DE102005013272A1

DE102005013272A1 - Hardwaregestützte Nachbarkanal-Leckverhältnis-Messung

Info

Publication number: DE102005013272A1
Application number: DE102005013272A
Authority: DE
Inventors: Joe Fremont Zhang
Original assignee: Agilent Technologies Inc
Current assignee: Agilent Technologies Inc
Priority date: 2004-05-26
Filing date: 2005-03-22
Publication date: 2005-12-29
Also published as: GB2414902B; US7386070B2; GB0508613D0; US20050265499A1; JP2005341581A; GB2414902A

Abstract

Eine Testermodul wird verwendet, um eine Nachbarkanal-Leckverhältnis-Messung durchzuführen. Ein Testermodul umfasst einen Übersetzungsblock, ein erstes Filter, eine Wieder-Abtastvorrichtung, einen Speicher, einen Router, ein zweites Filter und einen Leistungsdetektor. Der Übersetzungsblock übersetzt ein empfangenes Zwischenfrequenzsignal in ein Basisbandsignal. Das erste Filter gleicht eine Amplitude und eine Phase des Basisbandsignals bezüglich einer Unebenheit bei einer Host-Hardware aus, die zur Erfassung des empfangenen Zwischenfrequenzsignals verwendet wird. Die Wieder-Abtastvorrichtung dezimiert das ausgeglichene Basisbandsignal. Der Speicher speichert das dezimierte, ausgeglichene Basisbandsignal. Der Router leitet das gespeicherte, dezimierte, ausgeglichene Basisbandsignal zu der Wieder-Abtastvorrichtung um. Die Wieder-Abtastvorrichtung tastet das umgeleitete, gespeicherte, dezimierte, ausgeglichene Basisbandsignal erneut ab, um eine Spektralverschiebung durchzuführen. Das zweite Filter führt eine Tiefpassfilterungsoperation bei dem erneut abgetasteten, umgeleiteten, gespeicherten, dezimierten, ausgeglichenen Basisbandsignal durch. Der Leistungsdetektor erfasst eine Kanalleistung des gefilterten, erneut abgetasteten, umgeleiteten, gespeicherten, dezimierten, ausgeglichenen Basisbandsignals.

Description

Das Nachbarkanal-Leckverhältnis (ACLR; ACLR = Adjacent Channel Leakage Ratio) ist das Verhältnis einer in einem Nachbarkanal gemessenen Leistung zu einer übertragenen Leistung. In dem Fall eines Breitband-Code-Mehrfachzugriffs (W-CDMA; W-CDMA = Wideband Code Division Multiple Access) werden sowohl die übertragene Leistung als auch die Nachbarkanal-Leistung mit einem Filter gemessen, das eine Wurzel-Erhöht-Kosinus-Filterantwort (RRC-Filterantwort; RRC = Root Raised Cosine) mit einem Abfall a = 0,22 und eine Bandbreite aufweist, die gleich der Chiprate ist.

Das ACLR ist eine der wichtigsten Messungen in der Drahtloskommunikationsindustrie. Die Durchführung eines ACLR mit Messgenauigkeit (oder Wiederholbarkeit) und Geschwindigkeit sind wichtige Faktoren bei der Minimierung von Herstellungs- und Testkosten für drahtlose Kommunikationsvorrichtungen.

In dem Fall einer W-CDMA-Herstellung (auch Spreizspektrum-Herstellung genannt) erfordern die 3GPP-Spezifizierungen Messungen der Leistungsverhältnisse zweier Nachbarkanäle (+/- 5 MHz-Versatz von der Trägerfrequenz) und zweier alternativer Kanäle (+/- 10 MHz-Versatz von der Trägerfrequenz) über der Trägerkanalleistung. Für das ACLR wird ein ausreichender Dynamikbereich benötigt, wie z. B. –65 dB, bezogen auf den Träger (dBc), für den Fall des Basisstation-Herstellungstests. Um eine höhere Messgenauigkeit für eine Kanalleistung zu erzielen, wird eine längere Beobachtungszeit benötigt. Dies führt üblicherweise zu einer geringeren Messgeschwindigkeit.

Wenn z. B. ein ACLR unter Verwendung eines Vektorsignalanalysators E4406A von Agilent oder unter Verwendung eines Hochleistungs-Spektralanalysators der PSA-Serie von Agilent (z. B. E4443A, E4445A, E4440A, E4446A oder E4448A, Spektralanalysator der PSA-Serie) durchgeführt wird, wird ein schneller Fourier-Transformations- (FFT-) oder Überstreichmodus zur Erfassung einer Spektralspur verwendet. Ein RRC-Filter wird in dem Frequenzbereich angewendet. Die Spektralspur wird integriert, um eine Kanalleistung bei jedem Versatz (einschließlich des Trägerkanals) zu bestimmen. Alle mathematischen Berechnungen werden üblicherweise auf einer Host-Zentralverarbeitungseinheit (-CPU) durchgeführt.

Unter Verwendung eines Hochleistungs-Spektralanalysators der PSA-Serie von Agilent in einem Überstreichmodus z. B. wird eine schmale Auflösungsbandbreite (RBW; RBW = Resolution Bandwidth) benötigt, um sicherzustellen, dass die Spektralspur eine ausreichende Auflösung aufweist, um die RRC-Filterform vorzulegen. Außerdem wird eine ausreichend lange Überstreichzeit benötigt, um die Messgenauigkeit zu erzielen.

Unter Verwendung eines Vektorsignalanalysators E4406A von Agilent oder unter Verwendung eines Hochleistungs-Spektralanalysators der PSA-Serie von Agilent in einem FFT-Modus z. B. beeinflussen drei dominante Faktoren das Messverhalten. Erstens müssen die zum Testen verwendeten Lokaloszillatoren (Los; LO = Local Oscillator) mehrere Male erneut abgestimmt werden, um die ACLR-Anforderung einer Analyse um eine Bandbreite von 25 MHz herum unterzubringen. Jede LO-Neuabstimmung dauert etwa 5 Millisekunden (ms), was eine relativ lange Zeit ist. Zweitens ist die Geschwindigkeit der FFT- und RRC-Filteroperation durch die Host-CPU eingeschränkt. Drittens ist eine Datenübertragung von einem Datenerfassungsspeicher zu dem Host zeitaufwendig.

Es ist die Aufgabe der vorliegenden Erfindung, ein Testermodul, ein Analysatorsystem oder ein Verfahren mit verbesserten Charakteristika zu schaffen.

Diese Aufgabe wird durch ein Testermodul gemäß Anspruch 1 oder 12, ein Analysatorsystem gemäß Anspruch 9 oder ein Verfahren gemäß Anspruch 19 gelöst.

Gemäß Ausführungsbeispielen der vorliegenden Erfindung wird ein Testermodul verwendet, um eine Nachbarkanal-Leckverhältnis-Messung durchzuführen. Das Testermodul umfasst einen Übersetzungsblock, ein erstes Filter, eine Wieder-Abtastvorrichtung, einen Speicher, einen Router, ein zweites Filter und einen Leistungsdetektor. Der Übersetzungsblock wandelt ein empfangenes Zwischenfrequenzsignal in ein Basisbandsignal um. Das erste Filter gleicht eine Amplitude und Phase des Basisbandsignals bezüglich jeder Unebenheit in einer Host-Hardware, die zur Erfassung des empfangenen Zwischenfrequenzsignals verwendet wird, aus. Die Wieder-Abtastvorrichtung dezimiert das ausgeglichene Basisbandsignal. Der Speicher speichert das dezimierte, ausgeglichene Basisbandsignal. Der Router leitet das gespeicherte, dezimierte, ausgeglichene Basisbandsignal zu der Wieder-Abtastvorrichtung um. Die Wieder-Abtastvorrichtung führt eine erneute Abtastung des umgeleiteten, gespeicherten, dezimierten, ausgeglichenen Basisbandsignals zur Durchführung einer Spektralverschiebung durch. Das zweite Filter führt eine Tiefpassfilterungsoperation bei dem wiederabgetasteten, umgeleiteten, gespeicherten, dezimierten, ausgeglichenen Basisbandsignals durch. Der Leistungsdetektor erfasst eine Kanalleistung des gefilterten, erneut abgetasteten, umgeleiteten, gespeicherten, dezimierten, ausgeglichenen Basisbandsignals.

Bevorzugte Ausführungsbeispiele der vorliegenden Erfindung werden nachfolgend Bezug nehmend auf die beiliegenden Zeichnungen näher erläutert. Es zeigen:
1 ein vereinfachtes Blockdiagramm eines Testmoduls, das zu einem Analysatorsystem hinzugefügt ist, gemäß einem Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung;
2 ein Flussdiagramm, das einen Nachbarkanal-Leckverhältnis- (ACLR-) Test, der unter Verwendung des Testmoduls aus 1 während einer Signalerfassung durchgeführt wird, gemäß einem Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung darstellt;
3 ein vereinfachtes Blockdiagramm des Testmoduls aus 1 während einer Signalerfassung gemäß einem Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung; und
4 ein vereinfachtes Blockdiagramm des Testmoduls aus 1 während einer erneuten Signalabtastung gemäß einem Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung.
1 ist ein vereinfachtes Blockdiagramm eines Testmoduls, das zu einem Host-System 10 hinzugefügt ist. Das Host-System 10 ist z. B. ein Spektralanalysatorsystem, wie z. B. ein Hochleistungs-Spektralanalysator der PSA-Serie von Agilent, erhältlich bei Agilent Technologies, Inc. Alternativ ist das Host-System 10 ein bestimmter anderer Typ eines Analysatorsystems, wie z. B. ein Vektorsignalanalysator. Das Testmodul ist z. B. als eine Tochterleiterplatte zur Verwendung durch das Host-System 10 implementiert.
Das Testmodul umfasst eine Host-Schnittstelle 17, eine Mikrosteuerung 12, einen Speicher 13, eine Filterungsschaltung 14, eine Testerschaltung 15 und eine Wandlerschnittstelle 16, die über einen Bus 18 verbunden sind.
Die Host-Schnittstelle 17 ist z. B. eine Schnittstelle, die mit dem Peripheriekomponentenverbindungs-PCI-Bus-Standard kompatibel ist. Die Mikrosteuerung 12 ist z. B. unter Verwendung eines mit PowerPC kompatiblen Mikroprozessors eines Computers mit vermindertem Befehlsvorrat (RISC, RISC = Reduced Instruction Set Computer), der bei IBM oder Motorola, Inc. erhältlich ist, implementiert.
Die Wandlerschnittstelle 16 empfängt z. B. von dem Host-System 10 Hardware-Zwischenfrequenz- (-IF-) Analogdaten und führt eine Analog-Digital-Wandlung bei einer Zwischenfrequenz durch. Alternativ können die Hardware-Zwischenfrequenz- (-IF-) Digitaldaten von dem Host-System 10 über die Host-Schnittstelle 17 empfangen werden. Für ein W-CDMA-System werden die IF-Digitaldaten z. B. durch ein Abtasten eines analogen Signals mit einer Zwischenfrequenz (z. B. 50 MHz – 100 MHz) erzeugt, um Imaginär-/Quadratur- (IQ-) Daten zu erzeugen.
Die Filterungsschaltung 14 ist z. B. eine anwendungsspezifische integrierte Schaltung (ASIC), die eine Filterung, erneute Abtastung und Filterung in einer Serie durchführt. Die Testschaltung 15 ist z. B. ein frei programmierbares Gatearray (FPGA), das programmiert ist, um eine Zwischen-zu-Basisband-Umwandlung durchzuführen und um eine Leistungserfassung durchzuführen. Während die Filterungsschaltung 14 und die Testschaltung 15 als zwei separate integrierte Schaltungen implementiert gezeigt sind, kann die Funktionalität der Filterungsschaltung 14 und der Testschaltung 15 bei alternativen Ausführungsbeispielen der vorliegenden Erfindung auf einer einzelnen integrierten Schaltung oder auf mehr als zwei integrierten Schaltungen implementiert sein.
2 ist ein Flussdiagramm, das einen Nachbarkanal-Leckverhältnis- (ACLR-) Test zeigt, der unter Verwendung des Testmoduls durchgeführt wird. Bei einem Block 31 werden Daten empfangen, umgewandelt, ausgeglichen, dezimiert und gespeichert. Dies ist in 3 dargestellt.
In 3 leitet die Wandlerschnittstelle 16 ein digitales Signal, das z. B. als kalibrierte Basisband-IQ-Daten bei einer Zwischenfrequenz (z. B. 50 MHz) erfasst wurde, an die Testschaltung 15 weiter. Wie durch den IF-zu-Basisband-Block 21 dargestellt ist, führt die Testschaltung 15 eine Abwärtsumsetzung von der Zwischenfrequenz zu dem Basisband für die codierten Informationen durch. Die Basisbandfrequenzinformationen werden durch die Testschaltung 15 an die Filterungsschaltung 14 weitergeleitet. Ein erstes Filter 22 der Filterungsschaltung 14 ist eingestellt, um die Amplitude und Phase der codierten Informationen für eine mögliche durch das Host-System 10 bewirkte Unebenheit auszugleichen. Das erste Filter 22 ist z. B. ein nichtrekursives (FIR-) Filter.
Eine Wieder-Abtastvorrichtung 23 der Filterungsschaltung 14 ist eingestellt, um eine Dezimierung des Signals durchzuführen, so dass die Abtastrate des Signals reduziert ist, um die Menge zu speichernder Daten zu reduzieren. Ein Filter 24 der Filterungsschaltung 14 ist in einem Umgehungsmodus platziert, um es den Daten zu ermöglichen, ohne weitere Modifizierung zu dem Speicher 13 zu fließen. Die Daten werden in dem Speicher 13 zur Verarbeitung gespeichert.
Bei einem Block 32, in 2 gezeigt, werden die in dem Speicher 13 gespeicherten Daten durch die Testschaltung 15 umgeleitet. Eine Spektralverschiebungsoperation, eine Filterungsoperation und eine Leistungserfassung werden bei den Daten durchgeführt, um einen Kanalleistungswert zu erzeugen, der in dem Speicher 13 gespeichert ist. Dies ist in 4 dargestellt.
In 4 werden in dem Speicher 13 gespeicherte Daten durch die Testschaltung 15 zu dem Filter 22 der Filterungsschaltung 14 umgeleitet. Die Filterungsschaltung 22 befindet sich in dem Umgehungsmodus, so dass die Daten zu der Wieder-Abtastvorrichtung 23 umgeleitet werden. Die Wieder-Abtastvorrichtung 23 führt eine Spektralverschiebung gemeinsam mit einer weiteren Dezimierung durch, um die Daten menge zu reduzieren. Ein Einträger-W-CDMA-System-ACLR-Test erfordert z. B. eine Messung der Leistung bei der Trägerfrequenz, bei +5 MHz von der Trägerfrequenz, bei –5 MHz von der Trägerfrequenz, bei +10 MHz von der Trägerfrequenz und bei –10 MHz von der Trägerfrequenz. Bei jedem Durchlauf der Daten durch die Wieder-Abtastvorrichtung 53 tritt eine unterschiedliche Menge einer Spektralverschiebung auf. Bei dem ersten Durchlauf z. B. verschiebt die Wieder-Abtastvorrichtung 53 das Spektrum um –10 MHz. Bei dem zweiten Durchlauf verschiebt die Wieder-Abtastvorrichtung 53 das Spektrum um –5 MHz. Bei dem dritten Durchlauf verschiebt die Wieder-Abtastvorrichtung 53 das Spektrum um 0 MHz. Bei dem vierten Durchlauf verschiebt die Wieder-Abtastvorrichtung 53 das Spektrum um +5 MHz. Bei dem fünften Durchlauf verschiebt die Wieder-Abtastvorrichtung 53 das Spektrum um +10 MHz.
Das Filter 24 der Filterungsschaltung 14 befindet sich in einem Tiefpassfiltermodus und wirkt als ein 3,84-MHz-Wurzel-Erhöht-Kosinus-(RRC-) Tiefpassfilter. Innerhalb der Testschaltung 15 führt ein Leistungsdetektor 31 eine Erfassung der Größe des quadratischen Mittelwerts (rms; rms = root mean square) durch. Die erfasste RMS-Größe wird in eine absolute Leistung in Dezibel, bezogen auf 1 Milliwatt (dBm), umgewandelt.
Bei einem Block 33, in 2 gezeigt, wird eine Prüfung durchgeführt, um zu sehen, ob die Leistungserfassung für alle Kanäle von Interesse durchgeführt wurde. Für den Einträger-W-CDMA-System-ACLR-Test erfordert dies fünf Durchgänge: eine Leistungsmessung bei der Trägerfrequenz, bei +5 MHz von der Trägerfrequenz, bei –5 MHz von der Trägerfrequenz, bei +10 MHz von der Trägerfrequenz und bei –10 MHz von der Trägerfrequenz. Solange das Host-System 10 eine ausreichend breite IF-Bandbreite aufweist, kann das Testmodul 11 verwendet werden, um ein Mehrträger-W-CDMA-System-ACLR zu unterstützen (z. B. mehr als fünf Durchläufe).
Wenn eine Leistung für alle Kanäle von Interesse erfasst ist, wird bei einem Block 34 die erfasste Leistung für alle Kanaldaten an das Host-System 10 gesendet. Alternativ ist es nicht nötig zu warten, bis die Kanalleistung für alle Kanäle erfasst wurde, bevor die resultierenden Werte an das Host-System 10 gesendet werden. Am Ende jedes Durchlaufs können die Werte an das Host-System 10 weitergeleitet werden.
Die vorangegangene Erläuterung offenbart und beschreibt lediglich beispielhafte Verfahren und Ausführungsbeispiele der vorliegenden Erfindung. Wie für Fachleute auf diesem Gebiet ersichtlich ist, könnte die Erfindung in anderen spezifischen Formen ausgeführt sein, ohne von der Wesensart oder wesentlichen Charakteristika derselben abzuweichen. Folglich soll die Offenbarung der vorliegenden Erfindung darstellend, jedoch nicht einschränkend für den Schutzbereich der Erfindung sein, was in den folgenden Ansprüchen dargelegt ist.

Claims

Testermodul (11), das zur Durchführung einer Nachbarkanal-Leckverhältnis-Messung verwendet wird, wobei das Testermodul (11) folgende Merkmale aufweist: einen Übersetzungsblock (21), der ein empfangenes Zwischenfrequenzsignal in ein Basisbandsignal übersetzt; ein erstes Filter (22), das eine Amplitude und eine Phase des Basisbandsignals bezüglich einer Unebenheit bei einer Host-Hardware (10), die zur Erfassung des empfangenen Zwischenfrequenzsignals verwendet wird, ausgleicht; eine Wieder-Abtastvorrichtung (23), die das ausgeglichene Basisbandsignal dezimiert; einen Speicher (13), der das dezimierte, ausgeglichene Basisbandsignal speichert; einen Router (13), der das gespeicherte, dezimierte, ausgeglichene Basisbandsignal zu der Wieder-Abtastvorrichtung (23) umleitet, wobei die Wieder-Abtastvorrichtung (23) das umgeleitete, gespeicherte, dezimierte, ausgeglichene Basisbandsignal erneut abtastet, um eine Spektralverschiebung durchzuführen; ein zweites Filter (24), das eine Tiefpassfilterungsoperation bei dem erneut abgetasteten, umgeleiteten, gespeicherten, dezimierten, ausgeglichenen Basisbandsignal durchführt; und einen Leistungsdetektor (31), der eine Kanalleistung des gefilterten, erneut abgetasteten, umgeleiteten, gespeicherten, dezimierten, ausgeglichenen Basisbandsignals erfasst.
Testermodul (11) gemäß Anspruch 1, bei dem der Router (13) das gespeicherte, dezimierte, ausgeglichene Basisbandsignal fünfmal zu der Wieder-Abtastvorrichtung (23) umleitet, wobei die Wieder-Abtastvorrichtung (23) auf jede Umleitung hin eine unterschiedliche Spektralverschiebung durchführt.
Testermodul (11) gemäß Anspruch 1 oder 2, bei dem der Router (13) das gespeicherte, dezimierte, ausgeglichene Basisbandsignal fünfmal zu der Wieder-Abtastvorrichtung (23) umleitet, wobei die Wieder-Abtastvorrichtung (23) auf jede Umleitung hin eine unterschiedliche Spektralverschiebung durchführt, wobei die Spektralverschiebung die folgenden Mengen ist: –10 MHz; –5 MHz; 0 MHz; +5 MHz; und +10 MHz.
Testermodul (11) gemäß einem der Ansprüche 1 bis 3, wobei das Testermodul (11) eine Mikrosteuerung (12) umfasst.
Testermodul (11) gemäß einem der Ansprüche 1 bis 4, bei dem der Router das gespeicherte, dezimierte, ausgeglichene Basisbandsignal durch das erste Filter (22) zu der Wieder-Abtastvorrichtung (23) leitet, wobei das erste Filter (22) in einem Umgehungsmodus ist.
Testermodul (11) gemäß einem der Ansprüche 1 bis 5, bei dem das dezimierte, ausgeglichene Basisbandsignal auf dem Weg zu dem Speicher (13) durch das zweite Fil ter (24) läuft, wobei das zweite Filter (24) in einem Umgehungsmodus ist.
Testermodul (11) gemäß einem der Ansprüche 1 bis 6, bei dem sich der Übersetzungsblock (21) und der Leistungsdetektor (31) in einer Testerschaltung (15) befinden, während sich das erste Filter (22), die Wieder-Abtastvorrichtung (23) und das zweite Filter (24) in einer Filterungsschaltung (14) befinden.
Testermodul (11) gemäß einem der Ansprüche 1 bis 7, bei dem die Wieder-Abtastvorrichtung (23) das umgeleitete, gespeicherte, dezimierte, ausgeglichene Basisbandsignal dezimiert.
Analysatorsystem mit folgenden Merkmalen: einer System-Hardware, die ein analoges Signal empfängt und ein Zwischenfrequenzsignal erzeugt; einem Übersetzungsblock (21), der das Zwischenfrequenzsignal in ein Basisbandsignal übersetzt; einem ersten Filter (22), das eine Amplitude und eine Phase des Basisbandsignals bezüglich einer Unebenheit der System-Hardware ausgleicht; einer Wieder-Abtastvorrichtung (23), die das ausgeglichene Basisbandsignal dezimiert; einem Speicher (13), der das dezimierte, ausgeglichene Basisbandsignal speichert; einem Router, der das gespeicherte, dezimierte, ausgeglichene Basisbandsignal zu der Wieder-Abtastvorrichtung umleitet, wobei die Wieder-Abtastvorrichtung das umgeleitete, gespeicherte, dezimierte, ausgeglichene Basisbandsignal erneut abtastet, um eine Spektralverschiebung durchzuführen; einem zweiten Filter (24), das eine Tiefpassfilterungsoperation bei dem erneut abgetasteten, umgeleiteten, gespeicherten, dezimierten, ausgeglichenen Basisbandsignal durchführt; und einem Leistungsdetektor (31), der eine Kanalleistung des gefilterten, erneut abgetasteten, umgeleiteten, gespeicherten, dezimierten, ausgeglichenen Basisbandsignals erfasst.
Analysatorsystem gemäß Anspruch 9, wobei das Analysatorsystem ein Spektralanalysator ist.
Analysatorsystem gemäß Anspruch 9 oder 10, bei dem sich der Übersetzungsblock, das erste Filter, die Wieder-Abtastvorrichtung, der Speicher, der Router, das zweite Filter und der Leistungsdetektor alle auf einer Tochterleiterplatte innerhalb des Analysatorsystems befinden.
Testermodul, das zur Durchführung einer Nachbarkanal-Leckverhältnis-Messung verwendet wird, wobei das Testermodul folgende Merkmale aufweist: eine Übersetzungsblockeinrichtung (21) zum Übersetzen eines empfangenen Zwischenfrequenzsignals in ein Basisbandsignal; eine erste Filtereinrichtung (22) zum Ausgleichen einer Amplitude und einer Phase des Basisbandsignals bezüglich einer Unebenheit bei einer Host-Hardware (10), die zur Erfassung des empfangenen Zwischenfrequenzsignals verwendet wird; eine Wieder-Abtastereinrichtung (23), die das ausgeglichene Basisbandsignal dezimiert; einen Speicher (13) zum Speichern des dezimierten, ausgeglichenen Basisbandsignals; eine Einrichtung zum Umleiten des gespeicherten, dezimierten, ausgeglichenen Basisbandsignals zu der Wieder-Abtastereinrichtung, wobei die Wieder-Abtastereinrichtung das umgeleitete, gespeicherte, dezimierte, ausgeglichene Basisbandsignal erneut abtastet, um eine Spektralverschiebung durchzuführen; eine zweite Filtereinrichtung (24) zum Durchführen einer Tiefpassfilterungsoperation bei dem erneut abgetasteten, umgeleiteten, gespeicherten, dezimierten, ausgeglichenen Basisbandsignal; und eine Leistungserfassungsseinrichtung (31) zum Erfassen einer Kanalleistung des gefilterten, erneut abgetasteten, umgeleiteten, gespeicherten, dezimierten, ausgeglichenen Basisbandsignals.
Testermodul gemäß Anspruch 12, bei dem die Einrichtung zum Umleiten das gespeicherte, dezimierte, ausgeglichene Basisbandsignal fünfmal zu der Wieder-Abtastereinrichtung (23) umleitet, wobei die Wieder-Abtastereinrichtung auf jede Umleitung hin eine unterschiedliche Spektralverschiebung durchführt.
Testermodul gemäß Anspruch 12 oder 13, bei dem die Einrichtung zum Umleiten das gespeicherte, dezimierte, ausgeglichene Basisbandsignal fünfmal zu der Wieder-Abtastereinrichtung umleitet, wobei die Wieder-Abtastereinrichtung auf jede Umleitung hin eine unterschiedliche Spektralverschiebung durchführt, wobei die Spektralverschiebung die folgenden Mengen ist: –10 MHz; –5 MHz; 0 MHz; +5 MHz; und +10 MHz.
Testermodul gemäß einem der Ansprüche 12 bis 14, bei dem die Einrichtung zum Umleiten das gespeicherte, dezimierte, ausgeglichene Basisbandsignal durch das erste Filter zu der Wieder-Abtastereinrichtung leitet, wobei die erste Filtereinrichtung in einem Umgehungsmodus ist.
Testermodul gemäß einem der Ansprüche 12 bis 15, bei dem das dezimierte, ausgeglichene Basisbandsignal auf dem Weg zu dem Speicher durch die zweite Filtereinrichtung läuft, wobei die zweite Filtereinrichtung in einem Umgehungsmodus ist.
Testermodul gemäß einem der Ansprüche 12 bis 16, bei dem sich die Übersetzungseinrichtung und die Leistungserfassungseinrichtung in einer Testerschaltung befinden, während sich die erste Filtereinrichtung, die Wieder-Abtastereinrichtung und die zweite Filtereinrichtung in einer Filterungsschaltung befinden.
Testermodul gemäß einem der Ansprüche 12 bis 17, bei dem die Wieder-Abtastereinrichtung das umgeleitete, gespeicherte, dezimierte, ausgeglichene Basisbandsignal dezimiert.
Verfahren, das zur Durchführung einer Nachbarkanal-Leckverhältnis-Messung verwendet wird, wobei das Verfahren folgende Schritte aufweist: Übersetzen eines empfangenen Zwischenfrequenzsignals in ein Basisbandsignal; Ausgleichen, durch eine Wieder-Abtastvorrichtung (23), einer Amplitude und einer Phase des Basisbandsignals bezüglich einer Unebenheit bei einer Host-Hardware (10), die zur Erfassung des empfangenen Zwischenfrequenzsignals verwendet wird; Dezimieren des ausgeglichenen Basisbandsignals; Speichern des dezimierten, ausgeglichenen Basisbandsignals; Umleiten des gespeicherten, dezimierten, ausgeglichenen Basisbandsignals zu der Wieder-Abtastvorrichtung (23), wobei die Wieder-Abtastvorrichtung das umgeleitete, gespeicherte, dezimierte, ausgeglichene Basisbandsignal erneut abtastet, um eine Spektralverschiebung durchzuführen; Durchführen einer Tiefpassfilterungsoperation bei dem erneut abgetasteten, umgeleiteten, gespeicherten, dezimierten, ausgeglichenen Basisbandsignal; und Erfassen einer Kanalleistung des gefilterten, erneut abgetasteten, umgeleiteten, gespeicherten, dezimierten, ausgeglichenen Basisbandsignals.
Verfahren gemäß Anspruch 19, bei dem das Umleiten zu der Wieder-Abtastvorrichtung fünfmal durchgeführt wird, wobei die Wieder-Abtastvorrichtung auf jede Umleitung hin eine unterschiedliche Spektralverschiebung durchführt.