DE2812396C2 - - Google Patents

Info

Publication number
DE2812396C2
DE2812396C2 DE2812396A DE2812396A DE2812396C2 DE 2812396 C2 DE2812396 C2 DE 2812396C2 DE 2812396 A DE2812396 A DE 2812396A DE 2812396 A DE2812396 A DE 2812396A DE 2812396 C2 DE2812396 C2 DE 2812396C2
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
test
program
data
memory
central unit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
DE2812396A
Other languages
English (en)
Other versions
DE2812396A1 (de
Inventor
Casimer Roselle Park N.J. Us Niemaszyk
Peter West Hills Calif. Us Rothenberg
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Bendix Corp
Original Assignee
Bendix Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Bendix Corp filed Critical Bendix Corp
Publication of DE2812396A1 publication Critical patent/DE2812396A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE2812396C2 publication Critical patent/DE2812396C2/de
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317Testing of digital circuits
    • G01R31/3181Functional testing
    • G01R31/319Tester hardware, i.e. output processing circuits
    • G01R31/31903Tester hardware, i.e. output processing circuits tester configuration
    • G01R31/31914Portable Testers
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317Testing of digital circuits
    • G01R31/3181Functional testing
    • G01R31/319Tester hardware, i.e. output processing circuits
    • G01R31/31903Tester hardware, i.e. output processing circuits tester configuration
    • G01R31/31908Tester set-up, e.g. configuring the tester to the device under test [DUT], down loading test patterns

