DE3343548C2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- DE3343548C2 DE3343548C2 DE3343548A DE3343548A DE3343548C2 DE 3343548 C2 DE3343548 C2 DE 3343548C2 DE 3343548 A DE3343548 A DE 3343548A DE 3343548 A DE3343548 A DE 3343548A DE 3343548 C2 DE3343548 C2 DE 3343548C2
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- ion
- layer
- sensitive
- gate
- insulating layer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/26—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating electrochemical variables; by using electrolysis or electrophoresis
- G01N27/403—Cells and electrode assemblies
- G01N27/414—Ion-sensitive or chemical field-effect transistors, i.e. ISFETS or CHEMFETS
Description
Die Erfindung betrifft einen chemischen Ionensensor, insbeson
dere zur Bestimmung der Aktivität oder Konzentration bestimmter
Ionen in einem Elektrolyten.
Es sind chemische Sensoren zur Bestimmung der Aktivität oder
Konzentration bestimmter Ionen in Elektrolyten bekannt, die
entsprechend Fig. 1 aufgebaut sind und auf der Basis eines
Feldeffekttransistors arbeiten. Ein solcher langgestreckter
Ionensensor 11 weist eine Gatezone 12, welche am rechten Ende
der Fig. 1 den ionenempfindlichen Teil darstellt, sowie einen
Anschlußteil 13 zur Verbindung mit der Source und einen An
schlußteil 14 zur Verbindung mit der Drain am linken Ende auf.
Fig. 2 zeigt die Gatezone 12 im Schnitt längs der Linie II-II
der Fig. 1. Es hat eine länglich hexagonale Konfiguration und
weist n-leitende Drain-Diffusionsbereiche 26 in der Mitte und
an der oberen Seite eines p-leitenden Siliciumsubstrats 22 und
n-leitende Source-Diffusionsbereiche 27 an beiden Enden auf.
Die Gatezone ist mit einer Gate-Isolierschicht 23 abgedeckt und
durch eine Schutzschicht 24 geschützt, so daß die Isolier
schicht 23 bei Eintauchen in die zu prüfende Lösung von dieser
nicht angequollen werden kann. Schließlich ist eine ionenem
pfindliche Membran oder Schicht 25 auf der Isolierschicht 23
mit Drain- und Source-Bereichen 26 bzw. 27 an den Seiten
vorgesehen.
Bei diesem bekannten Ionensensor mit ionenempfindlicher Membran
25 gelangt das einfallende Licht auf das Siliciumsubstrat 22
und kann aufgrund des photoelektrischen Effekts innerhalb des
Halbleiters zu einem Fehlsignal bis hinauf zu 0,1 pH führen,
selbst wenn es sich um Raumbeleuchtung handelt. Man erreicht
also keine exakte Messung der Ionenkonzentration.
Es ist ferner ein chemischer Ionensensor dieser Art bekannt,
(DE-OS 28 22 787), bei dem die ionenempfindliche Membran auf
der Gatezone mit einer semipermeablen Membran aus organischem
Polymer abgedeckt ist, das ähnliche physikalische und chemische
Struktur wie gebräuchliche Membranen für Dialyse, Ultrafiltra
tion und umgekehrte Osmose aufweist. Zur Verminderung der
Lichtempfindlichkeit kann diese Membran mit einem Farbstoff
oder mit Farbpigment so eingefärbt sein, daß die durchschnitt
liche optische Dichte im Wellenlängenbereich 350 bis 700 nm
mehr als 0,7 beträgt. Diese semipermeable Membran wird vor der
Anwendung hydratisiert. Nachteilig bei dieser Ausbildung ist,
daß die Empfindlichkeit und die Ansprechzeit des Sensors
infolge des indirekten Kontakts der ionenempfindlichen Membran
mit der zu prüfenden Flüssigkeit, der durch die semipermeable
Membran stattfinden muß, verschlechtert sind. Ferner ist die
Haltbarkeit des Wandlers aufgrund der engen Berührung der
Polymermembran mit der isolierten Gatezone nicht ausreichend.
