DE19711922A1 - Vorrichtung und Verfahren zum Ziehen eines Einkristalls - Google Patents

Vorrichtung und Verfahren zum Ziehen eines Einkristalls

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Description

Gegenstand der Erfindung ist eine Vorrichtung zum Ziehen eines Einkristalls aus Silicium, umfassend ein Element, das den an einer Kristallisationsgrenze wachsenden Einkristall ringförmig umgibt und eine dem Einkristall gegenüberliegende Fläche auf­ weist. Die Erfindung betrifft außerdem ein Verfahren zum Zie­ hen eines Einkristalls aus Silicium, bei dem der Einkristall mit einer Ziehgeschwindigkeit V gezogen wird, die so gewählt ist, daß der Quotient V/G den Wert 1,3.10-3 cm2min-1K-1 ±10% annimmt, wobei G der axiale Temperaturgradient im Bereich der Kristallisationsgrenze ist.
Es ist beispielsweise in der DE-44 14 947 A1 beschrieben, daß Halbleiterscheiben aus Silicium, die von einem Einkristall ab­ getrennt wurden, einen sogenannten Stapelfehlerkranz aufweisen können. Das Auftreten eines Stapelfehlerkranzes steht in engem Zusammenhang mit der Ziehgeschwindigkeit V und dem axialen Temperaturgradienten G im Bereich der Kristallisationsgrenze. Gemäß der empirisch gefundenen Formel V/G = 1,3.10-3 cm2min-1K-1 läßt sich eine untere Ziehgeschwindigkeit angeben, bei deren Überschreiten ein Stapelfehlerkranz gerade aufzutre­ ten beginnt.
Im Stand der Technik ist ferner beschrieben, daß der Stapel­ fehlerkranz Gebiete der Halbleiterscheibe trennt, die durch das Vorhandensein unterschiedlicher Defekttypen und Defekt­ dichten charakterisiert sind (E. Dornberger und W.v.Ammon, Journal Of The Electrochemical Society, Vol. 143, No. 5, 1996). Dieser Literaturstelle ist auch zu entnehmen, daß der axiale Temperaturgradient bei den üblicherweise praktizierten Zieh­ verfahren im Bereich der Kristallisationsgrenze nicht konstant ist, sondern sich, von der Kristallachse aus betrachtet, in radialer Richtung ändert.
Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es, eine Änderung des axialen Temperaturgradienten im Bereich der Kristallisationsgrenze in radialer Richtung weitgehend zu vermeiden.
Diese Aufgabe wird gelöst durch eine Vorrichtung zum Ziehen eines Einkristalls aus Silicium, umfassend ein Element, das den an einer Kristallisationsgrenze wachsenden Einkristall ringförmig umgibt und eine dem Einkristall gegenüberliegende Fläche aufweist, und dadurch gekennzeichnet ist, daß das Ele­ ment den Einkristall im wesentlichen in Höhe der Kristallisa­ tionsgrenze umgibt und die Eigenschaft aufweist, vom Einkri­ stall abgestrahlte Wärmestrahlung zu reflektieren oder Wär­ mestrahlung abzustrahlen.
Die Aufgabe wird ferner gelöst durch ein Verfahren zum Ziehen eines Einkristalls aus Silicium, bei dem der Einkristall mit einer Ziehgeschwindigkeit V gezogen wird, die so gewählt ist, daß der Quotient V/G den Wert 1,3.10-3 cm2min-1K-1 ±10% an­ nimmt, wobei G der axiale Temperaturgradient im Einkristall im Bereich der Kristallisationsgrenze ist, das dadurch gekenn­ zeichnet ist, daß der Einkristall mit einem ihn im wesentli­ chen in Höhe der Kristallisationsgrenze umgebenden Element thermisch beeinflußt wird.
Die mit Hilfe der Erfindung erzielbare Vergleichmäßigung des axialen Temperaturgradienten G im Bereich der Kristallisati­ onsgrenze ermöglicht die Herstellung von Halbleiterscheiben mit definiert einstellbarer Defektcharakteristik.
Die Erfindung wird nachfolgend an Hand einer Figur be­ schrieben. Es sind nur solche Merkmale dargestellt, die zum Verständnis der Erfindung beitragen. Die Figur zeigt schema­ tisch die Ansicht eines Längsschnitts durch einen wachsenden Einkristall. Wegen der Achsensymmetrie ist nur die rechte Hälfte dargestellt.
Der Einkristall 1 wächst an einer Kristallisationsgrenze 2. Das zum Wachsen benötigte Material wird von einer Schmelze 3 geliefert. Um den Einkristall herum ist ein an sich bekannter Hitzeschild 4 angeordnet. Dieser ist im Bereich der Kristalli­ sationsgrenze mit einem Element 5 verbunden, das bis zu einem Abstand D an den Einkristall heranreicht. Der Abstand D be­ trägt vorzugsweise 10 bis 50 mm. Das Element 5 weist eine dem Einkristall 1 gegenüberliegende Fläche 6 auf und erstreckt sich in Ziehrichtung über eine Höhe H. Die Höhe H beträgt vor­ zugsweise 25 bis 100 mm. Die Fläche 6 ist gegenüber der Längs­ achse 7 des Einkristalls vorzugsweise zum Einkristall hin ge­ neigt. Der Winkel α beträgt vorzugsweise 0 bis 60°. Die Fläche muß nicht notwendigerweise eben sein, sondern kann beispiels­ weise auch konkav oder konvex ausgebildet sein.
Das Element 5 ist im wesentlichen in Höhe der Kristallisa­ tionsgrenze 2 angeordnet, so daß der Bereich der Kristallisa­ tionsgrenze mit Hilfe des Elements thermisch beeinflußt werden kann. Zum Bereich der Kristallisationsgrenze wird im Sinne der Erfindung die Kristallisationsgrenze 2 und ein bis zu 2 mm in den Einkristall reichender Bereich gerechnet.
Um eine Vergleichmäßigung des axialen Temperaturgradienten in radialer Richtung mit Hilfe des Elements erreichen zu können, muß dieses vom Einkristall abgestrahlte Wärmestrahlung gut re­ flektieren oder in der Lage sein, den Einkristall mit Wärme zu beaufschlagen. Im ersten Fall besteht das Element 5 oder zu­ mindest seine Fläche 6 aus einem Material mit hoher Reflek­ tionswirkung für Wärmestrahlung, beispielsweise aus Molybdän oder poliertem Graphit. Im zweiten Fall ist das Element 5 als Heizelement, vorzugsweise als Widerstandsheizung ausgebildet. Zur weiteren Verbesserung der radialen Homogenität von G kann oberhalb des Elements aktiv gekühlt werden, beispielsweise in­ dem oberhalb des Elements eine Einrichtung zur aktiven Kühlung vorgesehen wird, wie sie beispielsweise in der US-5,567,399 beschrieben ist.
Das Element 5 muß nicht mit einem Hitzeschild 4 verbunden sein. Es kann auch unabhängig von einem Hitzeschild an einer Halterung befestigt sein.

Claims (9)

1. Vorrichtung zum Ziehen eines Einkristalls aus Silicium, umfassend ein Element, das den an einer Kristallisationsgrenze wachsenden Einkristall ringförmig umgibt und eine dem Einkri­ stall gegenüberliegende Fläche aufweist, dadurch gekennzeich­ net, daß das Element den Einkristall im wesentlichen in Höhe der Kristallisationsgrenze umgibt und die Eigenschaft auf­ weist, vom Einkristall abgestrahlte Wärmestrahlung zu reflek­ tieren oder Wärmestrahlung abzustrahlen.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das Element mit dem unteren Rand eines den Einkristall umge­ benden Hitzeschilds verbunden ist.
3. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder Anspruch 2, dadurch ge­ kennzeichnet, daß die Fläche des Elements in Bezug auf die Längsachse des Einkristalls mit einem bestimmten Winkel zum Einkristall geneigt ist.
4. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch ge­ kennzeichnet, daß das Element eine Höhe H aufweist, die 25 bis 100 mm lang ist.
5. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch ge­ kennzeichnet, daß das Element bis zu einem Abstand D von 10 bis 50 mm an den Einkristall heranreicht.
6. Verfahren zum Ziehen eines Einkristalls aus Silicium, bei dem der Einkristall mit einer Ziehgeschwindigkeit V gezogen wird, die so gewählt ist, daß der Quotient V/G den Wert 1,3.10-3 cm2min-1K-1 ±10% annimmt, und G der axiale Temperatur­ gradient im Einkristall im Bereich der Kristallisationsgrenze ist, dadurch gekennzeichnet, daß der Einkristall mit einem ihn im wesentlichen in Höhe der Kristallisationsgrenze umgebenden Element thermisch beeinflußt wird.
7. Verfahren nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß vom Einkristall kommende Wärmestrahlung mit Hilfe des Elements re­ flektiert wird.
8. Verfahren nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß der Einkristall mit Hilfe des Elements mit Wärmestrahlung beauf­ schlagt wird.
9. Verfahren nach einem der Ansprüche 6 bis 8, dadurch gekenn­ zeichnet, daß oberhalb des Elements aktiv gekühlt wird.
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