Description

Die Erfindung betrifft eine Einrichtung zur Prüfung elektrischer Geräte gemäß dem Oberbegriff des Patentanspruchs 1.
Die Erfindung geht von einer bekannten Einrichtung aus (Elektronik, Heft 6, 1974, S. 205 bis 208), bei der an einen Rechner (Zentraleinheit) eine Programmeingabe (Kassetten-, Bandgerät) für das Prüfprogramm, eine Eingabetastatur, eine Schreibmaschine als Ausgabegerät und der jeweilige Prüfling über eine Schnittstelle angeschlossen sind. Die Schnittstelle weist je eine Treiberschaltung für die Sendestufe und die Empfangsstufe auf. Über die Zentraleinheit sind alle Bausteine der Einrichtung miteinander verbunden. Die bekannte Einrichtung diente als automatisches Prüfsystem für digitale elektronische Baugruppen, zum Beispiel Steckkarten, wobei von der Voraussetzung ausgegangen wird, daß die Programmierung von seiten des Anwenders möglichst einfach sein soll.
Die der Erfindung zugrunde liegende Aufgabe besteht darin, die Einrichtung der vorgenannten Art so auszubilden, daß eine möglichst störungsfreie Ausgabe der Prüfdatensignale an das zu prüfende Gerät möglich ist, wobei die Dialoganzeigeeinrichtung zur Darstellung schrittweise einzelner Prüfbefehle ausgebildet ist.
Die Aufgabe ist erfindungsgemäß durch die Merkmale des Patentanspruchs 1 gelöst. Vorteilhafte Weiterbildungen ergeben sich aus den Unteransprüchen.
Mit der doppelten Zwischenspeicherung läßt sich ein Datenversatz an das zu prüfende Gerät verhindern und können die nachfolgenden Prüfdatensignale eingegeben werden, ohne den Ausgabeschaltzustand zu stören. Außerdem ermöglicht es die Schaltung, die Prüfbefehle zur Anzeige auf die Dialoganzeigevorrichtung zurückzuführen, so daß der Prüfvorgang in einzelnen Schritten dargestellt werden kann, und die Prüfung auch durch lediglich angelernte Kräfte durchführbar ist.
Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung ist nachstehend anhand der Zeichnung näher erläutert. Es zeigt
Fig. 1 ein Blockschaltbild der Einrichtung,
Fig. 2 ein Blockschaltbild der Schaltvorrichtung zum Anschluß des zu prüfenden Gerätes,
Fig. 3 eine Draufsicht auf die Dialoganzeigevorrichtung und
Fig. 4 ein Blockschaltbild eines zu prüfenden Gerätes.
Gemäß Fig. 1 wird die Einrichtung von einer Zentraleinheit 2 gesteuert. Die Zentraleinheit 2 kann ein 8-BIT-Mikroprozessor mit sechs 8-BIT-Allzweckarbeitsregistern und einem Speicher sein. Die sechs Register können einzeln oder paarweise adressiert werden und liefern Rechenoperatoren einfacher oder doppelter Genauigkeit. Arithmetische und logische Befehle setzen oder löschen vier prüfbare Kennzeichen. Ein fünftes Kennzeichen ergibt eine dezimale arithmetische Operation.
Eine 16zeilige Adressensammelschiene 4 und eine 8zeilige, doppelt gerichtete Datensammelschiene 6 sind an die Zentraleinheit 2 angeschlossen. Die Zentraleinheit wird von einem Oszillator 8 gesteuert, der ein 5-MHz-Oszillator sein kann, dessen Frequenz herabgeteilt ist, um ein zweiphasiges Taktsignal für die Zentraleinheit und die gesamte Taktgabe der Anlage erzeugen. Die Zentraleinheit 2 führt das in der Anlage gespeicherte Programm der Anlage über einen Exekutiv-Programmspeicher 10 (PROM) durch, wobei die erforderlichen Funktionen und Aufgaben ausgeführt werden. Diese Funktionen umfassen die Anzeige von alphanumerischen Daten in einer Dialoganzeigevorrichtung 12 und deren Steuerung, wobei Daten von einem externen, mit dem Prüfprogramm programmierten Speicher 14 (PROM) ausgelesen werden und einer Schaltvorrichtung zugeleitet werden, welche die Antwortsignale oder Frequenzgänge des zu prüfenden Gerätes 16 auswertet, das über eine Zwischenschaltung 18 mit der Schaltvorrichtung 11 verbunden ist. Diese wird anhand der Fig. 2 nachstehend näher erläutert.