Außerdem ist eine Subminiaturisierung des Sensors nicht möglich
weil bei der durch damit einhergehenden Abnahme der Dicke
der semipermeablen Membran deren Permeabilität mit abnehmender
Stärke steigt und dann keinerlei Schutzfunktion mehr ausüben
könnte.
Aufgabe der Erfindung ist es daher, einen chemischen Ionen
sensor auf der Basis eines Feldeffekttransistors hoher Em
pfindlichkeit und Meßgenauigkeit mit kurzer Ansprechzeit und
langer Haltbarkeit zu schaffen.
Ein diese Aufgabe lösender Ionensensor ist
im Patentanspruch gekennzeichnet.
Aufgrund der Anordnung der speziellen Metallschicht zwischen ionenempfind
licher Schicht und Gate-Isolierschicht wird jede Erhöhung der An
sprechzeit vermindert. Die Metallschicht stellt eine sehr gute
Verbindung zu den benachbarten Schichten her, so daß der Ionen
sensor auch gut isolierend, äußerst haltbar, wasserfest und
langlebig ist. Aufgrund der erfindungsgemäß vorgesehenen un
durchsichtigen Metallschicht zwischen ionenempfindlicher
Membran und Gate-Isolierschicht wird von außen auf das Gate des
Ionensensors auftreffendes Licht zurückgehalten und damit das
Auftreten eines Fehlsignals durch Fremdlicht verhindert. Mit
dem erfindungsgemäßen Ionensensor sind also exakte Messungen
der Aktivität oder Konzentration einer Ionenart in einem Elek
trolyten selbst in der Helligkeit unabhängig von der Intensität
des umgebenden Lichts möglich.
Die Erfindung wird anhand der Figuren weiter erläutert.
Fig. 3 und 4 zeigen zwei Ausführungsformen der erfindungsge
mäßen Ionensensoren.
Bei der in Fig. 3 dargestellten Ausführungsform des erfindungs
gemäßen Ionensensors ist der ionenempfindliche Bereich der
Gatezone 31 länglich hexagonal ähnlich dem bekannten Ionen
sensor nach Fig. 2. Der ionenempfindliche Teil der Gatezone 31
weist n-leitende Source-Diffusionsbereiche 33 an beiden Seiten
eines p-leitenden Substrats 32 sowie n-leitende Drain-Bereiche
34 in der Mitte auf. Diese Bereiche sind mit einer Gate-Isolier
schicht 35 aus einem Oxid abgedeckt. Über der Gate-Isolier
schicht 35 mit den Source- und Drain-Diffusionsbereichen 33, 34
befindet sich eine optisch undurchsichtige oder opaque Metall
schicht 36, die vollständig mit einer Schutzschicht 37 abge
deckt ist. Über der Schutzschicht 37 befindet sich im Bereich
der undurchsichtigen Metallschicht 36 eine ionenempfindliche
Schicht 38.
Für die optisch undurchsichtige Schicht 36
wird Chrom oder Tantal verwendet, die durch Aufdampfen im
Vakuum oder Kathodenzerstäubung aufgebracht worden
sind. Die Schichtstärke der undurchsichtigen Metallschicht 36 aus
Chrom oder Tantal beträgt 200 nm oder mehr, damit Fehl
signale sicher vermieden werden.
Für die Schutzschicht 37, die ein Eindringen von Ionen verhin
dert, eignet sich ein beliebiges Material guter Isolierfähig
keit und hoher Wasserdichtigkeit. So lassen sich beispielsweise
Siliciumnitrid, Siliciumoxynitrid oder Oxide oder Nitride von
Aluminium oder Tantal oder deren Gemische anwenden, die durch
thermische Zersetzung in der Gasphase oder Kathodenzerstäubung
abgeschieden werden.
Die ionenempfindliche Schicht 38 kann als Ionensensor für die
Bestimmung der Aktivität oder Konzentration einer Ionenart
ausgebildet sein in Form einer Schicht aus beispielsweise
Siliciumnitrid (Si3N4), Tonerde (Al2O3) oder Tantalpentoxid,
wenn es sich um die Bestimmung von Wasserstoffionen
handelt.
Wird als ionenempfindliche Schicht 38 Siliciumnitrid oder Ton
erde in einer Schichtstärke von etwa 100 nm angewendet, so er
hält man ein Grenzflächenpotential von 53 bis 56 mV/pH inner
halb des pH-Bereiches von 1 bis 13 entsprechend einer Glas
elektrode.
Derartige Schichten werden aus anorganischen Stoffen durch
thermische Zersetzung in der Dampfphase oder Kathodenzerstäubung
gebildet.
Für die Bestimmung von Natrium- oder Kaliumionen eignen sich
beispielsweise Aluminosilicatgläser (SiO2-Al2O3-Na2O).
Für die Anwendung in der Praxis wird der Ionensensor in einem
Rohr aus Polyvinylchlorid eingeschlossen, welches
nur die Gatezone 31 bzw. den ionenempfindlichen Teil freiläßt.
Der Ionensensor wird dann in die Prüflösung eingetaucht und
gegen eine Bezugselektrode geschaltet.
Bei Betrieb, wenn die Gatezone 31 in die zu prüfende Lösung
eingetaucht ist, ändert sich die Gatespannung entsprechend der
Konzentration der bestimmten Ionenart in der Lösung. Die Leitfä
higkeit in dem Kanalbereich zwischen Source 33′ und Drain 34
schwankt ebenfalls. Die Folge davon ist, daß sich die Strom
stärke zwischen Source und Drain ändert. So läßt sich somit die
Konzentration der bestimmten Ionenart in der Lösung durch Be
stimmung der Änderung der Stromstärke oder Leitfähigkeit mit
einem äußeren Meßkreis aus der Gatespannung ermitteln.
Selbst dann, wenn der Ionensensor bei Umgebungslicht angewandt
wird, wird das einfallende Licht durch die undurchsichtige
Metallschicht 36 zurückgehalten und erreicht somit nicht die Gatezone
31. Dadurch wird das Auftreten eines Potentials in dem Halbleiter
durch äußeren Lichteinfall verhindert und eine exakte Messung
der Ionenkonzentration unabhängig von Umgebungslicht ermöglicht.
In Fig. 4 ist eine andere Ausführungsform des erfindungsgemäßen
Ionensensors dargestellt. Bei diesem hat eine Gatezone 41 ein
p-leitendes Substrat 42, n-leitende Source- und Drain-Diffu
sionsbereiche 43 bzw. 44 und eine Gate-Isolierschicht 45 im
ionenempfindlichen Teil entsprechend der Ausführungsform der
Fig. 3.
Während die erste Ausführungsform des erfindungsgemäßen Ionen
sensors die optisch undurchsichtige Metallschicht 36 zwischen
Gate-Isolierschicht 35 und Schutzschicht 37 aufweist, befindet
sich bei der zweiten Ausführungsform eine optisch undurchsich
tige Metallschicht 47 zwischen einer Schutzschicht 46 und einer
ionenempfindlichen Schicht 48.
Auch bei dieser zweiten Ausführungsform wird von außen einfal
lendes Licht durch die lichtundurchlässige Metallschicht 47
abgehalten und eine exakte Messung der Ionenkonzentration
unabhängig von der Intensität des Umgebungslichtes ermöglicht.
Die ionenempfindliche Schicht 38 in der in Fig. 3 gezeigten
Ausführungsform zur Bestimmung der Wasserstoffionenkonzen
tration kann beispielsweise aus Si3N4,Al2O3 und/oder Ta2O5
bestehen.
Die Polarität des Substrats und der Source- und Drain-Dif
fusionsbereiche kann wie oben angegeben p- bzw. n-leitend aber
auch umgekehrt sein.
Claims (1)
- Chemischer Ionensensor auf der Basis eines Feldeffekttran sistors enthaltend eine ionenempfindliche Schicht über einer Schutzschicht (37, 46) und diese beiden Schichten über einer Gate-Isolierschicht, gekennzeichnet durch eine optisch undurchsichtige Metallschicht (36, 47) aus Chrom oder Tantal mit einer Dicke von mindestens 200 nm zwischen der ionenempfind lichen Schicht (38, 48) und Gate-Isolierschicht (35, 45).
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57213693A JPS59102154A (ja) | 1982-12-06 | 1982-12-06 | 化学的感応素子 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3343548A1 DE3343548A1 (de) | 1984-06-07 |
DE3343548C2 true DE3343548C2 (de) | 1988-04-21 |
Family
ID=16643420
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19833343548 Granted DE3343548A1 (de) | 1982-12-06 | 1983-12-01 | Chemischer sensor |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4512870A (de) |
JP (1) | JPS59102154A (de) |
DE (1) | DE3343548A1 (de) |
Families Citing this family (21)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4698657A (en) * | 1984-02-10 | 1987-10-06 | Sharp Kabushiki Kaisha | FET type sensor and a method for driving the same |
GB8416994D0 (en) * | 1984-07-04 | 1984-08-08 | Emi Ltd | Gas sensor |
US5139626A (en) * | 1985-10-02 | 1992-08-18 | Terumo Corporation | Ion concentration measurement method |
DK626986A (da) * | 1985-12-25 | 1987-06-26 | Terumo Corp | Ionsensor |
DE3687123T2 (de) * | 1986-01-24 | 1993-05-13 | Terumo Corp | Ionenempfindlicher fet-fuehler. |
JPS62180263A (ja) * | 1986-02-04 | 1987-08-07 | Terumo Corp | 酸素センサ− |
US4871442A (en) * | 1986-05-01 | 1989-10-03 | Terumo Corporation | Ion sensor |
JPS62277547A (ja) * | 1986-05-26 | 1987-12-02 | Terumo Corp | ガスセンサ− |
JPS6350745A (ja) * | 1986-08-20 | 1988-03-03 | Fuji Photo Film Co Ltd | 化学センサ− |
EP0262582B1 (de) * | 1986-10-01 | 1992-11-19 | Willi Möller AG | Verfahren zur Bestimmung des Konzentrationsverhältnisses von Lithiumionen zu Natriumionen und Vorrichtung zur Durchführung dieses Verfahrens |
US4782302A (en) * | 1986-10-31 | 1988-11-01 | The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy | Detector and energy analyzer for energetic-hydrogen in beams and plasmas |
JPS63131056A (ja) * | 1986-11-20 | 1988-06-03 | Terumo Corp | Fet電極 |
JPS63131057A (ja) * | 1986-11-20 | 1988-06-03 | Terumo Corp | 酵素センサ |
WO1988004425A1 (fr) * | 1986-12-10 | 1988-06-16 | Terumo Kabushiki Kaisha | Membrane porteuse d'ions et capteur d'ions pourvu de cette membrane |
JPS63195557A (ja) * | 1987-02-09 | 1988-08-12 | Nippon Koden Corp | イオンセンサ用電界効果トランジスタ |
US4786396A (en) * | 1987-06-26 | 1988-11-22 | The Washington Technology Center | Ion electrode and method of making it |
US5192417A (en) * | 1987-09-21 | 1993-03-09 | Terumo Kabushiki Kaisha | Lithium ion sensor |
WO1989004959A1 (fr) * | 1987-11-24 | 1989-06-01 | Terumo Kabushiki Kaisha | Electrode de reference |
IT1224606B (it) * | 1988-10-10 | 1990-10-04 | Eniricerche Spa | Sensore chimico monolitico a membrana ione selettiva di tipo chemfet eprocedimento per la sua realizzazione |
JP3001104B2 (ja) * | 1989-10-04 | 2000-01-24 | オリンパス光学工業株式会社 | センサー構造体及びその製造法 |
AU2005208303A1 (en) * | 2004-01-21 | 2005-08-11 | Rosemount Analytical Inc. | Ion sensitive field effect transistor (ISFET) sensor with improved gate configuration |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3719564A (en) * | 1971-05-10 | 1973-03-06 | Philip Morris Inc | Method of determining a reducible gas concentration and sensor therefor |
US3831432A (en) * | 1972-09-05 | 1974-08-27 | Texas Instruments Inc | Environment monitoring device and system |
US4020830A (en) * | 1975-03-12 | 1977-05-03 | The University Of Utah | Selective chemical sensitive FET transducers |
JPS603614B2 (ja) * | 1977-05-26 | 1985-01-29 | 株式会社クラレ | Fetセンサーの安定化法 |
US4273636A (en) * | 1977-05-26 | 1981-06-16 | Kiyoo Shimada | Selective chemical sensitive field effect transistor transducers |
US4411741A (en) * | 1982-01-12 | 1983-10-25 | University Of Utah | Apparatus and method for measuring the concentration of components in fluids |
-
1982
- 1982-12-06 JP JP57213693A patent/JPS59102154A/ja active Granted
-
1983
- 1983-12-01 DE DE19833343548 patent/DE3343548A1/de active Granted
- 1983-12-02 US US06/557,610 patent/US4512870A/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0370784B2 (de) | 1991-11-08 |
DE3343548A1 (de) | 1984-06-07 |
US4512870A (en) | 1985-04-23 |
JPS59102154A (ja) | 1984-06-13 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE3343548C2 (de) | ||
EP1062501B1 (de) | Referenzelektrode | |
DE2433044C2 (de) | Steuerbare elektrochrome Anzeigevorrichtung mit nichtpolarisierbarer Elektrode | |
DE4311851A1 (de) | Sensoranordnung zur Bestimmung von Gaskomponenten und/oder von Gaskonzentrationen von Gasgemischen | |
DE19539696A1 (de) | Infrarotsensor und Herstellungsverfahren dafür | |
DE4231530C2 (de) | Kohlensäuregassensor | |
DE3504401C2 (de) | ||
EP0810431B1 (de) | Elektrochemischer Sensor | |
DE3517590A1 (de) | Feldeffekttransistor-sensor | |
DE3116884A1 (de) | Verfahren und schaltung zur messung der ionenaktivitaet in fluessigkeiten | |
DE2949197A1 (de) | Integrationskugel-truebungsmesser | |
DE4305930C2 (de) | Festelektrolytsensor zur Messung gasförmiger Anhydride | |
DE2013100A1 (de) | Verbesserte Silber-Silberchlorid-Elektrode | |
DE4243733C2 (de) | Sensor zur Bestimmung von Gaskomponenten und/oder Gaskonzentrationen von Gasgemischen | |
EP3132254B1 (de) | Verfahren zur herstellung einer ph-halbzelle und eine ph-halbzelle | |
DE3519576A1 (de) | Sensor | |
CH638638A5 (de) | Elektrochrome wiedergabevorrichtung. | |
EP0487992A2 (de) | Optischer Sensor | |
EP0332934A2 (de) | Anordnung zur Messung des Partialdruckes von Gasen oder Dämpfen | |
DE10208767C1 (de) | Meßanordnung und Verfahren zur Bestimmung der Permeabilität einer Schicht für eine korrodierende Substanz sowie Bauelemente mit dieser Meßanordnung | |
DE3020068C2 (de) | Chemisch empfindliche Meßzelle | |
DE102017115421A1 (de) | Amperometrischer Chlordioxid-Sensor | |
DE3301939A1 (de) | Anordnung zur messung von potentialdifferenzen | |
DE3417137A1 (de) | Chemisch empfindlicher feldeffekttransistor mit integrierter referenzelektrode | |
US5262205A (en) | Process for producing the ion-sensitive probe electrode of a heavy-metal-ion sensor |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
8125 | Change of the main classification |
Ipc: G01N 27/12 |
|
D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |