DE3806686A1 - Mehrkoordinatenmess- und -pruefeinrichtung - Google Patents
Mehrkoordinatenmess- und -pruefeinrichtungInfo
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Description
Die Erfindung betrifft eine Mehrkoordinatenmeß- und -prüf
einrichtung, die im wesentlichen aus einer Maschinengrund
einheit, einem in zumindest zwei Koordinatenrichtungen be
wegbaren Tastsystem und einer Maschinensteuerungseinheit
gebildet ist.
Solche Mehrkoordinatenmeß- und -prüfeinrichtungen zählen zum
allgemeinen Stand der Technik und sind in der Praxis in
vielfältiger Bauart eingeführt.
Herkömmliche Meßmaschinen sind im Regelfall in Portalbauwei
se aufgebaut und mit einem mechanischen Tastkopf mit Meßta
stern versehen. Andere bekannte Meß- und Prüfmaschinen be
dienen sich der berührungslosen Messung, beispielsweise
durch Interferometersysteme. Beide Meßmethoden haben für
sich betrachtet eine Reihe von Vorteilen und auch von Nach
teilen.
So ist beispielsweise aus der DE-OS 36 16 812 eine Koordina
tenmeßvorrichtung mit einer Einrichtung zur berührungslosen
Antastung des Meßobjektes bekannt. Durch ein interferometri
sches Längenmeßsystem wird der Verfahrweg eines für jede
Meßkoordinate mit dem Koordinatentisch fest verbundenen Meß
spiegels bestimmt. Dabei ist der Referenzspiegel des inter
ferometrischen Längenmeßsystems mit dem Antastsystem des
Meßobjektes starr verbunden, um so mit geringem technischen
Aufwand auch sehr kleine Verlagerungen des abbildenden Ob
jektivs gegenüber der angemessenen Koordinatenrichtung erfas
sen und Kippfehlereinflüsse ausschließen zu können.
Die DE-OS 36 16 245 offenbart ein Interferometersystem zur
Längen- und Winkelmessung, das aus insgesamt zwei Interfero
metersystemen besteht, um gleichzeitig mit großer Genauig
keit sowohl Längen- und Winkelmessungen als auch Brechzahl
messungen durchführen zu können.
Das Prinzip der interferometrischen Längenmessung ist be
reits seit dem Jahre 1890 durch den Michelson-Interferometer
bekannt. Man weiß aber auch, daß ein Laserinterferometer als
Längenmeßsystem gegenüber anderen, beispielsweise mechani
schen Tastköpfen, einen nicht unbeträchtlichen Mehraufwand
bedingt. Mit Laserinterferometersystemen läßt sich eine Auf
lösung von bis zu 0,01 µm erreichen. Jedoch ist die Laser
lichtwellenlänge abhängig von der Temperatur, dem Druck und
der Feuchte des vom Meßstrahl durchlaufenen Bereichs. Eine
Schwankung dieser Umgebungsbedingungen wirkt sich trägheits
los auf das Meßergebnis aus. Dies bedeutet, daß Laserinter
ferometer-Längenmeßsysteme einerseits eine sehr gute Möglich
keit des genauen, berührungslosen Messens bieten, anderer
seits jedoch bei ungünstigen Umgebungsbedingungen fehlerhafte
Meßergebnisse liefern können.
Neben den vorgenannten berührungslosen Meßsystemen sind die
mechanischen Tastsysteme allgemeiner Stand der Technik. Diese
mechanischen Tastsysteme für Mehrkoordinatenmeßmaschinen be
stehen im wesentlichen aus einer Pinole, an der ein Tastkopf
befestigt ist den Taststiften und den an den Spitzen der Tast
stifte vorgesehenen Tastkugeln. Die mechanischen Tastsysteme
sind relativ robust und weisen eine ausreichende Meßgenauig
keit auf. Die Auslenkung des Taststiftes kann translatorisch
oder rotatorisch sein und erzeugt beim Antasten an das Werk
stück Steuersignale für die Antriebe. Diese Signale ermögli
chen gleichbleibende, reproduzierbare Antastbedingungen. Bei
den bekannten Tastsystemen wird ferner zwischen messenden
und schaltenden Systemen unterschieden.
Bei den messenden Tastsystemen wird in der Meßposition die
Taststiftauslenkung durch kleine Wegmeßsysteme erfaßt, wäh
rend bei den schaltenden Tastsystemen bei Erreichen des de
finierten Antastzustandes oder einer definierten Tasteraus
lenkung ein Schaltsignal im Tastkopf erzeugt wird.
Bisher hatte der Fachmann vor Anschaffung und Einsatz einer
Koordinatenmeß- und -prüfeinrichtung immer sehr sorgfältig
die Einsatzbedingungen und Meßaufgaben zu prüfen, bevor er
sich für die eine oder andere Einrichtung, nämlich das be
rührungslose oder das mechanische Tastsystem entschied. Die
Bereitstellung von beiden Einrichtungsvarianten verbot sich
oft aus Platz- und Integrations- sowie Kostengründen.
Aufgabe der Erfindung ist es deshalb, eine Mehrkoordinaten
meß- und -prüfeinrichtung zu schaffen, die unabhängig von
Umgebungsbedingungen für die in der Praxis auftretenden, un
terschiedlichen Meß- und Prüfaufgaben einsetzbar ist und
einfach und mit geringem technischen Aufwand realisierbar
ist.
Erfindungsgemäß wird diese Aufgabe dadurch gelöst, daß das
Tastsystem als ein Multisensorsystem aufgebaut ist und aus
einem mechanischen Tastkopf mit zumindest einem Taststift
und/oder einem Videotaster und/oder einem Lasertaster be
steht, die microprozessorgesteuert sind und unabhängig von
einander arbeiten und über eine angeschlossene Software
wahlweise alleine ansteuerbar oder in einer Zweier- oder
Dreierkombination miteinander koppelbar sind. Dabei kann in
bevorzugter Ausführung für die Steuerung des gesamten Multi
sensortastsystems nur eine einzige Software eingerichtet
sein.
Durch diese Ausbildung bedient sich die Meß- und Prüfein
richtung aller bekannten Vorteile der einzelnen Tastsysteme
innerhalb einer Einheit. Mit diesem Mehrkoordinatenmeß- und
-prüfzentrum sind alle vorkommenden Meßaufgaben unter allen
Umgebungsbedingungen optimal lösbar. Das Meß- und Prüfzen
trum kann als Einzeleinheit aufgestellt werden. Es kann
ebenso auch in Transfermaschinenanlagen oder Bearbeitungsan
lagen integriert werden und dadurch im Arbeitsfluß einsetz
bar sein. Die Koordinatenmeß- und -prüfeinrichtung vereinigt
entsprechend den Merkmalen der Erfindung den berührungslos
arbeitenden Videotaster, das Laser-Scan-System und den be
rührenden Meßtaster. Es können sowohl beliebige Oberflächen
konturen berührungslos automatisch vermessen werden als auch
reine Meßaufgaben erledigt werden, wobei die gesamte Ein
richtung diese Aufgaben ohne Umrüstungen optimal bewältigt.
Die eingesetzte Software koordiniert die Kommunikation mit
dem Videoprozessorsystem und die CNC-Bahnsteuerung der Ein
richtung. Nach dem Erfindungsgedanken können die eingesetz
ten unterschiedlichen Tastsysteme unabhängig voneinander und
alternativ die Meß- und Prüfaufgaben erledigen. Sie können
ebensogut auch in Zweier- oder Dreierkombination gekoppelt
werden und dann parallel nebeneinander Meß- und Prüfaufgaben
erfüllen und schließlich so gesteuert werden, daß vorliegen
de Meß- und Prüfaufgaben durch die Tastsysteme hintereinan
der und in abwechselnd unterschiedlicher Zweier- und Dreier
kombination bewältigt werden.
In Ausbildung der Erfindung können zwei in Z-Koordinaten
richtung bewegbare Pinolen vorgesehen sein, von denen eine
den mechanischen Tastkopf mit Taststiften und die andere den
Videotaster und den Lasertaster aufnimmt. Dabei können die
Pinolen an einem gemeinsamen Meßschlitten angeordnet sein.
In weiterer Ausbildung kann für jede Pinole ein getrennter
Meßschlitten vorgesehen sein, wobei die Meßschlitten sowohl
synchron als auch getrennt voneinander in wahlweise gleiche
oder unterschiedliche Koordinatenrichtungen bewegbar sein
können.
Der geringste technische Aufwand liegt dann vor, wenn die
zwei in Z-Richtung eingesetzten Pinolen mit den jeweiligen
Tastsystemen an einem gemeinsamen Schlitten oder sonstigen
Träger befestigt sind. Dadurch kann allerdings bei bestimm
ten Meß- und Prüfaufgaben eine Einschränkung beispielsweise
hinsichtlich der Meßzeit eintreten. Durch die Aufnahme der
zwei Pinolen an getrennten Meßschlitten oder Trägern wird
eine Reihe von Vorteilen erzielt. Die Meßschlitten können im
Sinne der Erfindung synchron in gleicher oder unterschiedli
cher Koordinatenrichtung bewegbar sein. Sie können ebenso
auch zu unterschiedlichen Zeiten in gleiche oder unter
schiedliche Koordinatenrichtungen gefahren werden. Die Viel
zahl der mit dieser Art der Pinolenaufnahme verbundenen Mög
lichkeiten gewährleistet ein Messen und Prüfen unter ver
schiedenen Bedingungen und das Lösen auch komplizierter Meß
aufgaben in kurzer Zeit. Durch die Kombination der Tastsy
steme in einer Maschineneinrichtung können ferner die Meßer
gebnisse des einen Systems durch das andere System überprüft
werden.
In weiterer Ausbildung der Erfindung kann der Lasertaster
sowohl im Scanbetrieb als auch als Autofokus einsetzbar
sein.
Nach einem weiteren Merkmal regelt der Lasertaster im Scan
betrieb die Bewegung der Z-Achse kontinuierlich entsprechend
der Oberflächenkontur, wobei vorteilhafterweise die Abtast
richtung in X- und Y-Achse beliebig vorgebbar ist. Um die
konturerfassende Meßachse in Echtzeit kontinuierlich inner
halb des Laserfangbereiches regeln zu können und hohe Scan
geschwindigkeiten bei gleichzeitig hoher Meßgenauigkeit von
etwa 0,5 µm und eine einstellbare Meßauflösung von 0,1 µm
bis 10 µm zu gewährleisten, kann der Lasertaster im Scanbe
trieb berührungslos mit konstantem Abstand der Oberflächen
kontur eines Werkstückes in den Koordinatenrichtungen X und
Y folgen, wobei das Laserscansystem aus zwei miteinander
verketteten, geschlossenen Regelkreisen gebildet ist, von
denen der erste Regelkreis die Sendeleistung des Lasers auf
das Reflektionsverhalten des Werkstückes abstimmt und in Ab
hängigkeit vom Empfangssignal im Empfänger das Sendesignal
im Sender steuert, während der zweite übergeordnete Regel
kreis das kontinuierliche Nachführen des Schlittens bzw. der
Pinole in Z-Richtung in die optimale Schärfeebene steuert.
Dabei kann in vorteilhafter Ausbildung das Empfängersystem
Differenzdioden aufweisen, durch welche ein Differenzsignal
entsprechend der Schärfeeinstellung des Objektivs erzeugt
wird, das über einen Achsenverstärker und einen Servomotor
die Z-Achse automatisch in die Schärfeebene positioniert.
Der Meßschlitten bzw. die Pinole mit dem Lasertaster kann
für die Z-Achse ein Meßsystem mit einem Glasmaßstab besitzen
und die jeweilige Höhenposition auf der Z-Achse dem Haupt
rechner zuleiten.
In noch weiterer Ausbildung kann der Videotaster Meßpunkte
an der äußeren Kontur des Werkstückes aufnehmen, die durch
ein von einem Videoprozessor erzeugtes digitalisiertes Bild
des jeweiligen Werkstückausschnittes bestimmt sind. Die Kon
turen des Werkstückes in den X- und Y-Koordinaten können da
bei durch Kantenfinderroutinen im digitalisierten Bild er
faßbar sein, und die Meßpunkte in Z-Richtung können mit ei
ner Fokussiereinrichtung und dem Kamerabild oder einem hoch
genauen Laser-Fokussiersystem gebildet werden. Bei der Kan
tenfinderroutine werden einzelne Meßpunkte miteinander zu
einem Meßprogramm verkettet. Das digitalisierte Bild kann
sowohl ein Graubild als auch ein Binärbild sein.
Schließlich kann der mechanische Taster wahlweise ein schal
tender oder ein messender Taster sein, und die Maschinen
grundeinheit kann in Portalbauweise mit einem massiven
Grundbett ausgeführt sein, die zur Werkstückaufnahme wahl
weise einen Drehmeßtisch aufweist und an einer Traverse den
oder die Meßschlitten für die Pinolen längsverschieblich in
einer zu dem Portal rechtwinkligen oder gleichgerichteten
Verfahrrichtung aufnimmt, wobei die oder der Meßschlitten
und die Pinolen von einem Bedienpult steuerbar sind und die
erzielten Meßergebnisse am Bildschirm einer Anzeigeeinheit
und/oder durch einen Drucker protokollierbar sind.
In der Zeichnung sind Beispiele der Erfindung dargestellt,
die nachfolgend mit weiteren Vorteilen erläutert werden. Es
zeigen:
Fig. 1 eine Dreikoordinatenmeßeinrichtung in ver
einfachter perspektivischer Darstellung
Fig. 2 eine Dreikoordinatenmeßeinrichtung mit zwei
Meßschlitten für die Z-Pinolen in verein
fachter perspektivischer Darstellung
Fig. 3 ein Blockschaltbild des Laserscansystems
mit dem Autofokussystem.
Die Dreikoordinatenmeßeinrichtung 1 gemäß den Fig. 1 und
2 ist eine in Portalbauweise aufgebaute Meßmaschine mit ei
nem feststehenden Portal 2, welches aus den beiden Seiten
stützen 3 und der Traverse 4 gebildet ist. Die Traverse 4
stellt gleichzeitig die Führungsbahn 5 für den Querträger 6
dar, welcher sich mit einer Stütze 7 auf der zweiten Füh
rungsbahn 8 abstützt. Der Querträger 6 ist entlang der bei
den parallel angeordneten Führungsbahnen 5 und 8 bis gegen
Endanschläge über einem Meßtisch 9 verfahrbar, der zwischen
dem Portal 2 und der Führungsbahn 8 eingerichtet ist. Der
Meßtisch 9 ist gemäß Fig. 2 als ein Drehmeßtisch 10 ausge
bildet.
Mit 11 ist eine Eingabetastatur oder Funktionstastatur dar
gestellt, mit welcher die einzelnen Funktionen der Meßein
richtung 1 abrufbar sind. Um die Befehle entsprechend in
Funktionen umzusetzen, befindet sich zwischen der Eingabe
tastatur 11 und der Meßeinrichtung 1 ein Rechner 12. Die
Meßergebnisse sind auf einem Bildschirm 13 und/oder einem
Drucker 14 anzeigbar bzw. protokollierbar. Zu diesem Zweck
sind der Bildschirm 13 einer Anzeigeeinheit und der Drucker
14 ebenfalls mit dem zentralen Rechner 12 durch die Leitun
gen 15 verbunden. Die Leitung 16 vom Rechner 12 ist mit An
triebselementen, wie beispielsweise Antriebsmotoren für die
Fahrbewegung des Querträgers 6 und der Schlitten 17 und 18,
und mit elektronischen Einrichtungen der Tastsysteme verbun
den.