Der programmierbare Exekutiv-Programmspeicher 10 enthält Ablaufprogramme zur Durchführung eines Prüfprogramms unter Verwendung von Daten des programmierbaren Speichers 14 und eines internen Speichers 20 mit wahlfreiem Zugriff (RAM).
Der zugeordnete interne Programmspeicher 10 besitzt eine Kapazität von 2 K-Wörtern, während der interne Speicher 20 eine Kapazität von 4 K-Wörtern aufweist. Die Kapazitäten beider Speicher können leicht erhöht werden, um gewünschte Programmänderungen aufnehmen zu können. Die Speicher 10 und 14 sind löschbare Ultraviolettspeicher und können während der Lebensdauer der Anlage so oft wie nötig gelöscht und wiederverwendet werden, wodurch sich eine Vielseitigkeit ohne bauliche Änderung ergibt.
Die Dialoganzeigevorrichtung 12 umfaßt eine 5×7-Punktmatrixanzeige für 16 alphanumerische Zeichen mit eingebauter Auffrischungsschaltung. Bei der Eingabe von neuen Zeichen wird ein Vorrat von 64 Zeichen über den Bildschirm von links nach rechts geschoben, bis er schließlich am Ende abgestoßen wird, wenn 16 Zeichen erreicht sind. Die Vorrichtung 12 umfaßt auch eine Schaltschnittstelle mit eigener Adresse, die auch die Beleuchtung und die Leistungsrelais von dem zu prüfenden Gerät sowie den Speicher 14 steuert. Die Arbeitsweise wird näher anhand der Fig. 3 beschrieben.
Das Eingabe-Ausgabe-Gerät 22 kann beispielsweise ein normaler Fernschreiber sein. Die Vorrichtung umfaßt eine Schnittstelle, die ein normaler 20-mA-Strombauch sein kann.
Der programmierbare Speicher 14 für das Prüfprogramm ist ein 8-BIT-programmierbarer Festwertspeicher mit einer Kapazität von 1024 Wörtern (wie vorstehend bemerkt, ultraviolett löschbar), der die veränderlichen Daten des Prüfprogramms in folgendem Format enthält:
  • 1. Ein Wort steht für eine "Prüfsumme", die eine von der Zentraleinheit 2 abgeleitete Zahl sein kann und eine Antivalenz aller Wörter im programmierbaren Speicher 14 darstellt. Dieses Wort dient als Gültigkeitskontrolle der Anlage.
  • 2. Acht Wörter stehen für den Teil oder die Kennzeichnungsnummer des zu prüfenden Gerätes 16, welches durch den programmierbaren Speicher 14 geprüft werden soll.
  • 3. Acht Wörter stellen die Beschreibung der Schaltvorrichtung 11 dar.
  • 4. Ein Wort stellt die Anzahl der durchzuführenden Prüfungen dar.
  • 5. Ein Wort steht für die laufende Zahl der Prüfung.
  • 6. Ein Wort steht für die Art der durchzuführenden Prüfung. Es gibt zwei Arten von Prüfungen. Die erste Art ist eine "Stimulierprüfung". Wenn das erste Bit im Prüfwort hochpegelig ist, so zeigt dies an, daß ein Signal für einen Auslösereiz anliegt, und die nächsten acht Wörter stellen den geforderten Ausgangsschaltzustand aller Kanäle der Schaltvorrichtung 11 dar, die beispielsweise 64 Kanäle betragen können. Die restlichen Bits im Wort dienen zur Bestimmung der Anzahl von Umschaltungen nach den ersten acht Wörtern. Die folgenden Wörter stellen dann die Kontaktzahl dar, die sich ändert. Wenn beispielsweise das am zu prüfenden Gerät 16 anliegende Reizsignal insgesamt Null ist und Pin 12 der Schaltvorrichtung hoch- oder niederpegelig wird, dann gilt die nachstehend ausgeführte Folge:
