CN1739158A - 用于管理一次性写入光记录介质上的缺陷区域的方法和使用该方法的光记录介质 - Google Patents

用于管理一次性写入光记录介质上的缺陷区域的方法和使用该方法的光记录介质 Download PDF

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Abstract

本发明提供了用于管理一次性写入光记录介质的缺陷区域的方法及使用该方法的光记录介质。在用于使用比如BD－WO类型光盘的光盘记录/再现数据的光盘设备中，该方法允许通过用于记录缺陷区域的数据的替换写入操作，来正常读取和再现写在光盘的缺陷区域上的记录数据。当在记录处理期间在光盘的预定记录扇区中检测到缺陷时，将记录数据写在对应于缺陷区域的备用区上，并因此管理写入数据。

Description

用于管理一次性写入光记录介质上 的缺陷区域的方法和使用该方法的光记录介质
技术领域
本发明涉及光记录方法和介质，并且更为具体的说，涉及用于管理在WORM类型光记录介质上的缺陷区域的方法，和使用该方法的光记录介质。该方法特别适用于在一次性写入光盘比如那些使用近来开发的已知为BD-WO的蓝光光盘格式上记录数据。
背景技术
使用光读取/写入装置的数据记录设备和介质通常被根据它们的写入能力或灵活性来分类。在没有写入能力的只读光记录介质中，存在那些使用CD-ROM和DVD-ROM格式的光记录介质。在已知的允许自由执行多次写入操作的盘标准中，存在CD-RW、DVD-RAM、DVD-RW和DVD+RW类型，其是可重写激光盘和数字多用途光盘。
另一方面，WORM类型光盘适于用作需要大的存储容量的数据存储设备。但是，这种光盘具有有限的记录灵活性，并且用在一次性写入多次读取应用中。这些包括CD-R和DVD-R类型，其是可记录的激光盘和数字多用途光盘。
同时，开发了已知为蓝光光盘的高密度DVD(其是用于使用蓝紫色激光记录高质量音频和视频数据的大容量光盘)的新的类型。蓝光光盘采用已知为BD-RE的可重写光盘格式。
在光记录介质的上述类型中，在它们的制造、处理或使用期间产生表面不完整和缺陷。因此，在数据记录操作期间使用用于管理缺陷区域的方法，使得能够正常地执行数据再现。
参考图1，用于与光记录介质102(比如BD-RE格式的光盘)一起使用的光盘记录/再现设备100从主机(或控制器)200接收数据/命令输入。光盘记录/再现设备100设置有用于将数据写到插入的光记录介质或从其读取数据的光拾取器104，用于控制光拾取器以实现正确的跟踪并相对于光记录介质的表面维持可控距离的拾取伺服器106，通过将从光拾取器接收的再现信号恢复为所需的信号值或通过调制从主机接收的记录信号以传送到光盘来处理到和来自光拾取器的数据的数据处理器108，用于在主机和记录/再现设备之间传送数据的接口110，用于控制记录/再现设备的微计算机112，和用于存储程序和用于临时存储包括缺陷管理信息的多种信息和数据的存储器114。在主机200和存储的程序的控制下，光拾取器104读取在光盘上存储(或写入)的数据，提供输入给数据处理器108的数据信号用于再现处理和输出，并且使用从数据处理器输出的写入信号将数据写到光盘的特定区域上。在写入操作期间，光盘记录/再现设备100根据经主机200输入的命令和在存储器114中存储并由微机算机112执行的程序接收数据流(或编码的模拟信号)，并输出写入信号到光拾取器104。
参考图2，用于和图1的设备一起使用的BD-RE类型光盘被划分为指定的区域。该指定的区域基本上包括设置在导入区(LIA)和导出区(LOA)之间的数据区。该数据区包括和导入区相邻的内备用区(ISA)和与导出区相邻的外备用区(OSA)。
如上所述，光盘记录/再现设备100处理来自主机200的输入数据，并且以对应于纠错码块单元的簇(clusters)将数据写到光盘上。如果在写入操作期间在数据区检测到存在缺陷区域，光盘记录/再现设备100执行一系列替换写入操作以在两个备用区之一(如图2的实例所示为ISA)写入对应于检测的缺陷区域的数据簇。因此，通过在备用区而不是缺陷区域写入缺陷区域的数据簇，可以从备用区读取和再现数据，因此即使当光盘在数据区显示出缺陷时也可防止发生写入错误，并由此保证了数据安全性和数据完整性。
因为使用了可重写光盘，使用允许自由访问数据记录区的光记录介质执行上述方法。因此，在管理缺陷区域的数据的过程中，光盘记录/再现设备具有无限定的记录区的使用。但是，如果使用WORM类型光盘，仅一次执行写入操作，并且必须在由用户能执行正常的数据修补操作之前完成。
例如，近来已经开发了使用已知为BD-WO的格式的另一类型的蓝光光盘。BD-WO类型光盘是一次性写入类型光盘，因为这个类型的光盘格式的标准化近来刚刚开始，其不能使用用于管理光盘上的缺陷区域的已知方法。需要立即的解决方案。
发明内容
因此，本发明涉及用于管理一次性写入光记录介质上的缺陷区域的方法，以及使用该方法的光记录介质(也就是，比如BD-WO的光盘)，其基本上避免了因为现有技术的限制和缺点引起的一个或多个问题。
本发明的目的是解决前述问题，其提供用于管理一次性写入光记录介质上的缺陷区域的方法，通过其写入光盘的缺陷区域和从其读取的数据被重新定位(重写)，并且管理该数据，这是通过其中将数据写入对应于缺陷区域的替代数据区(备用区)的替换写入操作的性能来实现的。
本发明的另一目的是提供用于管理一次性写入光记录介质上的缺陷区域的方法，通过该方法在完成数据记录操作之后实现正常数据再现，而与在记录期间检测到存在的一个或多个缺陷区域无关。
本发明的另一目的是提供使用一次性写入光记录介质过程中的数据安全性和数据完整性，具体的说对于使用从BD-WO光盘读取的主计算机和在记录时间采用线性替换技术的数据记录操作。
本发明的另一目的是提供用于管理一次性写入光记录介质上的缺陷区域的方法，通过其促进BD-WO标准化。
本发明的另一目的是提供适于采用上述方法的光记录介质。
本发明的另一目的是提供用于使用采用上述方法的光记录介质的系统。
本发明的其它优点、目的和特征将在随后的说明中部分地描述，经过以下检验或从本发明的实践中学习，上述优点、目的和特征对于本领域的普通技术人员来说是显而易见的。本发明的目的和优点可以如所附说明书及其权利要求书和附图中所特别指出的来实现和获得。
为实现本发明的这些和其它的优点，以及根据本发明的目的，如这里具体地和广泛地描述的，提供了一种用于管理一次性写入光记录介质上的缺陷区域的方法，其包括步骤：在光记录介质的预定记录扇区写入数据之后，检测在预定记录扇区中缺陷的存在；通过在指定给光记录介质的数据区的备用区中写入数据，且在光记录介质的指定的记录扇区中写入作为临时缺陷列表信息的定位符信息来替换写在缺陷记录扇区中的数据，该定位符信息指示缺陷记录扇区；和在分配到光记录介质的导入区的缺陷管理区域中写入用于访问临时缺陷列表信息的写入位置信息和用于确定对写入位置信息的访问的标识信息作为光盘定义结构信息。
在本发明的另一方面中，提供了一种用于管理一次性写入光记录介质上的缺陷区域的方法，其包括步骤：通过从缺陷管理区域中的光盘定义结构信息搜索指定给光记录介质的导入区的缺陷管理区域，并检测和检查标识信息来识别光盘结束状态，其中该标识信息指示光盘结束状态；基于标识信息，选择性地搜索光盘定义结构信息中的缺陷列表信息或临时缺陷列表信息的写入位置；和基于选择性搜索的缺陷列表信息和临时缺陷列表信息，对于缺陷区域执行替换写入操作或正常再现操作。
在本发明的另一方面中，提供了具有用于光学记录数据到一次性写入光记录介质或从一次性写入光记录介质光学再现数据的可编程设备的系统。该设备可被编程以执行本发明的方法的所需步骤，包括那些用于记录数据和再现记录的数据的步骤。
在本发明的另一方面中，提供一次性写入光记录介质，其包括：数据区，相邻数据区设置的导入区；和在导入区中用于写入关于多个写入位置的信息以及用于选择性访问写入位置的标识信息(其作为光盘定义结构信息)的缺陷管理区域，该多个写入位置用于访问临时缺陷列表信息和缺陷列表信息，其中该临时缺陷列表信息和缺陷列表信息被写在分开的位置。
比如BD-WO光盘的光记录介质采用本发明的方法保证了数据的安全性和数据的完整性，特别在使用采用线性替换(linearreplacement)技术的主计算机的数据记录操作期间。
应该理解本发明的前述解释和下面的具体描述都是示例性和说明性的，并且意在提供本发明如权利要求所述的进一步解释。
附图说明
通过结合附图的下面的详细说明可以更为全面的理解本发明的另外的目的和优点，在附图中：
图1是根据现有技术的一般光盘记录/再现设备的示意图；
图2是用于管理在比如BD-RE类型光盘的可重写光记录介质上的缺陷区域的方法的视图；
图3是示出了根据本发明优选实施例的一次性写入光记录介质，比如BD-WO类型光盘的指定的区域的视图，其用于说明用于管理在光盘上的缺陷区域的方法；
图4是示出了根据本发明方法写入的定位符信息的视图；
图5是示出了根据本发明的方法写入的定位符信息，由此增加访问速率的视图；
图6是用于说明根据本发明的另一优选实施例的，用于管理在一次性写入光记录介质、比如BD-WO类型光盘上的缺陷区域的方法的视图；以及
图7是用于说明根据本发明的另一优选实施例的，用于管理在一次性写入光记录介质、比如BD-WO类型光盘上的缺陷区域的方法的视图。
具体实施方式
下面将详细参考本发明的优选实施例，在附图中示出了其实例。在整个附图中使用相同的参考数字表示相同或相似的部分。
参考图3，其中示出比如BD-WO类型光盘的光记录介质的指定的区域以说明根据本发明的方法，在导入区(LIA)和导出区(LOA)之间设置数据区，其中数据区基本上包括用户数据区和在用户数据区的任一侧设置的非用户数据区。用户数据区被指定有物理扇区号(PSN)和逻辑扇区号(LSN)，同时非用户数据区仅被指定有物理扇区号。非用户数据区分别包括外部备用区(OSA)和临时缺陷列表(TDFL)区。外部备用区用于写入对应于缺陷区域的数据，也就是，替换数据，而TDFL区用于写入关于检测的缺陷区域的缺陷区域数据定位符和相应的替换数据。可以累积地或连续地写入缺陷区域数据定位符信息。
虽然没有在附图中示出，OSA和TDFL区可以是交替定位的或它们可以是另外的指定的区域，比如内备用区(ISA)。例如，可以另外设置ISA或代替OSA，或者与OSA相邻或在LIA中在非用户数据区设置TDFL区域。
在光记录介质上记录数据的过程中，比如如图3所示，图1的光盘记录/再现设备100执行内部程序以时间连续的方式在用户数据区的预定写入扇区上写入数据。写入操作进行直到数据记录终止或直到记录最后一个记录扇区。每个写入情况将被称作为数据记录阶段。
将预定的写入扇区设置为缺陷验证单元(DVU)，通过其在数据记录阶段期间，使用在每个DVU之后执行的写入后确认操作(verify-after operation)检测缺陷区域。一个DVU可以具有等于任意数目的物理轨道或簇的记录大小，并且因为便于描述本发明的实施例的缘故，将这个记录大小任意地设置为五个簇。多个缺陷验证单元(DVU1到DVUn)构成了记录或具有时间连续性的数据记录阶段的一个情况，且每个数据记录阶段1、2和3依赖于记录的数据量来构成多个DVU。
由光盘记录/再现设备100执行写入后确认操作，其重复执行一系列检测操作以确定对应于一个DVU的写入数据的缺陷区域的存在。在每个缺陷区域检测操作中，再现写在DVU中的数据以验证它的记录状态；就是说，确定是否成功写入数据使得可以进行正常的再现。如果不能验证正常的再现，则确定存在缺陷。
例如，在通过记录操作在DVU1的物理簇1-5中顺序和连续写入数据之后S10，光盘记录/再现设备100通过逐渐再现写在DVU1中的数据来执行写入后确认操作，以验证正常再现，并由此检测任意缺陷区域的存在。在逐渐再现过程中，光盘记录/再现设备100再次从第一簇开始(或下一个位置)顺序读取写入的数据，并且连续读取直到通过再现操作检测到第一个(或下一个)不可验证的数据簇的出现S11，其指示在物理簇2中存在缺陷区域。之后，光盘记录/再现设备100在它的存储器114中临时存储物理簇2的数据。临时存储(缓存)的数据用于执行通过记录操作的替换写入操作S12，由此将对应于缺陷簇的替换数据写作OSA中的替换簇2’以代替缺陷区域。这里，可以从OSA的任一端开始写入第二簇的数据。
在完成上述的替换写入操作之后，光盘记录/再现设备100通过再现操作连续再现DVU1的数据S13，以进行到下一个簇，也就是，物理簇3。当在物理簇4中检测到另一缺陷区域时，光盘记录/再现设备100通过记录操作执行另一替换写入操作S14，其中缓存缺陷簇的数据，并且然后写作为OSA中与替换簇2’连续的替换簇4’。
通过再现操作的DVU1的连续写入后确认操作没有找到另外的缺陷区域S15，则完成数据记录阶段1的DVU的数据记录。因此，该DVU1最终包括物理簇1、3和5的数据并且具有两个缺陷区域，将其数据作为对应于缺陷区域的替换簇2’和4’写在OSA中。对于每个DVU重复相同处理，直到通过执行对于DVUn的记录和写入后确认操作完成数据记录阶段1。在这种情况下，将物理簇6写作DVU2的第一簇。
然后，即，在连续完成DVUn的写入后确认操作之后，光盘记录/再现设备100写入用于识别每个缺陷区域和定位相应替换数据的缺陷区域数据定位符。这些定位符被写作TDFL信息并存储在TDFL区域。为增加TDFL信息的访问速率，光盘记录/再现设备100还将写入位置信息作为光盘定义结构(DDS)信息写在LIA中指定的缺陷管理区域(DMA)中。
如图4所示，该TDFL信息包括多个缺陷条目，每个被表示为一对PSN，也就是，缺陷PSN和对应于其的替换PSN。这里，缺陷PSN是缺陷区域的物理扇区号，而替换PSN是其中写入缺陷区域的数据的区域的物理扇区号。每个缺陷条目还包括除PSN外的状态信息。该状态信息包括状态1和状态2信息，而状态2信息在本实施例中不可用。状态1信息指示在缺陷或潜在缺陷区域和对应于其的任意替换数据之间存在的关系的类型，该替换数据包括替换数据记录状态、地址分配、缺陷区域确认、替换区域可用性等。
对应于DDS信息的第60字节(第60字节位置)的记录扇区可以包括用于访问当前TDFL信息的第一PSN的写入位置信息，也就是，反映最后(最近)的替换写入操作的TDFL信息。将这种写入位置信息和包括光盘结束标志的识别信息一起写入和管理，该光盘结束标志指示是否执行了光盘结束操作，并通知完成了光盘的写入处理。
当标识信息示出没有光盘结束时，光盘记录/再现设备100读取DMA并且参考写入位置信息以搜索写入位置。例如，标识信息的一个字节可以被写作“0000 XXXX”，以指示没有执行光盘结束操作，或者被设置为“0000 1111”以指示执行了光盘结束。同时，标识信息可以包括大于一个字节的大小，并且可以使用“0000 XXXX”和“00001111”之外的值指示光盘结束操作的执行。该DDS信息可以包括用于访问第一TDFL和当前TDFL两者，或者选择性地访问任意一个的写入位置信息。
当根据用户操作执行光盘结束操作时，光盘记录/再现设备100将光盘结束标志从指示没有执行光盘结束操作的值(例如，“0000XXXX”)设置为指示光盘结束状态的值(例如，“0000 1111”)，并且在DMA中写入TDFL信息作为缺陷列表(DFL)信息。因此，在光盘结束的情况下，存储在DDS信息中的写入位置信息被写作表示DFL信息的写入位置的最终值。对应于DDS信息的第24字节(第24字节位置)的记录扇区可以包括用于访问DFL信息的第一PSN的写入位置信息。
参考图5，DDS信息可以增加之后的或最后的TDFL信息(TDFL q)的访问速率，且进一步包括对应于最近写入的TDFL，也就是，恰好在光盘结束之前的TDFL信息的第一PSN的写入位置信息。
如图6所示，该TDFL信息可以包括在LIA中的记录扇区中。另一方面，如图7所示，该TDFL信息可以被分配给OSA中的记录扇区，或者可以被分配到别处，比如在LOA中。
工业应用性
在本发明的方法中，当比如BD-WO类型的光盘的光记录介质被放入比如如图1所示的可编程系统中时，光盘记录/再现设备100搜索分配到光盘的LIA的DMA，从DMA的DDS信息检测光盘结束标志，检查它的值，并由此确定光盘是否结束。如果光盘结束标志是示出了没有出现光盘结束的值，则光盘记录/再现设备100搜索和访问关于DDS信息中的第一和/或之后(最后)的TDFL信息的写入位置信息，以然后搜索和访问TDFL信息。然后，光盘记录/再现设备100执行一系列替换写入操作或再现操作。另一方面，如果光盘结束标志是示出出现光盘结束的值，则光盘记录/再现设备100搜索和访问关于在DDS信息中存储的第一和/或之后(最后)DFL信息的写入位置信息，以然后搜索和访问DFL信息。然后，光盘记录/再现设备100可以执行再现操作。
通过采用根据本发明的用于在一次性写入光记录介质上管理缺陷区域的方法，通过其中将数据写在对应于缺陷区域的替代(备用)数据区中的替换写入操作的性能，写入和有效管理写在光盘的缺陷区域上的数据。因此，根据本方法的格式，比如当前开发的BD-WO类型光盘的光记录介质能够用于通过一次性写入操作记录数据，使得即使当在光盘上存在缺陷时也能正常再现记录的数据。另外，通过提供合适的一次性写入光记录介质，采用本发明的方法促进了BD-WO标准化，由此能够有效管理写在其缺陷区域上的数据。
对于本领域普通技术人员来说很明显可以对根据本发明的管理在一次性写入光记录介质上的缺陷区域的方法和使用该方法的光记录介质做出多种修改和变更而不脱离本发明的精神和范围。因此，本发明意在覆盖在所附权利要求及其等效物范围内提供的本发明的修改和变型。

Claims (22)

1.一种用于管理一次性写入光记录介质的缺陷区域的方法，其包括步骤：
在光记录介质的预定记录扇区中写入数据之后，检测在预定记录扇区中缺陷的存在；
通过在指定给光记录介质的数据区的备用区中写入数据，且在光记录介质的指定的记录扇区中写入作为临时缺陷列表信息的定位符信息来替换写在缺陷记录扇区中的数据，该定位符信息表示缺陷记录扇区；和
在指定到光记录介质的导入区的缺陷管理区域中写入用于访问临时缺陷列表信息的写入位置信息和用于确定对写入位置信息的访问的标识信息作为光盘定义结构信息。
2.如权利要求1所述的方法，进一步包括光盘结束步骤，所述光盘结束步骤包括步骤：
在缺陷管理区域写入作为缺陷列表信息的临时缺陷列表信息，和用于访问缺陷列表信息的写入位置信息的最终值；和
设置标识信息为指示光盘结束的值，并将该值写在缺陷管理区域中，
其中，该设置的标识信息确定对最终写入位置信息的访问，并且其中设置的标识信息和最终写入位置信息被包括在光盘定义结构信息中。
3.如权利要求2所述的方法，其中，该标识信息包括具有大于或等于一个字节大小的标志，所述标志确定在光记录介质在光盘结束状态时对写在缺陷管理区域中的缺陷列表信息的访问，并确定当光记录介质不在光盘结束状态时对写在指定的记录扇区中的临时缺陷列表信息的访问。
4.如权利要求1所述的方法，其中，该包括临时缺陷列表信息的指定的记录扇区被定位于光记录介质的数据区中。
5.如权利要求1所述的方法，其中，该包括临时缺陷列表信息的指定的记录扇区被定位于光记录介质的导入区中。
6.如权利要求1所述的方法，其中，该包括临时缺陷列表信息的指定的记录扇区被定位于光记录介质的导出区中。
7.如权利要求1所述的方法，其中，该包括临时缺陷列表信息的指定的记录扇区被定位于光记录介质的非用户数据区中，该非用户数据区与光记录介质的外备用区相邻。
8.如权利要求1所述的方法，其中，该包括临时缺陷列表信息的指定的记录扇区被定位于光记录介质的用户数据区中，该用户数据区在光记录介质的外备用区之前。
9.如权利要求1所述的方法，其中，该定位符信息是累积地写入的。
10.如权利要求1所述的方法，其中，该定位符信息是连续地写入的。
11.如权利要求1所述的方法，其中，在备用区中写入替换数据的过程中，从备用区的一端开始写入数据。
12.一种用于管理一次性写入光记录介质的缺陷区域的方法，其包括步骤：
通过从缺陷管理区域中的光盘定义结构信息搜索指定给光记录介质的导入区的缺陷管理区域，和检测并检查表示光盘结束状态标识信息来识别光盘结束状态；
基于标识信息，选择性地搜索光盘定义结构信息中的缺陷列表信息或临时缺陷列表信息的写入位置；和
基于选择性搜索的缺陷列表信息和临时缺陷列表信息，对于缺陷区域执行替换写入操作或正常再现操作。
13.如权利要求12所述的方法，其中，所述选择性搜索步骤在标识信息指示光记录介质处在光盘结束状态时，搜索写在缺陷管理区域中的缺陷列表信息的写入位置。
14.如权利要求12所述的方法，其中，所述选择性搜索步骤在标识信息指示光记录介质不处在光盘结束状态时，选择性地搜索写在缺陷管理区域以外的记录扇区中的第一临时缺陷列表信息或最后的临时缺陷列表信息的写入位置。
15.一种一次性写入光记录介质，其包括：
数据区；
导入区，其被相邻所述数据区设置；和
缺陷管理区，其在导入区中用于写入多个写入位置作为光盘定义结构信息，该多个写入位置用于访问临时缺陷列表信息和缺陷列表信息和用于写入选择性访问写入位置的标识信息，
其中，该临时缺陷列表信息和缺陷列表信息被写在分开的位置。
16.如权利要求15所述的光记录介质，其中，该光盘定义结构信息进一步包括：
用于访问写在缺陷管理区域中的第一缺陷列表信息的写入位置信息；和
用于访问写在缺陷管理区域之外的记录扇区中的第一临时缺陷列表信息的写入位置信息。
17.如权利要求15所述的光记录介质，其中，该标识信息包括具有大于或等于一个字节大小的标志，所述标志确定在光记录介质处在光盘结束状态时对写在缺陷管理区域中的缺陷列表信息的访问，并确定当光记录介质不处在光盘结束状态时对写在指定的记录扇区中的临时缺陷列表信息的访问。
18.如权利要求15所述的光记录介质，其中，所述数据区、导入区和缺陷管理区被经BD-WO标准指定。
19.一种具有用于光学记录数据到一次性写入光记录介质或从一次性写入光记录介质光学再现数据的可编程设备的系统，该一次性写入光记录介质包括数据区和与其相邻设置的导入区，所述可编程设备包括：
用于在光记录介质的预定记录扇区中写入数据之后，检测在预定记录扇区中缺陷的存在的装置；
用于通过在指定给光记录介质的数据区的备用区中写入数据，且在光记录介质的指定的记录扇区中写入作为临时缺陷列表信息的定位符信息来替换写在缺陷记录扇区中的数据的装置，该定位符信息表示缺陷记录扇区；和
用于在指定到光记录介质的导入区的缺陷管理区域中写入用于访问临时缺陷列表信息的写入位置信息和用于确定对写入位置信息的访问的标识信息作为光盘定义结构信息的装置，
用于在缺陷管理区域写入作为缺陷列表信息的临时缺陷列表信息，和用于访问缺陷列表信息的写入位置信息的最终值的装置；和
用于设置标识信息为表示光盘结束的值并将该值写在缺陷管理区域中的装置，
其中该设置的标识信息确定对最终写入位置信息的访问，并且其中设置的标识信息和最终写入位置信息被包括在光盘定义结构信息中。
20.如权利要求19所述的系统，所述可编程设备进一步包括：
用于通过从缺陷管理区域中的光盘定义结构信息搜索指定给光记录介质的导入区的缺陷管理区域，并检测和检查表示光盘结束状态的标识信息来识别光盘结束状态的装置；
用于基于标识信息，选择性地搜索光盘定义结构信息中的缺陷列表信息或临时缺陷列表信息的写入位置的装置；和
用于基于选择性搜索的缺陷列表信息和临时缺陷列表信息，对于缺陷区域执行替换写入操作或正常再现操作的装置。
21.一种用于管理一次性写入光记录介质的缺陷区域的方法，其包括步骤：
在光记录介质的指定的记录扇区中记录用于分别访问光记录介质的缺陷列表(DFL)和光记录介质的临时缺陷列表(TDFL)的写入位置信息；
当光记录介质不处在光盘结束状态时，搜索TDFL写入位置信息以在临时缺陷列表中写入缺陷管理信息；和
当光记录介质处在光盘结束状态时，搜索DFL写入位置信息以从缺陷列表中读取缺陷管理信息。
22.一种用于管理一次性写入光记录介质的缺陷区域的方法，其包括步骤：
首先在光记录介质的第一指定的记录扇区中记录用于访问临时缺陷列表(TDFL)的写入位置信息；
根据TDFL写入位置信息在临时缺陷列表中写入缺陷管理信息；
在光记录介质的第二指定的记录扇区中第二次记录用于访问缺陷列表(DFL)的写入位置信息；和
根据DFL写入位置信息从缺陷列表中读取缺陷管理信息，
其中当光记录介质不在光盘结束状态时执行所述第一记录步骤，且当光记录介质在光盘结束状态时执行所述第二记录步骤。
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