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[Hintergrund der Erfindung]
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[Gebiet der Erfindung]
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Die
vorliegende Erfindung betrifft eine Prüfkarte, welche elektrische
Eigenschaften eines Halbleiterelementes, wie ein LSI Chip, misst,
und betrifft eine Montagestruktur eines Verbinders, welcher in Verbindung
mit dem Halbleiterelement kommt.
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[Beschreibung des Standes
der Technik]
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Es
gibt einen Auslegertyp genannten lateralen Typ und einen senkrechten
Typ genannten vertikalen Typ in einer Prüfkarte, welche elektrische
Eigenschaften eines Halbleiterelementes, wie ein LSI Chip, misst.
Der laterale Typ weist einen Aspekt auf, welcher nicht brauchbar
zur Messung vielen Chips zur gleichen Zeit ist, was erforderlich
ist unter Umständen,
in welchen Hochintegration des LSI Chips realisiert und ein Tester
gemultiplext ist, wodurch die Brauchbarkeit reduziert ist. Derweil,
weil der vertikale Typ einer Prüfkarte
viele Proben verwenden kann und einen hohen Freiheitsgrad für eine Probenanordnung
aufweist und er brauchbar ist zur Messung vieler Chips zur gleichen
Zeit, ist er gegenwärtig
hauptsächlich
verwendet.
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Wie
in der 8 gezeigt, umfasst ein vertikaler Typ einer Prüfkarte A
einen Hauptträger 1 mit
einer ersten Verbindungselektrode 4, welche in Kontakt
kommt mit einer Messvorrichtung zum Testen, wie einen Tester (nicht
gezeigt), einen Unterträger 3 mit
einer Vielzahl von Durchgangslöchern 9,
welche elektrisch mit der ersten Verbindungselektrode verbunden
sind, einen Verbindungspin 7, welcher lösbar in das Durchgangsloch 9 eingeführt ist,
ein Reduzierelement 2, welches mit einer Vielzahl von Verbindern 6,
in die der Verbindungspin 7 hineinragt von einer Hauptfläche 2a,
und eine Vielzahl von Verbindern 6, welche auf der anderen
Hauptfläche 2b angeordnet ist,
kommt in Kontakt mit einem Halbleiterelement (nicht gezeigt), welches
ein zu messendes Objekt, wie ein IC Chip ist, und einen Halter 10 durch
lösbaren
Montage des Reduzierelements 2 auf dem Hauptträger 1.
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Wenn
ein Halbleiterelement, wie ein LSI Chip, getestet wird, ist es erforderlich,
dass eine Vielzahl von Chips zur gleichen Zeit gemessen werden. Unlängst ist
ein Bedarf für
eine Prüfkarte
mit hoher Stabilität
im elektrischen Kontakt, einer hoher Performance und einer hohen
Zuverlässigkeit,
selbst wenn die Anzahl der Elektroden der in dem Test verwendeten
Prüfkarte
weiter gesteigert wird. Des Weiteren, da ein Betriebsstrom sehr
gering ist und Kontakte vielmals wiederholt sind in der oben genannten
Prüfkarte,
sind die Stabilität
des Kontaktdruckes seines Verbinders und Stabilität und Bewahrung
seiner elektrischen Leitungseigenschaften besonders erfordert. Des
Weiteren, Reaktionen sind erforderlich auf Deformationen oder Schäden, welche
durch Schlag oder Vibration der Kontakte erzeugt werden könnten.
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[Nachteile des Standes
der Technik und technisches Problem der Erfindung]
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Das
Halbleiterelement wird in der Weise gemessen, dass der Verbinder 6 der
Prüfkarte
gegen ein zu testendes Objekt, wie einen IC Chip (nicht gezeigt)
gepresst wird, und eine Messvorrichtung zum Testen, wie ein Tester
(nicht gezeigt), in Kontakt gebracht wird mit der ersten Verbindungselektrode 4 des
Haupt-Verbindermontageträgers 1.
Jedoch, wie in der 8 gezeigt, ist es notwendig,
den Verbindermontageträger
(Reduzierelement 2) selbst auszuwechseln, wenn Deformation
oder Schaden des Verbinders 6 wegen wiederholter Kontakte
erzeugt ist, da der Verbinder 6 durch direktes Verlöten mit
dem Verbindermontageträger
(Reduzierelement 2) befestigt ist, was sehr ineffektiv
in Bezug auf Zeit und ökonomischer
Effizienz ist.
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9 zeigt
auch ein konventionelles Beispiel, worin ein Verbindermontageträger (Reduzierelement 2)
separiert ist. Obwohl dies eine Verbesserung ist, verglichen mit
einem Beispiel, wie in 8 gezeigt, ist die ökonomische
Effizienz immer noch ineffektiv.
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Die
vorliegende Erfindung wurde gemacht, um die obigen Probleme einer
konventionellen Prüfkarte
zu lösen.
Es ist ein Ziel der vorliegenden Erfindung, eine Prüfkarte zur
Verfügung
zu stellen, in welcher exzellente Kontaktstabilität mit einem
zu testenden Objekt gewährleistet
ist, und nur ein Verbinder, welcher deformiert oder beschädigt ist
wegen wiederholter Kontakte, leicht ausgetauscht werden kann.
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Des
Weiteren ist es ein zusätzliches
Ziel der vorliegenden Erfindung, einen Verbinder zur Verfügung zu
stellen, in welchem exzellente Kontaktstabilität mit einem zu messenden Objekt
gewährleistet ist,
und bei Deformation oder Beschädigung
wegen wiederholter Kontakte, leicht ausgetauscht werden kann.
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[Zusammenfassung der Erfindung]
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Um
die obigen Ziele zu erreichen hat eine Prüfkarte einen Verbindermontageträger, auf
welchem einer Vielzahl von Verbindern eingerichtet sind, wobei der
Verbinder umfasst ein Einsteckteil zur Montage des Verbinders auf
dem Verbindermontageträger,
ein Stützteil
zum Stützen
des Einsteckteils und zur Ausführung
einer Positionierung in Höhenrichtung
durch Verbinden mit der Oberfläche
des Verbindermontageträgers,
ein sich von dem Stützteil
erstreckendes Armteil, und ein an einem Spitzenende des Armteils
angeordnetes Kontaktteil zum in Kontakt kommen mit einer Elektrode
eines zu testenden Objektes, und das Einsteckteil ist lösbar auf
einem in der Oberfläche
des Verbindermontageträgers
angeordneten und mittels eines Verdrahtungsmusters leitfähig gemachten
Elektrodenloch montiert.
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Weiterhin
hat gemäß der Prüfkarte der
vorliegenden Erfindung das Einsteckteil des Verbinders Federeigenschaften
und kommt in Kontakt mit einem inneren Teil des Elektrodenlochs
durch gepresst-werden zum Erreichen der obigen Ziele.
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Weiterhin
sind gemäß der Prüfkarte der
vorliegenden Erfindung eine Vielzahl von Elektrodenlöchern, welche
mittels eines Verdrahtungsmusters auf der Oberfläche des Verbindermontageträgers leitfähig gemacht
sind, für
einen Verbinder eingerichtet zum Erreichen der obigen Ziele.
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Weiterhin
ist ein Verbinder der vorliegenden Erfindung ein auf einem Verbindermontageträger zu montierender
Verbinder für
eine Prüfkarte,
wobei der Verbinder umfasst ein Einsteckteil mit Federeigenschaften
zur Montage des Verbinders auf dem Verbindermontageträger, ein
Stützteil
zum Stützen
des Einsteckteils und zur Ausführung
einer Positionierung in Höhenrichtung
durch Verbinden mit der Oberfläche
des Verbindermontageträgers,
ein sich von dem Stützteil
erstreckendes Armteil, und ein an einem Spitzenende des Armteils
angeordnetes Kontaktteil zum in Kontakt kommen mit einer Elektrode eines
zu testenden Objektes zum Erreichen der obigen Ziele.
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Weiterhin
hat ein Verbinder der vorliegenden Erfindung eine Vielzahl von in
den Verbindermontageträger
einzusteckenden Einsteckteilen, dessen Anzahl die gleiche oder weniger
als die Anzahl der Elektrodenlöcher
für einen
Verbinder ist zum Erreichen der obigen Ziele.
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Weiterhin,
gemäß dem Verbinder
der vorliegenden Erfindung hat der Armteil des Verbinders Federeigenschaften
zum Erreichen der obigen Ziele.
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Weiterhin,
gemäß dem Verbinder
der vorliegenden Erfindung hat der Armteil des Verbinders eine gebogene
Konfiguration zum Erreichen der obigen Ziele.
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Weiterhin,
gemäß dem Verbinder
der vorliegenden Erfindung ist der Armteil des Verbinders linear
und ein Plattenfederteil ist benachbart zum linearen Armteil und
gesandwicht zwischen dem Armteil und dem Einsteckteil eingerichtet
zum Erreichen der obigen Ziele.
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Zum
Erreichen der obigen Ziele hat eine Prüfkarte der vorliegenden Erfindung
einen Verbindermontageträger,
auf welchem einer Vielzahl von Verbindern eingerichtet sind, wobei
der Verbinder umfasst ein Einsteckteil zur Montage des Verbinders auf
dem Verbindermontageträger,
ein Stützteil
zum Stützen
des Einsteckteils und zur Ausführung
einer Positionierung in Höhenrichtung
durch Verbinden mit einer Oberfläche
des Verbindermontageträgers,
ein sich von dem Stützteil
erstreckendes Elektrodenteil, ein sich ebenfalls von dem Stützteil erstreckendes Armteil,
und ein an einem Spitzenende des Armteils angeordnetes Kontaktteil
zum in Kontakt kommen mit einer Elektrode eines zu testenden Objektes,
das Einsteckteil ist lösbar
auf einem in der Oberfläche des
Verbindermontageträgers
angeordneten Verbindermontageloch montiert, und das Elektrodenteil
ist in Verbindung mit einem Verdrahtungsmuster auf dem Verbindermontageträger.
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Weiterhin
hat gemäß der Prüfkarte der
vorliegenden Erfindung das Einsteckteil des Verbinders Federeigenschaften
und kommt in Kontakt mit einem inneren Teil des Verbindermontagelochs
durch gepresst-werden zum Erreichen der obigen Ziele.
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Weiterhin
sind gemäß der Prüfkarte der
vorliegenden Erfindung eine Vielzahl von Verbindermontagelöcher des
Verbindermontageträgers
für einen Verbinder
eingerichtet zum Erreichen der obigen Ziele.
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Weiterhin
hat gemäß der Prüfkarte der
vorliegenden Erfindung das Elektrodenteil des Verbinders Federeigenschaften
und kommt in Kontakt mit dem Verdrahtungsmuster auf dem Verbindermontageträger durch
gepresst-werden zum Erreichen der obigen Ziele.
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Weiterhin
ist ein Verbinder der vorliegenden Erfindung ein auf einem Verbindermontageträger zu montierender
Verbinder für
eine Prüfkarte,
wobei der Verbinder umfasst ein Einsteckteil mit Federeigenschaften
zur Montage des Verbinders auf dem Träger, ein Stützteil zum Stützen des
Einsteckteils und zur Ausführung
einer Positionierung in Höhenrichtung
durch Verbinden mit der Oberfläche
des Verbindermontageträgers,
ein sich von dem Stützteil
erstreckendes Elektrodenteil, ein sich von dem Stützteil erstreckendes
Armteil, und ein an einem Spitzenende des Armteils angeordnetes
Kontaktteil zum in Kontakt kommen mit einer Elektrode eines zu testenden Objektes
zum Erreichen der obigen Ziele.
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Weiterhin
hat ein Verbinder der vorliegenden Erfindung eine Vielzahl von in
den Verbindermontageträger
einzusteckenden Einsteckteilen, dessen Anzahl die gleiche oder weniger
als die Anzahl der Verbindermontagelöcher für einen Verbinder ist zum Erreichen
der obigen Ziele.
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Weiterhin
weist gemäß dem Verbinder
der vorliegenden Erfindung das Elektrodenteil Federeigenschaften
auf zum Erreichen der obigen Ziele.
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Weiterhin
weist gemäß dem Verbinder
der vorliegenden Erfindung das Armteil Federeigenschaften auf zum
Erreichen der obigen Ziele.
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Weiterhin
weist gemäß dem Verbinder
der vorliegenden Erfindung der Armteil des Verbinders eine gebogene
Konfiguration aufweist zum Erreichen der obigen Ziele.
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Weiterhin
ist gemäß dem Verbinder
der vorliegenden Erfindung der Armteil des Verbinders linear und
ein Plattenfederteil ist benachbart zum linearen Armteil und gesandwicht
zwischen dem Armteil und dem Einsteckteil eingerichtet zum Erreichen
der obigen Ziele.
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[Beschreibung der bevorzugten
Ausführungsbeispiele]
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Folgend
werden Ausführungsbeispiel
der vorliegenden Erfindung unter Bezugnahme auf die Figuren beschrieben.
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[Ausführungsform 1]
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1 ist
eine einen Teil einer Prüfkarte
A, welche mit einem lösbaren
Verbinder 6 der vorliegenden Erfindung versehen ist, darstellende
Schnittansicht, 2 ist eine einen lösbaren Verbinder 6 der vorliegenden
Erfindung darstellende vergrößerte Ansicht, 3a bis 3d sind
Ansichten, welche eine Variante von Formen von Einsteckteilen 61 zeigen, 4a bis 4d sind
Ansichten, welche eine andere Variante von Formen von Einsteckteilen 61 zeigen, 5 ist
eine einen anderen lösbaren
Verbinder 6 der vorliegenden Erfindung darstellende vergrößerte Ansicht, 6 ist
eine einen nochmals anderen lösbaren
Verbinder 6 der vorliegenden Erfindung darstellende vergrößerte Ansicht, 7 ist
eine einen nochmals anderen lösbaren
Verbinder 6 der vorliegenden Erfindung darstellende vergrößerte Ansicht, 8 ist
eine eine Querschnittsstruktur einer Prüfkarte mit konventionellem
Verbindungsmuster eines Verbinders darstellende Explosionsansicht,
und 9 ist eine eine andere Querschnittsstruktur einer Prüfkarte mit
konventionellem Verbindungsmuster eines Verbinders darstellende
Explosionsansicht.
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1 ist
eine einen Teil einer Prüfkarte
A, welche mit einem lösbaren
Verbinder 6 der vorliegenden Erfindung versehen ist, darstellende
Schnittansicht. Die Prüfkarte
A umfasst einen Hauptträger 1 mit
einer ersten Vebindungselektrode 4, welche elektrisch in
Kontakt kommt mit einer Messvorrichtung zum Testen, wie einen Tester
(nicht gezeigt), einen Unterträger 3 mit
einer Vielzahl von Durchgangslöchern 9 (nur
eines davon ist gezeigt), welche elektrisch mit der ersten Verbindungselektrode
verbunden sind, einen Verbindungspin 7, welcher lösbar in das
Durchgangsloch 9 eingesteckt ist, ein Reduzierelement 2,
mit einer Vielzahl von Verbindern (nur einer hiervon ist gezeigt) 6,
in welchen der Pin 7 von einer Hauptfläche 2b ragt, und der
Verbinder 6, welcher in der anderen Hauptfläche 2b eingerichtet
ist, kommt in Kontakt mit einem Halbleiterelement (nicht gezeigt),
welches ein zu testendes Objekt, wie ein IC Chip ist. Obwohl eine
Beschreibung angebracht ist unter der Annahme, dass ein Verbindermontageträger, auf
welchem Verbinder 6 montiert sind, das folgende Reduzierelement 2 ist,
ist es überflüssig zu
sagen, das der Träger
nicht auf das Reduzierelement beschränkt ist und dieser ein Träger sein
kann, in welchem eine Raumtransformation nicht durchgeführt wird.
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Der
Haupträger 1 umfasst
eine Vielzahl von ersten Verbindungselektroden 4 (nur eine
hiervon ist gezeigt) auf einer ersten Hauptfläche 1a, welche elektrisch
verbunden sind mit der Messvorrichtung zum Testen, und eine Vielzahl
von zweiten Verbindungselektroden 5 (nur eine hiervon ist
gezeigt) auf einer zweiten Hauptfläche 1b, welche elektrisch
mit dem folgend zu beschreibenden Unterträger 3 verbunden sind,
und die zweite Verbindungselektrode 5 und die erste Verbindungselektrode 4 sind
elektrisch über
eine Verdrahtung auf dem Hauptträger 1 verbunden.
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Die
ersten Verbindungselektroden 4 sind auf der ersten Hauptfläche 1a des
Hauptträgers 1 so
angeordnet, dass sie weit beabstandet sind zum Zecke der Entsprechung
des Abstandes zwischen Elektroden der Messvorrichtung, indem der
enge Abstand zwischen benachbarten zweiten Verbindungselektroden
auf der zweiten Hauptfläche 1b zum
weiten Abstand zwischen benachbarten ersten Verbindungselekaroden
auf der ersten Hauptfläche 1a transformiert
ist.
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Der
Unterträger 3 umfasst
eine erste Hauptfläche 3a,
welche der zweiten Hauptfläche 1b des Hauptträgers 1 gegenüberliegt,
eine zweite Hauptfläche 3b,
welche der ersten Hauptfläche 2a des
später zu
beschreibenden Reduzierelements 2 gegenüberliegt, und eine Vielzahl
von Durchgangslöchern 9 (nur eines
hiervon ist gezeigt) zwischen der ersten Hauptfläche 3a und der zweiten
Hauptfläche 3b.
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Die
eine elektrisch leitfähige
Beschichtung aufweisenden Durchgangslöcher 9 durchdringen
die erste Hauptfläche 3a und
die zweite Hauptfläche 3b und
sie sind elektrisch verbunden mit einer Vielzahl von dritten Verbindungselektroden 15 (nur
eine hiervon ist gezeigt), welche auf der ersten Hauptfläche 3a angeordnet
sind.
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Der
Abstand zwischen der dritten Verbindungselektrode 15 des
Unterträgers 3 und
die zweite Verbindungselektrode 5 des Hauptträgers 1 sind
verbunden über
ein elektrisch leitfähiges
Material 13, wie Lot oder ein leitfähiges Harz, und anderer Raum zwischen
der zweiten Hauptfläche 1b des
Hauptträgers 1 und
der gegenüberliegenden
ersten Hauptfläche 3a des
Unterträgers 3 ist
mit einem klebenden Harzmaterial 14 gefüllt. Folglich ist der Unterträger 3 integral
mit dem Hauptträger
versehen, während
sie mit ihm elektrisch verbunden sind.
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Der
in dem Reduzierelement 2 eingerichtete Verbindungspin 2 ist
in das Durchgangsloch 24 des Reduzierelements 2 eingesteckt
und auch lösbar
in das Durchgangsloch 9 des Unterträgers 3 so eingesteckt,
dass er elastisch in Kontakt ist mit dem mit einer leitfähigen Beschichtung
versehenen Durchgangsloch 9.
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Das
Reduzierelement 2 umfasst eine erste Hauptfläche 2a,
welche gegenüberliegend
der zweiten Hauptfläche 3b des
Unterträgers 3 ist,
und die zweite Hauptfläche 2b,
auf welcher eine Vielzahl von mit einem Elektrodenkissen (nicht
gezeigt) zu verbindenden Verbindern 6 (nur einer hiervon
ist gezeigt) in hoher Dichte in einem Halbleiterelement eingerichtet sind.
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In
dem Reduzierelement 2 sind als Sacklöcher ausgebildete Elektrodenlöcher eingerichtet,
in welche Verbinder 6 (nur einer hiervon ist gezeigt), eingesteckt
sind, und die Verbinder Einsteckteile 61 sind in die Sacklöcher eingesteckt.
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Alternativ
sind Verdrahtungsmuster auf Vorder- und Rückoberflächen des Reduzierelements 2 mit
Durchgangslöchern
(nicht gezeigt), welche das Reduzierelement 2 penetrieren,
eingerichtet, und die Verbinder Einsteckteile 61 sind in
die Durchgangslöcher,
welche als Elektrodenlöcher
dienen, eingesteckt.
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Eine
Vielzahl von Elektrodenlöchern
des Reduzierelements 2 sind für einen Verbinder 6 vorgesehen
und der Verbinder 6 hat eine Vielzahl von Einsteckteilen 61,
deren Anzahl die gleiche ist, wie die der Elektrodenlöcher, oder
weniger. Der Kontakt umfasst eine Vielzahl von Einsteckteilen, so
dass die Richtung des Kontaktes ausgewählt werden kann. Zusätzlich können sie
sicher positioniert, montiert, fixiert und elektrisch verbunden
werden, da sie mit Federeigenschaften in die Elektrodenlöcher eingepresst
sind.
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Der
Verbinder 6 umfasst eine Vielzahl von Einsteckteilen 61 zur
Montage des Verbinders 6 auf dem Reduzierelement 2,
wie in 2 gezeigt, ein Stützteil 62 zum Stützen der
Einsteckteile 61 und zur Ausführung einer Positionierung
in Höhenrichtung durch
Verbinden mit einer Oberfläche
des Reduzierelements 2, ein sich von dem Stützteil 62 erstreckendes
Armteil 64 einschließlich
Kurventeil 63, und ein an einem Spitzenende des Armteils 64 angeordnetes Kontaktteil 65 zum
in Kontakt kommen mit einer Elektrode eines zu testenden Objektes.
Die Einsteckteile 61 sind lösbar in die Elektrodenlöcher eingesteckt, welche
in der Oberfläche
des Reduzierelements 2 eingerichtet sind, und elektrisch
leitfähig
gemacht mit einem Verdrahtungsmuster.
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Wie
in 1 gezeigt, ist der Verbindungspin 7 verbunden
mit dem Einsteckteil 61 des Verbinders 6 mittels
eines Verdrahtungsmusters (fünfte
Verbindungselektrode 17), welches auf der Oberfläche 2b des
Reduzierelements 2 eingerichtet ist. Folglich kann die
erste Verbindungselektrode 4 mit dem Kontaktteil 65 so
verbunden werden, dass ein Abstand transformiert ist von einem ersten
Abstand zu einem zweiten Abstand.
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Die
in die Elektrodenlöcher
des Reduzierelements 2 einzusteckenden Einsteckteile 61 des
Verbinder 6 haben Federeigenschaften in der Form eines
doglegs oder umgekehrten doglegs, wie in 3a bis 3d gezeigt,
oder in der Form eines "C" oder umgekehrten "C", wie in den 4a bis 4d gezeigt,
welche unter Druck in Kontakt kommen mit dem Inneren der Elektrodenlöcher.
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Die
Einsteckteile 61 können
eine Kombination in der Form eines doglegs oder eine Kombination in
der Form eines umgekehrten doglegs sein, jeweils in umgekehrter
Richtung, wie in 2 oder 3a und 3b gezeigt,
oder können
eine Kombination in der Form eines doglegs oder eine Kombination
in der Form eines umgekehrten doglegs sein, jeweils in gleicher
Richtung, wie in 3c und 3d gezeigt.
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Die
Einsteckteile 61 können
alternativ eine Kombination in der Form eines "C" oder
eine Kombination in der Form eines umgekehrten "C" sein,
jeweils in umgekehrter Richtung, wie in 4a und 4b gezeigt,
oder können
eine Kombination in der Form eines "C" oder
eine Kombination in der Form eines umgekehrten "C" sein,
jeweils in gleicher Richtung, wie in 4c und 4d gezeigt.
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Zusätzlich können die
Einsteckteile 61 eine Kombination der dogleg Konfiguration
und der C-förmigen
Konfiguration sein, oder können
eine Kombination hiervon in der verschiedenen Richtung sein, obwohl
die nicht gezeigt sind.
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Da
es ein wesentlicher Gesichtspunkt der vorliegenden Erfindung ist,
dass die Einsteckteile 61 in Kontakt mit den Elektrodenlöchern mit
Federeigenschaften sind, ist es hierbei entbehrlich zu sagen, dass
sie nicht beschränkt
sind auf die dogleg Konfiguration noch auf die C-förmige Konfiguration.
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In
Hinblick auf die Verhinderung der Erzeugung eines Kurzschlusses
oder Störungen
oder die Vermeidung der Verbindungslösung eines Verdrahtungsmusters,
ist es bevorzugt, dass der Stützteil 62 dicker
ist als andere Teile in dem Verbinder 6, so dass es kaum
geknickt werden kann und sicher die Stützteile 61 stützt, und
ein Abstand gezeigt als "x" in 2 ist
eingerichtet, wenn die Einsteckteile 61 montiert sind,
um Kontakt zwischen dem Kurventeil 61 mit der Oberfläche des
Reduzierelements 2 zu vermeiden.
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Der
Verbinder 6 ist vorzugsweise aus einem elektrisch gut leitenden
Material, wie Kupfer (Cu), Nickel (Ni), oder dergleichen durch Ätzen, Pressen, oder
Elektroformen gemacht und mit Gold (Au) oder Zinn (Sn) beschichtet
nachdem der Kontaktteil 65 geformt und poliert ist. Gemäß diesem
Herstellungsverfahren, da es geformt werden kann ohne das Metall zu
biegen, bleibt keine Metallermüdung
durch Biegen, so dass die Federeigenschaften selbst nach wiederholtem
Gebrauch nicht nachlassen werden und ausgezeichnete Haltbarkeit
gewährleistet
ist.
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5 zeigt
ein Beispiel, in welchem das Stützteil 62 von
dem Reduzierelement 2 weg ist, so dass der Abstand, gezeigt
durch "x" hierin, eingerichtet
ist, um das Verdrahtungsmuster zwischen den beiden Einsteckteilen 61 hindurch
zulassen. Der in 5 gezeigte Abstand "x" ist eingerichtet, wenn das Einsteckteil
wie in 2 eingesteckt ist, um Kontakt zwischen dem Kurventeil 61 mit
der Oberfläche
des Reduzierelements 2 zu vermeiden.
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6 zeigt
ein Beispiel in welchem das Armteil 64 nicht ein Kurventeil
sondern eine lineare Konfiguration hat. Die Konfiguration des Armteiles 64 kann
angemessenerweise geändert
werden, abhängig
von der Konfiguration des zu testenden Halbleiterelementes.
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7 zeigt
ein Beispiel, in welchem ein Plattenfederteil 67 benachbart
zum linearen Armteil 4 und gesandwicht zwischen dem Armteil 64 und
dem Einsteckteil 61 eingerichtet ist. In dieser Struktur
wird Federdruck graduell erhöht,
abhängig
von dem Grad der Deformation des Armteiles 64, und der
Kontaktteil 65 kann sicher in Kontakt mit der Elektrode
des zu testenden Objektes sein. Obwohl zwei Plattenfederteile 67 in 7 eingerichtet
sind, ist es entbehrlich zu sagen, dass sie einfach, zweifach oder öfter eingerichtet
sein können.
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Weiterhin
ist es ersichtlich, dass die vorliegende Erfindung nicht beschränkt ist
auf die detaillierten Konfigurationen des Verbinders, wie vorstehend
illustriert.
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[Ausführungsform 2]
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10 ist
eine einen Teil einer Prüfkarte
A, welche mit einem lösbaren
Verbinder 6 der vorliegenden Erfindung versehen ist, darstellende
Schnittansicht, 11 ist eine einen lösbaren Verbinder 6 der vorliegenden
Erfindung darstellende vergrößerte Ansicht, 12a bis 12d sind
Ansichten, welche eine Variante von Formen von Einsteckteilen 61 zeigen, 13a bis 13d sind
Ansichten, welche eine andere Variante von Formen von Einsteckteilen 61 zeigen, 14 ist
eine einen anderen lösbaren Verbinder 6 dieser
Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung darstellende vergrößerte Ansicht, 15 ist
eine einen nochmals anderen lösbaren Verbinder 6 dieser
Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung darstellende vergrößerte Ansicht, 16 ist
eine einen nochmals anderen lösbaren Verbinder 6 dieser
Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung darstellende vergrößerte Ansicht, 17 zeigt
ein Beispiel in welchem ein Elektrodenteil 66 des in 10 gezeigten
Beispiels in entgegengesetzter Richtung von dem Armteil 64 (einschließlich des
Kurventeils 63) hervorragt, 18 zeigt
ein Beispiel in welchem ein Elektrodenteil 66 des in 10 gezeigten
Beispiels von beiden Seiten eines Stützteils 62 hervorragt, 19 zeigt
ein Beispiel in welchem ein Elektrodenteil 66 des in 15 gezeigten
Beispiels in gleicher Richtung wie ein Armteil 64 hervorragt, 20 zeigt
ein Beispiel in welchem ein Elektrodenteil 66 des in 15 gezeigten
Beispiels von beiden Seiten eines Stützteils 62 hervorragt, 21 zeigt
ein Beispiel in welchem ein Elektrodenteil 66 des in 16 gezeigten
Beispiels in gleicher Richtung wie ein Armteil 64 und ein
Federteil 67 hervorragt, und 22 zeigt
ein Beispiel in welchem ein Elektrodenteil 66 des in 16 gezeigten
Beispiels von beiden Seiten eines Stützteils 62 hervorragt.
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10 ist
eine einen Teil einer Prüfkarte
A, welche mit einem lösbaren
Verbinder 6 der vorliegenden Erfindung versehen ist, darstellende
Schnittansicht. Die Prüfkarte
A umfasst einen Hauptträger 1 mit
einer ersten Vebindungselektrode 4, welche elektrisch in
Kontakt kommt mit einer Messvorrichtung zum Testen, wie einen Tester
(nicht gezeigt), einen Unterträger 3 mit
einer Vielzahl von Durchgangslöchern 9 (nur
eines davon ist gezeigt), welche elektrisch mit der ersten Verbindungselektrode
verbunden sind, einen Verbindungspin 7, welcher lösbar in das
Durchgangsloch 9 eingesteckt ist, ein Reduzierelement 2,
mit einer Vielzahl von Verbindern (nur einer hiervon ist gezeigt) 6,
in welchen der Pin 7 von einer Hauptfläche 2b ragt, und der
Verbinder 6, welcher in der anderen Hauptfläche 2b eingerichtet
ist, kommt in Kontakt mit einem Halbleiterelement (nicht gezeigt),
welches ein zu testendes Objekt, wie ein IC Chip ist. Obwohl eine
Beschreibung angebracht ist unter der Annahme, dass ein Verbindermontageträger, auf
welchem Verbinder 6 montiert sind, das folgende Reduzierelement 2 ist,
ist es überflüssig zu
sagen, dass der Träger
nicht auf das Reduzierelement beschränkt ist und dieser ein Träger sein
kann, in welchem eine Raumtransformation nicht durchgeführt wird.
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Der
Haupträger 1 umfasst
eine Vielzahl von ersten Verbindungselektroden 4 (nur eine
hiervon ist gezeigt) auf einer ersten Hauptfläche 1a, welche elektrisch
verbunden sind mit der Messvorrichtung zum Testen, und eine Vielzahl
von zweiten Verbindungselektroden 5 (nur eine hiervon ist
gezeigt) auf einer zweiten Hauptfläche 1b, welche elektrisch
mit dem folgend zu beschreibenden Unterträger 3 verbunden sind,
und die zweite Verbindungselektrode 5 und die erste Verbindungselektrode 4 sind
elektrisch über
eine Verdrahtung auf dem Hauptträger 1 verbunden.
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Die
ersten Verbindungselektroden 4 sind auf der ersten Hauptfläche 1a des
Hauptträgers 1 so
angeordnet, dass sie weit beabstandet sind zum Zecke der Entsprechung
des Abstandes zwischen Elektroden der Messvorrichtung, indem der
enge Abstand zwischen benachbarten zweiten Verbindungselektroden
auf der zweiten Hauptfläche 1b zum
weiten Abstand zwischen benachbarten ersten Verbindungselektroden
auf der ersten Hauptfläche 1a transformiert ist.
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Der
Unterträger 3 umfasst
eine erste Hauptfläche 3a,
welche der zweiten Hauptfläche 1b des Hauptträgers 1 gegenüberliegt,
eine zweite Hauptfläche 3b,
welche der ersten Hauptfläche 2a des
später zu
beschreibenden Reduzierelements 2 gegenüberliegt, und eine Vielzahl
von Durchgangslöchern 9 (nur eines
hiervon ist gezeigt) zwischen der ersten Hauptfläche 3a und der zweiten
Hauptfläche 3b.
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Die
eine elektrisch leitfähige
Beschichtung aufweisenden Durchgangslöcher 9 durchdringen
die erste Hauptfläche 3a und
die zweite Hauptfläche 3b und
sie sind elektrisch verbunden mit einer Vielzahl von dritten Verbindungselektroden 15 (nur
eine hiervon ist gezeigt), welche auf der ersten Hauptfläche 3a angeordnet
sind.
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Der
Abstand zwischen der dritten Verbindungselektrode 15 des
Unterträgers 3 und
die zweite Verbindungselektrode 5 des Hauptträgers 1 sind
verbunden über
ein elektrisch leitfähiges
Material 13, wie Lot oder ein leitfähiges Harz, und anderer Raum zwischen
der zweiten Hauptfläche 1b des
Hauptträgers 1 und
der gegenüberliegenden
ersten Hauptfläche 3a des
Unterträgers 3 ist
mit einem klebenden Harzmaterial 14 gefüllt. Folglich ist der Unterträger 3 integral
mit dem Hauptträger
versehen, während
sie mit ihm elektrisch verbunden sind.
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Der
in dem Reduzierelement 2 eingerichtete Verbindungspin 2 ist
in das Durchgangsloch 24 des Reduzierelements 2 eingesteckt
und auch lösbar
in das Durchgangsloch 9 des Unterträgers 3 so eingesteckt,
dass er elastisch in Kontakt ist mit dem mit einer leitfähigen Beschichtung
versehenen Durchgangsloch 9.
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Das
Reduzierelement 2 umfasst eine erste Hauptfläche 2a,
welche gegenüberliegend
der zweiten Hauptfläche 3b des
Unterträgers 3 ist,
und die zweite Hauptfläche 2b,
auf welcher eine Vielzahl von mit einem Elektrodenkissen (nicht
gezeigt) zu verbindenden Verbindern 6 (nur einer hiervon
ist gezeigt) in hoher Dichte in einem Halbleiterelement eingerichtet sind.
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In
dem Reduzierelement 2 sind als Sacklöcher ausgebildete Elektrodenlöcher eingerichtet,
in welche Verbinder 6 (nur einer hiervon ist gezeigt), eingesteckt
sind, und die Verbinder Einsteckteile 61 sind in die Sacklöcher eingesteckt.
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Obwohl
die innere Oberfläche
des Verbindermontagelochs, welches in dem Reduzierelement 2 als
Sackloch eingerichtet ist, beschichtet oder nicht beschichtet sein
kann, ist es in Hinblick auf die Haltbarkeit vorzugsweise beschichtet.
Da es jedoch auf Grund des Einflusses der Oberflächenspannung nicht einfach
ist, eine Beschichtungslösung
in ein kleines Loch zu infiltrieren, ist der Besehichtungsprozess
nicht erforderlich.
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Eine
Vielzahl von Elektrodenlöchern
des Reduzierelements 2 sind für einen Verbinder 6 vorgesehen
und der Verbinder 6 hat eine Vielzahl von Einsteckteilen 61,
deren Anzahl die gleiche ist, wie die der Elektrodenlöcher, oder
weniger. Der Verbinder umfasst eine Vielzahl von Einsteckteilen,
so dass die Richtung des Verbinders ausgewählt werden kann. Zusätzlich können sie
sicher positioniert, montiert, fixiert und elektrisch verbunden
werden, da sie mit Federeigenschaften in die Elektrodenlöcher eingepresst
sind. Folglich kann der gepresste Kontakt des Elektrodenteils 66 durch
Federdruck genügend
gewährleistet
sein und der elektrische Kontakt kann stabil sein. Weiterhin, da
die spezifische Elektrode anders als das Verbindermontageloch eingerichtet
ist, wird die Verbindung nicht instabil wegen eines Beschichtungsfehlers
in dem Verbindermontageloch.
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Der
Verbinder 6 umfasst eine Vielzahl von Einsteckteilen 61 zur
Montage des Verbinders 6 auf dem Reduzierelement 2,
wie in 11 gezeigt, ein Stützteil 62 zum
Stützen
der Einsteckteile 61 und zur Ausführung einer Positionierung
in Höhenrichtung durch
Verbinden mit einer Oberfläche
des Reduzierelements 2, ein sich von dem Stützteil 62 erstreckendes
Elektrodenteil 66, wobei das Armteil 64 sich ebenfalls
von dem Stützteil 62 erstreckt
und ein Kurventeil 63 umfasst, und ein an einem Spitzenende des
Armteils 64 angeordnetes Kontaktteil 65 zum in Kontakt
kommen mit einer Elektrode eines zu testenden Objektes. Die Einsteckteile 61 sind
lösbar
in die Verbindermontagelöcher
eingesteckt, welche in der Oberfläche des Reduzierelements 2 eingerichtet sind,
und das Elektrodenteil 66 ist elektrisch verbunden mit
dem auf dem Reduzierelement 2 angeordneten Verdrahtungsmuster.
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Wie
in 10 gezeigt, ist der Verbindungspin 7 verbunden
mit dem Einsteckteil 61 des Verbinders 6 mittels
eines Verdrahtungsmusters (fünfte
Verbindungselektrode 17), welches auf der Oberfläche 2b des
Reduzierelements 2 eingerichtet ist. Folglich kann die
erste Verbindungselektrode 4 mit dem Kontaktteil 65 so
verbunden werden, dass ein Abstand transformiert ist von einem ersten
Abstand zu einem zweiten Abstand.
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Die
in die Elektrodenlöcher
des Reduzierelements 2 einzusteckenden Einsteckteile 61 des
Verbinder 6 haben Federeigenschaften in der Form eines
doglegs oder umgekehrten doglegs, wie in 12a bis 12d gezeigt, oder in der Form eines "C" oder umgekehrten "C",
wie in den 13a bis 13d gezeigt,
welche unter Druck in Kontakt kommen mit dem Inneren der Elektrodenlöcher.
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Die
Einsteckteile 61 können
eine Kombination in der Form eines doglegs oder eine Kombination in
der Form eines umgekehrten doglegs sein, jeweils in umgekehrter
Richtung, wie in 11 oder 12a und 12b gezeigt, oder können eine Kombination in der
Form eines doglegs oder eine Kombination in der Form eines umgekehrten
doglegs sein, jeweils in gleicher Richtung, wie in 12c und 12d gezeigt.
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Die
Einsteckteile 61 können
alternativ eine Kombination in der Form eines "C" oder
eine Kombination in der Form eines umgekehrten "C" sein,
jeweils in umgekehrter Richtung, wie in 13a und 13b gezeigt, oder können eine Kombination in der
Form eines "C" oder eine Kombination
in der Form eines umgekehrten "C" sein, jeweils in
gleicher Richtung, wie in 13c und 13d gezeigt.
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Zusätzlich können die
Einsteckteile 61 eine Kombination der dogleg Konfiguration
und der C-förmigen
Konfiguration sein, oder können
eine Kombination hiervon in der verschiedenen Richtung sein, obwohl
die nicht gezeigt sind.
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Da
es ein wesentlicher Gesichtspunkt der vorliegenden Erfindung ist,
dass die Einsteckteile 61 in Kontakt mit den Verbindermontagelöchern mit
Federeigenschaften sind, ist es hierbei entbehrlich zu sagen, dass
sie nicht beschränkt
sind auf die dogleg Konfiguration noch auf die C-förmige Konfiguration.
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Es
ist bevorzugt, dass der Stützteil 62 dicker ist
als andere Teile in dem Verbinder 6 ist, so dass es kaum
geknickt werden kann und sicher die Stützteile 61 stützt.
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Der
Verbinder 6 ist vorzugsweise aus einem elektrisch gut leitenden
Material, wie Kupfer (Cu), Nickel (Ni), oder dergleichen durch Ätzen, Pressen, oder
Elektroformen gemacht und mit Gold (Au) oder Zinn (Sn) beschichtet
nachdem der Kontaktteil 65 und der Elektrodenteil 66 geformt
und poliert sind. Gemäß diesem
Herstellungsverfahren, da es geformt werden kann ohne das Metall
zu biegen, bleibt keine Metallermüdung durch Biegen, so dass
die Federeigenschaften selbst nach wiederholtem Gebrauch nicht nachlassen
werden und ausgezeichnete Haltbarkeit gewährleistet ist.
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14 zeigt
ein Beispiel, in welchem das Stützteil 62 von
dem Reduzierelement 2 weg ist, so dass der Abstand, gezeigt
durch "x" hierin, eingerichtet
ist, um das Verdrahtungsmuster zwischen den beiden Einsteckteilen 61 hindurch
zulassen. Dies ist angewandt auf einen Fall, wo Stabilität zum Zeitpunkt der
Montage verstärkt
ist durch Nahme von viel Raum zwischen Einsteckteilen 61 und
den Verbindermontagelöchern.
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15 zeigt
ein Beispiel in welchem das Armteil 64 nicht ein Kurventeil
sondern eine lineare Konfiguration hat. Die Konfiguration des Armteiles 64 kann
angemessenerweise geändert
werden, abhängig
von der Konfiguration des zu testenden Halbleiterelementes.
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16 zeigt
ein Beispiel, in welchem ein Plattenfederteile 67 benachbart
zum linearen Armteil 4 und gesandwicht zwischen dem Armteil 64 und dem
Einsteckteil 61 eingerichtet ist. In dieser Struktur wird
Federdruck graduell erhöht,
abhängig
von dem Grad der Deformation des Armteiles 64, und der
Kontaktteil 65 kann sicher in Kontakt mit der Elektrode des
zu testenden Objektes sein. Obwohl zwei Plattenfederteile 67 in 16 eingerichtet
sind, ist es entbehrlich zu sagen, dass sie einfach, zweifach oder öfter eingerichtet
sein können.
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17 zeigt
ein Beispiel in welchem ein Elektrodenteil 66 des in 10 gezeigten
Beispiels in entgegengesetzter Richtung von dem Armteil 64 (einschließlich des
Kurventeils 63) hervorragt. Es kann angemessenerweise ausgetauscht
werden, abhängig
von der Konfiguration des zu messenden Halbleiterelementes.
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18 zeigt
ein Beispiel in welchem ein Elektrodenteil 66 des in 10 gezeigten
Beispiels von beiden Seiten eines Stützteils 62 hervorragt.
Die Kombination des Verbinders 6 und des Reduzierelements 2 in
dieser Struktur kann auf ein Teil angewandt werden, bei welchem
insbesondere die Leitung erhöht
werden muss und Kontaktwiderstand reduziert werden muss, wie eine
Stromversorgungsleitung und dergleichen.
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19 zeigt
ein Beispiel in welchem ein Elektrodenteil 66 des in 15 gezeigten
Beispiels in gleicher Richtung wie ein Armteil 64 hervorragt, 20 zeigt
ein Beispiel in welchem ein Elektrodenteil 66 des in 15 gezeigten
Beispiels von beiden Seiten eines Stützteils 62 hervorragt, 21 zeigt ein
Beispiel in welchem ein Elektrodenteil 66 des in 16 gezeigten
Beispiels in gleicher Richtung wie ein Armteil 64 und ein
Federteil 67 hervorragt, und 22 zeigt
ein Beispiel in welchem ein Elektrodenteil 66 des in 16 gezeigten
Beispiels von beiden Seiten eines Stützteils 62 hervorragt.
Sie werden wahlweise verwendet entsprechend dem Bedarf, wie in 17 und 18 gezeigt.
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Wie
oben beschrieben und obwohl verschiedene Arten von Beispielen von
Konfigurationen illustriert sind, ist es entbehrlich zu sagen, dass
die vorliegende Erfindung nicht beschränkt ist auf die illustrierten
Konfigurationen des Verbinders.
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Wie
vorstehend beschrieben, ist die Prüfkarte der vorliegenden Erfindung
eine Prüfkarte
mit einem Verbindermontageträger
(Reduzierelement), auf welchem eine Vielzahl von Verbindern eingerichtet sind,
wobei der Verbinder umfasst ein Einsteckteil zur Montage des Verbinders
auf dem Verbindermontageträger,
ein Stützteil
zum Stützen
des Einsteckteils und zur Ausführung
einer Positionierung in Höhenrichtung
durch Verbinden mit einer Oberfläche
des Verbindermontageträgers,
ein sich von dem Stützteil erstreckendes
Armteil, und ein an einem Spitzenende des Armteils angeordnetes
Kontaktteil zum in Kontakt kommen mit einer Elektrode eines zu testenden
Objektes, und wobei das Einsteckteil lösbar auf einem in der Oberfläche des
Verbindermontageträgers
angeordneten und mittels eines Verdrahtungsmusters leitfähig gemachten
Elektrodenloch montiert ist. Folglich kann allein der Verbinder
ausgetauscht werden ohne Trennung des Verbindermontageträgers (Reduzierelements),
so da es hoch effektiv in Hinblick auf Zeit und ökonomische Effizienz sein kann.
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Weiterhin,
da gemäß der Prüfkarte der
vorliegenden Erfindung eine Vielzahl von Elektrodenlöchern, welche
mittels eines Verdrahtungsmusters auf der Oberfläche des Verbindermontageträgers (Reduzierelements)
leitfähig
gemacht sind, für
einen Verbinder eingerichtet sind, und der eine Verbinder eine Vielzahl
von Einsteckteilen aufweist, kann der Verbinder zuverlässig positioniert,
montiert, fixiert werden, so dass er zuverlässig für eine lange Zeit in Kontakt kommt
mit dem zu messenden Objekt.
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Weiterhin,
da gemäß der Prüfkarte der
vorliegenden Erfindung das Einsteckteil des Verbinders Federeigenschaften
hat und in in der Oberfläche
des Verbindermontageträgers
(Reduzierelements) eingerichteten Elektrodenlöchern eingesteckt ist und leitfähig gemacht
ist mittels des Verdrahtungsmusters und in dem Inneren des Elektrodenlochs
gepresst in Kontakt kommt, kann der Verbindermontageträger sicher mit
dem Verbinder verbunden werden und ihr Kontakt kann zuverlässig für eine lange
Zeit gewährleistet werden,
selbst wenn der Verbinder wiederholt ausgetauscht wird.
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Weiterhin,
da gemäß der Prüfkarte der
vorliegenden Erfindung der Verbinder umfasst das Einsteckteil mit
Federeigenschaften, das Stützteil
zum Stützen
des Einsteckteils und zur Ausführung
der Positionierung in Höhenrichtung
durch Verbinden mit dem Verbindermontageträger, das sich von dem Stützteil erstreckende
Armteil, und das an einem Spitzenende des Armteils angeordnete und
mit einer Elektrode eines zu testenden Objektes in Kontakt kommende
Kontaktteil, kann es leicht auf dem Träger ohne Löten und dergleichen montiert
werden, wenn es auf dem Verbindermontageträger montiert wird, so dass
ein stabiler Kontakt eingerichtet werden kann.
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Weiterhin
hat der Verbinder für
eine Prüfkarte
der vorliegenden Erfindung eine Vielzahl von in den Verbindermontageträger eingesteckten
Einsteckteilen, deren Anzahl die gleiche oder weniger als die Anzahl
der Elektrodenlöcher
ist. Da der Verbinder eine Vielzahl von Einsteckteilen hat, kann
die Richtung des Verbinders entschieden werden und der Verbinder
kann mit höherer
Sicherheit positioniert, montiert und fixiert werden.
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Daneben,
gemäß dem Verbinder
für eine Prüfkarte der
vorliegenden Erfindung, da der Armteil des Verbinders Federeigenschaften
aufweist, kann der gegen die Elektrode des zu messenden Objekts drückende Kontaktdruck
kontrolliert werden und kann der Kontaktdruck stabil eingerichtet
werden.
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Daneben,
gemäß dem Verbinder
für eine Prüfkarte der
vorliegenden Erfindung, da der Armteil gebogen ist, kann es mit
einem Arrangement mit geringem Abstand korrespondieren, so dass
verschiedene Arten von zu messenden Objekten, welche hochintegriert
sind, gemessen werden können.
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Daneben,
gemäß dem Verbinder
für eine Prüfkarte der
vorliegenden Erfindung, da der Armteil linear ist und das Plattenfederteil
benachbart zum linearen Armteil und gesandwicht zwischen dem Armteil
und dem Einsteckteil eingerichtet ist, ist der Federdruck graduell
erhöht
in Übereinstimmung
mit dem Verschiebungsbetrag des Armteils und der Kontakt mit der
Elektrode des zu testenden Objekts kann zuverlässig gewährleistet werden.
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Die
Prüfkarte
der vorliegenden Erfindung ist eine Prüfkarte mit einem Verbindermontageträger (Reduzierelement),
auf welchem einer Vielzahl von Verbindern eingerichtet sind, wobei
der Verbinder umfasst ein Einsteckteil zur Montage des Verbinders auf
dem Verbindermontageträger,
ein Stützteil
zum Stützen
des Einsteckteils und zur Ausführung
einer Positionierung in Höhenrichtung
durch Verbinden mit der Oberfläche
des Verbindermontageträgers,
ein sich von dem Stützteil
erstreckendes Elektrodenteil, ein sich ebenfalls von dem Stützteil erstreckendes Armteil,
und ein an einem Spitzenende des Armteils angeordnetes Kontaktteil
zum in Kontakt kommen mit einer Elektrode des zu testenden Objektes,
das Einsteckteil ist lösbar
auf dem in der Oberfläche
des Verbindermontageträgers
angeordneten Verbindermontageloch montiert ist, und das Elektrodenteil
leitfähig
gemacht ist durch Kontaktieren der in dem auf dem Verbindermontageträger angeordneten
Verdrahtungsmuster eingerichteten Elektrode. Folglich kann nur der
Verbinder ohne Trennen des Verbindermontageträgers (Reduzierelements) ausgetauscht werden,
so dass er hoch effektiv in Hinblick auf Zeit und ökonomischer
Effizienz ist.
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Weiterhin,
da gemäß der Prüfkarte der
vorliegenden Erfindung eine Vielzahl von Verbindermontagelöchern, welche
auf der Oberfläche
des Verbindermontageträgers
(Reduzierelements) eingerichtet sind, für einen Verbinder eingerichtet
sind, und der eine Verbinder eine Vielzahl von Einsteckteilen aufweist,
deren Anzahl kleiner als die Anzahl der Verbindermontagelöcher ist,
kann der Verbinder zuverlässig
positioniert, montiert, fixiert werden, so dass er zuverlässig für eine lange
Zeit in Kontakt kommt mit dem zu messenden Objekt.
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Weiterhin,
da gemäß der Prüfkarte der
vorliegenden Erfindung das Elektrodenteil des Verbinders Federeigenschaften
aufweist, und es gegen die auf der Oberfläche des Verbindermontageträgers (Reduzierelements)
eingerichtete Elektrode gepresst wird, und Leitfähig gemacht ist mittels des
Verdrahtungsmusters so dass es mit Druck in Kontakt mit der Elektrode
ist, kann der Verbindermontageträger
sicher mit dem Verbinder verbunden werden und kann ihr Kontakt zuverlässig für eine lange
Zeit gewährleistet
werden, selbst wenn der Verbinder wiederholt ausgetauscht wird.
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Weiterhin,
da gemäß der Prüfkarte der
vorliegenden Erfindung die spezifische Elektrode eingerichtet ist,
ist Beschichtung des Loches nicht erforderlich, so dass instabile
Leitung wegen Beschichtungsfehlern in dem Loch verhindert werden
kann, verglichen mit dem Fall dass das Innere des Verbindermontagelochs
beschichtet ist, um ein Elektrodenloch mittels des Verdrahtungsmusters
zu werden.
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Weiterhin,
da gemäß dem Verbinder
für die Prüfkarte der
vorliegenden Erfindung der Verbinder umfasst ein Einsteckteil mit
Federeigenschaften zur Montage des Verbinders auf dem Träger, das
Stützteil
zum Stützen
des Einsteckteils und zur Ausführung
einer Positionierung in Höhenrichtung
durch Verbinden mit der Oberfläche
des Verbindermontageträgers,
das sich von dem Stützteil
erstreckendes Elektrodenteil, das sich ebenfalls von dem Stützteil erstreckendes
Armteil, und das an einem Spitzenende des Armteils angeordnete und
in Kontakt mit der Elektrode eines zu testenden Objektes kommenden Kontaktteil,
kann es einfach ohne Löten
und dergleichen auf dem Träger
montiert werden und ein stabile Kontakt kann gewährleistet werden.
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Der
Verbinder für
eine Prüfkarte
der vorliegenden Erfindung hat weiterhin eine Vielzahl von in den
Verbindermontageträger
eingesteckten Einsteckteilen, dessen Anzahl die gleiche oder weniger als
die Anzahl der Elektrodenlöcher
für einen
Verbinder ist. Da er eine Vielzahl von Einsteckteilen hat, kann
die Richtung des Verbinders entschieden werden und der Verbinder
kann sicher positioniert, montiert und fixiert werden
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Des
Weiteren, gemäß dem Verbinder
für eine
Prüfkarte
der vorliegenden Erfindung, ist der gepresste Kontakt hinreichend
eingerichtet durch das Elektrodenteil mit den Federeigenschaften,
so dass der Verbindermontageträger
sicher mit dem Verbinder verbunden werden kann.
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Daneben,
gemäß dem Verbinder
für eine Prüfkarte der
vorliegenden Erfindung, da der Armteil Federeigenschaften aufweist,
kann der gegen die Elektrode des zu messenden Objekts drückende Kontaktdruck
kontrolliert werden und kann der Kontaktdruck stabil eingerichtet
werden.
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Daneben,
gemäß dem Verbinder
für eine Prüfkarte der
vorliegenden Erfindung, da der Armteil gebogen ist, kann es mit
einem Arrangement mit geringem Abstand korrespondieren, so dass
verschiedene Arten von zu messenden Objekten, welche hochintegriert
sind, gemessen werden können.
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Daneben,
gemäß dem Verbinder
für eine Prüfkarte der
vorliegenden Erfindung, ist der Armteil linear und das Plattenfederteil
ist benachbart zum linearen Armteil und gesandwicht zwischen dem
Armteil und dem Einsteckteil eingerichtet, ist der Federdruck graduell
erhöht
in Übereinstimmung
mit dem Verschiebungsbetrag des Armteils und der Kontakt mit der
Elektrode des zu testenden Objekts kann zuverlässig gewährleistet werden.
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[Figuren zu Ausfürhungsformen
der Erfindung]
-
1 ist
eine schematische Ansicht eines Querschnitts und zeigt einen Teil
einer Prüfkarte,
welche mit einem lösbaren
Verbinder der vorliegenden Erfindung versehen ist.
-
2 ist
eine einen lösbaren
Verbinder der vorliegenden Erfindung darstellende vergrößerte Ansicht.
-
3(a) ist eine vergrößerte Seitenansicht und zeigt
eine Ausführungsform
eines lösbaren
Verbinders gemäß der vorliegenden
Erfindung, 3(b) ist eine vergrößerte Seitenansicht
und zeigt eine andere Ausführungsform
eines lösbaren
Verbinders gemäß der vorliegenden
Erfindung, 3(c) ist eine vergrößerte Seitenansicht
und zeigt eine weiterhin andere Ausführungsform eines lösbaren Verbinders gemäß der vorliegenden
Erfindung und 3(d) ist eine vergrößerte Seitenansicht
und zeigt eine weiterhin andere Ausführungsform eines lösbaren Verbinders
gemäß der vorliegenden
Erfindung.
-
4(a) ist eine vergrößerte Seitenansicht und zeigt
eine weiterhin andere Ausführungsform
eines lösbaren
Verbinders gemäß der vorliegenden
Erfindung, 4(b) ist eine vergrößerte Seitenansicht und
zeigt eine weiterhin andere Ausführungsform
eines lösbaren
Verbinders gemäß der vorliegenden
Erfindung, 4(c) ist eine vergrößerte Seitenansicht und
zeigt eine weiterhin andere Ausführungsform
eines lösbaren
Verbinders gemäß der vorliegenden
Erfindung und 4(d) ist eine vergrößerte Seitenansicht
und zeigt eine weiterhin andere Ausführungsform eines lösbaren Verbinders
gemäß der vorliegenden
Erfindung.
-
5 ist
eine einen anderen lösbaren
Verbinder der vorliegenden Erfindung darstellende vergrößerte Seitenansicht.
-
6 ist
eine einen nochmals anderen lösbaren
Verbinder der vorliegenden Erfindung darstellende vergrößerte Seitenansicht.
-
7 ist
eine einen nochmals anderen lösbaren
Verbinder 6 der vorliegenden Erfindung darstellende vergrößerte Seitenansicht.
-
8 ist
eine eine andere Querschnittsstruktur einer Prüfkarte mit konventionellem
Verbindungsmuster eines Verbinders darstellende Explosionsansicht.
-
9 ist
eine eine andere Querschnittsstruktur einer Prüfkarte mit konventionellem
Verbindungsmuster eines Verbinders darstellende Explosionsansicht.
-
10 ist
eine einen Teil einer Prüfkarte, welche
mit einem anderen lösbaren
Verbinder der vorliegenden Erfindung versehen ist, darstellende schematische
Schnittansicht.
-
11 ist
eine einen anderen lösbaren
Verbinder der vorliegenden Erfindung darstellende vergrößerte Seitenansicht.
-
12(a) ist eine Seitenansicht und zeigt eine
Ausführungsform
eines weiterhin anderen lösbaren
Verbinders der vorliegenden Erfindung, 12(b) ist
eine Seitenansicht und zeigt eine weiterhin andere Ausführungsform
eines weiterhin anderen lösbaren
Verbinders der vorliegenden Erfindung, 12(c) ist
eine Seitenansicht und zeigt eine weiterhin andere Ausführungsform
eines weiterhin anderen lösbaren
Verbinders der vorliegenden Erfindung und 12(b) ist
eine Seitenansicht und zeigt eine weiterhin andere Ausführungsform
eines weiterhin anderen lösbaren
Verbinders der vorliegenden Erfindung.
-
13(a) ist eine Seitenansicht und zeigt eine
weiterhin andere Ausführungsform
eines weiterhin anderen lösbaren
Verbinders der vorliegenden Erfindung, 13(b) ist
eine Seitenansicht und zeigt eine weiterhin andere Ausführungsform
eines weiterhin anderen lösbaren
Verbinders der vorliegenden Erfindung,13(c) ist
eine Seitenansicht und zeigt eine weiterhin andere Ausführungsform
eines weiterhin anderen lösbaren
Verbinders der vorliegenden Erfindung und 13(b) ist
eine Seitenansicht und zeigt eine weiterhin andere Ausführungsform
eines weiterhin anderen lösbaren
Verbinders der vorliegenden Erfindung.
-
14 ist
eine einen weiterhin anderen lösbaren
Verbinder dieser Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung darstellende vergrößerte Seitenansicht.
-
15 ist
eine einen weiterhin anderen lösbaren
Verbinder dieser Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung darstellende vergrößerte Seitenansicht.
-
16 ist
eine einen weiterhin anderen lösbaren
Verbinder dieser Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung darstellende vergrößerte Seitenansicht.
-
17 ist
eine schematische Ansicht eines Querschnitts und zeigt einen Teil
einer Prüfkarte,
welche mit einem weiterhin anderen lösbaren Verbinder der vorliegenden
Erfindung ausgestattet ist.
-
18 ist
eine schematische Ansicht eines Querschnitts und zeigt einen Teil
einer Prüfkarte,
welche mit einem weiterhin anderen lösbaren Verbinder der vorliegenden
Erfindung ausgestattet ist.
-
19 ist
eine einen weiterhin anderen lösbaren
Verbinder dieser Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung darstellende vergrößerte Seitenansicht.
-
20 ist
eine einen weiterhin anderen lösbaren
Verbinder dieser Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung darstellende vergrößerte Seitenansicht.
-
21 ist
eine einen weiterhin anderen lösbaren
Verbinder dieser Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung darstellende vergrößerte Seitenansicht.
-
22 ist
eine einen weiterhin anderen lösbaren
Verbinder dieser Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung darstellende vergrößerte Seitenansicht.
-
- A
- Prüfkarte
- 1
- Hauptträger
- 2
- Reduzierelement
- 3
- Unterträger
- 4
- erste
Verbindungselektrode
- 5
- zweite
Verbindungselektrode
- 6
- Verbinder
- 7
- Verbindungspin
- 8
- Verstärkungsplatte
- 9,
24
- Durchgangsloch
- 10
- Halter
- 13
- elektrisch
leitfähiges
Material
- 14
- klebendes
Harzmaterial
- 15
- dritte
Verbindungselektrode
- 16
- vierte
Verbindungselektrode
- 17
- fünfte Verbindungselektrode
- 61
- Einsteckteil
- 62
- Stützteil
- 63
- Kurventeil
- 64
- Armteil
- 65
- Kontaktteil
- 66
- Elektrodenteil
- 67
- Federteil
- 1a
- erste
Hauptfläche
des Haupträgers
- 1b
- zweite
Hauptfläche
des Haupträgers
- 2a
- erste
Hauptfläche
des Reduzierelements
- 2b
- zweite
Hauptfläche
des Reduzierelements
- 3a
- erste
Hauptfläche
des Unterträgers
- 3b
- zweite
Hauptfläche
des Unterträgers
-
[Zusammenfassung]
-
[Aufgabe der Erfindung]
-
Die
vorliegende Erfindung betrifft eine Prüfkarte, welche elektrische
Eigenschaften eines Halbleiterelementes, wie eines LSI Chips, misst,
und es ist ein Ziel, eine Montagestruktur eines Verbinders, welcher
in Kontakt mit dem Halbleiterelement kommt, zu schaffen.
-
[Grundzüge der Erfindung]
-
Die
Prüfkarte
hat einen Verbindermontageträger,
auf welchem eine Vielzahl von Verbindern eingerichtet sind, wobei
der Verbinder umfasst ein Einsteckteil zur Montage des Verbinders
auf dem Verbindermontageträger,
ein Stützteil
zum Stützen
des Einsteckteils und zur Ausführung
einer Positionierung in Höhenrichtung
durch Verbinden mit einer Oberfläche des
Verbindermontageträgers,
ein sich von dem Stützteil
erstreckendes Armteil, und ein an einem Spitzenende des Armteils
angeordnetes Kontaktteil zum in Kontakt kommen mit einer Elektrode
eines zu testenden Objektes, und wobei das Einsteckteil lösbar auf
einem in der Oberfläche
des Verbindermontageträgers
angeordneten und mittels eines Verdrahtungsmusters leitfähig gemachten
Elektrodenloch montiert ist.
-
[Zusammenfassungsfigur]
-
-
Anm.
des Übersetzers:
folgend die Übersetzungen
der sachlichen Inhalte der Figuren:
[1]
erste
Raumtransformation I
zweite Raumtransformation II
[2]
[3]
[4]
[5]
[6]
[7]
[8]
[9]
[10]
erste
Raumtransformation I
zweite Raumtransformation II
[11]
[12]
[13]
[14]
[15]
[16]
[17]
[18]
[19]
[20]
[21]
[22]