    Sedezimal
    82
    (Programmeinleitung in zwei Folgen)
    00 alle 0
    00 @ 00 @ 00 @ 00 @ 00 @ 00 @ 0C Umschaltung Pin 12
    0C Umschaltung Pin 12
  • Bei der zweiten Art von Prüfung braucht die Bedienung lediglich die Anzahl der Kontaktstifte zu bestimmen, die aus der vorhergehenden Prüfung umschalten sowie die Kennzeichnungsnummern der umzuschaltenden Pins. Diese Art von Prüfung wird durch eine Null im ersten Bit des Wortes angezeigt. Wenn daher die nächste Prüfung verlangt, daß beispielsweise die Pins 9, 33 und 7 umschalten, dann würde die Folge wie nachstehend aufgeführt geschrieben:
    03
    zeigt drei Pinumschaltungen und keine Programmeinleitung an
    09 Umschaltung Pin 9
    11 Umschaltung Pin 33
    07 Umschaltung Pin 7
  • 7. Acht Wörter stellen die erwarteten Antwortdaten für den Sprung dar.
  • 8. Ein Wort steht für die Anzahl von Fehlerdaten, die aus drei Arten bestehen können.
  • 9. Die Fehlerdaten werden in einer von drei Arten in Abhängigkeit von der Länge aufgezeichnet:
    • a) acht Wörter für das Fehlerkennzeichen;
    • b) die Pinzahlen, die von den Antwortdaten für den Sprung verschieden sind;
    • c) die Pinzahlen, die mit den Antwortdaten für den Sprung gleich sind.
  • 10. Ein Wort gilt für die Anzahl von integrierten Schaltkreisen in dem zu prüfenden Gerät, die als fehlerhaft erkannt wurden und ersetzt werden müssen.
  • 11. Ein Wort zeigt den oder die speziellen zu ersetzenden integrierten Schaltkreise an.
Wie bereits erwähnt, umfaßt die allgemein in Fig. 1 gezeigte Schaltvorrichtung 11 64 Kanäle. Zu Erläuterungszwecken ist ein Kanal in Fig. 2 gezeigt, und die Schaltvorrichtung 11 wird anhand dieser Figur näher erklärt.
Der Kanal umfaßt einen Doppelspeicher mit einem Datenspeicherregister 22 und einem Datenpufferregister 24 sowie eine kompatible Sender-Empfänger-Treiberanordnung in Form einer TTL-Schaltung mit drei Schaltzuständen, die einen Treiberverstärker 26 sowie einen Empfängerverstärker 28 umfaßt. Der Treiberverstärker 26 der TTL-Schaltung kann wie folgt programmiert werden: Übertragen, Empfangen oder Betriebsart Eingabe/Ausgabe über ein Eingabe- Ausgabe-Bestimmungsregister 30. Das Datenspeicherregister 22, das Pufferregister 24, das Eingabe/Ausgabe-Bestimmungsregister 30, der Treiberverstärker 26 in TTL-Schaltung sowie der Empfängerverstärker 28 in TTL-Schaltung erhalten die entsprechenden Daten, Löschen, Speichern, Bestimmen Ein/Ausgabe und Tasten Datenimpulse (Freigabebefehl) von der Zentraleinheit 2 (Fig. 1).
Wenn alle Daten in das Datenspeicherregister 22 eingegeben sind, löst der Datentastimpuls (Freigabebefehl) der Zentraleinheit 2 die Übertragung der Daten vom Datenspeicherregister 22 an das Datenpufferregister 24 und von dort über den Treiberverstärker 26 zur Zwischenschaltung 18 (Fig. 1) für das zu prüfende Gerät 16 aus. Dann erfolgt im wesentlichen eine doppelte Zwischenspeicherung, um den Datenschräglauf zum zu prüfenden Gerät 16 zu verhindern sowie um die folgenden Daten übertragen zu können, ohne den Ausgabeschaltzustand zu stören.
Wenn von der Zentraleinheit 2 angefordert, wird der getrennt mit der Datensammelschiene 4 der Zentraleinheit verbundene Empfängerverstärker 28 mit acht Bits parallel ausgelesen. Hier sei bemerkt, daß die Zwischenschaltung 18 des zu prüfenden Geräts (Fig. 1) eine Baukasteneinheit ist, die mit dem entsprechenden Steckverbinder für das zu prüfende Gerät 16 sowie mit Netz- und Massekontakten bestückt ist, die an eine entsprechende nicht gezeigte Stromversorgung geführt sind, wie allgemein bekannt ist.
Anhand der Fig. 3, welche die in Fig. 1 allgemein gezeigte Dialoganzeigevorrichtung 12 darstellt, wird nun die Bedienung näher erläutert.
Ein Netzschalter 32 wird gedrückt, wodurch die Einrichtung automatisch eine Eigenprüfung durchführt und auf einer Anzeige 34 die Bereitschaft anzeigt, daß der Prüfvorgang fortgesetzt werden kann. Wenn jetzt eine Schwierigkeit auftritt, zeigt eine Eigenprüfungs-Diagnoseeinrichtung die Ursache an.
Nach der Bereitschaftsanzeige wird die Testlauftaste 36 gedrückt, worauf die Anzeige 34 meldet, daß über eine Eingabevorrichtung 33 eine Prüfprogrammkarte im programmierbaren Speicher 14 einzugeben ist. Nach Eingabe der Karte wird die Taste 36 gedrückt, wodurch am Speicher 14 Spannung anliegt und die Anzeige 38 des programmierbaren Speichers aufleuchtet.
Eine Taste 35 wird dann gedrückt, um das entsprechende in dem programmierbaren Speicher 14 gespeicherte Prüfprogramm für ein gegebenes zu prüfendes Gerät 16 auszuwählen. Nach dieser Wahl des Programms wird die Taste 36 gedrückt, wodurch die Anzeige 34 den Anschluß des zu prüfenden Gerätes anzeigt. Das zu prüfende Gerät 16 wird daraufhin mit seiner Zwischenschaltung 18 verbunden.
Nach dem Anschluß des zu prüfenden Gerätes wird die Taste 36 gedrückt, um den Beginn der Einzelprüfungen auszulösen. Wenn das zu prüfende Gerät alle Einzelprüfungen des Testes besteht, leuchtet eine Gut-Anzeige 40 (Stand des Tests) auf, und eine Gut- Anzeige für das zu prüfende Gerät wird auf der Tafel 34 angezeigt. Wenn das zu prüfende Gerät eine Einzelprüfung nicht besteht, leuchtet ein Schlecht-Anzeiger 42 (Stand des Tests) auf. Man erkennt jetzt, daß die Prüfprogrammkarte zusätzlich auch mit einer elektronischen Schaltung für die Fehlerdiagnose programmiert werden kann.
Eine Überwachungsanzeige 39 für die Anlage zeigt die Art des JA- NEIN-Zustandes der Teilnahme des Prüfers oder der Bedienung, und eine Löschtaste 41 stellt die Einrichtung auf einen Ausgangsbetriebszustand zurück.
Die gesamte Programmierung der Prüfprogrammkarte erfolgt in einfacher testorientierter Sprache, wie im nachstehenden Beispiel mit Hilfe der Fig. 3 gezeigt wird. Die Organisation eines jeden Programms besteht aus zwei Halbwörtern. Das erste Halbwort bestimmt die nachstehend aufgeführten programmeinleitenden Parameter:
  • a) Kennzeichnung des zu prüfenden Geräts;
  • b) Auslegung des zu prüfenden Geräts - Pinkennzeichnung EIN oder AUS;
  • c) Summenprobe;
  • d) Nummer des Tests.
Das zweite Halbwort bestimmt die tatsächlichen Eingabe- und Ausgabeformen für jede Prüfung. Die Programmdaten können aus genormten digitalen Testverfahren, Werte- oder Funktionstabellen, Datenblättern gewonnen werden oder durch automatisches Testerzeugungsverfahren erzeugt werden. Die Programmierung der Karten des programmierbaren Speichers kann durch herkömmliche Programmiereinrichtungen für programmierbare Festwertspeicher erfolgen.
Ein Beispiel für ein Prüfprogramm des vereinfachten digitalen Bausteins, dessen Stromlaufplan in Fig. 4 gezeigt ist, ist nachstehend aufgeführt, wobei der Baustein die logischen Bauteile 44, 46 und 48 umfaßt und die Eingabestifte mit A und B und die Ausgabestifte mit C und D gekennzeichnet sind:

Claims (3)

1. Einrichtung zur Prüfung elektrischer Geräte, mit einem externen programmierbaren Speicher (14), in welchem ein Prüfprogramm für ein zu prüfendes Gerät (16) gespeichert ist, mit einem internen Exekutiv-Programmspeicher (10) zum Speichern eines Ablaufprogramms, mit einer Zentraleinheit (2), die an den programmierbaren Speicher (14) zum Auslesen des darin gespeicherten Prüfprogramms und an den Exekutiv- Programmspeicher (10) angeschlossen ist, um das Ablaufprogramm in Abhängigkeit vom ausgelesenen Prüfprogramm durchzuführen, mit einer Schaltvorrichtung (11), die an die Zentraleinheit, den Exekutiv-Programmspeicher und an das zu prüfende Gerät angeschlossen ist und durch die Zentraleinheit gesteuert wird, um Prüfsignale aufgrund des durchzuführenden Prüfprogramms dem zu prüfenden Gerät einzugeben, mit einer Dialoganzeigevorrichtung (12), die mit dem programmierbaren Speicher, dem Exekutiv-Programmspeicher, der Zentraleinheit und der Schaltvorrichtung zur Übertragung der Prüfsignale des durchzuführenden Prüfprogramms an das zu prüfende Gerät verbunden ist, wobei alle diese Einheiten von der Dialoganzeigevorrichtung steuerbar sind unter Anzeige der Durchführungsbefehle der Prüfung und des Prüfungszustandes des zu prüfenden Gerätes, und mit einer kompatiblen Sender-Empfänger-Treiberanordnung in TTL-Schaltung in der Schaltvorrichtung (11), dadurch gekennzeichnet, daß die Schaltvorrichtung (11) aufweist:
einen Doppelspeicher (22, 24) mit einem Datenspeicherregister (22) und einem Datenpufferregister (24) und die kompatible Sender-Empfänger-Treiberanordnung (26, 28) in TTL-Schaltung mit drei Schaltzuständen, wobei die Zentraleinheit (2) ein erstes Signal zur Ansteuerung des Datenspeicherregisters (22) abgibt, um in diesem die Prüfdaten des auszuführenden Prüfprogramms einzugeben und zu speichern, und die Zentraleinheit (2) ein zweites Signal zur Ansteuerung des Datenpufferregisters (24) abgibt, um die Prüfdaten des auszuführenden Prüfprogramms vom Datenspeicherregister (22) zu empfangen, die von dem Datenpufferregister (24) in das zu prüfende Gerät (16) übertragen werden.
2. Einrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß von der Zentraleinheit (2) eine Vorrichtung (30) zum Ansteuern eines Treiberverstärkers (26) in der Sender-Empfänger-Treiberanordnung (26, 28) gesteuert wird, um diesen in eine der Betriebsarten Übertragung, Empfang und Eingabe/Ausgabe umzuschalten.
3. Einrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß ein Empfängerverstärker (28) an den Treiberverstärker (26) angeschlossen ist, wobei die vom Datenpufferregister (24) empfangenen und über den Treiberverstärker (26) an das zu prüfende Gerät übertragenen Prüfdaten des auszuführenden Prüfprogramms im Empfängerverstärker (28) empfangen werden, und daß die Zentraleinheit (2) gesondert mit dem Empfängerverstärker (28) zum Auslesen der von diesem empfangenen Daten verbunden ist.
DE19782812396 1977-03-22 1978-03-21 Elektronisches pruefgeraet Granted DE2812396A1 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US05/779,978 US4108358A (en) 1977-03-22 1977-03-22 Portable circuit tester

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE2812396A1 DE2812396A1 (de) 1978-09-28
DE2812396C2 true DE2812396C2 (de) 1991-03-14

Family

ID=25118182

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19782812396 Granted DE2812396A1 (de) 1977-03-22 1978-03-21 Elektronisches pruefgeraet

Country Status (5)

Country Link
US (1) US4108358A (de)
JP (1) JPS53116749A (de)
DE (1) DE2812396A1 (de)
FR (1) FR2385148A1 (de)
GB (1) GB1582927A (de)

Families Citing this family (57)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4194113A (en) * 1978-04-13 1980-03-18 Ncr Corporation Method and apparatus for isolating faults in a logic circuit
GB1599069A (en) * 1978-05-31 1981-09-30 Ferranti Ltd Testing of circuit arrangements
US4211917A (en) * 1978-07-17 1980-07-08 The Boeing Company Circuit board testing apparatus and method
GB2029032B (en) * 1978-08-25 1982-12-22 Racal Automation Ltd Circuit testing apparatus
US4212075A (en) * 1978-10-10 1980-07-08 Usm Corporation Electrical component testing system for component insertion machine
JPS5562585A (en) * 1978-11-01 1980-05-12 Hitachi Ltd Bubble memory tester
US4236246A (en) * 1978-11-03 1980-11-25 Genrad, Inc. Method of and apparatus for testing electronic circuit assemblies and the like
JPS55128641A (en) * 1979-03-23 1980-10-04 Nissan Motor Co Ltd Controlling system for vehicle
USRE31582E (en) * 1979-03-23 1984-05-08 Nissan Motor Company, Limited Automatic control system for method and apparatus for checking devices of an automotive vehicle in use with a microcomputer
US4291404A (en) * 1979-11-20 1981-09-22 Lockheed Corporation Automatic circuit tester with improved voltage regulator
US4380070A (en) * 1979-11-20 1983-04-12 Lockheed Corporation Automatic circuit identifier
US4335457A (en) * 1980-08-08 1982-06-15 Fairchild Camera & Instrument Corp. Method for semiconductor memory testing
GB2086103B (en) * 1980-10-27 1985-01-30 Hal Computers Ltd Computer peripheral test equipment
FR2495350A1 (fr) * 1980-12-03 1982-06-04 Lazare Rene Testeur specifique a modules, automatise et portable
US4403297A (en) * 1981-01-02 1983-09-06 Loveland Controls Company Process control system prover
GB2099618B (en) * 1981-06-02 1985-07-03 Tektronix Inc Algorithmic word generator
US4517661A (en) * 1981-07-16 1985-05-14 International Business Machines Corporation Programmable chip tester having plural pin unit buffers which each store sufficient test data for independent operations by each pin unit
US4489414A (en) * 1981-10-28 1984-12-18 Hal Computers Limited Computer peripheral testing equipment
US4472679A (en) * 1981-11-25 1984-09-18 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force Diagnostic apparatus for radar pulse repetition frequency control circuit card
US4441183A (en) * 1982-03-22 1984-04-03 Western Electric Company, Inc. Apparatus for testing digital and analog circuits
WO1983003488A1 (en) * 1982-03-30 1983-10-13 Lockheed Corp Automatic circuit identifier
US4502127A (en) * 1982-05-17 1985-02-26 Fairchild Camera And Instrument Corporation Test system memory architecture for passing parameters and testing dynamic components
FR2531230A1 (fr) * 1982-07-27 1984-02-03 Rank Xerox Sa Ensemble destine au test automatique centralise de circuits imprimes et procede de test de circuits a microprocesseur faisant application de cet ensemble
US4493079A (en) * 1982-08-18 1985-01-08 Fairchild Camera & Instrument Corp. Method and system for selectively loading test data into test data storage means of automatic digital test equipment
US4506305A (en) * 1982-10-06 1985-03-19 International Business Machines Corporation Method for detecting a fault in a data recording system read channel
US4561093A (en) * 1983-02-22 1985-12-24 Otis Elevator Company Servicing a software-controlled elevator
FR2549256B1 (fr) * 1983-06-22 1985-11-29 Philips Ind Commerciale Procede et machine automatiques pour tester simultanement des systemes informatiques
US4606025A (en) * 1983-09-28 1986-08-12 International Business Machines Corp. Automatically testing a plurality of memory arrays on selected memory array testers
US4646298A (en) * 1984-05-01 1987-02-24 Texas Instruments Incorporated Self testing data processing system with system test master arbitration
US4633466A (en) * 1984-05-01 1986-12-30 Texas Instruments Incorporated Self testing data processing system with processor independent test program
US4625313A (en) * 1984-07-06 1986-11-25 Tektronix, Inc. Method and apparatus for testing electronic equipment
US4937827A (en) * 1985-03-01 1990-06-26 Mentor Graphics Corporation Circuit verification accessory
US4700293A (en) * 1985-05-14 1987-10-13 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force Maintenance port system incorporating software development package
DE3531129A1 (de) * 1985-08-30 1987-03-12 Siemens Ag Verfahren und anordnung zum betrieb eines rastermikroskopes
US4775930A (en) * 1985-11-12 1988-10-04 Westinghouse Electric Corp. Electronic key check for ensuring proper cradles insertion by respective processing board
US4694408A (en) * 1986-01-15 1987-09-15 Zaleski James V Apparatus for testing auto electronics systems
US4713815A (en) * 1986-03-12 1987-12-15 International Business Machines Corp. Automatic fault location system for electronic devices
US4771428A (en) * 1986-04-10 1988-09-13 Cadic Inc. Circuit testing system
US4736374A (en) * 1986-05-14 1988-04-05 Grumman Aerospace Corporation Automated test apparatus for use with multiple equipment
DE3633464A1 (de) * 1986-10-01 1988-04-14 Siemens Ag Pruefsystem fuer digitale schaltungen
US4760329A (en) * 1987-04-23 1988-07-26 Grumman Aerospace Corporation Programmable tester with bubble memory
EP0293260A3 (de) * 1987-05-29 1990-08-08 Zehntel, Inc. Digitaler In-Circuit-Prüfer mit einem Kanaltreibersperrer
JPH0827221B2 (ja) * 1987-09-22 1996-03-21 富士重工業株式会社 車輌診断装置
DE3832123A1 (de) * 1987-10-09 1989-04-27 Fuji Heavy Ind Ltd Diagnosesystem fuer ein kraftfahrzeug
WO1989006839A1 (en) * 1988-01-15 1989-07-27 Micro Processor Systems, Inc. Interchangeable diagnostic instrument system
US5206582A (en) * 1988-05-18 1993-04-27 Hewlett-Packard Company Control system for automated parametric test equipment
US4958347A (en) * 1988-11-23 1990-09-18 John Fluke Mfg. Co., Inc. Apparatus, method and data structure for validation of kernel data bus
CN1045655A (zh) * 1988-11-23 1990-09-26 约翰弗兰克制造公司 系统自动诊断的内核测试接口和方法
US4989207A (en) * 1988-11-23 1991-01-29 John Fluke Mfg. Co., Inc. Automatic verification of kernel circuitry based on analysis of memory accesses
US5068852A (en) * 1989-11-23 1991-11-26 John Fluke Mfg. Co., Inc. Hardware enhancements for improved performance of memory emulation method
US5228045A (en) * 1990-08-06 1993-07-13 Ncr Corporation Test driver for connecting a standard test port integrated circuit chip to a controlling computer
US5321701A (en) * 1990-12-06 1994-06-14 Teradyne, Inc. Method and apparatus for a minimal memory in-circuit digital tester
US5311486A (en) * 1992-09-11 1994-05-10 Ltx Corporation Timing generation in an automatic electrical test system
US5732047A (en) * 1995-12-12 1998-03-24 Advantest Corporation Timing comparator circuit for use in device testing apparatus
US6188340B1 (en) * 1997-08-10 2001-02-13 Hitachi, Ltd. Sensor adjusting circuit
US6714887B1 (en) * 1998-09-29 2004-03-30 Seagate Technology Llc Portable disc drive testing apparatus
US20080088325A1 (en) * 2006-09-01 2008-04-17 Murray David W Method and system for performing embedded diagnostic application at subassembly and component level

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1951861A1 (de) * 1968-10-17 1970-08-06 Gen Electric Information Syste Verfahren und Anordnung zur automatischen UEberpruefung von Karten mit gedruckten Schaltungen
US3761695A (en) * 1972-10-16 1973-09-25 Ibm Method of level sensitive testing a functional logic system
US4000460A (en) * 1974-07-01 1976-12-28 Xerox Corporation Digital circuit module test system
US3924109A (en) * 1974-07-22 1975-12-02 Technology Marketing Inc Automatic circuit card testing system
US3931506A (en) * 1974-12-30 1976-01-06 Zehntel, Inc. Programmable tester

Also Published As

Publication number Publication date
JPS6126097B2 (de) 1986-06-19
US4108358A (en) 1978-08-22
JPS53116749A (en) 1978-10-12
DE2812396A1 (de) 1978-09-28
FR2385148B1 (de) 1982-06-25
GB1582927A (en) 1981-01-14
FR2385148A1 (fr) 1978-10-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE2812396C2 (de)
DE2914106C2 (de) Prüfgerät zum Prüfen gedruckter Schaltungskarten
DE2914128C2 (de) Verfahren zur Fehlerortung in einer digitalen Schaltung und Prüfgerät zur Durchführung des Verfahrens
EP0063650B1 (de) Prüfsystem
DE3625462A1 (de) Rechnerunterstuetzte fehlerisolation beim pruefen von gedruckten schaltungen
DE2040326A1 (de) Geraet zum automatischen Pruefen elektronischer Stromkreise
DE2607842C2 (de)
DE2220057A1 (de)
DE3611872C1 (de) Logikanalysator
DE3219896A1 (de) Verbundene datenverarbeitungsanlagen
DE3690031C2 (de) Prüfbaueinheit zum Prüfen eines von einem ROM zu speichernden Programms
DE2952631C2 (de) Schaltungsanordnung zur Diagnose einer Datenverarbeitungsanlage
DE2121330A1 (de) Verfahren und Schaltungsanordnung zum Prüfen elektronischer digital arbeitender Geräte und ihre Bauteile
DE3019473C2 (de) Logikanalysator
DE10213582B4 (de) Datenberechnungsvorrichtung und Verfahren zur Anwendung der Datenberechnungsvorrichtung zur Einstellung einer elektronischen Steuereinrichtung
DE3149897C2 (de)
DE2343501A1 (de) Ein-/ausgabe-reserviersystem fuer die datenverarbeitende vorrichtung
DE3800273A1 (de) Batteriezellenspannungsmesssystem
WO2001098901A2 (de) Verfahren und vorrichtung für die optimierung eines testprogramms
DE4002036A1 (de) Textverarbeitungsgeraet
DE3242631A1 (de) Programmierbare steuereinrichtung
DE1512034A1 (de) Schaltungsanordnung,um in Form einer Binaerzahl eine Stellung anzuzeigen,in die ein Kreuzschienenschalter in einem durch elektronische Steuervorrichtungen gesteuerten automatischen Fernverbindungssystem eingestellt ist
DE2756948A1 (de) Schaltungsanordnung zur fehlersymtomverdichtung
DE3241175C2 (de)
DE1616386C3 (de) Schaltungsanordnung zum maschinellen Prüfen auf Kurzschlüsse und Unterbrechungen von Leitungszügen

Legal Events

Date Code Title Description
8110 Request for examination paragraph 44
D2 Grant after examination
8364 No opposition during term of opposition
8339 Ceased/non-payment of the annual fee