设置状况存储部件(6)中的衰减器(ATT)值设置状况，改变成其中在将被测量的标志的设置位置上的波形电平属于有效的测量电平范围(ΔLi)的、新的衰减器(ATT)值设置状况，

在等价的衰减器(ATT)(11)中的设置的步骤，相应于将被测量的标志地，来将存储在衰减器(ATT)值设置状况存储部件(6)中的、未改变的衰减器(ATT)值设置状况，或被改变的、新的衰减器(ATT)值设置状况设置到等价的衰减器(ATT)(11)中，

在使实时测量成为可能的步骤，基于相应于将被测量的标志地在等价的衰减器(ATT)(11)中设置的衰减器(ATT)值设置状况，来测量被测量的光纤(61)，相应于将被测量的标志地读取并接连地在显示部件(60)的屏幕上显示存储在波形存储器(62)中的波形数据，以致于使其中接连地更新在显示部件(60)的屏幕上显示的测量波形的实时测量成为可能，所述方法进一步包含：

基于由衰减器(ATT)值设置部件(10)相应于将被测量的标志地设置在等价的衰减器(ATT)(11)中的衰减器(ATT)值设置状况，来从波形存储器(62)读取相应于将被测量的标志的、通过测量取得的波形数据，并合成所述数据，以致将合成的波形数据显示在显示部件(60)的屏幕上的步骤，以及

基于确定如测量位置指定部件这样的、在显示部件(60)的屏幕上显示的标志的波形电平是否属于预置的、有效的测量电平范围(ΔLi)的结果，来相应于多个标志地，顺序地将在等价的衰减器(ATT)(11)中设置的衰减器(ATT)值设置状况设置成最佳值，并且重复地测量被测量的光纤(61)，以致于可以基于在显示部件(60)的屏幕上显示的、合成的波形数据的测量波形，在宽的范围之上以不小于预定值的、好的S/N比来观察在期望的位置上的波形，并且可以通过自动地跟踪归因于在被测量的光纤(61)的状态中的改变的电平波动，容易地测量其中测量波形的电平差为大的反射衰减。

本发明的第十一方面根据第十方面来提供用于使用光脉冲来测试光纤的方法，以便达到上述的目的，其中当设置在显示部件(60)的屏幕上的测量波形上的多个标志包括设置在测量波形上的正好在Fresnel反射之前的位置上的第一标志(1)，和设置在测量波形上的Fresnel反射的顶点的位置上的第二标志(2)时，顺序地设置相应于第一标志(1)和第二标志(2)的衰减器(ATT)值设置状况，并且重复地测量被测量的光纤(61)，以致于可以基于在显示部件(60)的屏幕上显示的、合成的波形数据的测量波形，以不小于预定值的、好的S/N比来同时观察正好在Fresnel反射之前的波形电平和Fresnel反射的顶点的电平。

本发明的第十二方面根据第十方面来提供用于使用光脉冲来测试光纤的方法，以便达到上述的目的，进一步包含：

将展示在多个标志中的每一个上的、连续的和重复的测量次数的数目的测量频率(Nimax)存储在测量频率存储部件(14)中的步骤，

其中基于相应于将被测量的标志的、存储在测量频率存储部件(14)中的测量频率(Nimax)，来在相应于将被测量的标志的衰减器(ATT)值设置状况之下，重复地测量将被测量的标志，并且基于相应于随后的将被测量的标志的、存储在测量频率存储部件(14)中的测量频率Nimax，在相应于随后的、将被测量的标志的衰减器(ATT)值设置状况下，重复地测量随后的、将被测量的标志。

本发明的第十三方面根据第十二方面来提供用于使用光脉冲来测试光纤的方法，以便达到上述的目的，进一步包含：

检测在相应于将被测量的标志的波形电平中的波动的步骤；以及

根据在相应于将被测量的标志的波形电平中的波动的存在/不存在，来改变相应于标志的、存储在测量频率存储部件(14)中的测量频率的步骤。

本发明的第十四方面根据第十二方面来提供用于使用光脉冲来测试光纤的方法，以便达到上述的目的，其中在将合成的波形数据显示在显示部件(60)的屏幕上的步骤，从通过重复的测量取得的波形数据，只选取有关包括在有效的测量电平范围(ΔLi)中的波形电平的、相应于将被测量的标志的波形数据，以致于合成波形数据。

根据本发明的第一方面的光时域反射仪和本发明的第八方面的、用于使用光脉冲来测试光纤的方法，在实时测量中，基于确定如测量位置指定部件这样的、将被设置在显示部件(60)的屏幕上的标志的波形电平是否属于预置的、有效的测量电平范围的结果，来把将被设置在等价的衰减器(ATT)(11)中的衰减器(ATT)值设置状况设置成最佳值，并且测量被测量的光纤(61)，以致于可以仅仅通过将标志移动到目标位，基于在显示部件(60)的屏幕上显示的波形数据，以不小于预定值的、好的S/N比来观察在期望的位置上的波形。

根据本发明的第二方面的光时域反射仪和本发明的第九方面的、用于使用光脉冲来测试光纤的方法，在实时测量中，当将在测量波形上的第一位置上设置的标志移动到在测量波形上的、其中不令人满意的S/N比为不大于预定值的第二位置时，将相应于在第二位置上的标志的衰减器(ATT)值设置状况设置成最佳值，并且测量被测量的光纤(61)。结果，可以基于将被显示在显示部件(60)的屏幕上的、各自的、合成的波形数据，以不小于预定值的、极好的S/N比来观察在第二位置上的波形。

根据本发明的第三方面的光时域反射仪和本发明的第十方面的、用于使用光脉冲来测试光纤的方法，在实时测量中，基于确定如测量位置指定部件这样的、将被设置在显示部件(60)的屏幕上的多个标志的波形电平是否属于预置的、有效的测量电平范围的结果，来顺序地把将被设置在等价的衰减器(ATT)(11)上的衰减器(ATT)值设置状况设置成最佳值，并且重复地测量被测量的光纤(61)，以致于可以基于显示在显示部件(60)的屏幕上的、各自的、合成的波形数据，在宽的范围之上以不小于预定值的、极好的S/N比来观察在期望的位置上的波形。

根据本发明的第四方面的光时域反射仪和本发明的第十一方面的、用于使用光脉冲来测试光纤的方法，在实时测量中，特别地，可以以不小于预定值的、极好的S/N比来同时观察正好在Fresnel反射之前的波形电平和Fresnel反射的顶点的电平，并且可以近似实时地观察在反射衰减中的改变。

结果，根据本发明的光时域反射仪和本发明的、用于使用光脉冲来测试光纤的方法，可以容易地、实时地测量其中在将被测量的目标之间的电平差为大的反射衰减。

进一步地，根据本发明的光时域反射仪和本发明的、用于使用光脉冲来测试光纤的方法，在实时测量的时候，操作员不必根据波形电平来人工地调整衰减器(增益和衰减)，并且如果必要的话，操作员仅仅不得不将任何标志移动到在显示屏上的目标位，以致以不小于预定值的S/N比来观察在期望的位置上的波形。

根据本发明的第六方面的光时域反射仪和本发明的第十三方面的、用于使用光脉冲来测试光纤的方法，在实时测量中，当对于多个标志来设置衰减器时，可以根据在由标志指定的波形位置上的电平中的波动来改变测量频率，并且当在由标志指定的波形位置上的电平中的波动为小的时，降低测量频率，而当在电平中的波动为大的时，暂时地提高测量频率，以致于可以快速地并容易地捕捉在测量波形中的改变。

附图说明

图1为说明将根据本发明的一个实施例的光时域反射仪，和用于使用光脉冲来测试光纤的方法应用于其上的光脉冲测试仪(OTDR)的配置的框图。

图2为说明在图1中的光时域反射仪的测量电平改变功能的操作的流程图。

图3为说明在图2中的、其中将电平调整到标志位置的测量操作的流程图。

图4A为说明在图2中的、关于标志号码i的改变存在/不存在确定过程的操作的一个实例的流程图。

图4B为说明在图2中的、关于标志号码i的改变存在/不存在确定过程的操作的另一个实例的流程图。

图4C为说明在图2中的、关于标志号码i的改变存在/不存在确定过程的操作的再一个实例的流程图。

图5A为说明依靠在图1中的光时域反射仪的实时测量的一个实例的图。

图5B为说明依靠在图1中的光时域反射仪的实时测量的另一个实例的图。

图5C为说明依靠在图1中的光时域反射仪的实时测量的再一个实例的图。

图5D为说明依靠在图1中的光时域反射仪的实时测量的再一个实例的图。

图5E为说明依靠在图1中的光时域反射仪的实时测量的再一个实例的图。

图6为说明在图1内的光时域反射仪中的、当将多个标志设置在测量波形上时的显示屏的图。

图7为说明在图1中的光时域反射仪内的衰减器(ATT)值设置状况存储部件中的内容的一个实例的图。

图8为说明在图6中的、对于在测量波形上设置的每一个标志的测量频率Nimax的一个实例的图。

图9为说明在专利文件1中公开的、传统的光脉冲测试仪(OTDR)的配置的框图。

图10为说明在专利文件1中公开的、在求平均值的次数的数目和S/N比之间的关系的图。

图11为说明当通过使用传统的光脉冲测试仪(OTDR)的平均测量，来测量其中电平差为大的反射衰减时的测量波形的一个实例的图。

图12为说明当在使用传统的光脉冲测试仪(OTDR)的实时测量中，将衰减器移动到Fresnel反射的峰位时的测量波形的一个实例的图。

图13为说明当在使用传统的光脉冲测试仪(OTDR)的实时测量中，将衰减器移动到正好在Fresnel反射之前的位置时测量波形的一个实例的图。

具体实施方式

将参考所述图形，在下面详细地描述根据本发明的实施例的光时域反射仪和用于使用光脉冲来测试光纤的方法。

图1为说明将根据本发明的一个实施例的光时域反射仪和用于使用光脉冲来测试光纤的方法应用于其上的光脉冲测试仪(OTDR)的配置的框图。

(基本的配置)

如图1中所示，本发明的光时域反射仪基本上包括：光源54，其发射光脉冲来入射到被测量的光纤61上；光接收部件(56)，其根据从光源54发射的光脉冲来接收从被测量的光纤61返回的后散射光；等价的衰减器(ATT)11，其由以预定的增益放大来自光接收部件56的输出信号的放大部件57，和将由放大部件57放大的输出信号相加预定数目的次数以致求被相加的结果的平均值的信号平均处理部件58组成；对数转换部件59，其对数地转换来自等价的衰减器(ATT)11的输出信号；波形存储器62，其将来自对数转换部件59的输出信号存储为波形数据；显示部件60，其将作为测量波形的、存储在波形存储器62中的波形数据显示在屏幕上；标志设置部件63，其在显示部件60的屏幕上显示的测量波形上设置任何标志，并可以移动标志的设置位置；衰减器(ATT)值设置状况存储部件6，其对于实时测量，来将多个衰减器(ATT)值设置状况，和对于所述多个衰减器(ATT)值设置状况预置在其中的、有效的测量电平范围ΔLi存储在其中，而相应于由标志设置部件63在显示部件60的屏幕上的测量波形上设置的标志设置位置，来预置所述多个衰减器(ATT)值设置状况，并且由组成等价的衰减器(ATT)11的放大部件57的增益a与在信号平均处理部件部件58中的相加次数的数目m的组合来组成所述多个衰减器(ATT)值设置状况；标志电平取得部件5，其从存储在波形存储器62中的波形数据，来取得在由标志设置部件63在显示部件60的屏幕上显示的测量波形上设置的任何标志的设置位置上的波形电平；电平比较部件8，其确定由标志电平取得部件5取得的、在标志设置位置上的波形电平是否属于存储在衰减器(ATT)值设置状况存储部件6中的、有效的测量电平范围ΔLi；衰减器(ATT)值改变确定部件9，其当电平比较部件8确定由标志电平取得部件(5)取得的波形电平不在存储在衰减器(ATT)值设置状况存储部件6中的、有效的测量电平范围ΔLi之内时，改变衰减器(ATT)值设置状况；衰减器(ATT)值设置状况改变部件7，其在来自衰减器(ATT)值改变确定部件9的改变的确定的情况下，将存储在衰减器(ATT)值设置状况存储部件6中的衰减器(ATT)值设置状况，改变成新的衰减器(ATT)值设置状况，以致于将由标志电平取得部件5取得的、在标志设置位置上的波形电平包括在有效的测量电平范围ΔLi中；衰减器(ATT)值设置部件10，其在等价的衰减器(ATT)11中设置存储在衰减器(ATT)值设置状况存储部件6中的未改变的衰减器(ATT)值设置状况或被改变的、新的衰减器(ATT)值设置状况；控制部件3，其基于由衰减器(ATT)值设置部件10设置在等价的衰减器(ATT)11中的衰减器(ATT)值设置状况，来测量被测量的光纤61，读取存储在波形存储器62中的波形数据，并将所述数据顺序地显示在显示部件60的屏幕上，以致使实时测量成为可能，以致于接连地更新测量波形的显示。基于确定如测量位置指定部件这样的、由标志设置部件63在显示部件60的屏幕上设置的标志的波形电平是否属于有效的测量电平范围ΔLi的结果，来把将被设置在等价的衰减器(ATT)11中的衰减器(ATT)值设置状况设置成最佳值，并且测量被测量的光纤61，以致于可以基于在显示部件60的屏幕上显示的波形数据，仅仅通过使用标志设置部件63将标志移动到目标位，以不小于预定值的、好的S/N比来观察在期望的位置上的波形。

更确切地说，光时域反射仪的、基本的配置包括其中由标志设置部件63来设置一个或更多标志的情况。

在所述情况下的光时域反射仪中，优选地，当标志设置部件63将在测量波形上的第一位置上设置的标志1移动到在测量波形上的、其中不令人满意的S/N比不多于预定值的第二位置时，将相应于在第二位置上的标志1的衰减器(ATT)值设置状况设置成最佳值，并且测量被测量的光纤61。结果，可以基于在显示部件60的屏幕上显示的测量波形，以不小于预定值的、极好的S/N比来观察在第二位置上的波形。

本发明的光时域反射仪包括其中由标志设置部件63来设置两个或更多标志的情况。

优选地，在所述情况下的光时域反射仪进一步包括标志指定部件2，其当标志设置部件63在测量波形上任意地设置多个标志时，从多个标志来指定将被测量的标志。

在所述情况下，衰减器(ATT)值设置状况存储部件6已将用于实时测量的多个衰减器(ATT)值设置状况，和对于所述多个衰减器(ATT)值设置状况预置的、有效的测量电平范围ΔLi存储在其中，而相应于由标志设置部件63在显示部件60的屏幕上的测量波形上设置的多个标志设置位置，来预置所述多个衰减器(ATT)值设置状况，并且由组成等价的衰减器(ATT)11的放大部件57的增益a与在信号平均处理部件58中的相加次数的数目m的组合来组成所述多个衰减器(ATT)值设置状况。

标志电平取得部件5从存储在波形存储器62中的波形数据，来取得相应于将被测量的标志的设置位置的波形电平，而由标志指定部件2从由标志设置部件63在显示部件60的屏幕上的测量波形上设置的多个标志来指定所述将被测量的标志。

进一步地，电平比较部件8确定相应于将被测量的标志的设置位置的、由标志电平取得部件5取得的波形电平是否属于相应于将被测量的标志设置位置的、存储在衰减器(ATT)值设置状况存储部件6中的、有效的测量电平范围ΔLi。

当电平比较部件8确定相应于将被测量的标志的设置位置的波形电平不属于相应于将被测量的标志的、存储在衰减器(ATT)值设置状况存储部件6中的、有效的测量电平范围ΔLi时，衰减器(ATT)值改变确定部件9确定在衰减器(ATT)值设置状况中的改变。

衰减器(ATT)值设置状况计算部件7从衰减器(ATT)值改变确定部件9接收改变的确定，并将存储在衰减器(ATT)值设置状况存储部件6中的衰减器(ATT)值设置状况改变成新的衰减器(ATT)值设置状况，以致于把相应于将被测量的标志的设置位置的、由标志电平取得部件5取得的波形电平包括在有效的测量电平范围ΔLi中。

衰减器(ATT)值设置部件10在等价的衰减器(ATT)11中相应于将被测量的标志地，来设置存储在衰减器(ATT)值设置状况存储部件6中的、未改变的衰减器(ATT)值设置状况或被改变的新的衰减器(ATT)值设置状况。

控制部件3基于由衰减器(ATT)值设置部件10设置在等价的衰减器(ATT)11中的衰减器(ATT)值设置状况，相对于将被测量的标志地，允许来测量被测量的光纤61，并相对于将被测量的标志地，将存储在波形存储器62中的波形数据显示在显示部件60的屏幕上，以致使实时测量成为可能，以致于接连地更新测量波形的显示。

优选地，在所述情况下的光时域反射仪进一步包括波形合成部件4，其基于由衰减器(ATT)值设置部件10设置在等价的衰减器(ATT)11中的衰减器(ATT)值设置状况，相对于将被测量的标志地，来从波形存储器62读取相应于将被测量的标志的、通过测量取得的波形数据，并合成所述数据，以致将合成的波形数据显示在显示部件60的屏幕上。

在所述情况下的光时域反射仪中，基于确定如测量位置指定部件这样的、由标志设置部件63在显示部件60的屏幕上设置的多个标志的波形电平是否属于预置的、有效的测量电平范围ΔLi的结果，相对于多个标志来把将被设置在等价的衰减器(ATT)11中的衰减器(ATT)值设置状况顺序地设置成最佳值，并且重复地测量被测量的光纤61。结果，可以基于在显示部件60的屏幕上显示的、合成的波形数据，以不小于预定值的、好的S/N比来在宽的范围之上观察在期望的位置上的波形，并且甚至可以通过自动地跟踪归因于被测量的光纤61的状态改变的电平波动，来容易地测量其中测量波形的电平差为大的反射衰减。

优选地，在所述情况下的光时域反射仪中，当由标志设置部件63设置在测量波形上的多个标志包括在测量波形上的、在正好于Fresnel反射之前的位置上的第一标志1和在测量波形上的、在Fresnel反射的顶点的位置上设置的第二标志2时，顺序地设置相应于的第一标志1和第二标志2的衰减器(ATT)值设置状况，并且重复地测量被测量的光纤61。结果，基于在显示部件60的屏幕上显示的、合成的波形数据，以不小于预定值的、好的S/N比来同时观察正好在Fresnel反射之前的波形电平和Fresnel反射的顶点的电平。

优选地，在所述情况下的光时域反射仪包括测量频率存储部件14，其已将在多个标志中的每一个上展示重复的测量次数的数目的测量频率Nimax存储在其中。基于相应于将被测量的标志的、存储在测量频率存储部件14中的测量频率Nimax，通过使用相应于标志的衰减器(ATT)值设置状况来连续地和重复地测量将被测量的标志。其后，基于相应于随后的将被测量的标志的、存储在测量频率存储部件14中的测量频率Nimax，通过使用相应于随后的、将被测量的标志的衰减器(ATT)值设置状况来重复地测量随后的、将被测量的标志。

优选地，在所述情况下的光时域反射仪进一步包括电平波动检测部件12，其检测在相应于将被测量的标志的、由标志电平取得部件5取得的波形电平中的波动；和测量频率设置部件13，其根据在相应于将被测量的标志的波形电平中的、由电平波动检测部件12检测的波动的存在/不存在，来改变相应于标志的、存储在测量频率存储部件14中的测量频率。

优选地，在所述情况下的光时域反射仪中，波形合成部件4从被重复地测量的波形数据，只选取相应于被测量的标志的、包括在有效的测量电平范围ΔLi中的波形电平的波形数据，以致合成测量波形。

如图1中所示，本发明的、用于使用光脉冲来测试光纤的方法基本上包括：发射光脉冲来入射到被测量的光纤61上的步骤；接收从被测量的光纤61返回的后散射光，以致将后散射光转换成电信号的步骤；在放大部件57中以预定的增益来放大电信号的步骤；依靠与放大部件57一起组成等价的衰减器(ATT)11的信号平均处理部件58，来将由放大部件57放大的输出信号相加预定数目的次数，并求其平均值的步骤；在对数转换部件59中对数地转换来自等价的衰减器(ATT)11的输出信号的步骤；将来自对数转换部件59的输出信号作为波形数据，存储在波形存储器62中的步骤；将作为测量波形存储在波形存储器62中的波形数据显示在显示部件60的屏幕上的步骤；任意地设置在显示部件60的屏幕上显示的测量波形上可移动的标志的步骤；对于实时测量来将多个衰减值设置状况，和对于各自的衰减器(ATT)值设置状况预置的、有效的测量电平范围(ΔLi)存储在衰减器(ATT)值设置状况存储部件6中的步骤，而相对于在显示部件60的屏幕上的测量波形上设置的标志的设置位置，来预置所述多个衰减值设置状况，并且由组成等价的衰减器(ATT)11的放大部件57的增益a与在信号平均处理部件58中的相加次数的数目m的组合来组成所述多个衰减值设置状况；从存储在波形存储器62中的波形数据，来取得在显示部件60的屏幕上显示的测量波形上，任意地设置的标志的设置位置上的波形电平的步骤；确定在标志设置位置上的、从存储在波形存储器62中的波形数据取得的波形电平是否属于存储在衰减器(ATT)值设置状况存储部件6中的、有效的测量电平范围ΔLi的步骤；当在标志设置位置上的波形电平不属于存储在衰减器(ATT)值设置状况存储部件6中的、有效的测量电平范围ΔLi时，确定在衰减器(ATT)值设置状况中的改变的步骤；在衰减器(ATT)值设置状况的改变的确定的情况下，将存储在衰减器(ATT)值设置状况存储部件6中的衰减器(ATT)值设置状况，改变成其中将在标志设置位置上的波形电平包括在有效的测量电平范围ΔLi中的、新的衰减器(ATT)值设置状况的步骤；将存储在衰减器(ATT)值设置状况存储部件6中的、未改变的衰减器(ATT)值设置状况或被改变的新的衰减器(ATT)值设置状况，设置在等价的衰减器(ATT)11中的步骤；基于设置在等价的衰减器(ATT)11中的衰减器(ATT)值设置状况，来测量被测量的光纤61，读取存储在波形存储器(62)中的波形数据，并将所述数据接连地显示在显示部件60的屏幕上，以致使实时测量成为可能，以致于接连地更新测量波形的显示的步骤。基于确定如测量位置指定部件这样的、在显示部件60的屏幕上显示的标志的波形电平是否属于预知的、有效的测量电平范围ΔLi的结果，来把将被设置在等价的衰减器(ATT)11中的衰减器(ATT)值设置状况设置成最佳值，并且测量被测量的光纤61，以致于可以基于显示在显示部件60的屏幕上的波形数据，仅仅通过将标志移动到目标位，以不小于预定值的、极好的S/N比来观察在期望的位置上的波形。

更确切地说，用于使用光脉冲来测试光纤的方法的、基本的配置包括其中在测量波形上设置一个或更多标志的情况。

优选地，在所述情况下用于使用光脉冲来测试光纤的方法中，当将在测量波形上的第一位置上设置的标志1，移动到在测量波形上的、其中不令人满意的S/N比不多于预定值的第二位置时，将相应于在第二位置上的标志1的衰减器(ATT)值设置状况设置成最佳值，并且测量被测量的光纤61。结果，可以基于在显示部件60的屏幕上显示的波形数据，以不小于预定值的、好的S/N比来观察在第二位置上的波形。

本发明的、用于使用光脉冲来测试光纤的方法包括其中在测量波形上设置两个或更多标志的情况。

优选地，在所述情况下，用于使用光脉冲来测试光纤的方法进一步包括当在测量波形上任意地设置多个标志时，从多个标志来指定将被测量的标志的步骤。

对于实时测量，衰减器(ATT)值设置状况存储部件6已将多个衰减器(ATT)值设置状况，和对于所述多个衰减器(ATT)值设置状况预置的、有效的测量电平范围ΔLi存储在其中，而相应于设置在显示部件60的屏幕上的测量波形上的多个标志设置位置，来预置所述多个衰减器(ATT)值设置状况，并且由组成等价的衰减器(ATT)11的放大部件57的增益a与在信号平均处理部件58中的相加次数的数目m的组合来组成所述多个衰减器(ATT)值设置状况。

在取得在标志设置位置上的波形电平的步骤，从存储在波形存储器62中的波形数据，来取得相应于在显示部件60的屏幕上的测量波形上设置的多个标志中的、将被测量的标志的设置位置的波形电平。

进一步地，在确定标志的波形电平的步骤，做关于相应于将被测量的标志的设置位置的波形电平是否属于相应于将被测量的标志的、存储在衰减器(ATT)值设置状况存储部件6中的、有效的测量电平范围ΔLi的确定。

在确定衰减器(ATT)值设置状况的改变的步骤，当做相应于将被测量的标志的设置位置的波形电平不属于相应于将被测量的标志的、存储在衰减器(ATT)值设置状况存储部件(6)中的、有效的测量电平范围ΔLi的确定时，确定在衰减器(ATT)值设置状况中的改变。

在改变衰减器(ATT)值设置状况的步骤，在衰减器(ATT)值设置状况的改变的确定的情况下，将存储在衰减器(ATT)值设置状况存储部件6中的衰减器(ATT)值设置状况，改变成新的衰减器(ATT)值设置状况，以致于把相应于将被测量的标志的设置位置的波形电平包括在有效的测量电平范围ΔLi中。

在等价的衰减器(ATT)11中设置的步骤，相对于将被测量的标志，将存储在衰减器(ATT)值设置状况存储部件6中的、未改变的衰减器(ATT)值设置状况或改变的新的衰减器(ATT)值设置状况，设置在等价的衰减器(ATT)11中。

在使实时测量成为可能的步骤，基于相对于将被测量的标志、在等价的衰减器(ATT)11中设置的衰减器(ATT)值设置状况，来测量被测量的光纤61，并且相对于将被测量的标志，将存储在波形存储器62中的波形数据接连地显示在显示部件60的屏幕上，以致于使实时测量成为可能，以致于接连地更新测量波形的显示。

优选地，在所述情况下，用于使用光脉冲来测试光纤的方法进一步包括基于由衰减器(ATT)值设置部件10相对于将被测量的标志、在等价的衰减器(ATT)11中设置的衰减器(ATT)值设置状况，来从波形存储器62读取相应于将被测量的标志的、通过测量取得的波形数据，并合成所述数据，以致于将合成的波形数据显示在显示部件60的屏幕上的步骤。

在所述情况下用于使用光脉冲来测试光纤的方法中，基于确定如测量位置指定部件这样的、在显示部件60的屏幕上显示的多个标志的波形电平是否属于预置的、有效的测量电平范围ΔLi的结果，符合多个标志地，来把将被设置在等价的衰减器(ATT)11中的衰减器(ATT)值顺序地设置成最佳值，并且重复地测量被测量的光纤61。结果，可以基于在显示部件60的屏幕上显示的、合成的波形数据，在宽的范围之上以不小于预定值的、好的S/N比来观察在期望的位置上的波形，并且甚至可以根据归因于被测量的光纤61的状态改变的电平波动，来容易地测量其中测量波形的电平差为大的反射衰减。

优选地，在所述情况下用于使用光脉冲来测试光纤的方法中，当在测量波形上设置的多个标志包括在测量波形上的、在正好于Fresnel反射之前的位置上设置的第一标志1，和在测量波形上的、在Fresnel反射的顶点的位置上设置的第二标志2时，顺序地设置相应于第一标志1和第二标志2的衰减器(ATT)值设置状况，并且重复地测量被测量的光纤61。结果，基于在显示部件60的屏幕上显示的、合成的波形数据，以不小于预定值的、好的S/N比来同时观察正好在Fresnel反射之前的波形电平和Fresnel反射的顶点的电平。

优选地，在所述情况下用于使用光脉冲来测试光纤的方法包括对于多个标志中的每一个，将展示重复的测量次数的数目的测量频率Nimax存储在测量频率存储部件14中的步骤。基于相应于将被测量的标志的、存储在测量频率存储部件14中的测量频率Nimax，通过使用相应于将被测量的标志的衰减器(ATT)值设置状况，来重复地测量将被测量的标志。其后，基于相应于随后的将被测量的标志的、存储在测量频率存储部件14中的测量频率Nimax，通过使用相应于随后的、将被测量的标志的衰减器(ATT)值设置状况，来重复地测量随后的、将被测量的标志。

优选地，在所述情况下用于使用光脉冲来测试光纤的方法进一步包括检测在相应于将被测量的标志的波形电平中的波动的步骤，以及根据在相应于将被测量的标志的波形电平中的波动的存在/不存在，来改变根据所述标志的、存储在测量频率存储部件14中的测量频率的步骤。

优选地，在所述情况下用于使用光脉冲来测试光纤的方法中，在将合成的波形数据显示在显示部件60的屏幕上的步骤，从重复地测量的波形数据只选取相应于将被测量的标志的、被包括在有效的测量电平范围ΔLi中的波形电平的波形数据，以致于合成测量波形。

(特定的实施例)

下面将参考图1，来描述将本发明的光时域反射仪(OTDR)和用于使用光脉冲来测试光纤的方法应用于其上的光脉冲测试仪(OTDR)的、特定的实施例。

基本的配置的描述清楚地表明，如特定的实施例这样的、将本发明的光时域反射仪(OTDR)和用于使用光脉冲来测试光纤的方法应用于其上的光时域脉冲测试仪(OTDR)1包括在与由操作员在测量波形上指定的、在显示屏上的标志位置的协作中，自动地并选择性地设置最佳的衰减器(ATT)值，并改变测量电平的测量电平改变功能，以致于可以在实时测量中以不小于预定值的、好的S/N比，来观察测量波形。

测量电平改变功能包括：对于一个或不小于两个的标志，来自动地并选择性地设置最佳的衰减器值，以及改变并测量测量电平，以致于可以获得不小于预定值的S/N比，以致在一个标志的情况下在测量电平的改变之前和之后，显示测量波形的功能；在不小于两个标志的情况下，合成并显示测量波形的功能；以及当对于各自的标志来设置衰减器(ATT)值时，根据测量波形的电平波动来使测量频率不同的功能。

如在图1中所示，除了形成在图9中展示的光脉冲测试仪(OTDR)49的、基本的配置的计时发生部件52、驱动电路53、光源54、光定向耦合器55、光接收器56、放大部件57、信号平均处理部件58、对数转换部件59和显示部件60，如特定的实施例这样的、将本发明的光时域反射仪(OTDR)和用于使用光脉冲来测试光纤的方法应用于其上的光时域脉冲测试仪(OTDR)1还包括标志指定部件2、控制部件3、波形合成部件4、标志电平取得部件5、衰减器(ATT)值设置状况存储部件6、衰减器(ATT)值设置状况计算部件7、电平比较部件8、衰减器(ATT)值改变确定部件9、衰减器(ATT)值设置部件10、电平波动检测部件12、测量频率设置部件13、测量频率存储部件14、波形存储器62、标志设置部件63和操作部件64，以便实现测量电平改变功能。

在所述情况下，与至少涉及标志设置部件63、标志指定部件2、测量频率存储部件14和用于开始实时测量的指令的操作成员一起装载操作部件64，并且根据如稍后描述的操作成员的操作，经由控制部件3来向通过标志设置部件63的标志的设置、通过标志指定部件2的标志的指定、在测量频率存储部件14中的测量频率的设置和通过光脉冲测试仪(OTDR)1的实时测量的开始发出指令。

控制部件3包括CPU(Central Processing Unit，中央处理器)、ROM(ReadOnly Memory，只读存储器)和RAM(Random Access Memory，随机存取存储器)，并引导包括对于实时测量的自动控制的、光脉冲测试仪(OTDR)1的、整个的控制，而稍后提及通过将本发明应用于其上的光脉冲测试仪(OTDR)1的所述实时测量。

在图1中，由相同的参考符号来指示与在图9中展示的、传统的光脉冲测试仪(OTDR)49的构造元件相同的构造元件，并且省略其详细的描述。

在图1中，如上面描述的，由等价的衰减器(ATT)11来表示放大部件57和信号平均处理部件58的组合，并且由衰减器(ATT)值来表示对于获得放大部件57的增益a与频率特性，和由信号平均处理部件58做的相加的、相加次数的平均数目m的硬设置的组合。

明确地说，从光源54发射的光脉冲通过光定向耦合器55，并入射到被测量的光纤61上。

将来自被测量的光纤61的回光经由光定向耦合器55传输到光接收器56，并由光接收器56来将所述回光转换成电信号。

由放大部件57以增益a来在设置其衰减器(ATT)值的衰减器(ATT)11中，放大由光接收器56转换的电信号，并且由包括在信号平均处理部件58中的A/D转换器来将电信号转换成数字信号，以致求m次所述信号的平均值。

由对数转换部件59，来对数地转换将其相加以由衰减器(ATT)11的信号平均处理部件58来将其求m次平均值的输出信号，并且将所述信号作为对于在衰减器(ATT)11中设置的、各自的衰减器(ATT)值其为不同的波形数据，存储在波形存储器62中。

在需要出现时，由波形合成部件4来合成对于各自的衰减器(ATT)值的、存储在波形存储器62中的波形数据的波形，以致将其作为测量波形显示在显示部件60的屏幕上。

标志设置部件63在显示部件60的屏幕上显示的测量波形上任意地设置标志，并使能够移动标志的设置位置。

在所述情况下，标志设置部件63由用于由操作员来设置标志的操作部件64，经由控制部件3来在显示部件60的屏幕上显示的测量波形上任意地设置标志。

当在测量波形上设置多个标志时，标志指定部件2从在测量波形上设置的多个标志，来指定用于测量波形电平的标志。

在所述情况下，标志指定部件2可以从由操作部件64在显示部件60的屏幕上显示的测量波形上任意地设置的多个标志，来指定用于波形电平的测量的标志，并且所述标志指定部件2可以自动地依靠控制部件3，基于如稍后描述的、被赋予多个标志的标志号码i，来指定用于波形电平的测量的标志，而操作员以操作部件64经由控制部件3来指定标志。

图6为说明显示将标志设置在其上的测量波形的测量屏幕的图。

在所述实例中，将标志号码i(i＝1至6)分别赋予在测量波形上显示的六个标志，而由1来指示在测量屏幕上的最左侧上设置的标志(在离测量点最近的位置上的标志)。

将对于实时测量的多个衰减器(ATT)值设置状况，和对于各自的衰减器(ATT)值设置状况来预置的、有效的测量电平范围ΔLi存储在衰减器(ATT)值设置状况存储部件6中，而符合在显示部件60的屏幕上的测量波形上设置的多个标志的设置位置，来预置所述多个衰减器(ATT)值设置状况，并由组成等价的衰减器(ATT)11的放大部件57的增益a与在信号平均处理部件58中的相加次数的数目m的组合来组成所述多个衰减器(ATT)值设置状况。

明确地说，如在图7中说明的，衰减器(ATT)值设置状况存储部件6已将被设置为相应于标志号码i(i＝1至6)的衰减器(ATT)值的、组成衰减器(ATT)11的放大部件57的增益a和在信号平均处理部件58中的求平均值的次数的数目m的组合，和对于各自的标志号码i(i＝1至6)的、为了被设置为衰减器(ATT)值的增益a和求平均值的次数的数目m的各自的组合来预置的、有效的测量电平范围ΔLi(dBm)存储在其中。

在所述情况下，对于标志1，将200设置为放大部件57的增益a，将2⁸设置为在信号平均处理部件58中的求平均值的次数的数目m，并且将-25至-45设置为有效的测量电平范围ΔLi(dBm)。

对于标志2，将100设置为放大部件57的增益a，将2⁸设置为在信号平均处理部件58中的求平均值的次数的数目m，并且将-10至-30设置为有效的测量电平范围ΔLi(dBm)。

对于标志3，将300设置为放大部件57的增益a，将2⁸设置为在信号平均处理部件58中的求平均值的次数的数目m，并且将-40至-60设置为有效的测量电平范围ΔLi(dBm)。

对于标志4，将400设置为放大部件57的增益a，将2⁸设置为在信号平均处理部件58中的求平均值的次数的数目m，并且将-55至-75设置为有效的测量电平范围ΔLi(dBm)。

对于标志5，将300设置为放大部件57的增益a，将2⁸设置为在信号平均处理部件58中的求平均值的次数的数目m，并且将-40至-60设置为有效的测量电平范围ΔLi(dBm)。

对于标志6，将500设置为放大部件57的增益a，将2¹⁰设置为在信号平均处理部件58中的求平均值的次数的数目m，并且将-70至-90设置为有效的测量电平范围ΔLi(dBm)。

更确切地说，设置数值，以致于从测量点顺序地分离标志1至6的设置位置，并且如图6中所示，顺序地降低其波形电平，而对于为了被设置为在图7中展示的标志号码i(i＝1至6)的衰减器(ATT)值的、增益a和求平均值的次数的数目m的组合而预置的、各自的标志号码i，将所述数值设置为有效的测量电平范围ΔLi(dBm)。

在所述情况下，在以标志号码2的标志和以标志号码5的标志上，测量波形的电平高于在与标志2和5邻近的标志上的测量波形的电平。因为所述理由，所以在考虑到所述点之后，设置数值。

可以根据在图6中的纵轴的电平值和从横轴的测量点的距离值，来分配对于各自的标志来设置的数值。

参考图1，衰减器(ATT)值设置部件10基于有关存储在衰减器(ATT)值设置状况存储部件6中的增益a和求平均值的次数的数目m的组合的信息，符合由标志指定部件2指定的标志号码i地，来设置组成衰减器(ATT)11的放大部件57的增益a和在信号平均处理部件58中的求平均值的次数的数目m。

在接收来自标志指定部件2的指令的时候，标志电平取得部件5从在相应于标志号码i的衰减器(ATT)值设置状况之下测量的、并存储在波形存储器62中的波形数据，来取得由标志指定部件2选取的标志号码i的波形电平。

电平比较部件8依靠电平比较来确定由标志电平取得部件5取得的、号码i的标志的波形电平是否属于相应于当前符合号码i的标志地来在衰减器(ATT)11中设置的衰减器(ATT)值设置状况的、有效的测量电平范围ΔLi。

衰减器(ATT)值改变确定部件9基于依靠在电平比较部件8中的电平比较确定的结果，来确定是否应该改变当前在衰减器(ATT)11中设置的衰减器(ATT)值设置状况。在所述情况下，当电平比较部件8确定取得的波形电平不属于有效的测量电平范围ΔLi时，衰减器(ATT)值改变确定部件9确定应该改变当前设置在衰减器(ATT)11中的衰减器(ATT)值设置状况。

在所述情况下，当电平比较部件8确定取得的波形电平不属于有效的测量电平范围ΔLi时，衰减器(ATT)值改变确定部件9确定应该改变当前在衰减器(ATT)11中设置的衰减器(ATT)值设置状况。

当衰减器(ATT)值改变确定部件9确定应该改变当前在衰减器(ATT)11中设置的衰减器(ATT)值设置状况时，衰减器(ATT)值设置状况改变部件7将衰减器(ATT)值设置状况，改变成新的衰减器(ATT)值设置状况，以致于将由标志电平取得部件5取得的波形电平包括在有效的测量电平范围ΔLi中。

更新以将由衰减器(ATT)值设置状况改变部件7改变的、新的衰减器(ATT)值设置状况存储在衰减器(ATT)值设置状况存储部件6中，并且衰减器(ATT)值设置部件10改变在衰减器(ATT)11中设置的、相应于将被测量的标志i的衰减器(ATT)值设置状况。

象专利文件1一样，衰减器(ATT)值设置状况改变部件7可以基于测量波形来计算S/N，以致取得有效的测量电平范围。

可选择地，计算其中在每一衰减器(ATT)值处使波形饱和的电平，并从计算的电平到其中在每一衰减器(ATT)值处使波形饱和的电平，所述电平可以组成有效的测量电平范围，而可以在每一所述衰减器(ATT)值处来测量其电平比计算的电平低一的波形。

可选择地，将由实验等提前取得的衰减器(ATT)值设置状况(a和m)和有效的测量电平范围存储在诸如衰减器(ATT)值设置状况存储部件6这样的存储器中，并且可以从其中选取衰减器(ATT)值设置状况。

在任何情况下，可以设置衰减器(ATT)值以致在有效的测量电平范围的边界上将其部份地重叠，以致于在有效的测量电平范围的边界近旁，不频繁地改变衰减器(ATT)值设置状况(a和m)。

测量频率存储部件14在相应于号码i的每一标志的ATT值设置状况之下，来存储展示连续的测量次数的数目的测量频率(Nimax)。

图8为说明在测量频率存储部件14中存储的内容的一个实例的图。

在图8中，标志号码i展示与在图6中展示的测量波形上的标志相同的标志号码。

下面将描述依靠在图8中的测量频率的测量操作。

将本发明应用到的光脉冲测试仪(OTDR)1根据控制部件3的控制，在相应于标志1的衰减器(ATT)值设置状况之下来施行测量，并将结果在屏幕上连续地显示两次。其后，OTDR 1在相应于标志2的衰减器(ATT)值设置状况之下来施行测量，并将结果在屏幕上连续地显示五次，并且然后在相应于标志3的衰减器(ATT)值设置状况之下来施行测量，并只将结果在屏幕上显示一次。在下文中，相似地，对于标志4、5和6顺序地实行测量和在屏幕上的显示。

将本发明应用到的光脉冲测试仪(OTDR)1在控制部件3的控制之下重复测量，以致于标志1至6的测量形成一个循环。

电平波动检测部件12通过将由标志电平取得部件5取得的标志的波形电平与在先前的测量取得的标志的波形电平比较，来检测由标志电平取得部件5取得的标志的波形电平的存在/不存在。

测量频率设置部件13根据在由电平波动检测部件12检测的、标志的波形电平中的波动的存在/不存在，来将存储在测量频率存储部件14中的测量频率增加或减少到次数的最佳的数目。

在所述情况下，例如，当在由电平波动检测部件12检测的、标志的波形电平中的波动为大的时，测量频率设置部件13增加存储在测量频率存储部件14中的测量频率，并且当波动为小的时，测量频率设置部件13减少存储在测量频率存储部件14中的测量频率。

甚至关于在测量波形上显示的标志，根据以号码i的标志，将存储在测量频率存储部件14中的测量频率设置成0，而经由操作部件64和控制部件3赋予的、操作员的指令不要求在所述标志上的测量。结果，可以实时地测量必要的标志(例如，表明其电平差象其中实时地测量稍后提及的Fresnel反射的情况一样的测量的两个点的标志)的波形电平。

下面将参考5A和5B，来将在其中移动在显示部件60的屏幕上设置的一个标志的情况下的波形观察，描述为在具有上面的配置的光脉冲测试仪(OTDR)1中施行的测量的特定的实例。

图5A说明其中由标志设置部件63，来将一个标志设置在显示部件60的屏幕上的Fresnel反射的顶点的位置上的状态。

根据所述状态，如图5B中所示，假设其中由标志设置部件63来将标志从Fresnel反射的顶点的位置，移动到正好在Fresnel反射之前的、底部的部分的位置的情况。

在所述情况下，在将本发明应用于其的光脉冲测试仪(OTDR)1中，在相应于被移动的标志的位置的、最佳的衰减器(ATT)值设置状况之下来施行实时测量。

结果，如图5B中所示，显示其中将在相应于被移动的标志位置的部分上的S/N比改善到不小于预定值的值的测量波形。

为此，在将本发明应用于其的光脉冲测试仪(OTDR)1中，当标志设置部件63将在测量波形的第一位置上设置的标志，移动到其中S/N比为不好的、测量波形的第二位置时，将相应于在第二位置上的标志的衰减器(ATT)值设置状况设置成最佳值，以致于施行测量。结果，可以基于在显示部件60的屏幕上显示的波形数据，以不小于预定值的、好的S/N比来观察在第二位置上的波形。

下面将参考图5C、5D和5E，来描述在由根据本发明的光脉冲测试仪(OTDR)1来实时地测量Fresnel反射的时候的、波形合成的实例。

图5C说明在相应于标志1的衰减器(ATT)值设置状况之下实时地测量的测量波形。

图5D说明在相应于标志2的衰减器(ATT)值设置状况之下实时地测量的测量波形。

图5E说明通过使用波形合成部件4，合成在有效的测量范围之内的、在图5C和5D中的波形数据，来获得并在显示部件60的屏幕上显示的测量波形。

在图5C中展示的测量波形上，使Fresnel反射的顶点的电平(标志1)饱和，以致于不能适当地施行测量。

在图5D中展示的测量波形上，将正好在Fresnel反射之前的底部的部分的电平(标志2)掩埋在噪声中，以致于不能适当地施行测量。

相反的是，在图5E中展示的、合成的测量波形上，可以精确地测量Fresnel反射(在标志1和标志2之间的电平差)。

在图5C、5D和5E中，为了理解波形合成的方便，ΔL1和ΔL2展示有效的测量范围，并且事实上不将其显示在光脉冲测试仪(OTDR)1中的显示部件60的屏幕上。

在所述波形合成中，不像对于全部的测量范围的平均测量一样，只对于固有的最小测量范围(ΔL1和ΔL2)来设置衰减器(ATT)值设置状况，并且合成实时地测量的波形。因为所述理由，所以可以由近似地接近于实时测量的测量来评价其电平差为大的波形。

为此，在将本发明应用于其的光脉冲测试仪(OTDR)1中，当由标志设置部件63设置在测量波形上的多个标志包括在正好在Fresnel反射之前的测量波形的位置上设置的第一标志和在测量波形上的Fresnel反射的顶点的位置上设置的第二标志时，接连地设置相应于第一标志和第二标志的衰减器(ATT)值设置状况，以致于重复测量。结果，可以基于在显示部件60的屏幕上显示的、合成的波形数据，以不小于预定值的、好的S/N比来同时观察正好在Fresnel反射之前的波形电平和Fresnel反射的顶点的电平。

下面将参考图2至4A、4B和4C，来描述具有上面的配置的光脉冲测试仪(OTDR)1的操作。

在具有上面的配置的光脉冲测试仪(OTDR)1中，当由操作员经由操作部件64来向实时测量的开始发出指令时，如图2中所示，在控制部件3的控制之下开始实时测量。

为了描述的方便，在实时测量的开始前，由标志设置部件63在测量波形上预置多个标志(以标志号码i＝1至6的六个标志)，或者设置在先前的实时测量的时候设置的多个标志(以标志号码i＝1至6的六个标志)。

结果，符合由标志设置部件63设置在测量波形上的多个标志(以标志号码i＝1至6的六个标志)地，将用于实时测量的多个衰减器(ATT)值设置状况，和符合多个衰减器(ATT)值设置状况地来预置的、有效的测量电平范围ΔLi存储在衰减器(ATT)值设置状况存储部件6中，而由组成等价的衰减器(ATT)11的放大部件57的增益a和在信号平均处理部件58中的相加次数的数目m的组合来组成所述多个衰减器(ATT)值设置状况。

控制部件3经由标志指定部件2，将号码i的标志初始化为1(步骤ST1)。

如稍后提及的，当自动地改变号码i的标志或由标志指定部件2经由操作部件64来改变号码i的标志(或由标志设置部件63来移动标志)时(步骤ST2)，控制部件3移动到在图3中的、其中将测量电平调整到标志i的标志位置的测量过程的子程序(标志位置测量过程)(步骤ST3)。

在图3中展示的标志位置测量过程的子程序处，控制部件3根据在步骤ST2处的号码i的标志中的改变，以允许衰减器(ATT)值设置部件10，来将对于实时测量的、相应于号码i的标志的、存储在衰减器(ATT)值设置状况存储部件6中的衰减器(ATT)值设置状况(放大部件的增益a和求平均值的次数的数目m)，设置在衰减器(ATT)11之内(步骤ST11)。

控制部件3允许光脉冲测试仪(OTDR)1来施行实时测量并取得波形数据，以致将有关号码i的标志的、被取得的波形数据存储在波形存储器62中(步骤ST12)。

然后，控制部件3允许标志电平取得部件5来取得在标志i的标志位置上的、存储在波形存储器62中的波形电平(步骤ST13)。

然后，控制部件3允许电平比较部件8来将被取得的波形电平与标志i的、存储在衰减器(ATT)值设置状况存储部件6中的、有效的测量电平范围ΔLi比较(步骤ST14)。

当电平比较部件8确定在标志i的标志位置上的、被取得的波形电平属于有效的测量电平范围时(在步骤ST14处为OK(好))，控制部件3结束所述子程序，并移动到在图2中的、对于标志的号码i的改变存在/不存在确定过程(步骤ST4)。

将对于标志的号码i的改变存在/不存在确定过程(步骤ST4)分成如标志i的改变存在/不存在确定过程这样的子程序，但稍后将参考图4A、4B和4C，来将其描述。

当电平比较部件8确定在标志i的标志位置上的波形电平不属于标志i的、有效的测量电平范围时(在步骤ST14处为NG(No Good，不好))，控制部件3允许衰减器(ATT)值设置状况改变部件7，来将衰减器(ATT)值设置状况改变成新的衰减器(ATT)值设置状况(放大部件的增益a和求平均值的次数的数目m)，以致于波形电平属于有效的测量电平范围，并将所述新的衰减器(ATT)值设置状况存储在衰减器(ATT)值设置状况存储部件6中(步骤ST16)，并且然后结束所述子程序，以致移动到对于号码i的标志的、在图2中的改变存在/不存在确定过程(步骤ST4)。

当作出在对于号码i的标志的、在图2中的改变存在/不存在确定过程处，在标志i中的改变为不必要的确定时(步骤ST4)(在步骤ST4处为否)，控制部件3读取对于标志号码i的、存储在波形存储器62中的测量波形，并允许波形合成部件4来合成多个被读取的测量波形(步骤ST5)。

控制部件3导致将合成的测量波形显示在显示部件60的屏幕上(步骤ST6)，并移动到其中将测量电平调整到标志i的标志位置的测量过程(标志位置测量过程)的子程序(步骤ST3)，以致重复上面的过程。

当做在步骤ST4处在标志i中的改变为必要的确定时(在步骤ST4处的是)，控制部件3将标志的号码i增加1(i+1)(步骤ST7)，并确定被增加的标志的号码i是否超过设置在测量波形上的标志的数目(在所述实例中，6)(步骤ST8)。

当在步骤ST8处作出被增加的标志的号码i超过设置的标志的数目的确定时(在步骤ST8处为是)，控制部件3将标志的号码i重写为1(步骤ST9)，并且然后读取对于各自的标志号码i的、存储在波形存储器62中的测量波形，以致允许波形合成部件4来合成多个被读取的测量波形(步骤ST5)。

控制部件3将合成的测量波形显示在显示部件60的屏幕上(步骤ST6)，并且然后移动到其中将测量电平调整到标志i的标志位置的测量过程(标志位置测量过程)的子程序(步骤ST3)，以致重复上面的过程。

当在步骤ST8处作出被增加的标志的号码i未超过标志的、设置的数目的确定时(在步骤ST8处为否)，控制部件3读取对于标志号码i的、存储在波形存储器62中的测量波形，并且允许波形合成部件4来合成多个被读取的测量波形(步骤ST5)。

控制部件3导致将合成测量波形显示在显示部件60的屏幕上(步骤ST6)，并且然后移动到其中将测量电平调整到标志i的标志位置的测量过程(标志位置测量过程)的子程序(步骤ST3)，以致重复上面的过程。

将对于标志的号码i的、在步骤ST4处的改变存在/不存在确定过程分成下列的三种情况。

(1)其中按照标志号码i(i＝1，2，3......)的次序交替地测量测量波形的情况。

(2)其中当任何标志的波形电平不展示电平波动，以致于需要来改变衰减器(ATT)值设置状况时，顺序地改变标志的号码i，并交替地测量测量波形，并且当任何标志i的波形电平展示电平波动，以致于需要来改变衰减器(ATT)值设置状况时，连续地测量标志i的波形电平的情况。

(3)其中当任何标志i的波形电平不展示电平波动，以致于需要来改变设置在衰减器中的衰减器(ATT)值设置状况，并提高号码i的、先前指定的标志的测量频率，以致于施行测量(在不同于号码i的、指定的标志的标志号码上，以每测量次数的数目一次的速率施行测量，而所述数目为在号码i的、指定的标志上的数目)时，并且当任何标志i的波形电平展示电平波动，以致于需要来改变衰减器(ATT)值设置状况时，在号码i的标志上连续地施行测量的情况。

为此，在将本发明应用于其的光脉冲测试仪(OTDR)1中，可以选择性地执行对于标志号码i的、在图4A、4B和4C中展示的改变存在/不存在确定过程，以便使对情况(1)至(3)的选择性的响应成为可能。

图4A为说明对于号码i的标志的、在情况(1)下的改变存在/不存在确定过程的流程图。

更确切地说，图4A说明其中在标志号码i(i＝1，2，3......)的次序中自动地改变标志的号码i，并且交替地测量测量波形的情况。因为所述理由，所以在对于标志的号码i的改变存在/不存在确定过程处(步骤ST4)，控制部件3确定需要来立即改变标志的号码i(ST41)，并结束所述过程。

图4B为说明对于号码i的标志的、在情况(2)下的改变存在/不存在确定过程的流程图。

更确切地说，图4B说明其中当任何标志的波形电平不展示电平波动，以致于需要来改变衰减器(ATT)值设置状况时，顺序地改变标志的号码i，以致于交替地测量波形，并且当任何标志i的波形电平展示电平波动，以致于需要来改变衰减器(ATT)值设置状况时，连续地测量号码i的标志上的波形的情况。因为所述理由，所以在对于标志的号码i的改变存在/不存在确定过程处(步骤ST4)，控制部件3首先允许电平波动检测部件12，来确定从波形存储器62经由标志电平取得部件5取得的标志i的波形电平是否波动(步骤ST21)。

当电平波动检测部件12确定电平波动为存在的时(在步骤ST21处的是)，控制部件3经由测量频率设置部件13，将存储在测量频率存储部件14中的测量频率(测量次数的数目)ni重写为1(步骤ST22)，并且然后确定标志i的改变为不必要的(步骤ST23)，以致结束对于标志的号码i的改变存在/不存在确定过程。

相反的是，当电平波动检测部件12确定标志i的波形电平不波动时(在步骤ST21处的否)，控制部件3确定在标志的号码i中的改变为必要的(步骤ST24)，以致结束对于标志的号码i的改变存在/不存在确定过程。

图4C为说明对于号码i的标志的、在情况(3)中的改变存在/不存在确定过程的流程图。

更确切地说，图4C说明其中当号码i的任何标志的波形电平不展示电平波动，以致于需要来改变设置在衰减器中的衰减器(ATT)值设置状况时，提高号码i的、先前指定的标志的测量频率，以致于施行测量(在不同于号码i的、指定的标志的标志号码上，以每测量次数的数目一次的速率施行测量，而所述数目为在号码i的、指定的标志上的数目)，并且当任何标志i的波形电平展示电平波动，以致于需要来改变衰减器(ATT)值设置状况时，在号码i的标志上连续地施行测量。因为所述理由，所以在对于标志的号码i的改变存在/不存在确定过程处(步骤ST4)，控制部件3允许电平波动检测部件12来确定从波形存储器62经由标志电平取得部件5取得的号码i的标志的波形电平是否波动(步骤ST31)。

当电平波动检测部件12确定电平波动为存在的时(在步骤ST31处为是)，控制部件3经由测量频率设置部件13，将存储在测量频率存储部件14中的测量频率(测量次数的数目)ni重写为1(步骤ST32)，并且然后确定在标志的号码i中的改变为不必要的(步骤ST33)，以致结束对于标志的号码i的改变存在/不存在确定过程。

相反的是，当电平波动检测部件12确定号码i的标志的波形电平不波动时(在步骤ST31处的否)，控制部件3经由测量频率设置部件13，将存储在测量频率存储部件14中的测量频率(测量次数的数目)ni重写为ni+1(步骤ST35)，并确定测量次数的数目是否超过测量频率Nimax(步骤ST36)。

当做测量次数的数目ni未超过测量频率Nimax的确定时(在步骤ST36处为否)，控制部件3确定在号码i的标志中的改变为不必要的(步骤ST32)，以致结束对于标志的号码i的改变存在/不存在确定过程。

相反的是，当做测量次数的数目ni超过测量频率Nimax的确定时(在步骤ST36处为是)，控制部件3经由测量频率设置部件13，将存储在测量频率存储部件14中的测量频率(测量次数的数目)ni重写为1(步骤ST37)，并且然后确定在标志的号码i中的改变为必要的(步骤ST34)，以致结束对于标志的号码i的改变存在/不存在确定过程。

对于号码i的标志来设置测量频率Nimax，以致将其存储在如图8中所示的测量频率存储部件14中。

在诸如操作员操作操作部件64的、相应的操作成员这样的方式中，可以经由控制部件3在测量频率存储部件14中，将测量频率Nimax设置为任何值。

可以由控制部件3来自动地设置测量频率Nimax，以致于暂时地提高测量频率Nimax，以便集中地监控其电平波动的、号码i的标志。

在图8的实例中，设置在Fresnel反射的顶点近旁的号码i(i＝1，2，4，5)的测量频率Nimax，以致其大于其他标志号码的测量频率Nimax，以便集中地测量Fresnel反射的电平波动。

当在对于标志的号码i的改变存在/不存在确定过程处，作出在标志的号码i中的改变为不必要的确定时，控制部件3转到在图2中的步骤ST5处的过程。

相反的是，当作出在标志号码i中的改变为必要的确定时，控制部件3转到在图2中的步骤ST7处的过程(将标志号码i重写为i+1)。

在将根据本发明的一个实施例的光时域反射仪和用于使用光脉冲来测试光纤的方法应用到的光脉冲测试仪(OTDR)1中，在实时测量中，当由标志的号码i来指定测量位置时，作出关于号码i的标志的波形电平是否属于当前选取的衰减器(ATT)值设置状况的、有效的测量电平范围的确定，并且当波形电平不属于有效的测量电平范围时，自动地设置在有效的测量电平范围之内的、最佳的衰减器(ATT)值设置状况，以致于可以以不小于预定值的、好的S/N比来观察波形。

在本发明的光脉冲测试仪(OTDR)中，在实时测量中，符合其中在各自的测量中决定在波形上设置的多个标志的位置的波形电平地，自动地设置最佳的衰减器(ATT)值，并且合成测量波形来将其显示。

在本发明的光脉冲测试仪(OTDR)1中，可以自动地根据在标志的波形电平中的波动或基于由操作员的设置，来独立地变化多个标志的测量频率，以致于在标志之中变化测量频率。

结果，在本发明的光脉冲测试仪(OTDR)1中，在实时测量中，当设置多个标志(至少两个)时，在与标志的协作中自动地选取最佳的衰减器值来将其设置，以致于改变测量电平。因为所述理由，可以在宽的范围上，以不小于预定值的、好的S/N比来观察波形。

在本发明的光脉冲测试仪(OTDR)1中，特别地，可以以不小于预定值的、好的S/N比来同时观察正好在Fresnel反射之前的波形电平和Fresnel反射的顶点的电平，并且因而可以近似实时地观察在反射衰减中的改变。

结果，可以容易地、实时地测量其中将被测量的目标的电平差为大的反射衰减。

进一步地，在本发明的光脉冲测试仪(OTDR)1中，根据测量波形的电平，不必人工地来合适地调整衰减器值(增益和求平均值的次数的数目)，并且操作员只是不得不将在显示屏上的标志移动到目标位，以致于可以以不小于预定值的、好的S/N比来观察在期望的位置上的波形。

在本发明的光脉冲测试仪(OTDR)1中，根据在标志的波形电平中的波动，来独立地变化多个标志的测量频率，以致于使测量频率来将其在标志之中变化。结果，甚至在诸如其中电平差为大的Fresnel反射这样的、反射的衰减的测量的时候，暂时地提高有电平波动的标志的测量频率，以致于可以实现其快速地响应于在测量波形中的改变的实时测量。

不用说本发明不限于上面说明的实施例，并且可以在不背离本发明的要点的情况下，来将各种修改应用于本发明。

例如，象根据上面说明的实施例的光脉冲测试仪(OTDR)1一样，在实时测量中，不通过暂时地转变多个衰减器(ATT)值设置状况，来将测量施行多个数目的次数，但是通过设置多个衰减器(ATT)，来同时施行测量一次，而分别设置多个衰减器(ATT)的衰减器(ATT)值设置状况。结果，可以实现具有测量电平改变功能的光脉冲测试仪(OTDR)1。

在显示部件的屏幕上显示的测量波形上设置的标志不限于在图形中展示的、箭头形状的标志，并且可以合适地采用包括在垂直方向中横过测量波形的线性的标志的、具有任何形状的标志。

为此，如上面详细描述的，根据本发明，可以提供的是光时域反射仪和用于使用光脉冲来测试光纤的方法，在实时测量中，所述光时域反射仪基于确定如测量位置指定部件这样的、在显示部件上显示的标志的波形电平是否属于预置的、有效的测量电平范围的结果，来将衰减器(ATT)值设置到最佳值，测量被测量的光纤，以致使能够通过将标志移动到目标位，以不小于预定值的、好的S/N比来观察在期望的位置上的波形，并且自动地跟踪归因于在被测量的光纤的状态中的改变的电平波动，以致甚至使能够容易地测量其中测量波形的电平差为大的反射衰减。

工业实用性

在根据本发明的光时域反射仪和用于使用光脉冲来测试光纤的方法中，在实时测量中，基于确定如测量位置指定部件这样的、在显示部件上显示的标志的波形电平是否属于预置的、有效的测量电平范围的结果，来将衰减器(ATT)值设置成最佳值，并且测量被测量的光纤，以致于仅仅通过将标志移动到目标位，来使以不小于预定值的好的S/N比的、在期望的位置上的波形观察成为可能，并且甚至可以自动地根据归因于在被测量的光纤的状态中的改变的电平波动，来容易地测量其中测量波形的电平差为大的反射衰减。因为所述理由，所以本发明适合于在观察被测量的光纤的状况和改变中的测量，并且特别地，可以用于在光纤的铺设中要求方便的应用，象其中正在通过连接器或熔接来连接光纤的同时，对于好的/坏的状况，来检查光纤的连接状态的情况一样。

权利要求书(按照条约第19条的修改)

1、一种光时域反射仪，包含：

光源，其发射将入射到被测量的光纤上的光脉冲；

光接收部件，其根据从所述光源发射的所述光脉冲，来接收从所述被测量的光纤返回的后散射光；

等价的衰减器，其由以预定的增益来放大来自所述光接收部件的输出信号的放大部件，和将由所述放大部件放大的所述输出信号相加预定数目的次数以致求其平均值的信号平均处理部件组成；

对数转换部件，其对数地转换来自所述等价的衰减器的所述输出信号；

波形存储器，其将来自所述对数转换部件的所述输出信号作为波形数据存储在其中；

显示部件，其读取存储在所述波形存储器中的所述波形数据，以致将作为测量波形的所述数据显示在屏幕上；

标志设置部件，其在所述显示部件的屏幕上显示的所述测量波形上任意地设置标志，并使能移动标志设置位置；

衰减器值设置状况存储部件，其将用于实时测量的多个衰减器值设置状况，和对于所述多个衰减器值设置状况来预置的、有效的测量电平范围存储在其中，而其中相应于由所述标志设置部件在所述显示部件的屏幕上的所述测量波形上设置的所述标志的设置位置，来预置所述多个衰减器值设置状况，并且由组成所述等价的衰减器的所述放大部件的增益和在所述信号平均处理部件中的相加次数的数目的组合，来组成所述多个衰减器值设置状况；

标志电平取得部件，其从存储在所述波形存储器中的所述波形数据，来取得在由所述标志设置部件，在所述显示部件的屏幕上显示的所述测量波形上设置为可移动的所述标志的设置位置上的波形电平；

电平比较部件，其确定在所述标志设置位置上的、由所述标志电平取得部件取得的所述波形电平是否属于存储在所述衰减器值设置状况存储部件中的、所述有效的测量电平范围；

衰减器值改变确定部件，其当电平比较部件确定由所述标志电平取得部件取得的、所述标志设置位置的波形电平不属于存储在所述衰减器值设置状况存储部件中的、所述有效的测量电平范围时，确定在所述衰减器值设置状况中的改变；

衰减器值设置状况改变部件，其在来自所述衰减器值改变确定部件的所述改变的确定的情况下，将存储在所述衰减器值设置状况存储部件中的所述衰减器值设置状况，改变成其中在所述标志设置位置上的由所述标志电平取得部件取得的所述波形电平属于所述有效的测量电平范围的、新的衰减器值设置状况；

衰减器值设置部件，其将存储在所述衰减器值设置状况存储部件中的、未改变的衰减器值设置状况，或被改变的、新的衰减器值设置状况设置在所述等价的衰减器中；和

控制部件，其基于由所述衰减器值设置部件设置在所述等价的衰减器中的所述衰减器值设置状况，允许来测量被测量的光纤，读取存储在所述波形存储器中的所述波形数据，并将所述数据接连地显示在所述显示部件的屏幕上，以致使其中接连地更新在所述显示部件的屏幕上显示的所述测量波形的实时测量成为可能，

其中基于确定由测量位置指定部件、通过所述标志设置部件设置在所述显示部件的屏幕上的所述标志的波形电平是否属于所述预置的、有效的测量电平范围的结果，来把将在所述等价的衰减器中被设置的所述衰减器值设置状况设置在最佳值中，并且测量所述被测量的光纤，并且可以基于在所述显示部件的屏幕上显示的所述测量波形，仅仅通过依靠所述标志设置部件将所述标志移动到目标位，以不小于预定值的、好的信噪比(S/N比)来观察在期望的位置上的所述波形。

2、根据权利要求1的所述光时域反射仪，其中当将由所述标志设置部件设置在所述显示部件的屏幕上的所述测量波形上的第一位置上的所述标志，移动到在所述测量波形上的、有不多于所述预定值的坏的S/N比的第二位置时，将相应于在所述第二位置上的所述标志的所述衰减器值设置状况设置到最佳值，并且测量所述被测量的光纤，以致于可以基于在所述显示部件的屏幕上显示的所述测量波形，以不小于所述预定值的、好的S/N比来观察在所述第二位置上的所述波形。

3、根据权利要求1的所述光时域反射仪，进一步包含：

标志指定部件，其当由所述标志设置部件来在所述显示部件的屏幕上的所述测量波形上任意地设置多个标志时，从所述多个标志来指定将被测量的标志，

其中，所述衰减器值设置状况存储部件已将用于实时测量的多个衰减器值设置状况，和对于所述多个衰减器值设置状况来预置的、有效的测量电平范围存储在其中，而相应于由所述标志设置部件在所述显示部件的屏幕上的所述测量波形上设置的所述多个标志的设置位置，来预置所述多个衰减器值设置状况，并且由组成所述等价的衰减器的所述放大部件的增益和在所述信号平均处理部件中的相加次数的数目的组合，来组成所述多个衰减器值设置状况，

所述标志电平取得部件从存储在所述波形存储器中的所述波形数据，取得在将被测量的所述标志的设置位置上的波形电平，而由所述标志指定部件从由所述标志设置部件在所述显示部件的屏幕上的所述测量波形上设置的所述多个标志，来指定所述标志，

所述电平比较部件确定由所述标志电平取得部件取得的、在将被测量的所述标志的设置位置上的所述波形电平是否属于存储在所述衰减器值设置状况存储部件中的、并相应于将被测量的所述标志的设置位置的、所述有效的测量电平范围，

当所述电平比较部件确定将被测量的所述标志的设置位置的波形电平不属于存储在所述衰减器值设置状况存储部件中的、相应于将被测量的所述标志的、所述有效的测量电平范围时，所述衰减器值改变确定部件确定在所述衰减器值设置状况中的改变，

在所述衰减器值改变确定部件中的所述改变的确定的情况下，所述衰减器值设置状况改变部件将存储在所述衰减器值设置状况存储部件中的所述衰减器值设置状况，改变成新的衰减器值设置状况，其中由所述标志电平取得部件取得的、在将被测量的所述标志的设置位置上的所述波形电平属于所述有效的测量电平范围，

所述衰减器值设置部件相对于将被测量的所述标志，来将存储在所述衰减器值设置状况存储部件中的、未改变的衰减器值设置状况，或被改变的、新的衰减器值设置状况设置在所述等价的衰减器中，

所述控制部件基于由所述衰减器值设置部件在所述等价的衰减器中设置的所述衰减器值设置状况，相对于将被测量的所述标志，允许来测量所述被测量的光纤，相对于将被测量的所述标志来读取存储在所述波形存储器中的所述波形数据，并接连地在所述显示部件的屏幕上显示所述数据，以致使其中接连地更新在所述显示部件的屏幕上显示的所述测量波形的实时测量成为可能，所述光时域反射仪进一步包含：

波形合成部件，其基于由所述衰减器值设置部件在所述等价的衰减器中设置的所述衰减器值设置状况，相应于将被测量的所述标志地，来读取相应于将被测量的所述标志的、通过所述测量取得的所述波形数据，并合成所述数据，以致将所述合成的波形数据显示在所述显示部件的屏幕上，并且

基于确定如所述测量位置指定部件这样的、由所述标志设置部件在所述显示部件的屏幕上设置的所述标志的波形电平是否属于所述预置的、有效的测量电平范围(ΔLi)的结果，相对于所述多个标志地，将在所述等价的衰减器中设置的所述衰减器值设置状况顺序地设置成最佳值，并且重复地测量所述被测量的光纤，以致于可以基于在所述显示部件的屏幕上显示的、所述合成的波形数据的测量波形，在宽的范围之上以不小于所述预定值的、好的S/N比来测量在期望的位置上的所述波形，并且甚至通过自动地跟踪归因于在所述被测量的光纤的状态中的所述改变的电平波动，来容易地测量其中所述测量波形的电平差为大的反射衰减。

4、根据权利要求3的所述光时域反射仪，其中当由所述标志设置部件，在所述显示部件的屏幕上的所述测量波形上设置的所述多个标志包括设置在所述测量波形上的、正好在Fresnel反射之前的位置上的第一标志，和设置在所述测量波形上的、在所述Fresnel反射的顶点的位置上的第二标志时，顺序地设置相应于所述第一标志和所述第二标志的所述衰减器值设置状况，并且重复地测量所述被测量的光纤，以致于能够基于在所述显示部件的屏幕上显示的、所述合成的波形数据的测量波形，以不小于所述预定值的、好的S/N比来同时观察正好在所述Fresnel反射之前的所述波形电平和所述Fresnel反射的顶点的电平。

5、根据权利要求3的所述光时域反射仪，进一步包含：

测量频率存储部件，其存储展示在所述多个标志中的每一个上的、连续的和重复的测量次数的所述数目的测量频率，

其中基于相应于将被测量的所述标志的、存储在所述测量频率存储部件中的所述测量频率，在相应于将被测量的所述标志的所述衰减器值设置状况下，重复地测量将被测量的所述标志，并且然后基于相应于将被测量的随后的标志的、存储在所述测量频率存储部件中的所述测量频率，在相应于将被测量的、所述随后的标志的所述衰减器值设置状况下，重复地测量将被测量的、所述随后的标志。

6、根据权利要求5的所述光时域反射仪，进一步包含：

电平波动检测部件，其检测在由所述标志电平取得部件取得的、在相应于将被测量的所述标志的所述波形电平中的波动；和

测量频率设置部件，其根据在相应于将被测量的所述标志的所述波形电平中的、由所述电平波动检测部件检测的所述波动的存在/不存在，来改变相应于存储在所述测量频率存储部件中的所述标志的所述测量频率。

7、根据权利要求5的所述光时域反射仪，其中所述波形合成部件从通过所述重复的测量取得的波形数据，只选取有关包括在所述有效的测量电平范围中的波形电平的、相应于将被测量的所述标志的波形数据，以致合成所述波形数据。

8、一种用于使用光脉冲来测试光纤的方法，包含：

允许光脉冲来入射到被测量的光纤上的步骤；

接收从所述被测量的光纤返回的后散射光，以致将所述后散射光转换成电信号的步骤；

依靠放大部件以预定的增益来放大所述电信号的步骤；

依靠与所述放大部件一起组成等价的衰减器的信号平均处理部件，来将由所述放大部件放大的输出信号相加预定数目的次数，以致求所述相加的信号的平均值的步骤；

依靠对数转换部件来对数地转换来自所述等价的衰减器的所述输出信号的步骤；

将来自所述对数转换部件的所述输出信号，作为波形数据存储在波形存储器中的步骤；

读取存储在所述波形存储器中的所述波形数据，以致将作为测量波形的所述数据显示在显示部件的屏幕上的步骤；

在所述显示部件的屏幕上可移动地显示的所述测量波形上任意地设置标志的步骤；

将对于实时测量的多个衰减器值设置状况，和对于所述多个衰减器值设置状况预置的、有效的测量电平范围存储在衰减器值设置状况存储部件中的步骤，其中相对于在所述显示部件的屏幕上的所述测量波形上设置的所述标志的设置位置，来预置所述多个衰减器值设置状况，并且由组成所述等价的衰减器的所述放大部件的增益和在所述信号平均处理部件中的相加次数的数目的组合，来组成所述多个衰减器值设置状况；

从存储在所述波形存储器中的所述波形数据，来取得在所述显示部件的屏幕上显示的所述测量波形上，任意地设置的所述标志的设置位置上的波形电平的步骤；

确定从存储在所述波形存储器中的所述波形数据取得的、在所述标志设置位置上的所述波形电平是否属于存储在所述衰减器值设置状况存储部件中的、所述有效的测量电平范围的步骤；

当作出所述标志设置位置的波形电平不属于存储在所述衰减器值设置状况存储部件中的、所述有效的测量电平范围的确定时，确定在所述衰减器值设置状况中的改变的步骤；

在所述衰减器值设置状况中的所述改变的确定的情况下，将存储在所述衰减器值设置状况存储部件中的所述衰减器值设置状况，改变成其中在所述标志设置位置上的所述波形电平属于有效的测量电平范围的、新的衰减器值设置状况的步骤；

在所述等价的衰减器中，设置存储在所述衰减器值设置状况存储部件中的、未改变的衰减器值设置状况或被改变的、新的衰减器(ATT)值设置状况的步骤；以及

基于在所述等价的衰减器中设置的所述衰减器值设置状况，允许来测量所述被测量的光纤的步骤，将存储在所述波形存储器中的所述波形数据接连地显示在所述显示部件的屏幕上，以致使其中接连地更新在所述显示部件的屏幕上显示的所述测量波形的实时测量成为可能的步骤，

其中基于确定如所述测量位置指定部件这样的、在所述显示部件的屏幕上设置的所述标志的波形电平是否属于所述预置的、有效的测量电平范围的结果，来在所述等价的衰减器上将所述衰减器值设置状况设置成最佳值，并且测量所述被测量的光纤，以致于能够基于在所述显示部件的屏幕上显示的所述测量波形，仅仅通过将所述标志移动到目标位，以不小于所述预定值的、好的S/N比来观察在期望的位置上的所述波形。

9、根据权利要求8的所述用于使用光脉冲来测试光纤的方法，其中当将在所述显示部件的屏幕上的所述测量波形上的第一位置上设置的所述标志，移动到在所述测量波形上的、且有不多于所述预定值的坏的S/N比的第二位置时，将相应于在所述第二位置上的所述标志的所述衰减器值设置状况设置成最佳值，并且测量所述被测量的光纤，以致于能够基于在所述显示部件的屏幕上显示的所述测量波形，以不小于所述预定值的、好的S/N比来观察在所述第二位置上的所述波形。

10、根据权利要求8的所述用于使用光脉冲来测试光纤的方法，进一步包含：

当在所述显示部件的屏幕上显示的所述测量波形上任意地设置多个标志时，从所述多个标志指定将被测量的标志的步骤，

其中所述衰减器值设置状况存储部件已将对于所述实时测量的多个衰减器值设置状况，和对于所述多个衰减器值设置状况来预置的、有效的测量电平范围存储在其中，而相对于在所述显示部件的屏幕上的所述测量波形上设置的所述多个标志的设置位置，来预置所述多个衰减器值设置状况，并且由组成所述等价的衰减器的所述放大部件的增益和在信号平均处理部件中的相加次数的所述数目的组合，来组成所述多个衰减器值设置状况，

在取得在所述标志的设置位置上的波形电平的所述步骤，从存储在所述波形存储器中的所述波形数据，来取得相应于在所述显示部件的屏幕上的所述测量波形上设置的所述多个标志中的、将被测量的标志的设置位置的波形电平，

在确定所述标志的波形电平的所述步骤，作出关于在将被测量的所述标志的设置位置上的所述波形电平是否属于存储在所述衰减器值设置状况存储部件中的、并相应于将被测量的所述标志的、所述有效的测量电平范围的所述确定，

在确定在所述衰减器值设置状况中的所述改变的所述步骤，当作出在将被测量的所述标志的设置位置上的所述波形电平不属于存储在所述衰减器值设置状况存储部件中的、相应于将被测量的所述标志的、所述有效的测量电平范围的所述确定时，确定在所述衰减器值设置状况中的所述改变，

在改变所述衰减器值设置状况的所述步骤，在所述衰减器值设置状况的改变的确定的情况下，将存储在所述衰减器值设置状况存储部件中的所述衰减器值设置状况，改变成其中在将被测量的所述标志的设置位置上的所述波形电平属于所述有效的测量电平范围的、新的衰减器值设置状况，

在所述等价的衰减器中的设置的所述步骤，相对于将被测量的所述标志，来在所述等价的衰减器中设置存储在所述衰减器值设置状况存储部件中的、未改变的衰减器值设置状况，或被改变的、新的衰减器值设置状况，

在使所述实时测量成为可能的所述步骤，基于相对于将被测量的所述标志设置在所述等价的衰减器中的所述衰减器值设置状况，来测量所述被测量的光纤，相对于将被测量的所述标志，来读取并接连地在所述显示部件的屏幕上显示存储在所述波形存储器中的所述波形数据，以致于使其中接连地更新在所述显示部件的屏幕上显示的所述测量波形的所述实时测量成为可能，所述方法进一步包含：

基于由所述衰减器值设置部件在所述等价的衰减器中设置的所述衰减器值设置状况，相应于将被测量的所述标志地，从所述波形存储器来读取相应于将被测量的所述标志的、通过所述测量取得的波形数据，并合成所述数据，以致将所述合成的波形数据显示在所述显示部件的屏幕上的步骤，以及

基于确定如所述测量位置指定部件这样的、在所述显示部件的屏幕上显示的所述标志的波形电平是否属于所述预置的、有效的测量电平范围的结果，相对于所述多个标志，来将在所述等价的衰减器中设置的所述衰减器值设置状况顺序地设置成最佳值，并且重复地测量所述被测量的光纤，以致于能够基于在所述显示部件的屏幕上显示的、所述合成的波形数据的测量波形，在宽的范围之上以不小于所述预定值的、好的S/N比来观察在期望的位置上的所述波形，并且甚至可以通过自动地跟踪归因于在所述被测量的光纤的状态中的所述改变的电平波动，来容易地测量其中所述测量波形的电平差为大的反射衰减。

11、根据权利要求10的所述用于使用光脉冲来测试光纤的方法，其中当在所述显示部件的屏幕上的所述测量波形上设置的所述多个标志包括在所述测量波形上的、正好在Fresnel反射之前的位置上设置的第一标志，和在测量波形上的、在所述Fresnel反射的顶点的位置上设置的第二标志时，顺序地设置相应于所述第一标志和所述第二标志的所述衰减器值设置状况，并且重复地测量所述被测量的光纤，以致于能够基于在所述显示部件的屏幕上显示的、所述合成的波形数据的测量波形，以不小于所述预定值的、好的S/N比来同时观察正好在所述Fresnel反射之前的所述波形电平和所述Fresnel反射的顶点的电平。

12、根据权利要求10的所述用于使用光脉冲来测试光纤的方法，进一步包含：

将在所述多个标志中的每一个上的、展示所述连续的和重复的测量次数的数目的测量频率，存储在测量频率存储部件中的步骤，

其中基于相应于将被测量的所述标志的、存储在所述测量频率存储部件中的所述测量频率，来在相应于将被测量的所述标志的所述衰减器值设置状况之下，重复地测量将被测量的所述标志，并且基于相应于将被测量的随后的标志的、存储在所述测量频率存储部件中的所述测量频率，在相应于将被测量的、所述随后的标志的所述衰减器值设置状况下，来重复地测量将被测量的、所述随后的标志。

13、根据权利要求12的所述用于使用光脉冲来测试光纤的方法，进一步包含：

检测在相应于将被测量的所述标志的所述波形电平中的波动的步骤；以及

根据在相应于将被测量的所述标志的所述波形电平中的所述波动的存在/不存在，来改变相应于所述标志的、存储在所述测量频率存储部件中的所述测量频率的步骤。

14、根据权利要求12的所述用于使用光脉冲来测试光纤的方法，其中在将所述合成的波形数据显示在所述显示部件的屏幕上的所述步骤，从通过所述重复的测量取得的波形数据，只选取相应于将被测量的所述标志的、有关包括在所述有效的测量电平范围中的波形电平的波形数据，以致于合成所述波形数据。

Claims (14)

1、一种光时域反射仪，包含：

光源，其发射将入射到被测量的光纤上的光脉冲；

光接收部件，其根据从所述光源发射的所述光脉冲，来接收从所述被测量的光纤返回的后散射光；

等价的衰减器，其由以预定的增益来放大来自所述光接收部件的输出信号的放大部件，和将由所述放大部件放大的所述输出信号相加预定数目的次数以致求其平均值的信号平均处理部件组成；

对数转换部件，其对数地转换来自所述等价的衰减器的所述输出信号；

波形存储器，其将来自所述对数转换部件的所述输出信号作为波形数据存储在其中；

显示部件，其读取存储在所述波形存储器中的所述波形数据，以致将作为测量波形的所述数据显示在屏幕上；

标志设置部件，其在所述显示部件的屏幕上显示的所述测量波形上任意地设置标志，并使能移动标志设置位置；

衰减器值设置状况存储部件，其将用于实时测量的多个衰减器值设置状况，和对于所述多个衰减器值设置状况来预置的、有效的测量电平范围存储在其中，而其中相应于由所述标志设置部件在所述显示部件的屏幕上的所述测量波形上设置的所述标志的设置位置，来预置所述多个衰减器值设置状况，并且由组成所述等价的衰减器的所述放大部件的增益和在所述信号平均处理部件中的相加次数的数目的组合，来组成所述多个衰减器值设置状况；

标志电平取得部件，其从存储在所述波形存储器中的所述波形数据，来取得在由所述标志设置部件，在所述显示部件的屏幕上显示的所述测量波形上设置为可移动的所述标志的设置位置上的波形电平；

电平比较部件，其确定在所述标志设置位置上的、由所述标志电平取得部件取得的所述波形电平是否属于存储在所述衰减器值设置状况存储部件中的、所述有效的测量电平范围；

衰减器值改变确定部件，其当电平比较部件确定由所述标志电平取得部件取得的、所述标志设置位置的波形电平不属于存储在所述衰减器值设置状况存储部件中的、所述有效的测量电平范围时，确定在所述衰减器值设置状况中的改变；

衰减器值设置状况改变部件，其在来自所述衰减器值改变确定部件的所述改变的确定的情况下，将存储在所述衰减器值设置状况存储部件中的所述衰减器值设置状况，改变成其中在所述标志设置位置上的由所述标志电平取得部件取得的所述波形电平属于所述有效的测量电平范围的、新的衰减器值设置状况；

衰减器值设置部件，其将存储在所述衰减器值设置状况存储部件中的、未改变的衰减器值设置状况，或被改变的、新的衰减器值设置状况设置在所述等价的衰减器中；和

控制部件，其基于由所述衰减器值设置部件设置在所述等价的衰减器中的所述衰减器值设置状况，允许来测量被测量的光纤，读取存储在所述波形存储器中的所述波形数据，并将所述数据接连地显示在所述显示部件的屏幕上，以致使其中接连地更新在所述显示部件的屏幕上显示的所述测量波形的实时测量成为可能，

其中基于确定由测量位置指定部件、通过所述标志设置部件设置在所述显示部件的屏幕上的所述标志的波形电平是否属于所述预置的、有效的测量电平范围的结果，来把将在所述等价的衰减器中被设置的所述衰减器值设置状况设置在最佳值中，并且测量所述被测量的光纤，并且可以基于在所述显示部件的屏幕上显示的所述测量波形，仅仅通过依靠所述标志设置部件将所述标志移动到目标位，以不小于预定值的、好的信噪比(S/N比)来观察在期望的位置上的所述波形。

2、根据权利要求1的所述光时域反射仪，其中当将由所述标志设置部件设置在所述显示部件的屏幕上的所述测量波形上的第一位置上的所述标志，移动到在所述测量波形上的、有不多于所述预定值的坏的S/N比的第二位置时，将相应于在所述第二位置上的所述标志的所述衰减器值设置状况设置到最佳值，并且测量所述被测量的光纤，以致于可以基于在所述显示部件的屏幕上显示的所述测量波形，以不小于所述预定值的、好的S/N比来观察在所述第二位置上的所述波形。

3、根据权利要求1的所述光时域反射仪，进一步包含：

标志指定部件，其当由所述标志设置部件来在所述显示部件的屏幕上的所述测量波形上任意地设置多个标志时，从所述多个标志来指定将被测量的标志，

其中，所述衰减器值设置状况存储部件已将用于实时测量的多个衰减器值设置状况，和对于所述多个衰减器值设置状况来预置的、有效的测量电平范围存储在其中，而相应于由所述标志设置部件在所述显示部件的屏幕上的所述测量波形上设置的所述多个标志的设置位置，来预置所述多个衰减器值设置状况，并且由组成所述等价的衰减器的所述放大部件的增益和在所述信号平均处理部件中的相加次数的数目的组合，来组成所述多个衰减器值设置状况，

所述标志电平取得部件从存储在所述波形存储器中的所述波形数据，取得在将被测量的所述标志的设置位置上的波形电平，而由所述标志指定部件从由所述标志设置部件在所述显示部件的屏幕上的所述测量波形上设置的所述多个标志，来指定所述标志，

所述电平比较部件确定由所述标志电平取得部件取得的、在将被测量的所述标志的设置位置上的所述波形电平是否属于存储在所述衰减器值设置状况存储部件中的、并相应于将被测量的所述标志的设置位置的、所述有效的测量电平范围，

当所述电平比较部件确定将被测量的所述标志的设置位置的波形电平不属于存储在所述衰减器值设置状况存储部件中的、相应于将被测量的所述标志的、所述有效的测量电平范围时，所述衰减器值改变确定部件确定在所述衰减器值设置状况中的改变，

在所述衰减器值改变确定部件中的所述改变的确定的情况下，所述衰减器值设置状况改变部件将存储在所述衰减器值设置状况存储部件中的所述衰减器值设置状况，改变成新的衰减器值设置状况，其中由所述标志电平取得部件取得的、在将被测量的所述标志的设置位置上的所述波形电平属于所述有效的测量电平范围，

所述衰减器值设置部件相对于将被测量的所述标志，来将存储在所述衰减器值设置状况存储部件中的、未改变的衰减器值设置状况，或被改变的、新的衰减器值设置状况设置在所述等价的衰减器中，

所述控制部件基于由所述衰减器值设置部件在所述等价的衰减器中设置的所述衰减器值设置状况，相对于将被测量的所述标志，允许来测量所述被测量的光纤，相对于将被测量的所述标志来读取存储在所述波形存储器中的所述波形数据，并接连地在所述显示部件的屏幕上显示所述数据，以致使其中接连地更新在所述显示部件的屏幕上显示的所述测量波形的实时测量成为可能，所述光时域反射仪进一步包含：

波形合成部件，其基于由所述衰减器值设置部件在所述等价的衰减器中设置的所述衰减器值设置状况，相应于将被测量的所述标志地，来读取相应于将被测量的所述标志的、通过所述测量取得的所述波形数据，并合成所述数据，以致将所述合成的波形数据显示在所述显示部件的屏幕上，并且

基于确定如所述测量位置指定部件这样的、由所述标志设置部件在所述显示部件的屏幕上设置的所述标志的波形电平是否属于所述预置的、有效的测量电平范围(ΔLi)的结果，相对于所述多个标志地，将在所述等价的衰减器中设置的所述衰减器值设置状况顺序地设置成最佳值，并且重复地测量所述被测量的光纤，以致于可以基于在所述显示部件的屏幕上显示的、所述合成的波形数据的测量波形，在宽的范围之上以不小于所述预定值的、好的S/N比来测量在期望的位置上的所述波形，并且甚至通过自动地跟踪归因于在所述被测量的光纤的状态中的所述改变的电平波动，来容易地测量其中所述测量波形的电平差为大的反射衰减。

4、根据权利要求1的所述光时域反射仪，其中当由所述标志设置部件，在所述显示部件的屏幕上的所述测量波形上设置的所述多个标志包括设置在所述测量波形上的、正好在Fresnel反射之前的位置上的第一标志，和设置在所述测量波形上的、在所述Fresnel反射的顶点的位置上的第二标志时，顺序地设置相应于所述第一标志和所述第二标志的所述衰减器值设置状况，并且重复地测量所述被测量的光纤，以致于能够基于在所述显示部件的屏幕上显示的、所述合成的波形数据的测量波形，以不小于所述预定值的、好的S/N比来同时观察正好在所述Fresnel反射之前的所述波形电平和所述Fresnel反射的顶点的电平。

5、根据权利要求3的所述光时域反射仪，进一步包含：

测量频率存储部件，其存储展示在所述多个标志中的每一个上的、连续的和重复的测量次数的所述数目的测量频率，

其中基于相应于将被测量的所述标志的、存储在所述测量频率存储部件中的所述测量频率，在相应于将被测量的所述标志的所述衰减器值设置状况下，重复地测量将被测量的所述标志，并且然后基于相应于将被测量的随后的标志的、存储在所述测量频率存储部件中的所述测量频率，在相应于将被测量的、所述随后的标志的所述衰减器值设置状况下，重复地测量将被测量的、所述随后的标志。

6、根据权利要求5的所述光时域反射仪，进一步包含：

电平波动检测部件，其检测在由所述标志电平取得部件取得的、在相应于将被测量的所述标志的所述波形电平中的波动；和

测量频率设置部件，其根据在相应于将被测量的所述标志的所述波形电平中的、由所述电平波动检测部件检测的所述波动的存在/不存在，来改变相应于存储在所述测量频率存储部件中的所述标志的所述测量频率。

7、根据权利要求5的所述光时域反射仪，其中所述波形合成部件从通过所述重复的测量取得的波形数据，只选取有关包括在所述有效的测量电平范围中的波形电平的、相应于将被测量的所述标志的波形数据，以致合成所述波形数据。

8、一种用于使用光脉冲来测试光纤的方法，包含：

发射光脉冲来入射到被测量的光纤上的步骤；

接收从所述被测量的光纤返回的后散射光，以致将所述后散射光转换成电信号的步骤；

依靠放大部件以预定的增益来放大所述电信号的步骤；

依靠与所述放大部件一起组成等价的衰减器的信号平均处理部件，来将由所述放大部件放大的输出信号相加预定数目的次数，以致求所述相加的信号的平均值的步骤；

依靠对数转换部件来对数地转换来自所述等价的衰减器的所述输出信号的步骤；

将来自所述对数转换部件的所述输出信号，作为波形数据存储在波形存储器中的步骤；

读取存储在所述波形存储器中的所述波形数据，以致将作为测量波形的所述数据显示在显示部件的屏幕上的步骤；

在所述显示部件的屏幕上可移动地显示的所述测量波形上任意地设置标志的步骤；

将对于实时测量的多个衰减器值设置状况，和对于所述多个衰减器值设置状况预置的、有效的测量电平范围存储在衰减器值设置状况存储部件中的步骤，其中相对于在所述显示部件的屏幕上的所述测量波形上设置的所述标志的设置位置，来预置所述多个衰减器值设置状况，并且由组成所述等价的衰减器的所述放大部件的增益和在所述信号平均处理部件中的相加次数的数目的组合，来组成所述多个衰减器值设置状况；

从存储在所述波形存储器中的所述波形数据，来取得在所述显示部件的屏幕上显示的所述测量波形上，任意地设置的所述标志的设置位置上的波形电平的步骤；

确定从存储在所述波形存储器中的所述波形数据取得的、在所述标志设置位置上的所述波形电平是否属于存储在所述衰减器值设置状况存储部件中的、所述有效的测量电平范围的步骤；

当作出所述标志设置位置的波形电平不属于存储在所述衰减器值设置状况存储部件中的、所述有效的测量电平范围的确定时，确定在所述衰减器值设置状况中的改变的步骤；

在所述衰减器值设置状况中的所述改变的确定的情况下，将存储在所述衰减器值设置状况存储部件中的所述衰减器值设置状况，改变成其中在所述标志设置位置上的所述波形电平属于有效的测量电平范围的、新的衰减器值设置状况的步骤；

在所述等价的衰减器中，设置存储在所述衰减器值设置状况存储部件中的、未改变的衰减器值设置状况或被改变的、新的衰减器(ATT)值设置状况的步骤；以及

基于在所述等价的衰减器中设置的所述衰减器值设置状况，允许来测量所述被测量的光纤的步骤，将存储在所述波形存储器中的所述波形数据接连地显示在所述显示部件的屏幕上，以致使其中接连地更新在所述显示部件的屏幕上显示的所述测量波形的实时测量成为可能的步骤，

其中基于确定如所述测量位置指定部件这样的、在所述显示部件的屏幕上设置的所述标志的波形电平是否属于所述预置的、有效的测量电平范围的结果，来在所述等价的衰减器上将所述衰减器值设置状况设置成最佳值，并且测量所述被测量的光纤，以致于能够基于在所述显示部件的屏幕上显示的所述测量波形，仅仅通过将所述标志移动到目标位，以不小于所述预定值的、好的S/N比来观察在期望的位置上的所述波形。

9、根据权利要求8的所述用于使用光脉冲来测试光纤的方法，其中当将在所述显示部件的屏幕上的所述测量波形上的第一位置上设置的所述标志，移动到在所述测量波形上的、且有不多于所述预定值的坏的S/N比的第二位置时，将相应于在所述第二位置上的所述标志的所述衰减器值设置状况设置成最佳值，并且测量所述被测量的光纤，以致于能够基于在所述显示部件的屏幕上显示的所述测量波形，以不小于所述预定值的、好的S/N比来观察在所述第二位置上的所述波形。

10、根据权利要求8的所述用于使用光脉冲来测试光纤的方法，进一步包含：

当在所述显示部件的屏幕上显示的所述测量波形上任意地设置多个标志时，从所述多个标志指定将被测量的标志的步骤，

其中所述衰减器值设置状况存储部件已将对于所述实时测量的多个衰减器值设置状况，和对于所述多个衰减器值设置状况来预置的、有效的测量电平范围存储在其中，而相对于在所述显示部件的屏幕上的所述测量波形上设置的所述多个标志的设置位置，来预置所述多个衰减器值设置状况，并且由组成所述等价的衰减器的所述放大部件的增益和在信号平均处理部件中的相加次数的所述数目的组合，来组成所述多个衰减器值设置状况，

在取得在所述标志的设置位置上的波形电平的所述步骤，从存储在所述波形存储器中的所述波形数据，来取得相应于在所述显示部件的屏幕上的所述测量波形上设置的所述多个标志中的、将被测量的标志的设置位置的波形电平，

在确定所述标志的波形电平的所述步骤，作出关于在将被测量的所述标志的设置位置上的所述波形电平是否属于存储在所述衰减器值设置状况存储部件中的、并相应于将被测量的所述标志的、所述有效的测量电平范围的所述确定，

在确定在所述衰减器值设置状况中的所述改变的所述步骤，当作出在将被测量的所述标志的设置位置上的所述波形电平不属于存储在所述衰减器值设置状况存储部件中的、相应于将被测量的所述标志的、所述有效的测量电平范围的所述确定时，确定在所述衰减器值设置状况中的所述改变，

在改变所述衰减器值设置状况的所述步骤，在所述衰减器值设置状况的改变的确定的情况下，将存储在所述衰减器值设置状况存储部件中的所述衰减器值设置状况，改变成其中在将被测量的所述标志的设置位置上的所述波形电平属于所述有效的测量电平范围的、新的衰减器值设置状况，

在所述等价的衰减器中的设置的所述步骤，相对于将被测量的所述标志，来在所述等价的衰减器中设置存储在所述衰减器值设置状况存储部件中的、未改变的衰减器值设置状况，或被改变的、新的衰减器值设置状况，

在使所述实时测量成为可能的所述步骤，基于相对于将被测量的所述标志设置在所述等价的衰减器中的所述衰减器值设置状况，来测量所述被测量的光纤，相对于将被测量的所述标志，来读取并接连地在所述显示部件的屏幕上显示存储在所述波形存储器中的所述波形数据，以致于使其中接连地更新在所述显示部件的屏幕上显示的所述测量波形的所述实时测量成为可能，所述方法进一步包含：

基于由所述衰减器值设置部件在所述等价的衰减器中设置的所述衰减器值设置状况，相应于将被测量的所述标志地，从所述波形存储器来读取相应于将被测量的所述标志的、通过所述测量取得的波形数据，并合成所述数据，以致将所述合成的波形数据显示在所述显示部件的屏幕上的步骤，以及

基于确定如所述测量位置指定部件这样的、在所述显示部件的屏幕上显示的所述标志的波形电平是否属于所述预置的、有效的测量电平范围的结果，相对于所述多个标志，来将在所述等价的衰减器中设置的所述衰减器值设置状况顺序地设置成最佳值，并且重复地测量所述被测量的光纤，以致于能够基于在所述显示部件的屏幕上显示的、所述合成的波形数据的测量波形，在宽的范围之上以不小于所述预定值的、好的S/N比来观察在期望的位置上的所述波形，并且甚至可以通过自动地跟踪归因于在所述被测量的光纤的状态中的所述改变的电平波动，来容易地测量其中所述测量波形的电平差为大的反射衰减。

11、根据权利要求10的所述用于使用光脉冲来测试光纤的方法，其中当在所述显示部件的屏幕上的所述测量波形上设置的所述多个标志包括在所述测量波形上的、正好在Fresnel反射之前的位置上设置的第一标志，和在测量波形上的、在所述Fresnel反射的顶点的位置上设置的第二标志时，顺序地设置相应于所述第一标志和所述第二标志的所述衰减器值设置状况，并且重复地测量所述被测量的光纤，以致于能够基于在所述显示部件的屏幕上显示的、所述合成的波形数据的测量波形，以不小于所述预定值的、好的S/N比来同时观察正好在所述Fresnel反射之前的所述波形电平和所述Fresnel反射的顶点的电平。

12、根据权利要求10的所述用于使用光脉冲来测试光纤的方法，进一步包含：

将在所述多个标志中的每一个上的、展示所述连续的和重复的测量次数的数目的测量频率，存储在测量频率存储部件中的步骤，

其中基于相应于将被测量的所述标志的、存储在所述测量频率存储部件中的所述测量频率，来在相应于将被测量的所述标志的所述衰减器值设置状况之下，重复地测量将被测量的所述标志，并且基于相应于将被测量的随后的标志的、存储在所述测量频率存储部件中的所述测量频率，在相应于将被测量的、所述随后的标志的所述衰减器值设置状况下，来重复地测量将被测量的、所述随后的标志。

13、根据权利要求12的所述用于使用光脉冲来测试光纤的方法，进一步包含：

检测在相应于将被测量的所述标志的所述波形电平中的波动的步骤；以及

根据在相应于将被测量的所述标志的所述波形电平中的所述波动的存在/不存在，来改变相应于所述标志的、存储在所述测量频率存储部件中的所述测量频率的步骤。

14、根据权利要求12的所述用于使用光脉冲来测试光纤的方法，其中在将所述合成的波形数据显示在所述显示部件的屏幕上的所述步骤，从通过所述重复的测量取得的波形数据，只选取相应于将被测量的所述标志的、有关包括在所述有效的测量电平范围中的波形电平的波形数据，以致于合成所述波形数据。

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