CN1193237C - 一种用于辅助装置的测量测试仪表电压管理系统 - Google Patents
一种用于辅助装置的测量测试仪表电压管理系统 Download PDFInfo
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Abstract
用于辅助装置的测量测试仪表电压管理系统具有向配置在辅助装置上的存储装置提供电压的辅助装置接口。当辅助装置连接到接口时,读出电路从辅助装置接收读出信号。读出电路产生输出到控制器的中断信号。控制器启动经由接口输出到辅助装置的时钟信号,以便检索存储在存储装置的辅助装置数据。控制器确定所连接的辅助装置是否是有效的装置并且能够得到测量测试仪表支持。控制器产生用于输出到电压切换电路的有效的配套装置的启动信号。电压切换电路产生至少一个第一输出电压,经由接口输出到辅助装置以便向辅助装置提供电源。
Description
技术领域
本发明一般涉及测量测试仪表,更准确地说,涉及用于一个或多个辅助装置的具有电压管理系统的测量测试仪表。
背景技术
用于从被测部件获得电信号的典型的测量探头具有经由传输电缆例如同轴电缆连接到终端盒的探测头。探测头具有导电空心管,后者具有配置于其中的基片。基片具有无源和/或有源电路以便防止使测试装置过负荷。空心管的一端具有设置于其中的绝缘插头,从插头中双向伸出同轴配置的探测接点或插座。探测接点或插座伸入空心体内的那部分电气连接到基片。基片的另一端连接到传输电缆的一端,并且,如果有的话,连接到电压电源线、时钟线和数据线。传输电缆的另一端连接到终端盒的补偿电路。终端盒具有诸如BNC型连接器的同轴信号连接器、以及用于连接测量探头到测量测试仪表例如示波器等的电源、时钟和数据连接器。
高频测量探头要求高输入电阻以及低输入电容。一般地,这类探头具有用于低电路负载的有源FET输入以及具有大到4GHz以上的频带宽度。此类探头的例子是P6245有源FET探头,由Tektronix,Inc.,Beaverton,Oregon和本申请受让人制造和出售。如USP4,708,661所述,P6245具有由一系列电压、时钟和信号插脚围绕的BNC公型信号连接器。电压插脚向探测头和配置在终端盒中的终端盒电路和存储装置提供±5v和±15v。存储装置包含有与特定探头相关的存储数据,如探头类型、校正因数值和偏心值。经由时钟插脚向存储装置提供时钟信号,而存储在所述存储器的数据经由数据插脚读出,提供给测量仪表。
柔性或硬性印刷电路围绕测量测试仪表面板上匹配的BNC母型连接器。印刷电路具有多个结束于端点的电路通道。测量探头的插脚与柔性印刷电路上的端点接合。电路通道连接到仪表内部的电压源、时钟电路和数据线,并提供全部信号和电源线以便给有源探头供电并操作有源探头。当测量探头连接到测量测试仪表时,立即给探头提供电源。
计算机业已经开发了用于向通电的计算机系统添加和从其中去除插件或外围装置的方法,称作“热交换”。如该术语所暗示的,插件或外围装置插入的连接器的电压插脚上具有电源电压。各种技术用来为插件或外围装置上电而不产生涌流或增加系统电源的负荷。一种技术在插件或外围装置使用可变长度触点以便最初将连接器上的电压电源连接到RC斜坡电路和相关的控制回路。该RC电路和相关的电路在将电压提供给插件上电路的其余部分之前,使插件上的电源电压倾斜上升直到达到期望电平。另一种技术需要用户使一个特别的连接器插槽掉电,插入插件或外围装置,然后对连接器插槽加电。
“热交换”现有技术的一个缺点是在系统确定插件或外围装置的类型和配置它用于该系统之前加电。系统不知道该插件或外围装置是否兼容,是否它会提取过度的电流量,或增加的插件或外围装置是否会使全部所连接的装置提取的电流总量超过一个或多个电源的最大电流额定值。另外,大部分“热交换”技术需要在插件或外围装置上配置RC网络和开关电路。在测量探头提供这样的电路会增加终端盒的尺寸和增加探头成本。
发明内容
本发明的目的是提供一种测量测试仪表电压管理系统用于辅助装置,如测量探头,在该装置接通电源之前检验所连接的装置是有效的配套装置。该电压管理系统还将监控每一个所连接的装置以便确定新连接的装置是否导致从一个或多个电源提取过量的电流。此外,该电压管理系统将提供无效或不被支持的装置和新连接的装置是否使电源过载的指示。
因此,本发明是一种用于一个或多个辅助装置,如测量探头、摄像机、信号源、被测部件等的测量测试仪表和相关的电压管理系统。
根据本发明提供了一种用于辅助装置的测量测试仪表电压管理系统,它包括:
