CN1160555C - 缺少透镜探测系统和方法 - Google Patents

Abstract

本发明涉及一种用于确定在支座内诸如接触透镜那样的眼科产品的存在以及可选择地探测其位置的系统。

Description

缺少透镜探测系统和方法

本申请是由Ross和Newton在1998年11月5日申请的、美国专利申请号09/187,579的专利申请的接续申请，该申请和本申请具有相同的发明题目，在这里引用作为参考。

技术领域

本发明涉及用于探测支座或组件内产品是否存在以及可选择地探测产品的位置的系统，更具体地说，本发明涉及一种证实如接触透镜等眼科产品在支座内是否存在的装置和方法。

背景技术

自动系统可用于制造眼科产品，这已经在美国专利5,080,839中公开。这些系统已经达到了非常高的自动化程度。使透镜模制，然后从模中脱离，进一步加工，接着进行组装，所有这些均不用人进行干预。然而，即使利用自动化程度高的系统，也需要由人对每个组装件进行目视检查，以证实组装件内有透镜。这样的设计增加了人工的需要以及相关的劳动成本。没有经过证实接触透镜实际转换到组装件中的透镜自动装载可导致有百分之二以上的没有装载透镜的加工组件。这是利用人工装载透镜的一条生产线上所发现的平均比例的十倍以上。

在美国专利5568715中公开的一个现有技术系统中，在组装件中的透镜的探测是这样进行的，即对组装件背部照射散射光，并用录象机进行光学观察。在该系统中，组装件从顶部被照亮，位于组装件上面的照相机组件对组装件照相。该图象通过计算机图象处理系统进行处理，以确定透镜是否存在于组装件中。即使该方法操作相对良好，但是费用昂贵而且软件要很有效。

美国专利5,633,504中公开了检测水合接触透镜的系统和方法，该系统和方法是通过照亮透镜并用照相机对透镜中发出的荧光或在容器的某些部位发出荧光并由透镜挡住而成像。在优选的方法中，透镜带有紫外线吸收介质。在一个实施例中，具有某种波长的光导致透镜中有荧光并使透镜出现和暗区对比的亮区。透镜中的瑕疵比周围区域更暗。在另一个实施例中，通过把保持在容器或其它支撑体中的透镜一部分暴露到具有超出照相机所利用波长范围之外波长的光下，使透镜发出荧光。照相机所用这些波长不会产生透镜荧光，于是瑕疵呈现为透镜内的亮区。

因此，需要有一种新型的透镜探测系统，该系统应该具有低成本和高精度。该探测系统可用作自动探测系统的一部分，该自动探测系统包括运输和报废传送带，用于对自动探测系统确定的在组件中没有透镜的不合格组件进行报废。

发明内容

本发明的主要目的是提供一种系统和方法，该系统和方法通过对眼科产品/支座组合进行电磁辐射而证实放在支座内的眼科产品的存在以及可选择地探测其存在和位置。

本发明的另一个目的是提供一种证实在支座内是否有眼科产品存在的系统，其中该系统提供的探测精度大于1/100000。

本发明的再一个目的是提供一种证实在支座内是否有眼科产品存在的系统，其中该系统在制造和使用上很经济。

根据将在后面描述中很明显的上述目的和其它目的，本发明提供一种用于确定在支座内是否有如接触透镜等眼科产品的存在以及可选择地探测其位置的系统。透镜是可发出荧光，可吸收或反射、更好是可吸收或反射、最好是吸收与支座不同量的电磁辐射。这种不同可以是由于在透镜含有介质，该介质对特定波长范围的电磁能量的反应不同于支座对其的反应。支座包括透镜的容纳部，并且最好是至少部分由可基本上透过特定波长范围的电磁能量的材料构成。该探测系统包括一种用于探测支座内接触透镜的存在或位置的装置，包括：

(a)相对支座布置把光照射到支座上的光源；

(b)相对支座和光源布置探测来自光源的光的探测器，该光穿过接触透镜和支座或被接触透镜和支座反射；以及

(c)用于根据由接触透镜对光的吸收或反射确定在支座上接触透镜的存在或位置的处理器，其中，所述透镜包括可吸收或反射特定波长范围的光的介质，所述支座包括透镜的容纳部，由与透镜不同程度地吸收或反射光的材料制成。

该装置还可包括：

反射表面，使得支座位于光源和反射表面之间；和

相对支座和光源布置探测来自光源的光的探测器，所述光由接触透镜、支座和反射表面反射。

本发明还提供一种用于探测支座内接触透镜的存在或位置的方法，所述接触透镜包括可吸收或反射特定波长范围的光的介质，所述支座包括透镜的容纳部，由与透镜不同程度地吸收或反射光的材料制成，该方法包括：

(a)把光照到接触透镜和支座上，

(b)探测穿过接触透镜和支座或由该接触透镜和支座反射的光的缺少或减小；及

(c)处理探测到的光以确定在支座内接触透镜的存在或位置。

本发明提供了用于确定支座内接触透镜的存在以及可选择地确定其位置的相当简单和经济的系统。该系统不包括视觉系统，也不包括复杂的对图象象素逐一进行分析，即采用图象形态学来分析的软件。

附图说明

现在参照附图来具体描述本发明：

图1为本发明的缺少透镜探测装置的示意图，该图示出了在辐射源和探测器之间的支座。

图2为支座和位于其中的透镜的透视图。

图3为图2的支座和透镜的侧视图。

图4a为本发明的缺少透镜探测装置的另一个实施例以及支座的示意图。

图4b为本发明的缺少透镜探测装置的再一个实施例以及支座的示意图。

图5a为本发明的缺少透镜探测装置的传感器头的俯视图。

图5b为沿图5a中的A-A轴的剖面图。

图6a为本发明的缺少透镜探测装置的传感器头的另一个实施例的俯视图。

图6b为沿图6a中传感器头的A-A轴的剖面图。

图6c为沿图6a中传感器头的B-B轴的剖面图。

图6d为沿图6a中传感器头的C-C轴的剖面图。

图7为用于从探测器的输入端确定透镜存在的处理器的方框图。

图8为一列支座的俯视平面图。

图9为根据本发明的方法用于探测缺少透镜的自动系统示意图。

具体实施方式

这里采用的术语“支座”是指透镜的支撑容器。一般地，支座为由基体(如碗状体)和盖板(如衬板(1idstock))组成的凸泡组件。盖板例如可以是透明的塑料盖板或涂有箔片的塑料。术语“支座”在这里还表示不带盖板的基体。

图1中示出了缺少透镜探测装置，该装置用标号110来表示。探测装置110包括电磁辐射源112、探测器114和处理器116。辐射源112可以是宽带辐射源，该辐射源发出紫外线、可见光和红外线。例如，象Phillips光热灯泡P/NPL-S9W/10的可见光源可发出在紫外线频带的电磁辐射。或者，辐射源112可产生在窄频带的电磁辐射，或辐射源112与波长过滤器结合产生窄频带。例如，辐射源可产生窄频带的紫外线(波长或波长的范围在大约190纳米到400纳米内)。在另一个实施例中，辐射源112可在如紫外线和可见光频带的选择的范围组内产生电磁辐射。辐射源112可发出脉冲的或恒定的电磁辐射。较好的辐射源112发出波长范围从大约300纳米到大约400纳米，最好从大约300纳米到大约350纳米的紫外线的脉冲，每个脉冲间隔大约100微秒。辐射源最好位于离开探测器和支座的位置，电磁能量最好通过光导纤维、液体光缆或光导而传递到支座上。辐射源112可以是具有上述特征的在现有技术中已知或可购买到的任何光源。

探测器114可在特定范围内响应辐射波的波长，或者该探测器可以响应宽频带和/或与滤光器结合使用来探测需要的特定范围。探测器114可以是例如为光电二极管的分光计，或是光电传感器，或是测热计。探测器最好具有大约1毫米的直径，可测量在探测器区域检测到的全部电磁辐射。探测器114可以是具有上述特征的、可购买的、现有技术公知的、任何探测器。探测器114较好的是探测波长从大约300纳米到400纳米的光，更好是探测波长从大约300纳米到大约350纳米的光。用于图1中实施例的典型探测器114为Part No.US 365HFI-010.00，该探测器可从Sterling Virginia的电子仪器技术公司得到。因为该探测器利用了带通滤光器以把辐射减弱或限制到窄带宽，所以EIT探测器具有365纳米正负大约20纳米的波长辐射的敏感度。

本装置还包括一个或更多的其它的电磁辐射源和/或探测器。其它探测器的内部器件提高了本发明缺少透镜探测系统的精度和准确度。

根据本发明，几个辐射源和探测器频率范围的结合是可行的。例如，产生宽带电磁能量的辐射源112可和适于探测有限范围的探测器114一起使用。或者，辐射源112可产生有限的波长范围。而且，辐射源112和探测器114均可以相同的频带工作。

探测器114和例如为数字信号处理器的处理器116连接，以指示在载体或支座120内的如透镜的眼科产品118存在以及可选择地指示位置。较好的是应对该系统进行校准，于是透镜118不在支座120内时探测到的能量和透镜118在支座120内时探测到的能量之比至少为1.1∶1。更好的是，该比值为至少1.5∶1，最好大于2∶1。探测器114最好对限定数量的波长或波长范围敏感。例如，根据本发明的一个实施例，探测器114对大约为200纳米或更小的带宽敏感，较好的是对小于大约50纳米敏感，更好的是对小于大约25纳米的带宽敏感，最好是对大约10纳米或其以下敏感。

在一个实施例中，探测器对处理器发出信号能量输出，在处理器中该输出和标准值比较。对电子处理电路校准，以使该电路在一定范围的限定电压下工作，例如，8V信号表示透镜118不在支座上，3V信号表示透镜118在支座上。如果透镜阻断了所有的电磁辐射，例如由探测器探测到的UV辐射，那么电压信号就为零。可以建立预定的极限，例如当探测到的辐射产生大于5V的信号，就指示支座中的透镜118不存在。

类似地，探测器114可进行校准以指示透镜118在支座120中是否正确取向或不正确放置，例如沿下面将描述的支座容纳部或碗状体端部各个侧边是否正确取向或不正确放置。如果透镜118没有在正确的方向上放置，那么传输(小于吸收的辐射)或返回到探测器114的电磁能量可能小于阈值，该阈值指示透镜118正确放置。该信息由处理器利用或传输到控制器上以拒绝或接受支座。

本发明的处理器可以是对于本领域普通技术人员公知或是可购买得到的任何一种普通的处理器，最好是数字信号处理器。最佳处理器是可程序化地对从探测器传来的模拟信号进行分级。模拟信号的分级可通过下面过程获得：把模拟信号转换成数字信号，并通过阈值分级器和/或查表或通过把数字信号与由神经网络算法而建立的边界值比较而对数字信号进行分析。理论上处理器可分析模拟信号；然而这不是最好的。

在图1示出的一个实施例中，透镜118以图2和3所示的传统方式位于支座120的容纳部或碗状部。支座120具有大致为平面的顶部平面，并当从支座的顶部看时，碗状部大致是凹进的。透镜118位于碗状部122中，并最好浸没在液体中。或者，透镜118可完全浸没在含盐的溶液中。辐射源112和探测器114相对于支座120来放置，于是，如图1所示，电磁辐射直接射在支座120的碗状体122上。在该实施例中，支座120没有衬板。然而，在本实施例中的支座也可具有可透射的衬板。

在碗状体122内的透镜118的存在或其位置可确定为从透镜118和支座120经过或返回的电磁辐射吸收率的函数。和本发明一起使用的最佳接触透镜118带有防紫外线成分，该结构可吸收大约94％的UVA和UVB线。典型透镜材可买带Norbloc^牌防UV成分的Etafilcon^牌材料。这些透镜可买Jacksonville，Florida的Johnson & Johnson Vision Products，Inc.的商标为Surevue^和Acuvue^的产品。UV吸收透镜的制造在现有技术中是公知的，例如在美国专利5,399,692中已公开，该专利的公开内容在这里参照引用。其它公开可吸收UV辐射的接触透镜的专利包括美国专利4,390,676和4,528,311。也可通过UV光电引发器(photoinitiator)来吸收UV。

选择环绕支座材料，以便可与透镜相同程度地略微吸收或阻断紫外线辐射。具体地说，支座120内的塑料在辐射处于探测器114探测的敏感范围内与透镜118在相同程度上必须不吸收和阻断电磁辐射。可用于支座120的典型的塑料材料包括聚丙烯和聚苯乙烯，但并不限于此。于是，在支座120内的透镜118的存在及其位置可这样确定，把在如紫外线的特定光谱范围内、由探测器接收的电磁辐射电平和单独支座120的已知电平相比较而确定。处理电路116可根据由探测器接收的减小的电磁辐射来提供指示透镜118是否存在的信号。

在另一个实施例中，辐射源112可在红外线范围辐射电磁辐射。可通过把在探测器114内的红外辐射减小的电平和相应于空支座120的基准红外电平相比较，而指示透镜118的存在。支座最好包括如含水溶液的液体，以便使红外辐射从支座传输到透镜118。在支座120内的水溶液足够使透镜118表面湿润。在探测器114敏感的某些波长上，透镜118是红外线阻断器(吸收器)。虽然UV辐射目前是最好的，但测试证明利用这个方法效果很好。还可以在可见光谱范围利用电磁辐射。在该实施例中，使用色辉(tinted)透镜118，由此色辉透镜118可在探测器114敏感的可见光谱中吸收和阻断电磁能。同样，透镜118可比支座120更吸湿。这样由于透镜中存在水，该透镜可以与只有支座时不同的程度使电磁能吸收或返回。

图4a示出了本发明的缺少透镜探测装置的另一个实施例。该缺少探测装置200包括最好为紫外线辐射源的电磁辐射源202和四个探测器204、206、208和210。较好的是，探测器204、206、208和210探测紫外线，更好的是探测器检测具有大约300纳米到大约350纳米波长的紫外线。可有一些探测器，较好的是有一到一百个，更好的是一到二十个，最好是一到十个。在优选的实施例中，有四个用于探测来自单个辐射源的辐射的探测器，例如为光电二极管，以探测在支座内的接触透镜。可提供一定数量的辐射源，最好是每个支座对应一个。

把电磁辐射源202调好方向，于是可向容纳如透镜218的眼科产品的支座220进行辐射。支座220具有带反射表面211的衬板212，反射表面朝向支座220的内部及辐射源202。一般地，衬板带有箔片，然而也可带有其它本领域公知的反射材料。衬板最好大致是平的。探测器和辐射源位于支座的同一侧。辐射由衬板反射。

可选择的是，支座可带有基本上是透明的衬板，或不带衬板。探测器可和图1中示出的实施例相同而位于电磁辐射的另一端，或者如图4b所示，如平板213的反射表面可相对于支座220而布置在电磁辐射源202的相对端。反射板213的功能和衬板212的反射表面相同。没有示出的另外的选择是，平板位于碗状体下面，辐射源位于碗状体上面。

电磁辐射从辐射源220经过支座220传输，并通过衬板212或反射板213反射。如果透镜218存在，那么透镜就会吸收一些辐射源能量，这样，就有少量能量反射到探测器204、206、208和210。探测器204、206、208和210可提供与在相关频率范围内的探测能量有关的信号。该信号可放大、补偿，或者标称化，以用于后面的处理。本实施例中包括上述的处理电路。

较好的是，探测器204、206、208和210位于辐射源202的周围。更好的是，如图5a和5b的缺少透镜探测探头222中所示的，探测器204、206、208和210沿辐射源202周围径向均匀分布。探头222具有辐射源202和探测器204-210安装在其中的探头体224。较好的是，安装探测器204-210，以使它们朝向透镜的预期位置中心。在示出的实施例中，如图4a中所示，辐射源和探测器朝向标有209的支座201的碗状体的顶部中心。

图6a-6d示出了缺少透镜探测装置的探头226的另一个实施例。探头226具有探测器204、206和208安装在其中的探头体228。辐射源202偏离探头体228的中心，于是辐射源202不处在待探测的支座内透镜的下面(或上面)的中间位置。探测器204、206和208偏离布置在装置226的相对于布置辐射源202的一侧的另一侧。探测器204-208最好沿圆弧布置。而且辐射源202和探测器204-208朝透镜的预期位置成角度布置。辐射源和探测器最好朝向在图4a中标有209的碗状体顶部中心。在装置222和226中可包括另外的辐射源和探测器。

参见图4a，探测器204、206、208和210与如数字信号处理模块(DSP)的处理器216连接，以指示透镜218存在以及可以选择地指示位置。每个探测器最好发出相应于探测能量的放大信号电压，该信号电压转换成用于进一步处理的离散数字信号。该系统可如上述进行校准。

图7示出了包括阈值分级处理器238的缺少透镜探测装置一部分的方框图。如图7所示，探测器204-210提供接收到的反射能量的模拟指示，根据预定的电压范围由数字转化器230-236或类似装置分别把反射能量转换成数字表达。阈值分级器238根据这些数字表达确定透镜218是否存在于支座中。根据本发明的优选实施例，阈值分级器238利用查表确定透镜218的存在，该表包括对于每个数字表达组合的预定值。该查表可在校准过程中通过本领域公知的方法随时进行。

例如，如果有两个可能的数字表达，绿色和红色分别表示透镜218的存在及不存在，用于每个探测器探测到的信号，那么就有16(2⁴)个可能的组合。根据一个阈值分级器的方案(scheme)，如果探测器204-210的所有四个数字表达均是红色，阈值分级器238会认定透镜218不存在。对于任何其它组合，阈值分级器238则确定在支座220内透镜218存在。

可通过增加每个来自探测器可能的数字表达的数量，如减少预定电压范围的大小，来提高缺少透镜系统的精度。例如，如果有三个数字表达，绿色、黄色和红色分别表示透镜218的存在、可能存在和不存在，于是则有81(3⁴)个可能组合(与前面例子中的仅有16个组合相比)。根据一个阈值分级器方案，如果四个数字表达中的三个是红色的，以及四个表达是黄色的，阈值分级器238则确定透镜218不存在。而且，如果四个数字表达均为红色的，阈值分级器238也确定透镜218不存在。对于任何其它组合，阈值分级器238则确定透镜218存在于支座220中。

在优选实施例中，每个光电二极管(探测器)由十二位模拟-数字(A/D)转换器读取，该转换器把信号数字化成100多个，更好是1000多个，最好是4096个离散电平(作为记数)中的一个。如果光电二极管探测到没有辐射时，则记数为0。在最大强度时，记数为4096。于是，当透镜不存在时，击中探测器的光强校准达到计数的最大电平，在最佳模式下，为4096的输出。

在优选实施例中，用于探测在支座中透镜存在的装置包括探头，该探头包括一个辐射源和布置在该辐射源周围的四个探测器。优选的探头就象图5a和5b中示出的装置。优选的装置具有六个探头的阵列，以同时探测在六个支座内的接触透镜。

可利用上述的查表来完成操作；然而，在优选实施例中，操作是通过神经网络算法(neural net algorithm)处理器来进行的，该处理器把来自探测器的光电二极管的信号电平(计数)和用于接触透镜存在或不存在的算法中的计数范围进行比较。在神经网络中的计算范围的边界值是这样建立的：即通过使含有如10000个带有接触透镜的支座的教导组(teaching set)穿过由探测支座内接触透镜的装置组成的系统而建立。该教导组最好具有代表包括极端条件的产品环境的样品，极端条件例如当反射衬板折叠时。神经网络算法是基于感觉(percetron)模式的，当结果对于教导组是已知时，建立判断边界值。神经网络最好在探测器之间没有空间联系，而需要在成像焦平面阵列上象素之间建立空间联系。

在优选实施例中，电磁辐射源为由Hamamatsu制造的短弧齐纳(zenon)灯，该灯为结构光辐射源。来自辐射源的辐射集中在支座内接触透镜的预期位置，结果探测器没有被来自支座内的杂散光射到。在实施例中，在光源上还布置有滤光器，该滤光器具有电磁能量限制成可由透镜吸收的波长。在优选实施例中，光源是脉冲发射的，射到透镜较少，这样通过具有低强度的光，避免了在透镜中的化学变化或聚合物的破坏。在优选实施例中，光电二极管最好是由Advanced Photonix，United Detector Technology或Hamamatsu制造的硅光电二极管。探测器最好具有低-滤光器，该滤光器仅使低于400纳米的辐射通过。包括辐射源和探测器的探头由Applied Computing Technology，Oakridge，Tennessee制造。处理和控制连接电路和电子设备也是由Applied Computing Technology制造的。利用神经网络算法处理器可把信噪比提高到500∶1。

参见图8，图8示出了发泡支座324的俯视平面图，该支座324由六个单独支座320的直线阵列组成。每个支座320将由自动探测系统来探测，以确定每个单独支座是否在碗状体322中放有透镜318。支座320根据靠近并略微离开碗状体322的支座的第一侧来限定校准突耳326，以及根据支座320的第二侧来限定第二校准突耳。如果缺少任何透镜318，那么整个凸泡包装就报废。或者，在探测时，透镜318可容纳在单独的支座320中，于是在特定支座320中的透镜318的缺少不会导致整个支座组324的报废。

图9为利用了具有运输和报废装置的自动探测系统的装载透镜系统330的示意图。在美国专利5,568,715中公开了装载系统的细节，其中公开的内容在这里引用作为参考。系统330一般包括运输分系统332、缺少透镜探测器310、处理器316和控制器333。透镜(未示出)由把透镜运输到支座320内并可选择地把支座用衬板密封起来的透镜运载机构或装置334来传送。支座320通过传送带342如箭头示出的方向被传送到缺少透镜探测器310中。来自电磁辐射源312的辐射如箭头方向所示射到并穿过示出的支座320。辐射探测器314测量射在其中的辐射，在探测器内的处理电路316把测量到的辐射量输送到控制器333上。当反射衬板固定到支座320或反射板相对于支座320处于辐射源312的相对一端时，如图4a或4b所示的缺少透镜探测装置可替换缺少透镜探测器314。在优选实施例中，支座被密封，衬板具有反射性，并利用图4a、5a和5b中示出的装置和探头。安装在处理器316内的控制器333连接到报废机构336。在图中示出的以推杆形式的报废机构336在控制器333的控制下移动这些缺少透镜的支座320。没有探测透镜的支座320由推杆344推到另一个传送带(未示出)，该传送带把它们输送到废品仓库内。

在本实施例中，在水合后并在透镜传送到最后支座的碗状体后进行探测。透镜探测在施加含盐溶液及把衬板放置并固定到支座的碗状体之前或之后进行。探测步骤最好在检验步骤之后进行，检验步骤利用观察系统和复杂的软件，在水合步骤之前进行。更好的是，探测步骤在衬板固定到支座之后进行，以确保最后的支座容纳有透镜。

这里提到的所有专利、出版物、申请文件和测试方法被参照地引用。

根据上述详细描述，本领域技术人员可对本发明进行许多变化。所有这些变化均包括在所附权利要求书请求的保护范围内。

Claims (17)

1.一种用于探测支座内接触透镜的存在或位置的装置，包括：

(a)相对支座布置把光照射到支座上的光源；

(b)相对支座和光源布置探测来自光源的光的探测器，该光穿过接触透镜和支座或被接触透镜和支座反射；以及

(c)用于根据由接触透镜对光的吸收或反射确定在支座上接触透镜的存在或位置的处理器，其中，所述透镜包括可吸收或反射特定波长范围的光的介质，所述支座包括透镜的容纳部，由与透镜不同程度地吸收或反射光的材料制成。

2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于：支座包括可反射光的反射箔片。

3.根据权利要求1所述的装置，其特征在于：光源发出波长在紫外线范围内的光。

4.根据权利要求3所述的装置，其特征在于：光源发出波长在紫外线范围内的脉冲的光。

5.根据权利要求1所述的装置，其特征在于：光源发出波长在红外线范围内的光。

6.根据权利要求1所述的装置，其特征在于：接触透镜含有紫外线吸收介质，该介质吸收在紫外线范围内的光。

7.根据权利要求1所述的装置，其特征在于：所述处理器包括查表。

8.根据权利要求6所述的装置，其特征在于：所述处理器包括神经网络算法装置。

9.根据权利要求1所述的装置，其特征在于：光源发出在可视范围内的光，所述接触透镜具有色辉。

10.根据权利要求1所述的装置，其特征在于：所述探测器对所述特定范围的光敏感。

11.根据权利要求1所述的装置，其特征在于：除了所述光源和所述探测器之外，还包括一组光源和一组彼此相对布置的用于探测支座内接触透镜存在或位置的探测器。

12.根据权利要求1所述的装置，其特征在于：所述探测器为分光计。

13.根据权利要求12所述的装置，还包括滤光器。

14.根据权利要求1所述的装置，其特征在于：除了所述光源和所述探测器之外，还包括一到一百个探测器。

15.根据权利要求1所述的装置，其特征在于：除了所述光源和所述探测器之外，还包括一到二十个探测器。

16.根据权利要求1所述的的装置，还包括：

反射表面，使得支座位于光源和反射表面之间；且

所述光由接触透镜、支座和反射表面反射。

17.一种用于探测支座内接触透镜的存在或位置的方法，所述接触透镜包括可吸收或反射特定波长范围的光的介质，所述支座包括透镜的容纳部，由与透镜不同程度地吸收或反射光的材料制成，该方法包括：

(a)把光照到接触透镜和支座上，

(b)探测穿过接触透镜和支座或由该接触透镜和支座反射的光的缺少或减小；及

(c)处理探测到的光以确定在支座内接触透镜的存在或位置。

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