DE10207733A1

DE10207733A1 - Spektroskopieverfahren

Info

Publication number: DE10207733A1
Application number: DE10207733A
Authority: DE
Inventors: Yongdong Wang; Bernhard Radziuk; David H Tracy
Original assignee: Bodenseewerk Perkin Elmer and Co GmbH
Current assignee: PE Manufacturing GmbH
Priority date: 2002-02-22
Filing date: 2002-02-22
Publication date: 2003-09-18
Anticipated expiration: 2022-02-23
Also published as: US7656521B2; US7405821B2; US20080246956A1; DE10207733B4; US20030160954A1; US20070046933A1; US7145650B2

Abstract

Bei einem Spektroskopieverfahren wird in einer Spektroskopievorrichtung zumindest eine Probe zur Ermittlung einer Testspektrallinie/-spektrum wenigstens eines in der Probe enthaltenen Bestandteils angeregt und die transmittierten und/oder emittierten elektromagnetischen Strahlen werden über ein optisches System mit gegebenenfalls einem Spektrometer an eine Detektoreinrichtung zur Erfassung der Testspektrallinie/-spektrum zugeführt. DOLLAR A Um ein solches Spektroskopieverfahren dahingehend zu verbessern, dass Variationen bestimmter Parameter, die die Form und/oder Auftreten einer Spektrallinie ändern, kompensiert werden, so dass unabhängig von Änderungen dieser Parameter eine ideale Testspektrallinie erhalten wird, wird neben der Testspektrallinie/-spektrum unter im Wesentlichen denselben Parametern wie Temperatur, Druck oder dergleichen für ein insbesondere bekanntes Vergleichsmaterial eine Spektrallinie/-spektrum und eine diese in eine im Hinblick auf vorgegebene Standardwerte der Parameter korrigierte Idealvergleichsspektrallinie/-spektrum umsetzende Transferfunktion ermittelt und diese auf die Testspektrallinie/-spektrum angewandt.

Description

Die Erfindung betrifft ein Spektroskopieverfahren bei dem in einer Spektroskopievorrichtung zumindest eine Probe zur Ermittlung einer Testspektrallinie/-spektrum wenigstens eines in der Probe enthaltenen Bestandteils angeregt und die transmittierte und/oder emittierte elektromagnetische Strahlung über ein optisches System mit gegebenenfalls einem Spektrometer einer Detektoreinrichtung zur Erfassung der Testspektrallinie/-spektrum zugeführt wird.

Ein solches Spektroskopieverfahren ist beispielsweise bei der Atomabsorptionsspektroskopie bekannt. Dort wird eine entsprechende Probe beispielsweise in einem Graphitofen verdampft und die verdampfte Probe mit monochromatischer oder auch kontinuierlicher elektromagnetischer Strahlung angeregt. Bei der Atomabsorptionsspektroskopie erfolgt eine Absorption eines Teils der elektromagnetischen Strahlung durch wenigsten einen Bestandteile der Probe. Die Absorption der elektromagnetischen Strahlung entspricht dabei einer Anregung des Bestandteils. Da die absorbierte Strahlung in der transmittierten elektromagnetischen Strahlung fehlt, ergibt sich eine entsprechende Spektrallinie, die charakteristisch für den entsprechenden Bestandteil der Probe ist. Die transmittierte elektromagnetische Strahlung wird bei dem Spektroskopieverfahren und auch bei der Atomabsorptionsspektroskopie mittels eines optischen Systems und gegebenenfalls unter Verwendung eines Spektrometers in Richtung einer Detektoreinrichtung geleitet. Die Detektoreinrichtung dient zur Erfassung der Testspektrallinie, die charakteristisch für die Absorption durch den entsprechenden Bestandteil der Probe ist. Wird eine kontinuierliche elektromagnetische Strahlung verwendet, so kann auch ein gesamtes Testspektrum aufgezeichnet werden.

Im Folgenden wird nur noch der Ausdruck "Spektrallinie" verwendet, wobei dieser auch für "Spektrum" stehen soll.

Nachteilig bei aus der Praxis bekannten Spektroskopieverfahren ist, dass beispielsweise Änderungen bestimmter Parameter, wie Temperatur, Druck oder dergleichen, die zu einer Änderung der Testspektrallinie führen können, nicht erfasst werden und zumindest zu einer Verschiebung der Spektrallinie und gegebenenfalls auch zu einer Änderung in der Intensität der Spektrallinie führen. Dadurch kann im Extremfall bei eng nebeneinanderliegenden Spektrallinien unterschiedlicher Bestandteile einer Probe eine Fehldiagnose bezüglich wenigstens eines dieser Bestandteile auftreten. Außerdem ergeben sich selbst bei richtiger Zuordnung der Spektrallinie zu einem bestimmten Bestandteil der Probe unterschiedliche Spektrallinien an unterschiedlichen Messorten, für unterschiedliche Spektroskopievorrichtungen, an unterschiedlichen Tagen mit derselben Spektroskopievorrichtung oder dergleichen für den Bestandteil.

Der Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde, ein Spektroskopieverfahren der eingangs genannten Art dahingehend zu verbessern, dass Variationen bestimmter Parameter, die Form und/oder Auftreten einer Spektrallinie ändern, kompensiert werden, so dass unabhängig von Änderungen dieser Parameter eine ideale Testspektrallinie erhalten wird.

Diese Aufgabe wird durch die Merkmale des Patentanspruchs 1 gelöst.

Erfindungsgemäß wird neben der Probe ein Vergleichsmaterial verwendet. Für dieses Vergleichsmaterial wird eine entsprechende Vergleichsspektrallinie ermittelt. Diese Vergleichsspektrallinie unterliegt einer Änderung in Form und Lage im Wellenlängen bzw. Frequenzspektrum, wenn sich entsprechende Parameter, wie Temperatur, Druck, Abnutzung der Spektroskopievorrichtung, Einstellung der Spektroskopievorrichtung, Messort oder dergleichen ändern. Für die Vergleichsspektrallinie ist eine Idealvergleichsspektrallinie bekannt, der vorgegebene Standardwert der Parameter zugrundeliegen. Die vorgegebenen Standardwerte entsprechen beispielsweise einer bestimmten Temperatur, einem bestimmten Druck, einem bestimmten Zustand der Spektroskopievorrichtung, oder dergleichen. Durch Vergleich von gemessener Vergleichsspektrallinie und Idealvergleichsspektrallinie, wird aus diesen beiden eine Transferfunktion ermittelt. Diese entspricht einem mathematischen Filter, das beispielsweise softwaremäßig auf entsprechende Spektrallinien und insbesondere auf die gemessene Testspektrallinie angewendet wird. Durch Anwendung der Transferfunktion erhält man aus der Testspektrallinie eine Idealtestspektrallinie, die unabhängig von tatsächlich vorliegenden Parametern bei der spektralen Ermittlung zu einer in einfacher Weise vergleichbaren Idealtestspektrallinie führt.

Es ist bereits oben gesagt worden, dass das erfindungsgemäße Spektroskopieverfahren auch auf entsprechende Spektren als Ganzes anwendbar ist. Außerdem kann ebenfalls eine entsprechende Spektrallinie oder ein Spektrum für von dem entsprechenden Bestandteil emittierte Strahlung ermittelt werden. Auch in diesem Fall gilt das vorab Gesagte.

Um einen vereinfachten Zugriff auf den oder die Bestandteile der Probe zu erhalten, wird die Probe vor ihrer Anregung in ihren gasförmigen Zustand verbracht. Je nach verwendetem Vergleichsmaterial wird auch dieses verdampft.

Um das Spektroskopieverfahren zu vereinfachen, können Probe und Vergleichsmaterial in derselben Spektroskopievorrichtung verdampft und/oder angeregt und/oder spektral nachgewiesen werden. Im einfachsten Fall erfolgt sowohl Verdampfen, Anregen als auch spektrales Nachweisen in derselben Spektroskopievorrichtung, so dass durch die Transferfunktion in einfacher Weise alle unterschiedlichen Parameter der Spektroskopievorrichtung berücksichtigt werden können. Erfolgt beispielsweise das Verdampfen oder Anregen oder spektrale Nachweisen in unterschiedlichen Spektroskopievorrichtungen, sind gegebenenfalls weitere Transferfunktionen notwendig, um die unterschiedlichen Parameter der unterschiedlichen Spektroskopievorrichtungen zu berücksichtigen.

Um das Spektroskopieverfahren weiter zu vereinfachen und in seiner Reproduzierbarkeit und Anwendung der Transferfunktion zu verbessern, können Probe und Vergleichsmaterial gleichzeitig verdampft und/oder angeregt und/oder spektral nachgewiesen werden. Wird alles gleichzeitig für Probe und Vergleichsmaterial durchgeführt, berücksichtigt die Transferfunktion auch alle Variationen der Parameter der Spektroskopievorrichtung bzw. des Spektroskopieverfahrens. Würde beispielsweise die Anregung von Probe und Vergleichsmaterial zeitlich versetzt erfolgen, könnte durch die ermittelte Transferfunktion möglicherweise ein Restfehler in der Korrektur der Testspektrallinie verbleiben, der sich durch unterschiedliche Parameter bei der Anregung von Probe und Vergleichsmaterial ergibt. Allerdings können diese Fehler so gering sein, dass ein zeitlich versetztes Verdampfen, Anregen oder spektraler Nachweis von Probe und Vergleichsmaterial toleriert werden kann.

Je nach verwendeter Detektoreinrichtung mit entsprechender Detektoranordnung kann es notwendig sein, dass Probe und Vergleichsmaterial insbesondere zeitlich versetzt spektral erfasst werden. Dies ist tolerierbar, falls die die spektrale Erfassung gegebenenfalls ändernden Parameter für den Zeitraum der spektralen Erfassung von Probe und Vergleichsmaterial sich nicht oder nur in geringem Maße ändern.

Um allerdings auch gleichzeitig eine spektrale Erfassung durchführen zu können, kann die Detektoreinrichtung zwei Detektoranordnungen aufweisen, von denen eine die Probe und die andere das Vergleichsmaterial spektral erfasst. Durch ein entsprechendes optisches System mit Spektrometer kann beispielsweise eine Aufspaltung der elektromagnetischen Strahlung von Probe und Vergleichsmaterial in der Weise erfolgen, dass jeweils der entsprechende Anteil der elektromagnetischen Strahlung auf die zugeordnete Detektoranordnung fällt.

Theoretisch ist es möglich, die entsprechende Testfunktion auch bei unbekanntem Vergleichsmaterial zu ermitteln, wenn dieses beispielsweise immer ein weiterer Bestandteil der Probe ist. Ist die Spektrallinie dieses Vergleichsmaterials gut erfassbar, so können auch entsprechende Änderungen in Form und Lage der Spektrallinie erfasst und diesen Änderungen eine entsprechende Transferfunktion zugeordnet werden. Diese Transferfunktion ist auch auf den interessierenden Bestandteil der Probe anwendbar.

Ist das Vergleichsmaterial bekannt, ist diesem eine Idealvergleichsspektrallinie zuordbar, die in der Spektroskopievorrichtung oder einer ihr zugeordneten Auswerteeinrichtung gespeichert werden kann. Durch Vergleich der gemessenen Vergleichsspektrallinie mit der Idealvergleichsspektrallinie kann die entsprechende Transferfunktion ermittelt werden. Dies kann automatisch durch entsprechende Software erfolgen. Anschließend wird die ermittelte Transferfunktion auf die Testspektrallinie angewandt und auf diese Weise eine Idealtestspektrallinie erhalten.

Ändert sich beispielsweise die Temperatur zwischen verschiedenen Ermittlungen der Spektrallinie eines bestimmten Bestandteils der Probe, führt dies in der Regel zu einer Wellenlängen-/Frequenzänderung der Testspektrallinie. Die Transferfunktion kann solche Wellenlängen-/Frequenzänderung kompensieren und damit die Temperaturänderung.

Eine Temperaturänderung kann allerdings auch eine Linienbreite bei der Spektroskopievorrichtung verändern, wodurch sich das Auflösungsvermögen der Spektroskopievorrichtung verändert. Auch eine solche Änderung kann durch eine entsprechende Transferfunktion kompensiert werden.

Ein einfaches und preiswertes Vergleichsmaterial, das bei üblichen Temperaturen bei der Atomabsorptionsspektroskopie nicht verdampft werden muss, ist beispielsweise Neon. Dieses Vergleichsmaterial zeigt eine relativ einfache Spektrallinie bei 296,72 nm die gut zur Ermittlung entsprechender Transferfunktionen verwendbar ist. Allerdings sind auch andere Vergleichsmaterialien und/oder andere Spektrallinien des Neon oder von anderen Vergleichsmaterialien verwendbar.

Sind bereits eine Vielzahl von Messungen mit dem gleichen Vergleichsmaterial durchgeführt worden, so besteht ebenfalls die Möglichkeit, dass eine Reihe von Vergleichsspektrallinien insbesondere für unterschiedliche Parameter in der Auswerteeinrichtung der Spektroskopievorrichtung abgespeichert sind. Durch Vergleich der abgespeicherten Vergleichsspektrallinie mit einer tatsächlich neu aufgenommenen Vergleichsspektrallinie kann eine entsprechende Transferfunktion ermittelt und auf eine Testspektrallinie angewandt werden. In diesem Fall ergibt sich für die Testspektrallinie eine neu Testspektrallinie, die der herangezogenen abgespeicherten Spektrallinie des Vergleichsmaterials entspricht. Dadurch sind auch ohne Zurückführen der aufgenommenen Spektrallinien auf ideale Spektrallinien Vergleiche von bei verschiedenen Parametern aufgenommenen Spektrallinien möglich.

Es besteht die Möglichkeit, die Parameter grob in zwei Gruppen von Parametern zu unterteilen. Eine Gruppe sind die Messparameter, die beispielsweise physikalischen Größen wie Temperaturen, Druck oder dergleichen entsprechen. Die weitere Gruppe sind die Vorrichtungsparameter, die sich durch unterschiedliche Grade der Abnutzung der Spektroskopievorrichtung, unterschiedliche Einstellungen, unterschiedliche Aufbauorte, oder dergleichen ergeben. Erfindungsgemäß besteht die Möglichkeit, Transferfunktionen getrennt für Variationen der Messparameter und der Vorrichtungsparameter zu bestimmen und entsprechend auf die Testspektrallinien anzuwenden.

Im Folgenden wird ein Ausführungsbeispiel der Erfindung anhand der in der Zeichnung beigefügten Figuren erläutert.
Es zeigen:
Fig. 1 eine vereinfachte Darstellung einer Spektroskopievorrichtung zur Durchführung des erfindungsgemäßen Spektroskopieverfahrens, wobei insbesondere Detektoreinrichtung und Auswerteeinrichtung hervorgehoben sind;
Fig. 2 eine Reihe von Vergleichsspektrallinien bei unterschiedlichen Temperaturen;
Fig. 3 eine Idealvergleichsspektrallinie;
Fig. 4 eine Reihe von Transferfunktionen für unterschiedliche Temperaturen als variierender Parameter;
Fig. 5 eine Reihe von Testspektrallinien für die gleichen Temperaturen wie bei den Vergleichsspektrallinien nach Fig. 2, und
Fig. 6 eine mittels einer Transferfunktion im Hinblick auf Temperaturvariationen kompensierte Idealtestspektrallinie.
In Fig. 1 sind von einer Spektroskopievorrichtung 1, die zur Durchführung des erfindungsgemäßen Spektroskopieverfahrens dient, nur eine Detektoreinrichtung 2 und eine Auswerteeinrichtung 9 dargestellt. Eine beispielsweise monochromatische Strahlungsquelle, ein Verdampfungsofen und ein optisches System mit gegebenenfalls einem Spektrometer, wie sie beispielsweise bei der Atomabsorptionsspektroskopie verwendet werden, sind zur Vereinfachung nicht dargestellt.
Die Detektoreinrichtung 2 weist zwei Detektoranordnungen 7, 8 auf. Die in Fig. 1 obere Detektoranordnung 7 dient zur Ermittlung einer Vergleichsspektrallinie für ein Vergleichsmaterial. Die in Fig. 1 dargestellte untere Detektoranordnung 8 dient zur Ermittlung einer Spektrallinie eines Bestandteils einer Probe, wobei Probe und Vergleichsmaterial gleichzeitig verdampft, durch elektromagnetische Strahlung angeregt und spektral nachgewiesen werden. Das Verdampfen und Anregen erfolgt in dem nicht dargestellten Teil des Atomabsorptionsspektrometers.
In der Auswerteeinheit 9 ist beispielsweise eine Idealvergleichsspektrallinie abgespeichert. Eine solche ist in Fig. 3 dargestellt. Auf der Abszisse der Darstellung ist die Wellenlänge oder Frequenz und auf der Ordinate die Intensität aufgetragen. Die Idealvergleichsspektrallinie 5 nach Fig. 3 ist eine Spektrallinie von Neon bei 296,72 nm. Ändert sich beispielsweise die Temperatur der Spektroskopievorrichtung, des optischen Systems oder der Detektoreinrichtung 2 nach Fig. 1, so kann es zu einer Verschiebung der Spektrallinie nach Fig. 3 kommen. Entsprechend verschobene Vergleichsspektrallinien 4 sind beispielsweise in Fig. 2 dargestellt. Dabei erfolgt eine Verschiebung nach rechts, d. h. zu höhern Wellenlängen und gleichzeitig eine Abnahme der Intensität bei zunehmenden Temperaturwerten.
Durch Vergleich der Idealvergleichspektrallinie 5 nach Fig. 3 mit einer bei einem bestimmten Temperaturwert tatsächlich aufgenommenen Vergleichsspektrallinie 4 nach Fig. 2 ergibt sich eine sogenannte Transferfunktion oder eine Filterfunktion, von denen eine Anzahl für die verschiedenen Temperaturwerte nach Fig. 2 in Fig. 4 mit Bezugszeichen 6 dargestellt sind. In diesem Fall sind die Transferfunktionen 6 hintereinander in Abhängigkeit von verschiedenen Temperaturwerten dargestellt. Durch Anwendung einer entsprechenden Transferfunktion auf eine zugehörige Vergleichsspektrallinie 4 nach Fig. 4 ergibt sich die Idealvergleichsspektrallinie 5 nach Fig. 3.
Die auf diese Weise ermittelte Transferfunktion wird auch auf eine entsprechende Testspektrallinie angewandt, die durch die Detektoranordnung 8 nach Fig. 1 für den entsprechenden Bestandteil der Probe ermittelt wurde. Verschiedene Testspektrallinien 3 sind in Fig. 5 für unterschiedliche Temperaturwerte dargestellt, wobei diese Temperaturwerte den Temperaturwerten in Fig. 2 entsprechen und jedem dieser Temperaturwerte eine entsprechende Transferfunktion 6 nach Fig. 4 zugeordnet ist. Durch Anwendung der zugehörigen Transferfunktion 6 auf die Testspektrallinie 3 nach Fig. 5, wobei die Auswahl der Transferfunktion entsprechend zum Temperaturwert erfolgt, ergibt sich die Idealtestspektrallinie 10 nach Fig. 6.
In diesem Zusammenhang ist zu beachten, dass zur Vereinfachung der Beschreibung des erfindungsgemäßen Spektroskopieverfahrens im Vorangehenden nur vom Temperaturwert abhängige Transferfunktionen 6 beschrieben worden sind, wobei sichentsprechende Verschiebungen der Spektrallinien und Formänderungen, d. h. Änderungen in der Intensität der Spektrallinien, durch unterschiedliche Temperaturwerte ergaben. Ändern sich weitere Parameter bei der Spektroskopievorrichtung, wie beispielsweise Druck, Abnutzung der Vorrichtung, Aufstellort der Vorrichtung oder dergleichen, sind weitere Transferfunktionen ermittelbar, die Variation aller dieser Parameter einschließlich Variation der Temperatur berücksichtigen und zur Kompensation dieser Änderungen dienen. Die Kompensation erfolgt dabei in einer solchen Weise, dass auf vorgegebene bestimmte Werte der Parameter kompensiert wird, wobei diese Werte der Parameter die entsprechenden Idealspektrallinien nach Fig. 3 und 6 bestimmen.
Durch die Verwendung der Transferfunktion ist eine verbesserte Vergleichsmöglichkeit für Spektrallinien gegeben, die zu unterschiedlichen Zeiten, an unterschiedlichen Orten, von unterschiedlichen Leuten und dergleichen aufgenommen wurden. Variationen der Spektrallinien aufgrund entsprechender Variationen von Parametern bei der Messung werden durch die Transferfunktion kompensiert, so dass auf jeden Fall ein Vergleich der Messergebnisse unabhängig von den vorangehend genannten Parametern in sicherer und einfacher Weise möglich ist.

Claims

1. Spektroskopieverfahren bei dem in einer Spektroskopievorrichtung (1) zumindest eine Probe zur Ermittlung einer Testspektrallinie/-spektrum wenigstens eines in der Probe enthaltenen Bestandteils angeregt und die transmittierten und/oder emittierten elektromagnetischen Strahlen über ein optisches System mit gegebenenfalls einem Spektrometer an eine Detektoreinrichtung zur Erfassung der Testspektrallinie/-spektrum zugeführt wird, dadurch gekennzeichnet, dass neben der Testspektrallinie/-spektrum unter im Wesentlichen denselben Parametern wie Temperatur, Druck oder dergleichen für ein insbesondere bekanntes Vergleichsmaterial eine Spektrallinie/-spektrum und eine diese in eine im Hinblick auf vorgegebene Standardwerte der Parameter korrigierte Idealvergleichsspektrallinie/- spektrum umsetzende Transferfunktion ermittelt und diese auf die Testspektrallinie/-spektrum angewandt wird.

2. Spektroskopieverfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass Probe und/oder Vergleichsmaterial vor Anregung in ihren gasförmigen Zustand versetzt werden.

3. Spektroskopieverfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass Probe und Vergleichsmaterial in derselben Spektroskopievorrichtung (1) verdampft und/oder angeregt und/oder spektral nachgewiesen werden.

4. Spektroskopieverfahren nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass Probe und Vergleichsmaterial gleichzeitig verdampft, und/oder angeregt und/oder spektral nachgewiesen werden.

5. Spektroskopieverfahren nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Detektoreinrichtung (2) mit einer Detektoranordnung (7, 8) Probe und Vergleichsmaterial insbesondere zeitlich versetzt spektral erfasst.

6. Spektroskopieverfahren nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Detektoreinrichtung (2) mit zwei Detektoranordnungen (7, 8) Probe und Vergleichsmaterial getrennt und insbesondere gleichzeitig spektral erfasst.

7. Spektroskopieverfahren nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Idealvergleichsspektrallinie/-spektrum (5) in der Spektroskopievorrichtung (1) oder einer ihr zugeordneten Auswerteeinrichtung (9) abgelegt ist und zur Ermittlung der Transferfunktion (6) unter Verwendung der Vergleichsspektrallinie/-spektrum (4) aufgerufen wird.

8. Spektroskopieverfahren nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Transferfunktion (6) auf die Testspektrallinie/-spektrum zur Kompensation einer Wellenlängen-/ oder Frequenzänderung angewandt wird.

9. Spektroskopieverfahren nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Transferfunktion (6) auf die Testspektrallinie/-spektrum (3) zur Kompensation einer Auflösungsänderung der Spektroskopievorrichtung (1) angewandt wird.

10. Spektroskopieverfahren nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass als Vergleichsmaterial Neon eingesetzt wird.

11. Spektroskopieverfahren nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass eine Reihe von Vergleichsspektrallinien/-spektren (4) für unterschiedliche Parameter insbesondere in der Auswerteeinrichtung (9) abgespeichert sind und durch Vergleich mit einer tatsächlich aufgenommenen Vergleichsspektrallinie/-spektrum (4) eine entsprechende Transferfunktion (6) aus den abgespeicherten Transferfunktionen ermittelt und zur Anwendung auf die Testspektrallinie/-spektrum (3) aufgerufen wird.

12. Spektroskopieverfahren nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Transferfunktion (6) getrennt für Variation von Messparametern und von Vorrichtungsparametern bestimmt und/oder getrennt auf die Testspektrallinie/-spektrum angewandt wird.