配置在测量测试仪表上的至少一个第一辅助装置接口,它具有读出线、电压输入线、时钟和数据线,以及至少一个第一电压电源输入线,其中,所述电压输入线向配置在所述辅助装置的存储装置提供电压;读出电路,当辅助装置连接到所述测量测试仪表的辅助装置接口时,它经由所述接口读出线从所述辅助装置接收读出信号,同时,所述读出电路响应所述读出信号而产生中断信号;控制器,它接收所述中断信号,并且经由所述接口时钟线启动输出到所述辅助装置的时钟信号,以便经由所述数据线检索存储在所述辅助装置的存储装置中的辅助数据,确定连接的所述辅助装置是否是有效的装置并且能够得到所述测量测试仪表的支持,所述控制器启动用于有效的被支持的辅助装置的启动信号的产生;以及至少一个第一电压开关电路,它连接成接收所述启动信号并且产生至少一个第一输出电压,所述第一输出电压经由所述辅助装置接口的所述电压电源输入线连接到所述辅助装置。
其中,所述控制器还包括一个主控制器和经由所述数据和时钟线连接到所述辅助接口的总线控制器,所述总线控制器还经由包括中断线、数据线和时钟线的通信总线连接到所述读出电路和经由一个串行总线连接到所述主控制器,并且,所述总线控制器响应所述主控制器发出的时钟启动命令,将所述中断信号从所述读出电路连接到所述主控制器、并产生输出到所述辅助装置的时钟信号,并且将辅助装置数据传送到所述主控制器、并将启动命令从所述主控制器传送到所述读出电路。
所述电压管理系统还包括连接在所述读出电路和所述电压开关电路之间的启动线,并且,所述读出电路具有连接到所述启动线的启动信号锁存器,所述启动信号锁存器响应所述控制器发出的启动信号启动命令,产生启动信号。
所述测量测试仪表具有显示装置,并且所述控制器还包括用于当无效和不被支持的辅助装置连接到所述装置接口时产生显示在所述显示装置上的警告信息的装置。
其中当响应取消来自所述读出电路的所述读出信号而取消所述中断信号时,为了响应所述控制器启动消除输出到所述电压开关电路的所述启动信号,从所述电压电源输入线消除来自所述电压开关电路的输出电压。
所述电压开关电路还包括多个输出电压,它们经由所述辅助装置接口的多根电压电源输入线连接到所述辅助装置。
其中当响应取消来自所述读出电路的所述读出信号而取消所述中断信号时,为了响应所述控制器启动消除输出到所述电压开关电路的所述启动信号,从所述多根电压电源输入线消除来自所述电压开关电路的多个输出电压。
所述电压管理系统还包括:多个辅助装置接口,每个接口能够接受辅助装置,后者产生输出到所述读出电路的读出信号,所述读出电路产生输出到所述控制器的中断信号,同时,所述控制器启动每个辅助装置的时钟信号以便检索来自每个装置的各自的辅助数据,确定所述连接的辅助装置是否是有效的装置并且能够得到所述测量测试仪表的支持,同时,所述控制器启动用于有效的被支持的辅助装置的启动信号的产生;以及多个电压开关电路,每个电路连接成接收来自所述控制器、用于具有所述连接的辅助装置并且产生至少一个第一输出电压的所述辅助装置接口的所述启动信号,所述第一输出电压经由所述辅助装置接口的所述电压电源输入线连接到所述辅助装置。
所述控制器还包括一个主控制器和经由所述数据和时钟线连接到所述辅助接口的总线控制器,所述总线控制器还经由包括中断线、数据线和时钟线的通信总线连接到所述读出电路和经由一个串行总线连接到所述主控制器,并且,所述总线控制器响应所述主控制器发出的时钟启动命令,将所述中断信号从所述读出电路连接到所述主控制器、并产生输出到所述辅助装置的时钟信号,并且将辅助装置数据传送到所述主控制器、并将启动命令从所述主控制器传送到所述读出电路。
所述电压管理系统还包括多根启动线,每根启动线连接于所述读出电路和所述多个电压开关电路之一之间,同时,所述读出电路具有多个启动信号锁存器,每个锁存器连接到所述启动线之一,以便响应所述控制器发出的启动信号启动命令而产生所述启动信号。
所述多个电压开关电路中的每一个还包括多个输出电压,它们经由多个辅助装置接口的多根电压电源输入线连接到辅助装置。
其中存储在每一个所述辅助装置中的所述辅助数据包括输出电压电流提取值,所述控制器还包括用于将各个附装的所述辅助装置的电流提取值相加的装置和用于比较总电流提取值与最高输出电压电流提取值的装置,当所述总电流提取值小于所述最大输出电压电流提取值时,产生启动信号。
所述控制器还包括产生警告信息的装置,当所述辅助装置连接到所述测量测试仪表并且所述总电流提取值大于所述最大输出电压电流提取值时,所述产生警告信息的装置产生显示在所述显示装置上的警告信息。
其中,存储在每一个所述辅助装置的辅助数据包括多个输出电压中每一个输出电压的输出电压电流提取值,所述控制器还包括用于将各个附装的所述辅助装置的每一个所述输出电压的电流提取值相加的装置和用于比较每一个所述输出电压的总电流提取值与每一个输出电压的最高输出电压电流提取值的装置,当所述每一个输出电压的总电流提取值小于所述最大输出电压电流提取值时,产生启动信号。
所述控制器还包括产生警告信息的装置,当所述辅助装置连接到所述测量测试仪表并且所述每一输出电压的总电流提取值大于所述最大输出电压电流提取值时,所述产生警告信息的装置产生显示在所述显示装置上的警告信息。
从以下的详细描述、连同阅读所附的权利要求书和附图,将明白本发明的目的、优点和新特征。
附图说明
图1是实施根据本发明的辅助装置电压管理系统的具有附装的辅助装置的测量测试仪表的透视图。
图2是包括根据本发明的辅助装置电压管理系统的测量测试仪表的典型的方框图。
图3是包括根据本发明的辅助装置电压管理系统的最佳实施例的更详述的方框图。
图4是根据本发明的电压管理系统内的读出电路的典型的电路图。
图5是根据本发明的电压管理系统内的电压开关电路的典型的示意图。
图6是根据本发明的电压管理系统内的电压开关电路的电压输出电平的图解表示。
具体实施方式
参考图1,图中示出具有插入式辅助装置12如测量探头、信号源、摄像机等的测量测试仪表10,如示波器、逻辑分析仪、频谱分析仪、网络分析仪等。在最佳实施例中,测量测试仪表10具有用于显示来自被测部件的信号、视频图像等的显示装置14。一个或多个辅助接口16配置于测量测试仪表10,用于把多个辅助装置连接到仪表。一般地,测量测试仪表10包括控制面板18,如旋钮、按钮等,用于控制仪表的设置。另一方面,所述各种面板控制可以用图形方式产生并显示在显示装置14上,由用户控制。如图2的测量测试仪表的更详细的典型的方框图所示,每个辅助接口16具有同轴信号输入线以及一系列电压电源、时钟、数据、读出和存储电源线。
图2的方框图显示一个或多个辅助装置12,能够连接到测量测试仪表10的一个或多个辅助接口16。辅助装置12具有信号输入接头20,如BNC连接器、BMA连接器等的一半。辅助装置12还具有存储装置22,如EPROM,后者包含辅助装置的特定数据,如装置类型、校准因子、偏移值、电流提取值等等。辅助装置12具有连接到辅助接口16中的相应的触点或插脚的连接器插脚或触点,以便与该装置进行信号和电压电源连接。
辅助接口16具有信号输入连接器20的另一半和用于连接该辅助装置的插脚或触点。在本发明的最佳实施例中,辅助接口16具有连接到辅助装置12的接触焊盘的镀金弹簧单高跷型(pogo)插脚。各接口16具有连接到读出电路26的读出线24。各接口16还具有连接到向辅助装置12提供电压电源的相应的电压开关电路30的一个或多个电压电源线28。电压线32连接到各接口16,以便对所连接的装置12的存储装置22提供电压电源。每个接口还具有连接到存储装置22的时钟/数据线34,用于存储装置存储的数据的定时输出(clocking out)。中断线36将读出电路26连接到控制器38。来自辅助接口16的时钟/数据线34也连接到控制器38。各电压开关电路30经由启动线40连接到控制器38。
控制器38,如Intel,Corp,Santa Clara,CA,生产和销售的CELERON或PENTIUM微处理器,经由系统总线44连接到内存42。内存42既代表RAM、ROM又代表具有存储易失数据、如由采集系统(未显示)产生的输入信号的数字数据样值等的RAM内存的高速缓冲存储器。系统总线44同时连接到显示装置14,如液晶显示器、阴极射线管等,并且连接到控制面板18,后者可以包括控制输入设施,如键盘和/或鼠标以及旋钮和按钮。大容量存储器单元(一个或多个)46,如硬盘驱动器、CDROM驱动器、磁带机、软盘驱动器等等,从适当的大容量存储器媒体读出和/或写入,也可以连接到系统总线44。用于控制测量测试仪表10、实施电压管理系统的程序指令可以存储在ROM内存42或大容量存储单元46的大容量存储媒体中并对其进行访问。测量测试仪表最好使用由Microsoft,Corp.,Redmond,WA生产和销售的WINDOWS98或类似的操作系统控制的PC机系统。上述测量测试仪表的控制器38也可以使用多个控制器和数字信号处理装置实现。例如,可以包括第二控制器,如Motorola,Inc.,Schaumburg,IL,制造和出售的PowerPC微处理器,以便控制输入数据信号的采集和处理。显示装置14可以通过显示控制器接收来自主控制器的显示指令和接收来自数字信号处理装置的显示数据进行控制。也可以包括总线控制器,以便监控用于所连接的辅助装置12的辅助接口16,提供辅助接口16、读出电路26和控制器38之间的通信。
具有电压管理系统的测量测试仪表10的一般操作开始于把辅助装置12连接到辅助接口之一。辅助装置12的连接导致通过连接到读出电路26的读出线产生读出信号。读出电路26响应该读出信号,通过中断线36产生中断信号。中断信号连接到控制器38,控制器38在程序控制下处理中断并产生经由辅助接口16连接到辅助装置12的时钟信号。时钟信号将存储在内存22的辅助装置数据定时输出到控制器38。控制器接收辅助装置数据并且根据数据确定辅助装置是否是有效的装置并且得到测量测试仪表10的支持。例如,如果辅助装置执行不被测量测试仪表支持的辅助特征或需要比来自仪表的有效电流更大的电流,则控制器38将该装置12视为不被支持的探头。控制器38响应有效的配套辅助装置,产生经由启动线40连接到电压开关电路30的启动信号。电压开关电路30经由电压线28产生输出供电电压以便为辅助装置12供电。如果无效或不被支持的辅助装置12连接到辅助接口16,则控制器38不产生输出到电压开关电路30的启动信息,因而不向辅助装置12提供电源。另外,控制器38也可以产生显示在显示装置14上的错误信息,表明所连接的装置12是无效或不被支持的装置。
此外,存储在辅助装置内存22的数据可以包括电流提取值,表明装置会从仪表电源得到多少电流。内存42包含有最大电流提取值,表明辅助装置12的任何结构可以从仪表电源得到的最大电流量。在程序控制操作下的控制器,将连接的辅助装置12的电流提取值相加,并将总值与最大电流提取值比较。如果最后连接的辅助装置的电流提取值使总电流提取值超过最大电流提取值,则控制器38不产生输出到所连接的装置的启动信号。控制器38也可以产生显示在显示装置上的错误信息,表明最后连接的辅助装置12由于从电源提取过量的电流而不能供电。
从辅助接口16去掉辅助装置12会取消读出线24上的读出信号,导致产生经由中断线36连接到控制器38的中断。控制器38取消启动线40上的启动信号导致电压开关电路30从接口16取消电压电源。
参考图3,图中示出说明本发明最佳实施例的具有辅助装置电压管理系统的测量测试仪表10的更详细的方框图。与上述图中相同的元件标号也相同。每个辅助装置12具有存储装置22,后者当辅助装置12连接到辅助接口16时经由电压线32接收电压电源。每个装置可以具有电路50,后者经由电压输出线28从与辅助接口16关联的电压开关电路30接收电压电源。在最佳实施例中,电压开关电路提供±5伏和±15伏、以便给辅助装置12中的电路50供电。经由连接到每一个辅助接口16的接地线52配置向每一个辅助装置12提供仪表接地线。每一个辅助装置12具有连接到读出线24的传感输出连接线54。在本发明的最佳实施例中,传感输出连接54连接到接地线,该地线通过读出线24产生有效的低电平输出。每个接口具有时钟和数据线56和58,对应于图2中连接到存储装置22的时钟/数据线路34。为了使主控制器66免于不断地监控和与辅助接口16以及读出电路26通信,数据和时钟线56和58连接到总线控制器60,后者通过时钟线58产生同步脉冲输出信号并且通过数据线56从辅助装置的内存22接收数据。读出电路26经由包括中断线、时钟线以及数据线的三线通信总线62连接到总线控制器60,对应于图2的中断线36。总线控制器60通过另一串行总线64、如具有TTL逻辑电平的R5232型总线,连接到主控制器66。或者,来自读出电路的中断线可以直接地连接到控制器66。最佳实施例中的启动线40从读出电路28连接到电压开关电路30。控制器66经由系统总线44连接到先前描述的外围装置14,18,42以及48。
参考图4,图中示出读出电路28的典型的示意图,该图连同图3和5将用于描述测量测试仪表10中的电压管理系统。每个辅助接口16具有连接到读出电路26的读出线24。读出电路通过经由电阻器70在线路24上施加正电压,将每一读出线24设置为有效高电平状态。通过二极管72提供用于线路24的过电压保护装置。辅助装置12到辅助接口16的连接将读出线24连接到产生输出到读出电路26的有效低电平信号的接地的传感输出连接54。或者,可以把读出线24设置为有效低电平状态,而辅助装置12利用内存电压电源产生有效高电平信号。读出线24连接到I/O扩展器集成电路74,如Philips Semiconductor Products,Sunnyvale,CA制造、零件号码PCF8574A的I/O扩展器集成电路。I/O扩展器74经由具有时钟和数据线的通信总线62的双线串联的双向总线,提供用于总线控制器60的远程I/O扩展。扩展器74还具有经由通信总线62的中断线连接到控制器60中的中断逻辑电路的中断输出。通过经由所述线路读出中断信号,远程I/O扩展器74可以通知总线控制器60是否有通过它的端口而不必经由串联的双向总线通信的输入数据。
如上所述,辅助装置12到辅助接口16之一的连接在读出线24上产生有效低电平信号,导致I/O扩展器74产生经由通信总线中断线62连接到总线控制器60的有效低电平中断信号。如果读出电路中断线连接到所述控制器,则该控制器60或控制器66作出回应,轮询读出线24以便确定哪个线路已经转换为有效低电平。总线控制器60经由串行总线64将读出线信息传递到控制器66。控制器66作出回应,指示总线控制器60启动经由时钟线58连接到连接的辅助装置12的时钟信号。该时钟信号经由数据线56将内存22中存储的数据定时输出到总线控制器60,总线控制器60经由串行总线64依次将数据连接到控制器66。辅助装置数据通过存储于内存42的程序控制下的控制器66进行处理,以便检验所连接的辅助装置12是否是有效的并受到测量测试仪表10支持。一旦处理器66确定辅助装置是有效的并受到支持,则它发信号到总线控制器60以便启动连接到辅助接口16的电压开关电路30。总线控制器60运用存储的协议经由通信总线62的时钟和数据线将数据定时输入I/O扩展器74,以便把各种值装入多个输出锁存器,每个输出锁存器连接到启动线40之一。有源辅助接口连接器的输出锁存器提供连接到与该有源接口连接的电压开关电路30的有效低电平启动信号。
图5是电压开关电路30的典型的示意图,电压开关电路30产生经由电压线路28加到辅助接口的输出电压。在最佳实施例中,电压开关电路30产生±5伏和±15伏的输出电压。但是,在不脱离本发明的范围的情况下,电压开关电路30可以实现一个到任意多个输出电压。有效低电平启动信号连接到各自的双极晶体管80和82的基极,驱动各自的场效应晶体管FET84和86。该启动信号还通过换向器88连接到双极晶体管90和92各自的基极,驱动各自的FET晶体管94和96。FET场效应晶体管84、86、94和96是大电流器件,具有四根源极连接线、三根漏极连接线、和一根栅极连接线,如Fairchild Semiconductor Corp.,South Portland,Maine,制造的,其中FET晶体管84和86以零件号码FD56690A销售,FET晶体管94和96以零件号码FD59435A销售。积分电容器98、100、102和104分别连接于各FET晶体管84、86、94和96的栅极和漏极之间。各FET晶体管84、86、94和96的电压输出通过各自的多保险丝(polyfuses)106、108、110和112,经由连接到电压开关电路30的电压电源线28,连接到各自的辅助接口16。
激励晶体管80、82上的有效高电平信号和激励晶体管90和92的有效低电平信号将晶体管偏置成不导通的截止状态。通过在晶体管80和82的基极施加有效低电平启动信号以及在晶体管90和92的基极施加本发明的启动信号而将所述晶体管偏置成导通状态。激励晶体管80以及90的集电极具有串联的电阻器120和122、以及124和126,它们形成分压网络。分压网络的中间抽头连接到FET晶体管84和94的栅极。激励晶体管82和92的集电极通过电阻器128和130连接到各自的负的和正的电压源。FET晶体管86和96的栅极被通过激励晶体管82和92连接到各自的正的和负的电源的偏置电阻132和134偏置。FET晶体管栅极上的电压驱动器件进入导通状态。在每一FET晶体管上的积分电容器98、100、102和104控制每个器件的电压输出以便产生如图6所示的斜坡电压输出。如图所示,来自FET晶体管84、86、94和96的斜坡电压输出大体上同时达到工作电平。为了实现这种大体上同时的电压输出,用于±5伏电源的积分电容器必须不同于用于±15伏电源的积分电容器。在最佳实施例中,横跨FET86和96的积分电容器100和104具有0.1μf范围内的数值,而横跨FET84和94的积分电容器98和102具有0.047μf范围内的数值。虽然是以输出电压大体上同时达到工作电平的形式描述本发明的,但是各输出电压可以顺序地提供给辅助装置12。由于辅助装置电路50的加电启动的需要,例如闭锁问题等,本发明可以以输出电压以连续的方式达到工作电平的方式实现。
如上所述,在测量测试仪表10的电压开关系统的一般操作中,控制器38具有当连接的辅助装置不是有效的或不被测量测试仪表10支持时产生信息的装置。此外,辅助装置具有用于每一电压电源的存储的电流提取值。控制器38还具有将每一电流提取值相加的装置和将每一总量值与存储的各电压电源的最大电流提取值比较的装置。
已经描述了具有一个或多个接纳辅助装置的辅助装置接口的测量测试仪表和相关的电压管理系统。每个辅助装置具有连接到电压管理系统、用于经由电压管理系统的电压输入线接收电压的存储装置。辅助装置接口具有读出线、电压输入线、时钟和数据线,以及至少一个第一电压电源输入线。当辅助装置连接到辅助接口时,读出电路经由接口读出线从辅助装置接收读出信号。读出电路响应该读出信号,产生连接到控制器的中断信号。控制器响应该中断信号,经由接口时钟线启动输出到辅助装置的时钟信号,以便经由数据线检索存储在辅助装置的存储装置上的辅助数据。控制器根据检索的辅助数据确定连接的辅助装置是否是有效的装置并且能够得到测量测试仪表的支持。控制器产生用于连接到电压开关电路的有效的配套装置的启动信号。电压开关电路响应该启动信号,至少产生第一输出电压,后者经由辅助装置接口的电压电源输入线连接到辅助装置。
在本发明最佳实施例中,控制器可以包括用于执行并行程序的多个控制器。这样配置总线控制器,使得它连接到读出电路、辅助装置接口以及主控制器。总线控制器从读出电路接收中断信号并将其传送到主控制器。所述控制器使总线控制器轮询读出电路以便确定哪个辅助接口已经连接有辅助装置。然后该控制器启动总线控制器产生时钟信号,以便检索来自辅助接口的存储数据。该主控制器处理该检索数据以便确定所连接的装置是否是有效的配套装置并发出启动命令到总线控制器。总线控制器输出存储的协议到读出电路以便产生输出到电压开关电路的启动信号。
测量测试仪表可以装备有显示装置,同时控制器具有当无效与不被支持的辅助装置连接到装置接口时产生显示在显示装置上的警告信息的装置。警告信息产生装置还可以在辅助装置连接到测量测试仪表并且总电流提取值大于最大输出电压电流提取值时产生警告信息。
显然,专业技术人员了解,上述实施例的细节在不脱离本发明的原则的情况下可以有许多变化。所以本发明的范围将仅仅由下列权利要求书确定。
Claims (15)
1.一种用于辅助装置的测量测试仪表电压管理系统,它包括:
配置在测量测试仪表上的至少一个第一辅助装置接口,它具有读出线、电压输入线、时钟和数据线,以及至少一个第一电压电源输入线,其中,所述电压输入线向配置在所述辅助装置的存储装置提供电压;
读出电路,当辅助装置连接到所述测量测试仪表的辅助装置接口时,它经由所述接口读出线从所述辅助装置接收读出信号,同时,所述读出电路响应所述读出信号而产生中断信号;
控制器,它接收所述中断信号,并且经由所述接口时钟线启动输出到所述辅助装置的时钟信号,以便经由所述数据线检索存储在所述辅助装置的存储装置中的辅助数据,确定连接的所述辅助装置是否是有效的装置并且能够得到所述测量测试仪表的支持,所述控制器启动用于有效的被支持的辅助装置的启动信号的产生;以及
至少一个第一电压开关电路,它连接成接收所述启动信号并且产生至少一个第一输出电压,所述第一输出电压经由所述辅助装置接口的所述电压电源输入线连接到所述辅助装置。
2.权利要求1的电压管理系统,其特征在于:所述控制器还包括一个主控制器和经由所述数据和时钟线连接到所述辅助接口的总线控制器,所述总线控制器还经由包括中断线、数据线和时钟线的通信总线连接到所述读出电路和经由一个串行总线连接到所述主控制器,并且,所述总线控制器响应所述主控制器发出的时钟启动命令,将所述中断信号从所述读出电路连接到所述主控制器、并产生输出到所述辅助装置的时钟信号,并且将辅助装置数据传送到所述主控制器、并将启动命令从所述主控制器传送到所述读出电路。
3.权利要求2的电压管理系统,其特征在于还包括连接在所述读出电路和所述电压开关电路之间的启动线,并且,所述读出电路具有连接到所述启动线的启动信号锁存器,所述启动信号锁存器响应所述控制器发出的启动信号启动命令,产生启动信号。
4.权利要求1的电压管理系统,其特征在于:所述测量测试仪表具有显示装置,并且所述控制器还包括用于当无效和不被支持的辅助装置连接到所述装置接口时产生显示在所述显示装置上的警告信息的装置。
5.权利要求1的电压管理系统,其特征在于:当响应取消来自所述读出电路的所述读出信号而取消所述中断信号时,为了响应所述控制器启动消除输出到所述电压开关电路的所述启动信号,从所述电压电源输入线消除来自所述电压开关电路的输出电压。
6.权利要求1的电压管理系统,其特征在于:所述电压开关电路还包括多个输出电压,它们经由所述辅助装置接口的多根电压电源输入线连接到所述辅助装置。
7.权利要求6的电压管理系统,其特征在于:当响应取消来自所述读出电路的所述读出信号而取消所述中断信号时,为了响应所述控制器启动消除输出到所述电压开关电路的所述启动信号,从所述多根电压电源输入线消除来自所述电压开关电路的多个输出电压。
8.权利要求4的电压管理系统,其特征在于还包括:
多个辅助装置接口,每个接口能够接受辅助装置,后者产生输出到所述读出电路的读出信号,所述读出电路产生输出到所述控制器的中断信号,同时,所述控制器启动每个辅助装置的时钟信号以便检索来自每个装置的各自的辅助数据,确定所述连接的辅助装置是否是有效的装置并且能够得到所述测量测试仪表的支持,同时,所述控制器启动用于有效的被支持的辅助装置的启动信号的产生;以及
多个电压开关电路,每个电路连接成接收来自所述控制器、用于具有所述连接的辅助装置并且产生至少一个第一输出电压的所述辅助装置接口的所述启动信号,所述第一输出电压经由所述辅助装置接口的所述电压电源输入线连接到所述辅助装置。
9.权利要求8的电压管理系统,其特征在于:所述控制器还包括一个主控制器和经由所述数据和时钟线连接到所述辅助接口的总线控制器,所述总线控制器还经由包括中断线、数据线和时钟线的通信总线连接到所述读出电路和经由一个串行总线连接到所述主控制器,并且,所述总线控制器响应所述主控制器发出的时钟启动命令,将所述中断信号从所述读出电路连接到所述主控制器、并产生输出到所述辅助装置的时钟信号,并且将辅助装置数据传送到所述主控制器、并将启动命令从所述主控制器传送到所述读出电路。
10.权利要求9的电压管理系统,其特征在于还包括多根启动线,每根启动线连接于所述读出电路和所述多个电压开关电路之一之间,同时,所述读出电路具有多个启动信号锁存器,每个锁存器连接到所述启动线之一,以便响应所述控制器发出的启动信号启动命令而产生所述启动信号。
11.权利要求8的电压管理系统,其特征在于:所述多个电压开关电路中的每一个还包括多个输出电压,它们经由多个辅助装置接口的多根电压电源输入线连接到辅助装置。
12.权利要求8的电压管理系统,其特征在于:存储在每一个所述辅助装置中的所述辅助数据包括输出电压电流提取值,所述控制器还包括用于将各个附装的所述辅助装置的电流提取值相加的装置和用于比较总电流提取值与最高输出电压电流提取值的装置,当所述总电流提取值小于所述最大输出电压电流提取值时,产生启动信号。
13.权利要求12的电压管理系统,其特征在于:所述控制器还包括产生警告信息的装置,当所述辅助装置连接到所述测量测试仪表并且所述总电流提取值大于所述最大输出电压电流提取值时,所述产生警告信息的装置产生显示在所述显示装置上的警告信息。
14.权利要求11的电压管理系统,其特征在于:存储在每一个所述辅助装置的辅助数据包括多个输出电压中每一个输出电压的输出电压电流提取值,所述控制器还包括用于将各个附装的所述辅助装置的每一个所述输出电压的电流提取值相加的装置和用于比较每一个所述输出电压的总电流提取值与每一个输出电压的最高输出电压电流提取值的装置,当所述每一个输出电压的总电流提取值小于所述最大输出电压电流提取值时,产生启动信号。
15.权利要求14的电压管理系统,其特征在于:所述控制器还包括产生警告信息的装置,当所述辅助装置连接到所述测量测试仪表并且所述每一输出电压的总电流提取值大于所述最大输出电压电流提取值时,所述产生警告信息的装置产生显示在所述显示装置上的警告信息。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US09/718,875 US6629048B1 (en) | 2000-11-20 | 2000-11-20 | Measurement test instrument and associated voltage management system for accessory device |
US09/718875 | 2000-11-20 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN1354366A CN1354366A (zh) | 2002-06-19 |
CN1193237C true CN1193237C (zh) | 2005-03-16 |
Family
ID=24887902
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CNB011394552A Expired - Lifetime CN1193237C (zh) | 2000-11-20 | 2001-11-20 | 一种用于辅助装置的测量测试仪表电压管理系统 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6629048B1 (zh) |
EP (1) | EP1207398B1 (zh) |
JP (1) | JP4942888B2 (zh) |
KR (1) | KR100723611B1 (zh) |
CN (1) | CN1193237C (zh) |
DE (1) | DE60141738D1 (zh) |
Families Citing this family (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB2372369B (en) * | 2001-02-15 | 2004-10-06 | Hewlett Packard Co | A display |
US6892151B1 (en) * | 2001-09-19 | 2005-05-10 | Applied Micro Circuits Corporation | Methods and apparatus for determining whether electronic devices are communicatively compatible |
US6829547B2 (en) * | 2002-04-29 | 2004-12-07 | Tektronix, Inc. | Measurement test instrument and associated voltage management system for accessory device |
CN100390544C (zh) * | 2003-10-09 | 2008-05-28 | 威华电子股份有限公司 | 经由讯号输出输入端子充电的电子装置 |
US7221813B2 (en) | 2004-03-10 | 2007-05-22 | Tektronix, Inc. | Signal acquisition probing and voltage measurement systems using an electro-optical cavity |
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US7049843B2 (en) * | 2004-03-10 | 2006-05-23 | Tektronix, Inc. | Signal acquisition probing system using a micro-cavity laser capable of sensing DC voltages |
US7355776B2 (en) * | 2004-03-10 | 2008-04-08 | Tektronix, Inc. | Acoustic damping material for electro-optic materials |
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US7532492B2 (en) * | 2005-12-20 | 2009-05-12 | Tektronix, Inc. | Host controlled voltage input system for an accessory device |
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JP6541919B1 (ja) * | 2018-09-13 | 2019-07-10 | 三菱電機株式会社 | 設定支援装置、設定支援方法及びプログラム |
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-
2000
- 2000-11-20 US US09/718,875 patent/US6629048B1/en not_active Expired - Lifetime
-
2001
- 2001-10-27 KR KR1020010066541A patent/KR100723611B1/ko active IP Right Grant
- 2001-11-05 EP EP01309344A patent/EP1207398B1/en not_active Expired - Lifetime
- 2001-11-05 DE DE60141738T patent/DE60141738D1/de not_active Expired - Lifetime
- 2001-11-19 JP JP2001353665A patent/JP4942888B2/ja not_active Expired - Lifetime
- 2001-11-20 CN CNB011394552A patent/CN1193237C/zh not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR100723611B1 (ko) | 2007-06-04 |
CN1354366A (zh) | 2002-06-19 |
EP1207398B1 (en) | 2010-04-07 |
JP2002228496A (ja) | 2002-08-14 |
KR20020039230A (ko) | 2002-05-25 |
US6629048B1 (en) | 2003-09-30 |
DE60141738D1 (de) | 2010-05-20 |
JP4942888B2 (ja) | 2012-05-30 |
EP1207398A2 (en) | 2002-05-22 |
EP1207398A3 (en) | 2003-01-15 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
C14 | Grant of patent or utility model | ||
GR01 | Patent grant | ||
CX01 | Expiry of patent term |
Granted publication date: 20050316 |
|
CX01 | Expiry of patent term |