DE3722615C2 - - Google Patents

Description

Die Erfindung betrifft eine integrierte Halbleiter- Schaltungsanordnung gemäß dem Oberbegriff des Anspruchs 1. Sie bezieht sich insbesondere auf eine Prüfschaltung einer integrierten Halb­ leiter-Schaltungsanordnung, die einen Abtastweg benutzt.

Der Integrationsgrad bzw. die Integrationsdichte von Halbleiter-Schaltungsanordnungen hat sich bemerkenswert erhöht dank der Fortschritte in den Feinwerktechniken und diese Tendenz läßt erwarten, daß der Integrationsgrad auch in Zukunft weiter zunimmt. Mit einer Steigerung des Integrationsgrades (der Anzahl der Gatter) wächst der Schwierigkeitsgrad der Prüfung von integrierten Halbleiter-Schaltungsanordnungen exponentiell. Die Leichtigkeit, mit der die Prüfung einer bestimmten Anordnung durchgeführt werden kann, wird durch zwei Faktoren bestimmt:
die Leichtigkeit, mit der ein Fehler an jedem Anschluß sein kann (Wahrnehmbarkeit), und die Leichtigkeit, mit der jeder Anschluß auf einen gewünschten logischen Wert gesetzt werden kann (Steuerbarkeit). Im allgemeinen sind die Wahrnehmbarkeit und Steuerbarkeit der tiefer gelegenen Anschlüsse (weit von der Peripherie liegende Bereiche) eines großen logischen Schaltungsnetzwerkes sehr gering.

Die Abtastprüfmethode ist als ein Verfahren zur Prüfung einer integrierten Halbleiter-Schaltungs­ anordnung bekannt. Nach dieser Methode werden Registerschaltungen mit einer Schieberegister­ funktion an geeigneten Stellen in das logische Schaltungsnetzwerk eingeführt und diese Register­ schaltungen werden durch einen Schieberegister­ weg verbunden. Im Prüfbetrieb wird ein Prüf­ mustersignal seriell von außerhalb des inte­ grierten Halbleiter-Schaltungschips zugeführt (eingegeben) und vorbestimmte Daten werden in jedem Register eingestellt. Gewünschte logische Signale werden an die logischen Schaltungen angelegt, die mit den Datenausgängen dieser Registerschaltungen verbunden sind, wodurch die logischen Schaltungen in Betrieb gesetzt werden. Die Ergebnisse der logischen Operationen werden von den parallelen Eingängen der Register­ schaltungen in die parallelen Registerschaltungen eingegeben. Sie werden dann seriell nach außer­ halb des zu prüfenden Chips abgeführt, so daß die Wahrnehmbarkeit und Steuerbarkeit der tiefer gelegenen Anschlüsse des großen logischen Schaltungsnetzwerks erhöht werden.

Die grundlegende Idee der Abtastprüfmethode in bezug auf eine pegelempfindliche synchrone Schaltung wird in der US 37 83 254 offenbart.

Da hier jedoch die zu prüfende Schaltung auch eine asynchrone Folgeschaltung einschließt, erfolgt eine Erläuterung des Standes der Technik unter Berücksichtigung der JP 56-74 668 A.

Fig. 1 zeigt ein Beispiel einer bekannten Prüfschaltung, die die Abtastwegmethode ver­ wendet, um eine Folgeschaltung vom Asynchron­ typ zu prüfen. In diesem Diagramm sind Kombinationsschaltungsblöcke 35 und 37, ein Asynchronschaltungsblock 36 enthaltend eine Folgeschaltung, Abtastregister (S. R.) 8 bis 16 zwischen den Schaltungsblöcken und Daten­ selektoren (D. S.) 26 bis 34 jeweils zur Auswahl und Ausgabe des Ausgangssignals entweder des zugeordneten Schaltungsblocks oder des Abtast­ registers dargestellt. Der Ausgang jedes Schaltungsblocks ist direkt mit dem Daten­ eingang D der Abtastregister und dem Daten­ eingang D der Datenselektoren verbunden. Andererseits ist der Ausgang Q des zugeordneten Abtastregisters mit dem Prüfdateneingang (TD) der Datenselektoren verbunden.

Der Prüfbetriebsauswahlanschluß (MS) 1 ist mit jedem Betriebsauswahlanschluß (MS) der Abtastregister und Datenselektoren verbunden. Weiterhin sind ein Abtast-ein-Anschluß (SI) 2 sowie ein Abtast-aus-Anschluß (SO) 38 vorgesehen.

Der Abtast-ein-Anschluß 2 ist mit dem Abtast-ein-Anschluß (SI) des Abtastregisters 8 verbunden. Der Ausgang Q des Abtastregisters 8 ist mit dem Abtast-ein-Anschluß (SI) des Abtastregisters 9 verbunden. Auf diese Weise ist der Ausgang Q jedes Abtastregisters nach­ einander mit dem Abtast-ein-Anschluß (SI) des nächsten Abtastregisters verbunden. Hier­ durch wird zwischen dem Abtast-ein-Anschluß 2 und dem Abtast-aus-Anschluß 38 ein Schiebe­ register gebildet. Es sind normale Dateneingänge 3 bis 5 vorgesehen und ein Abtasttakteingang (TS) ist mit dem Takteingang T des Abtast­ registers verbunden.

Fig. 2 zeigt ein Ausführungsbeispiel der Abtast­ register mit dem Betriebsauswahlanschluß MS, dem Dateneingang D, dem Abtast-ein-Anschluß SI und dem Takteingang T. Weiterhin sind ein Inverter 51, UND-Glieder 52 und 53 mit je zwei Eingängen, ein ODER-Glied 54 mit zwei Eingängen, ein flankengesteuertes Flip-Flop 55 vom D-Typ (im folgenden "D-FF" bezeichnet) und der Datenausgang Q dargestellt.

Fig. 3 zeigt ein Ausführungsbeispiel der Daten­ selektoren gemäß Fig. 1 mit dem Betriebsauswahl­ anschluß MS , dem Prüfdateneingang TD, dem Daten­ eingang D, einem Inverter 60, zwei UND-Gliedern 61 und 62 mit je zwei Eingängen, einem ODER-Glied 63 mit zwei Eingängen und einem Ausgang Y.

Im folgenden wird die Funktion der beschriebenen Schaltung erläutert.

Zunächst wird die gewöhnliche Betriebsweise erklärt. Hierbei wird ein Signal mit dem hohen Pegel ("H") an den Prüfbetriebsauswahl­ anschluß 1 (MS) gelegt und der Abtasttakt­ anschluß 6 (TS oder T) ist auf den niedrigen Spannungspegel ("L") festgelegt. Somit sind die Ein- und Ausgänge der zugeordneten Schaltungsblöcke direkt durch jeden Daten­ selektor verbunden.

Dieser Vorgang wird mit Bezug auf Fig. 3 erläutert. Wenn das Signal "H" zum Betriebs­ auswahlanschluß (MS) geliefert wird, überträgt die Datenauswahlschaltung die Daten vom Daten­ eingang D durch das UND-Glied 62 und das ODER-Glied 63 zum Ausgang Y. Da der Ausgang des Schaltungsblocks direkt mit dem Datenein­ gang D des Datenselektors verbunden ist, sind die Ein- und Ausgänge der zugeordneten Schaltungs­ blöcke direkt verbunden.

Während des Prüfvorgangs werden jedoch der Abtastbetrieb und der Prüfbetrieb in der folgenden Weise nacheinander wiederholt durch­ geführt, wobei jeder Schaltungsblock geprüft wird.

• 1. Abtastbetrieb:
  • (a) Durch Anlegen des Signals "H" an den Prüfbetriebsauswahlanschluß 1 ist die Betriebsart auf den Abtastbetrieb einge­ stellt. Somit werden im Abtastregister (S. R.) die Eingangsdaten vom Abtast-ein- Anschluß (SI) ausgewählt. Im Datenselektor (D. S.) werden die Eingangsdaten vom Dateneingang D wirksam gemacht.
  • (b) Weiterhin werden die in jedes Abtast­ register einzubringenden Prüfdaten auf­ einanderfolgend über den Abtast-ein- Anschluß 2 in Übereinstimmung mit einem an den Abtasttaktanschluß 6 angelegten Taktsignal zugeführt. Dieser Vorgang wird im folgenden als "Abtasteingabe" bezeichnet.
  • (c) Zur gleichen Zeit werden die Ausgangsdaten jedes Schaltungsblocks, die im vorher­ gehenden Prüfbetrieb erhalten wurden, nach­ einander über den Abtast-aus-Anschluß 38 herausgeholt. Dieser Vorgang wird im folgenden als "Abtastausgabe" bezeichnet.

Diese Operationen werden nachfolgend anhand der Fig. 2 und 3 beschrieben. Zunächst werden im Abtastregister (Fig. 2), wenn das Signal "H" an den Betriebsauswahlanschluß (MS) gelegt ist, die Daten vom Abtast-ein-Anschluß (SI) über das UND-Glied 53 sowie das ODER-Glied 54 synchron mit einem an den Takteingang T ge­ legten Takt dem D-FF 55 zugeführt und in diesem gehalten. Zur gleichen Zeit werden die Daten, die im D-FF 55 gehalten wurden, über den Ausgang Q ausgelesen. Zu dieser Zeit werden, da das Signal "H" auch zum Betriebsauswahlanschluß MS des Datenselektors (Fig. 3) geliefert wird, die Daten vom Dateneingang D auch über den Ausgang Y des Datenselektors ausgegeben.

• 2. Prüfbetrieb:
  • (a) Nachdem die gewünschten Daten in jedes Abtastregister eingegeben sind, wird das Signal "L" an den Prüfbetriebsauswahl­ anschluß 1 angelegt, wodurch der Prüf­ betrieb eingestellt wird.
  • (b) Hierdurch werden die Ausgabedaten jedes Abtastregisters über den Prüfdateneingang TD des Datenselektors jedem Schaltungs­ block zugeführt.
  • (c) Gleichzeitig werden gewünschte Prüfdaten zu den Dateneingängen 3 bis 5 geliefert.
  • (d) Nach Beendigung der Operation der Schaltungs­ blöcke wird ein Taktsignal auf den Abtast­ takteingang 6 gegeben. Hierdurch wird das Ausgangssignal jedes Schaltungsblocks über den zugeordneten Dateneingang D dem D-FF 55 im Abtastregister zugeführt und in diesem gehalten.

Diese Vorgänge werden nun anhand der Fig. 2 und 3 erläutert. Zuerst werden im Abtastregister (Fig. 2), wenn das Signal "L" an den Betriebsauswahl­ anschluß MS gelegt ist, die Daten vom Datenein­ gang D über das UND-Glied 52 und das ODER-Glied 54 synchron mit einem an den Takteingang T gelegten Takt dem D-FF 55 zugeführt und in diesem gehalten. In diesem Fall werden, da das Signal "L" auch zum Betriebsauswahlanschluß MS des Datenselektors (Fig. 3) geliefert wird, die Daten vom Prüfdaten­ eingang TD über das UND-Glied 61 und das ODER-Glied 63 zum Ausgang Y geführt.

Obgleich die Prüfung jedes Schaltungsblocks in dieser Schaltungsanordnung wie vorbeschrieben durchgeführt werden kann, wählt der Datenselektor die Ausgangsdaten jedes Schaltungsblocks während des Abtastvorganges aus. Daher wird, selbst Wenn der Ausgangswert des Abtastregisters während des Abtastvorganges nacheinander wechselt, der Zustand des die Folgeschaltung enthaltenden Schaltungsblocks 36 nicht geändert. Demgemäß kann, wie in diesem Beispiel, selbst dann, wenn der vom Abtastweg umgebene Schaltungsblock eine Folgeschaltung vom Asynchrontyp ist, noch eine Abtastprüfung durchgeführt werden.

Da die bekannte Vorrichtung in der vorstehend dargelegten Weise ausgebildet ist, kann auch eine Abtastprüfung eines eine asynchrone Folge­ schaltung einschließenden Blockes vorgenommen werden. Jedoch werden üblicherweise, wenn die Betriebsart vom Prüfbetrieb auf den Abtast­ betrieb umgeschaltet wird, die zur Folgeschaltung zu liefernden Daten von dem seriellen Eingangs­ signalwert zum Ausgangssignalwert des benach­ barten Schaltungsblocks gewechselt. Es ist daher schwer, den Eingang derart einzustellen, daß der Zustand der zu prüfenden asynchronen Folge­ schaltung sich nicht ändert. In zahlreichen Fällen hat dieses Problem zur Folge, daß eine Abtastprüfung nicht wirksam durchgeführt werden kann.

Ausgehend von den vorerwähnten Problemen der bekannten Vorrichtungen ist es die Aufgabe der vorliegenden Erfindung, eine integrierte Halbleiterschaltungsanordnung zu schaffen, die zur einfachen Durchführung einer Abtast­ prüfung eines eine asynchrone Folgeschaltung enthaltenden Schaltungsblocks geeignet ist.

Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß durch die im kennzeichnenden Teil des Anspruchs 1 angegebenen Merkmale gelöst. Eine vorteilhafte Weiterbildung dieser Schaltungsanordnung ergibt sich aus Anspruch 2.

Die erfindungsgemäße integrierte Halbleiter- Schaltungsanordnung umfaßt eine Verriegelungs­ schaltung, die mit dem Ausgang eines Abtast­ registers verbunden ist und während der Prüfung kontinuierlich die vor Durchführung des Abtast­ vorganges im Abtastbetrieb gespeicherten Ausgangsdaten des Abtastregisters liefert, und eine Auswahlschaltung zur Auswahl entweder der Ausgangsdaten des Schaltungsblocks der vorhergehenden Stufe im normalen Arbeitsbetrieb oder der Ausgangsdaten der Verriegelungschaltung im Prüfbetrieb und zur Zuführung der ausge­ wählten Ausgangsdaten zum Schaltungsblock der nächsten Stufe.

Bei der erfindungsgemäßen Schaltungsanordnung sind die Ein- und Ausgänge der zugeordneten Schaltungsblöcke im normalen Arbeitsbetrieb miteinander verbunden. Im Prüfbetrieb jedoch sind der Ausgang der Verriegelungsschaltung und der Eingang des zugeordneten Schaltungs­ blocks miteinander verbunden. Im Abtastbetrieb werden die zuvor gelieferten Prüfdaten in der mit dem Abtastregister verbundenen Verriege­ lungsschaltung gehalten und kontinuierlich dem entsprechenden Schaltungsblock zugeführt.

Die Erfindung wird im folgenden anhand von in den Figuren dargestellten Ausführungsbeispielen näher erläutert. Es zeigt

Fig. 1 ein Blockschaltbild einer bekannten integrierten Halbleiter- Schaltungsanordnung,

Fig. 2 ein Blockschaltbild einer Abtast­ registerschaltung in der Schaltungs­ anordnung nach Fig. 1,

Fig. 3 ein Blockschaltbild einer Selektions­ schaltung in der Schaltungs­ anordnung nach Fig. 1,

Fig. 4 ein Blockschaltbild einer inte­ grierten Halbleiter-Schaltungs­ anordnung gemäß einem Ausführungs­ beispiel der Erfindung,

Fig. 5 ein Blockschaltbild einer Ver­ riegelungsschaltung in der Schaltungs­ anordnung nach Fig. 4,

Fig. 6 ein Blockschaltbild einer Abtast­ registerschaltung, gemäß einem weiteren Ausführungsbeispiel der Erfindung, und

Fig. 7 ein Blockschaltbild einer inte­ grierten Halbleiter-Schaltungs­ anordnung gemäß dem weiteren Ausführungsbeispiel der Erfindung unter Verwendung der Abtast­ registerschaltung nach Fig. 6.

Fig. 4 zeigt die Ausgestaltung einer integrierten Halbleiter-Schaltungsanordnung gemäß einem Aus­ führungsbeispiel der Erfindung. In diesem Block­ schaltbild sind Kombinationsschaltungsblöcke 35 und 37, ein Asynchronschaltungsblock 36 ent­ haltend eine Folgeschaltung, Abtastregister (S. R.) 8 bis 16 zwischen den Schaltungsblöcken, Ver­ riegelungsschaltungen (L) 17 bis 25, von denen jede mit dem Dateneingang D an den Ausgang Q des Abtastregisters angeschlossen ist, und Daten­ selektoren (D. S.) 26 bis 34 jeweils zur Auswahl des Ausgangssignals entweder des zugeordneten Schaltungsblocks oder der Verriegelungsschaltung dargestellt. Der Ausgang Q jeder Verriegelungs­ schaltung ist mit dem Prüfdateneingang (TD) der zugeordneten Selektionsschaltung verbunden. Der Ausgang jedes Schaltungsblocks ist direkt mit dem Dateneingang D des zugeordneten Abtast­ registers und dem Dateneingang D der Selektions­ schaltung verbunden. Der Ausgang Y jeder Selektions­ schaltung ist mit dem Eingang des korrespon­ dierenden Schaltungsblocks verbunden.

Der Prüfbetriebsauswahlanschluß (MS) 1 ist mit dem Betriebsauswahlsanschluß (MS) jedes Abtast­ registers verbunden. Es sind ein Abtast-ein-Anschluß 2 und ein Abtast-aus-Anschluß 38 vorgesehen.

Der Abtast-ein-Anschluß (SI) 2 ist mit dem Abtast-ein-Anschluß (SI) des Abtastregisters 8 verbunden. Der Ausgang Q des Abtastregisters 8 ist weiterhin mit dem Abtast-ein-Anschluß (SI) des nächsten Abtastregisters 9 verbunden. In entsprechender Weise ist der Ausgang Q eines Abtastregisters aufeinanderfolgend mit dem Abtast-ein-Anschluß (SI) des jeweils nächsten Abtastregisters verbunden. Hierdurch wird zwischen dem Abtast-ein-Anschluß 2 und dem Abtast-aus- Anschluß 38 ein Abtastweg gebildet. Es sind weiterhin ein Abtasttakteingang (TS) 6 und ein Verriegelungstakteingang (TL) 7 vorgesehen. Der Abtasttakteingang 6 ist mit dem Takteingang T jedes Abtastregisters verbunden. Der Ver­ riegelungstakteingang 7 ist mit dem Takteingang T jeder Verriegelungsschaltung verbunden. Ein Datenauswahlanschluß (DS) 39 ist mit dem Betriebsauswahlanschluß (MS) jeder Selektions­ schaltung verbunden. Schließlich sind gewöhnliche Dateneingänge 3 bis 5 vorhanden.

Fig. 5 zeigt ein Beispiel für die Ausbildung der Verriegelungsschaltung. Hierin sind der Dateneingang D, der Takteingang T, ein Inverter 41, zwei UND-Glieder 42 und 43 mit je zwei Eingängen, zwei NOR-Glieder 44 und 45 mit je zwei Eingängen und der Ausgang Q der Verriegelungsschaltung dargestellt.

Wenn ein positives Taktsignal auf den Takteingang T gegeben wird, hält die Verriegelungsschaltung die Eingangsdaten des Dateneingangs D und führt gleichzeitig die gehaltenen Daten über den Ausgang Q heraus. Solange, wie das Signal "L" am Takteingang T gehalten wird, führt die Ver­ riegelungsschaltung den Haltevorgang durch unabhängig von dem Datenwert, der auf den Daten­ eingang D gegeben wird.

Die Arbeitsweise der Schaltung wird nachfolgend erläutert. Die Funktionen des Abtastregisters und der Selektionsschaltung selbst werden nicht näher beschrieben, da sie in gleicher Weise wie die in der bekannten Schaltung arbeiten.

Zunächst wird der normale Arbeitsbetrieb darge­ stellt. Hierbei wird das Signal "H" zu dem Datenauswahlanschluß 39 geliefert, wodurch jede Selektionsschaltung in der Lage ist, die Daten des Dateneingangs D auszuwählen. Dadurch sind die jeweiligen Schaltungsblöcke durch jede Auswahlschaltung verbunden. Die Funktionen des Abtastregisters und der Verriegelungsschaltung sind unbeachtlich, da sie keine Wirkung auf die Schaltungsblöcke haben. Im Prüfbetrieb jedoch werden die Operationen des Abtast- und Prüfbetriebes in der folgenden Weise nacheinander wiederholt und jeder Schaltungsblock wird geprüft.

• 1. Abtastbetrieb:
  • (a) Das Signal "L" wird zum Datenauswahl­ anschluß 39 geführt, wodurch die Selektions­ schaltung in die Lage versetzt wird, die Daten auf der Seite des Prüfdateneingangs (TD) auszuwählen. Folglich werden die Aus­ gangsdaten der Verriegelungsschaltung dem Schaltungsblock zugeführt.
  • (b) Der Takteingang 7 wird auf dem Signal­ pegel "L" festgehalten und jede Ver­ riegelungsschaltung wird in den Halte­ zustand versetzt. Die vorhergehenden Prüfdaten werden kontinuierlich zum Schaltungsblock geliefert.
  • (c) Das Signal "H" wird an den Prüfbetriebs­ auswahlanschluß 1 gelegt. Die Eingangs­ daten des Abtastregisters (S. R.) werden auf den Abtast-ein-Anschluß (SI) gegeben.
  • (d) Die Prüfdaten, die vom Abtast-ein-Anschluß 2 zu jedem Abtastregister geleitet werden, werden synchron zu einem auf den Ab­ tasteingang 6 eingegebenen Takt aufeinander­ folgend "eingetastet".
  • (e) Zur gleichen Zeit werden die vom vorher­ gehenden Prüfbetrieb erhaltenen Ausgangs­ daten jedes Schaltungsblocks aufeinander­ folgend vom Abtast-aus-Anschluß "ausge­ tastet".
• 2. Prüfbetrieb:
  • (a) Nachdem die gewünschten Prüfdaten in jedes Abtastregister geführt sind, wird an den Takteingang 7 ein positiver Takt angelegt.
  • (b) Die im zugeordneten Abtastregister gesetzten Prüfdaten werden somit in jeder Ver­ riegelungsschaltung gehalten. Die neuen Prüfdaten werden zum Schaltungsblock geliefert.
  • (c) Gleichzeitig werden die Prüfdaten auch von den Dateneingängen 3 bis 5 zugeführt.
  • (d) Als nächstes wird das Signal "L" zum Prüfbetriebsauswahlanschluß 1 gegeben und der Eingang des Abtastregisters wird auf den Dateneingang D gesetzt.
  • (e) Nach Beendigung der Operation jedes Schaltungsblocks wird über den Abtast­ takteingang 6 ein Takt zugeführt. Die Ausgangsdaten jedes Schaltungsblocks werden im Abtastregister gehalten.

Jeder Schaltungsblock kann somit auf diese Weise geprüft werden und im vorbeschriebenen Aus­ führungsbeispiel hält die Verriegelungsschaltung nicht nur das vorhergehende Prüfmuster während des Abtastvorganges, sondern liefert dieses Muster auch kontinuierlich zum Eingang jedes Schaltungsblocks. Daher ändert sich der Zustand jedes Schaltungsblocks nicht, selbst wenn der Wert des Abtastregisters nacheinander während des Abtastvorganges wechselt, und die Abtast­ prüfung kann für jeden Schaltungsblock leicht durchgeführt werden.

Obgleich der Fall, bei dem ein Abtastregister unter Verwendung eines D-FF vom flankengesteuerten Typ gebildet ist, im vorhergehenden Ausführungs­ beispiel beschrieben wurde, kann das Abtastregister auch unter Einsatz eines D-FF vom Master-Slave-Typ aufgebaut sein. Weiterhin kann ein pegel­ empfindliches Abtastregister mit einem Zweiphasen­ takt benutzt werden, wie in Fig. 6 gezeigt ist.

In Fig. 6 sind Inverter 73 bis 76, Übertragungs­ tore 77 bis 79 in Form von MOS-Transistoren vom n-Typ, ein erster Abtasttakteingang T 1, ein Datentakteingang TD und ein zweiter Abtasttakteingang T 2 dargestellt. In dieser Ausgestaltung sind die Lasttreiberfähigkeiten der Inverter 74 und 76 geringer als die der anderen Inverter. Daher werden die jeder Verriegelung zugeordneten Daten gehalten, wenn die Übertragungstore 77 bis 79 geöffnet sind.

Beim Schiebevorgang werden Eingangstakte an die jeweiligen Takteingänge T 1, TD und T 2 ge­ legt, so daß die Übertragungstore 77 bis 79 nicht gleichzeitig eingeschaltet werden.

Fig. 7 zeigt ein Ausführungsbeispiel mit einem Abtastregister gemäß Fig. 6. Es sind Takt­ eingänge 70 und 71 gezeigt, die dem Abtast­ takteinang T 1 bzw. dem Datentakteingang TD des Abtastregisters entsprechen. Diese Takt­ eingänge dienen auch als Auswahlsignale der Eingangsdaten für die Verriegelungsschaltung in der ersten Stufe des Abtastregisters. Ein Takteingang 72 ist für das Verschieben der in der Verriegelungsschaltung der ersten Stufe gehaltenen Daten zur Verriegelungs­ schaltung der zweiten Stufe im Abtastregister vorgesehen. Eine Wirkung entsprechend der beim ersten Ausführungsbeispiel kann auch beim gerade erwähnten Ausführungsbeispiel erhalten werden.

Wie vorstehend beschrieben wurde, ist gemäß der Erfindung eine Verriegelungsschaltung mit dem Ausgang des Abtastregisters verbunden.

Weiterhin ist eine Auswahlschaltung vorgesehen, um die Ausgangsdaten entweder der Verriegelungs­ schaltung oder des zugeordneten Schaltungs­ blocks der ersten Stufe auszuwählen. Der Ausgang der Selektionsschaltung ist mit dem Eingang des zugeordneten Schaltungsblocks verbunden. Daher kann im normalen Arbeits­ betrieb das Signal zwischen den Schaltungs­ blöcken unabhängig vom Abtastregister über­ tragen und empfangen werden. Weiterhin wird im Abtastbetrieb des Prüfvorganges das von der Abtastoperation empfangene Prüfmuster gehalten und kann kontinuierlich zum Schaltungsblock der nächsten Stufe geliefert werden. Somit kann die Abtastprüfung der asynchronen Folgeschaltung leicht durchgeführt werden. Es ist daher möglich, eine hochintegrierte Halbleiter-Schaltungs­ anordnung zu erhalten, die eine asynchrone Folgeschaltung enthält, in der die Tastschaltung leicht und mit minimalen Kosten entworfen werden kann.

Claims (2)

1. Integrierte Halbleiterschaltungsanordnung, die Daten zwischen einer Mehrzahl von Schaltungsblöcken überträgt, von denen wenigstens einer eine Folgeschaltung enthält, die zur Prüfung jedes der Schaltungsblöcke unter Verwendung eines Abtastprüfverfahrens geeignet ist, bei der eine Mehrzahl von Abtastregistern jeweils zwischen der Mehrzahl von Schaltungsblöcken vorgesehen ist, wobei die Anzahl der Abtastregister der Anzahl der Bits der zu übertragenden Daten zugeordnet ist, im Prüfbetrieb jedes der Abtastregister die Ausgangsdaten des Schaltungsblocks in der vorhergehenden Stufe oder die Prüfdaten für die Abtastprüfung synchron mit einem externen Takt hält und weitergibt, die Mehrzahl von Abtastregistern über einen Schieberegisterweg miteinander verbunden sind, so daß sie insgesamt die Funktion eines einzigen Schieberegisters besitzen, Selektionsschaltungen vorgesehen sind zur Ausgabe der Ausgangsdaten des zugeordneten Schaltungsblocks der vorhergehenden Stufe zum Schaltungsblock der nachfolgenden Stufe im normalen Arbeitsbetrieb, Prüfdateneinstellmittel zur Eingabe serieller Prüfdaten von außerhalb der Schaltungsanordnung zu jedem der Abtastregister vorgesehen sind, Prüfergebnisausgabemittel für die aufeinanderfolgende Ausgabe der Daten der Abtastregister als serielle Daten nach außerhalb der Schaltungsanordnung vorgesehen sind, und Betriebsartenumschaltmittel zum Umschalten zwischen dem normalen Arbeitsbetrieb und dem Prüfbetrieb sowie zwischen dem Abtastbetrieb und dem Prüfbetrieb vorgesehen sind, dadurch gekennzeichnet, daß den Selektionsschaltungen (26 bis 34) zugeordnete Verriegelungsschaltungen (17 bis 25) mit den Ausgängen der Abtastregister (8 bis 16) verbunden sind zum Halten und kontinuierlichen Weitergeben der Ausgangsdaten im zugeordneten Abtastregister, die vor der Abtastoperation gespeichert wurden, im Abtastbetrieb des Prüfvorganges, und zum Halten und Weitergeben der Ausgangsdaten des zugeordneten Abtastregisters synchron mit einem externen Takt im Prüfbetrieb, und daß die Selektionsschaltungen (26 bis 34) auch zur Ausgabe der Ausgangsdaten der zugeordneten Verriegelungsschaltung zum Schaltungsblock der nächsten Stufe im Prüfbetrieb vorgesehen sind.

2. Schaltungsanordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Abtastregister als pegelempfindliche Abtastregister unter Verwendung eines Zweiphasentaktes arbeiten.