DE3511165C2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- DE3511165C2 DE3511165C2 DE3511165A DE3511165A DE3511165C2 DE 3511165 C2 DE3511165 C2 DE 3511165C2 DE 3511165 A DE3511165 A DE 3511165A DE 3511165 A DE3511165 A DE 3511165A DE 3511165 C2 DE3511165 C2 DE 3511165C2
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- temperature
- culture
- arrangement according
- chamber
- intermediate support
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/24—Base structure
- G02B21/30—Base structure with heating device
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C12—BIOCHEMISTRY; BEER; SPIRITS; WINE; VINEGAR; MICROBIOLOGY; ENZYMOLOGY; MUTATION OR GENETIC ENGINEERING
- C12M—APPARATUS FOR ENZYMOLOGY OR MICROBIOLOGY; APPARATUS FOR CULTURING MICROORGANISMS FOR PRODUCING BIOMASS, FOR GROWING CELLS OR FOR OBTAINING FERMENTATION OR METABOLIC PRODUCTS, i.e. BIOREACTORS OR FERMENTERS
- C12M41/00—Means for regulation, monitoring, measurement or control, e.g. flow regulation
- C12M41/12—Means for regulation, monitoring, measurement or control, e.g. flow regulation of temperature
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C12—BIOCHEMISTRY; BEER; SPIRITS; WINE; VINEGAR; MICROBIOLOGY; ENZYMOLOGY; MUTATION OR GENETIC ENGINEERING
- C12M—APPARATUS FOR ENZYMOLOGY OR MICROBIOLOGY; APPARATUS FOR CULTURING MICROORGANISMS FOR PRODUCING BIOMASS, FOR GROWING CELLS OR FOR OBTAINING FERMENTATION OR METABOLIC PRODUCTS, i.e. BIOREACTORS OR FERMENTERS
- C12M41/00—Means for regulation, monitoring, measurement or control, e.g. flow regulation
- C12M41/30—Means for regulation, monitoring, measurement or control, e.g. flow regulation of concentration
- C12M41/36—Means for regulation, monitoring, measurement or control, e.g. flow regulation of concentration of biomass, e.g. colony counters or by turbidity measurements
Description
Die Erfindung betrifft eine auf einem Mikroskoptisch anbringbare
Probenheizanordnung mit einer zur Aufnahme einer zu untersuchenden
Kultur ausgebildeten ersten Kammer, die eine mit einer
Temperatursteuereinrichtung verbundene erste Heizeinrichtung
aufweist, und mit einer die erste Kammer umschließenden zweiten
Kammer.
Eine derartige Probenheizanordnung ist bereits bekannt (DE-AS
12 84 119). Diese bekannte Probenheizanordnung ist außer für
mikrobiologische Untersuchungen für eine Reihe anderer Anwendungsfälle
vorgesehen, so z. B. für Messungen an Schmelzen und
für thermische Analysen nach der Kontaktmethode. Maßnahmen zur
Befeuchtung und zur Beeinflussung der Gasatmosphäre in der inneren
Kammer sind nicht vorgesehen. Dementsprechend fehlt der
bekannten Anordnung die Eignung für Langzeituntersuchungen von lebenden
Zellkulturen, die eine ausreichende Wasserdampfsättigung
zur Verhinderung einer Verdampfung der Kulturflüssigkeit
sowie die Zuführung einer Gasmischung mit Kohlendioxidgas zur
Kontrollierung des pH-Wertes erfordern. Entsprechende Maßnahmen
lassen sich auch deswegen nicht einfach zusätzlich vorsehen,
weil weder die äußere Kammer noch die innere Kammer luftdicht
abgeschlossen sind, vielmehr jeweils eine nicht abgedeckte
Einführungsöffnung für einen Probenträger aufweisen.
Im übrigen dient bei der bekannten Probenheizanordnung die
äußere Kammer nicht der Temperaturregelung innerhalb der inneren
Kammer. Infolge des in der inneren Kammer angeordneten
Ofens mit elektrischen Heizelementen entstehen Kammertemperaturen
von 100°C und mehr. Die äußere Kammer wird von Umgebungsluft
durchströmt und dient der Kühlung, um das Objektiv des
Mikroskops ohne Schaden nahe an die innere Kammer heranführen
zu können. Dabei erfolgt die Kühlung nicht mit einer Temperaturregelung
in der äußeren Kammer.
Es ist ferner eine Heiz- und Kühlanordnung für mikroskopisch zu
untersuchende Präparate bekannt, bei der eine möglichst gleichmäßige
Temperaturverteilung erstrebt wird (DE-AS 12 83 558).
Dabei ist ein beheizbarer Objekttisch mit einem ebenfalls beheizbaren
bzw. kühlbaren Einsatz mit zentraler Lochblende vorgesehen,
der in Einbaustellung mit seiner Oberseite in Höhe der
Oberseite des Tisches ausgerichtet ist. Über Temperaturfühler,
die sowohl am Tisch wie am Einsatz vorgesehen sind, erfolgt
eine Steuerung der Temperaturen im Sinne einer möglichst
gleichmäßigen Temperaturverteilung. Aber auch hier ist keine
luftdicht abgeschlossene Kammer vorgesehen und fehlen Maßnahmen
zur Befeuchtung und Aufrechterhaltung einer Kohlendioxid-Atmosphäre.
Wenn Zellzüchtungen unter dem Mikroskop betrachtet werden, wird
meistens ein Kulturbeobachtungsbehälter benutzt, der im Verhältnis
zur Größe des Beobachtungsfeldes so groß ist, daß
selbst bei einem in unmittelbarer Nähe des Behälters angeordneten
Temperaturmeßfühler bereits ein beträchtlicher Temperaturunterschied
zwischen der beobachteten Stelle und der Temperaturmeßstelle
vorhanden ist. Das macht es schwierig, eine exakte
Temperatursteuerung durchzuführen. Die Anordnung des Temperaturmeßfühlers
innerhalb des Kulturbeobachtungsbehälters nahe
der beobachteten Stelle birgt die Gefahr, daß verschiedene
Keime auf dem Weg über den Temperaturmeßfühler für jede mikroskopische
Untersuchung gesäubert und sterilisiert werden muß.
Bei Probenheizanordnungen mit einer Wärmeplatte auf dem Objekttisch
wird das der Beobachtung dienende durchgehende Loch der
Wärmeplatte mit ziemlich kleinem Durchmesser ausgeführt, um die
Wärmeisolierwirkung in der Nähe der optischen Achse zu verbessern.
Dadurch ist aber die mögliche Aufwärtsbewegung des Objektes
im Fall eines umgekehrten oder gestürzten Mikroskops
(Le-Chatelier-Mikroskop) für die Scharfeinstellung unzureichend.
Infolgedessen kann es bei solchen Probenheizanordnungen
zu unscharfer Einstellung kommen, so daß der Einsatzbereich
insbesondere bei Objektiven mit starker Vergrößerung dadurch
eingeschränkt ist, daß die Stirnseite des Objektivs auf die
Wärmeplatte trifft. Diese Schwierigkeit erhöht sich noch dadurch,
daß die Probe entsprechend Bodendicke des Kulturbeobachtungsbehälters
angehoben ist. Bei Verwendung eines nichtumgekehrten
Mikroskops besteht das gleiche Problem, allerdings
mit dem Kondensor.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Probenheizanordnung
der eingangs beschriebenen Art so auszubilden, daß sie für
die Beobachtung von lebenden Zellkulturen auch über längere
Zeiten geeignet ist, ohne daß Beobachtungsschwierigkeiten infolge
von Feuchtigkeitskondensation sowie verfälschende Einflüsse
auf die Probe in Kauf genommen werden müssen.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß die erste
Kammer gegenüber der zweiten Kammer gasdicht abgeschlossen
ist, daß der zweiten Kammer eine zweite Heizeinrichtung zugeordnet
ist, und daß die erste Kammer ein Wassergefäß zur Verhinderung
des Austrocknens der Kultur und eine Zuleitung für
ein von der Kultur benötigtes Gas, wie Kohlendioxid, aufweist.
Bei dieser Ausbildung lassen sich die für Zellkulturen erforderlichen
Lebensbedingungen hinsichtlich Temperatur, Feuchtigkeit
und Gasatmosphäre einstellen und aufrechterhalten, so daß
Langzeituntersuchungen möglich werden. Dabei können offene Kulturbeobachtungsbehälter
in die innere Kammer eingebracht werden.
Die eingeführten Wasserdämpfe und die Gasmischung erfahren
normalerweise in der Nähe der Kammerwand eine Abkühlung, wodurch
es zu einer Kondensation bzw. zu einem Tauniederschlag an
der Kammerinnenwand kommt. Dabei würde insbesondere der Niederschlag
auf einem der Zellkulturbetrachtung dienenden Kammerfenster
die Untersuchung stören. Bei der erfindungsgemäßen Ausbildung
wird jedoch mit Hilfe der zweiten Kammer und der ihr zugeordneten
Heizeinrichtung die Wand der inneren Kammer auf einer
Temperatur gehalten, die eine Kondensation im wesentlichen verhindert.
Hierbei bedarf es aber einer sorgfältigen Einstellung
und Einhaltung des Temperaturgradienten. Bei zu hohem Temperaturgradienten
beeinflußt die Temperatur bzw. der Wärmewind in
der äußeren Kammer die Temperatur in der inneren Kammer und
stört dadurch die Temperaturregelung der erwärmten Probe. Bei
zu niedrigem Temperaturgradienten besteht dagegen die Gefahr,
daß die Taukondensation nicht in ausreichendem Maße verhindert
wird. Außerdem dient die Gasdichtheit der ersten Kammer nicht
nur der Aufrechterhaltung einer bestimmten Gasatmosphäre, es
wird auch ein Eindringen von Staub sowie ein störendes Aufwirbeln
dieses Staubes innerhalb der beheizten Kammer vermieden.
Neben der vorgesehenen, vorzugsweise gleichförmigen Temperaturverteilung
in der inneren oder ersten Kammer ergibt sich auch
eine besonders kurze Ansprechzeit beim Heizen, was einer feinfühligen
Temperaturregelung zugute kommt. Da die erste Kammer
an der Oberseite des Objekttisches angeordnet ist, wird weder
die Betätigung des Objektivrevolvers noch des Kompensationsringes
des Objektivs gestört. Selbst bei einer Änderung der Beobachtungsstellung
kann ein Reagens in die Beobachtungsstelle
injiziert werden. Durch Ändern der relativen Lage zwischen der
Probe und dem Objekttisch läßt sich ein großes Beobachtungsfeld
erzielen. Dabei muß kein Deckel von der Kammer abgenommen werden,
was zu einer Änderung der Kohlendioxidkonzentration, zum
Entweichen von Gas und zum Eindringen von Staub führen könnte.
Die innere Kammer kann selbst ortsfest bleiben, wenn der Objekttisch
bewegt wird. Das Entfernen von Heizschnüren entfällt
und es müssen auch keine für die zu untersuchende Probe schädlichen
Schwingungen befürchtet werden.
Zweckmäßige Ausgestaltungen und Weiterbildungen ergeben sich
aus den Unteransprüchen. Dabei führt insbesondere die Temperaturkorrelationssteuerung
gemäß Anspruch 6 zu weiteren Gebrauchsvorteilen
der Probenheizanordnung.
Fünf Ausführungsbeispiele der Erfindung mit zugehörigen Abwandlungen
werden nachfolgend anhand von schematischen Zeichnungen
näher erläutert. Es zeigt
Fig. 1 einen senkrechten Schnitt durch eine Probenheizanordnung
für Mikroskope gemäß einem ersten Ausführungsbeispiel;
Fig. 2 einen Horizontalschnitt durch die Probenheizanordnung
gemäß Fig. 1;
Fig. 3 einen senkrechten Schnitt durch die Probenheizanordnung
gemäß Fig. 1 im Betrieb;
Fig. 4 einen senkrechten Schnitt durch eine abgewandelte
Probenheizanordnung gemäß Fig. 1;
Fig. 5 einen senkrechten Schnitt zur Darstellung der wesentlichen
Teile einer Probenheizanordnung gemäß einem
zweiten Ausführungsbeispiel;
Fig. 6 ein Verdrahtungsschaltbild für die Probenheizanordnung
gemäß Fig. 5;
Fig. 7 einen Schnitt zur Darstellung der wesentlichen Teile
einer abgewandelten Probenheizanordnung gemäß Fig. 5;
Fig. 8 einen Schnitt zur Darstellung der wesentlichen Teile
einer Probenheizanordnung gemäß einem dritten Ausführungsbeispiel;
Fig. 9 ein Blockschaltbild der elektrischen Schaltung für die
Probenheizanordnung gemäß Fig. 8;
Fig. 10 einen Schnitt zur Darstellung der wesentlichen Teile
einer abgewandelten Probenheizanordnung gemäß Fig. 8;
Fig. 11 und 12 einen senkrechten und waagerechten Schnitt zur
Darstellung eines weiteren Beispiels einer in Fig. 8
vorgesehenen Zwischenauflage;
Fig. 13 einen Schnitt durch ein weiteres Beispiel einer Zwischenauflage
gemäß Fig. 8;
Fig. 14 einen Schnitt zur Darstellung der wesentlichen Teile
eines weiteren Beispiels einer Zwischenauflage gemäß
Fig. 8 während der Benutzung;
Fig. 15 einen Schnitt zur Darstellung der wesentlichen Teile
einer Abwandlung der in Fig. 8 gezeigten Zwischenauflage
während der Benutzung;
Fig. 16 einen Schnitt durch eine weitere Abwandlung der Zwischenauflage
gemäß Fig. 8;
Fig. 17 einen Schnitt zur Darstellung der wesentlichen Teile
einer Abwandlung, bei der an der Zwischenauflage gemäß
Fig. 8 eine Halterung vorgesehen ist;
Fig. 18 einen Schnitt durch eine Probenheizanordnung gemäß
einem vierten Ausführungsbeispiel;
Fig. 19 und 20 Schnittansichten abgewandelter Probenheizanordnungen
gemäß Fig. 18;
Fig. 21 und 22 perspektivische Ansichten der wesentlichen Teile
von Abwandlungen einer transparenten Beschichtung, die
in Fig. 19 bzw. 20 gezeigt ist;
Fig. 23 einen Schnitt zur Darstellung der wesentlichen Teile
einer Probenheizanordnung gemäß einem fünften
Ausführungsbeispiel;
Fig. 24 und 25 Draufsichten auf eine Wärmeübertragungsplatte gemäß
Fig. 23 und eine Abwandlung derselben;
Fig. 26 eine Schnittansicht zur Darstellung der wesentlichen
Teile eines weiteren Beispiels für die Probenheizanordnung
gemäß Fig. 23;
Fig. 27 eine Draufsicht auf die Wärmeübertragungsplatte gemäß Fig. 26.
Wie Fig. 1 zeigt, hat ein Objekttisch 3 eines umgekehrten
Mikroskops eine Zwischenauflage, die als Heizeinrichtung 3 a
ausgebildet ist, sowie eine Stützfläche 3 b, an der die Zwischenauflage
lösbar angebracht und die in Richtung senkrecht
zur Schnittebene bewegbar ist. Auf der Oberseite der Zwischenauflage
ist eine erste Kammer 4 angebracht, die einen
luftdichten ersten Raum 6 bildet, welcher einen eine Probe oder Kultur
5 a enthaltenden Kulturbehälter 5 umgibt. Die
Kammer 4 hat eine Umfangswand 4 a, die an der Oberseite der
Stützfläche 3 b mittels Schrauben 7 befestigt ist, sowie einen
Deckel 4 b. In der Umfangswand 4 a ist eine durchgehende Öffnung
vorgesehen, durch die eine Zuleitung 8 eingeführt ist,
welche beispielsweise zur Gaszufuhr dient, wenn das zu betrachtende
Präparat eine Kultur ist, für deren Betrachtung ein Gas,
z. B. CO₂ nötig ist. Durch den Deckel 4 b erstreckt sich eine
durchgehende Öffnung 4 c, in die das Stirnende einer Linsenfassung
eines Kondensors 9 des Mikroskops eingepaßt ist, und
deren unteres Ende von einer transparenten Platte 10 abgeschlossen
ist. Durch den Deckel erstreckt sich ferner eine
Vielzahl von Öffnungen 4 d (vier bei diesem Ausführungsbeispiel)
für die Einführung eines Reagens oder das Einsetzen
eines Temperaturfühlers, eines Feuchtigkeitsfühlers
und dgl. Diese Öffnungen werden durch entsprechende Deckel
11 geöffnet und geschlossen. Außerdem ist an der Unterseite
des Deckels 4 b und an der äußeren Umfangsseite der
Öffnungen 4 d ein Flansch 4 e vorgesehen, der den Behälter
5 umgibt. Der Deckel 4 b ist auf der Oberkante der Umfangswand
4 a luftdicht gleitend angebracht. Der Heizeinrichtung
3 a wird über eine Stromzufuhrleitung 12 und eine Steckverbindung
13 von einer Temperatursteuereinrichtung 14 Wärmeenergie
zugeführt. An der Oberseite der Zwischenauflage ist
ein Temperaturfühler 15 angebracht, der gleichfalls mit
der Temperatursteuereinrichtung 14 verbunden ist. Die erste
Kammer 4 ist von einer zweiten, luftdichten Kammer
16 umgeben, die einen zweiten Raum 17 begrenzt. Diese Kammer
hat eine Umfangswand 16 a, die an der Oberseite der
Stützfläche 3 b durch Befestigen am Außenrand der ersten Kammer
4 mittels einer Klammer 18 befestigt ist. Auf der Umfangswand
16 a ist ein Deckel 16 b befestigt, der in der Mitte
eine ausreichend große Öffnung 16 d im Vergleich zum Durchmesser
der Fassung des Kondensors 9 hat. Am Deckel 16 b ist
ein Schieber 16 c verschiebbar angebracht, der in der Mitte
eine durchgehende Öffnung 16 e hat, in die der Kondensor eng
eingepaßt ist. In der Umfangswand 16 a ist ein Loch 21 ausgebildet,
durch welches eine Leitung 20 ins Innere geführt ist,
wie Fig. 1 zeigt, die an eine zweite Heizeinrichtung 19 in Form
eines Heißluftgebläses angeschlossen ist,
um dem zweiten Raum 17 erwärmte Luft zuzuführen. Das umgekehrte
Mikroskop weist ein Objektiv 22 auf, und außerdem ist ein
ringförmiges Wassergefäß 23 in der ersten Kammer 4 vorgesehen.
Im Betrieb wird zunächst ein Kulturbehälter 5,
der eine zu beobachtende Kultur 5 a enthält,
auf der Zwischenauflage bzw. ersten Heizeinrichtung
angeordnet. Wenn die Kultur 5 a Feuchtigkeit erfordert,
wird das mit Wasser
gefüllte Wassergefäß 23 angeordnet. Anschließend wird mit
Hilfe der Temperatursteuereinrichtung 14 eine vorherbestimmte
Temperatur eingestellt und der ersten Heizeinrichtung 3 a Energie
zugeführt. Der Kulturbehälter 5 wird unmittelbar erwärmt,
und die im
ersten Raum 6 enthaltene Luft wird durch natürliche Wärmeübertragung
erwärmt, wodurch die Kultur 5 a erhitzt wird. In der
Zwischenzeit wird Heißluft durch die Leitung
20 in den zweiten Raum 17 eingeblasen, um diesen zu erwärmen.
Die erste Kammer 4 wird aufgeheizt, bis ihre Innenflächentemperatur
höher ist als die Lufttemperatur im ersten
Raum 6, so daß vom Wassergefäß 23 oder von der Kultur 5 a ausgehender
Wasserdampf nicht an der Innenfläche der ersten Kammer
4 kondensieren kann. Der Kondensor 9 ist in die durchgehende
Öffnung 4 c im Deckel 4 b eingepaßt. Wenn der Objekttisch
3 bewegt wird, wie in Fig. 3 gezeigt, gleitet der Deckel
4 b auf der Umfangswand 4 a, die sich gemeinsam mit dem
Objekttisch 3 bewegt, wodurch der Deckel 4 b in seiner Lage
verbleibt. Die im Deckel 4 b vorgesehenen Öffnungen
4 d weisen also stets zum Brennpunkt auf der optischen
Achse, und ein Reagens oder dgl. kann selbst bei bewegtem Objekttisch
3 zuverlässig zu der zu betrachtenden Stelle eingespritzt
werden. Es sei jedoch erwähnt, daß die
Öffnungen 4 d auch in anderer Richtung anders ausgebildet sein
können, wenn das nötig ist. Wenn der Objekttisch 3 bis zu seiner
Bewegungsgrenze verschoben wird, wie in Fig. 3 gezeigt,
liegt der Kulturbehälter 5 am Flansch 4 e an. Angenommen
der Bewegungsbereich des Kulturbehälters
5 sei l, und der Öffnungsdurchmesser der Zwischenauflage
sei A, dann ergibt sich ein Beobachtungsbereich A + 2 l für die
Kultur 5 a.
Fig. 4 zeigt eine Abwandlung der Probenheizanordnung gemäß
Fig. 1 bis 3, bei der für entsprechende Bauelemente die gleichen
Bezugszeichen wie im Fall von Fig. 1 bis 3 benutzt sind,
ohne daß deren Beschreibung wiederholt wird. An der Unterseite
des Objekttisches 3 ist mittels Schrauben eine zweite
Kammer 30 befestigt, die einen Deckel 30 a, eine Umfangswand
30 b, an der der Deckel 30 a befestigt ist, und in der Mitte
eine Öffnung 30 c aufweist, in die der Kondensor 9 eingesetzt
ist. In dem zweiten Raum 31, der zwischen der ersten Kammer
4 und der zweiten Kammer 30 begrenzt ist, ist eine zweite
Heizeinrichtung 32 angeordnet, von der dieser zweite Raum 31
in ähnlicher Weise wie der zweite Raum 17 beim ersten Ausführungsbeispiel
gemäß Fig. 1 bis 3 erwärmt wird.
Bei dem in Fig. 5 gezeigten zweiten Ausführungsbeispiel der
Probenheizanordnung ist an der Oberseite eines Objekttisches
41 eines umgekehrten Mikroskops eine plattenförmige erste Heizeinrichtung
42 angeordnet, die entweder als Teil des Objekttisches 41 ausgebildet
oder an diesem befestigt ist. Druch die Heizeinrichtung
42 erstreckt sich eine Öffnung 42 a, die mit einer
Öffnung 41 a im Objekttisch 41 in Verbindung steht und
einen solchen Durchmesser hat, daß das Objektiv 43 des Mikroskops
in die Öffnung einsetzbar ist. Auf der Heizeinrichtung 42
ist ein Kulturbehälter 44 angebracht, der eine
zu untersuchende Kultur 44 a enthält. In dem Kulturbehälter
44 wird vor der Untersuchung ein erster Temperaturfühler
45 angeordnet, der die Temperatur an einer Stelle
in der Nähe des zu beobachtenden Bereichs der Kultur 44 a (nachfolgend
als erste Stelle bezeichnet) wahrnimmt. An einer zweiten
Stelle (bei diesem Ausführungsbeispiel an der Oberseite
der Heizeinrichtung 42), die sich von der ersten Stelle unterscheidet
und unter dem Einfluß der Temperatur im zu beobachtenden
Bereich der Kultur 44 a oder der vom Temperaturfühler
45 wahrzunehmenden Temperatur steht, ist ein zweiter
Temperaturfühler 46 angeordnet. Außerdem ist an einer
dritten Stelle ein dritter Temperaturfühler 47
vorgesehen, der z. B. nicht von der Temperatur im Beobachtungsbereich
der Kultur 44 a oder der vom ersten Temperaturfühler
45 festgestellten Temperatur beeinflußt wird (bei diesem
Ausführungsbeispiel unter dem Objekttisch 41).
Wie Fig. 6 zeigt, haben die verschiedenen Temperaturfühler
45, 46 und 47 Ausgangsanschlüsse, die mit Eingangsanschlüssen
von Analogschaltern AG 1, AG 2 bzw. AG 3 verbunden sind. Die
Analogschalter AG 1, AG 2 und AG 3 haben Eingangsanschlüsse für
Steuersignale, die mit einem ersten bis dritten festen Kontakt
eines ersten Umschalters S 1 verbunden sind, welcher gemeinsam
mit den Analogschaltern AG 1, AG 2 bzw. AG 3 eine
Wählerschaltung 48 bildet. Einem Kontaktanschluß des Umschalters
S 1 wird über einen Widerstand eine Spannung von hohem Niveau
zugeführt. Die Analogschalter AG 1, AG 2 und AG 3 haben Ausgangsanschlüsse,
die alle gemeinsam mit einem Eingangsanschluß einer
Vergleichsschaltung 50 und einem Eingangsanschluß eines A/D-Umsetzer
55 verbunden sind. Mit dem anderen Eingangsanschluß der
Vergleichsschaltung 50 ist ein als Temperatureinstellkreis vorgesehener
Regelwiderstand 49 über einen Umschalter S 2 verbunden.
Ein Ende des Regelwiderstandes 49 ist geerdet, während an
seinem anderen Ende eine Spannung von hohem Niveau anliegt.
Ein bewegliches Kontaktstück des Regelwiderstandes 49 ist mit
einem Kontaktanschluß des Umschalters S 2 verbunden. Ein fester
Kontaktanschluß des Umschalters S 2 ist mit dem anderen
Eingangsanschluß der Vergleichsschaltung 50 und der andere feste
Kontaktanschluß mit einer Steuerschaltung 52 verbunden. Ein
Ausgangsanschluß der Vergleichsschaltung 50 ist über einen Verstärker
51 an die erste Heizeinrichtung 42 angeschlossen. Ein Ausgangsanschluß
des A/D-Umsetzers 55 ist mit einem Anzeigegerät 54
verbunden, um die von jedem der Temperaturfühler 45, 46 und 47
festgestellte Temperatur anzuzeigen. Die Steuerschaltung 52 ist
sowohl mit der Heizeinrichtung 42 als auch mit einer Speichereinrichtung
53 verbunden.
Im Betrieb erfolgt die anfängliche Einstellung der Temperatur
zunächst über die Temperatursteuerung. Wie Fig. 5 zeigt, ist
auf der Heizeinrichtung 42 des Objekttisches 41 ein Kulturbehälter
44 angeordnet, der die zu untersuchende Kultur
44 a, z. B. eine Zellkultur, enthält. Vor Beginn der Untersuchung
wird der erste Temperaturfühler 45 an der ersten
Stelle oder an einer Stelle in der Nähe des zu beobachtenden
Bereichs des Kulturbehälters 44 angeordnet, und
Korrelationsdaten zwischen einer ersten Temperatur an der ersten
Stelle und einer zweiten Temperatur an der zweiten Stelle
werden aufgezeichnet. Der Umschalter S 1 in der Wählerschaltung
48 wird so umgelegt, daß das Ausgangssignal des Temperaturfühlers
45 einem Eingangsanschluß der Vergleichsschaltung
50 zugeführt wird, und der Umschalter S 2 wird an die
Vergleichsschaltung 50 angeschlossen, so daß die Temperatur der
Heizeinrichtung 42 durch Voreinstellung einer Temperatur mit Hilfe
des Regelwiderstandes 49 über die Vergleichsschaltung 50 gesteuert
wird. Wenn vom Anzeigegerät 54 bestätigt wird, daß die
vom ersten Temperaturfühler 45 festgestellte erste Temperatur
den voreingestellten Wert erreicht hat, wird die erste Temperatur
in die Speichereinrichtung 53 gespeichert. Anschließend
wird der Umschalter S 1 auf den zweiten Temperaturfühler
46 umgelegt. Dann wird die von diesem Temperaturfühler
festgestellte zweite Temperatur vom Anzeigegerät 54 angezeigt
und in die Speichereinrichtung 53 eingegeben. Damit sind in der
Speichereinrichtung 53 die Korrelationsdaten zwischen der ersten
voreingestellten Temperatur und der zweiten Temperatur
gespeichert. Es liegt auf der Hand, daß mit einer Änderung
der voreingestellten Temperatur in der Speichereinrichtung 53 weitere
Korrelationsdaten zwischen einer ersten und einer zweiten Temperatur
gespeichert werden.
Wenn bei der Probenheizanordnung die anfängliche Temperatureinstellung
in der vorstehend beschriebenen Weise beendet ist,
erfolgt die Betrachtung der erhitzten Kultur 44 a unter dem
Mikroskop wie folgt. Zu diesem Zeitpunkt ist der erste
Temperaturfühler 45 aus dem Kulturbehälter 44
entfernt worden, und die Kultur ist zum Mikroskopieren bereit.
Ferner liegt der erste Umschalter S 1 am zweiten
Temperaturfühler 46 und der Umschalter S 2 an der Steuerschaltung
52. Der Regelwiderstand 49 wird auf die zu steuernde,
vorherbestimmte Temperatur eingestellt, mit anderen Worten
eine Stellung, die der ersten Temperatur entspricht. Folglich
wird eine Spannung erzeugt, die der mit dem Regelwiderstand
49 bestimmten Stellung entspricht. Entsprechend der
voreingestellten Temperatur wird eine zweite Temperatur mit
einem Digitalwert erzeugt, der in einem zur Steuerschaltung
52 gehörenden, aber nicht gezeigten A/D-Umsetzer umgewandelt
wird. Dieser Wert wird mit dem Ausgang des A/D-Umsetzers 55
in einer nicht gezeigten Vergleichsschaltung verglichen und
das Vergleichsergebnis an die Heizeinrichtung 42 angelegt, um die
Temperatur an der zweiten Stelle der Heizeinrichtung 42 auf den
zweiten Temperaturwert zu regeln, der der voreingestellten
Temperatur entspricht. Damit wird die Temperatur an der ersten
Stelle bzw. der Stelle in der Nähe des zu betrachtenden
Teils der Kultur 44 a auf den Wert der voreingestellten Temperatur
geregelt. Es sei noch erwähnt, daß beim Mikroskopieren
mit dem gleichen Kulturbehälter und einer Kultur
von gleicher Menge die Temperatursteuerung mit diesem Ausführungsbeispiel
der Probenheizanordnung auf der Grundlage von
im voraus gespeicherten Korrelationsdaten ordnungsgemäß durchgeführt
werden kann, ohne daß der Temperaturfühler 45
neu angeordnet werden muß.
Ferner sei darauf hingewiesen, daß bei einer Steuerung einer
mit dem entsprechenden Temperaturfühler 45 bzw. 46 festgestellten
ersten und zweiten Temperatur aufgrund einer Temperaturabweichung
von der Umgebungstemperatur des Mikroskops, die mit
Hilfe des dritten Temperaturfühlers 47 wahrgenommen
wird, eine genauere Temperatursteuerung erreicht
wird, die von der Umgebungstemperatur nicht beeinträchtigt
ist.
Bei der in Fig. 7 gezeigten Anordnung wird als Kulturbehälter
eine Mikrotestplatte 60 benutzt, und der
Temperaturfühler 45 ist in einer Zelle 60 a der Mikrotestplatte
60 angeordnet, die sich in der Betrachtungsstellung
befindet. Der zweite Temperaturfühler 46 ist in
einer anderen als der Zelle 60 a, z. B. in der dieser benachbarten
Zelle 60 b angeordnet. Die Temperatursteuerung ist
die gleiche wie bei dem in Fig. 5 und 6 gezeigten Ausführungsbeispiel.
Bei dem vorstehend beschriebenen Aufbau ist die erste Heizeinrichtung
auf einem Teil des Objekttisches des Mikroskops vorgesehen;
aber die Erfindung ist auch bei einer Probenheizanordnung
zu verwirklichen, bei der eine Heizkammer auf der Oberseite
eines Objekttisches gebildet ist,
ebenso wie bei einer Anordnung,
die anstelle der hier beschriebenen Heizeinrichtung eine
Kühleinrichtung enthält. Die zu mikroskopierenden Kulturen sind
nicht auf Zellkulturen beschränkt; es lassen sich auch Keime,
Metallproben und dgl. untersuchen. Ein Temperaturfühler
kann an beliebiger Stelle angeordnet sein. Außerdem kann eine
Vielzahl von Temperaturfühlern vorgesehen sein, um eine
unterteilte Steuerung der Heizeinrichtung zu erzielen, bei
der die Temperaturverteilung innerhalb des Beobachtungsfeldes
nach Wahl steuerbar ist. Die in Fig. 6 gezeigte elektrische
Schaltungsanordnung ist lediglich ein Beispiel, und es können
auch andere Schaltkreise benutzt werden. Insbesondere beim
Einbau eines Mikrorechners kann eine komplizierte Programmsteuerung
durchgeführt werden.
Bei dem in Fig. 8 gezeigten dritten Ausführungsbeispiel der
Probenheizanordnung hat ein umgekehrtes Mikroskop einen Objekttisch
71 mit einer Öffnung 71 b in der Oberseite, die eine
Stufe 71 c aufweist und mit einer Öffnung 71 a für die Betrachtung
in Verbindung steht, deren Durchmesser das Einsetzen
eines Objektivs 75 erlaubt. In die Öffnung 71 b ist eine
Zwischenauflage 80 abnehmbar eingesetzt, deren Außendurchmesser
im wesentlichen dem Innendurchmesser der Öffnung 71 b entspricht.
Die untere Umfangskante der Zwischenauflage 80 liegt dabei an
der Stufe 71 c an, während ihre Oberseite im wesentlichen mit
der Oberseite des Objekttisches 71 in einer Ebene liegt. Im
wesentlichen im mittleren Teil der Zwischenauflage 80 ist eine
Beobachtungsöffnung 80 a vorgesehen. Zum
Erwärmen der Zwischenauflage 80 dient eine erste Heizeinrichtung 81,
beispielsweise eine Heizplatte, die an der Rückseite der
Zwischenauflage 80 in solch einem Bereich befestigt ist, daß er
das Beobachtungsfeld nicht behindert wird. Zum Feststellen der
Oberflächentemperatur ist an der Zwischenauflage 80 ein
Temperaturfühler 82, z. B. ein Chromnickel- und ein Platinfühler,
befestigt. In einem Kulturbehälter 73
ist eine Kultur 73 a enthalten. Aus der Zeichnung geht auch ein
Kondensor 74 hervor.
Fig. 9 zeigt ein Beispiel zur Temperatursteuerung der ersten
Heizeinrichtung 81. Eine Steuerschaltung 84 ist mit einem
Digitalschalter 83 und mit einem Temperaturfühler 82 verbunden,
um eine Temperatur von Hand einzustellen. Die Steuerschaltung
84 vergleicht die Oberflächentemperatur der Zwischenauflage
80, die vom Temperaturfühler 82 wahrgenommen wird, mit
einer im voraus mittels des Digitalschalters 83 eingestellten
Temperatur, um die Stromzufuhr zur Heizeinrichtung 81 zu steuern,
so daß also die Temperatur der Zwischenauflage 80 durch
Rückkopplung gesteuert bzw. geregelt wird. Es liegt auf der Hand,
daß auch eine anders aufgebaute elektrische Schaltung als die
hier beschriebene benutzt werden kann.
Im Betrieb wird zunächst eine vorherbestimmte Temperatur, z. B.
die optimale Temperatur einer Zellkultur, wie 37°C, mit Hilfe
des Digitalschalters 83 eingestellt, und die Steuerschaltung
84 liefert der Heizeinrichtung 81 Strom, um die Zwischenauflage
80 zu erwärmen. Durch Vergleich der vom Temperaturfühler
82 festgestellten Oberflächentemperatur der Zwischenauflage
80 mit der mittels des Digitalschalters 83 voreingestellten
Temperatur wird der zur Heizeinrichtung 81 fließende Strom
im Wege der Rückkopplung oder einer EIN-AUS-Steuerung
auf der Basis der Temperaturdifferenz gesteuert, damit
die Zwischenauflage 80 auf der vorherbestimmten Temperatur
gehalten werden kann. Hierbei liegt die Oberseite der Zwischenauflage
80 in einer Ebene mit der Oberseite des Objekttisches
71, und der Objekttisch 71 hat keinerlei Vorsprung und ist
vollständig eben, so daß selbst ein großer Beobachtungsbehälter
stabil und eben aufgesetzt werden kann. Die Beobachtungsstellung
oder die Position der Scharfeinstellung der Kultur 73 a ist
nicht angehoben, so daß auch ein Objektiv mit starker Vergrößerung,
dessen Betätigungsbereich begrenzt ist, wie früher
benutzt werden kann. Ferner ist die Zwischenauflage 80 vom
Objekttisch 71 abnehmbar, so daß nur bei Bedarf eine Zwischenauflage
80 mit eingebauter Heizeinrichtung 81 und eingebautem
Temperaturfühler 82 am Objekttisch angebracht werden kann.
Aber die Heizeinrichtung 81 und der Temperaturmeßfühler 82
lassen sich auch nachträglich in die Zwischenauflage 80
einbauen.
Bei der in Fig. 10 gezeigten Abwandlung der ersten Heizeinrichtung
ist am Objekttisch 71 und an der Zwischenauflage 80 eine
Steckverbindung 85, 86 vorgesehen, die für Stromzufuhrleitungen
zur Heizeinrichtung und für Meßleitungen zu den Temperaturfühlern
dient und beim Anbringen der Zwischenauflage
80 am Objekttisch 71 eine automatische Koppelung bewirkt.
Auf diese Weise läßt sich die Zwischenauflage 80 leicht
anbringen und abnehmen.
Fig. 11 zeigt eine Anordnung, bei der die Zwischenauflage
90 ein keramisches Bauteil ist, in das
die Heizeinrichtung 90 a integriert ist. Die Anordnung besteht
beispielsweise aus einem in Fig. 12 gezeigten oder
einem anderen Widerstandsmuster, welches auf eine Seite
des aus Tonerde bestehenden Körpers, der die Zwischenauflage
bildet, aufgedruckt ist. Nach dem Überziehen der Tonerde mit
einer isolierenden Schutzschicht wird die Einheit insgesamt
einem Sinterverfahren bei hoher Temperatur ausgesetzt. Bei
dem in Fig. 12 gezeigten Widerstandsmuster 90 a ist die Musterdichte
um eine Beobachtungsöffnung 90 b herum größer als längs
des Umfangs, so daß die Wärmeleistung in der Nähe der Öffnung 90 b
zunimmt. Hierdurch kann der Temperaturabfall in der Nähe des
Betrachtungsfeldes aufgrund der Wärmeentwicklung in der Nachbarschaft
der Öffnung 90 b ausgeglichen werden.
Bei dem in Fig. 13 gezeigten Aufbau ist die erste Heizeinrichtung 91
schichtartig zwischen metallischen Platten
an der Oberseite der Zwischenauflage 92 befestigt, die
eine Beobachtungsöffnung 92 a hat. Die Heizeinrichtung
91 ist völlig mit Isolierschichten, z. B. aus Silikonkautschuk
und mit wärmebeständigen Filmen beschichtet und
enthält ein Widerstandsmuster der in Fig. 12
gezeigten oder einer anderen Gestalt und einen Temperaturfühler,
wenn dafür Bedarf besteht. Der in Fig. 11 und 13 gezeigte
Aufbau verursacht geringere Herstellungskosten und
zeichnet sich dadurch aus, daß er gut wasserdicht ist.
Fig. 14 zeigt eine Zwischenauflage 94 mit einer
Beobachtungsöffnung 94 b. Diese Zwischenauflage
ist für einen Kulturbehälter 93, beispielsweise in
Form einer aus Kunststoff bestehenden Laborschale, bestimmt,
die an ihrer Unterseite einen ringförmigen Vorsprung 93 a zum
Schutz vor Beschädigung hat. In der Zwischenauflage 94 ist
eine Nut 94 a von einer dem ringförmigen Vorsprung 93 a am Boden
des Kulturbehälters 93 entsprechenden Gestalt in
der Oberseite ausgebildet. Wenn der Kulturbehälter 93
auf die Zwischenauflage 94 aufgesetzt wird, tritt der
ringförmige Vorsprung 93 a in die Nut 94 a ein, und der Boden des
Kulturbehälters 93 ruht auf der Oberseite der Zwischenauflage
94. So kann der Kulturbehälter 93 vorteilhaft durch
die Zwischenauflage 94 bei gleichmäßiger Temperaturverteilung
erwärmt werden. Wenn verschiedene Arten von Kulturbehältern
benutzt werden, kann eine Vielzahl von Zwischenauflagen
94 mit Nuten von entsprechender Art für die Kulturbehälter
oder eine Zwischenauflage mit einer Vielzahl
von Nuten entsprechend den verschiedenen Arten von Kulturbehältern
vorgesehen werden.
Fig. 15 zeigt eine Zwischenauflage 95 mit einer Beobachtungsöffnung
95 b, deren Umfangsfläche 95 a eine solche
Gestalt hat, daß ihr mit der inneren Umfangsfläche des
Objekttisches 71 beim Anbringen der Zwischenauflage 95 am
Objekttisch 71 in Berührung tretender Bereich klein ist. Wie
Fig. 15 zeigt, hat z. B. die Umfangsfläche 95 a der Zwischenauflage
95 eine Neigung nach Art eines Kegelstumpfes, der zur
Oberseite der optischen Achse hin verjüngt ist. Mit diesem
Aufbau läßt sich der Wärmeverlust durch Wärmeleitung von der
mittels einer ersten Heizeinrichtung erwärmten Zwischenauflage 95 an
den Objekttisch 71 stark verringern.
Fig. 16 zeigt gegenüber der in Fig. 15 dargestellten
Zwischenauflage abgewandelte Form einer Zwischenauflage 96 mit einer
Beobachtungsöffnung 96 b und einer ringförmigen
Ausnehmung oder Umfangsnut 96 zwischen einem
oberen und unteren Randflansch.
In Fig. 17 ist eine Ausführungsform gezeigt, bei der an der
Zwischenauflage 80 eine Halterung 98 aus federnd nachgiebigem
Werkstoff, z. B. aus rostfreiem Stahlblech, befestigt ist, die
einen eine Kultur 97 a enthaltenden und auf die Zwischenauflage
80 aufgesetzten Kulturbehälter 97 an der Oberseite hält.
Die Halterung 98 enthält eine zusätzliche Heizeinrichtung 99, z. B. einen
Plattenwärmer zum Erwärmen des Kulturbehälters 97 und hat
eine Öffnung 98 a, die auf die Beobachtungsöffnung 80 a in der
Zwischenauflage 80 ausgerichtet ist. Bei diesem Aufbau wird
der Kulturbehälter 97 von entgegengesetzten Seiten mittels
der Zwischenauflage 80 und der Heizeinrichtung 99 erwärmt.
Folglich kann dieser Kulturbehälter 97 rasch auf eine
voreingestellte Temperatur erwärmt werden. An der oberen
Innenseite des Kulturbehälters 97 aufgrund des Temperaturunterschiedes
gegenüber der atmosphärischen Temperatur entstehende
Wassertröpfchen sind daran gehindert, hier anzuhaften,
so daß eine gute Beobachtung möglich ist.
Fig. 18 zeigt eine Probenheizanordnung für ein Mikroskop
gemäß einem vierten Ausführungsbeispiel. Die Probenheizanordnung
weist einen Kulturbehälter 101 aus transparentem
Werkstoff auf, der eine Zellkultur
102 enthält. Auf die Oberseite des Kulturbehälters
101 ist eine transparente Beschichtung 103 aufgedampft,
die einen elektrischen Widerstand hat. Ferner ist eine
Stromversorgungsquelle 104 vorgesehen, die der Beschichtung 103 Strom
zum Erwärmen zuführt, sowie ein Temperaturfühler 105, der
die Temperatur der Kultur 102 im Kulturbehälter
101 feststellt, und eine Steuerschaltung 106, die die Stromzufuhr
von der Stromversorgungsquelle 104 zur Beschichtung 103
auf der Basis des Ausgangssignals des Temperaturfühlers
105 steuert.
Wenn bei dieser Probenheizanordnung von der Stromversorgungsquelle
104 der Beschichtung 103 Strom zugeführt wird, heizt dies
den Kulturbehälter 101 und die Kultur 102 auf. Die
Temperatur der Kultur 102 oder des Kulturbehälters
101 wird vom Temperaturfühler 105 festgestellt. Der von
der Stromversorgungsquelle 104 zur Beschichtung 103 fließende
Strom wird mit Hilfe der Steuerschaltung 106 rückgekoppelt und
gesteuert. Auf diese Weise wird die Temperatur der Kultur 102
oder des Kulturbehälters 101 gleichbleibend gehalten.
Fig. 19 zeigt einen Aufbau, bei dem eine transparente Beschichtung
108 mit elektrischem Widerstand an der Bodenfläche eines
Kulturbehälters 107 in Form einer Laborschale mit einem
Deckel 107 a ausgebildet ist. Fig. 20 zeigt einen Aufbau, bei
dem an der Bodenebene eines Kulturbehälters 109
in Form einer Mikrotestplatte mit einem Deckel 109 a eine
transparente Beschichtung 110 ausgebildet ist.
Mit den in Fig. 19 und 20 gezeigten Probenheizanordnungen
wird die Kultur 102 in einer Weise ähnlich wie mit der Probenheizanordnung
gemäß Fig. 18 erwärmt.
Fig. 21 zeigt eine transparente Beschichtung 111, die durchsichtige
Bereiche 111 a, 111 b aufweist, die aufgrund
unterschiedlichen Materials, verschiedener Dicke oder dgl.
unterschiedliche elektrische Widerstände haben.
Mit dieser Beschichtung kann ein Kulturbehälter 112
bei bestimmter Temperaturverteilung erwärmt werden. Fig. 22
zeigt eine transparente Beschichtung 113, die durchsichtige
Teilbereiche 113 a, 113 b und 113 c aufweist, deren elektrischer
Widerstand sich aufgrund der Musterung und unterschiedlicher
Breite der Beschichtung von
einander unterscheidet. Mit dieser Beschichtung 113 kann ein Kulturbehälter
114 bei spezieller Temperaturverteilung
erwärmt werden.
In Fig. 23 ist eine Probenheizanordnung für ein Mikroskop
gemäß einem fünften Ausführungsbeispiel dargestellt. Hier ist
als Teil des Objekttisches 122 eines umgekehrten Mikroskops
mit einer Öffnung 122 a eine
plattenförmige erste Heizeinrichtung 123 mit einer Beobachtungsöffnung 123 a ausgebildet oder
am Objekttisch 122 befestigt. Ein Kulturbehälter
121 in Form einer Laborschale aus Kunststoff enthält eine Kultur
120 und hat an der Unterseite einen ringförmigen Vorsprung
121 a. Zwischen der Heizeinrichtung 123 und dem Kulturbehälter
121 ist eine Wärmeübertragungsplatte 124 aus einem Werkstoff
von hoher Wärmeleitfähigkeit angeordnet, die so gestaltet ist,
daß sie ins Innere des ringförmigen Vorsprungs 121 a paßt. Die
Wärmeübertragungsplatte ist mit einer Öffnung 124 a für
die Beobachtung versehen (Fig. 24). Die Dicke der Wärmeübertragungsplatte
124 ist so gewählt, daß sie etwas größer ist als die Höhe
des Vorsprungs 121 a, so daß sie über
die ganze Oberfläche hinweg mit dem Boden des Kulturbehälters
121 in Berührung gelangt. Ferner ist die Öffnung
124 a größer als das Betrachtungsfeld des Mikroskops aber
andererseits so klein wie möglich, um für gute Wärmeleitung zu
sorgen.
Wenn bei dieser Konstruktion der Kulturbehälter
121 mit Hilfe der Wärmeübertragungsplatte 124 auf die Oberseite der
Heizeinrichtung 123 aufgesetzt und die Wärmeübertragungsplatte 124
in den Vorsprung 121 a eingepaßt ist, steht die
ganze Bodenfläche des Kulturbehälters 121 in Wärmeberührung
mit der Heizeinrichtung 123. Folglich wird der Kulturbehälter
121 durch Wärmeleitung von der Heizeinrichtung
123 in vorteilhafter Weise erwärmt, und es sind eine
gleichförmige Temperaturverteilung, ein hoher Wärmewirkungsgrad
und eine kurze Ansprechzeit gewährleistet. Wenn beispielsweise
durch Umschalten eines Objektivs 125 das Beobachtungsfeld
geändert wird, können zweckmäßigerweise Wärmeübertragungsplatten
mit Öffnungen unterschiedlicher Größe
aber in der gleichen Gestalt vorbereitet werden. Dann läßt
sich ganz einfach eine Wärmeübertragungsplatte auswählen, die für das
Beobachtungsfeld geeignet ist.
Fig. 25 zeigt eine Wärmeübertragungsplatte 126 mit einer schlitzförmigen
Öffnung 126 a für die Beobachtung. Der Kulturbehälter
121 und die Wärmeübertragungsplatte 126 werden gegenüber der
Heizeinrichtung 123 in Längsrichtung der Öffnung 126 a verschoben
und nur der Kulturbehälter 121 gegenüber der Wärmeübertragungsplatte
126 gedreht, so daß der Kulturbehälter
121 im wesentlichen über seine ganze Oberfläche hinweg betrachtet
werden kann. Da die Fläche der Öffnung 126 a verhältnismäßig
klein ist, kann eine gute Wärmeleitung aufrechterhalten
werden.
Fig. 26 zeigt einen Kulturbehälter 127 in Form
einer Flasche aus Kunststoff mit einem ringförmigen Vorsprung
127 a längs der äußeren Umfangskante am Boden, ähnlich wie im
Fall des Kulturbehälters 121. Zwischen
dem Kulturbehälter 127 und der Heizeinrichtung
123 ist eine Wärmeübertragungsplatte 128 (Fig. 27) angeordnet, die so
gestaltet ist, daß sie ins Innere eines ringförmigen Vorsprungs
127 a paßt. In der Wärmeübertragungsplatte ist eine Vielzahl von
Öffnungen 128 a für die Beobachtung vorgesehen, damit verschiedene
Bereiche des Kulturbehälters 127 betrachtet werden
können. Im Betrieb und in ihrer Wirkung entspricht die Wärmeübertragungsplatte
128 den Wärmeübertragungsplatten 124 oder 126
für den Kulturbehälter 121 in Form einer
Laborschale.
Die Wärmeübertragungsplatten 124, 126, 128 können aus Metall, wie
Aluminium, Messing oder rostfreiem Stahl bestehen. Außerdem
können sie aber auch aus Silikonkautschuk
beispielsweise von hoher Wärmeleitfähigkeit hergestellt
sein. In diesem Fall läßt sich ohne weiteres in einer
Silikonkautschukschicht an einer gewünschten Beobachtungsstelle
eine durchgehende Öffnung vorsehen, indem diese vor dem
Erwärmen markiert und dann z. B. mit einer Schere oder dgl.
ausgeschnitten wird.
Nach der vorstehenden Beschreibung wird auf der ersten Heizeinrichtung
eine Laborschale oder Flasche angebracht. Wenn der Objekttisch
eines Mikroskops oder ein Mikroskop insgesamt in einem Heizkammer
aufgenommen ist, kann aber auch die Verwendung einer
Wärmeübertragungsplatte wirksam sein. Der Grund besteht darin, daß die
Wärmeleitung von dem durch erwärmte Luft erhitzten Objekttisch
durch den Kulturbehälter an die darin enthaltene Kultur
gegenüber der Wärmeleitung von der erwärmten Luft an die Kultur
überwiegt. Außerdem ist der Kulturbehälter nicht auf
die hier erwähnte Laborschale oder Flasche aus Kunststoff beschränkt.
Es können auch andere Kulturbehälter mit einem Vorsprung
oder einer sonstigen Gestaltung am Boden benutzt werden.
Claims (20)
1. Auf einem Mikroskoptisch anbringbare Probenheizanordnung
mit einer zur Aufnahme einer zu untersuchenden Kultur (5 a, 44 a,
73 a, 97 a, 102) ausgebildeten ersten Kammer (4), die eine mit
einer Temperatursteuereinrichtung (14) verbundene erste Heizeinrichtung
(3 a, 42, 81, 90 a, 91, 123) aufweist, und mit einer
die erste Kammer umschließenden zweiten Kammer (16, 30)
dadurch gekennzeichnet,
daß
- - die erste Kammer (4) gegenüber der zweiten Kammer (16, 30) gasdicht abgeschlossen ist,
- - der zweiten Kammer (16, 30) eine zweite Heizeinrichtung (19, 32) zugeordnet ist, und
- - die erste Kammer (4) ein Wassergefäß (23) zur Verhinderung des Austrocknens der Kultur (5 a, 44 a, 73 a, 97 a, 102) und eine Zuleitung (8) für ein von der Kultur (5 a, 44 a, 73 a, 97 a, 102) benötigtes Gas, wie Kohlendioxid, aufweist.
2. Anordnung nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
daß die erste Kammer (4) eine mit einem Deckel (11) verschließbare
Öffnung (4 d) aufweist, durch die die Kultur (5 a, 44 a, 73 a,
87 a, 102) zugänglich ist.
3. Anordnung nach Anspruch 1 oder 2,
dadurch gekennzeichnet,
daß die erste Kammer (4) ein Fenster (10) zur Beobachtung der
Kultur (5 a, 44 a, 73 a, 97 a, 102) aufweist.
4. Anordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 3,
dadurch gekennzeichnet,
daß als zweite Heizeinrichtung (19) ein mit der zweiten Kammer
(16) verbindbares Heißluftgebläse vorgesehen ist.
5. Anordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 3,
dadurch gekennzeichnet,
daß die zweite Heizeinrichtung (32) in der zweiten Kammer (30)
angeordnet ist.
6. Anordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 5,
dadurch gekennzeichnet,
daß mit der Temperatursteuereinrichtung (14) ein erster Temperaturfühler
(45) und ein zweiter Temperaturfühler (46) verbunden
sind, daß der erste Temperaturfühler (45) in einem zur
Aufnahme der Kultur (5 a, 44 a, 73 a, 97 a, 102) vorgesehenen Bereich
der ersten Kammer (4) entfernbar und der zweite Temperaturfühler
(46) außerhalb dieses Bereichs fest angeordnet ist
und daß die Temperatursteuereinrichtung (14) eine Speichereinrichtung
(53) aufweist, die eine vor dem Einbringen der Kultur
(5 a, 44 a, 73 a, 97 a, 102) ermittelte Temperaturkorrelation zwischen
erstem und zweitem Temperaturfühler abspeichert, so daß
die Temperatur der Kultur (5 a, 44 a, 73 a, 97 a, 102) bei entferntem
ersten Temperaturfühler (45) mittels des zweiten Temperaturfühlers
(46) unter Berücksichtigung der Temperaturkorrelation
steuerbar ist.
7. Anordnung nach Anspruch 6,
dadurch gekennzeichnet,
daß ein dritter Temperaturfühler (47) zur Messung der Umgebungstemperatur
des Mikroskops vorgesehen ist, so daß die Temperatur
der Kultur (5 a, 44a, 73 a, 97 a, 102) in Abhängigkeit von der mit
der Umgebungstemperatur korrigierten Temperaturkorrelation
steuerbar ist.
8. Anordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 7,
dadurch gekennzeichnet,
daß die erste Heizeinrichtung (3 a, 42, 81, 90 a, 91, 123) an
einer lösbar am Objekttisch (3, 41, 71, 122) angebrachten Zwischenauflage
(80, 90, 92, 94, 95 ,96) vorgesehen ist.
9. Anordnung nach Anspruch 8,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Zwischenauflage (80, 90, 92, 94, 95, 96) eine Beobachtungsöffnung
(80 a, 90 b, 92 a, 94 b, 95 b, 96 b, 123 a) aufweist und
so im Objekttisch (3, 41, 71, 122) versenkt angeordnet ist, daß
sie mit dessen Oberseite bündig abschließt.
10. Anordnung nach Anspruch 8 oder 9,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Zwischenauflage (80, 90, 92, 94, 95, 96) über eine
Steckverbindung (13; 85, 96) mit einer Stromzufuhrleitung (12)
für die erste Heizeinrichtung (3 a, 42, 81, 90 a, 91, 123) und
eine Meßleitung für wenigstens einen Temperaturfühler (15, 45,
46, 82, 105) verbindbar ist.
11. Anordnung nach einem der Ansprüche 8 bis 10,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Zwischenauflage (90) ein keramisches Bauteil ist, in
das die erste Heizeinrichtung (90 a) integriert ist.
12. Anordnung nach einem der Ansprüche 8 bis 10,
dadurch gekennzeichnet,
daß die erste Heizeinrichtung (81, 91) eine an der Zwischenauflage
(80, 91) befestigte Heizplatte ist.
13. Anordnung nach einem der Ansprüche 8 bis 12,
dadurch gekennzeichnet,
daß die erste Heizeinrichtung (90 a) so ausgebildet ist, daß sie
in der Nähe des Beobachtungsfeldes eine erhöhte Heizleistung
hat.
14. Anordnung nach einem der Ansprüche 8 bis 13,
dadurch gekennzeichnet,
daß in der Oberseite der Zwischenauflage (94) eine Nut (94 a)
zur Aufnahme eines ringförmigen Vorsprungs (93 a) an der Unterseite
eines Kulturbehälters (93) ausgebildet ist.
15. Anordnung nach einem der Ansprüche 8 bis 14,
dadurch gekennzeichnet,
daß zwischen der Zwischenauflage (123) und dem einen ringförmigen
Vorsprung (121 a, 127 a) aufweisenden Kulturbehälter (121,
127) eine Wärmeübertragunsplatte (124, 126, 128) mit einer der
Beobachtung dienenden Öffnung (124a, 126 a, 128 a) angeordnet
ist.
16. Anordnung nach einem der Ansprüche 8 bis 15,
dadurch gekennzeichnet,
daß die der Zwischenauflage (95, 96) so gestaltet ist, ,daß sie
eine nur geringe Flächenberührung mit dem Objekttisch (71) hat.
17. Anordnung nach einem der Ansprüche 8 bis 16,
dadurch gekennzeichnet,
daß an der Zwischenauflage (80) eine Halterung (98) befestigt
ist, die einen Kulturbehälter (97) auf der Zwischenauflage (80)
festhält, eine auf die Beobachtungsöffnung (80 a) der Zwischenauflage
(80) ausgerichtete Öffnung (98 a) aufweist und mit einer
zusätzlichen Heizeinrichtung (99) für den Kulturbehälter (97)
versehen ist.
18. Anordnung nach einem der Ansprüche 8 bis 17,
dadurch gekennzeichnet,
daß die erste Heizeinrichtung von einer elektrischen Widerstand
aufweisenden transparenten Beschichtung (103; 108; 110; 111;
113) auf der Außenseite des Kulturbehälters (101; 107; 109;
112; 114) gebildet ist.
19. Anordnung nach Anspruch 18,
dadurch gekennzeichnet,
daß die transparente Beschichtung (111) Bereiche (111 a, 111 b)
mit unterschiedlichen elektrischen Widerständen aufweist.
20. Anordnung nach Anspruch 18,
dadurch gekennzeichnet,
daß nur Teilbereiche (113 a, 113 b, 113 c) des Kulturbehälters
(114) eine transparente Beschichtung (113) aufweisen.
Applications Claiming Priority (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4481484U JPS60156520U (ja) | 1984-03-28 | 1984-03-28 | 発熱装置 |
JP4481584U JPS60156996U (ja) | 1984-03-28 | 1984-03-28 | 顕微鏡観察のための培養装置 |
JP4564384U JPS60156521U (ja) | 1984-03-29 | 1984-03-29 | 顕微鏡の試料保温装置 |
JP6177084A JPH061299B2 (ja) | 1984-03-29 | 1984-03-29 | 顕微鏡の試料保温装置 |
JP4822884U JPS60161315U (ja) | 1984-04-02 | 1984-04-02 | 顕微鏡の試料保温装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3511165A1 DE3511165A1 (de) | 1985-10-03 |
DE3511165C2 true DE3511165C2 (de) | 1988-01-21 |
Family
ID=27522428
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19853511165 Granted DE3511165A1 (de) | 1984-03-28 | 1985-03-27 | Probenheizeinrichtung fuer mikroskope |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4629862A (de) |
DE (1) | DE3511165A1 (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE10116938C1 (de) * | 2001-03-30 | 2002-11-07 | Univ Dresden Tech | Zellkammer für die Lichtmikroskopie |
Families Citing this family (53)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4896966A (en) * | 1986-08-15 | 1990-01-30 | Hamilton-Thorn Research | Motility scanner and method |
US5257128A (en) * | 1988-06-22 | 1993-10-26 | Board Of Regents, The University Of Texas System | Freezing/perfusion microscope stage |
US5181382A (en) * | 1991-08-02 | 1993-01-26 | Middlebrook Thomas F | Heating/cooling or warming stage assembly with coverslip chamber assembly and perfusion fluid preheater/cooler assembly |
US5241415A (en) * | 1992-02-19 | 1993-08-31 | Berlex Laboratories, Inc. | Heated recording chamber |
US6180061B1 (en) | 1992-05-11 | 2001-01-30 | Cytologix Corporation | Moving platform slide stainer with heating elements |
US20040191128A1 (en) * | 1992-05-11 | 2004-09-30 | Cytologix Corporation | Slide stainer with heating |
US5343018A (en) * | 1992-10-30 | 1994-08-30 | Wisconsin Alumni Research Foundation | Microscope lens and stage heater with flexible objective lens casing heater sleeve |
US5410429A (en) * | 1993-04-06 | 1995-04-25 | Daniel C. Focht | Heater assembly for microscope objectives |
US5552321A (en) * | 1993-08-24 | 1996-09-03 | Bioptechs Inc. | Temperature controlled culture dish apparatus |
US5598888A (en) * | 1994-09-23 | 1997-02-04 | Grumman Aerospace Corporation | Cryogenic temperature gradient microscopy chamber |
US6004512A (en) * | 1995-12-08 | 1999-12-21 | Mj Research | Sample cartridge slide block |
WO1997031293A1 (en) * | 1996-02-22 | 1997-08-28 | New Image Industries, Inc. | Apparatus and method for eliminating the fogging of intraoral camera images |
JP3480546B2 (ja) | 1997-02-26 | 2003-12-22 | セイコーインスツルメンツ株式会社 | 走査型プローブ顕微鏡 |
US6493135B1 (en) * | 1998-02-17 | 2002-12-10 | Leica Microsystems Heidelberg Gmbh | Temperature regulated microscope |
JP3847559B2 (ja) * | 1998-02-27 | 2006-11-22 | ベンタナ・メデイカル・システムズ・インコーポレーテツド | 独立スライド加熱器を有する自動化分子病理学装置 |
US6183693B1 (en) * | 1998-02-27 | 2001-02-06 | Cytologix Corporation | Random access slide stainer with independent slide heating regulation |
US6582962B1 (en) | 1998-02-27 | 2003-06-24 | Ventana Medical Systems, Inc. | Automated molecular pathology apparatus having independent slide heaters |
US6855559B1 (en) | 1998-09-03 | 2005-02-15 | Ventana Medical Systems, Inc. | Removal of embedding media from biological samples and cell conditioning on automated staining instruments |
DE19815827A1 (de) * | 1998-04-09 | 1999-10-14 | Univ Ilmenau Tech | Vorrichtung zur Untersuchung thermischer Vorgänge an Werkstoffproben |
US5904870A (en) * | 1998-05-14 | 1999-05-18 | Midland Manufacturing Corp. | Laser lens heater |
US7550298B2 (en) | 1998-09-03 | 2009-06-23 | Ventana Medical Systems, Inc. | Automated immunohistochemical and in situ hybridization assay formulations |
US6855552B2 (en) | 1998-09-03 | 2005-02-15 | Ventana Medical Systems | Automated immunohistochemical and in situ hybridization assay formulations |
US7410753B2 (en) * | 1998-09-03 | 2008-08-12 | Ventana Medical Systems, Inc. | Removal of embedding media from biological samples and cell conditioning on automated staining instruments |
US6544798B1 (en) | 1999-02-26 | 2003-04-08 | Ventana Medical Systems, Inc. | Removal of embedding media from biological samples and cell conditioning on automated staining instruments |
JP3483544B2 (ja) * | 2000-12-13 | 2004-01-06 | 株式会社東海ヒット | 透明面温度センサ及び透明面温度制御装置 |
US7425306B1 (en) | 2001-09-11 | 2008-09-16 | Ventana Medical Systems, Inc. | Slide heater |
US7270785B1 (en) | 2001-11-02 | 2007-09-18 | Ventana Medical Systems, Inc. | Automated molecular pathology apparatus having fixed slide platforms |
US11249095B2 (en) | 2002-04-15 | 2022-02-15 | Ventana Medical Systems, Inc. | Automated high volume slide processing system |
US7468161B2 (en) | 2002-04-15 | 2008-12-23 | Ventana Medical Systems, Inc. | Automated high volume slide processing system |
JP4299150B2 (ja) | 2002-04-15 | 2009-07-22 | ベンタナ・メデイカル・システムズ・インコーポレーテツド | 大容量のスライドを自動染色するシステム |
JP4091599B2 (ja) | 2002-04-26 | 2008-05-28 | ヴェンタナ メディカル システムズ インコーポレイテッド | 固定スライドプラットホームを有する自動化された分子病理学装置 |
JP4562165B2 (ja) * | 2002-08-28 | 2010-10-13 | 株式会社東海ヒット | 顕微鏡観察用培養器 |
JP2004206069A (ja) * | 2002-10-31 | 2004-07-22 | Tokai Hit:Kk | 顕微鏡観察用加温装置 |
US7091035B2 (en) * | 2002-12-30 | 2006-08-15 | The United States Of America As Represented By The Department Of Health And Human Services | Cell culturing and storage systems, devices and methods |
EP1686169B1 (de) * | 2003-09-22 | 2008-12-31 | Hirata Corporation | Lösungstemperaturkontrollvorrichtung in biologischer zellbeobachtungskammer |
DE502004001262D1 (de) * | 2003-09-23 | 2006-10-05 | Evotec Technologies Gmbh | Klimakammer für mikroskope |
US7799559B2 (en) * | 2003-10-24 | 2010-09-21 | Olympus Corporation | Culture microscope apparatus |
EP1697719B1 (de) * | 2003-12-23 | 2018-09-19 | Ventana Medical Systems, Inc. | Verfahren und vorrichtung für effiziente dünnfilmfluid-bearbeitung auf ebenen flächen |
ITNA20040016A1 (it) * | 2004-04-02 | 2004-07-02 | High Tech Consulting S R L In | Incubatore a co2 da microscopio con circolazione interna di acqua o altro fluido a temperatura controllata |
JP4911722B2 (ja) | 2004-06-07 | 2012-04-04 | フルイディグム コーポレイション | 微小流体素子のための光学レンズシステムおよび方法 |
FI116946B (fi) * | 2004-07-09 | 2006-04-13 | Chip Man Technologies Oy | Laitteisto solujen kuvaamiseksi |
JP4658565B2 (ja) * | 2004-10-28 | 2011-03-23 | オリンパス株式会社 | 顕微鏡及び顕微鏡の加温方法 |
JP4668609B2 (ja) * | 2004-12-28 | 2011-04-13 | オリンパス株式会社 | 培養観察装置 |
US20060252025A1 (en) * | 2004-12-30 | 2006-11-09 | Ventana Medical Systems, Inc. | Low temperature deparaffinization |
JP4354446B2 (ja) * | 2005-10-13 | 2009-10-28 | 株式会社東海ヒット | 顕微鏡ステージ及び顕微鏡観察用ユニット |
WO2007145198A1 (ja) * | 2006-06-16 | 2007-12-21 | Sanyo Electric Co., Ltd. | 培養物観察システム |
US10184862B2 (en) | 2008-11-12 | 2019-01-22 | Ventana Medical Systems, Inc. | Methods and apparatuses for heating slides carrying specimens |
GB0907802D0 (en) * | 2009-05-07 | 2009-06-17 | Dunning Keith J | Portable microscope |
WO2012127523A1 (ja) * | 2011-03-22 | 2012-09-27 | 株式会社東海ヒット | 顕微鏡観察用培養装置およびその使用方法 |
US8763161B2 (en) | 2012-02-10 | 2014-06-24 | The United States of America, as represented by the Secretary of Commerce, The National Institute of Standards and Technology | Zero thermal expansion, low heat transfer, variable temperature sample assembly for probe microscopy |
CN111089980B (zh) | 2013-12-13 | 2023-08-15 | 文塔纳医疗系统公司 | 生物样本的自动化组织学处理及相关的技术 |
JP2018102228A (ja) * | 2016-12-27 | 2018-07-05 | オリンパス株式会社 | 観察装置 |
WO2021092612A1 (en) * | 2019-11-08 | 2021-05-14 | Colgate-Palmolive Company | Apparatus, system, and method for testing biological samples |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CA504783A (en) * | 1954-08-03 | W. Matthews Frederick | Microscope hot-stage | |
DE457990C (de) * | 1926-03-19 | 1928-03-28 | Krut B Eisenberg Dr | Heiz- und kuehlbarer Mikroskop-Objekttisch |
DE599600C (de) * | 1932-04-23 | 1934-07-05 | Leitz Ernst Gmbh | Heiztisch fuer Mikroskope |
US2995643A (en) * | 1958-04-30 | 1961-08-08 | Reichert Optische Werke Ag | Heating device for a microscope |
DE1283558B (de) * | 1966-02-18 | 1968-11-21 | Akad Wissenschaften Ddr | Heiz- und Kuehlsystem fuer mikroskopische Praeparatehalter |
CH451550A (de) * | 1967-06-12 | 1968-05-15 | Mepag Ag | Heiztisch für thermo-mikroskopische Untersuchungen |
JPS5741774A (en) * | 1980-08-26 | 1982-03-09 | Shinko Electric Co Ltd | Automatic ticket checking machine |
-
1984
- 1984-11-15 US US06/671,732 patent/US4629862A/en not_active Expired - Fee Related
-
1985
- 1985-03-27 DE DE19853511165 patent/DE3511165A1/de active Granted
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE10116938C1 (de) * | 2001-03-30 | 2002-11-07 | Univ Dresden Tech | Zellkammer für die Lichtmikroskopie |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE3511165A1 (de) | 1985-10-03 |
US4629862A (en) | 1986-12-16 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE3511165C2 (de) | ||
DE4109908C2 (de) | Anordnung zur Prüfung von Halbleiter-Wafern | |
DE4012600C2 (de) | Mikrotom | |
DE4217868C2 (de) | Temperierbare Multiküvette | |
EP1575706B1 (de) | Klimakammer für mikroskope | |
EP1850110A1 (de) | Messgerät zur gravimetrischen Feuchtigkeitsbestimmung | |
EP3175279B1 (de) | Lichtmikroskop mit einem probentisch für die kryo-mikroskopie | |
DE19707583A1 (de) | Säuglings-Brutapparat | |
AT522439B1 (de) | Inkubator für biologisches Material | |
DE19842797C1 (de) | Probenhalterung für eine partikelförmige flüssigkeitshaltige Materialprobe | |
DE3512457C1 (de) | Vorrichtung zu Untersuchungen mit der Methode der Hochdruck-Duennschicht-Chromatographie | |
DE10259251A1 (de) | Kultivierkammer an einem Mikroskopgestell | |
DE112015001149T5 (de) | Kryostationssystem | |
DE102006034534A1 (de) | Anordnung zur Temperierung des Probenraumes an einem Mikroskop | |
EP0129203A2 (de) | Vorrichtung zum Auswerten eines flachen Testträgers | |
DE3301970A1 (de) | Analytischer ofen | |
DE1622996C3 (de) | Gefriergerät für ein Mikrotom | |
DE4305405C1 (de) | Vorrichtung zum Untersuchen eines Objekts, das sich in einer ein Substrat bedeckenden Perfusionsflüssigkeit befindet | |
EP0202599B1 (de) | Kühlkammer zum Bearbeiten von Objekten für mikroskopische oder elektronenmikroskopische Untersuchungen | |
DE102017111287B4 (de) | Lichtmikroskop mit temperierbarem Kondensor | |
DE4400815A1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum Einbetten eines Gegenstandes, insbesondere eines Probematerials, in eine Einbettmasse | |
DE102008053942A1 (de) | Inkubatorvorrichtung und Verfahren | |
EP0195769A2 (de) | Küvette zur Messung von Dampf- bzw. Gasspektren | |
DE20318094U1 (de) | Kryostat mit einer Wärmeplatte | |
DE3918111C2 (de) | Überwachungsgerät |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8320 | Willingness to grant licences declared (paragraph 23) | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |