DE10234997C1 - Verringerung des Kontaktwiderstandes in organischen Feldeffekttransistoren mit Palladiumkontakten durch Verwendung von Phosphinen und metallhaltigen Phosphinen - Google Patents
Verringerung des Kontaktwiderstandes in organischen Feldeffekttransistoren mit Palladiumkontakten durch Verwendung von Phosphinen und metallhaltigen PhosphinenInfo
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Abstract
Die Erfindung betrifft eine Halbleitereinrichtung mit einer Halbleiterstrecke aus einem organischen Halbleitermaterial, einem ersten Kontakt zum Injizieren von Ladungsträgern in die Halbleiterstrecke und einem zweiten Kontakt zum Extrahieren von Ladungsträgern aus der Halbleiterstrecke, wobei zwischen erstem Kontakt und der Halbleiterstrecke und/oder zwischen zweitem Kontakt und der Halbleiterstrecke eine Schicht eines Phosphins angeordnet ist. Das Phosphin wirkt als Ladungstransfermolekül, das den Übergang von Ladungsträgern zwischen Kontakt und organischem Halbleitermaterial erleichtert. Dadurch kann der Kontaktwiderstand zwischen Kontakt und organischem Halbleitermaterial deutlich verringert werden.
Description
Die Erfindung betrifft eine Halbleitereinrichtung mit einer
Halbleiterstrecke aus einem organischen Halbleitermaterial,
einem ersten Kontakt zum Injizieren von Ladungsträgern in die
Halbleiterstrecke und einem zweiten Kontakt zum Extrahieren
von Ladungsträgern aus der Halbleiterstrecke, sowie ein Ver
fahren zur Herstellung einer solchen Halbleitereinrichtung.
Halbleiterchips haben eine breite Verwendung in vielfältigen
technischen Anwendungen gefunden. Ihre Herstellung ist jedoch
noch immer sehr aufwändig und teuer. Siliziumsubstrate können
zwar bis auf sehr geringe Schichtdicken gedünnt werden, so
dass sie flexibel werden. Diese Verfahren sind jedoch eben
falls sehr teuer, so dass flexible oder gekrümmte Mikrochips
nur für anspruchsvolle Anwendungen geeignet sind, bei denen
erhöhte Kosten in Kauf genommen werden können. Die Verwendung
organischer Halbleiter bietet die Möglichkeit einer kosten
günstiger Herstellung mikroelektronischer Halbleiterschaltun
gen auf flexiblen Substraten. Eine Anwendung ist zum Beispiel
eine dünne Folie mit integrierten Steuerelementen für Flüs
sigkristallbildschirme. Ein weiteres Anwendungsfeld ist die
Transpondertechnologie, wo auf so genannten Tags zum Beispiel
Informationen über eine Ware gespeichert sind.
Feldeffekttransistoren werden als Schalter in elektronischen
Schaltkreisen eingesetzt. Dabei wirkt jeweils ein zwischen
einer jeweils aus einem elektrisch leitfähigen Material auf
gebauten Source- und einer Drainelektrode angeordneter Halb
leiter im ausgeschalteten Zustand des Transistors als Isola
tor, während sich unter dem Einfluss des Feldes einer Gatee
lektrode im eingeschalteten Zustand des Transistors ein La
dungsträgerkanal ausbildet. Dabei werden am Sourcekontakt e
lektrische Ladungsträger in die Halbleiterschicht injiziert
und am Drainkontakt aus der Halbleiterschicht extrahiert, so
dass von Source nach Drain ein elektrischer Strom durch die
Halbleiterschicht bzw. durch den in der Halbleiterschicht er
zeugten Ladungskanal fließt.
Wegen der unterschiedlichen Fermi-Niveaus von Halbleitermate
rial und Kontaktmaterial kommt es an der Kontaktfläche der
beiden Materialien zu einem asymmetrischen Diffusionsprozess
der Ladungsträger. Durch die unterschiedliche Energie der
Fermi-Niveaus der beiden Materialien besteht eine Energiedif
ferenz, die durch den Übertritt von Ladungsträgern ausgegli
chen wird. Als Folge baut sich ein Grenzflächenpotential auf,
das beim Anlegen einer äußeren Potentialdifferenz einem Über
tritt der Ladungsträger zwischen den beiden Schichten entge
genwirkt. Es entsteht also eine Potentialbarriere, die von
den Ladungsträgern beim Eintritt vom elektrisch leitfähigen
Kontakt in das Halbleitermaterial bzw. beim Austritt aus dem
Halbleitermaterial in den elektrisch leitfähigen Kontakt ü
berwunden werden muss. Der Tunnelstrom, welcher durch ein
Durchtunneln der Ladungsträger durch die Potentialbarriere
entsteht, ist dabei um so geringer, je höher bzw. breiter die
Potentialbarriere ist. Ein niedriger Tunnelstrom entspricht
einem hohen Kontaktwiderstand. Bei Halbleiterbauelementen auf
der Basis anorganischer Halbleiter begegnet man einer Erhö
hung des Kontaktwiderstandes durch eine Dotierung des anorga
nischen Halbleiters in einer zur Kontaktfläche orientierten
Grenzschicht. Durch die Dotierung wird die Energie des Fermi-
Niveaus im anorganischen Halbleiter verändert, das heißt die
Differenz zwischen den Fermi-Niveaus von Kontaktmaterial und
Halbleitermaterial verringert sich. Als Folge kommt es entwe
der zu einer Verringerung der Potentialbarriere, wodurch es
einer wesentlich größeren Anzahl von Ladungsträgern möglich
wird, die Potentialbarriere zu überwinden und das gegenüber
liegende Material zu überschwemmen, oder zu einer Schmälerung
der Potentialbarriere, wodurch sich die Wahrscheinlichkeit
für ein Tunneln von Ladungsträgern durch die Potentialbarrie
re erhöht. In beiden Fällen verringert sich der Kontaktwider
stand.
Bei der Herstellung von Feldeffekttransistoren auf der Basis
von amorphen oder polykristallinen Siliziumschichten erfolgt
die Dotierung der Kontaktbereiche durch das Einbringen von
Phosphor oder Bor in die Siliziumschicht nahe der Source- und
Drainkontakte. Die Phosphor- oder Boratome werden in das Si
liziumnetzwerk eingebaut und wirken als Ladungsdonatoren oder
Ladungsakzeptoren, wodurch sich die Dichte der freien La
dungsträger und damit die elektrische Leitfähigkeit des Sili
ziums im dotierten Bereich erhöht. Dies bewirkt eine Verrin
gerung der Differenz zwischen den Fermi-Niveaus von Kontakt
material und dotiertem Halbleitermaterial. Die Dotiersubstanz
wird dabei nur im Bereich der Source- und Drainkontakte in
das Silizium eingebracht, nicht aber in der Kanalregion, in
welcher sich unter dem Einfluss des Feldes der Gateelektrode
ein Ladungsträgerkanal ausbildet. Da Phosphor und Bor kova
lente Bindungen mit dem Silizium eingehen, besteht keine Ge
fahr der Diffusion dieser Atome in die Kanalregion, so dass
eine geringe elektrische Leitfähigkeit in der Kanalregion
weiterhin sichergestellt ist.
Ist die Dotierung der Kontaktbereiche genügend hoch, ist die
Tunnelwahrscheinlichkeit bereits im Ruhezustand so groß, dass
der Übergang zwischen dem Kontaktmaterial und dem anorgani
schen Halbleitermaterial seine Sperrfähigkeit verliert und in
beiden Richtungen gut leitend wird.
Feldeffekttransistoren auf der Basis organischer Halbleiter
sind für eine Vielzahl elektronischer Anwendungen von Inte
resse, die extrem niedrige Fertigungskosten, flexible oder
unzerbrechliche Substrate, oder die Herstellung von Transis
toren und integrierten Schaltungen über große aktive Flächen
erfordern. Zum Beispiel eignen sich organische Feldeffekt
transistoren als Pixelsteuerelemente in Aktiv-Matrix-Bild
schirmen. Solche Bildschirme werden gewöhnlich mit Feld
effekttransistoren auf der Basis amorpher oder polykristalli
ner Siliziumschichten hergestellt. Die für die Herstellung
hochwertiger Transistoren auf der Basis amorpher oder poly
kristalliner Siliziumschichten notwendigen Temperaturen von
gewöhnlich mehr als 250°C erfordern die Verwendung starrer
und zerbrechlicher Glas- oder Quarzsubstrate. Dank der rela
tiv niedrigen Temperaturen, bei denen Transistoren auf der
Basis organischer Halbleiter hergestellt werden, von gewöhn
lich weniger als 100°C, erlauben organische Transistoren die
Herstellung von Aktiv-Matrix-Bildschirmen unter Verwendung
billiger, flexibler, transparenter, unzerbrechlicher Polymer
folien mit erheblichen Vorteilen gegenüber Glas oder Quarz
substraten.
Ein weiteres Anwendungsgebiet für organische Feldeffekttran
sistoren liegt in der Herstellung von sehr preiswerten integ
rierten Schaltungen, wie sie zum Beispiel für die aktive
Kennzeichnung und Identifizierung von Waren und Gütern zum
Einsatz kommen. Diese so genannten Transponder werden gewöhn
lich unter Verwendung von integrierten Schaltkreisen auf der
Basis von einkristallinem Silizium hergestellt, was zu erheb
lichen Kosten bei der Aufbau- und Verbindungstechnik führt.
Die Herstellung von Transpondern auf der Grundlage organi
scher Transistoren würde zu enormen Kostensenkungen führen
und könnte der Transpondertechnologie zum weltweiten Durch
bruch verhelfen.
Eines der Hauptprobleme bei der Anwendung organischer Feldef
fekttransistoren sind die relativ schlechten elektrischen Ei
genschaften der Source- und Drainkontakte, das heißt deren
hohe Kontaktwiderstände. Die Source- und Drainkontakte orga
nischer Transistoren werden meist unter Verwendung anorgani
scher Metalle oder mit Hilfe leitfähiger Polymere erzeugt, um
so eine möglichst hohe elektrische Leitfähigkeit der Kontakte
zu gewährleisten. Die meisten organischen Halbleiter, die für
die Verwendung in organischen Feldeffekttransistoren in Frage
kommen, besitzen sehr geringe elektrische Leitfähigkeiten.
Zum Beispiel weist Pentazen, das häufig für die Herstellung
organischer Feldeffekttransistoren verwendet wird, eine sehr
geringe elektrische Leitfähigkeit von 10-14 Ω-1cm-1 auf. Be
sitzt der organische Halbleiter eine geringe elektrische
Leitfähigkeit, besteht daher an der Kontaktfläche eine große
Differenz zwischen den Fermi-Niveaus von elektrisch leitendem
Kontaktmaterial und organischem Halbleitermaterial. Dies
führt zur Ausbildung einer hohen Potentialbarriere mit einer
geringen Tunnelwahrscheinlichkeit für den Durchtritt von La
dungsträgern. Source- und Drainkontakte weisen daher oft hohe
Kontaktwiderstände auf, weshalb hohe elektrische Feldstärken
an den Kontakten erforderlich sind, um Ladungsträger zu inji
zieren und zu extrahieren. Beschränkend wirkt also nicht die
Leitfähigkeit des Kontaktes selbst, sondern die geringe Leit
fähigkeit der an die Kontakte angrenzenden Halbleiterberei
che, in welche die Ladungsträger injiziert bzw. aus welchen
die Ladungsträger extrahiert werden.
Um die elektrischen Eigenschaften der Source- und Drainkon
takte zu verbessern, ist deshalb eine hohe elektrische Leit
fähigkeit des organischen Halbleiters in den an die Kontakte
angrenzenden Bereichen erwünscht, um den Unterschied in den
Fermi-Niveaus zwischen organischem Halbleiter und Kontaktma
terial zu verringern und damit die Kontaktwiderstände zu er
niedrigen. Andererseits hat eine hohe elektrische Leitfähig
keit des organischen Halbleiters in der Kanalregion einen ne
gativen Einfluss auf die Eigenschaften des Transistors. Eine
nennenswerte elektrische Leitfähigkeit in der Kanalregion
führt unweigerlich zu hohen Leckströmen, das heißt zu relativ
hohen elektrischen Stromstärken im ausgeschalteten Zustand
des Feldeffekttransistors. Für viele Anwendungen sind aber
niedrige Leckströme im Bereich von 10-12 A oder weniger unab
dingbar. Eine hohe elektrische Leitfähigkeit führt außerdem
dazu, dass das Verhältnis zwischen maximalem Einschaltstrom
und minimalem Ausschaltstrom zu gering ausfällt. Viele Anwen
dungen erfordern ein möglichst großes Verhältnis zwischen
Einschaltstrom und Ausschaltstrom im Bereich von 107 oder
größer, da dieses Verhältnis das Modulationsverhalten und die
Verstärkung des Transistors widerspiegelt. In der Kanalregion
ist daher eine geringe elektrische Leitfähigkeit des organi
schen Halbleiters erforderlich, während im Bereich der Sour
ce- und Drainkontakte eine hohe elektrische Leitfähigkeit
notwendig ist, um die Kontakteigenschaften zwischen organi
schem Halbleitermaterial und dem Material der Kontakte zu
verbessern.
Die elektrische Leitfähigkeit vieler organischer Halbleiter
kann wie bei anorganischen Halbleitern durch das Einbringen
geeigneter Dotiersubstanzen erhöht werden. Die Erzielung po
sitioneller Selektivität beim Dotieren ist jedoch problema
tisch. Die Dotiersubstanzen sind in den organischen Halblei
tern nicht an eine bestimmte Position gebunden und können
sich innerhalb des Materials frei bewegen. Selbst wenn der
Dotierungsprozess ursprünglich auf einen bestimmten Bereich,
zum Beispiel die Bereiche um die Source- und Drainkontakte,
beschränkt werden kann, kommt es später zu einer Wanderung
der Dotiersubstanzen durch die gesamte organische Halbleiter
schicht, insbesondere unter dem Einfluss des elektrischen
Feldes, das zwischen dem Source- und Drainkontakt angelegt
wird, um den Transistor zu betreiben. Durch die Diffusion der
Dotiersubstanz innerhalb der organischen Halbleiterschicht
erhöht sich unweigerlich die elektrische Leitfähigkeit in der
Kanalregion.
Ioannis Kymissis et al.: "High-Performance Bottom Electrode
Organic Thin-Film Transistors" IEEE Transactions on Electron
Devices, Vol. 48, Nr. 6, Juni 2001, S. 1060-1064 beschrei
ben eine Halbleitereinrichtung mit vermindertem Kontaktwider
stand, wobei auf Chrom/Gold-Elektroden zunächst eine monomo
lekulare Schicht aus 1-Hexadecanthiol und auf dieser dann ei
ne Schicht aus Pentazen als organisches Halbleitermaterial
aufgebracht wird. Diese Anordnung ermöglicht es, den Kontakt
widerstand für den Ladungsübertritt der Ladungsträger zwi
schen Elektrode und Halbleiterstrecke wesentlich zu erniedri
gen. Die an der Grenzfläche zwischen Kontakt und organischem
Halbleiter angeordneten Moleküle aus 1-Hexadecanthiol wirken
als Ladungstransfer-Moleküle. Sie stehen sowohl mit dem Kon
taktmaterial als auch mit der organischen Halbleiterschicht
in direktem Kontakt. Wegen ihrer molekularen Struktur können
die Ladungstransfer-Molekül einen Transfer von Ladungsträgern
zwischen dem Kontaktmaterial, in dem ein Überschuss an La
dungsträgern besteht, und der organischen Halbleiterschicht,
in der ein Mangel an Ladungsträgern besteht, erzwingen. Auf
diese Weise kann im Bereich der Source- und Drainkontakte ein
Ladungsträgerüberschuss in der organischen Halbleiterschicht
herbeigeführt werden, wodurch der Kontaktwiderstand deutlich
verringert wird. Die Thiolgruppen des 1-Hexadecanthiols bil
den eine kovalente Bindung zur Oberfläche der Goldkontakte
aus, was eine lokale Fixierung der Moleküle bewirkt. Auch un
ter Einwirkung eines zwischen Source- und Drainelektrode an
gelegten Feldes wandern die Ladungstransfermoleküle daher
nicht in diejenigen Abschnitte der organischen Halbleiter
strecke, in welcher die Kanalregion ausgebildet wird.
Gold hat jedoch den Nachteil, dass es meist sehr schlecht auf
anorganischen Schichten haftet, wie zum Beispiel auf Silizi
umdioxid. Um die Haftung der Goldkontakte zu verbessern, wird
daher unmittelbar vor der Abscheidung der Goldschicht oft ei
ne dünne Schicht aus Chrom oder Titan als Haftvermittler auf
gebracht. Dies hat jedoch den Nachteil, dass die für die Er
zeugung der Kontaktstrukturen notwendige Strukturierung der
Metallschicht erschwert wird. Ferner eignen sich Thiole auch
nur für bestimmte Metalle, wie Gold, als Ladungstransfermole
küle, da nicht zu allen Metallen, die für die Herstellung von
Kontakten geeignet sind, eine ausreichende Bindungsstärke er
reicht werden kann, um ein Abdiffundieren der Thiole aus der
Grenzschicht zwischen Kontakt und Halbleitermaterial zu ver
hindern.
Aus WO 01/01502 A2 sind weitere für den organischen Ladungs
transfer geeignete Verbindungen wie beispielsweise 4,4'-
substituiertes Phenyl oder Biphenyl und deren funktionelle
Gruppen bekannt. Schließlich beschreibt die US 5,903,101 die
Behandlung von ITO-Kontakten einer organischen Elektrolumi
neszenzanzeige mit einem Kopplungsagens, bei dem sich Titan
in der Hauptkette und im Übrigen aber auch Phosphor, nämlich
Phosphor-Sauerstoffverbindungen, in der Seitenkette befinden.
Aufgabe der Erfindung ist es, eine Halbleitereinrichtung mit
einer Halbleiterstrecke aus einem organischen Halbleitermate
rial, einem ersten Kontakt zum Injizieren von Ladungsträgern
in die Halbleiterstrecke und einem zweiten Kontakt zum Extra
hieren von Ladungsträgern aus der Halbleiterstrecke zur Ver
fügung zu stellen, welche einen niedrigen Kontaktwiderstand
für den Übertritt von Ladungsträgern zwischen Kontakt und
Halbleiterstrecke aufweist.
Die Aufgabe wird bei einer Halbleitereinrichtung der eingangs
genannten Art gelöst, indem zwischen erstem Kontakt und der
Halbleiterstrecke und/oder zwischen zweitem Kontakt und der
Halbleiterstrecke eine monomolekulare Schicht eines Phosphins
angeordnet ist.
Phosphine können mit einer großen Anzahl von Metallen, welche
als Material für Kontakte in dem oben beschriebenen Halblei
tereinrichtungen verwendet werden, äußerst stabile Komplexe
ausbilden. Wird das Phosphin auf die Fläche der Kontakte auf
gebracht, welche später die Kontaktfläche zur Halbleiterstre
cke bildet, werden die Moleküle daher unter Ausbildung eines
Komplexes an die Oberfläche koordiniert. Dies sichert einer
seits einen guten Kontakt zum Material der Kontakte und ande
rerseits eine Fixierung der Phosphinmoleküle an der Kontakt
fläche, so dass diese in einem Feld, das zwischen Source- und
Drainelektrode angelegt wird, nicht in die Abschnitte der
Halbleiterstrecke diffundieren, in welchen der Leitungskanal
ausgebildet wird.
Als Halbleiterstrecke wird eine Leitungsstrecke zwischen zwei
Kontakten bezeichnet, welche aus einem organischen Halblei
termaterial aufgebaut ist. Die Ladungsträger, Elektronen bzw.
Löcher, werden am ersten Kontakt in die Halbleiterstrecke in
jiziert, durchlaufen die Halbleiterstrecke und werden am
zweiten Kontakt wieder aus der Leiterstrecke extrahiert. Als
organisches Halbleitermaterial können an sich alle organi
schen Materialien verwendet werden, welche Halbleitereigen
schaften aufweisen. Beispiele für geeignete Verbindungen sind
kondensierte Aromaten, wie Antrazen, Tetrazen oder Pentazen,
polymere aromatische Verbindungen, wie Polyvinylene oder Po
lynaphthalinderivate, elektrisch halbleitende Verbindungen
auf der Basis von Polythiophen, zum Beispiel Poly-3-hexyl
thiophen-2,5-diyl, oder elektrisch halbleitende Verbindungen
auf der Basis von Polyvinylthiophen oder Polyanilin. Neben
den genannten Verbindungen können auch andere organische
Halbleiterverbindungen verwendet werden. Die organischen
Halbleitermaterialien können eine Dotierung aufweisen. Dabei
sollte jedoch sichergestellt sein, dass die Dotierung nicht
im organischen Halbleitermaterial wandert bzw. diffundiert.
Die Halbleiterstrecke kann homogen aus nur einem organischen
Halbleitermaterial bestehen. Es ist aber auch möglich, eine
Halbleiterstrecke vorzusehen, die aus verschiedenen Abschnit
ten besteht, die aus jeweils verschiedenen organischen Halb
leitermaterialien aufgebaut sind.
Die für die Herstellung der Halbleiterstrecke der erfindungs
gemäßen Halbleitereinrichtung verwendeten Materialien sind
einfach zugänglich und können teilweise auch von kommerziel
len Anbietern bezogen werden. Die organischen Halbleitermate
rialien bzw. Vorstufen für die Herstellung der organischen
Halbleitermaterialien sind meist in organischen Lösungsmit
teln gut löslich und können daher in gelöster Form bzw. als
Suspension bereitgestellt und in flüssiger Form auf ein Sub
strat aufgebracht werden. Auf diese Weise kann die Halblei
terstrecke der erfindungsgemäßen Halbleitervorrichtung bei
spielsweise durch einfache Druckverfahren erzeugt werden, was
die Herstellung des Halbleiterelements wesentlich vereinfacht
und verbilligt. Die Abscheidung des organischen Halbleiterma
terials kann jedoch auch nach anderen Verfahren erfolgen,
beispielsweise durch Aufsublimieren des Halbleitermaterials
aus der Gasphase.
Als Material für die Kontakte sind alle Materialien geeignet,
welche eine ausreichend hohe elektrische Leitfähigkeit auf
weisen. Prinzipiell sind alle Metalle geeignet, vorzugsweise
Palladium, Gold, Platin, Nickel, Kupfer, Aluminium, wie auch
elektrisch leitfähige Oxide, wie zum Beispiel Rutheniumoxid
und Indiumzinnoxid, sowie auch elektrisch leitfähige Polyme
re, wie Polyacetylen oder Polyanilin. Das Material für die
Kontakte sollte zum Phosphin eine stabile Bindung ausbilden
können, um das Phosphin an die Oberfläche zu binden. Metalle
bilden mit Phosphinen im Allgemeinen stabile Komplexe, wes
halb die Kontakte bevorzugt aus Metallen aufgebaut sind.
Der erste und/oder der zweite Kontakt der Halbleitereinrich
tung ist vorzugsweise aus Palladium aufgebaut. Palladium
zeichnet sich wie Gold durch eine ausgezeichnete Oxidations
beständigkeit aus und ist ebenfalls leicht abzuscheiden und
zu strukturieren. Im Gegensatz zu Gold haftet Palladium je
doch wesentlich besser auf Unterlagen aller Art, so dass die
zusätzliche Verwendung eines Haftvermittlers, wie Chrom oder
Titan, nicht erforderlich ist. Phosphine zeigen eine sehr gu
te Haftung auf Palladiumoberflächen, so dass keine Wanderung
dieser Verbindungen im elektrischen Feld erfolgt. Werden
Phosphine auf Palladium aufgebracht, kommt es zur Bildung ei
nes stabilen Metallkomplexes und damit zur Fixierung der Mo
leküle auf der Palladiumoberfläche durch Komplexbildung. Thi
ole sind für die Fixierung auf Palladium ungeeignet, da die
Palladium-Schwefel-Bindung im Vergleich zur Gold-Schwefel-
Bindung deutlich schwächer ist und keine lokale Fixierung der
Moleküle auf der Kontaktoberfläche erfolgt.
Um einen möglichst geringen Kontaktwiderstand für den Über
tritt der Ladungsträger zwischen Kontakt und Halbleiterstre
cke zu erreichen, sollte die Schicht des Phosphins möglichst
dünn ausgeführt werden. Bevorzugt ist die Schicht des
Phosphins als selbstorganisierende monomolekulare Schicht
ausgebildet. In diesem Fall wird die Oberfläche des Kontakts
mit einer monomolekularen Schicht belegt, wobei das Phosphin
über den Phosphor an die Oberfläche des Kontakts koordiniert
wird. Ist die Oberfläche des Kontakts vollständig belegt,
wird keine weitere Verbindung mehr adsorbiert und überschüs
siges Phosphin kann beispielsweise mit einem geeigneten Lö
sungsmittel weggespült werden.
Die für die erfindungsgemäße Halbleitereinrichtung geeigneten
Phosphine können eine äußerst vielfältige Struktur aufweisen.
Der für den Übertritt der Ladungsträger zwischen Kontakt und
Halbleiterstrecke herrschende Kontaktwiderstand kann durch
Variation der Struktur des Phosphins in weiten Grenzen verän
dert und auf die Materialien, z. B. der Halbleiterstrecke ab
gestimmt werden. Geeignet sind bereits vergleichsweise ein
fach aufgebaute Phosphine, wie PH3 oder PF3. Weiter eignen
sich Alkylphosphine, wobei die an den Phosphor gebundenen Al
kylgruppen gleich oder verschieden sein können und vorzugs
weise 1 bis 20, insbesondere bevorzugt 1 bis 8 Kohlenstoff
atome umfassen. Beispiele für geeignete Alkylgruppen sind Me
thyl-, Ethyl- Propyl- Butyl-, Pentyl-, Hexyl-, Heptyl- und
Octylgruppen, wobei diese Gruppen geradkettig oder verzweigt
sein können. Geeignet sind auch zyklische Alkylgruppen, wie
z. B. Cyclopentyl- oder Cyclohexylgruppen. Die Alkylgruppen
können auch ein oder mehrere Kohlenstoff-Kohlenstoff-
Doppelbindungen enthalten, die isoliert oder konjugiert zu
einander angeordnet sein können. Beispiel für eine geeignete
ungesättigte Alkylgruppe (Alkenylgruppe) ist die Vinylgruppe.
In den genannten Gruppen können auch ein oder mehrere Wasser
stoffatome durch Halogenatome, wie Fluor, oder Pseudohaloge
nide, wie eine Nitrilgruppe, ersetzt sein. Auch andere Grup
pen sind geeignet, z. B. eine Aminogruppe. Beispiele für ge
eignete Phosphine sind Tris(2-cyanoethyl)phosphin oder
Tris(diethylamino)phosphin. Geeignet sind ferner Arylphosphi
ne, wobei die Arylgruppe beispielsweise ausgewählt wird aus
der Gruppe, die gebildet ist aus Phenyl, Anisyl, p-
Methylphenyl, p-Sulfonsäurephenyl. Die an den Phosphor gebun
denen Arylgruppe können gleich oder verschieden sein. Ein
Beispiel für ein geeignetes Arylphosphin ist Diphenylphosphi
nobenzoesäure. Auch in den Arylgruppen können ein oder mehre
re der Wasserstoffatome durch Halogenatome oder Pseudohaloge
nide ersetzt sein. Beispiele für derartige Arylgruppen sind
Fluorphenyl oder Perfluorphenyl. Weiter sind auch chelatisie
rende Phosphine mit zwei oder mehreren Phosphinsubstituenten
geeignet, wie 1,2-bis-(Diphenylphosphino)ethan, cis-1,2-bis-
(Diphenylphosphino)ethylen, bis-(Diphenylphosphino)methan,
1,1,1-Tris(diphenylphosphinomethyl)ethan,
Bis(dimethylphosphino)methan. Ferner können auch Phosphine
verwendet werden, die sowohl Alkyl-, wie auch Arylgruppen um
fassen.
Phosphine bilden sehr stabile Komplexe mit Metallen, insbe
sondere Palladium und Platin aus. In Lösung stellt sich ein
reversibles Gleichgewicht ein:
Pd(PPh3)4 ↔ Pd(PPh3)3 + PPh3 ↔ Pd(PPh3)2 + 2PPh3
Dieses Gleichgewicht ermöglicht die Ausbildung einer Metall-
Metall-Bindung. Für diese Umsetzung sind Komplexe wie
Pd(PPh3)4 oder Pd(CO)(PPh3)3 geeignet. Auf diese Weise lassen
sich aber auch gezielt Komplexe aufbringen, die andere Metal
le enthalten als das Metall des Kontaktes. Geeignet sind bei
spielsweise Komplexe von Platin oder Nickel. Beispiele für
geeignete Komplexe sind Pt(PPh3)4 oder Pt(CO)(PPh3)3 oder auch
NiCl2(dppe)2. Auf diese Weise lassen sich auch Fremdmetalle
in die Kontaktfläche zwischen Kontakt und Halbleiterstrecke
einführen.
Die erfindungsgemäße Halbleiteranordnung lässt sich sehr ein
fach in komplexere Bauelemente integrieren. So wird in einer
besonders bevorzugten Ausführungsform die oben beschriebene
Halbleitereinrichtung durch eine Gateelektrode und ein Gate
dielektrikum zu einem Transistor ergänzt. Der erste Kontakt
der Halbleitereinrichtung bildet dann den Sourcekontakt, wäh
rend der zweite Kontakt die Drainelektrode bildet. Unter dem
Einfluss des von der Gateelektrode erzeugten Feldes wird dann
zwischen Source- und Drainelektrode ein Ladungskanal ausge
bildet, in welchem ein Ladungsträgertransport stattfindet.
Für die Gateelektrode können die gleichen Materialien verwen
det werden, wie sie weiter oben für den ersten und zweiten
Kontakt beschrieben worden sind. Zur Isolation der Gatee
lektrode können übliche Materialien verwendet werden, wie Si
liziumdioxid, Aluminiumoxid oder ein isolierendes Polymer,
wie Polystyrol, Polyethylen, Polyester, Polyurethan, Polycar
bonat, Polyacrylat, Polyimid, Polyether, Polybenzoxazole oder
Gemische dieser Verbindungen.
Das erfindungsgemäße Halbleiterelement lässt sich sehr kos
tengünstig aus gut zugänglichen Materialien herstellen und
eignet sich daher insbesondere für eine Anwendung in Vorrich
tungen, welche einem hohen Kostendruck unterliegen, wie zum
Beispiel RF-ID-Etiketten für die Kennzeichnung von Waren.
Gegenstand der Erfindung ist daher auch ein Verfahren zur
Herstellung der oben beschriebenen Halbleitereinrichtung, wo
bei auf einem Substrat ein erster und/oder ein zweiter Kon
takt bereitgestellt wird, welcher eine freiliegende Kontakt
fläche aufweist. Auf der freiliegenden Kontaktfläche wird ein
Phosphin oder ein metallhaltiges Phosphinderivat aufgebracht,
so dass auf der Kontaktfläche eine Schicht des Phosphins er
halten wird. Schließlich wird ein organisches Halbleitermate
rial in der Weise abgeschieden, dass zwischen erstem Kontakt
und zweitem Kontakt eine Halbleiterstrecke aus dem organi
schen Halbleitermaterial erhalten wird.
Als Substrat können bei der Herstellung der erfindungsgemäßen
Halbleitereinrichtung unflexible Substrate verwendet werden,
wie zum Beispiel Träger aus Glas oder Quarz oder auch Silizi
umwafer. Bevorzugt werden jedoch flexible Substrate verwen
det, wie zum Beispiel Kunststofffolien aus zum Beispiel Po
lystyrol, Polyethylen, Polyester, Polyurethan, Polycarbonat,
Polyacrylat, Polyimid, Polyether oder Polybenzoxazolen oder
auch Papier. Auf dem Substrat können auch bereits Bauelemente
der Halbleitereinrichtung definiert sein, wie zum Beispiel
eine Gateelektrode, welche mit einem entsprechenden Gatedie
lektrikum isoliert ist. Anschließend werden auf dem Substrat
der erste und zweite Kontakt definiert, wobei übliche Metho
den für die Abscheidung und Strukturierung verwendet werden.
Das Metall, aus welchem die Kontakte aufgebaut sind, kann
beispielsweise durch Elektronenstrahlverdampfen oder mittels
Kathodenstrahlzerstäubung abgeschieden werden. Andere Verfah
ren können jedoch ebenfalls angewandt werden. Die Metall
schicht wird anschließend strukturiert, beispielsweise durch
fotolithografische Verfahren. Das Phosphin wird anschließend
auf die Kontakte aufgebracht, wobei hier an sich beliebige
Verfahren verwendet werden können. So kann das Phosphin bei
spielsweise aus der Gasphase aufgebracht werden, indem ein
mit dem Phosphin gesättigter Luftstrom über die Oberfläche
der Kontakte geleitet wird, so dass die Phosphinmoleküle an
der Oberfläche des Kontakts gebunden werden. Bevorzugt wird
das Phosphin jedoch als Lösung auf die Kontakte aufgebracht.
Dies ist insbesondere dann vorteilhaft, wenn das Phosphin ei
nen sehr niedrigen Dampfdruck aufweist. Dazu wird zunächst
eine Lösung des Phosphins in einem geeigneten Lösungsmittel
hergestellt und dieses dann auf die Kontakte aufgebracht.
Durch Diffusion wandern die Moleküle aus der Lösung an die
Oberfläche der Kontakte, wo die Moleküle über den Phosphor
unter Ausbildung eines Metallkomplexes mit dem Metall des
Kontaktes gebunden werden. Überschüssiges Lösungsmittel und
Phosphin kann anschließend entfernt werden, beispielsweise
durch Spülen oder Abschleudern. Die Lösung des Phosphins kann
mit üblichen Verfahren auf die Kontakte aufgebracht werden.
Geeignet sind beispielsweise Sprüh- oder Tauchverfahren. E
benso kann die Lösung des Phosphins auf die Oberfläche des
Substrats und der Kontakte aufgeschleudert werden, wobei die
Phosphinmoleküle selektiv an die Oberfläche der metallischen
Kontakte gebunden werden. Schließlich ist es auch möglich,
das Phosphin durch ein Druckverfahren auf die Kontakte aufzu
bringen. Nachdem die Kontakte mit der Lösung des Phosphins
bedruckt sind, muss anschließend überschüssiges Lösungsmittel
entfernt werden, beispielsweise durch Verdampfen. Um die
Schicht des Phosphins nicht zu dick zu gestalten, muss dabei
mit entsprechend verdünnten Lösungen gearbeitet werden. Der
Begriff "Lösung" ist in diesem Fall weit auszulegen. Es ist
nicht erforderlich, dass das Phosphin in vollständig gelöster
Form als klare Lösung vorliegt. Es ist ebenfalls möglich, die
Lösung in einer pastösen Form bereitzustellen. Die Anforde
rungen an die Konsistenz der Lösung werden Wesentlich von den
Anforderungen bestimmt, die sich aus dem Verfahren ergeben,
mit dem die Lösung auf den Flächen der Kontakte aufgebracht
wird. Abschließend wird der organische Halbleiter abgeschie
den, so dass eine Halbleiterstrecke zwischen erstem und zwei
tem Kontakt erhalten wird. Dazu werden ebenfalls übliche Ver
fahren verwendet. So kann beispielsweise Pentazen durch Sub
limation im Vakuum abgeschieden werden. Es ist aber auch mög
lich, den organischen Halbleiter in gelöster Form aufzubrin
gen. Geeignet ist beispielsweise eine Lösung von R,R-Poly-3-
Hexylthiophen in Chloroform. Dazu kann die Lösung des organi
schen Halbleiters beispielsweise aufgesprüht oder aufge
schleudert werden. Ebenso ist es möglich, den organischen
Halbleiter durch Drucktechniken aufzubringen.
Beim oben beschriebenen Verfahren zur Herstellung der erfin
dungsgemäßen Halbleiteranordnung kann das Phosphin selbst auf
die gereinigte Fläche des Kontakts aufgebracht werden, der
beispielsweise aus Palladium besteht. Es ist aber auch mög
lich, das Phosphin gebunden in einem Metallkomplex auf die
Fläche des Kontakts aufzubringen. Wie bereits beschrieben
stellt sich in Lösung ein Gleichgewicht ein, in dem die an
das Metallatom gebundenen Phosphinliganden abdissoziieren
können. Dies ermöglicht es, dass die Phosphinliganden entwe
der direkt mit dem Metallatomen des Kontakts einen Komplex
ausbilden, oder dass zum Beispiel der verbleibende Metallkom
plex eine Metall-Metall-Bindung zu einem Metallatom ausbil
det, dass an der Oberfläche des Kontakts angeordnet ist. In
den Metallkomplexen können die Phosphine sowohl nur an das
zentrale Metallatom gebunden sein, wie auch verbrückend wir
ken. Beispiele für geeignete Metallkomplexe sind nachfolgend
gezeigt.
Bei der weiter oben beschriebenen Ausführungsform des Verfah
rens wurden zunächst die Kontakte abgeschieden, und auf die
sen, nach einer Behandlung mit dem Phosphin, die Schicht aus
dem organischen Halbleitermaterial aufgebracht. An sich könn
te auch zunächst die Schicht aus dem organischen Halbleiter
material abgeschieden werden und erst auf dieser die Kontakte
definiert werden. Im Allgemeinen ist es jedoch schwierig, ei
ne Strukturierung der Kontakte durchzuführen, wenn diese auf
der Schicht des organischen Halbleitermaterials angeordnet
sind. Dies wirkt sich nachteilig auf die Leitfähigkeit bzw.
die Ladungsträgerbeweglichkeit der organischen Halbleiter
schicht sowie auf die Reproduzierbarkeit der Eigenschaften
der dargestellten Halbleitereinrichtungen aus. Bevorzugt wer
den daher zunächst die Kontakte hergestellt und erst an
schließend auf den Kontakten das organische Halbleitermateri
al abgeschieden, um auf diese Weise die organische Halblei
terstrecke zu definieren.
Die Erfindung wird im Weiteren unter Bezugnahme auf eine bei
gefügte Zeichnung näher erläutert. Gleiche Gegenstände werden
dabei mit gleichen Bezugszeichen bezeichnet. Es zeigt:
Fig. 1 Verfahrensschritte, die bei der Herstellung eines
Feldeffekttransistors durchlaufen werden, welcher
die erfindungsgemäße Halbleitereinrichtung um
fasst.
Fig. 1 zeigt eine Abfolge der Verfahrensschritte, die bei der
Herstellung eines Feldeffekttransistors durchlaufen werden,
welcher die erfindungsgemäße Halbleitereinrichtung umfasst.
Zunächst wird, wie in Fig. 1A gezeigt, auf einem Substrat 1
eine Gateelektrode 2 definiert. Dazu wird auf dem Substrat 1,
beispielsweise einer Polymerfolie, eine Schicht aus z. B. Pal
ladium abgeschieden und anschließend durch fotolithografische
Techniken strukturiert. Die Gateelektrode 2 wird anschließend
isoliert, indem als Gatedielektrikum 3 eine Schicht aus bei
spielsweise Siliziumdioxid aufgebracht wird. Man erhält da
durch die in Fig. 1B dargestellte Anordnung. Auf dem Gatedie
lektrikum 3 werden nun die Sourceelektrode 4 und die Draine
lektrode 5 definiert. Dazu wird, wie bei der Darstellung der
Gateelektrode 2 beschrieben, zunächst eine Schicht aus z. B.
Palladium abgeschieden und diese dann durch fotolithografi
sche Techniken strukturiert, um wie in Fig. 1C dargestellt,
Abschnitte aus Palladium zu erhalten, welche der Sourcee
lektrode 4 und der Drainelektrode 5 entsprechen. Auf die aus
den Oberflächen der Sourceelektrode 4, der Drainelektrode 5
und des Gatedielektrikums 3 gebildete Oberfläche wird nun ei
ne Lösung eines Phosphins in einem geeigneten Lösungsmittel
aufgebracht und für eine bestimmte Zeitdauer dort belassen,
so dass die Phosphinmoleküle aus der Lösung an die freilie
genden Flächen der Sourceelektrode 4 und der Drainelektrode 5
diffundieren können und dort gebunden werden. Abschließend
wird überschüssiges Lösungsmittel sowie ungebundenes Phosphin
entfernt, beispielsweise durch Spülen mit einem geeigneten
Lösungsmittel und anschließendem Trocknen, beispielsweise ei
nem Stickstoffstrom. Man erhält, wie in Fig. 1D dargestellt,
eine Anordnung, in der an den Oberflächen der Sourceelektrode
4 und der Drainelektrode 5 Phosphinmoleküle gebunden sind,
die eine monomolekulare Schicht 6 ausbilden. Abschließend
wird, wie in Fig. 1E dargestellt, eine Schicht aus einem or
ganischen Halbleiter 7 aufgebracht, welcher die mit der mono
molekularen Schicht 6 versehenen Source- und Drainelektrode
(4, 5) sowie den zwischen diesen Elektroden angeordneten Ab
schnitt des Gatedielektrikums 3 bedeckt.
Eine flexible Polyethylennaphthalatfolie wird mit Aceton und
Isopropanol gereinigt und anschließend auf der Folie eine
dünne Schicht aus Titan abgeschieden. Die Titanschicht wird
durch Fotolithografie und nasschemisches Ätzen in verdünnter
Flusssäure strukturiert, um die Gateelektroden der Transisto
ren zu definieren. Anschließend wird durch Kathodenstrahlzer
stäubung eine dünne Schicht Siliziumdioxid als Gatedielektri
kum für die Transistoren abgeschieden und durch Fotolithogra
fie sowie nasschemisches Ätzen strukturiert. Danach wird Pal
ladium entweder durch thermisches Verdampfen, durch Elektro
nenstrahlverdampfen oder mittels Kathodenstrahlzerstäubung
abgeschieden und ebenfalls durch Fotolithografie sowie nass
chemisches Ätzen in einem stark verdünnten Gemisch aus Salz
säure und Salpetersäure geätzt, um die Source- und Drainkon
takte der Transistoren zu definieren. Das so vorbereitete
Substrat wird für 5 Minuten in eine 5%-ige Lösung von
Triphenylphosphin in Xylol getaucht, um die Palladiumoberflä
chen mit einer Monolage aus Triphenylphosphin zu bedecken.
Überschüssiges Triphenylphosphin wird in einem Spülschritt
mit Hexan abgespült. Nach dem Trocknen des Substrats wird
mittels thermischen Verdampfens eine dünne Schicht Pentazen
als organische Halbleiterschicht abgeschieden.
Beispiel 1 wurde wiederholt, wobei jedoch anstelle einer Lö
sung von Triphenylphosphin in Xylol eine handelsübliche Lö
sung von Trimethylphosphin in Toluol verwendet wurde.
Beispiel 1 wurde wiederholt, wobei jedoch anstelle von
Triphenylphosphin Tetrakis(triphenylphosphino)palladium(0)
verwendet wurde.
Beispiel 1 wurde wiederholt, wobei jedoch anstelle von
Triphenylphosphin Tetrakis(triphenylphosphino)platin(0) ver
wendet wurde.
Claims (9)
1. Halbleitereinrichtung mit einer Halbleiterstrecke aus ei
nem organischen Halbleitermaterial, einem ersten Kontakt zum
Injizieren von Ladungsträgern in die Halbleiterstrecke und
einem zweiten Kontakt zum Extrahieren von Ladungsträgern aus
der Halbleiterstrecke,
dadurch gekennzeichnet,
dass zwischen erstem Kontakt und der Halbleiterstrecke
und/oder zwischen zweitem Kontakt und der Halbleiterstrecke
eine Schicht eines Phosphins angeordnet ist.
2. Halbleitereinrichtung nach Anspruch 1, wobei der erste
und/oder zweite Kontakt aus Palladium aufgebaut ist.
3. Halbleitereinrichtung nach Anspruch 1 oder 2, wobei die
Schichten des Phosphins als selbstorganisierende monomoleku
lare Schicht ausgebildet ist.
4. Halbleitereinrichtung nach einem der vorhergehenden An
sprüche, wobei das Phospin als Metallkomplex in der Schicht
des Phosphins vorliegt.
5. Halbleitereinrichtung nach Anspruch 4, wobei der Metall
komplex Palladium(0) oder Platin(0) als Metall enthält.
6. Halbleitereinrichtung nach einem der vorhergehenden An
sprüche, wobei die Halbleitereinrichtung durch eine Gatee
lektrode und ein Gatedielektrikum zu einem Feldeffekttransis
tor ergänzt ist.
7. Verfahren zur Herstellung einer Halbleitereinrichtung nach
einem der Ansprüche 1 bis 6, wobei auf einem Substrat ein
erster und/oder ein zweiter Kontakt bereitgestellt wird, wel
che eine freiliegende Kontaktfläche aufweist, auf der frei
liegenden Kontaktfläche ein Phosphin oder ein metallhaltiges
Phosphinderivat aufgebracht wird, so dass auf der Kontaktflä
che eine Schicht des Phosphins erhalten wird, und ein organi
sches Halbleitermaterial abgeschieden wird, so dass zwischen
erstem Kontakt und zweitem Kontakt eine Halbleiterstrecke aus
einem organischen Halbleitermaterial erhalten wird.
8. Verfahren nach Anspruch 7, wobei das Phosphin als Lösung
auf der Kontaktfläche des ersten und/oder des zweiten Kon
takts aufgebracht wird.
9. Verfahren nach einem der Ansprüche 7 oder 8, wobei das
Phosphin in Form eines Metallkomplexes aufgebracht wird
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