DE3237224A1

DE3237224A1 - Vorrichtung zum erzeugen einer folge von pruefdaten fuer lsi-schaltungen

Info

Publication number: DE3237224A1
Application number: DE19823237224
Authority: DE
Inventors: Garry Carter 91361 Westlake Village Calif. Gillete
Original assignee: Teradyne Inc
Current assignee: Teradyne Inc
Priority date: 1981-10-09
Filing date: 1982-10-07
Publication date: 1983-05-05
Also published as: FR2514529A1; JPS5875078A; FR2514529B1; DE3237224C2; JPH0321075B2; GB2108278A; US4451918A; GB2108278B

Description

10

15

20

25

30

Vorrichtung zum Erzeugen einer Folge von Prüfdaten für LSI-Schaltungen

Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zum Erzeugen von Prüfdatenfolgen zum Prüfen von Großintegrations- oder kurz LSI-Schaltungen. Typisch werden bei einer solchen Vorrichtung Folgen von bis zu 100.000 getrennten PrüfSignalen in verschiedene der stiftförmigen LSI-Anschlüsse (pins) eingeführt und die sich daraufhin an unterschiedlichen Anschlüssen ergebenden Ausgangssignale mit Normwerten verglichen. Die Prüfdaten (Prüfsignale und Normwerte) werden für jeden Anschluß in einem dem Anschluß zugeordneten statischen Speicher mit freiem Zugriff (RAM) hoher Arbeitsgeschwindigkeit gespeichert. Wegen der begrenzten Kapazität eines statischen RAM werden die Prüfdaten manchmal blockweise in einem dynamischen RAM mit hoher Kapazität gespeichert und bei Bedarf gruppenweise in den statischen RAM übertragen. Jedesmal, wenn der statische RAM mit einer neuen Gruppe von Prüfdaten geladen wird, entsteht im Prüfablauf eine Pause.

Die Vorrichtung weist eine Vielzahl von Speicherelementen auf, die den einzelnen Anschlüssen zugeordnet sind, um Prüfdaten zu speichern, ferner einen Prüfdatenspeicher von höherer Kapazität und niedrigerer Geschwindigkeit als die einzelnen Speicherelemente, eine Prüffolge-Steuerschaltung, mit der die Prüfdaten von irgendeinem der Speicherelemente zu den Anschlüssen geleitet werden, und eine Nachladeschaltung, die dafür sorgt, daß ein Teil der in dem größeren Speicher enthaltenen Prüfdaten wahlweise in eines der Speicherelemente,, welches nicht gerade die an die Anschlüsse abzugebenden Prüfdaten zur Verfügung stellt, nachgeladen wird.

in bevorzugten Ausführungsformen werden die Speicherelemente durch statische RAM und der größere Speicher durch einen dynamischen RAM gebildet. Der letztgenannte Speicher enthält eine Vielzahl von Unterspeichern, und ein Umschaltkreis sorgt dafür, daß in wiederholter Folge zyklisch die Unterspeicher mit den Speicherelementen, die nachgeladen werden sollen, in Verbindung gebracht werden, und in jedem der Zyklen eine Ädreßinformation an die Unterspeicher gegeben wird, wodurch die in den Unterspeichern gespeicherten Prüfdaten verschachtelt und in die Speicherelemente mit einer Rate oder Geschwindigkeit geladen werden, die höher als die effektive übertragungsgeschwindigkeit der einzelnen Unterspeicher ist. Die Unterspeicher enthalten dynamische RAM. Sie sind in Gruppen zusammengefügt. Zum Speichern der Prüfdaten ist ein Großspeicher mit einer Umschalteinrichtung vorgesehen, womit der Großspeicher einen Teil der Prüfdaten auswählbar in eine der Gruppen laden kann, die nicht für die Abgabe von Prüfdaten an die Speicherelemente in Einsatz ist. Die Prüfdaten werden von dem Unterspeicher in das Speicherelement, das nachzuladen ist, mit höherer Geschwindigkeit eingeführt als der Geschwindigkeit mit der die Prüfdaten zu den Anschlüs-

sen geleitet werden. Es können zwei Speicherelemente pro Anschluß vorhanden sein; eine Steuerapparatur sorgt dafür, daß die Prüffolge-Steuerschaltung und die Nachladeschaltung abwechselnd die Prüfdaten von einem ersten Speicher- -* element zuführen, während in das andere Speicherelement Prüfdaten nachgeladen werden, und daß Prüfdaten in das erste Speicherelement nachgeladen werden, während vom anderen Speicherelement Prüfdaten an die Anschlüsse geleitet werden.
10

Die Erfindung ermöglicht eine kontinuierliche und wirtschaftliche Zuführung von Prüfsignalen mit hohen Geschwindigkeiten und in langdauernden Folgen ohne Pausen für das

Nachladen des statischen RAM.
15

An einem in der Zeichnung wiedergegebenen Ausführungsbeispiel wird die Erfindung näher erläutert. Es zeigen:

Fig. 1 ein Blockdiagramm einer LSI-Prüf-

vorrichtung und Nachladeschaltung für die statischen Speicher gemäß der Erfindung; und

Fig. 2 ein Blockdiagramm eines Teils der

Prüfvorrichtung nach Fig.1 mit einer Schaltung zum Wiederauffüllen des dynamischen Speichers.

Fig. 1 zeigt eine Prüfeinrichtung für LSI-Vorrichtungen (die weitgehend einer Vorrichtung gemäß der gleichzeitig und mit gleicher Priorität eingereichten Anmeldung entspricht) , welche identische A- und B-Speicher 10,12 (jeweils statische 4 k RAM) aufweist, die Prüfdaten enthalten (Prüfsignale,Normwerte,zugehörige Zeitsteuer-und Formatinformatio-

nen) für jeden Anschluß der zu prüfenden Vorrichtung 16. Die Ausgänge der A-und B-Speicher 10, 12 werden über eine Quellenauswahlschaltung 18 (gewöhnlicher Multiplexer) einem Formatierungssystem 20 (enthält eine integrierte Logikelementenschaltung mit Multiplexern zum Formatieren und Zeitsteuern von PrüfSignalzuführungen und Vergleichen), die durch eine Zweiwegleitung 22 mit der Prüfstation 24 verbunden ist (enthält Anschlußabgabefolgeschaltung und gewöhnliche Anschlußtreiberschaltung), an die die zu prüfende Vorrichtung 16 angeschlossen ist= Die A- und B-Speicher 10, 12 sind mit ihren Eingängen jeweils an eine Nachladesteuerung 30 (gewöhnlicher Multiplexer) angeschlossen, dessen vier Eingänge jeweils mit einem von vier gleichen dynamischen 64 k-RAM 32 verbunden sind (die zusammen den C-Speicher 34 ergeben und einen Vorrat von Prüfdaten speichern) . Die Adresseneingänge sämtlicher dynamischer RAM 32 sind über eine C-Adressenleitung 36 mit einem C-Adreßgenerator und einem Steuerzähler 38 verbunden (enthält integrierte Logikschaltung und Zeitsteuerschaltung zum Adressieren des C-Speichers 34 und zum Steuern der Wachladefunktion) , der außerdem über eine Steuerleitung 40 mit der Nachladesteuerung 30 verbunden ist, über eine Steuerleitung 42 mit den Steuereingängen eines Auswählerpaares 44, 46 (gewöhnliche Multiplexer) in Verbindung steht und durch die C-Ädreßleitung 36 Verbindung mit den Dateneingängen der Auswähler 44 und 46 hat. Die Auswähler 44, 46 besitzen weitere Dateneingänge, die mit den A- bzw. B-Adreßsignalgeneratoren 48, 50 verbunden sind (enthalten Zähler, Multiplexer und Exklusiv-ODER-Gatter), während ihre Ausgänge über A- bzw. B-Adreßleitungen 52, 54 mit den Adreßeingängen des A- und B-Speichers 10, 12 verbunden sind. Die A- und B-Ädreßsignalgeneratoren 48, 50 und der C-Adreßgenerator 38 haben Verbindung mit einem Folgesteuer-RAM 60 (ein programmierbarer Mikroprozessor mit einer Kapazität von 4 k Befehlswörtern von jeweils 112 bits). RAM 60 ist mit dem Quellenauswahlspeicher 62 (ein RAM) verbunden,

dessenAJsgang über die Quellensteuerleitung 64 mit der Quellenauswahlschaltung 18 und mit einer nicht gezeigten Schaltungsanordnung für die Bestimmung der Adresse des nächstauszuführenden Steuerbefehls verbunden ist. 5

Im Betrieb werden Folgen von Prüfdaten für sämtliche Anschlüsse an das Formatierungssystem 20 abwechselnd vom A- oder B-Speicher 10 oder 12 abgegeben, wobei die Auswahl durch die Quellenauswahlschaltung 18 nach Maßgabe des Quellenauswahlspeichers 62 unter Steuerung des Folgesteuer-RAM 60 vorgegeben wird. Wenn der A-Speicher 10 von der Quellenauswahlschaltung 18 ausgewählt ist, gibt er die gespeicherten Prüfdaten aus einer Folge seiner Speicherplätze ab, die durch auf der A-Adreßleitung 52 vom A-Adreßsignalgenerator 48 über, die Auswahlschaltung 44

JL S t

zugeführte Adressen vorgegeben (gesteuert durch den C-Adreßgenerator und den Steuerzahler 38). Zur gleichen Zeit wird über die Nachladeleitung 36 der B-Speicher 12 vom C-Speicher 34 her nachgeladen. Die Nachladesteuerung verbindet in wiederholten Zyklen die RAM 32 mit dem A-Speicher 10, wobei die Plätze im RAM 32, aus denen die Daten in jedem Zyklus übertragen werden, durch eine Folge von Adressen gekennzeichnet sind, die über Leitung 36 zugeführt werden. Die Adressen der Folge von Plätzen im B-Speicher 12, der die übertragenen Daten empfängt, werden ebenfalls über die Adreß-Leitung 36 und durch die Auswahlschaltung 46 (unter Steuerung des C-Adreßgenerators und des Steuerzählers 38) mit einer Geschwindigkeit übertragen, die schneller als die Abgabegeschwindigkeit der A-Adressen an den A-Speicher 10 ist.

Nachdem der A-Speicher 10 seine sämtlichen Prüfdaten abgegeben hat, sorgt die Quellenauswahlschaltung 18 ohne Verzögerung dafür, daß der B-Speicher 12 nun mit der Abgäbe seiner neu aufgefüllten Daten beginnt, während der A-Speicher 10 aus dem C-Speicher 34 nachgeladen wird.

— Q —

Weitere Ausführungsformen sind in den Patentansprüchen charakterisiert. So können beispielsweise gemäß Fig. 2 dynamische RAM.32 in zwei Gruppen unterteilt sein, deren Eingänge über eine Auswahlschaltung 114 mit Nachladeleitungen 110, 112 an einen D-Großspeicher 11.6 angeschlossen sind. Der D-Speicher 116 ist über eine Adreßleitung 118 mit einer D-Adreßsteuerung 120 verbunden, die ihrerseits mit dem Folgesteuer-RAM 60 in Verbindung steht, während eine Steuerleitung 122 zur Folgesteuerung 114 führt* Die zwei Gruppen von RAM 32 werden in abwechselnder Folge (über Nachladesteuerung 30) für das Nachladen der A- und B-Speicher 10 und 12 herangezogen, und während eine der Gruppen nicht mit dem Nachladen beschäftigt ist, wird sie aus einem im D-Speicher 116 vorhandenen Vorrat mit Prüfdaten wieder aufgefüllt. Der Schaltvorgang des Auffüllens zwischen den zwei Gruppen wird durch die Auswahlvorrichtung 114 bestimmt, die von der D-Adreßsteuerung 120 gesteuert wird.

Claims

Patentansprüche

1J Vorrichtung zum Erzeugen einer kontinuierlichen Folge von Prüfdaten zum Prüfen von LSI-Schaltungen, welche eine Vielzahl von insbesondere stiftartigen Anschlüssen aufweisen,

gekennzeichnet

durch

eine Mehrzahl von zum Speichern der Prüfdaten dienenden Speicherelementen (10,12), die jedem der Anschlüsse (14) zugeordnet sind,

einen Speicher (34) höherer Kapazität, jedoch geringerer Geschwindigkeit als derjenigen der einzelnen Speicherelemente zum Speichern der Prüfdaten,

eine Prüffolge-Steuereinrichtüng (60), die die Prüfdaten wahlweise von einem der Speicherelemente (10,12) zu den Anschlüssen (14) leitet,

und eine Nachladeschaltung (30) , die veranlaßt, daß ein Teil der in dem größeren Speicher (34) gespeicherten Prüfdaten auswählbar in eines der Speicherelemente (10,12) nachgeladen wird, das nicht gerade Prüfdaten an die Anschlüsse (14) abgibt.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet, daß die Speicherelemente (10,12) statische RAM und der grössere Speicher (34) einen dynamischen RAM enthält.
3. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß der größere Speicher aus mehreren Unterspeichern (32) besteht und eine Schaltanordnung vorhanden ist, mit der zyklisch wiederholt die Unterspeicher (32) mit den nachzuladenden Speicherelementen (10,12) verbindbar und in jedem der Zyklen Adreßinformationen für die Unterspeicher (32) lieferbar sind, wodurch die in den Unterspeichern gespeicherten Prüfdaten verschachtelbar und in die Speicherelemente (10,12) mit einer Geschwindigkeit ladbar sind, die höher als die eigene übertragungsgeschwindigkeit der einzelnen Unterspeicher ist.
4. Vorrichtung nach Anspruch 3,
dadurch gekennzeichnet, daß die Speicherelemente (10,12) statische RAM und die Unterspeicher (32) dynamische RAM aufweisen.
5. Vorrichtung nach Anspruch 3 oder 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Unterspeicher (32) in Gruppen angeordnet sind, und daß ein Großspeicher (116) für das Speichern der Prüfdaten eine Schalteinrichtung vorgesehen sind, die den Großspeicher veranlaßt, einen Teil der Prüfdaten selektiv in eine der Gruppen zu laden, die nicht mit der Abgabe von Prüfdaten an die Speicherelemente befaßt ist.
6, Vorrichtung nach Anspruch 3 oder 4, dadurch gekennzeichnet,

daß die Prüfdaten von den Unterspeichern in das Speicherelement mit höherer Geschwindigkeit nachgeladen werden^ als Prüfdaten zu den Anschlüssen geleitet werden.
7. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet,
daß zwei Speicherelemente vorgesehen sind.
8. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 4, gekennzeichnet durch

eine Steuerapparatur, die die Prüffolge-Steuerschaltung und die Nachladeschaltung veranlaßt, abwechselnd Prüfdaten von einem ersten Speicherelement zuzuführen, während in das andere Speicherelement Prüfdaten nachgeladen werden, und in das erste Speicherelement Prüfdaten nachzuladen, wenn von dem anderen Speicherelement die Prüfdaten den Anschlüssen zugeleitet werden.