CN1822105A - 磁记录媒体及磁记录再生装置 - Google Patents

Abstract

提供一种磁记录媒体及磁记录再生装置。提高磁记录媒体的格式化效率、而且高精度地求出磁头离开磁道中心位置的偏离磁道位置的位置偏差信息。本发明是一种具有进行磁头的位置检测用的表示伺服数据的伺服区(110)；以及能用磁头写入用户数据的数据区(100)的磁记录媒体，伺服区(110)备有：由多个磁性部(201)形成了表示伺服数据中的用来取得时钟同步的数据的前同步记录图形的前同步区(111)；以及由多个磁性部(301)形成了表示伺服数据中的用来求出磁头相对于磁道中心位置的相对位置的数据、相对于前同步记录图形以预定的倾斜角度倾斜的作为配置图形的单一的脉冲串记录图形的脉冲串区(113)。

Description

磁记录媒体及磁记录再生装置

技术领域

本发明涉及具有记录了将磁头定位在目标位置上用的信息的伺服区的磁记录媒体及使这样的磁记录媒体再生的磁记录再生装置。

背景技术

在硬盘驱动装置(HDD)中，将磁头定位在指定的磁道上时，使磁头在指定的磁道上寻道后，求出磁头离开磁道的中心位置的相对距离，有必要将磁头定位控制在磁道上。

为了进行这样的定位控制，使记录在磁记录媒体的伺服区中的脉冲串区中的磁性部的伺服数据再生，进行磁头的定位控制。脉冲串区被分割成由以在磁记录媒体径向配置相位不同的4种脉冲串记录图形进行记录的磁性部构成的脉冲串A、B、C、D，根据磁头横截各脉冲串A、B、C、D时的再生信号的振幅值，求出表示磁头离开磁道的中心位置的相对距离的位置偏差信息，进行将磁头定位在磁道中心位置的定位控制。

可是，近年来，作为磁记录媒体，将记录在伺服区中的伺服数据作为磁性部，磁记录媒体制造时埋入形成的所谓构图介质(patternedmedia)受到注目。

在该构图介质中，难以全面地确保各脉冲串A、B、C、D的磁性部形状的稳定性，对应于来自磁性部的再生信号的噪声增加，不能获得正确的位置偏差信息，存在磁头的定位控制中导致故障的问题。

另外，构图介质的制造时，为了稳定地进行全面转印形成，最好尽可能地使伺服区的磁性部的凹凸比变化小，但在伺服区中，在前同步区或地址区中凹凸比为50％，在脉冲串区中为25％，由全面转印形成进行的盘的制造变得困难了。

由于有这样的问题，所以处理伺服数据的再生信号时，采用检测伺服数据的再生信号的相位差的技术(例如，参照专利文献1、2)。特别是在检测磁头离开磁道中心位置的相对距离的位置偏差信息的处理中，公开了检测来自脉冲串区的再生信号的相位差，根据检测的相位差求出位置偏差信息的技术(例如，参照专利文献3)。

[专利文献1]日本专利申请特开平7-169032号公报

[专利文献1]日本专利申请特开平6-68623号公报

[专利文献1]日本专利申请特开平6-231552号公报

可是，在这样的现有的利用相位差检测的再生信号处理中，虽然能提高位置偏差信息的精度，但是需要检测至少两种来自脉冲串记录图形的再生信号的相位。为此，在这样的现有的方式中，在脉冲串区中有必要至少用两种不同的图形记录磁性部，因此存在磁记录媒体的格式化效率劣化的问题。

本发明就是鉴于上述情况而完成的，目的在于提供一种高精度地求出磁头相对于磁道中心位置的偏离磁道位置的位置偏差信息，同时能提高格式化效率的磁记录媒体及磁记录再生装置。

发明内容

为了解决上述的课题，达到目的，本发明是一种磁记录媒体，具有：表示用来进行磁头相对于磁记录媒体的位置检测的伺服数据的伺服区；以及沿磁道方向与上述伺服区并列配置、能用上述磁头写入用户数据的数据区，其特征在于：上述伺服区备有由多个磁性部形成了表示上述伺服数据中的用来取得时钟同步的数据的前同步记录图形的前同步区；以及由多个磁性部形成了表示上述伺服数据中的用来求出磁头相对于磁道中心位置的相对位置的数据、相对于上述前同步记录图形以预定的倾斜角度倾斜的作为配置图形的单一的脉冲串记录图形的脉冲串区。

另外，本发明是一种磁记录再生装置，具有：表示用来进行磁头相对于磁记录媒体的位置检测的伺服数据的伺服区；以及沿磁道方向与上述伺服区并列配置，能用上述磁头写入用户数据的数据区；且上述伺服区具有：由多个磁性部形成了表示上述伺服数据中的用来取得时钟同步的数据的前同步记录图形的前同步区；以及由多个磁性部形成了表示上述伺服数据中的用来求出磁头相对于磁道中心位置的相对位置的数据、相对于上述前同步记录图形以预定的倾斜角度倾斜的作为配置图形的单一的脉冲串记录图形的脉冲串区；其特征在于该磁记录再生装置备有：从上述脉冲串区再生的脉冲串再生信号，基于按上述前同步区的再生信号处理中规定的同步时钟取样后的各点的试样值和预定的多个系数，将上述脉冲串再生信号相对于上述前同步区的再生信号的相位差，作为相当于多个相位差的相位差信息求出的相位检测单元；以及基于由上述相位检测单元求得的上述相位差信息，求出表示上述磁头离开磁道中心位置的相对距离的位置偏差信息的位置检测单元。

如果采用本发明的磁记录媒体，则由于在脉冲串区中由多个磁性部形成单一的脉冲串记录图形，所以与用多个不同的脉冲串记录图形构成脉冲串区的现有的磁记录媒体相比，具有能提高磁记录媒体的格式化效率的效果。另外，在脉冲串区中，由于由多个磁性部形成相对于前同步记录图形以预定的倾斜角度倾斜的配置图形的单一的脉冲串记录图形，所以在磁头扫描了脉冲串区的情况下，脉冲串再生信号的相位发生变化。因此，具有在脉冲串再生信号的信号处理中，通过检测该相位的变化，能高精度地求得磁头离开磁道中心位置的位置偏差信息的效果。

另外，如果采用本发明的磁记录再生装置，则由于根据脉冲串再生信号的试样值，求出脉冲串再生信号相对于前同步再生信号的相位差信息，求得磁头的位置偏差信息，所以即使在磁记录媒体的脉冲串区倾斜了的单一的脉冲串记录图形的情况下，也具有能进行高精度的位置偏差信息的检测。

附图说明

图1是表示实施方式1的磁记录媒体的概略结构的模式图。

图2是表示实施方式1的以磁记录媒体的伺服区为中心的结构的模式图。

图3-1是将实施方式1的磁记录媒体的脉冲串区放大了的模式图，是以磁道柱面信息的每两条磁道变化，脉冲串再生信号的相位成为一周期的角度，使磁性部倾斜时的脉冲串区的放大图。

图3-2是将实施方式1的磁记录媒体的另一个脉冲串区放大了的模式图，是以磁道柱面信息的每四条磁道变化，脉冲串再生信号的相位成为一周期的角度，使磁性部倾斜时的脉冲串区的放大图。

图4是表示实施方式1的磁记录再生装置的脉冲串区再生电路的结构的框图。

图5-1是表示相位H0＝0的脉冲串再生信号和取样点的说明图。

图5-2是表示相位H0＝0的脉冲串再生信号和取样点的说明图。

图6是表示实施方式1的脉冲串区再生电路进行的脉冲串区再生处理的步骤的流程图。

图7-1是表示相位差余弦值C的累计值BstAB和相位差正弦值S的累计值BstCD的磁头中心离开磁道中心的偏离磁道位置引起的变化的状态的曲线图。

图7-2是表示各磁道地址的位置偏差信息PES的曲线图。

图8是表示实施方式2的磁记录再生装置的脉冲串区再生电路800的结构的框图。

图9是表示对每个脉冲串选通脉冲的分割选通脉冲切换了内积系数的状态的说明图。

图10是表示实施方式2的脉冲串区再生处理的步骤的流程图。

图11是表示偏离磁道位置和各选通脉冲区之间的脉冲串值Bst的变化的状态的曲线图。

图12是表示实施方式3的磁记录再生装置的脉冲串区再生电路1200的结构的框图。

图13是表示实施方式3的脉冲串区再生处理的步骤的流程图。

图14是表示实施方式4的磁记录再生装置的脉冲串区再生电路1400的结构的框图。

图15是表示实施方式4的脉冲串区再生处理的步骤的流程图。

图16是表示作为实施方式4的变形例的脉冲串区再生电路1600的结构的框图。

图17是表示实施方式4的变形例的脉冲串区再生处理的步骤的流程图。

图18是表示实施方式5的磁记录再生装置的脉冲串区再生电路和位置速度检测部1820的结构的框图。

图19是表示分割了脉冲串选通脉冲的状态的说明图。

图20是表示实施方式5的磁记录再生装置1800进行的磁头的位置速度检测处理的步骤的流程图。

图21是表示实施方式6的磁记录再生装置的脉冲串区再生电路和位置速度检测部2120的结构的框图。

图22是表示脉冲串选通脉冲和分割了的选通脉冲2的上升沿延迟时间的状态的说明图。

图23是表示根据磁头的目标速度增加了脉冲串选通脉冲的分割数的例的说明图。

图24是表示实施方式8的磁记录再生装置的结构的框图。

(图中，100：数据区  101：磁性带  102：非磁性带  110：伺服区  111：前同步区  113：脉冲串区  301：磁道  302：扇区400、800、1200、1400：脉冲串区再生电路  410、810、1210、1410：相位检测部  411：存储器  420、1821：位置检测部  1212：FIR滤波器  1213：积分器  1214：环路增益器  412a、412b、1412a、810、1412b、1412c、1612d：内积计算部  413a、413b、813、1213、1413a、1413b、1413c、1613d：积分器  1414a、1414b、1614c、1614d：除法器  1415、1615：平滑化处理部  1820：速度位置检测部  1822、2120：速度检测部  2301：A-D变换器  2302：SFG电路  2310：PLL电路  2311：VCO  2312：P/D  2320：速度检测电路)

具体实施方式

以下参照附图，详细地说明本发明的磁记录媒体及磁记录再生装置的实施方式。

(实施方式1)

图1是表示本实施方式的磁记录媒体的概略结构的模式图。在图1中，示出了从上面看到的磁记录媒体的图。如图1所示，在磁记录媒体上呈同心圆地设有多条磁道120。各磁道由大致呈辐射状形成的多个伺服区110分割成多个数据区100。

数据区100是能用磁记录媒体再生装置的磁头写入用户数据的区。伺服区110是预先记录了检测磁记录媒体再生装置的磁头在磁记录媒体上的位置用的伺服数据的区。

这里，所谓磁记录媒体的磁道方向，是在一条磁道中扇区的地址增加的扇区的排列方向，在本实施方式的磁记录媒体中，是图1所示的箭头A的方向。

在各数据区中，按照磁道方向的顺序分配地址，作为物理扇区0～N。另外，在图1中，为了便于说明，示出了N＝7的8个扇区结构，但实际上由N＞100以上构成。

另外，磁记录媒体的径向，是从磁记录媒体的周缘沿半径方向朝向中心的方向，在本实施方式的磁记录媒体中，相当于磁道的宽度方向，是图1所示的箭头B的方向。

另外，在本实施方式的磁记录媒体中，伺服区的磁道宽度和数据区的磁道宽度形成得相同。另外，不限于此，也可以使伺服区110的磁道的宽度为数据区100的磁道的宽度的2/3。

图2是表示实施方式1的以磁记录媒体的伺服区110为中心的结构的模式图。如图2所示，本实施方式的磁记录媒体呈沿着各伺服区110的磁道方向并列配置数据区100的结构。另外，在图2中，虚线表示磁道的中心线。

数据区100设有具有能用磁头写入用户数据的磁性带101的多条磁道，在相邻的磁道之间设有不能写入用户数据的非磁性带102。即，本实施方式的磁记录媒体为，磁性带101被非磁性带102进行了物理分离的分离磁道型的记录媒体。

在磁记录媒体制造时，伺服区110通过用模子(stamp)进行的全面转印，形成磁性部201、302和非磁性部202、302，非磁性部202、302呈填充了非磁性体的结构。在用磁记录再生装置的磁头使伺服区110的伺服数据再生的情况下，磁性部201、302再生为二进制值“1”，各非磁性部202、302再生为二进制值“0”。

如图2所示，伺服区110由前同步(preamble)区111、地址区112和脉冲串区113构成。另外，磁性部201、302除了磁记录媒体制造时用模子进行全面转印来形成以外，也可以是事先用伺服磁道写入器(STW)记录形成的。

另外，在本实施方式的磁记录媒体中，虽然非磁性部102及非磁性部202、302呈填充了非磁性体的结构，但也可以代替填充非磁性体，而使非磁性部202、302呈空隙结构。

前同步区111是伺服数据中记录了进行时钟同步用的数据的区，对应于这样的数据的代码(“1”、“0”)，形成磁性部201及非磁性部202。为了在地址区112及脉冲串区113之前，利用磁头读出，对由于磁记录媒体的旋转偏心等产生的时间偏移，进行使数据的再生信号的时钟同步的PLL(锁相环)处理或正确地维持再生信号的振幅的AGC(自动增益控制)处理，而使用前同步区111。

在前同步区111中，为了磁记录再生装置的磁头不管在哪个磁道位置，都能根据数据获得同样的再生信号，以沿着垂直于磁道方向的磁道宽度方向(图1中的箭头B的方向，图2中的垂直方向)延伸的直线状，形成多个磁性部201，用通过与磁性部201相同宽度的非磁性部沿磁道方向配置的前同步记录图形，记录多个磁性部201。

地址区112是记录了用曼彻斯特编码方式表示下列信息的数据的区，这些信息是表示伺服区110的开始的称为伺服标志的代码、或扇区信息、磁道柱面信息等，对应于这样的数据的代码(“1”、“0”)，形成磁性部201及非磁性部202。这里，磁道柱面信息记录成，以伺服区100为单位，对每条磁道使数值变化。

脉冲串区113是记录了求出对应于磁道中心位置的磁头的相对位置的位置偏差信息用的数据的区，对应于这样的数据的代码(“1”、“0”)，形成磁性部301及非磁性部302。图3-1是将实施方式1的磁记录媒体的脉冲串区放大了的模式图。

在本实施方式的磁记录媒体的脉冲串区113中，用作为对前同步区111的前同步记录图形按照预定的倾斜角度倾斜的配置图形的单一的脉冲串记录图形，形成多个磁性部301。即，相对于用前同步区111的前同步记录图形配置的各磁性部201延伸的磁记录媒体的径向(图2的垂直方向)，以预定的倾斜角度倾斜地被配置成直线状，用通过与磁性部301相同宽度的非磁性部302沿磁道方向配置的脉冲串记录图形，形成脉冲串区113的多个磁性部301。另外，本实施方式的脉冲串区113与像脉冲串A、脉冲串B、脉冲串C、脉冲串D那样，用在径向配置相位不同的4种脉冲串记录图形记录了磁性部的现有的磁记录媒体的脉冲串区不同，而是用倾斜的单一的脉冲串记录图形形成多个磁性部301。另外，磁记录媒体的制造结果，也可以用作为总体倾斜的直线状形成磁性部301，也可以呈包含微细的台阶形状的直线状。

脉冲串区113的磁性部301的脉冲串记录图形，相对于前同步区111的磁性部201的方向倾斜地形成，所以通过磁头沿径向移动，来自磁性部301的再生信号的上升沿发生相位定时(timing)偏移。如图3-1所示，把对于地址区112的磁道柱面信息的每两条磁道变化，脉冲串再生信号的相位成为一周期的角度，规定为该磁性部301的倾斜角度。

另外，在本实施方式的磁记录媒体的脉冲串区113中，作为数据的再生信号的相位成为一周期的磁性部301的倾斜角度，不限定于地址区112的磁道柱面信息的两条磁道，只要在大于等于两条磁道且小于等于四条磁道的范围内，都能获得倾斜角度不会变小且充分的再生信号的振幅值。图3-2是利用把对于每四条磁道变化，脉冲串再生信号的相位成为一周期的角度规定为磁性部301的倾斜角度的脉冲串记录图形，记录了磁性部301的脉冲串区113的结构的模式图。

另外，脉冲串记录图形的磁性部301沿磁道方向的一周期与前同步区或地址区的磁性部201的周期相同。因此，在磁头从前同步区111移动到脉冲串区113的情况下，能用与来自前同步区111的作为根据再生信号的取样定时而规定的时钟同步相同的定时，进行脉冲串区113的再生信号的取样，实现相位检测。

其次，说明使本实施方式的使磁记录媒体再生的磁记录再生装置的脉冲串区再生电路。图4是表示实施方式1的磁记录再生装置的脉冲串区再生电路的结构的框图。

如图4所示，本实施方式的脉冲串区再生电路400主要备有CTF401、A-D变换器402、以及相位检测部410。

CTF(连续时间滤波器)401对从输入的脉冲串区113再生的模拟的再生信号，通过LPF(低通滤波器)等，进行滤波处理。

A-D(模/数)变换器402在前同步区111的再生信号处理中，用与PLL电路(图中未示出)输出的再生信号的同步时钟相同的时钟定时，将由CTF401输出的模拟信号变换成数字的脉冲串再生信号，将试样值存储在相位检测部410的存储器411中。另外，在本实施方式中，根据一周期的脉冲串再生信号的模拟信号，对4点进行取样，将4点的试样值存储在存储器411中。

相位检测部410根据由A-D变换器402取样的脉冲串再生信号的4点试样值，求出对应于脉冲串再生信号的同步时钟的相位差的相位差余弦值C和相位差正弦值S，切换输出定时，输出累计了相位差余弦值C的BstAB和累计了相位差正弦值S的BstCD。

如图4所示，相位检测部410由存储器411、两个内积计算部412a、412b、以及两个积分器413a、413b构成。

存储器411是保存由A-D变换器402取样的一周期4点的试样值的存储器。

图5-1是表示相位H0＝0的脉冲串再生信号和取样点的说明图，图5-2是表示相位H0的脉冲串再生信号和取样点的说明图。在图5-1及图5-2中，示出了来自磁道编号为偶数的磁道的脉冲串区的脉冲串再生信号波形。另外，来自磁道编号为奇数的磁道的脉冲串区的脉冲串再生信号呈对图5-1及图5-2中的波形分别将相位翻转了180度后的波形。

由A-D变换器402对脉冲串再生信号进行取样后的4点的试样值，能用(1)式近似。

【数1】

y(k)＝G0*sin(2πk/N+H0+π/N)，N＝4，k＝0，1，2，3    …(1)

G0：振幅，H0：相位差

将每一周期中的4点的取样值矢量化，如(2)式所示，输出给存储器411。这里，如果从(1)式算出(2)式中的y(0)、y(1)、y(2)、y(3)，则变成(3)～(6)式所示。

【数2】

Y＝5(0)，y(1)，y(2)，y(3)]^t    …(2)

【数3】

y(0)＝G0*sin(π/4+H0)     …(3)

y(1)＝G0*sin(3π/4+H0)    …(4)

y(2)＝G0*sin(5π/4+H0)    …(5)

y(3)＝G0*sin(7π/4+H0)    …(6)

通过在(3)～(6)式中，作为H0＝0计算，可用(7)式表示图5-1所示的相位H0＝0时的存储器411的输出Y。

【数4】

这里，之所以采用≈，是因为实际的试样值由于噪声的影响，而与理想的值产生误差。

内积计算部412a从存储器411读出一周期内4点的试样值Y，算出试样值Y和余弦值检测用系数[1，1，-1，-1]的内积，输出相位差余弦值C。内积计算部412b从存储器411读出4点的试样值Y，算出试样值Y和正弦值检测用系数[1，-1，-1，1]的内积，输出相位差正弦值S。

这里，余弦值检测用系数[1，1，-1，-1]是相位差为0的正弦波值，正弦值检测用系数[1，-1，-1，1]是相位差为0的余弦波值。

如果分别计算用(2)～(6)式表示的试样值Y和余弦值检测用系数[1，1，-1，-1]、正弦值检测用系数[1，-1，-1，1]的内积，则能用(8)、(9)式表示由内积计算部412a算出的相位差余弦值C、由内积计算部412b算出的相位差正弦值S。

【数5】

$C=$ $2\sqrt{2}*G0*\cos \left(H0\right)---\left(8\right)$

$S=2\sqrt{2}*G0*\sin \left(H0\right)---\left(9\right)$

积分器413a逐次累计由内积计算部412a求得的相位差余弦值C，积分器413b逐次累计由内积计算部412b求得的相位差正弦值S，抑制各值的噪声，作为相位差信息输出。由此，能获得相当于正交检波中必要的偏离磁道相位差的相位差正弦值和相位差余弦值两种相位差信息。

位置检测部420输入相位差余弦值C、相位差正弦值S和磁道编号，求出表示磁头离开磁道中心的相对距离的位置偏差信息。

下面，说明如上构成的本实施方式的脉冲串区再生电路400进行的脉冲串区再生处理。图6是表示实施方式1的脉冲串区再生电路进行的脉冲串区再生处理的步骤的流程图。

使磁头在目标磁道上移动，通过了伺服区110的前同步区111、地址区112后，一旦到达脉冲串区113，作为进行脉冲串信号再生处理的期间的脉冲串选通脉冲便上升。然后，从磁头读取脉冲串区113的脉冲串再生信号，将读取的模拟再生信号输出给CTF401。在CTF401中，对模拟再生信号进行滤波处理，输入到A-D变换器402中。在A-D变换器402中，按照根据前同步区的再生信号处理中决定的同步时钟的取样定时，对再生信号进行取样，将一周期4点的试样值Y保存在相位检测部410的存储器411中。

相位检测部410的内积计算部412a和内积计算部412b，从存储器411取得4点的试样值Y(步骤S601)。

然后，在内积计算部412a中，计算所取得的试样值Y和余弦值检测用系数[1，1，-1，-1]的内积，求出相位差余弦值C(步骤S602)。用(8)式表示该相位差余弦值C，输出给积分器413a。在积分器413a中，逐次累计输入的相位差余弦值C(步骤S603)。

另一方面，在内积计算部412b中，计算所取得的试样值Y和正弦值检测用系数[1，-1，-1，1]的内积，求出相位差正弦值S(步骤S604)。用(9)式表示该相位差正弦值S，输出给积分器413b。在积分器413b中，逐次累计输入的相位差正弦值S(步骤S605)。

然后，以包含在脉冲串选通脉冲的区间内的M周期数反复进行从上述步骤S601至S605的处理。这里，作为M周期，虽然也可以按照脉冲串区112的磁性部301全部的周期数(在图2的例中为21个周期)进行，但在脉冲串区113的开始位置，再生信号发生失真，为了避免这一点，最好在脉冲串区113中的再生处理开始后经过了两个周期后的时刻，使脉冲串选通脉冲上升，在脉冲串区113的结束位置的一周期之前，使脉冲串选通脉冲下降。因此，在图2的磁记录媒体的例中，在M＝21周期期间，脉冲串选通脉冲上升，反复进行从步骤S601至S605的处理。

然后，如果由积分器413a进行的M周期的相位差余弦值C的累计结束，则将相位差余弦值C的累计值BstAB输出给位置检测部420(步骤S606)。另一方面，如果由积分器413b进行的M周期的相位差正弦值S的累计结束，则将相位差正弦值S的累计值BstCD输出给位置检测部420(步骤S607)。

图7-1是表示相位差余弦值C的累计值BstAB和相位差正弦值S的累计值BstCD(将BstAB和BstCD称为脉冲串值)的磁头中心离开磁道中心的偏离磁道位置引起的变化的状态的曲线图。

在图7-1中，702是脉冲串值BstAB，701是脉冲串值BstCD。脉冲串再生信号的波形实际上发生波形失真，不会成为(1)式所示的理想的正弦波。因此，如图7-1所示，脉冲串值BstAB及BstCD相对于偏离磁道位置，也不会成为正弦波变动，但可知在磁道中心附近，BstCD相对于偏离磁道位置大致呈线性变化，在0.5磁道偏移的位置(偏离磁道位置＝0.5、-0.5的位置)，BstAB大致呈线性变化。因此，能根据脉冲串值BstAB及BstCD，高精度地求得对应于偏离磁道位置的位置偏差信息。

因此，在位置检测部420中，对输入的BstAB及BstCD乘以根据图7-1所示的曲线事先求得的权重系数，从而求出加权平均。这时，如上所述，在来自偶数磁道的再生信号和来自奇数磁道的再生信号中，脉冲串再生信号的波形的相位翻转180度，所以输入磁道编号CYL，根据磁道编号是奇数还是偶数，进行BstAB和BstCD的相位翻转，求出加权平均，进行平滑化处理，求得位置偏差信息PES。

另外，在位置检测部420中，除此以外，例如也可以用求出BstAB和BstCD的反正切arctan(BstAB/BstCD)等的方法，求得位置偏差信息BES。

图7-2是表示对应于各磁道地址的位置偏差信息PES的曲线图。实线703是位置偏差信息，虚线704表示奇数磁道周边和偶数磁道周边的偏差。

这样，在实施方式1的磁记录媒体中，在脉冲串区113中用相对于前同步区111的磁性部201的前同步记录图形以预定的角度倾斜的单一的脉冲串记录图形，记录多个磁性部301，所以与用多个不同的脉冲串记录图形构成脉冲串区的现有的磁记录媒体相比，能提高磁记录媒体的格式化效率。另外，由于用相对于前同步记录图形以预定的角度倾斜的单一的脉冲串记录图形记录多个磁性部301，所以在磁头扫描了脉冲串区113的情况下，脉冲串再生信号的相位发生变化，通过检测该相位的变化，能高精度地求得磁头离开磁道中心位置的位置偏差信息。

另外，在实施方式1的磁记录再生装置中，由于根据脉冲串再生信号的试样值，求出对应于前同步再生信号的脉冲串再生信号的相位差信息，求得磁头的位置偏差信息，所以如本实施方式的磁记录媒体所示，在脉冲串区113是倾斜了的单一的脉冲串记录图形的情况下，也能检测高精度的位置偏差信息。

(实施方式2)

实施方式2的磁记录再生装置是在脉冲串区再生电路中，将脉冲串选通脉冲分割成多个选通脉冲，进行来自脉冲串区113的再生信号的处理的装置。

本实施方式的磁记录媒体，与实施方式1相同，作为相对于前同步记录图形倾斜的单一的脉冲串记录图形，形成脉冲串区113的磁性部301。在本实施方式中，形成伺服区110的磁道宽度为数据区的磁道宽度的2/3。但是，也可以将实施方式1的磁记录媒体用于本实施方式的磁记录再生装置。

图8是表示实施方式2的磁记录再生装置的脉冲串区再生电路800的结构的框图。如图8所示，本实施方式的脉冲串区再生电路800主要备有CTF401、A-D变换器402、以及相位检测部810。CTF401、A-D变换器402具有与实施方式1的脉冲串区再生电路400的CTF401、A-D变换器402相同的功能。

相位检测部810将脉冲串选通脉冲分割成4个选通脉冲，对被分割的每个选通脉冲，根据由A-D变换器402保存在存储器411中的脉冲串再生信号的4点试样值，求出脉冲串值作为相位差信息，输出给位置检测部420。

如图8所示，相位检测部810备有存储器411、内积计算部812、以及积分器813构成。

存储器411与实施方式1相同，是保存由A-D变换器402取样的一周期4点的试样值的存储器。

内积计算部812对每个被分割的选通脉冲，切换系数，以选通脉冲单位求出4点试样值和系数的内积。在本实施方式中，与实施方式1不同，将脉冲串选通脉冲分割成4等份，考虑选通脉冲A、选通脉冲B、选通脉冲C、选通脉冲D的区间，对这些各个选通脉冲区间，使与4点试样值Y相乘的内积系数不同而进行切换。

现有的磁记录媒体的脉冲串区，由被分割成脉冲串A、脉冲串B、脉冲串C、脉冲串D的脉冲串记录图形形成，所以获得各脉冲串部的各再生信号，作为图5-1所示的相位差H0＝0的再生信号，各脉冲串部的振幅值G0是变化的。该情况，通过作为对应于一周期的4点试样值的内积系数采用[1，1，-1，-1]，该内积值C如(8)式所示，获得与振幅成比例的振幅相当值。但是，实际上为了抑制噪声，将多个周期的内积值积分，作为平均振幅，求得脉冲串A、脉冲串B、脉冲串C、脉冲串D的各脉冲串值。

可是，如图3-1所示，在本实施方式中，磁记录媒体的脉冲串区113作为倾斜的单一的脉冲串记录图形形成，所以从再生信号获得的振幅保持恒定。因此，在本实施方式的脉冲串区再生电路800中，将脉冲串选通脉冲分割成4等份，考虑选通脉冲A、选通脉冲B、选通脉冲C、选通脉冲D的区间，对这些各个选通脉冲区间，使与4点试样值Y相乘的内积系数不同而进行切换，可获得不同的振幅值。

图9是表示对每个脉冲串选通脉冲的分割选通脉冲切换了内积系数的状态的说明图。如图9所示，选通脉冲A中切换内积系数[1，-1，-1，1]，选通脉冲B中切换内积系数[-1，1，1，-1]，选通脉冲C中切换内积系数[1，1，-1，-1]，选通脉冲D中切换内积系数[-1，-1，1，1]，求得与4点试样值Y的内积。

积分器813对每个选通脉冲逐次累计由内积计算部812求得的内积值，抑制噪声，将累计值作为脉冲串值(相位差信息)，输出给位置检测部420。

这样，在用相对于前同步记录图形倾斜的单一的脉冲串记录图形，形成脉冲串区113的多个磁性部301的情况下，也能获得对应于每个被分割的选通脉冲的脉冲串值，所以位置检测部420通过采用与现有的根据来自分割成了脉冲串A、脉冲串B、脉冲串C、脉冲串D这4个的脉冲串区的再生信号求出位置偏差信息的现有的位置检测部420，以及在功能及结构上具有以4种脉冲串记录图形形成的脉冲串区的磁记录媒体同样的处理，能用位置检测部420进行磁头的位置检测。

下面，说明这样构成的本实施方式的脉冲串区再生电路800进行的脉冲串区再生处理。图10是表示实施方式2的脉冲串区再生处理的步骤的流程图。

使磁头在目标磁道上移动，通过了伺服区110的前同步区111、地址区112后，一旦到达脉冲串区113，作为进行脉冲串信号再生处理的期间的脉冲串选通脉冲被等分地分割成选通脉冲A、选通脉冲B、选通脉冲C、选通脉冲D。然后，与实施方式1相同，从磁头读取脉冲串区113的脉冲串再生信号，将读取的模拟再生信号输出给CTF401。在CTF401中，对模拟再生信号进行滤波处理，输入到A-D变换器402中。在A-D变换器402中，按照在前同步区的再生信号处理中决定的同步时钟的取样定时，对再生信号进行取样，将一周期4点的试样值Y保存在相位检测部810的存储器411中。

在相位检测部810中，选通脉冲A区间一旦开始(步骤S1001：是)，内积计算部812便从存储器411取得4点的试样值Y(步骤S1002)。然后，内积计算部812将取得的试样值Y和对应于选通脉冲A区间的内积系数[1，1，-1，-1]相乘，求得内积值，用积分器813进行逐次累计(步骤S1003)。然后，反复进行这样的步骤S1002及步骤S1003的处理，直至选通脉冲A区间结束为止(步骤S1004：否)。由此，用积分器813累计在选通脉冲A区间中算出的内积值。

如果选通脉冲A区间结束(步骤S1004：是)，则将用积分器813累计的值作为脉冲串值Bst(相位差信息)，输出给位置检测部420(步骤S1005)。

其次，选通脉冲B区间一旦开始(步骤S1006：是)，内积计算部812便从存储器411取得4点的试样值Y(步骤S1007)，由内积计算部812将取得的试样值Y和对应于选通脉冲B区间的内积系数[-1，1，1，-1]相乘，求得内积值，用积分器813进行逐次累计(步骤S1008)。然后，反复进行这样的步骤S1007及步骤S1008的处理，直至选通脉冲B区间结束为止(步骤S1009：否)。由此，用积分器813累计在选通脉冲B区间中算出的内积值。

如果选通脉冲B区间结束(步骤S1009：是)，则将用积分器813累计的值作为脉冲串值Bst(相位差信息)，输出给位置检测部420(步骤S1010)。

同样，选通脉冲C区间一旦开始(步骤S1011：是)，内积计算部812便从存储器411取得4点的试样值Y(步骤S1012)，由内积计算部812将取得的试样值Y和对应于选通脉冲C区间的内积系数[1，1，-1，-1]相乘，求得内积值，用积分器813进行逐次累计(步骤S1013)。然后，反复进行这样的步骤S1012及步骤S1013的处理，直至选通脉冲C区间结束为止(步骤S1014：否)。

然后，如果选通脉冲C区间结束(步骤S1014：是)，则将用积分器813累计的值作为脉冲串值Bst(相位差信息)，输出给位置检测部420(步骤S1015)。

同样，选通脉冲D区间一旦开始(步骤S1016：是)，内积计算部812便从存储器411取得4点的试样值Y(步骤S1017)，由内积计算部812将取得的试样值Y和对应于选通脉冲D区间的内积系数[-1，-1，1，1]相乘，求得内积值，用积分器813进行逐次累计(步骤S1018)。然后，反复进行这样的步骤S1017及步骤S1018的处理，直至选通脉冲D区间结束为止(步骤S1019：否)。

然后，如果选通脉冲D区间结束(步骤S1019：是)，则将用积分器813累计的值作为脉冲串值Bst(相位差信息)，输出给位置检测部420(步骤S1020)。

通过这样的处理，在每个被分割的选通脉冲具有不同的振幅G0的脉冲串值被输入位置检测部420，位置检测部420不变更现有的位置检测处理，就能进行本实施方式的磁记录媒体上的磁头的位置检测。

图11是表示偏离磁道位置和各选通脉冲区之间的脉冲串值Bst的变化的状态的曲线图。1101是选通脉冲A区间的脉冲串值Bst，1102是选通脉冲B区间的脉冲串值Bst，1103表示选通脉冲C区间的脉冲串值Bst，1104表示选通脉冲D区间的脉冲串值Bst。

可知，与现有的磁记录媒体的各脉冲串A、B、C、D的振幅值不同，虽然具有平均为0的正负的脉冲串值，但能算出与由现有的磁记录媒体进行的各脉冲串A、B、C、D的情况大致同样的倾向的4种脉冲串值。

这样，在实施方式2的磁记录再生装置中，将脉冲串选通脉冲分割成4等份，考虑选通脉冲A、选通脉冲B、选通脉冲C、选通脉冲D的区间，对这些各个选通脉冲区间，使与4点试样值Y相乘的内积系数不同而进行切换，所以位置检测部420不变更现有的位置检测处理，就能进行用相对于前同步记录图形倾斜的单一的脉冲串记录图形形成脉冲串区113的多个磁性部301的本实施方式的磁记录媒体的磁头的位置检测。

(实施方式3)

在实施方式2的磁记录再生装置中，将脉冲串选通脉冲等分成4个区间，用内积计算部对每个被分割的各选通脉冲切换内积系数，算出了4种不同的脉冲串值，但在本实施方式3的磁记录再生装置中，由FIR滤波器切换对应于输入值的权重系数，算出不同的脉冲串值作为相位差信息。

本实施方式的磁记录媒体与实施方式2相同，用相对于前同步记录图形倾斜的单一的脉冲串记录图形，形成脉冲串区113的多个磁性部301，形成伺服区110的磁道宽度为数据区的磁道宽度的2/3。但是，也可以将实施方式1的磁记录媒体用于本实施方式的磁记录再生装置。

图12是表示实施方式3的磁记录再生装置的脉冲串区再生电路1200的结构的框图。如图12所示，本实施方式的脉冲串区再生电路1200主要备有CTF401、A-D变换器402、以及相位检测部1210。CTF401、A-D变换器402具有与实施方式1的脉冲串区再生电路400的CTF401、A-D变换器402相同的功能。

如图12所示，相位检测部1210备有FIR滤波器1212、环路增益器1214、以及积分器1213构成。

FIR滤波器(有限脉冲响应滤波器)1212是输入了脉冲时的输出信号收敛在有限时间内的滤波器，将在A-D变换器402中被变换成了数字信号的脉冲串再生信号的试样值等化。在本实施方式中，FIR滤波器1212由4抽头的滤波器构成，对应于输入信号，用(10)式算出输出值。

【数6】

Out[k]＝A0*Y[k]+A1*Y[k-1]+A2*Y[k-2]+A3*Y[k-3]    …(10)

这里，(10)式意味着用现在及过去的输入值Y[k]、Y[k-1]、Y[k-2]、Y[k-3]的加权平均表示k的输出值Out[k]，系数A0、A1、A2、A3被保存在环路增益器1214中，算出(10)式时参照。

从该(10)式可知，FIR滤波器1212是进行与算出4点试样值Y和系数[A0、A1、A2、A3]的内积值的处理等效的处理的滤波器，本实施方式的脉冲串区再生电路800使用FIR滤波器1212，代替实施方式2的内积计算部812。

可是，在本实施方式中，不是如实施方式2所示，输入一周期4点的试样值，求出内积值，而是对每一点输入各点的试样值，根据(10)式，求出输入的1点的试样值Y[k]和从输入时刻开始的前3点的试样值Y[k-1]、Y[k-2]、Y[k-3]这4点的试样值和环路增益器1214的系数A0、A1、A2、A3的内积。然后，为了取得每一周期的同步，每当输入试样值时，使系数A0、A1、A2、A3循环，逐次进行变更。更具体地说，某试样值输入时刻的系数[A0、A1、A2、A3]，在下一次的试样值输入时刻，被变更为[A3、A0、A1、A2]，在再下一次的试样值输入时刻，被变更为[A2、A3、A0、A1]，一周期4点的试样值输入后，返回最初的系数[A0、A1、A2、A3]，如此进行循环。这样的FIR滤波器1212因为是前同步区的再生信号处理中的AGC处理或PLL处理时使用的电路，所以通过在脉冲串区再生处理中使用，不需要设内积计算部这样的新的电路，具有能缩小脉冲串区再生电路的规模的优点。

积分器1213逐次累计由FIR滤波器1212求得的内积值，抑制噪声，将累计值作为脉冲串值Bst(相位差信息)，输出给位置检测部420。另外，在本实施方式的相位检测部1210中，每一次都将各点的试样值输入FIR滤波器1212，如实施方式2，不设置保存4点的试样值的存储器。

下面，说明这样构成的本实施方式的脉冲串区再生电路800进行的脉冲串区再生处理。图13是表示实施方式3的脉冲串区再生处理的步骤的流程图。

使磁头在目标磁道上移动，通过了伺服区110的前同步区111、地址区112后，一旦到达脉冲串区113，与实施方式2相同，作为进行脉冲串信号再生处理的期间的脉冲串选通脉冲被等分地分割成选通脉冲A、选通脉冲B、选通脉冲C、选通脉冲D。然后，与实施方式1相同，从磁头读取脉冲串区113的脉冲串再生信号，将读取的模拟再生信号输出给CTF401。在CTF401中，对模拟再生信号进行滤波处理，输入到A-D变换器402中。在A-D变换器402中，按照在前同步区的再生信号处理中决定的同步时钟的取样定时，对再生信号进行取样。

在相位检测部1210中，分割选通脉冲区间(最初为选通脉冲A区间)一旦开始(步骤S1301：是)，FIR滤波器1212取得试样值Y[k](步骤S1302)。然后，如(10)式所示，FIR滤波器1212将所取得的试样值Y[k]及以前取得的试样值Y[k-1]、Y[k-2]、Y[k-3]和系数[A0、A1、A2、A3]相乘，求出内积值，用积分器1213逐次累计(步骤S1303)。

然后，FIR滤波器1212从A-D变换器402取得下一个试样值Y[k+1](步骤S1304)。然后，如(11)式所示，FIR滤波器1212将所取得的试样值Y[k+1]及以前取得的试样值Y[k]、Y[k-1]、Y[k-2]和循环一次的系数[A3、A0、A1、A2]相乘，求出内积值，用积分器1213逐次累计(步骤S1305)。

【数7】

Out[k+1]＝A3*Y[k+1]+A0*Y[k]+A1*Y[k-1]+A2*Y[k-2]    …(11)

其次，FIR滤波器1212从A-D变换器402取得下一个试样值Y[k+2](步骤S1306)。然后，如(12)式所示，FIR滤波器1212将所取得的试样值Y[k+2]及以前取得的试样值Y[k+1]、Y[k]、Y[k-1]和再一次循环的系数[A2、A3、A0、A1]相乘，求出内积值，用积分器1213逐次累计(步骤S1307)。

【数8】

Out[k+2]＝A2*Y[k+2]+A3*Y[k+1]+A0*Y[k]+A1*Y[k-1]    …(12)

其次，FIR滤波器1212从A-D变换器402取得下一个试样值Y[k+3](步骤S1308)。然后，如(13)式所示，FIR滤波器1212将所取得的试样值Y[k+3]及以前取得的试样值Y[k+2]、Y[k+1]、Y[k]和再一次循环的系数[A1、A2、A3、A0]相乘，求出内积值，用积分器1213逐次累计(步骤S1309)。

【数9】

Out[k+3]＝A1*Y[k+3]+A2*Y[k+2]+A3*Y[k+1]+A0*Y[k]    …(13)

反复进行这样的从步骤S1302至步骤S1309的处理，直至当前的分割选通脉冲区间结束为止(步骤S1310：否)。如果当前的分割选通脉冲区间结束(步骤S1310：是)，便将在当前的分割选通脉冲区间累计的脉冲串值Bst(相位差信息)输出给位置检测部420(步骤S1311)。对选通脉冲A、选通脉冲B、选通脉冲C、选通脉冲D反复进行以上这样的从步骤S1301至步骤S1311的处理。由此，与实施方式2相同，在各个选通脉冲区间不同的脉冲串值(相位差信息)被输出给位置检测部420。

这样在实施方式3的磁记录再生装置中，由FIR滤波器切换内积系数，求脉冲串值，所以与实施方式2相同，位置检测部420不变更现有的位置检测处理，就能进行用相对于前同步记录图形倾斜的单一的脉冲串记录图形形成脉冲串区113的多个磁性部301的本实施方式的磁记录媒体的磁头的位置检测。

另外，在实施方式3的磁记录再生装置中，由于在内积计算中使用前同步区再生信号处理中使用的FIR滤波器1212，所以不需要设内积计算部这样的新的电路，能缩小脉冲串区再生电路的规模。

另外，各选通脉冲的系数的初始值，虽然也可以在各选通脉冲中变更，但最好是在各选通脉冲上升时使系数再一次循环。在此情况下，每个选通脉冲的脉冲串值，与现有的具有由被分割成4种不同的脉冲串A、B、C、D的脉冲串记录图形形成的脉冲串区的磁记录媒体的再生处理不同，虽然脉冲串值的输出顺序不同，即按照对应于脉冲串A的脉冲串值、对应于脉冲串C的脉冲串值、对应于脉冲串B的脉冲串值、对应于脉冲串D的脉冲串值这样的顺序输出，但由于输出4种脉冲串值，所以能由位置检测部420进行位置检测处理。

(实施方式4)

在实施方式1的磁记录再生装置中，由相位检测部410求相位差余弦值C和相位差正弦值S，将求出的相位差余弦值C和相位差正弦值S直接输出给位置检测部420，但本实施方式4的磁记录再生装置是求出相位差余弦值C和相位差正弦值S，进行除法处理，进行位置偏差信号的近似处理的装置。

本实施方式的磁记录媒体与实施方式1相同，用相对于前同步记录图形倾斜的单一的脉冲串记录图形形成脉冲串区113的多个磁性部301，伺服区的磁道宽度用与数据区的磁道宽度相同的宽度形成。但是，也可以将实施方式2的磁记录媒体用于本实施方式的磁记录再生装置。

图14是表示实施方式4的磁记录再生装置的脉冲串区再生电路1400的结构的框图。如图14所示，本实施方式的脉冲串区再生电路1400主要备有CTF401、A-D变换器402、以及相位检测部1410。CTF401、A-D变换器402具有与实施方式1的脉冲串区再生电路400的CTF401、A-D变换器402相同的功能。

相位检测部1410根据由A-D变换器402取样的脉冲串再生信号的4点试样值，求出相位差余弦值C、(-C)和相位差正弦值S，根据将它们分别累计的值，求除法运算值S/C及(-C/S)，输出给平滑化处理部1415。

如图14所示，相位检测部1410备有存储器411，3个内积计算部1412a、1412b、1412c，3个积分器1413a、1413b、1413c，以及两个除法器1414a、1414b。这里，存储器411具有与实施方式1的相位检测部410的存储器411同样的功能，是保存从A-D变换器402输出的4点的试样值的存储器。

内积计算部1412a从存储器411读出一周期4点的试样值Y，算出(2)～(6)式所示的试样值Y和余弦值检测用系数[1、1、-1、-1]的内积，输出用(14)式表示的相位差余弦值C。内积计算部1412b从存储器411读出4点的试样值Y，算出试样值Y和正弦值检测用系数[1、-1、-1、1]的内积，输出用(15)式表示的相位差正弦值S。内积计算部1412c从存储器411读出4点的试样值Y，算出试样值Y和余弦值检测用系数[-1，-1，1，1]的内积，输出用(16)式表示的相位差余弦值(-C)。

【数10】

$C=2\sqrt{2}*G0*\cos \left(H0\right)---\left(14\right)$

$S=2\sqrt{2}*G0*\sin \left(H0\right)---\left(15\right)$

$-C=-2\sqrt{2}*G0*\cos \left(H0\right)---\left(16\right)$

这里，余弦值检测用系数[1，1，-1，-1]是相位差为0的正弦波值，正弦值检测用系数[1，-1，-1，1]是相位差为0的余弦波值，余弦值检测用系数[-1，-1，1，1]是相位差为180度的正弦波值。

积分器1413a逐次累计由内积计算部1412a求得的相位差余弦值C，积分器1413b逐次累计由内积计算部1412b求得的相位差正弦值S，积分器1413c逐次累计由内积计算部1412c求得的相位差余弦值(-C)，是抑制各噪声的积分器。

除法器1414a将从积分器1413b输出的累计的相位差正弦值S，除以从积分器1413a输出的累计的相位差余弦值C，求除法运算值Ph-A(＝S/C)，输出给平滑化处理部1415。除法器1414b将从积分器1413c输出的累计的相位差余弦值(-C)，除以从积分器1413b输出的累计的相位差正弦值S，求除法运算值Ph-B(＝(-C/S))，输出给平滑化处理部1415。

严格地说，再生信号的相位虽然作为相位差余弦值C和相位差正弦值S的反正切即arctan(C/S)检测，但在相位为0的位置附近，arctan(C/S)的值能近似于S/C的除法运算值。因此，在本实施方式中，由相位检测部1410的除法器1414a求出除法运算值Ph-A＝S/C作为相位差信息，检测离开磁道中心的相位差。

另外，在偏移了90度相位的位置，相位差余弦值C＝0，不能求除法运算值S/C，在这样的位置附近，相位差的可靠性低。因此，在本实施方式的相位检测部1410中，用除法器1414b求出除法运算值Ph-B＝(-C/S)作为偏移了90度的相位差信息。

平滑化处理部1415是从相位检测部1410输入相位差信息Ph-A及Ph-B，取这两个值的加权平均，进行平滑化，求得位置偏差信息的处理部。

下面，说明如上构成的本实施方式的脉冲串区再生电路1400进行的脉冲串区再生处理。图15是表示实施方式4的脉冲串区再生处理的步骤的流程图。

使磁头在目标磁道上移动，通过了伺服区110的前同步区111、地址区112后，一旦到达脉冲串区113，与实施方式1相同，脉冲串选通脉冲上升，从磁头读取脉冲串区113的脉冲串再生信号，将读取的模拟再生信号输出给CTF401。然后，在CTF401中，对模拟再生信号进行滤波处理，由A-D变换器402按照在前同步区的再生信号处理中决定的同步时钟的取样定时，对再生信号进行取样，将一周期4点的试样值Y保存在相位检测部410的存储器411中。

相位检测部1410的内积计算部1412a、内积计算部1412b及内积计算部1412c，从存储器411取得4点的试样值Y(步骤S1501)。

然后，在内积计算部1412a中，计算所取得的试样值Y和余弦值检测用系数[1，1，-1，-1]的内积，求出相位差余弦值C(步骤S1502)。用(14)式表示该相位差余弦值C，输出给积分器1413a。在积分器1413a中，逐次累计输入的相位差余弦值C(步骤S1503)。

另外，在内积计算部1412b中，计算所取得的试样值Y和正弦值检测用系数[1，-1，-1，1]的内积，求出相位差正弦值S(步骤S1504)。用(15)式表示该相位差正弦值S，输出给积分器1413b。在积分器1413b中，逐次累计输入的相位差正弦值S(步骤S1505)。

另外，在内积计算部1412c中，计算所取得的试样值Y和余弦值检测用系数[-1，-1，1，1]的内积，求出相位差余弦值(-C)(步骤S1506)。用(16)式表示该相位差余弦值(-C)，输出给积分器1413c。在积分器1413c中，逐次累计输入的相位差余弦值(-C)(步骤S1507)。然后，反复进行M个周期的这样的从步骤S1501至S1507的处理。这里，关于M个周期，与实施方式1相同，脉冲串区112的磁性部301可以进行全部周期(在图2的例中为21个周期)的处理，也可以通过在脉冲串区113中的再生处理开始后经过了两个周期后的时刻，使脉冲串选通脉冲上升，在脉冲串区113的结束位置的一个周期之前，使脉冲串选通脉冲下降，成为18个周期。

如果反复进行M个周期的上述处理，则用除法器1414a，将从积分器1413b输出的累计的相位差正弦值S除以从积分器1413a输出的累计的相位差余弦值C，求得相位差信息Ph-A(＝S/C)，输出给平滑化处理部1415(步骤S1508)。

其次，用除法器1414b，将从积分器1413c输出的累计的相位差余弦值(-C)除以从积分器1413b输出的累计的相位差正弦值S，求得相位差信息Ph-B(＝(-C)/S)，输出给平滑化处理部1415(步骤S1509)。

在平滑化处理部1415中，输入相位差信息Ph-A(＝S/C)及相位差信息Ph-B(＝(-C/S))，通过计算加权平均a*(S/C)+b*(-C/S)(a，b：权重系数)，求出进行平滑化的位置偏差信息PES(步骤S1510)。

这样在实施方式4的磁记录再生装置中，求相位差余弦值C和相位差正弦值S，进行除法处理，用Ph-A(＝S/C)及Ph-B(＝(-C/S))来近似arctan(C/S)，求位置偏差信号，所以不根据离开磁道中心的位置，就能可靠地求出相位差，能更高精度地进行磁头的位置检测。

(实施方式4的变形例)

在实施方式4中，虽然分别用Ph-A(＝S/C)及Ph-B(＝(-C/S))近似了相位为0的位置及相位偏移了90度的位置附近的arctan(C/S)，但也可以分别设置4个内积计算部和除法器，在每个相位偏移了90度的位置，求近似的4个相位差信息。

图16是表示作为实施方式4的变形例的脉冲串区再生电路1600的结构的框图。在该变形例中，如图16所示，相位检测部1610备有：存储器411，4个内积计算部1412a、1412b、1412c、1612d，4个积分器1413a、1413b、1413c、1613d，4个除法器1414a、1414b、1614c、1614d。这里，存储器411具有与实施方式1的相位检测部410的存储器411同样的功能，是保存从A-D变换器402输出的4点的试样值的存储器。

内积计算部1412a、1412b、1412c与实施方式4相同，从存储器411读出一周期4点的试样值Y，分别算出用(2)～(6)式表示的试样值Y和余弦值检测用系数[1，1，-1，-1]、正弦值检测用系数[1，-1，-1，1]、余弦值检测用系数[-1，-1，1，1]的内积，分别输出用(14)、(15)、(16)式表示的相位差余弦值C、相位差正弦值S、相位差余弦值(-C)。

内积计算部1612d是该变形例中追加的，用来从存储器411读出4点的试样值Y，算出试样值Y和正弦值检测用系数[-1，1，1，-1]的内积，输出用(17)式表示的相位差正弦值(-S)。这里，正弦值检测用系数[-1，1，1，-1]是相位差为180度的余弦波值。

【数11】

$-S=-2\sqrt{2}*G0*\sin \left(H0\right)---\left(17\right)$

积分器1413a、1413b、1413c与实施方式4相同，是分别逐次累计用内积计算部1412a、1412b、1412c求出的相位差余弦值C、相位差正弦值S、相位差余弦值(-C)，抑制噪声的积分器。积分器1613d逐次累计用内积计算部1612d求出的相位差正弦值(-S)，抑制噪声。

除法器1414a与实施方式4相同，将从积分器1413b输出的累计的相位差正弦值S除以从积分器1413a输出的累计的相位差余弦值C，求得除法运算值Ph-A(＝S/C)，输出给平滑化处理部1615。

除法器1414b与实施方式4相同，将从积分器1413c输出的累计的相位差余弦值(-C)除以从积分器1413b输出的累计的相位差正弦值S，求得除法运算值Ph-B(＝(-C/S))，输出给平滑化处理部1615。

除法器1614c将从积分器1613d输出的累计的相位差正弦值(-S)除以从积分器1413a输出的累计的相位差余弦值C，求得除法运算值Ph-C(＝(-S/C))，输出给平滑化处理部1615。

除法器1614d将从积分器1413a输出的累计的相位差余弦值C除以从积分器1413b输出的累计的相位差正弦值S，求得除法运算值Ph-D(＝C/S)，输出给平滑化处理部1615。

这些相位差信息Ph-A＝S/C、Ph-B＝(-C/S)、Ph-C＝(-S/C)、Ph-D＝C/S在相位偏移0、90度、相位偏移180度、相位偏移270度的各偏移磁道位置附近，近似arctan(C/S)。

说明这样构成的变形例的脉冲串区再生电路1600进行的脉冲串区再生处理。图17是表示实施方式4的变形例的脉冲串区再生处理的步骤的流程图。

用相位检测部1410的内积计算部1412a、内积计算部1412b及内积计算部1412c、1612d，从存储器411取得4点的试样值Y(步骤S1701)，关于由内积计算部1412a、1412b、1412c进行的内积计算处理、以及由积分器1413a、1413b、1413c进行的累计处理(步骤S1702～S1707)，与实施方式4的处理(步骤S1502～S1507)同样地进行。

其次，在内积计算部1612d中，计算所取得的试样值Y和正弦值检测用系数[-1，-1，1，1]的内积，求出相位差正弦值(-S)(步骤S1708)。用(17)式表示该相位差正弦值(-S)，输出给积分器1613d。在积分器1614d中，逐次累计输入的相位差正弦值(-S)(步骤S1709)。

然后，反复进行M个周期的以上的从步骤S1701至S1709的处理。如果反复进行了M个周期的上述处理，便用除法器1414a将从积分器1413b输出的累计的相位差正弦值S除以从积分器1413a输出的累计的相位差余弦值C，求得相位差信息Ph-A(＝S/C)，输出给平滑化处理部1615(步骤S1710)。

然后，用除法器1414b将从积分器1413c输出的累计的相位差余弦值(-C)除以从积分器1413b输出的累计的相位差正弦值S，求得相位差信息、Ph-B(＝(-C/S))，输出给平滑化处理部1615(步骤S1711)。

另外，用除法器1614c将从积分器1613d输出的累计的相位差正弦值(-S)除以从积分器1413a输出的累计的相位差余弦值C，求得除法运算值Ph-C(＝(-S/C))，输出给平滑化处理部1615(步骤S1712)。

另外，用除法器1614d将从积分器1413a输出的累计的相位差余弦值C除以从积分器1413b输出的累计的相位差正弦值S，求得除法运算值Ph-D(＝C/S)，输出给平滑化处理部1615(步骤S1713)。

在平滑化处理部1615中，输入相位差信息Ph-A(＝S/C)、Ph-B(＝(-C/S))、Ph-C(＝(-S/C))及Ph-D(＝C/S)，通过计算加权平均a*(S/C)+b*(-C/S)+c*(-S/C)+d*(C/S)(a，b、c、d：权重系数)，求出进行平滑化的位置偏差信息PES(步骤S1714)。

这样在实施方式4的变形例的磁记录再生装置中，在每偏移了90度的相位的位置，求近似的4个相位差信息，求得位置偏差信号，所以不根据离开磁道中心的位置，就能可靠地求相位差，能更高精度地进行磁头的位置检测。

(实施方式5)

实施方式1～4的磁记录再生装置根据脉冲串区113的再生信号进行磁头的位置检测，而本实施方式5的磁记录再生装置根据脉冲串区113的再生信号，还检测磁头的记录媒体径向的移动速度。

本实施方式的磁记录媒体与实施方式1相同，用相对于前同步记录图形倾斜的单一的脉冲串记录图形形成脉冲串区113的多个磁性部301，伺服区的磁道宽度用与数据区的磁道宽度相同的宽度形成。但是，也可以将实施方式2的磁记录媒体用于本实施方式的磁记录再生装置。

图18是表示实施方式5的磁记录再生装置的脉冲串区再生电路和位置速度检测部1820的结构的框图。脉冲串区再生电路400是与实施方式1同样结构的电路。在本实施方式中，将脉冲串选通脉冲分割成两份，对每个被分割的选通脉冲1、选通脉冲2区间，求相位差余弦值C1、C2和相位差正弦值S1、S2。

位置速度检测部1820是检测磁头在磁道上的位置和记录媒体的径向速度的检测部。如图18所示，位置速度检测部1820备有位置检测部1821和速度检测部1822。

位置检测部1821是对每个被分割的选通脉冲区间，输入相位差余弦值、相位差正弦值和磁道编号，求每个选通脉冲区间的位置偏差信息PES1、PES2的检测部。即，根据用选通脉冲1区间算出的相位差余弦值C1和相位差正弦值S1，求位置偏差信息PES1，根据用选通脉冲2区间算出的相位差余弦值C2和相位差正弦值S2，求位置偏差信息PES2。这里，根据相位差余弦值和相位差正弦值求位置偏差信息的方法，与实施方式1的位置检测部420同样地进行。

速度检测部1822是根据每个选通脉冲区间的位置偏差信息PES1、PES2，算出磁头的径向移动速度的检测部。

图19是表示分割了脉冲串选通脉冲的状态的说明图。在本实施方式中，虽然对脉冲串选通脉冲进行了等分，但不一定必须进行等分。这里，如图19所示，假设被分割的后半个选通脉冲区间的上升沿延迟时间为T_BST，能用在前半个选通脉冲1区间求得的位置偏差信息PES1和在后半个选通脉冲2区间求得的位置偏差信息PES2，且用下面的(18)及(19)式，表示磁头的位置偏差信息PES及径向移动速度v。

【数12】

PES＝(PES1+PES2)/2    …(18)

v＝(PES2-PES1)/T_BST    …(19)

这里，在(18)式中，之所以将PES1和PES2相加后除以2，是因为虽然选通脉冲区间越长，越能进行高精度的位置检测，但在本实施方式中将脉冲串选通脉冲分割成两个而变短，所以PES1和PES2中分别呈现噪声的影响，位置检测精度劣化，所以是为了抑制这种劣化。

另外，在(19)式中，脉冲串区中的磁头的径向移动能忽视加速度的变化，所以在径向移动速度的计算中，将PES1和PES2的差分除以上升沿延迟时间T_BST。

下面说明如上构成的本实施方式的磁记录再生装置1800进行的磁头的位置速度检测处理。图20是表示实施方式5的磁记录再生装置1800进行的磁头的位置速度检测处理的步骤的流程图。

使磁头在目标磁道上移动，通过了伺服区110的前同步区111、地址区112后，一旦到达脉冲串区113，将脉冲串选通脉冲分割成了两个的前半个选通脉冲1上升，在该选通脉冲1区间，与实施方式1同样地用相位检测部410求相位差余弦值C1和相位差正弦值S1，与实施方式1同样地由位置检测部1821算出位置偏差信息PES1(步骤S2001)。

其次，如果被分割的后半个选通脉冲2比选通脉冲1上升沿延迟T_BST，则在选通脉冲2区间，与实施方式1同样地由位置检测部410求相位差余弦值C2和相位差正弦值S2，与实施方式1同样地由位置检测部1821算出位置偏差信息PES2(步骤S2002)。

其次，由位置检测部1821根据在选通脉冲1区间求得的PES1和选通脉冲2区间求得的PES2，用(18)式算出位置偏差信息PES(步骤S2003)。其次，由速度检测部1822根据PES1、PES2及上升沿延迟时间T_BST，用(19)式算出磁头的径向移动速度v(步骤S2004)。

这样在实施方式5的磁记录再生装置1800中，由于将脉冲串选通脉冲分割成两个，分别从前半个和后半个选通脉冲区间求位置偏差信息PES1、PES2，根据该PES1、PES2，求位置偏差信息PES和磁头的径向移动速度，所以能更高精度地进行磁头的位置检测。另外，在本实施方式中，由于能进行使用脉冲串区的径向移动速度的检测，所以在磁头在磁道之间移动的寻道操作中，能求出比根据扇区之间的位置差分求移动速度的情况精度更高的移动速度，能大幅度地提高寻道性能。

(实施方式6)

在实施方式5的磁记录再生装置1800中，分割脉冲串选通脉冲，根据在被分割的各选通脉冲中求得的位置偏差信息PES1、PES2，算出磁头的位置偏差信息PES和磁头的径向移动速度v，但本实施方式6的磁记录再生装置还进行选通脉冲区间的切换，算出磁头的位置偏差信息PES和磁头的径向移动速度v。

本实施方式的磁记录媒体与实施方式1相同，用相对于前同步记录图形倾斜的单一的脉冲串记录图形形成脉冲串区113的多个磁性部301，伺服区的磁道宽度用与数据区的磁道宽度相同的宽度形成。但是，也可以将实施方式2的磁记录媒体用于本实施方式的磁记录再生装置。

图21是表示实施方式6的磁记录再生装置的脉冲串区再生电路和位置速度检测部2120的结构的框图。脉冲串区再生电路400是与实施方式1同样结构的电路。

位置速度检测部2120是进行脉冲串选通脉冲的分割选通脉冲的切换，检测磁头在磁道上的位置和记录媒体的径向速度的检测部。如图21所示，位置速度检测部2120备有位置检测部1821、速度检测部1822以及选通脉冲切换部2121。另外，位置检测部1821、速度检测部1822具有与实施方式5的位置检测部1821、速度检测部1822同样的功能。

选通脉冲切换部2121切换成在磁头在磁道上的定位控制中，不分割脉冲串选通脉冲，在磁头在磁道之间移动的寻道中，将脉冲串选通脉冲分割成两个。这是因为脉冲串选通脉冲越长，位置检测精度就越高，在磁头的定位控制中，需使位置检测的精度最大，另一方面，磁头在寻道中由于速度检测应优先于位置检测，所以分割脉冲串选通脉冲，能进行速度检测。

另外，选通脉冲切换部2121在磁头寻道中，对应于目标速度变更实施方式5的上升沿延迟时间T_BST，调整分割选通脉冲区间的长度。

由于近年来的磁记录媒体的窄磁道间距化，磁头的最大寻道速度时，通过脉冲串区时的径向移动量有时越过一条磁道。因此，如实施方式5所示，在将脉冲串选通脉冲分割成两个进行速度检测的情况下，有可能误检测磁头的移动速度，所以在扇区之间对磁头的位置取差分，必须根据该差分值和扇区之间的移动时间，进行磁头的移动速度的检测，速度检测的精度低。因此，在本实施方式中，磁头寻道时，通过根据目标速度，缩短上升沿延迟时间T_BST，抑制被分割的每个选通脉冲的位置偏差信息PES的变化量，防止移动速度的误检测。

图22是表示脉冲串选通脉冲和分割了的选通脉冲2的上升沿延迟时间的状态的说明图。在本实施方式中，用位置速度检测部2120的选通脉冲切换部2121控制磁头的定位时，不分割脉冲串选通脉冲，磁头寻道时，将脉冲串选通脉冲分割成选通脉冲1和选通脉冲2，根据磁头的目标速度使选通脉冲2的上升沿延迟时间T_BST变化。具体地说，控制为磁头的目标速度越快，越缩短上升沿延迟时间T_BST。使上升沿延迟时间T_BST变化后的磁头移动速度检测处理，与实施方式5的速度检测处理同样地进行。

这里，利用使用上述的分割选通脉冲求得的速度和通过扇区之间的位置差分求得的速度的加权平均，算出在磁头的寻道中检测的速度。在此情况下，磁头寻道中的目标速度越大，权重系数为使检测的速度比扇区之间的位置差分优先的值，在低速寻道或稳定(setting)的状态下，权重系数为使利用分割选通脉冲求得的速度优先的值。

这样在实施方式6的磁记录再生装置中切换为，在磁头在磁道上的定位控制中，不分割脉冲串选通脉冲，在磁头在磁道之间移动的寻道中，将脉冲串选通脉冲分割成两个，根据磁头的目标速度调整选通脉冲2的上升沿延迟时间T_BST，所以在磁头定位处理中，能进行高精度的磁头的位置检测，同时在磁头在磁道之间高速寻道中，能进行高精度的速度检测。

另外，在本实施方式中，在磁头寻道中，在将脉冲串选通脉冲分割成两个的状态下，虽然直接根据磁头的目标速度调整上升沿延迟时间T_BST，但除此以外，也可以由选通脉冲切换部2121根据磁头的目标速度，调整脉冲串选通脉冲的分割数。图23是表示根据磁头的目标速度增加了脉冲串选通脉冲的分割数的例子的说明图。具体地说，也可以用选通脉冲切换部2121进行调整，以便磁头的目标速度越快，越增大分割数。

(实施方式7)

在实施方式5的磁记录再生装置1800中，基于根据脉冲串区113的再生信号求得的相位差，并根据各分割选通脉冲的位置偏差信息PES1、PES2和上升沿延迟时间T_BST，检测了磁头的径向移动速度，但在该方法中，速度检测时有时产生误差。

因此，在实施方式7的磁记录再生装置中，还考虑脉冲串区113的再生信号的振幅值的变换，检测磁头的径向移动速度。

本实施方式的磁记录媒体与实施方式1相同，用相对于前同步记录图形倾斜的单一的脉冲串记录图形形成脉冲串区113的多个磁性部301，伺服区的磁道宽度用与数据区的磁道宽度相同的宽度形成。但是，也可以将实施方式2的磁记录媒体用于本实施方式的磁记录再生装置。

另外，本实施方式的磁记录再生装置的脉冲串区再生电路及位置速度检测部的结构与实施方式5相同。

在用(8)式表示的相位差余弦值C和在用(9)式表示的相位差正弦值S中，都包含振幅G0。因此，如(20)式所示，根据相位差余弦值C和相位差正弦值S，能获得只包含振幅值的信息。

【数13】

$G=\sqrt{c^2+s^2}=2\sqrt{2}*G0---\left(20\right)$

本实施方式中使用的磁记录媒体，由于用相对于前同步记录图形倾斜的单一的脉冲串记录图形形成脉冲串区113的多个磁性部301，所以在同一磁道上，离开磁道中心的相对距离即使变化，只是从脉冲串区获得的再生信号的时钟的相位产生变化，振幅通常是一定的。

可是，在磁头在磁道之间移动，寻道速度增大了的情况下，脉冲串区的再生信号的振幅变化。这样的振幅变化依赖于磁性部301的倾斜角度，但在图2所示的倾斜的磁性部301的脉冲串记录图形中，在磁头沿着朝向图2上方的记录媒体中心的方向移动的情况下，信号振幅减少，反之在磁头从图2下方的记录媒体中心朝向记录媒体外侧的方向移动的情况下，信号振幅有增大的倾向。

因此，在本实施方式的磁记录再生装置中，用位置速度检测部1820的速度检测部1822，按照(19)式优先进行速度检测，在误检测了速度的情况下，用从相位检测部410输入的相位差余弦值C和相位差正弦值S，按照(20)式算出包含振幅G0的振幅信息G，求得磁头的移动速度。

这里，在磁头进行高速寻道操作的情况下，振幅值G0变化，同时也发生频率变化。因此，在磁头从记录媒体中心朝向外侧移动的情况下，虽然振幅值G0单调增加，但两者有非线性关系，所以预先进行振幅信息G和磁头的移动速度的测量，求出表示移动速度和振幅信息G的关系的速度-振幅换算函数，根据振幅信息G和速度-振幅换算函数，检测磁头的移动速度。

这样在本实施方式7的磁记录再生装置中，由于除了根据从相位差求得的每个分割选通脉冲的位置偏差信息PES1、PES2和上升沿延迟时间T_BST，检测磁头的移动速度以外，在这样的速度检测中有错误的情况下，能根据脉冲串区113的再生信号的振幅值的变化，检测磁头的径向移动速度，所以能精度更高地进行磁头的移动速度的检测。

(实施方式8)

实施方式8的磁记录再生装置是根据磁头的高速寻道时发生的脉冲串区的再生信号的频率变化，求磁头的移动速度的装置。

本实施方式的磁记录媒体与实施方式1相同，用相对于前同步记录图形倾斜的单一的脉冲串记录图形形成脉冲串区113的多个磁性部301，伺服区的磁道宽度用与数据区的磁道宽度相同的宽度形成。但是，也可以将实施方式2的磁记录媒体用于本实施方式的磁记录再生装置。

进行磁头高速寻道操作时发生的频率变化，严格地说作为正交检波的误差出现，影响相位检测和振幅检测，成为检测结果中发生非线性失真的原因。在本实施方式的磁记录媒体中，在磁头朝向记录媒体中心移动的寻道操作的情况下，频率下降，在磁头从记录媒体中心向外侧移动的寻道操作的情况下，频率上升。由于磁头的径向移动速度与这样的频率变化有线性关系，所以在本实施方式的磁记录再生装置中，通过检测频率变化，来检测磁头的移动速度，即使在高速寻道操作中，也能高精度地检测磁头的径向移动速度。

图24是表示实施方式8的磁记录再生装置的结构的框图。图24只示出了在本实施方式的磁记录再生装置中，磁头的移动速度检测中使用的电路。另外，磁头的速度检测处理时，虽然不能根据脉冲串区113的再生信号检测位置偏差信息，但可以使用从地址区112求得的位置信息，所以在磁头进行高速寻道操作的情况下不成问题。

在实施方式8的磁记录再生装置中作为速度检测用的结构，如图24所示，由A-D变换器2301、PLL电路2310、SFG(伺服频率发生器)电路2302和速度检测电路2320构成。这里，A-D变换器2301、PLL电路2310和SFG电路2302都共用在前同步区的再生信号处理中使用的电路。

A-D变换器2301按照PLL电路2310输出的同步时钟的取样定时，将从磁头放大器IC(HIC)通过CTF(图中未示出)输入的作为脉冲串区113的再生信号的脉冲串再生信号，变换成数字信号。

SFG电路2302是生成伺服基准时钟的电路。PLL电路2310是对由SFG电路2302生成的伺服基准时钟进行相位调整，对应于A-D变换器2301检测的脉冲串再生信号，生成N倍周期而且相位一致的再生时钟，调整A-D变换器2301中的取样定时的电路。

即，在脉冲串区113的再生信号处理中，按照在实施方式1中说明的方法，脉冲串再生信号的取样定时与前同步区111的再生信号处理中决定的定时同步，在磁头中心与磁道中心一致的情况下，再生信号的相位为0，在图5-1所示的定时进行取样。

在本实施方式中，检测磁头的移动速度时，由PLL电路2310生成进行了频率相位调整的再生时钟，以便与脉冲串再生信号同步，进行实施反馈控制的同步处理，以便将图5-1所示的取样定时调整为图5-2所示的定时。

如图24所示，PLL电路2310备有P/D(相位比较器)2312、以及VCO(电压控制发送器)2311。

P/D2312检测SFG电路2302中生成的伺服基准时钟(实际上是事先对基准时钟进行了N分频的时钟)和用A-D变换器2301取样的试样值Y的数据串的定时误差(TE)。

VCO2311用由P/D2312检测的定时误差(TE)，调整发送频率，以便脉冲串再生信号的试样值Y的数据串按照图5-2所示的定时进行取样。该定时误差(TE)虽然当初混合了相位误差和频率误差，但根据该定时误差(TE)调整VCO2311的发送频率，直至从A-D变换器2301输出的试样值Y的数据串在图5-2所示的定时被取样为止，由PLL电路2310进行反馈控制。

通过这样的PLL电路2310的控制，确定脉冲串再生信号的取样定时，同步处理结束，定时误差(TE)成为只是把伺服基准时钟N分频了的时钟的频率修正量的恒定值，被输出给速度检测电路2320。

速度检测电路2320保持前同步区111的再生信号处理后的初始定时误差(TE0)。该初始定时误差(TE0)是磁头的移动速度检测处理时，在磁头移动到脉冲串区、脉冲串选通脉冲上升的时刻从PLL电路2310输入定时误差(TE)并保持的误差，是前同步再生信号的同步处理结束后的定时误差。

在速度检测电路2320中，进行从PLL电路2310输入的定时误差(TE)、即脉冲串再生信号同步结束后的定时误差(TE)和初始定时误差(TE0)的比较处理，作为该比较结果的差分值成为与前同步区和脉冲串区的频率误差成比例的频率变化量，根据这样的频率变化量，输出磁头的移动速度VEL。

磁头的移动速度检测处理时，在脉冲串区113中磁头移动，脉冲串选通脉冲上升了的时刻，定时误差(TE)被从PLL电路2310输入速度检测电路2320中，这样的定时误差(TE)作为初始定时误差被保持在速度检测电路2320中。

在脉冲串选通脉冲区间，由PLL电路2310进行脉冲串再生信号的同步引入处理。而且，一旦脉冲串选通脉冲下降，脉冲串再生信号的取样定时被确定，该时刻的定时误差(TE)便从PLL电路2310输入速度检测电路2320，在速度检测电路2320中，算出作为被输入的定时误差和初始定时误差的差分值的频率变化量，输出对应于该频率变化量的磁头的移动速度VEL。

这样在实施方式8的磁记录再生装置中，由于检测前同步区和脉冲串区的频率变化，求磁头的移动速度，所以即使在磁头高速地进行寻道操作的情况下，也能高精度地检测磁头的径向移动速度。

另外，作为频率的检测方法，不限定于本实施方式中进行的处理，也能使用众所周知的方法。另外，也可以使用带通滤波器，将频率变化换算成振幅变化，根据换算的振幅，检测磁头的移动速度。

Claims (13)

1、一种磁记录媒体，具有：

表示用来进行磁头相对于磁记录媒体的位置检测的伺服数据的伺服区；以及

沿磁道方向与上述伺服区并列配置、能用上述磁头写入用户数据的数据区，

其特征在于：

上述伺服区备有

由多个磁性部形成了表示上述伺服数据中的用来取得时钟同步的数据的前同步记录图形的前同步区；以及

由多个磁性部形成了表示上述伺服数据中的用来求出磁头相对于磁道中心位置的相对位置的数据、相对于上述前同步记录图形以预定的倾斜角度倾斜的作为配置图形的单一的脉冲串记录图形的脉冲串区。

2、根据权利要求1所述的磁记录媒体，其特征在于：

上述前同步区中，由多个磁性部形成相对于上述磁道方向正交的直线状的上述前同步记录图形，

上述脉冲串区中，由多个磁性部形成直线状的上述脉冲串记录图形。

3、根据权利要求1所述的磁记录媒体，其特征在于：

上述脉冲串区中，由多个磁性部形成再生信号的相位以每大于等于两条且小于等于四条的磁道成为一周期的倾斜角度倾斜的上述脉冲串记录图形。

4、一种磁记录再生装置，具有：

表示用来进行磁头相对于磁记录媒体的位置检测的伺服数据的伺服区；以及

沿磁道方向与上述伺服区并列配置，能用上述磁头写入用户数据的数据区；且

上述伺服区具有：

由多个磁性部形成了表示上述伺服数据中的用来取得时钟同步的数据的前同步记录图形的前同步区；以及

由多个磁性部形成了表示上述伺服数据中的用来求出磁头相对于磁道中心位置的相对位置的数据、相对于上述前同步记录图形以预定的倾斜角度倾斜的作为配置图形的单一的脉冲串记录图形的脉冲串区；

其特征在于该磁记录再生装置备有：

从上述脉冲串区再生的脉冲串再生信号，基于按上述前同步区的再生信号处理中规定的同步时钟取样后的各点的试样值和预定的多个系数，将上述脉冲串再生信号相对于上述前同步区的再生信号的相位差，作为相当于多个相位差的相位差信息求出的相位检测单元；以及

基于由上述相位检测单元求得的上述相位差信息，求出表示上述磁头离开磁道中心位置的相对距离的位置偏差信息的位置检测单元。

5、根据权利要求4所述的磁记录再生装置，其特征在于：

上述相位检测单元备有

算出将上述各点的试样值和作为上述系数的相位差为0的正弦波值相乘的第一内积值的第一内积单元；

算出将上述各点的试样值和作为上述系数的相位差为0的余弦波值相乘的第二内积值的第二内积单元；

累计由上述内积计算单元求得的上述第一内积值，作为上述相位差信息输出的第一积分器；以及

累计由上述内积计算单元算出的上述第二内积值，作为上述相位差信息输出的第二积分器。

6、根据权利要求4所述的磁记录再生装置，其特征在于：

上述相位检测单元备有

对每个将脉冲串选通脉冲区间分割成多个区间得到的分割选通脉冲区间，算出将不同值的系数和上述各点的试样值相乘的内积值的内积计算单元，上述脉冲串选通脉冲区间是对应于上述脉冲串区的再生处理区间；以及

对每个上述分割选通脉冲区间，累计由上述内积计算单元算出的上述内积值，作为上述相位差信息输出的积分器。

7、根据权利要求4所述的磁记录再生装置，其特征在于：

上述相位差检测单元备有

输入上述各点的试样值，把对输入的多个上述试样值分别乘以不同的多个系数并相加得到的输出值输出的滤波电路；以及

对每个将脉冲串选通脉冲区间分割成多个区间得到的分割选通脉冲区间，累计从上述滤波电路输出的上述输出值，作为上述相位差信息输出的积分器，上述脉冲串选通脉冲区间是对应于上述脉冲串区的再生处理区间，

上述滤波电路每当输入上述各点的试样值，使上述多个系数依次循环，与上述试样值相乘，算出上述输出值，输出算出的上述输出值。

8、根据权利要求4所述的磁记录再生装置，其特征在于：

上述相位检测单元备有

对上述不同值的系数，将上述各点的试样值和上述系数相乘，算出多个内积值的内积计算单元；

在作为对应于脉冲串区的再生处理区间的脉冲串选通脉冲区间之间，分别累计由上述内积计算单元求得的上述多个内积值的累计单元；以及

将由上述积分器累计的各内积值互相相除求得的多个除法运算值作为上述相位差信息输出的除法单元。

9、根据权利要求8所述的磁记录再生装置，其特征在于：

上述内积计算单元备有：算出将上述各点的试样值和作为上述系数的正弦波值相乘的第一内积值的第一内积计算单元；算出将上述各点的试样值和作为上述系数的余弦波值相乘的第二内积值的第二内积计算单元；以及算出将上述各点的试样值和作为上述系数的相位差为180度的正弦波值相乘的第三内积值的第三内积单元，

上述累计单元备有：累计由上述第一内积计算单元求得的上述第一内积值的第一积分器；累计由上述第二内积计算单元求得的上述第二内积值的第二积分器；以及累计由上述第三内积单元求得的上述第三累计值的第三积分器，

上述除法单元备有：将由上述第二积分器累计的上述第二内积值，除以由上述第一积分器累计的上述第一内积值，求出所除得的第一除法运算值，作为上述相位差信息输出的第一除法器；以及将由上述第三积分器累计的上述第三内积值，除以由上述第二积分器累计的上述第二内积值，求出所除得的第二除法运算值，作为上述相位差信息输出的第二除法器。

10、根据权利要求4或5所述的磁记录再生装置，其特征在于：

还备有检测上述磁头沿磁记录媒体的径向的移动速度的速度检测单元，

上述相位检测单元，对每个将脉冲串选通脉冲分割后得到的分割选通脉冲区间，从上述脉冲串再生信号，并基于按前同步区的再生信号处理中规定的同步时钟取样的各点的试样值、以及预定的多个系数，求关于上述脉冲串再生信号的上述相位差信息，上述脉冲串选通脉冲是对应于脉冲串区的再生处理区间，

上述位置检测单元，基于由上述相位检测单元求得的每个上述分割选通脉冲的上述相位差信息，求上述磁头中心离开上述磁道中心位置的每个上述分割选通脉冲区间的偏差信息，基于每个上述分割选通脉冲区间的上述偏差信息，求上述脉冲串选通脉冲区间的上述位置偏差信息，

上述速度检测单元，基于由上述位置检测单元求得的每个上述分割选通脉冲的上述偏差信息、以及上述分割选通脉冲的上升沿延迟时间，检测上述移动速度。

11、根据权利要求10所述的磁记录再生装置，其特征在于：还备有基于上述磁头的上述径向移动速度，控制上述分割选通脉冲的上升沿延迟时间或上述脉冲串选通脉冲的分割数的选通脉冲切换单元。

12、根据权利要求10所述的磁记录再生装置，其特征在于：上述速度检测单元还基于由上述相位检测单元求得的上述相位差信息，求上述脉冲串再生信号的振幅值，基于上述振幅值检测上述径向移动速度。

13、根据权利要求4所述的磁记录再生装置，其特征在于：还备有检测上述脉冲串再生信号相对于前同步区的再生信号的频率变化，基于所检测的频率变化，检测磁头沿磁记录媒体的径向的移动速度的速度检测单元。

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