Die schematische und vereinfachte Darstellung der Dreikoor
dinatenmeßeinrichtung ist nur eine mögliche Bauart. Anstelle
der gezeigten Ausführung können selbstverständlich beliebige
andere bekannte Bauarten treten, ohne daß dadurch der Be
reich der Erfindung und das Anwendungsgebiet verlassen würde.
An dem Querträger 6 ist ein Schlitten 17 angeordnet, der um
90° versetzt zur Fahrtrichtung des Querträgers 6 an diesem
bewegbar ist. Der Meßschlitten 17 nimmt zwei in Z-Richtung
19 verschiebbare Pinolen 20 und 21 auf.
Entsprechend der Fig. 2 sind an dem Querträger 6 zwei Meß
schlitten 18 entlang dem Querträger 6 verfahrbar angeordnet.
Beide Meßschlitten 18 weisen je eine in Z-Richtung 19 beweg
bare Pinole 20 und 21 auf und sind unabhängig voneinander
steuerbar. Die Meßschlitten 18 können sowohl synchron in
gleicher wie in entgegengesetzter Richtung verfahrbar sein.
Sie können alternativ bewegbar sein und die unterschiedli
chen Fahrtrichtungen und Bewegungsarten ausführen.
Die Pinolen 20 und 21 sind ebenfalls so gesteuert, daß sie
synchron in gleicher wie in entgegengesetzter Richtung be
wegbar sind oder alternative Bewegungen ausführen.
In dem Ausführungsbeispiel weist jeweils die Pinole 20 den
schaltenden Tastkopf 22 und die Pinole 21 den Videotaster 23
und den Lasertaster 24 auf. Natürlich ist ebenso auch die
umgekehrte Zuordnung möglich.
Für die Konturerfassung von Werkstückoberflächen 25 ist die
Dreikoordinatenmeßeinrichtung 1 mit einem Lasertaster 24 an
der Pinole 21 versehen, mit dem beliebige Oberflächenkontu
ren berührungslos automatisch vermessen werden. Im Gegensatz
zu den im Triangulationsverfahren arbeitenden Lasern folgt
der hier eingesetzte Lasertaster mit konstantem Abstand der
Oberflächenkontur. Dieses Verfahren hat den Vorteil, daß die
konturerfassende Meßachse in der Echtzeit kontinuierlich in
nerhalb des Laserfangbereiches geregelt und vom zentralen
Rechner 12 abgelesen wird. Daraus resultieren eine hohe
Scan-Geschwindigkeit und eine hohe Meßgenauigkeit. Die we
sentlichen technischen Vorteile des eingesetzten Lasertasters
24, der nachfolgend noch genauer beschrieben ist, sind:
- - berührungslose und meßkraftfreie Meßwerterfassung
- - hohe Scan-Geschwindigkeit
- - einstellbare Meßauflösung von 0,1 µm bis 10 µm
- - hohe Meßgenauigkeit von 0,5 µm
Der Lasertaster 24 regelt die Bewegung in der Z-Achse 19
kontinuierlich entsprechend der Oberflächenkontur. Die Ab
tastrichtungen in der X- und der Y-Achse sind durch die Meß
schlitten 17 und 18 und durch den Querträger 6 beliebig vor
gebbar durch die Eingabetastatur 11 mit Rechner 12. Dem
Tastprinzip liegt ein sogenanntes Lichtschnittverfahren zu
grunde, bei dem die reflektierende Oberfläche des Werkstük
kes 26 als Referenz für die Scharfstellung benützt wird. Als
Lichtquelle 27 dient eine Impuls-Laserdiode 28, deren
Leuchtfläche mittels eines optischen Systems durch die opti
sche Achse 29 des jeweils benutzten Objektivs 30 auf die
Werkstückoberfläche 25 abgebildet wird. Der Lichtstrahl 31
trifft ausgehend von der Impuls-Laserdiode 28 auf einen 45°
geneigten Spiegel 32, wird von dort zu einer Optik 34 umge
lenkt und gleichzeitig zu einem wiederum 45° geneigten zwei
ten Spiegel 33 geleitet und von diesem zu dem Objektiv 30
über der Werkstückoberfläche 25 gelenkt. Von dort wird der
Lichtstrahl 31 reflektiert und über die Spiegel 33 und 32 zu
der Optik 34 zurückgesandt. Das Werkstück 26 remittiert also
einen Teil des reflektierten Laserlichtes durch Objektiv 30
und optisches System 33, 32, 34 auf ein mit Differenzdioden
35 bestücktes Empfängersystem 36. Aufgrund der bei diesem
System angewandten Abbildungsart wandert der Meßpunkt bei
Defokussierung aus und erzeugt ein Differenzsignal im Ach
senverstärker 37, welches die Z-Achse 19 über einen Servomo
tor 38 wieder in die Schärfeebene positioniert. Bei 39 ist
der Meßpunkt Plus um den Wert ΔF verschoben, während bei 40
die Verschiebung nach Minus um den Wert ΔF erfolgt ist.
Entsprechend dem optischen System werden diese Meßpunkte zu
den Differenzdioden 35 reflektiert und im Empfänger 36 als
Signal über dem Sender 28 zur Anpassung des Meßschlittens 18
in der Z-Koordinate 19 weitergegeben.
Wie aus der Fig. 3 ferner ersichtlich ist, besitzt die Pi
nole 21 neben dem Lasertaster 24 noch den Videotaster 23,
der im wesentlichen aus einer Kamera 41 mit einer Bildverar
beitungseinrichtung 42 besteht. Der Videotaster 23 arbeitet
berührungslos auf der Z-Achse 19 durch das Objektiv 30 auf
die Werkstückoberfläche 25. Die Bestimmung der einzelnen
Meßpunkte eines zu erfassenden Werkstückes 26 erfolgt anhand
eines von einem Videoprozessor 43 digitalisierten Graubildes
des Meßobjektausschnittes. Die Meßpunkte werden dabei an der
äußeren Kontur der Werkstücke 26 aufgenommen. Die jeweiligen
Konturen in der X- und Y-Richtung werden durch Kantenfinder
routinen im Graubild erfaßt, während in Z-Richtung 19 die
Meßpunkte mit der automatischen Fokussiereinrichtung und un
ter Zuhilfenahme des Kamerabildes oder mit einem hochgenauen
Laser-Fokussiersystem gebildet werden.
Fig. 3 zeigt im Prinzip zwei ineinandergeschachtelte Regel
kreise 46 und 47. Der Regelkreis 46 steuert über die Verbin
dung 48 in Abhängigkeit des Empfangssignals das Steuersignal
im Sendesystem 28. Der Regelkreis 46 stimmt die Sendeleistung
des Dauerstrichlasers 24 auf das jeweilige Reflektionsverhal
ten des Werkstückes 26.
Der Regelkreis 47 ist dem Regelkreis 46 übergeordnet und
steuert den Autofokus über den Servomotor 38. Hier wird das
kontinuierliche Nachführen des gesamten Schlittens 21 in Z-
Richtung für eine stets optimale Schärfeebene ermöglicht. Die
Position des Schlittens 21 in der Z-Richtung wird durch ein
Meßsystem 49 mit einem Glasmaßstab festgehalten und über die
Leitung 50 dem Hauptrechner 12 mitgeteilt.
Der Servomotor 38 ist mit der Pinole 21 für die Bewegung in
der Z-Koordinatenrichtung antriebsverbunden, wie dies bei 51
angedeutet ist.
Für die Hervorhebung von Kanten bei schlechtem Kontrast kön
nen Filter für das Graubild eingesetzt werden. Zur Beschrei
bung der Sollgeometrie der Werkstücke stehen die bekannten
geometrischen Grundelemente wie Punkt, Gerade, Kreis, Ellip
se, Ebene, Zylinder, Kugel und Kegel zur Verfügung.
Der schaltende Tastkopf 22 hat eine beliebige, undefinierte
Tastauslenkung und einen Schaltpunkt des Mikroschalters im
Tastkopf. Die Antastung erfolgt mechanisch mit dem Taststift
44 an der Werkstückoberfläche. Durch die Antastberührung
wird der Mikroschalter im Tastkopf 22 betätigt und ein Im
puls an den Rechner 12 gegeben, der für ein Meßergebnis
steht. Der Taststift 44 trägt üblicherweise an seinem äuße
ren Ende eine Tastkugel 45.
Claims (12)
1. Mehrkoordinatenmeß- und prüfeinrichtung, die im wesentli
chen aus einer Maschinengrundeinheit, einem in zumindest
zwei Koordinatenrichtungen bewegbaren Tastsystem und ei
ner Maschinensteuerungseinheit gebildet ist,
dadurch gekennzeichnet,
daß das Tastsystem als ein Multisensortastsystem aufge
baut ist und aus einem mechanischen Tastkopf (22) mit zu
mindest einem Taststift (44) und/oder einem Videotaster
(23) und/oder einem Lasertaster (24) besteht, die micro
prozessorgesteuert sind und unabhängig voneinander arbei
ten und über eine angeschlossene Software wahlweise al
leine ansteuerbar oder in einer Zweier- oder Dreierkombi
nation miteinander koppelbar sind.
2. Meß- und Prüfeinrichtung nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
daß für die Steuerung des gesamten Multisensortastsystems
(22, 23, 24) nur eine einzige Software eingerichtet ist.
3. Meß- und Prüfeinrichtung nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
daß zwei in Z-Koordinatenrichtung bewegbare Pinolen (20,
21) vorgesehen sind, von denen eine den mechanischen
Tastkopf (22) mit Taststiften (44) und die andere den Vi
deotaster (23) und den Lasertaster (24) aufnimmt.
4. Meß- und Prüfeinrichtung nach den Ansprüchen 1 und 3,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Pinolen (20, 21) an einem gemeinsamen Meßschlit
ten (17) angeordnet sind.
5. Meß- und Prüfeinrichtung nach den Ansprüchen 1 und 3,
dadurch gekennzeichnet,
daß für jede Pinole (20, 21) ein Meßschlitten (18) vorge
sehen ist, die sowohl synchron als auch getrennt vonein
ander in wahlweise gleiche oder unterschiedliche Koordi
natenrichtungen bewegbar sind.
6. Meß- und Prüfeinrichtung nach den Ansprüchen 1 und 3,
dadurch gekennzeichnet,
daß der Lasertaster (24) sowohl im Scanbetrieb als auch
als Autofokus einsetzbar ist.
7. Meß- und Prüfeinrichtung nach den Ansprüchen 1 bis 3 und
6,
dadurch gekennzeichnet,
daß der Lasertaster (24) im Scanbetrieb berührungslos mit
konstantem Abstand der Oberflächenkontur eines zu messen
den Werkstückes (26) in den Koordinatenrichtungen X und Y
folgt, wobei das Laserscansystem aus zwei verketteten,
geschlossenen Regelkreisen (46, 47) gebildet ist, von de
nen der erste Regelkreis (46) die Sendeleistung des La
sers auf das Reflektionsverhalten des Werkstückes (26)
abstimmt und in Abhängigkeit vom Empfangssignal im Emp
fänger (36) das Sendesignal im Sender (28) steuert, wäh
rend der zweite übergeordnete Regelkreis (47) das konti
nuierliche Nachführen des Schlittens bzw. der Pinole (21)
in Z-Richtung in die optimale Schärfeebene steuert.
8. Meß- und Prüfeinrichtung nach Anspruch 7,
dadurch gekennzeichnet,
daß das Empfängersystem (36) Differenzdioden (35) auf
weist, durch welche ein Differenzsignal entsprechend der
Schärfeeinstellung des Objektivs (30) erzeugt wird, das
über einen Achsenverstärker (37) und einen Servomotor
(38) die Z-Achse automatisch in die Schärfeebene posi
tioniert.
9. Meß- und Prüfeinrichtung nach den Ansprüchen 1, 7
und 8,
dadurch gekennzeichnet,
daß der Meßschlitten bzw. die Pinole (21) für die Z-Achse
ein Meßsystem (49) mit einem Glasmaßstab aufweist und die
jeweilige Höhenposition dem Hauptrechner (12) zugeleitet
wird.
10. Meß- und Prüfeinrichtung nach den Ansprüchen 1 bis 3,
dadurch gekennzeichnet,
daß der Videotaster (23) Meßpunkte an der äußeren Kontur
des Werkstückes (26) aufnimmt, die durch ein von einem
Videoprozessor (43) erzeugtes digitalisiertes Bild des
jeweiligen Werkstückausschnittes bestimmt sind, wobei die
Konturen des Werkstückes (26) in den X- und Y-Koordinaten
durch Kantenfinderroutinen im digitalisierten Bild erfaß
bar sind und die Meßpunkte in Z-Richtung mit einer Fokus
siereinrichtung und dem Kamerabild oder einem hochgenauen
Laser-Fokussiersystem gebildet werden.
11. Meß- und Prüfeinrichtung nach den Ansprüchen 1 bis 3,
dadurch gekennzeichnet,
daß der mechanische Taster wahlweise ein schaltender oder
ein messender Taster (22) ist.
12. Meß- und Prüfeinrichtung nach den Ansprüchen 1 bis 11,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Maschinengrundeinheit in Portalbauweise mit einem
massiven Grundbett ausgeführt ist, die zur Werkstückauf
nahme wahlweise einen Drehmeßtisch (10) aufweist und an
einem Querträger (6) den oder die Meßschlitten (17, 18)
für die Pinolen (20, 21) längsverschieblich in einer zu
dem Portal (2, 3) rechtwinkligen oder gleichgerichteten
Verfahrrichtung aufnimmt, wobei die oder der Meßschlitten
(17, 18) und die Pinolen (20, 21) von einem Bedienpult
(11) steuerbar sind und die erzielten Meßergebnisse am
Bildschirm (13) einer Anzeigeeinheit und/oder wahlweise
durch einen Drucker (14) protokollierbar sind.
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE3806686A DE3806686A1 (de) | 1988-03-02 | 1988-03-02 | Mehrkoordinatenmess- und -pruefeinrichtung |
EP89102489A EP0330901B1 (de) | 1988-03-02 | 1989-02-14 | Mehrkoordinatenmess- und prüfeinrichtung |
DE8989102489T DE58900461D1 (de) | 1988-03-02 | 1989-02-14 | Mehrkoordinatenmess- und pruefeinrichtung. |
US07/317,617 US4908951A (en) | 1988-03-02 | 1989-03-01 | Coordinate measuring and testing machine |
US07/554,457 USRE33774E (en) | 1988-03-02 | 1990-07-19 | Coordinate measuring and testing machine |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE3806686A DE3806686A1 (de) | 1988-03-02 | 1988-03-02 | Mehrkoordinatenmess- und -pruefeinrichtung |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3806686A1 true DE3806686A1 (de) | 1989-09-14 |
DE3806686C2 DE3806686C2 (de) | 1993-09-23 |
Family
ID=6348596
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE3806686A Granted DE3806686A1 (de) | 1988-03-02 | 1988-03-02 | Mehrkoordinatenmess- und -pruefeinrichtung |
DE8989102489T Expired - Lifetime DE58900461D1 (de) | 1988-03-02 | 1989-02-14 | Mehrkoordinatenmess- und pruefeinrichtung. |
Family Applications After (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE8989102489T Expired - Lifetime DE58900461D1 (de) | 1988-03-02 | 1989-02-14 | Mehrkoordinatenmess- und pruefeinrichtung. |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US4908951A (de) |
EP (1) | EP0330901B1 (de) |
DE (2) | DE3806686A1 (de) |
Cited By (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4445331A1 (de) * | 1994-12-19 | 1996-06-27 | Mycrona Ges Fuer Innovative Me | Automatischer Multisensormeßkopf für Koordinatenmeßgeräte |
DE19639780A1 (de) * | 1996-09-27 | 1998-04-02 | Leitz Brown & Sharpe Mestechni | Verfahren zur Durchführung von optischen und mechanischen Messungen in der Koordinatenmeßtechnik |
DE19820307A1 (de) * | 1998-05-07 | 1999-11-18 | Mycrona Ges Fuer Innovative Me | Berührungslose Temperaturerfassung an einer Mehrkoordinatenmeß- und Prüfeinrichtung |
DE19914862A1 (de) * | 1999-04-01 | 2000-10-26 | Zoller Gmbh & Co Kg E | Verfahren und Vorrichtung zum Vermessen eines Konturverlaufs eines Werkstücks |
EP1347266A2 (de) * | 2002-03-13 | 2003-09-24 | Gurny-Brösch, Andrea | Vorrichtung zum Vermessen eines Messobjekts |
WO2004025222A1 (de) * | 2002-08-31 | 2004-03-25 | Carl Mahr Holding Gmbh | Tasteinrichtung für vielfältige messaufgaben |
EP1570234A2 (de) * | 2002-12-13 | 2005-09-07 | Werth Messtechnik GmbH | Verfahren zum scannenden messen einer kontur eines werkstücks |
DE102004017172A1 (de) * | 2004-04-02 | 2005-10-20 | Jan Bernd Lugtenburg | Verfahren und Vorrichtung zur Vermessung eines Messobjekts |
DE102007019453A1 (de) | 2007-04-25 | 2008-10-30 | Carl Mahr Holding Gmbh | Koordinatenmessgerät mit zwei Schlitten auf gemeinsamer Führung |
DE102007000306A1 (de) | 2007-05-08 | 2008-11-13 | Ibtl Lang & Armlich Gmbh | Koordinatenmessvorrichtung |
DE102007020860A1 (de) * | 2007-05-02 | 2008-11-13 | Carl Mahr Holding Gmbh | XY- und Winkelmessung mittels kombinierter Weißlichtinterferometrie |
DE102007018951B3 (de) * | 2007-04-21 | 2009-01-02 | Carl Mahr Holding Gmbh | Modulares Messkopfsystem |
DE202007014435U1 (de) | 2007-10-16 | 2009-03-05 | Gurny, Eric | Optischer Sensor für eine Messvorrichtung |
US10801920B2 (en) | 2017-08-25 | 2020-10-13 | Klingelnberg Gmbh | Device with a tactile system and with a contactlessly operating sensor, and corresponding method and use thereof |
Families Citing this family (99)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
NL8901010A (nl) * | 1989-04-21 | 1990-11-16 | Pelt & Hooykaas | Driedimensionale meetinrichting. |
US5047966A (en) * | 1989-05-22 | 1991-09-10 | Airfoil Textron Inc. | Airfoil measurement method |
US5050112A (en) * | 1989-08-08 | 1991-09-17 | The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy | Specimen coordinate automated measuring machine/fiducial automated measuring machine |
JPH05505240A (ja) * | 1990-03-23 | 1993-08-05 | スペクトラ プレシジョン アクティエボラーグ | アナログ型変位センサ |
US5297055A (en) * | 1990-04-20 | 1994-03-22 | The Gleason Works | Multi-functional measurement system |
US5055752A (en) * | 1990-04-20 | 1991-10-08 | United Technologies Corporation | Method for machining airfoils |
DE4026942A1 (de) * | 1990-08-25 | 1992-02-27 | Zeiss Carl Fa | Verfahren zur beruehrungslosen vermessung von objektoberflaechen |
US5251156A (en) * | 1990-08-25 | 1993-10-05 | Carl-Zeiss-Stiftung, Heidenheim/Brenz | Method and apparatus for non-contact measurement of object surfaces |
JPH04269607A (ja) * | 1991-02-25 | 1992-09-25 | Mitsui Eng & Shipbuild Co Ltd | 物体の寸法計測装置 |
SE468727B (sv) * | 1991-07-09 | 1993-03-08 | Johansson Ab C E | Maskinstativ, saerskilt foer s k koordinatmaetmaskiner, jaemte saett att utfoera maskinstativet |
ATE136332T1 (de) * | 1991-08-02 | 1996-04-15 | Unilever Nv | Mikroorganismuswachstum |
DE4134371A1 (de) * | 1991-10-17 | 1993-04-22 | Zeiss Carl Fa | Verfahren zur messung der effektiven momentanposition eines von einem schlitten getragenen tastelementes bzw. werkzeugs |
US5394757A (en) * | 1992-06-25 | 1995-03-07 | Thiokol Corporation | Multiple stylus probe attachment and methods |
US5309375A (en) * | 1992-08-31 | 1994-05-03 | Eastman Kodak Company | A method for determining a surface topology of a workpiece |
DE4327250C5 (de) * | 1992-09-25 | 2008-11-20 | Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh | Verfahren zur Koordinatenmessung an Werkstücken |
US5467289A (en) * | 1992-10-15 | 1995-11-14 | Mitutoyo Corporation | Method of and an apparatus for measuring surface contour |
US5412880A (en) * | 1993-02-23 | 1995-05-09 | Faro Technologies Inc. | Method of constructing a 3-dimensional map of a measurable quantity using three dimensional coordinate measuring apparatus |
US5351125A (en) * | 1993-03-29 | 1994-09-27 | Moore Products, Inc. | Gaging finger for precision measuring instruments |
FR2706345B1 (fr) * | 1993-06-11 | 1995-09-22 | Bertin & Cie | Procédé et dispositif de repérage dans l'espace d'un objet mobile tel qu'un capteur ou un outil porté par un robot. |
SE9302119L (sv) * | 1993-06-18 | 1994-05-09 | Johansson Ab C E | Maskinstativ innefattande en portal jämte sätt att bestämma geometrin hos portalen vid maskinstativets deformation |
US5341574A (en) * | 1993-06-29 | 1994-08-30 | The United States Of America As Represented By The Department Of Energy | Coordinate measuring machine test standard apparatus and method |
US5589940A (en) * | 1994-12-21 | 1996-12-31 | Hughes Electronics | Apparatus for measuring the curvature of a surface using moveable reflecting and focusing elements |
JP3792812B2 (ja) * | 1996-11-11 | 2006-07-05 | オークマ株式会社 | ボールエンドミルの真球度測定方法 |
DE59711570D1 (de) * | 1996-12-21 | 2004-06-03 | Zeiss Carl | Verfahren zur Steuerung eines Koordinatenmessgerätes und Koordinatenmessgerät |
DE19725159C1 (de) * | 1997-04-10 | 1998-07-02 | Fraunhofer Ges Forschung | Meßanordnung zum Erfassen und Vermessen von Brillenbauteilen |
DE59804883D1 (de) * | 1998-04-25 | 2002-08-29 | Inst Fertigungstechnik Der Tu | Messvorrichtung zum Messen der Positionier- und Bahngenauigkeit eines bewegten Maschinenteils |
US6240651B1 (en) | 1998-06-17 | 2001-06-05 | Mycrona Gmbh | Coordinate measuring machine having a non-sensing probe |
US6518996B1 (en) * | 1999-02-22 | 2003-02-11 | Optical Gaging Products, Inc. | Compact video inspection apparatus with Y, Z, X compounded measurement axes |
DE10066519B3 (de) | 1999-11-30 | 2019-08-14 | Mitutoyo Corporation | Bilderzeugungssonde |
JP2001208530A (ja) * | 2000-01-26 | 2001-08-03 | Asanuma Giken:Kk | 計測機検査用計測マスタのセッティング装置 |
JP3647378B2 (ja) * | 2001-03-02 | 2005-05-11 | キヤノン株式会社 | マルチプローブを用いた形状測定装置及び測定方法 |
US20030048448A1 (en) * | 2001-03-19 | 2003-03-13 | Fleming Timothy J. | Automated apparatus for testing optical filters |
US6983547B2 (en) * | 2001-03-19 | 2006-01-10 | Veeco Instruments Inc. | Goniometer |
US7065892B2 (en) * | 2001-03-19 | 2006-06-27 | Veeco Instruments Inc. | Method and apparatus for calibrating a vision system to a parts handling device |
FR2829835B1 (fr) * | 2001-09-17 | 2004-07-23 | Georges Marius Noel Rovera | Topomicrometre laser photographique |
DE10159221B4 (de) * | 2001-11-27 | 2006-01-19 | Siemens Ag | Mikroskop |
US7246030B2 (en) * | 2002-02-14 | 2007-07-17 | Faro Technologies, Inc. | Portable coordinate measurement machine with integrated line laser scanner |
US7881896B2 (en) | 2002-02-14 | 2011-02-01 | Faro Technologies, Inc. | Portable coordinate measurement machine with integrated line laser scanner |
FR2837567B1 (fr) * | 2002-03-19 | 2005-05-06 | Romain Granger | Capteur pour machine de mesure de coordonnees tridimensionnelles |
DE10251412B4 (de) * | 2002-11-01 | 2016-10-06 | Werth Messtechnik Gmbh | Anordnung zur Messung der Geometrie und/oder Struktur eines Objektes |
JP4209709B2 (ja) * | 2003-03-20 | 2009-01-14 | 株式会社キーエンス | 変位計 |
EP2282165A3 (de) | 2004-05-26 | 2011-02-16 | Werth Messtechnik GmbH | Koordinatenmessgerät und Verfahren zum Messen eines Objektes |
JP4478530B2 (ja) * | 2004-08-10 | 2010-06-09 | 株式会社 ソキア・トプコン | 微小寸法測定機 |
WO2006063838A1 (de) * | 2004-12-16 | 2006-06-22 | Werth Messtechnik Gmbh | Koordinatenmessgerät sowie verfahren zum messen mit einem koordinatenmessgerät |
DE102005026022A1 (de) * | 2005-06-03 | 2006-12-07 | Werth Messtechnik Gmbh | Koordinatenmessgerät sowie Verfahren zum Messen eines Objektes mit einem Koordinatenmessgerät |
US7784183B2 (en) * | 2005-06-09 | 2010-08-31 | General Electric Company | System and method for adjusting performance of manufacturing operations or steps |
DE102006014509A1 (de) * | 2006-03-22 | 2007-09-27 | Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh | Prüfkörper und Verfahren zum Einmessen eines Koordinatenmessgerätes |
US7652275B2 (en) * | 2006-07-28 | 2010-01-26 | Mitutoyo Corporation | Non-contact probe control interface |
US7508529B2 (en) * | 2006-07-31 | 2009-03-24 | Mitutoyo Corporation | Multi-range non-contact probe |
CN101126626B (zh) * | 2006-08-18 | 2010-09-22 | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 | 平面度检测仪 |
DE102007021809A1 (de) | 2007-04-20 | 2008-10-23 | Werth Messtechnik Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zum dimensionellen Messen mit Koordinatenmessgeräten |
JP2009216548A (ja) * | 2008-03-11 | 2009-09-24 | Mitsutoyo Corp | 測定装置 |
CN101970980B (zh) * | 2008-03-11 | 2014-04-09 | 株式会社尼康 | 基准球检测装置、基准球位置检测装置和三维坐标测量装置 |
DE102008037441A1 (de) | 2008-06-30 | 2009-12-31 | Werth Messtechnik Gmbh | Verfahren zum Messen der Geometrie eines Werkstücks |
DE102009043823A1 (de) | 2008-08-28 | 2010-07-29 | Werth Messtechnik Gmbh | Verfahren und Anordnung zum Bestimmen von Strukturen oder Geometrien eines Messobjektes |
US7908757B2 (en) * | 2008-10-16 | 2011-03-22 | Hexagon Metrology, Inc. | Articulating measuring arm with laser scanner |
DE102009049534A1 (de) * | 2009-10-06 | 2011-04-07 | Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh | Koordinatenmessgerät mit Lageänderungssensoren |
US8650939B2 (en) * | 2009-10-13 | 2014-02-18 | Mitutoyo Corporation | Surface texture measuring machine and a surface texture measuring method |
JP2011085402A (ja) * | 2009-10-13 | 2011-04-28 | Mitsutoyo Corp | 表面性状測定機 |
KR101190643B1 (ko) * | 2010-10-23 | 2012-10-15 | 이태경 | 고유좌표계를 가진 이종기기 사이의 공간좌표를 동기화시키는 좌표동기화 방법 |
CN102735138B (zh) * | 2011-04-12 | 2015-07-01 | 科马斯控股股份公司 | 测量结构以及用于至少确定压接触头的导线压接体的压接高度的方法 |
CN102430961B (zh) * | 2011-10-28 | 2013-10-30 | 华中科技大学 | 基于多传感器集成测量的自由曲面类零件加工系统 |
US8817240B2 (en) | 2012-05-25 | 2014-08-26 | Mitutoyo Corporation | Interchangeable optics configuration for a chromatic range sensor optical pen |
US8736817B2 (en) | 2012-05-25 | 2014-05-27 | Mitutoyo Corporation | Interchangeable chromatic range sensor probe for a coordinate measuring machine |
JP2014009976A (ja) * | 2012-06-28 | 2014-01-20 | Hitachi Ltd | 3次元形状計測用x線ct装置およびx線ct装置による3次元形状計測方法 |
EP2705935A1 (de) | 2012-09-11 | 2014-03-12 | Hexagon Technology Center GmbH | Koordinatenmessmaschine |
WO2014120122A1 (en) | 2013-01-29 | 2014-08-07 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Single-facet spindle implementation for a laser scanner system |
DE102013105102A1 (de) | 2013-03-28 | 2014-10-02 | Werth Messtechnik Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung von Merkmalen an Messobjekten |
US9068822B2 (en) | 2013-07-03 | 2015-06-30 | Mitutoyo Corporation | Chromatic range sensor probe detachment sensor |
CN103557820B (zh) * | 2013-11-16 | 2016-09-28 | 青岛弗尔迪测控有限公司 | 高稳定的长悬臂式三坐标测量机 |
US9581433B2 (en) | 2013-12-11 | 2017-02-28 | Honeywell Asca Inc. | Caliper sensor and method using mid-infrared interferometry |
US9639083B2 (en) | 2013-12-18 | 2017-05-02 | Mitutoyo Corporation | System and method for programming workpiece feature inspection operations for a coordinate measuring machine |
US9291447B2 (en) | 2014-07-09 | 2016-03-22 | Mitutoyo Corporation | Method for controlling motion of a coordinate measuring machine |
US9646425B2 (en) | 2015-04-09 | 2017-05-09 | Mitutoyo Corporation | Inspection program editing environment with editing environment automatically globally responsive to editing operations in any of its portions |
US9933256B2 (en) | 2015-04-09 | 2018-04-03 | Mitutoyo Corporation | Inspection program editing environment including real-time feedback related to throughput |
US9952586B2 (en) | 2015-04-09 | 2018-04-24 | Mitutoyo Corporation | Inspection program editing environment with simulation status and control continually responsive to selection operations |
JP2018520332A (ja) | 2015-05-04 | 2018-07-26 | 株式会社ミツトヨ | ユーザにより画定される衝突回避領域を提供する検査プログラム編集環境 |
US11520472B2 (en) | 2015-09-24 | 2022-12-06 | Mitutoyo Corporation | Inspection program editing environment including integrated alignment program planning and editing features |
US9791262B2 (en) | 2015-12-17 | 2017-10-17 | Mitutoyo Corporation | Measurement device with multiplexed position signals |
US9803972B2 (en) | 2015-12-17 | 2017-10-31 | Mitutoyo Corporation | Optical configuration for measurement device |
DE102016102579A1 (de) * | 2016-02-15 | 2017-08-17 | Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zum Bestimmen einer Vielzahl von Raumkoordinaten an einem Gegenstand |
JP6692658B2 (ja) * | 2016-02-25 | 2020-05-13 | 株式会社ミツトヨ | 内壁測定装置及びオフセット量算出方法 |
CH712442A1 (de) * | 2016-05-09 | 2017-11-15 | Reishauer Ag | Zahnradbearbeitungsmaschine mit Einzentriervorrichtung. |
CN109952488B (zh) | 2016-09-09 | 2021-02-02 | 优质视觉技术国际公司 | 用于测量机器的具有多个传感器的铰接头 |
US10990075B2 (en) | 2016-09-27 | 2021-04-27 | Mitutoyo Corporation | Context sensitive relational feature/measurement command menu display in coordinate measurement machine (CMM) user interface |
US10814668B2 (en) * | 2016-11-08 | 2020-10-27 | Jeffery James Jackson | Kiosk and method for making puzzle tags |
US10275722B2 (en) * | 2017-04-19 | 2019-04-30 | The Nordam Group, Inc. | Self recognition CNC machining |
JP6923361B2 (ja) * | 2017-05-29 | 2021-08-18 | 株式会社ミツトヨ | 位置計測装置の操作方法 |
US11860602B2 (en) | 2017-12-29 | 2024-01-02 | Mitutoyo Corporation | Inspection program editing environment with automatic transparency operations for occluded workpiece features |
US10739128B2 (en) * | 2018-02-26 | 2020-08-11 | The Boeing Company | Laser scanner scanning using a computer numerical controlled (CNC) system for movement |
WO2019194908A1 (en) * | 2018-04-02 | 2019-10-10 | Quality Vision International Inc. | Alignment system for imaging sensors in multiple orientations |
US11022511B2 (en) | 2018-04-18 | 2021-06-01 | Aron Kain | Sensor commonality platform using multi-discipline adaptable sensors for customizable applications |
US11118896B2 (en) | 2019-11-27 | 2021-09-14 | Mitutoyo Corporation | Configuration for coupling chromatic range sensor optical probe to coordinate measurement machine |
US11187521B2 (en) | 2020-04-28 | 2021-11-30 | Mitutoyo Corporation | Rotating chromatic range sensor system with calibration object and method |
US11326865B2 (en) | 2020-04-28 | 2022-05-10 | Mitutoyo Corporation | Rotating chromatic range sensor system with calibration objects and method |
US11499817B2 (en) | 2020-05-29 | 2022-11-15 | Mitutoyo Corporation | Coordinate measuring machine with vision probe for performing points-from-focus type measurement operations |
US11328409B2 (en) | 2020-09-30 | 2022-05-10 | Mitutoyo Corporation | System and method utilizing multi-point autofocus to align an optical axis of an optical assembly portion to be normal to a workpiece surface |
US11635291B2 (en) | 2021-04-30 | 2023-04-25 | Mitutoyo Corporation | Workpiece holder for utilization in metrology system for measuring workpiece in different orientations |
DE102021115046A1 (de) | 2021-06-10 | 2022-12-15 | Hans-Georg Grün | Messkopf für ein taktiles Koordinatenmessgerät, Verfahren zum Vermessen eines Werkstücks mit einem taktilen Koordinatenmessgerät sowie Koordinatenmessgerät |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3750295A (en) * | 1971-07-22 | 1973-08-07 | Werkzeugmasch Veb | Measuring machine |
US4677755A (en) * | 1984-10-29 | 1987-07-07 | Mitutoyo Mfg. Co., Ltd. | Coordinate measuring instrument |
DE3616245A1 (de) * | 1986-05-14 | 1987-11-19 | Zeiss Carl Fa | Interferometersystem zur laengen- oder winkelmessung |
DE3725347A1 (de) * | 1986-08-04 | 1988-02-18 | Fmc Corp | Computerintegriertes messsystem |
Family Cites Families (26)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB1277014A (en) * | 1968-05-01 | 1972-06-07 | Image Analysing Computers Ltd | Detection device for detecting outline features for image analysis systems |
DE2011470B2 (de) * | 1970-03-11 | 1971-12-23 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München, Zeiss, Carl, 7920 Heidenheim | Verfahren zum auswerten eines nach einem rasterverfahren auf genommenen bildes |
US4240745A (en) * | 1974-07-29 | 1980-12-23 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force | Imagery with constant range lines |
DE2919858A1 (de) * | 1978-05-17 | 1979-11-22 | British Steel Corp | Verfahren und vorrichtung zur bestimmung der abmessungen von werkstuecken |
US4575805A (en) * | 1980-12-24 | 1986-03-11 | Moermann Werner H | Method and apparatus for the fabrication of custom-shaped implants |
US4541722A (en) * | 1982-12-13 | 1985-09-17 | Jenksystems, Inc. | Contour line scanner |
US4493968A (en) * | 1983-07-13 | 1985-01-15 | Caterpillar Tractor Co. | Adaptive welder with laser TV-scanner |
US4692690A (en) * | 1983-12-26 | 1987-09-08 | Hitachi, Ltd. | Pattern detecting apparatus |
JPS60224009A (ja) * | 1984-04-20 | 1985-11-08 | Mitsutoyo Mfg Co Ltd | 自動三次元測定機 |
JPS612008A (ja) * | 1984-06-15 | 1986-01-08 | Mitsutoyo Mfg Co Ltd | 座標測定装置 |
JPS6131909A (ja) * | 1984-07-25 | 1986-02-14 | Hitachi Ltd | 金属物体の立体形状検出装置およびその方法 |
JPS6186606A (ja) * | 1984-10-05 | 1986-05-02 | Hitachi Ltd | 非接触形状測定方法 |
JPS61105411A (ja) * | 1984-10-29 | 1986-05-23 | Mitsutoyo Mfg Co Ltd | 多次元測定機の測定方法 |
US4634879A (en) * | 1985-03-21 | 1987-01-06 | General Electric Company | Method and system for determining surface profile information |
