DE3628017C2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- DE3628017C2 DE3628017C2 DE3628017A DE3628017A DE3628017C2 DE 3628017 C2 DE3628017 C2 DE 3628017C2 DE 3628017 A DE3628017 A DE 3628017A DE 3628017 A DE3628017 A DE 3628017A DE 3628017 C2 DE3628017 C2 DE 3628017C2
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- substrate
- film
- insulating film
- flow meter
- heating resistor
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 31
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 28
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 24
- 238000005530 etching Methods 0.000 claims description 16
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims description 15
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 13
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 10
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 229910000990 Ni alloy Inorganic materials 0.000 claims description 3
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910021332 silicide Inorganic materials 0.000 claims description 3
- FVBUAEGBCNSCDD-UHFFFAOYSA-N silicide(4-) Chemical compound [Si-4] FVBUAEGBCNSCDD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000002356 single layer Substances 0.000 claims description 3
- 238000004528 spin coating Methods 0.000 claims description 3
- 238000005507 spraying Methods 0.000 claims description 3
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 claims description 3
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 claims description 2
- 238000007650 screen-printing Methods 0.000 claims description 2
- QCWXUUIWCKQGHC-UHFFFAOYSA-N Zirconium Chemical compound [Zr] QCWXUUIWCKQGHC-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 claims 1
- 229910052726 zirconium Inorganic materials 0.000 claims 1
- 239000010408 film Substances 0.000 description 48
- 239000012530 fluid Substances 0.000 description 22
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 7
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 7
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 7
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical group [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 6
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 6
- 239000012528 membrane Substances 0.000 description 5
- 235000011837 pasties Nutrition 0.000 description 5
- YCIMNLLNPGFGHC-UHFFFAOYSA-N catechol Chemical compound OC1=CC=CC=C1O YCIMNLLNPGFGHC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 4
- KWYUFKZDYYNOTN-UHFFFAOYSA-M Potassium hydroxide Chemical compound [OH-].[K+] KWYUFKZDYYNOTN-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 3
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 3
- 101100346656 Drosophila melanogaster strat gene Proteins 0.000 description 2
- PIICEJLVQHRZGT-UHFFFAOYSA-N Ethylenediamine Chemical compound NCCN PIICEJLVQHRZGT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N Fluorane Chemical compound F KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 2
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 2
- 238000010292 electrical insulation Methods 0.000 description 2
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 2
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 2
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 2
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 description 2
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052845 zircon Inorganic materials 0.000 description 2
- GFQYVLUOOAAOGM-UHFFFAOYSA-N zirconium(iv) silicate Chemical compound [Zr+4].[O-][Si]([O-])([O-])[O-] GFQYVLUOOAAOGM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- GRYLNZFGIOXLOG-UHFFFAOYSA-N Nitric acid Chemical compound O[N+]([O-])=O GRYLNZFGIOXLOG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000004026 adhesive bonding Methods 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000007864 aqueous solution Substances 0.000 description 1
- 239000003153 chemical reaction reagent Substances 0.000 description 1
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 230000018109 developmental process Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- -1 etc.) Chemical compound 0.000 description 1
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 1
- 239000003292 glue Substances 0.000 description 1
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 229910017604 nitric acid Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000003921 oil Substances 0.000 description 1
- 230000007261 regionalization Effects 0.000 description 1
- 238000005245 sintering Methods 0.000 description 1
- 239000007921 spray Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01F—MEASURING VOLUME, VOLUME FLOW, MASS FLOW OR LIQUID LEVEL; METERING BY VOLUME
- G01F1/00—Measuring the volume flow or mass flow of fluid or fluent solid material wherein the fluid passes through a meter in a continuous flow
- G01F1/68—Measuring the volume flow or mass flow of fluid or fluent solid material wherein the fluid passes through a meter in a continuous flow by using thermal effects
- G01F1/684—Structural arrangements; Mounting of elements, e.g. in relation to fluid flow
- G01F1/6845—Micromachined devices
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N3/00—Scanning details of television systems; Combination thereof with generation of supply voltages
- H04N3/02—Scanning details of television systems; Combination thereof with generation of supply voltages by optical-mechanical means only
- H04N3/08—Scanning details of television systems; Combination thereof with generation of supply voltages by optical-mechanical means only having a moving reflector
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N3/00—Scanning details of television systems; Combination thereof with generation of supply voltages
- H04N3/02—Scanning details of television systems; Combination thereof with generation of supply voltages by optical-mechanical means only
- H04N3/08—Scanning details of television systems; Combination thereof with generation of supply voltages by optical-mechanical means only having a moving reflector
- H04N3/09—Scanning details of television systems; Combination thereof with generation of supply voltages by optical-mechanical means only having a moving reflector for electromagnetic radiation in the invisible region, e.g. infrared
Description
Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zum
Herstellen eines thermischen Durchflußmessers nach dem
Oberbegriff des Patentanspruchs 1.
Ein gattungsgemäßes Verfahren zum Herstellen eines
thermischen Durchflußmessers ist bereits aus der
EP-01 37 687 bekannt. Der bekannte thermische Durch
flußmesser hat überall, also auch im Bereich der
Widerstandsstruktur, eine der Substratdicke entspre
chende Stärke. Aufgrund dieser Ausgestaltung hat der
bekannte Durchflußmesser zu lange Ansprechzeiten und
eine unzureichende Genauigkeit. Andererseits ist jedoch
das Herstellungsverfahren dieses bekannten Durchfluß
messers durch Einsetzen des bekannten Maskenätzver
fahrens für eine Großserienproduktion geeignet.
Ein weiteres Verfahren zum Herstellen eines thermischen
Durchflußmessers ist bereits aus der DE-OS 29 25 975
bekannt. Bei dem Herstellen des bekannten thermischen
Durchflußmessers wird zunächst die aus Heizwiderstand
und Temperaturmeßwiderstand bestehende Widerstands
struktur auf einen durch eine dünne Trägerfolie gebil
deten, elektrisch isolierenden Film aufgebracht. An
schließend wird die Folie auf das bereits eine Aus
nehmung aufweisende Substrat aufgeklebt. Bei der Her
stellung dieses bekannten thermischen Durchflußmessers
sind also verschiedenartigste Arbeitsschritte erfor
derlich, die einer Massenherstellung des Durchfluß
messers entgegenstehen.
Aus der DE-AS 23 02 615 ist es bekannt, einen tempera
turabhängigen elektrischen Widerstand herzustellen,
indem zunächst eine Vertiefung in einen Tragkörper
geätzt wird, die anschließend mi einer dünnen, iso
lierenden Folie, welche den temperaturabhängigen Wider
stand in Form einer mäanderförmigen Leiterbahn trägt,
überklebt wird. Auch bei diesem bekannten Verfahren ist
es also erforderlich, die dünne isolierende Folie, die
den mäanderförmigen Widerstand trägt, durch Kleben mit
dem Tragkörper zu verbinden. Das Herstellen der Klebe
verbindung zwischen der dünnen und empfindlichen iso
lierenden Folie und dem Tragkörper erweist sich als
kritischer Arbeitsschritt, der einer Massenherstellung
nicht angepaßt ist.
Aus der (nich vorveröffentlichten) DE-OS 34 30 075 ist
ein Verfahren zum Herstellen eines thermischen Durch
flußmessers zu entnehmen, der die eingangs genannte
Struktur aufweist, bei dem ein elekrisch isolierender
Film in Form einer Trägerfolie auf ein Substrat auf
gebracht wird, der die Widerstandsstruktur trägt. An
schließend wird das Substrat in einem Bereich unterhalb
der Widerstandsstruktur durch Ätzen mit einer Ausnehmung
versehen.
Gegenüber diesem Stand der Technik liegt der vorliegen
den Erfindung die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren zum
Herstellen eines thermischen Durchflußmessers der ein
gangs genannten Art so weiterzubilden, daß mit leicht
beherrschbaren verfahrenstechnischen Maßnahmen eine
Massenherstellung eines genauen und schnell anspre
chenden Durchflußmessers erzielbar ist.
Diese Aufgabe wird bei einem Verfahren nach dem Ober
begriff des Anspruches 1 durch die im kennzeichnenden
Teil des Anspruches 1 angegebenen Merkmale gelöst.
Bevorzugte Weiterbildungen sind Gegenstand der Unter
ansprüche.
Der thermische Durchflußmesser nach der Erfindung, der
die obige Aufgabe löst sowie zahlreiche weitere Nach
teile des Standes der Technik vermeidet, enthält ein
ätzbares Substrat, einen auf dem Substrat aufgebrach
ten elektrisch isolierenden Film, dessen Ätzcharakte
ristik von der des Substrates verschieden ist, einen
auf dem isolierenden Film aufgebrachten Heizwiderstand
und einen Fluidtemperatur-Meßwiderstand, der auf dem
isolierenden Film in einem vorgegebenen Abstand von
dem Heizwiderstand angeordnet ist, wobei der Abschnitt
des Substrates, der mindestens einem von beiden Wider
ständen, d. h. dem Heizwiderstand und dem Fluidtempe
ratur-Meßwiderstand zugeordnet ist und der Umgebung
dieses Bereiches weggeätzt ist.
In einem bevorzugten Ausführungsbeispiel besteht das
Substrat aus Silizium.
In einem bevorzugten Ausführungsbeispiel besteht der
isolierende Film aus einem einschichtigen Film oder
einem mehrschichtigen Film, der zumindest aus einem
der nachfolgenden Materialien besteht:
Zircon, Stickstoffsilicid und Siliziumoxid. Alternativ hierzu kann der isolierende Film auch aus einer iso lierenden Paste hergestellt sein.
Zircon, Stickstoffsilicid und Siliziumoxid. Alternativ hierzu kann der isolierende Film auch aus einer iso lierenden Paste hergestellt sein.
In einem bevorzugten Ausführungsbeispiel sind der Heiz
widerstand und der Fluidtemperatur-Meßwiderstand aus
Platin, Nickel, einer Nickellegierung oder einem Ther
mistor-Material.
Mit der Erfindung werden folgende Ziele erreicht:
- 1. Es wird ein thermischer Durchflußmesser geschaf fen, bei dem der Heizwiderstand und der Fluid temperatur-Meßwiderstand auf einem einzigen Sub strat angeordnet sind, wobei ein Teil des Sub strates, das zumindest einem dieser Widerstände entspricht sowie die Umgebung dieses Teiles mittels Ätzen entfernt sind, so daß diese Wider stände thermisch voneinander isoliert sind und der Sensor miniaturisiert werden kann;
- 2. es wird ein thermischer Durchflußmesser geschaf fen, der eine ausgezeichnete thermische Isolierung zwischen dem Heizwiderstand und dem Fluidtempera tur-Meßwiderstand aufweist, was zu einer verbes serten Meßgenauigkeit führt;
- 3. es wird ein thermischer Durchflußmesser geschaf fen, der weniger elektrische Energie verbraucht;
- 4. es wird ein thermischer Durchflußmesser geschaf fen, der eine schnelle (thermische) Meßantwort liefert;
- 5. es wird ein thermischer Durchflußmesser geschaf fen, der in Massenproduktion herstellbar ist;
- 6. es wird ein thermischer Durchflußmesser geschaf fen, bei dem der isolierende Film aus einem pastösen Material sein kann, so daß die Herstel lung des isolierenden Filmes unter den Bedingun gen einer Massenproduktion einfach auszuführen ist;
- 7. es wird ein thermischer Durchflußmesser geschaf fen, bei dem der isolierende Film, der durch Sintern eines pastösen Materiales bei hoher Tem peratur hergestellt wird, sehr fest mit dem Sub strat verbunden ist, wodurch eine verbesserte mechanische Festigkeit des fertigen Sensors er reicht wird; und
- 8. es wird ein thermischer Durchflußmesser geschaf fen, bei dem eine gute thermische Isolierung zwischen den beiden Widerständen und dem Substrat vorhanden ist und zwar aufgrund der geringen ther mischen Leitfähigkeit des pastösen Materiales, aus dem der isolierende Film auf dem Substrat ge bildet ist.
Im folgenden wird die Erfindung anhand eines Ausfüh
rungsbeispieles im Zusammenhang mit der Zeichnung aus
führlicher erläutert. Es zeigen
Fig. 1(A), 1(B) und 1(C)
schematische Schnittzeichnungen verschiede
ner Herstellstufen des thermischen Durchfluß
messers nach der Erfindung;
Fig. 2 eine Draufsicht des thermischen Durchfluß
messers, der nach den Arbeitsschritten der
Fig. 1(A), 1(B) und 1(C) erhalten wird; und
Fig. 3 ein Prinzipschaltbild des thermischen Durch
flußmessers, der mit den Arbeitsschritten
Fig. 1(A), 1(B) und 1(C) erhalten wird.
Die Erfindung schafft einen thermischen Durchflußmesser,
bei dem sowohl der Heizwiderstand als auch der Fluid
temperatur-Meßwiderstand auf einem einzigen Substrat
mit kleinen Ausmaßen angeordnet sind, wobei zumindest
ein Teil des Substrates, der mindestens einem dieser
beiden Widerstände entspricht sowie zusätzlich angren
zende Teile dieses Bereiches weggeätzt sind, so daß
diese Widerstände thermisch voneinander isoliert sind,
womit man hohe Leistungsfähigkeit, Miniaturisierung
und Massenproduzierbarkeit erhält.
Die Fig. 1(A), 1(B) und 1(C) zeigen die Verfahrens
schritte zur Herstellung des thermischen Durchfluß
messers nach der Erfindung.
Die Herstellschritte laufen wie folgt ab: auf einem
Substrat aus Silizium oder ähnlichem, das leicht ge
ätzt werden kann, wird ein isolierender Film 2 aus
Aluminum oder ähnlichem, der eine ausgezeichnete
elektrische Isolation bildet und chemisch widerstands
fähig ist, durch ein Vakuum-Dampfabscheiden, eine Auf
sprühmethode, ein plasmaunterstütztes, chemisches
Dampfabscheiden etc. aufgebracht. Sodann wird ein
dünner Metallfilm 3 aus Platin oder ähnlichem aufge
bracht, wobei dieser Film einen hohen Widerstands-/
Temperatur-Koeffizienten hat. Dieser Film wird mit
den gleichen Methoden aufgebracht wie der isolierende
Film 2. Er wird auf dem isolierenden Film 2 aufge
bracht (vgl. Fig. 1(A)). Darauf wird der dünne Metall
film 3 mittels einer Ätztechnik in eine vorgegebene
Form gebracht, womit ein Heizwiderstand 4 und ein
Fluidtemperatur-Meßwiderstand 5 gebildet werden, wobei
diese beiden in einem vorgegebenen Abstand zueinander
auf dem isolierenden Film 2 liegen (vgl. Fig. 1(B)).
Der Abschnitt des Substrates 1, der dem Heizwiderstand
4 entspricht sowie angrenzende Bereiche dieses Ab
schnittes werden dann mittels einer Ätztechnik ent
fernt. Dies führt zu einer Diaphragma- bzw. Membran
struktur, bei der der Heizwiderstand 4 ausschließlich
von dem isolierenden Film 2 getragen wird (vgl. Fig.
1(C)). Wie in Fig. 2 dargestellt sind elektrische An
schlüsse 44, die mit dem Heizwiderstand 4 verbunden
sein müssen, außerhalb der "Membran" 100 angeordnet,
womit verhindert wird, daß die Membran 100 bei den
nachfolgenden Arbeitsschritten für die Verbindung einer
Zufuhrleitung zu dem Heizwiderstand 4 bricht. Wahlweise
kann auch eine Einrichtung zur Steuerung des Wider
standes des Heizwiderstandes 4 außerhalb der Membran
100 angeordnet sein.
Das für den isolierenden Film 2 verwendete Material
kann Keramik
(z. B. Zirkon, etc.), Stickstoffsilicid, Siliziumoxid
etc. sein. Der isolierende Film muß nicht notwendiger
weise ein einschichtiger Film sein; er kann auch ein
mehrschichtiger Film sein. Der isolierende Film kann
auch aus einer Mischung aus zwei oder mehreren Arten
von Filmmaterialien bestehen. Die Dicke des isolierenden
Filmes sollte möglichst gering sein, um den Effekt der
thermischen Isolierung zu vergrößern; andererseits hat
ein extrem dünner Film nur eine geringe mechanische
Festigkeit, so daß die Dicke des Filmes in der Größen
ordnung von vorzugsweise 1 µm bis 10 µm liegen sollte.
Das Material für die dünne Metallschicht 3 muß nicht
unbedingt Platin sein; es kann statt dessen auch Nickel
oder eine Nickellegierung verwendet werden, aufgrund
des höheren Widerstands-/Temperatur-Koeffizienten.
Statt des dünnen Metallfilmes 3 können anstatt von
Metallen auch Feucht-Widerstands-Materialien verwen
det werden, wie sie in Thermistoren verwendet werden.
Als Ätztechnik für das Ätzen des Siliziumsubstrates
kann entweder eine isotropische Ätztechnik verwendet
werden mit einem Ätzmittel, das aus einer Lösung aus
Fluorwasserstoffsäure und Salpetersäure besteht oder
eine anisotrope Ätztechnik, bei der eine Lösung aus
Ethylendiamin-Pyrokatechin-Wasser verwendet wird.
Obwohl in dem oben beschriebenen Ausführungsbeispiel
derjenige Bereich des Substrates 1, der dem Heizwider
stand 4 und dessen Umgebung entspricht, mittels einer
Ätztechnik entfernt wurde, kann natürlich auch der Teil
des Substrates 1 entfernt werden, der dem Fluidtempera
tur-Meßwiderstand 5 und dessen Umgebung entspricht oder
auch Teile des Substrates 1, die beiden Widerstände 4
und 5 und deren Umgebung entspricht. In der Tat wird
die Entfernung von Teilen des Substrates, die beiden
Widerständen 4 und 5 und deren Umgebung entspricht,
bevorzugt, da der thermische Isolationseffekt hierdurch
verbessert wird und damit auch eine schnelle thermische
Meßantwort.
Der resultierende Chip des thermischen Durchflußmessers
ist sehr klein und hat eine Größe von nur einigen Milli
metern, so daß er in Wafer-Technik hergestellt werden
kann, bei dem mehrere Chips gleichzeitig produziert
werden. Ein durch Schneiden des Wafers erhaltener Chip
wird dann auf einer (nicht dargestellten) Stützplatte
befestigt und mit den notwendigen Elementen mit Lei
tungen verbunden, womit man dann den thermischen Durch
flußmesser gemäß Fig. 3 erhält.
Fig. 3 zeigt einen Durchflußmesser mit den beschrie
benen Heiz- und Fluidtemperatur-Meßwiderständen, wobei
der Fluidtemperatur-Meßwiderstand 6 und der Heizwider
stand 7 in einem Durchflußweg 10 angeordnet sind, durch
welchen das Fluid in Richtung der Pfeile fließt. Der
Fluidtemperatur-Meßwiderstand 6 ist stromaufwärts zum
Heizwiderstand 7 angeordnet. Der Fluidtemperatur-Meß
widerstand 6 und der Heizwiderstand 7 sind mit elek
trischen Widerstandselementen 8 bzw. 9 in einer Brüc
kenschaltung verbunden. Der Verbindungspunkt zwischen
den Widerstandselementen 8 und 9 ist geerdet. Die
Brückenschaltung ist mit einem Rückkopplungsschalt
kreis verbunden, in welchem die Potentialdifferenz
zwischen einem Brückenzweig (zusammengesetzt aus dem
Temperaturmeßwiderstand 6 und dem Widerstandselement
8) und der andere Brückenzweig (zusammengesetzt aus
dem Heizwiderstand 7 und dem elektrischen Widerstands
element 9) mit einem Differentialverstärker 11 ver
stärkt werden. Das Ausgangssignal des Differentialver
stärkers 11 steuert das Basispotential eines Transis
tors 12, dessen Emitter mit dem gemeinsamen Verbin
dungspunkt des Fluidtemperatur-Meßwiderstandes 6 und
des Heizwiderstandes 7 verbunden ist, womit der Tran
sistor getrieben wird. Sowohl der Fluidtemperatur-Meß
widerstand 6 als auch der Heizwiderstand 7 werden durch
den Rückkopplungsschaltkreis gesteuert, so daß die
Temperaturdifferenz zwischen dem Widerstand 6 und dem
Widerstand 7 unabhängig von Temperaturänderungen des
Fluids auf einem festen Wert gehalten werden kann.
Das Fluid kann hierbei beispielsweise ein Öl, ein
chemisches Reagenz, ein Gas etc. sein, das durch den
Strömungsweg 10 fließt.
Wenn der Transistor 12 eingeschaltet ist, wird elek
trischer Strom von einem Eingangsanschluß 13 zu dem
Heizwiderstand 7 geleitet, so daß in letzterem Wärme
erzeugt wird.
Will man die Durchflußrate auch dann bestimmen, wenn
sich die Temperatur des Fluides ändert, so ist - wie
in Fig. 3 gezeigt - der Fluidtemperatur-Meßwiderstand
6 stromaufwärts zum Heizwiderstand 7 in einer Brücken
schaltung anzuordnen, so daß die Temperatur des Fluides
gemessen wird. Dabei wird der zum Heizwiderstand 7 zu
geführte elektrische Strom durch den Rückkopplungs
schaltkreis so gesteuert, daß die Temperaturdifferenz
zwischen dem Fluid und dem Heizwiderstand konstant ge
halten wird. Wird die Temperaturdifferenz in der be
schriebenen Weise auf einem konstanten Wert gehalten,
so kann unabhängig von der Wärmekapazität des Heiz
widerstandes eine schnelle Meßantwort auf Änderungen
der Durchflußrate erhalten werden. Hält man die Tempe
raturdifferenz auf einem hohen Wert, so kann der Aus
gang (Signalausgang) des Durchflußmessers vergrößert
werden.
Ein anderer Durchflußmesser nach der Erfindung kann in
gleicher Weise wie im Ausführungsbeispiel 1 hergestellt
werden mit Ausnahme, daß der isolierende Film aus einer
Paste ist.
Auf einem Siliziumsubstrat wird eine Glaspaste oder
ähnliches, die eine ausgezeichnete elektrische Isola
tionsfähigkeit hat, mittels einer Filmauftragetechnik
wie z. B. Siebdrucken, Drall-Auftragen (spin-coating),
Aufsprühen etc. aufgetragen, sodann getrocknet und ge
sintert, womit man den isolierenden Film 2 erhält. Das
für den isolierenden Film dabei verwendete Material
muß nicht unbedingt eine Glaspaste sein. Es kann auch
eine dielektrische Paste, eine keramische Paste etc.
sein. Wünschenswert ist es, daß der thermische Ausdeh
nungskoeffizient dieses pastösen Materiales möglichst
nahe bei dem des Siliziumsubstrates 1 liegt, so daß
(mechanische) Spannungen des isolierenden Filmes mini
miert werden, womit man eine feste Bindung des iso
lierenden Filmes an das Substrat erhält.
Um den Effekt der thermischen Isolierung des isolie
renden Filmes zu verbessern, wird vorzugsweise pastöses
Material mit einer sehr geringen thermischen Leitfähig
keit verwendet. Die Dicke des isolierenden Filmes soll
sehr klein sein, um seine thermische Kapazität zu ver
ringern und den Effekt der thermischen Isolierung zu
vergrößern. Allerdings haben extrem dünne Filme wieder
den Nachteil geringer mechanischer Festigkeit, so daß
die Dicke des Filmes in der Größenordnung von vorzugs
weise 1 µm bis einige 10 µm liegen sollte.
Sodann wird ein dünner Metallfilm 3 aus Platin oder
ähnlichem mit einem hohen Widerstands-/Temperatur-
Koeffizienten auf dem isolierenden Film 2 mittels
Vakuumdampfabscheidetechnik, Aufsprühtechnik etc. auf
gebracht. Danach folgt die Musterbildung des dünnen
Metallfilmes 3 in gleicher Weise wie im Ausführungs
beispiel 1. Damit erhält man den Heizwiderstand 4 und
den Fluidtemperatur-Meßwiderstand 5 in einem vorgege
benen Abstand auf dem isolierenden Film 2. Danach wird
die Diaphragma- bzw. Membranstruktur in dem Abschnitt
des Substrates 1 gebildet, der mindestens einem der
beiden Widerstände 4 und 5 und deren Umgebung ent
spricht und zwar in gleicher Weise wie im Ausführungs
beispiel 1 beschrieben, womit man den thermischen Durch
flußsensor erhält. Als Ätzprozeß für das Siliziumsub
strat kann entweder eine anisotrope Ätztechnik mit
einem Ätzmittel wie z. B. einem System von Äthylen
diamin-pyrokatechol-Wasser, eine wäßrige Lösung aus
Kaliumhydroxid oder ähnliches verwendet werden, wobei
darauf zu achten ist, daß die Glaspaste damit nicht
geätzt wird.
Der fertige Durchflußmesser arbeitet dann in gleicher
Weise wie der des Ausführungsbeispieles 1 (vgl. auch
Fig. 3).
Claims (5)
1. Verfahren zum Herstellen eines thermischen Durchfluß
messers, der ein Substrat, einen auf dem Substrat
angeordneten, elektrisch isolierenden Film und eine
auf dem Film angeordnete Widerstandsstruktur aufweist,
wobei die Widerstandsstruktur mittels eines Masken
ätzverfahrens hergestellt wird,
gekennzeichnet durch folgende Verfahrensschritte:
- - Aufbringen des elektrisch isolierenden Filmes (2) mit einer von der Ätzcharakteristik des Substra tes (1) verschiedenen Ätzcharakteristik, mittels einer Filmauftragetechnik auf das Substrat (1); und
- - Ätzen einer Ausnehmung (100) in dem Substrat (1) im Bereich der Widerstandsstruktur.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß der elektrisch isolierende Film aus einer iso
lierenden Paste (2) hergestellt wird.
3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Filmauftragetechnik eines der fol
genden Verfahren umfaßt: Vakuum-Dampfabscheiden;
Aufsprühen; plasmaunterstütztes, chemisches Dampf
abscheiden; Siebdrucken oder Drall-Auftragen (spin-
coating).
4. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch
gekennzeichnet, daß der elektrisch isolierende Film
(2) ein einschichtiger oder mehrschichtiger Film ist,
der aus Zirkon und/oder Stickstoffsilicid und/oder
Siliziumoxid besteht.
5. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch
gekennzeichnet, daß der Heizwiderstand (4) und der
Temperaturmeßwiderstand (5) aus Platin und/oder
Nickel und/oder einer Nickellegierung und/oder einem
Thermistormaterial bestehen.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60183611A JPS6243522A (ja) | 1985-08-20 | 1985-08-20 | 流量センサ |
JP60185100A JPS6244627A (ja) | 1985-08-22 | 1985-08-22 | 流量センサ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3628017A1 DE3628017A1 (de) | 1987-03-05 |
DE3628017C2 true DE3628017C2 (de) | 1988-12-29 |
Family
ID=26501975
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE3628017A Granted DE3628017A1 (de) | 1985-08-20 | 1986-08-19 | Thermischer durchflusssensor |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5108193A (de) |
DE (1) | DE3628017A1 (de) |
GB (1) | GB2179748B (de) |
Families Citing this family (37)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4888988A (en) * | 1987-12-23 | 1989-12-26 | Siemens-Bendix Automotive Electronics L.P. | Silicon based mass airflow sensor and its fabrication method |
US5251980A (en) * | 1990-12-14 | 1993-10-12 | Anritsu Corporation | Sensing system for measuring specific value of substance to be measured by utilizing change in thermal resistance |
JP2846518B2 (ja) * | 1992-03-18 | 1999-01-13 | 株式会社日立製作所 | 空気流量検出器及びそれを使用したエンジン制御装置 |
US5419190A (en) * | 1992-08-03 | 1995-05-30 | Thermal Instrument Co. | Apparatus and method for measurement of mass flow rates in a large conduit |
US5392647A (en) * | 1993-06-07 | 1995-02-28 | Ricoh Seiki Company, Ltd. | Flow sensor |
US5441343A (en) * | 1993-09-27 | 1995-08-15 | Topometrix Corporation | Thermal sensing scanning probe microscope and method for measurement of thermal parameters of a specimen |
US5786744A (en) * | 1994-03-24 | 1998-07-28 | Honda Giken Kogyo Kabushiki Kaisha | Hybrid sensor |
US5461910A (en) * | 1994-06-16 | 1995-10-31 | Alnor Instrument Company | Fluid flow direction and velocity monitor |
US5557972A (en) * | 1994-09-13 | 1996-09-24 | Teledyne Industries, Inc. | Miniature silicon based thermal vacuum sensor and method of measuring vacuum pressures |
US5753815A (en) * | 1994-11-17 | 1998-05-19 | Ricoh Company, Ltd. | Thermo-sensitive flow sensor for measuring flow velocity and flow rate of a gas |
JP3282773B2 (ja) * | 1994-12-12 | 2002-05-20 | 東京瓦斯株式会社 | 熱式流量計 |
DE19512111C2 (de) * | 1995-04-03 | 1999-01-07 | Ifm Electronic Gmbh | Wärmeübergangskontroll- und/oder -meßgerät |
NO951427D0 (no) * | 1995-04-11 | 1995-04-11 | Ngoc Minh Dinh | Fremgangsmåte og anordning for måling av mönster i en delvis varmeledende overflate |
US5709470A (en) * | 1995-07-10 | 1998-01-20 | Cnc Development, Inc. | Method and apparatus for detecting ice buildup |
DE19601592C1 (de) * | 1996-01-18 | 1997-05-07 | Bosch Gmbh Robert | Sensor und Verfahren zur Herstellung eines Sensors |
AT2267U1 (de) * | 1997-02-04 | 1998-07-27 | E & E Elektronik Gmbh | Heissfilmanemometer sowie verfahren zu seiner herstellung |
DE19710559A1 (de) * | 1997-03-14 | 1998-09-17 | Bosch Gmbh Robert | Sensor mit einem Dünnfilmelement |
US6032527A (en) * | 1998-07-01 | 2000-03-07 | Memsys, Inc. | Solid state microanemometer |
US6447520B1 (en) * | 2001-03-19 | 2002-09-10 | Advanced Medical Optics, Inc. | IOL insertion apparatus with IOL engagement structure and method for using same |
US6257354B1 (en) | 1998-11-20 | 2001-07-10 | Baker Hughes Incorporated | Drilling fluid flow monitoring system |
DE19860725A1 (de) * | 1998-12-30 | 2000-08-17 | Abb Patent Gmbh | Verfahren zur Durchflußmessung mit einer Heißfilmanemometeranordnung |
JP2000343702A (ja) * | 1999-06-04 | 2000-12-12 | Canon Inc | 液体吐出ヘッド及び該液体吐出ヘッドを用いた液体吐出装置 |
DE10065723A1 (de) * | 2000-12-29 | 2002-07-04 | Bosch Gmbh Robert | Anordnung zur Temperaturmessung und -regelung |
DE10222616A1 (de) * | 2002-05-17 | 2003-12-04 | Univ Albert Ludwigs Freiburg | Fingerabdruck-Verifikationsmodul |
US6796172B2 (en) * | 2002-07-31 | 2004-09-28 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Flow sensor |
US6871535B2 (en) | 2002-08-14 | 2005-03-29 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Flow direction detector |
US7131766B2 (en) * | 2003-07-16 | 2006-11-07 | Delphi Technologies, Inc. | Temperature sensor apparatus and method |
US7481213B2 (en) * | 2004-02-11 | 2009-01-27 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Medicament dispenser |
US7467630B2 (en) * | 2004-02-11 | 2008-12-23 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Medicament dispenser |
DE102004051113B4 (de) * | 2004-10-21 | 2006-11-30 | X-Fab Semiconductor Foundries Ag | Verfahren und Messanordnung zur elektrischen Ermittlung der Dicke von Halbleitermembranen durch Energieeintrag |
US20060159091A1 (en) * | 2005-01-19 | 2006-07-20 | Arjen Boers | Active multicast information protocol |
JP2008516252A (ja) * | 2005-09-20 | 2008-05-15 | ビ−エイイ− システムズ パブリック リミテッド カンパニ− | センサー装置 |
EP2037234A1 (de) * | 2007-09-14 | 2009-03-18 | General Electric Company | Flüssigkeitsdetektor |
KR101144808B1 (ko) * | 2008-09-01 | 2012-05-11 | 엘지전자 주식회사 | 박막형 태양전지 제조방법 및 이를 이용한 박막형 태양전지 |
RU2451295C1 (ru) * | 2010-12-28 | 2012-05-20 | Общество с ограниченной ответственностью "МЭМС-РЕЗЕРВ" | Термоанемометр и способ его изготовления |
RU2509995C1 (ru) * | 2012-07-10 | 2014-03-20 | федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Национальный исследовательский университет "МИЭТ" (Национальный исследовательский университет МИЭТ) | Мембранный термоанемометр |
RU2548612C2 (ru) * | 2013-08-05 | 2015-04-20 | Федеральное государственное унитарное предприятие "Центральный аэрогидродинамический институт имени профессора Н.Е. Жуковского" (ФГУП "ЦАГИ") | Способ изготовления термоанемометра (варианты) |
Family Cites Families (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3931736A (en) * | 1974-06-28 | 1976-01-13 | Rca Corporation | Improved fluid flow sensor configuration |
DE2527739C3 (de) * | 1975-06-21 | 1978-08-31 | W.C. Heraeus Gmbh, 6450 Hanau | Verfahren zur Herstellung eines elektrischen Meßwiderstandes für ein Widerstandsthermometer |
DE2919433A1 (de) * | 1979-05-15 | 1980-12-04 | Bosch Gmbh Robert | Messonde zur messung der masse und/oder temperatur eines stroemenden mediums und verfahren zu ihrer herstellung |
DE2925975A1 (de) * | 1979-06-27 | 1981-01-15 | Siemens Ag | Mengendurchflussmesser |
DE3029446A1 (de) * | 1980-08-02 | 1982-03-11 | Robert Bosch Gmbh, 7000 Stuttgart | Duennschichtanordnung |
DE3138910A1 (de) * | 1981-09-30 | 1983-04-14 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Mengendurchflussmesser |
DD209705A1 (de) * | 1982-08-16 | 1984-05-16 | Roland Werthschuetzky | Widerstandsstruktur auf einer siliziummembran fuer einen multisensor |
US4478077A (en) * | 1982-09-30 | 1984-10-23 | Honeywell Inc. | Flow sensor |
GB8301666D0 (en) * | 1983-01-21 | 1983-02-23 | Hotfoil Ltd | Temperature sensor |
JPS6013220A (ja) * | 1983-07-04 | 1985-01-23 | Esutetsuku:Kk | ガス流量センサ−及びその製造方法 |
US4542650A (en) * | 1983-08-26 | 1985-09-24 | Innovus | Thermal mass flow meter |
JPS60243549A (ja) * | 1984-05-05 | 1985-12-03 | ゲゼルシヤフト、フユール、ゲレーテバウ、ミツト、ベシユレンクテル、ハフツング | ガスの触媒燃焼用のセンサの製造方法 |
DE3417305A1 (de) * | 1984-05-10 | 1985-11-14 | Robert Bosch Gmbh, 7000 Stuttgart | Vorrichtung zur messung der masse eines stroemenden mediums |
DE3430075A1 (de) * | 1984-08-16 | 1986-02-27 | Robert Bosch Gmbh, 7000 Stuttgart | Verfahren zum herstellen einer messsonde zur verwendung bei der messung der temperatur oder masse eines stroemenden mediums |
US4594889A (en) * | 1984-12-06 | 1986-06-17 | Ford Motor Company | Mass airflow sensor |
JPS61178614A (ja) * | 1985-02-02 | 1986-08-11 | Nippon Soken Inc | 直熱型流量センサ |
DE3604202C2 (de) * | 1985-02-14 | 1997-01-09 | Nippon Denso Co | Direkt beheizte Strömungsmeßvorrichtung |
JPS61194317A (ja) * | 1985-02-25 | 1986-08-28 | Nippon Soken Inc | 直熱型流量センサ |
-
1979
- 1979-08-23 GB GB8619623A patent/GB2179748B/en not_active Expired
-
1986
- 1986-08-19 DE DE3628017A patent/DE3628017A1/de active Granted
-
1991
- 1991-01-23 US US07/644,735 patent/US5108193A/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
GB2179748A (en) | 1987-03-11 |
DE3628017A1 (de) | 1987-03-05 |
GB2179748B (en) | 1989-09-06 |
US5108193A (en) | 1992-04-28 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE3628017C2 (de) | ||
DE3635462C2 (de) | ||
DE3724966C3 (de) | Sensor | |
EP0417237B1 (de) | Kapazitiver drucksensor und verfahren zu seiner herstellung | |
EP0019135A2 (de) | Messonde zur Verwendung bei der Messung der Temperatur oder Masse eines strömenden Mediums und Verfahren zu ihrer Herstellung | |
DE4415984A1 (de) | Halbleitersensor mit Schutzschicht | |
DE4310324A1 (de) | Struktur eines Mikro-Pirani Sensors und dessen Temperaturkompensationsverfahren | |
DE2709945A1 (de) | Kapazitiver druckwandler und verfahren zu dessen herstellung | |
DE19942675A1 (de) | Strömungssensor | |
WO2003027654A2 (de) | Sensorbaustein mit einem sensorelement, das von einem heizelement umgeben ist | |
DE10213827A1 (de) | Fluidströmungssensor und Verfahren zum Herstellen desselben | |
EP0235358B1 (de) | Anordnung zur Messung der Strömungsgeschwindigkeit | |
EP0017982B1 (de) | Dehnungsmessstreifen und Herstellungsverfahren | |
EP1248968B1 (de) | Anordnung zur temperaturmessung und -regelung | |
DE19932308A1 (de) | Sensor, insbesondere Thermosensor, und Verfahren zur Herstellung einer weitgehend freitragenden Membran | |
WO1997021986A1 (de) | Mikrosensoren mit siliziummembranen und verfahren zur herstellung derselben | |
WO2017108300A1 (de) | Verfahren zur herstellung eines strömungssensors auf dünnfilmbasis sowie ein solcher strömungssensor | |
DE3603784A1 (de) | Platinwiderstand | |
EP0060427B1 (de) | Sensor zur Messung physikalischer Grössen sowie Verfahren zu seiner Herstellung und seine Verwendung | |
EP0235359A2 (de) | Anordnung zur Messung der Strömungsgeschwindigkeit | |
DE19845537A1 (de) | Sensor und Verfahren zu seiner Herstellung | |
DE4102920C2 (de) | ||
DE3640340C2 (de) | Variable Interferometeranordnung | |
DE4233153C2 (de) | Kalorimetrischer Durchflußmesser und Verfahren zu seiner Herstellung | |
DE4224518C2 (de) | Strömungssensor und Verfahren zu seiner Herstellung |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
D2 | Grant after examination | ||
8363 | Opposition against the patent | ||
8331 | Complete revocation |