US4743771A (en) * | 1985-06-17 | 1988-05-10 | View Engineering, Inc. | Z-axis height measurement system |
US4695982A (en) * | 1985-07-12 | 1987-09-22 | Verbatim Corporation | Hub hole characterization system |
JPS62127655A (ja) * | 1985-11-29 | 1987-06-09 | Toshiba Mach Co Ltd | レ−ザ描画検査方法および装置 |
US4910690A (en) * | 1986-02-14 | 1990-03-20 | Citizen Watch Co., Ltd. | Micro-dimensional measurement apparatus |
JPS62245109A (ja) * | 1986-04-16 | 1987-10-26 | Amada Co Ltd | 3次元測定装置 |
US4818110A (en) * | 1986-05-06 | 1989-04-04 | Kla Instruments Corporation | Method and apparatus of using a two beam interference microscope for inspection of integrated circuits and the like |
GB2190487B (en) * | 1986-05-12 | 1989-12-13 | Gen Electric Plc | Profilometers |
DE3616812A1 (de) * | 1986-05-17 | 1987-11-19 | Leitz Ernst Gmbh | Koordinatenmessvorrichtung |
JPS63191006A (ja) * | 1987-02-04 | 1988-08-08 | Nkk Corp | 屈曲棒または屈曲管の形状測定装置 |
US4732483A (en) * | 1987-03-19 | 1988-03-22 | Zygo Corporation | Interferometric surface profiler |
US4906099A (en) * | 1987-10-30 | 1990-03-06 | Philip Morris Incorporated | Methods and apparatus for optical product inspection |
US4957367A (en) * | 1988-05-31 | 1990-09-18 | Lev Dulman | Inteferometric imaging system |
-
1988
- 1988-03-02 DE DE3806686A patent/DE3806686A1/de active Granted
-
1989
- 1989-02-14 EP EP89102489A patent/EP0330901B1/de not_active Expired - Lifetime
- 1989-02-14 DE DE8989102489T patent/DE58900461D1/de not_active Expired - Lifetime
- 1989-03-01 US US07/317,617 patent/US4908951A/en not_active Ceased
-
1990
- 1990-07-19 US US07/554,457 patent/USRE33774E/en not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3750295A (en) * | 1971-07-22 | 1973-08-07 | Werkzeugmasch Veb | Measuring machine |
US4677755A (en) * | 1984-10-29 | 1987-07-07 | Mitutoyo Mfg. Co., Ltd. | Coordinate measuring instrument |
DE3616245A1 (de) * | 1986-05-14 | 1987-11-19 | Zeiss Carl Fa | Interferometersystem zur laengen- oder winkelmessung |
DE3725347A1 (de) * | 1986-08-04 | 1988-02-18 | Fmc Corp | Computerintegriertes messsystem |
Non-Patent Citations (6)
Title |
---|
CH-Z: Technische Rundschau, 40, 1985, S.28-37 * |
DE-Z: Industrieanzeiger, H.103/104, 1987, S.56 * |
DE-Z: Industrieanzeiger, Nr.56, 1984, S.113-119 * |
DE-Z: Technisches Messen tm, 53, 1986, S.286-292 * |
US-Z: Sensor Review, Oct. 1987, S.174 * |
VDI-Seminar vom 6.10.87: Vortrag von Jesef Leyendecker: "Berührungslose Koordinatenmeßtechnik" * |
Cited By (20)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4445331A1 (de) * | 1994-12-19 | 1996-06-27 | Mycrona Ges Fuer Innovative Me | Automatischer Multisensormeßkopf für Koordinatenmeßgeräte |
DE4445331C2 (de) * | 1994-12-19 | 1999-09-09 | Mycrona Ges Fuer Innovative Me | Automatischer Multisensormeßkopf für Koordinatenmeßgeräte |
DE4445331C5 (de) * | 1994-12-19 | 2006-07-27 | Mycrona Gesellschaft für innovative Messtechnik mbH | Automatischer Multisensormeßkopf für Koordinatenmeßgeräte |
DE19639780A1 (de) * | 1996-09-27 | 1998-04-02 | Leitz Brown & Sharpe Mestechni | Verfahren zur Durchführung von optischen und mechanischen Messungen in der Koordinatenmeßtechnik |
DE19820307A1 (de) * | 1998-05-07 | 1999-11-18 | Mycrona Ges Fuer Innovative Me | Berührungslose Temperaturerfassung an einer Mehrkoordinatenmeß- und Prüfeinrichtung |
DE19820307C2 (de) * | 1998-05-07 | 2003-01-02 | Mycrona Ges Fuer Innovative Me | Berührungslose Temperaturerfassung an einer Mehrkoordinatenmeß- und Prüfeinrichtung |
DE19914862A1 (de) * | 1999-04-01 | 2000-10-26 | Zoller Gmbh & Co Kg E | Verfahren und Vorrichtung zum Vermessen eines Konturverlaufs eines Werkstücks |
DE19914862B4 (de) * | 1999-04-01 | 2006-11-23 | E. Zoller Gmbh & Co. Kg | Verfahren und Vorrichtung zum Vermessen eines Konturverlaufs eines Werkstücks |
EP1347266A3 (de) * | 2002-03-13 | 2006-05-31 | Gurny-Brösch, Andrea | Vorrichtung zum Vermessen eines Messobjekts |
EP1347266A2 (de) * | 2002-03-13 | 2003-09-24 | Gurny-Brösch, Andrea | Vorrichtung zum Vermessen eines Messobjekts |
WO2004025222A1 (de) * | 2002-08-31 | 2004-03-25 | Carl Mahr Holding Gmbh | Tasteinrichtung für vielfältige messaufgaben |
EP1570234A2 (de) * | 2002-12-13 | 2005-09-07 | Werth Messtechnik GmbH | Verfahren zum scannenden messen einer kontur eines werkstücks |
DE102004017172A1 (de) * | 2004-04-02 | 2005-10-20 | Jan Bernd Lugtenburg | Verfahren und Vorrichtung zur Vermessung eines Messobjekts |
DE102007018951B3 (de) * | 2007-04-21 | 2009-01-02 | Carl Mahr Holding Gmbh | Modulares Messkopfsystem |
DE102007019453A1 (de) | 2007-04-25 | 2008-10-30 | Carl Mahr Holding Gmbh | Koordinatenmessgerät mit zwei Schlitten auf gemeinsamer Führung |
DE102007020860A1 (de) * | 2007-05-02 | 2008-11-13 | Carl Mahr Holding Gmbh | XY- und Winkelmessung mittels kombinierter Weißlichtinterferometrie |
DE102007000306A1 (de) | 2007-05-08 | 2008-11-13 | Ibtl Lang & Armlich Gmbh | Koordinatenmessvorrichtung |
DE202007014435U1 (de) | 2007-10-16 | 2009-03-05 | Gurny, Eric | Optischer Sensor für eine Messvorrichtung |
US8736846B2 (en) | 2007-10-16 | 2014-05-27 | Werth Messtechnik Gmbh | Optical sensor device |
US10801920B2 (en) | 2017-08-25 | 2020-10-13 | Klingelnberg Gmbh | Device with a tactile system and with a contactlessly operating sensor, and corresponding method and use thereof |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP0330901A1 (de) | 1989-09-06 |
USRE33774E (en) | 1991-12-24 |
EP0330901B1 (de) | 1991-11-21 |
US4908951A (en) | 1990-03-20 |
DE58900461D1 (de) | 1992-01-02 |
DE3806686C2 (de) | 1993-09-23 |
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Legal Events
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OM8 | Search report available as to paragraph 43 lit. 1 sentence 1 patent law | ||
8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
D2 | Grant after examination | ||
8363 | Opposition against the patent | ||
8365 | Fully valid after opposition proceedings | ||
8327 | Change in the person/name/address of the patent owner |
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|
8327 | Change in the person/name/address of the patent owner |
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|
8310 | Action for declaration of annulment | ||
8313 | Request for invalidation rejected/withdrawn | ||
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8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |