DE3832463A1 - Optische ansteuerschaltung und halbleitervorrichtung zur verwirklichung dieser ansteuerschaltung - Google Patents
Optische ansteuerschaltung und halbleitervorrichtung zur verwirklichung dieser ansteuerschaltungInfo
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Description
Die Erfindung betrifft eine optische Ansteuerschaltung zur optischen
Steuerung von Eingangs- und Ausgangsströmen oder
-spannungen eines Schaltkreises sowie eine Halbleitervorrichtung
zur Verwirklichung einer solchen Ansteuerschaltung.
Eine optische Ansteuerschaltung dieser Art enthält im allgemeinen
einen Folgetransistor mit einer Steuerelektrode und
zwei Ausgangselektroden, die den Kollektor bzw. Drain und den
Emitter bzw. die Source bilden, wobei die Steuerelektrode des
Folgetransistors durch eine Fotospannung angesteuert wird, die
durch eine Reihenschaltung von fotovoltaischen Elementen, insbesondere
Fotodioden, erzeugt wird. Die Ansteuerung des Folgetransistors
erfolgt so, daß die Eingangs- und Ausgangsströme
bzw. -spannungen an den Ausgangselektroden gesteuert werden.
Gegebenenfalls wird der Steuervorgang des Folgetransistors
durch eine Zusatzschaltung beschleunigt, die einen vorausgehenden
Transistor umfaßt.
Es wurden bereits verschiedene Arten von optischen Ansteuerschaltungen
für diese Zwecke vorgeschlagen. Beispielsweise ist
eine optische Ansteuerschaltung zur Durchschaltung oder Sperrung
eines Feldeffekttransistors in der US-PS 45 00 801 beschrieben.
Bei dieser Ansteuerschaltung ist eine Diode als
Konstantspannungselement zwischen die Steuerelektrode und die
Sourceelektrode eines ersten Feldeffekttransistors geschaltet.
Ein zu den fotovoltaischen Elementen parallel schaltbarer Widerstand
ist zwischen die Steuerelektrode und die Drainelektrode
des Feldeffekttransistors gelegt. Ein zweiter Transistor
oder Folgetransistor ist mit seiner Steuerelektrode an die
Sourceelektrode des ersten Feldeffekttransistors angeschlossen.
Eine an die Steuerelektrode des nachfolgenden Feldeffekttransistors
angelegte Spannung gegenüber der Sourceelektrode des
zweiten Feldeffekttransistors steuert den ersten Feldeffekttransistor
leitend, wodurch der zweite Feldeffekttransistor
gesperrt wird.
Bei einer solchen Ansteuerschaltung ist jedoch die Ausbildung
des ersten Feldeffekttransistors in demselben Substrat wie der
zweite Feldeffekttransistor schwierig, wenn nicht die Eigenschaften
dieses zweiten Feldeffekttransistors beeinflußt werden
sollen, so daß zumindest die Herstellungsverfahren komplizierter
und aufwendiger werden. Ungelöst bleibt ferner das
Problem, daß bei der bekannten Ansteuerschaltung eine Integration
nur schwer erzielbar ist und daher hohe Herstellungskosten
bei niedriger Produktivität entstehen.
Aufgabe der Erfindung ist die Bereitstellung einer optischen
Ansteuerschaltung mit zwei Transistoren, die auf einem gemeinsamen
Substrat hergestellt werden können, um eine kostengünstige
und rationelle Herstellung zu ermöglichen.
Durch die Erfindung wird eine optische Ansteuerschaltung geschaffen,
bei der ein erstes resistives Element zwischen eine
Steuerelektrode und eine erste Ausgangselektrode eines ersten
Transistors geschaltet ist; die erste Ausgangselektrode bildet
einen Emitter oder eine Sourceelektrode des ersten Transistors,
dessen Kollektor oder Drainelektrode eine zweite Ausgangselektrode
bildet. Ein zweites resistives Element ist zwischen die
Steuerelektrode und die zweite Ausgangselektrode geschaltet.
Eine Reihenschaltung aus fotovoltaischen Elementen ist parallel
zu dem zweiten resistiven Element geschaltet. Ein zweiter
Transistor ist mit dem ersten Transistor in solcher Weise zusammengeschaltet,
daß er gesperrt ist, wenn der erste Transistor
leitet. Eine Besonderheit dieser Ansteuerschaltung besteht
darin, daß der zweite Transistor über seine Steuerelektrode
mit der zweiten Ausgangselektrode des ersten Transistors, die
den Kollektor bzw. die Drainelektrode bildet, verbunden ist.
Weitere Merkmale und Vorteile der Erfindung ergeben sich aus
der folgenden Beschreibung mehrerer Ausführungsformen der Erfindung
und aus der Zeichnung, auf die Bezug genommen wird.
In der Zeichnung zeigt
Fig. 1 ein Schaltbild einer Ausführungsform der optischen
Ansteuerschaltung;
Fig. 2 bis 4 Teilschnitte eines in Dünnschichttechnik hergestellten
Transistors, der den ersten Transistor der
Ansteuerschaltung bildet, in verschiedenen Funktionsdarstellungen;
Fig. 5 einen Teilschnitt eines ersten resistiven Elementes
für die Ansteuerschaltung nach Fig. 1, wobei bestimmte
Funktionen veranschaulicht sind;
Fig. 6 einen Teilschnitt eines zweiten resistiven Elementes
für die Ansteuerschaltung nach Fig. 1, wobei wiederum
bestimmte Funktionsmerkmale veranschaulicht sind;
Fig. 7 einen Teilschnitt einer Reihenschaltung aus fotovoltaischen
Elementen für die Ansteuerschaltung nach Fig.
1;
Fig. 8 einen Teilschnitt einer Halbleitervorrichtung für eine
Ausführungsform, bei welcher die optische Ansteuerschaltung
als lichtempfangender Schaltungsteil verwendet
wird;
Fig. 9 und 10 Teilschnitte der Struktur weiterer Ausführungsformen
der Halbleitervorrichtung;
Fig. 11 einen weiteren Teilschnitt der Halbleitervorrichtung;
und
Fig. 12 ein Schaltbild der in Fig. 10 gezeigten Halbleitervorrichtung.
Es wird zunächst auf Fig. 1 Bezug genommen. Die dort gezeigte
optische Ansteuerschaltung 10 enthält einen ersten Transistor
T 11, der in Dünnschichttechnik ausgebildet ist. Wenn ein Feldeffekttransistor,
im folgenden zur Vereinfachung als FET bezeichnet,
als erster Transistor T 11 verwendet wird, so wird
durch eine am Gate G anliegende Spannung ein Strom zwischen
Sourceelektrode S und Drainelektrode D, also zwischen den Ausgangselektroden
des Transistors, gesteuert. Wenn ein bipolarer
Transistor als erster Transistor T 11 verwendet wird, so wird
der Strom zwischen seinem Kollektor und seinem Emitter, welche
die Ausgangselektroden bilden, durch Einspeisung eines Stroms
in die Basis B gesteuert.
Ein erstes resistives Element RA 11 ist zwischen das Gate G und
die Sourceelektrode (bzw. den Emitter) des ersten Transistors
T 11 geschaltet. Vorzugsweise wird als erstes resistives Element
ein Gleichrichterelement verwendet. Ein zweites resistives
Element RA 12 ist zwischen das Gate G und die Drainelektrode
(bzw. den Kollektor) D des ersten Transistors T 11 geschaltet.
Eine Reihenschaltung aus fotovoltaischen Elementen DA 11
ist parallel zu dem zweiten resistiven Element RA 12 geschaltet.
Diese Reihenschaltung DA 11 ist optisch an einen Lichtsender
L 11 angekoppelt, der über Eingangsanschlüsse IP 11 und IP 12 mit
einem Ansteuerstrom angesteuert wird. Der Drain (bzw. Kollektor)
D des ersten Transistors T 11, also die zweite Ausgangselektrode
dieses Transistors, ist mit dem Gate G, also der
Steuerelektrode, eines zweiten Transistors T 12 verbunden. Die
Sourceelektrode (bzw. der Emitter) S dieses Transistors T 12
ist mit der Sourceelektrode (bzw. dem Emitter) des ersten
Transistors T 11 verbunden. Zwei Ausgangselektroden D und S des
zweiten Transistors T 12 sind mit den Ausgangsanschlüssen OP 11
und OP 12 dieser optischen Ansteuerschaltung 10 verbunden. Die
beiden Transistoren T 11 und T 12 können vom gleichen Leitfähigkeitstyp
und aus einem Halbleitermaterial sein, das eine hohe
Durchbruchsspannung aufweist und eine hohe Schaltgeschwindigkeit
zuläßt.
Bei der in Fig. 1 gezeigten optischen Ansteuerschaltung 10
bewirkt eine Ansteuerung des Lichtsenders L 11 das Auftreffen
von Licht auf der Reihenschaltung DA 11, die eine fotovoltaische
Spannung an ihren Anschlüssen erzeugt. Diese Spannung
liegt zwischen dem Gate G und der Sourceelektrode S des zweiten
Transistors T 12 an, wodurch dieser Transistor über seine
Drain-Source-Strecke leitend wird. Gleichzeitig fließt in dem
ersten resistiven Element RA 11 ein Strom, in Fig. 1 von rechts
nach links, so daß der dem Transistor T 12 benachbarte Anschluß
des resistiven Elementes RA 11 ein höheres Potential als der
andere Anschluß annimmt. Infolgedessen gelangt die Sourceelektrode
S, also die erste Ausgangselektrode des Transistors T 11,
die mit dem rechten Anschluß des resistiven Elements RA 11 verbunden
ist, auf ein höheres Potential als das Gate G, so daß
eine Ansteuerung in den Sperrzustand erfolgt und zwischen den
Ausgangselektroden des ersten Transistors T 11, also zwischen
Source S und Drain D, ein hoher Widerstand auftritt. Das zweite
resistive Element RA 12 weist einen höheren Widerstandswert
auf als das erste resistive Element RA 11, so daß nur ein kleiner
Bruchteil des fotovoltaischen Stroms auf dem links vom
ersten resistiven Element liegenden Strompfad fließen kann und
der von der Reihenschaltung DA 11 erzeugte fotovoltaische Strom
ohne Verzögerung und Verluste zum zweiten Transistor T 12 gelangt,
zumal zwischen Source S und Drain D des ersten Transistors
T 11 eine Entladung stattfindet; der Transistor T 12 wird
so angesteuert und durchgeschaltet.
Wenn die Ansteuerung des Lichtsenders L 11 beendet wird, endet
auch die optische Ansteuerung der Reihenschaltung DA 11 aus
fotovoltaischen Elementen, so daß keine fotovoltaische Spannung
mehr erzeugt wird. In dem ersten resistiven Element RA 11
fließt zu diesem Zeitpunkt der Strom in Fig. 1 von links nach
rechts, da die linke Seite dieses resistiven Elementes RA 11 sich
auf höherem Potential als die rechte Seite befindet. Das mit
der linken Seite des ersten resistiven Elementes RA 11 verbundene
Gate G des ersten Transistors TR 11 gelangt somit auf ein
höheres Potential als die Source S, welche mit der rechten
Seite des ersten resistiven Elementes RA 11 verbunden ist, so
daß eine Ansteuerung in Durchlaßrichtung eintritt. Wenn die
Potentialdifferenz die Gate-Spannungsschwelle des ersten Transistors
T 11 (bei einem FET) bzw. die Basis-Emitter-Schwellspannung
(bei einem bipolaren Transistor) überschreitet, tritt
ein Zustand niedrigen Widerstandes zwischen den Ausgangselektroden
(S und D) des ersten Transistors T 11 auf, so daß ein
relativ großer Strom fließt. Die in der Gate-Source-Kapazität
des zweiten Transistors T 12 gespeicherte Ladung wird schnell
über die Drain-Source-Strecke des ersten Transistors T 11 abgeführt,
so daß der zweite Transistor T 12 schnell seinen Zustand
hohen Widerstandes, also seinen Sperrzustand, annimmt und
"aus"-geschaltet wird. Auch jegliche Störspannungen am Gate G
des zweiten Transistors T 12 werden durch die Drain-Source-
Strecke des ersten Transistors T 11 kurzgeschlossen.
Bei der beschriebenen Ausführungsform wird vorzugsweise als
erstes resistives Element RA 11 ein gleichrichtendes Element
verwendet. Bei der Ansteuerung des zweiten Transistors T 12
fließt dann nämlich der Strom bevorzugt in dem ersten resistiven
Element RA 11 von rechts nach links. Es ist also erwünscht,
daß der Widerstandswert r 2 des zweiten resistiven Elements
RA 12 hoch ist, damit nur wenig Strom durch dieses Widerstandselement
bei der Ansteuerung des Transistors T 12 fließt; der
Widerstandswert r 1a des ersten resistiven Elements RA 11 erfüllt
bei der Ansteuerung die Bedingung r 1a<r 2. Bei der Sperrung
des zweiten Transistors T 12 muß hingegen ein Entladestrom
durch beide resistiven Elemente RA 12 und RA 11 fließen, und es
muß eine Potentialdifferenz erzeugt werden, um das Gate G des
ersten Transistors T 11 anzusteuern und den Durchschaltzustand
dieses Transistors zu erreichen. Der Widerstandswert r 2 des
zweiten resistiven Elements RA 12 und der Widerstandswert r 1b
des ersten resistiven Elements RA 11 sollen daher bei der Entladung
die Beziehung r 1b<r 2 erfüllen.
Allgemein kann für die Vorgänge der Ansteuerung und der Sperrung
des zweiten Transistors T 12 folgende Bedingung angegeben
werden: r 1a<r 2<r 1b. Damit diese Bedingung erfüllt ist, wird
als erstes resistives Element RA 11 ein gleichrichtendes Element
verwendet, das also einen Stromflußzustand und einen Sperrzustand
aufweist. Es können verschiedenartige gleichrichtende
Elemente verwendet werden, insbesondere natürlich eine Diode,
die so geschaltet ist, daß ihre Anode mit der Sourceelektrode
des ersten Transistors T 11 verbunden ist.
Gemäß einem weiteren Merkmal der Erfindung werden auf demselben
Substrat und unter Verwendung desselben Halbleitermaterials
wenigstens zwei bzw. mehr als zwei Arten von verschiedenen
Elementen hergestellt, welche die optische Ansteuerschaltung
bilden. Diese zwei oder mehr Arten von Bestandteilen können
auch durch denselben Herstellungsschritt in demselben Substrat
gebildet werden, so daß eine rationelle Herstellung erzielt
wird. Vorzugsweise werden die verschiedenen Elemente in
überlagerten Dünnschichten gebildet; diese Herstellungstechnik
ist jedoch nur eine von mehreren Möglichkeiten.
In Fig. 2 ist eine Struktur für den ersten Transistor T 11A
gezeigt, der in der beschriebenen optischen Ansteuerschaltung
verwendet werden kann. Seine Steuerelektrode 22 ist auf einem
Substrat 21 gebildet. Eine Dünnschicht 23 eines ersten Halbleitertyps
(z. B. P-Typ) erstreckt sich über die Steuerelektrode
22 hinweg. Eine Halbleiterschicht 24 mit relativ geringem
Verunreinigungsgrad ist zur Herstellung einer Kanalzone vorgesehen.
Zwei Halbleiterschichten 25, 25 a eines zweiten Leitfähigkeitstyps
(z. B. N-Typ) liegen bezüglich der Steuerelektrode
22 getrennt und werden sequentiell über dem Substrat 21 aufgebracht,
auf welchem die Steuerelektrode 22 gebildet ist. Eine
Sourceelektrode 26 und eine Drainelektrode 27 werden dann hergestellt,
indem die eine mit der Halbleiterschicht 25 und die
andere mit der Halbleiterschicht 25 a in Verbund gebracht wird.
Der in der die Kanalzone bildenden Halbleiterschicht 24 fließende
Strom wird bei diesem ersten Transistor T 11A durch die
an der Steuerelektrode 22 anliegende Spannung gesteuert.
Bei der in Fig. 3 gezeigten Ausführungsform wird gleichfalls
ein erster Transistor T 11B auf einem Substrat 31 gebildet; er
weist eine Sourceelektrode 36 und eine räumlich von dieser getrennte
Drainelektrode 37 und zwei getrennte zugehörige Halbleiterschichten
35, 35 a eines zweiten Leitungstyps auf. Eine
Kanalzone ist in einer Halbleiterschicht 34 gebildet. Auf diese
einander überlagerten Schichten sind ferner eine Halbleiterschicht
33 eines ersten Leitfähigkeitstyps und eine Steuerelektrode
32 aufgebracht.
In Fig. 4 ist eine Ausführungsform eines ersten Transistors
mit isolierter Gatestruktur für die Verwendung in der beschriebenen
optischen Ansteuerschaltung gezeigt. Dieser mit isolierendem
Gate versehene Transistor T 11C ist in folgender Weise
aufgebaut: Auf einem Substrat 41 werden nacheinander eine
Halbleiterschicht 43 eines ersten Leitfähigkeitstyps (z. B. P-
Typ), eine die Kanalzone bildende Halbleiterschicht 44, zwei
voneinander getrennte Halbleiterschichten 45, 45 a eines zweiten
Leitfähigkeitstyps (z. B. N-Typ) sowie eine Sourceelektrode
46 und eine Drainelektrode 47 schichtweise aufgebracht. Eine
Isolierschicht 48 wird dann über der Halbleiterschicht 44, die
einen relativ geringen Verunreinigungsgrad aufweist, aufgebracht
und erstreckt sich von der Sourceelektrode 46 bis zur
Drainelektrode 47. Eine Steuerelektrode 42 wird auf der Isolierschicht
48 so aufgebracht, daß sie die Sourceelektrode 46
und die Drainelektrode 47 überlappt. Bei diesem ersten Transistor
T 11C wird der Stromfluß in der Halbleiterschicht 44
durch Anlegen einer Spannung an der Steuerelektrode 42 gesteuert.
Es wird nun auf Fig. 5 Bezug genommen. Diese Figur zeigt die
Struktur eines ersten resistiven Elements RA 11, das als Bestandteil
der beschriebenen optischen Ansteuerschaltung verwendet
werden kann. Dieses erste resistive Element RA 11 wird
hergestellt, indem auf der Oberfläche eines Substrats 51 zunächst
eine leitfähige Dünnschicht 52 aus Ni-Cr oder einem anderen
lichtdurchlässigen leitfähigen Material aufgebracht wird
und dann nacheinander eine Halbleiterschicht 53 eines ersten
Leitfähigkeitstyps (z. B. P-Typ), eine zweite Halbleiterschicht
54 mit relativ niedrigem Verunreinigungsgrad und von einem
zweiten Leitfähigkeitstyp (z. B. N-Typ) und eine Halbleiterschicht
55 aufgebracht werden, woraufhin eine leitfähige Dünnschicht
56 aus Al oder einem anderen lichtabschirmenden Stoff
aufgebracht wird. Das so hergestellte erste resistive Element
RA 11 besitzt die Struktur einer PIN-Diode, weist also eine
Gleichrichterfunktion auf. Die leitfähige Dünnschicht 52 bildet
die Anode, während die leitfähige Dünnschicht 56 die Kathode
bildet. Die leitfähige Dünnschicht 56, welche in der
Zeichnung die oberste Schicht bildet, wird aus lichtabschirmendem
Material gebildet, um zu verhindern, daß Fehlfunktionen
aufgrund des ersten resistiven Elementes RA 11 auftreten; besonders
wenn das resistive Element RA 11 auf demselben Substrat
wie die Reihenschaltung DA 11 aus fotovoltaischen Elementen gebildet
ist, kann nämlich Streulicht zu dem resistiven Element
gelangen. Die Dünnschicht 56 bildet aber einen Schirm gegen
dieses Streulicht. Wenn auf andere Weise erreicht wird, daß
keine Lichtstreuung auftritt oder eine solche keine unerwünschten
Folgen hat, so muß die oberste leitfähige Dünnschicht
56 nicht lichtundurchlässig sein.
In Fig. 6 ist die Struktur einer Ausführungsform des zweiten
resistiven Elements RA 12 für die beschriebene optische Ansteuerschaltung
gezeigt. Dieses resistive Element RA 12 wird hergestellt,
indem auf einem Substrat 61 nacheinander Dünnschichten
aufgeschichtet werden: Eine Halbleiterschicht 62 eines ersten
Leitfähigkeitstyps (z. B. P-Typ), eine Halbleiterschicht 63 mit
relativ geringer Verunreinigung und eine Halbleiterschicht 64
vom zweiten Leitfähigkeitstyp (z. B. N-Typ); auf der Halbleiterschicht
64 werden zwei voneinander getrennte leitfähige Dünnschichten
oder Filme 65, 65a gebildet. Eine lichtabschirmende
Schicht 66 aus elektrisch isolierendem und lichtundurchlässigem
Material füllt den Raum zwischen den Dünnschichten 65 und
65 a aus und bedeckt die Halbleiterschicht 64. Auch in diesem
Falle kann die lichtschirmende Wirkung der Schicht 66 überflüssig
sein, wenn nämlich keine Gefahr besteht, daß Streulicht
in das zweite resistive Element RA 12 gelangt. Während
bei der in Fig. 6 gezeigten Ausbildung die leitfähigen Dünnschichten
65 und 65a als oberste Lage vorgesehen sind, ist bei
anderen Ausführungsformen eine Anordnung zwischen dem Substrat
61 und der Halbleiterschicht 62 vom ersten Leitfähigkeitstyp
vorgesehen, ähnlich wie bei den Fig. 2 und 5.
Es wird nun auf Fig. 7 Bezug genommen. Die dort gezeigte
Struktur der Reihenschaltung DA 11 aus fotovoltaischen Elementen
ist ein weiterer Bestandteil der beschriebenen optischen
Ansteuerschaltung. Es sind nur drei fotovoltaische Elemente
gezeigt. Diese Reihenschaltung DA 11 wird hergestellt, indem
auf einem gemeinsamen Substrat 71 jeweils im Abstand voneinander
und jeweils aufeinanderfolgend einander überlagert werden:
Leitfähige Dünnschichten 72, 72a, 72 b . . . aus Ni-Cr oder einem
anderen leitfähigen und lichtdurchlässigen Material, eine
Halbleiterschicht 73, 73 a, 73 b . . . eines ersten Leitfähigkeitstyps
(z. B. P-Typ) auf der Dünnschicht 72, 72 a, 72 b . . ., eine
Halbleiterschicht 74, 74 a, 74 b . . . mit relativ geringem Verunreinigungsgrad
und jeweils über der Schicht 73, 73 a, 73 b . . .
sowie eine Halbleiterschicht 75, 75 a, 75 b eines zweiten Leitfähigkeitstyps
(z. B. N-Typ) über der Schicht 74, 74 a, 74 b . . .;
jede Schichtstruktur wird dann mit einem leitfähigen Film 76,
76 a, 76 b aus lichtdurchlässigem leitfähigem Material bedeckt,
beispielsweise In₂O₃ oder dergleichen.
Bei den beschriebenen Schichtstrukturen ist ersichtlich, daß
beispielsweise der erste Transistor T 11 in Fig. 2, das erste
resistive Element RA 11 in Fig. 5 und die Reihenschaltung DA 11
aus fotovoltaischen Elementen nach Fig. 6 jeweils die gleiche
Schichtstruktur aufweisen: Die leitfähige Dünnschicht 22, 52,
72, 72a bzw. 72 b, die Halbleiterschicht 25, 25 a, 55, 75, 75 a
bzw. 75 b des ersten Leitfähigkeitstyps für den ersten Transistor
T 11 in Fig. 2; entsprechend findet man eine gleiche Struktur
bei dem ersten resistiven Element RA 11 in Fig. 5 bis hin
zu der obersten Lage aus der leitfähigen Dünnschicht 26, 27
bzw. 56; ferner findet man bei dem zweiten resistiven Element
RA 12 in Fig. 6 die gleiche Schichtstruktur ab der Halbleiterschicht
62 des ersten Leitfähigkeitstyps und bis zur obersten
Lage mit den leitfähigen Dünnschichten 65 und 65a, mit der
Ausnahme eines leitfähigen Films auf dem Substrat. Der erste
Transistor T 11C in Fig. 4 kann gleichfalls von der Halbleiterschicht
43 des ersten Leitfähigkeitstyps bis zu den Halbleiterschichten
46 und 47 des zweiten Leitfähigkeitstyps in
der beschriebenen Schichtstruktur gefertigt werden. Der erste
Transistor T 11B in Fig. 3 weist zwar die entgegengesetzte
Schichtstruktur wie die oben beschriebenen Bestandteile der
Ansteuerschaltung auf, jedoch ist die Schichtstruktur der oben
beschriebenen Elemente umkehrbar, so daß sie in derselben
Schichtstruktur wie der erste Transistor T 11B hergestellt werden
können.
Es ist somit ersichtlich, daß die verschiedenen Elemente, die
oben beschrieben wurden, auf einem gemeinsamen Substrat mit
einem Minimum an Herstellungsschritten und aus einer minimalen
Anzahl von Bestandteilen gefertigt werden können.
Bei der in Fig. 8 gezeigten Ausführungsform einer Halbleitervorrichtung
10 A sind alle Bestandteile der optischen Ansteuerschaltung
10 vorhanden. Insbesondere sind also der erste Transistor
T 11, das erste resistive Element RA 11, das zweite resistive
Element RA 12, die Reihenschaltung DA 11 aus fotovoltaischen
Elementen und der zweite Transistor T 12 gemeinsam integriert.
Mit Ausnahme des zweiten Transistors T 12 ist die Vorrichtung
nach dieser Ausführungsform als Lichtempfangsteil einer
Schaltvorrichtung ausgebildet. Die verschiedenen Bestandteile
der Vorrichtung werden gemeinsam auf einer Isolierschicht
angeordnet, die durch eine gestrichelte Linie in dem Substrat
20 angedeutet ist.
Es wird nun die Vorrichtung 10A näher beschrieben. Die erforderliche
Anzahl von fotovoltaischen Elementen der Reihenschaltung
DA 11 wird von der Isolierschicht des Substrats 20 hergestellt.
Zuerst werden die leitfähigen Dünnschichten 72, 72a,
72 b . . . aufgebracht, die vorzugsweise aus Ni-Cr bestehen oder
aus einem anderen lichtdurchlässigen leitfähigen Material gebildet
sind. Dann werden die Halbleiterschichten 73, 73 a, 73 b
. . . des ersten Leitfähigkeitstyps (z. B. P-Typ), vorzugsweise
amorphes Silicium oder dergleichen, auf den Dünnschichten 72,
72 a, 72 b . . . und teilweise über der oberen Isolierschicht liegend
aufgebracht. Die Halbleiterschichten 74, 74 a, 74 b . . . mit
geringem Verunreinigungsgrad werden dann auf den Schichten 73,
73 a, 73 b . . . aufgebracht. Dann werden die Halbleiterschichten
75, 75 a, 75 b vom zweiten Leitfähigkeitstyp (z. B. N-Typ) auf
den Schichten 74, 74 a, 74 b . . . aufgebracht. Schließlich werden
lichtdurchlässige leitfähige Dünnschichten 76, 76 a, 76 b . . .,
vorzugsweise aus In₂O₃, auf den Schichten 75, 75 a, 75 b . . .
aufgebracht. Auf diese Weise werden PIN-Diodenelemente hergestellt.
Die verschiedenen fotovoltaischen Elemente werden dann
miteinander in Reihe geschaltet, um die Reihenschaltung DA 11
herzustellen. Es wird jeweils der obere lichtdurchlässige
leitfähige Film eines fotovoltaischen Elements mit dem unteren
leitfähigen Film des darauffolgenden Elements verbunden.
Bei der Herstellung der Reihenschaltung DA 11 aus fotovoltaischen
Elementen kann der erste Transistor T 11 gleichzeitig
hergestellt werden. Dabei werden die Steuerelektrode 22, die
Halbleiterschicht 23 vom ersten Leitfähigkeitstyp, die Halbleiterschicht
24 mit geringem Verunreinigungsgrad, die Halbleiterschichten
25, 25a vom zweiten Leitfähigkeitstyp und die
Sourceelektrode 26 sowie die Drainelektrode 27 nacheinander
aufeinandergeschichtet. In gleicher Weise wie der erste Transistor
T 11 können auch die beiden resistiven Elemente RA 11,
RA 12 gleichlaufend hergestellt werden. Nacheinander werden also
schichtweise einander überlagert: die leitfähige Dünnschicht
52, die Halbleiterschichten 53, 62 vom ersten Leitfähigkeitstyp,
die Halbleiterschichten 54, 63 mit geringer Verunreinigung,
die Halbleiterschichten 55, 64 vom zweiten Leitfähigkeitstyp,
die leitfähigen Dünnschichten 56, 65, welche die
beiden Elemente DA 11 und DA 12 überbrücken, und eine weitere
leitfähige Dünnschicht 65a. Diese Schichten werden also jeweils
aus gleichem Material und während derselben Herstellungsschritte
gebildet. Die leitfähige Dünnschicht der Reihenschaltung
DA 11, welche die letzte Stufe bildet (76b in Fig.
8), wird mit der Elektrode 52 des ersten resistiven Elements
RA 11 verbunden. Die lichtabschirmenden Dünnschichten 28 und 66
werden über dem ersten Transistor T 11 und dem zweiten resistiven
Element RA 12 aufgebracht. Die verschiedenen Elektroden
werden dann entsprechend der Schaltungsauslegung in der gezeigten
Weise miteinander verbunden. Die Schaltungsverbindungen
sind in der Zeichnung als durchgehende Linien gezeigt.
Der untere Teil des Substrats 20 umfaßt ein Gebiet (N⁺) mit
geringer Resistivität und ein Gebiet (N) von hoher Resistivität,
wobei beide Gebiete vom gleichen Leitfähigkeitstyp sind,
und mehrere voneinander im Abstand liegende P-Gebiete 82, 82a
. . . vom ersten Leitfähigkeitstyp in der Oberfläche des Gebietes
(N) von hoher Resistivität. In jedem P-Gebiet 82, 82 a . . .
liegen zwei N⁺-Gebiete 83, 83 a vom zweiten Leitfähigkeitstyp;
diese Gebiete 83, 83 a sind miteinander verbunden, wenngleich
dies in Fig. 8 nicht gezeigt ist. Über den im Substrat durch
Verunreinigung gebildeten Gebieten sind mehrere Isolierschichten
84, 84 a . . . in solcher Weise gebildet, daß jede Isolierschicht
84, 84 a . . . zwei benachbarte P-Gebiete 82, 82 a . . .
übergreift und gleichzeitig je eine der N⁺-Schichten 83, 83 a
in den benachbarten P-Schichten überdeckt. Eine Elektrode 85
aus Polysilicium oder dergleichen ist jeweils über einer Isolierschicht
84, 84 a . . . gebildet. Darüber sind Isolierschichten
angeordnet. Eine gemeinsame leitende Dünnschicht 86 aus Al
oder dergleichen ist ferner eingelagert. Auf diese Weise werden
mehrere doppelt diffundierte zweite Transistoren T 12 gebildet,
wie durch eine strichpunktierte Linie angedeutet ist.
Darin bildet die Elektrode 85 ein isoliertes Gate, das N⁺-Gebiet
83, 83a . . . bildet die Sourceelektrode, das N-Typ-Gebiet
von hoher Resistivität um die P-Gebiete 82, 82 a . . . herum bildet
eine Drain-Elektrode, und diejenigen Teile der P-Gebiete
82, 82 a . . ., die zwischen dem N⁺-Bereich 83, 83 a . . . und dem
Gebiet (N) von hoher Resistivität liegen, bilden den Kanal. In
diesen zweifach diffundierten zweiten Transistoren T 12 ist die
Kanallänge durch die Dicke der P-Gebiete 82, 82a . . . bestimmt,
die zwischen dem N-Typ-Gebiet (N) von hoher Resistivität und
dem N⁺-Gebiet 83, 83 a . . . liegen, also durch den Diffusionszustand
der P-Gebiete 82, 82 a . . . und der N⁺-Gebiete 83, 83 a
. . ., wobei die Diffusion sich mehr oder weniger weit in das
Gebiet hoher Resistivität hineinerstreckt, so daß die Kanallänge
verändert werden kann, insbesondere kürzer gemacht werden
kann, ohne eine Fotolithographietechnik oder dergleichen
anwenden zu müssen. Auf diese Weise kann man die gewünschte
hohe Durchbruchspannung und die angestrebte hohe Schaltgeschwindigkeit
erzielen. Die Zone von hoher Resistivität bildet
jeweils die Drainelektrode eines zweiten Transistors T 12, so
daß diese zweiten Transistoren miteinander elektrisch parallel
geschaltet werden können.
Weiterhin wird die leitende Dünnschicht 72 des die erste Stufe
der Reihenschaltung DA 11 bildenden fotovoltaischen Elementes
mit der Drainelektrode 27 des ersten Transistors T 11 verbunden.
Über die leitfähige Dünnschicht 86 erfolgt dann die Verbindung
mit der Gateelektrode des zweiten Transistors T 12. Die leitfähige
Schicht 52 des ersten resistiven Elementes RA 11 auf der
anderen Seite der Reihenschaltung DA 11 wird mit der Sourceelektrode
der zweiten Transistoren T 12 verbunden. Auf diese
Weise erhält man die Halbleitervorrichtung 10A, welche der in
Fig. 1 gezeigten optischen Ansteuerschaltung 10 entspricht.
Es wird nun auf Fig. 9 Bezug genommen, die eine Halbleitervorrichtung
110 A nach einer weiteren Ausführungsform der Erfindung
zeigt. Der erste Transistor T 11 dieser Vorrichtung
110A wird gleichzeitig mit dem zweiten Transistor T 12 auf einem
gemeinsamen Substrat gebildet, wie durch gestrichelte Linien
angedeutet ist. Bei dieser Ausführungsform wird der zweite
Transistor T 12 in im wesentlichen gleicher Weise wie bei
der Vorrichtung 10A nach Fig. 8 hergestellt. Bei dem ersten
Transistor T 11 werden ein Halbleitergebiet 111 vom zweiten
Leitfähigkeitstyp (z. B. N⁺-Typ), welches die Drainelektrode
bildet, und eine Halbleiterschicht 112 vom zweiten Leitfähigkeitstyp,
welche die Sourceelektrode bildet, im Abstand voneinander
in einem Halbleitergebiet 110 eines ersten Leitfähigkeitstyps
(z. B. P-Typ) gebildet, wobei dieses Gebiet 110 hergestellt
wird, während der zweite Transistor T 12 gebildet wird.
Eine Isolierschicht 113 wird auf diesen Halbleitergebieten 111,
112 und diese überbrückend ausgebildet. Eine Gateelektrode 114
wird aus Polysilicium oder dergleichen auf dieser Isolierschicht
113 gebildet. Source-, Drain- und Gateelektrode des
ersten Transistors T 11 werden in der gezeigten Weise mit
Source- und Drainelektrode des zweiten Transistors T 12 sowie
mit den beiden resistiven Elementen RA 11 und RA 12 verbunden.
In gleicher Weise wie bei der Vorrichtung 10A in Fig. 8 werden
die beiden resistiven Elemente RA 11 und RA 12 und die Reihenschaltung
DA 11 jeweils in gleicher Dünnschichtstruktur hergestellt.
Der Schwellwert für den ersten Transistor T 11 wird
niedriger eingestellt als der des zweiten Transistors T 12, indem
eine Ioneninjektion oder dergleichen zwischen Source und
Drain vorgenommen wird.
Durch diese Ausbildung der Vorrichtung kann die Abschaltgeschwindigkeit
des zweiten Transistors T 12 (bei einer Unterbrechung
des Lichteinfalls auf der Reihenschaltung DA 11 von
fotovoltaischen Elementen) vergrößert werden. Wenn die Schwellspannung
des ersten Transistors T 11 größer ist als die des
zweiten Transistors T 12, so gelangt der erste Transistor T 11
früher in den Abschaltzustand als der zweite Transistor 12,
während die am Gate des zweiten Transistors T 12 gespeicherte
Ladung abgeführt wird. Danach erfolgt die Entladung über die
beiden resistiven Elemente RA 11 und RA 12, so daß die Sperrung
des zweiten Transistors T 12 eine relativ lange Zeit erfordert.
Wenn aber der erste Transistor T 11 eine niedrigere Schwellspannung
als der zweite Transistor T 12 aufweist, so tritt der
oben geschilderte Zustand nicht auf, so daß die Abführung der
Gateladung schnell erfolgen kann und eine hohe Abschaltgeschwindigkeit
erreicht wird.
Bei der weiteren, in den Fig. 10, 11 und 12 gezeigten Ausführungsform
von Halbleitervorrichtungen 120A und 130 A wird
ein Transistor mit isoliertem Gate sowohl für den ersten Transistor
T 11 als auch für den zweiten Transistor T 12 verwendet.
Ferner wird der gleiche Transistor mit isoliertem Gate wie der
erste Transistor T 11 auch für das erste resistive Element RA 11
verwendet. Bei diesem Element sind Drain und Gate miteinander
verbunden. Die Drainelektrode ist mit der Sourceelektrode des
ersten Transistors T 11 verbunden, während die Sourceelektrode
mit dem Gate des ersten Transistors T 11 verbunden ist. Wie aus
dem Schaltbild der Fig. 12 hervorgeht, handelt es sich bei
dem zweiten resistiven Element RA 12 um ein Konstantstrom-Element.
Dieses kann verwirklicht werden, indem ein "depression
type"-Transistor verwendet wird, der hergestellt wird, indem
eine dünne leitende Schicht durch Ioneninjektion oder dergleichen
zwischen einem Sourcegebiet und einem Draingebiet in einem
Transistor vom Typ mit isoliertem Gate und von gleicher
Struktur wie der erste Transistor T 11 gebildet wird, woraufhin
die Sourceelektrode und Gateelektrode dieses Transistors miteinander
verbunden werden. Dieser Transistor ist an seiner
Sourceelektrode mit dem Gate des ersten Transistors T 11 und an
seiner Drainelektrode mit dem Gate des zweiten Transistors T 12
verbunden.
Wie aus Fig. 10 ersichtlich ist, wird das erste resistive
Element RA 11 von gleicher Struktur wie der erste Transistor
T 11 mit zwei Halbleitergebieten 117, 117a eines zweiten Leitfähigkeitstyps
(z. B. N⁺-Typ) in einem Halbleitergebiet 116 vom
ersten Leitfähigkeitstyp (z. B. P-Typ), jeweils im Abstand voneinander,
gebildet. Eine Isolierschicht 118 ist auf diesen
Halbleitergebieten 117, 117 a und diese übergreifend gebildet.
Eine Elektrode 119 aus Polysilicium oder dergleichen ist auf
der Isolierschicht 118 ausgebildet. Das zweite resistive Element
RA 12 besitzt im wesentlichen dieselbe Struktur wie das
erste resistive Element RA 11, jedoch ist das zweite resistive
Element R 12 mit einer dünnen Halbleiterschicht 124 eines
zweiten Leitfähigkeitstyps versehen, die zwei voneinander getrennte
Halbleitergebiete 121, 121a des zweiten Leitfähigkeitstyps
überbrückt. Das erste resistive Element RA 11 und das
zweite Element RA 12 können in einem gemeinsamen Halbleitergebiet
130 eines ersten Leitfähigkeitstyps (z. B. P-Typ), wie in
Fig. 11 gezeigt, ausgebildet werden. Die Reihenschaltung DA 11
aus fotovoltaischen Elementen wird bei dieser Ausführungsform
in Vertikalrichtung auf dem Substrat aufgeschichtet, vorzugsweise
in drei Lagen, so daß also die Unterteilung, die bei den
Vorrichtungen 10A und 110 A der Fig. 8 und 9 vorgesehen ist,
entfällt.
Bei der in den Fig. 10 und 11 gezeigten Ausführungsform
können mit Ausnahme der Reihenschaltung von fotovoltaischen
Elementen alle Bestandteile gleichzeitig auf einem gemeinsamen
Substrat hergestellt und integriert werden, also die beiden
Transistoren T 11, T 12 und die beiden resistiven Elemente RA 11,
RA 12. Bei dieser Ausführungsform erreicht man eine gesteigerte
Freiheit hinsichtlich der Schaltungsauslegung, wobei verminderte
Herstellungskosten gesichert bleiben und eine hohe Produktivität
erzielt wird.
Claims (45)
1. Optische Ansteuerschaltung, worin ein erstes resistives
Element zwischen eine Steuerelektrode und eine erste Ausgangselektrode
eines ersten Transistors geschaltet ist, wobei diese
erste Ausgangselektrode den Emitter bzw. die Source des ersten
Transistors bildet, dessen Kollektor bzw. Drain mit einer zweiten
Ausgangselektrode verbunden ist, und ein zweites resistives
Element zwischen die Steuerelektrode und die zweite Ausgangselektrode
des ersten Transistors geschaltet ist sowie eine
Reihenschaltung von fotovoltaischen Elementen parallel zu
dem zweiten resistiven Element liegt, während ein zweiter
Transistor mit dem ersten Transistor so verbunden ist, daß er
gesperrt wird, wenn der erste Transistor leitet, dadurch gekennzeichnet,
daß der zweite Transistor an seiner Steuerelektrode
mit der zweiten Ausgangselektrode verbunden ist, welche
den Kollektor bzw. Drain des ersten Transistors bildet.
2. Schaltung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das
erste resistive Element ein gleichrichtendes Element ist, welches
eine von der Stromrichtung abhängige asymmetrische Strom-
und Spannungs-Charakteristik aufweist.
3. Halbleitervorrichtung, in welcher die optische Ansteuerschaltung
nach Anspruch 1 oder 2 ausgebildet ist und worin von
den durch den ersten Transistor, das erste und das zweite resistive
Element und die Reihenschaltung von fotovoltaischen
Elementen gebildeten Bestandteilen wenigstens zwei auf einem
gemeinsamen Substrat aus Halbleiterdünnschichten gleichen Materials
gebildet sind.
4. Vorrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß
die zwei auf demselben Substrat gebildeten Komponenten das
erste und das zweite resistive Element sind.
5. Vorrichtung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß
die beiden resistiven Elemente wenigstens teilweise mit einer
gemeinsamen Schicht ausgebildet sind.
6. Vorrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß
die zwei auf dem gemeinsamen Substrat gebildeten Komponenten
der erste Transistor und das erste resistive Element sind.
7. Vorrichtung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß
der erste Transistor und das erste resistive Element wenigstens
teilweise mit einer gemeinsamen Schicht ausgebildet sind.
8. Vorrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß
die zwei auf einem gemeinsamen Substrat gebildeten Komponenten
das erste resistive Element und die Reihenschaltung von fotovoltaischen
Elementen sind.
9. Vorrichtung nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß
das erste resistive Element und die Reihenschaltung von fotovoltaischen
Elementen wenigstens teilweise mit einer gemeinsamen
Schicht ausgebildet sind.
10. Vorrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß
die zwei auf einem gemeinsamen Substrat ausgebildeten Komponenten
der erste Transistor und das zweite resistive Element
sind.
11. Vorrichtung nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, daß
der erste Transistor und das zweite resistive Element wenigstens
teilweise mit einer gemeinsamen Schicht ausgebildet sind.
12. Vorrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß
die zwei auf einem gemeinsamen Substrat gebildeten Komponenten
das zweite resistive Element und die Reihenschaltung von fotovoltaischen
Elementen sind.
13. Vorrichtung nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet, daß
das zweite resistive Element und die Reihenschaltung von fotovoltaischen
Elementen wenigstens teilweise mit einer gemeinsamen
Schicht ausgebildet sind.
14. Vorrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß
die zwei auf einem gemeinsamen Substrat ausgebildeten Komponenten
der erste Transistor und die Reihenschaltung von fotovoltaischen
Elementen sind.
15. Vorrichtung nach Anspruch 14, dadurch gekennzeichnet, daß
der erste Transistor und die Reihenschaltung von fotovoltaischen
Elementen wenigstens teilweise mit einer gemeinsamen
Schicht ausgebildet sind.
16. Vorrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß
der erste und der zweite Transistor, das erste und das zweite
resistive Element sowie die Reihenschaltung von fotovoltaischen
Elementen auf einem gemeinsamen Substrat ausgebildet sind.
17. Vorrichtung nach Anspruch 16, dadurch gekennzeichnet, daß
der erste Transistor, das erste und das zweite resistive Element
sowie die Reihenschaltung aus fotovoltaischen Elementen
wenigstens teilweise in derselben Struktur ausgebildet sind.
18. Halbleitervorrichtung, worin die optische Ansteuerschaltung
nach Anspruch 1 ausgebildet ist, dadurch gekennzeichnet,
daß der erste Transistor, das erste und das zweite resistive
Element sowie die Reihenschaltung aus fotovoltaischen Elementen
auf einem Substrat ausgebildet sind, in welchem der zweite
Transistor gebildet ist.
19. Halbleiterschaltung, worin die optische Ansteuerschaltung
nach Anspruch 1 ausgebildet ist, dadurch gekennzeichnet,
daß das erste und das zweite resistive Element sowie die Reihenschaltung
von fotovoltaischen Elementen auf einem Substrat
ausgebildet sind, worin der erste und der zweite Transistor
gebildet sind.
20. Vorrichtung nach Anspruch 19, dadurch gekennzeichnet, daß
der erste Transistor in einem der Gebiete des ersten Leitfähigkeitstyps
an der Oberfläche eines Halbleitersubstrats eines
zweiten Leitfähigkeitstyps gebildet ist, welches die Drainelektrode
oder den Kollektor des zweiten Transistors bildet.
21. Vorrichtung nach Anspruch 19, dadurch gekennzeichnet, daß
der erste und der zweite Transistor wenigstens teilweise dieselbe
Struktur aufweisen.
22. Vorrichtung nach Anspruch 19, dadurch gekennzeichnet, daß
das erste und das zweite resistive Element und die Reihenschaltung
von fotovoltaischen Elementen wenigstens teilweise
in derselben Struktur ausgebildet sind.
23. Halbleitervorrichtung, welche die optische Ansteuerschaltung
nach Anspruch 1 bildet, dadurch gekennzeichnet, daß das
erste resistive Element und die Reihenschaltung aus fotovoltaischen
Elementen auf einem Substrat gebildet sind, worin der
erste und der zweite Transistor sowie das zweite resistive
Element gebildet sind.
24. Vorrichtung nach Anspruch 23, dadurch gekennzeichnet, daß
der erste Transistor und das zweite resistive Element jeweils
in einem der Gebiete eines ersten Leitfähigkeitstyps gebildet
sind, die in der Oberfläche eines Halbleitersubstrats eines
zweiten Leitfähigkeitstyps liegen, welches die Drainelektrode
bzw. den Kollektor des zweiten Transistors bildet.
25. Vorrichtung nach Anspruch 23, dadurch gekennzeichnet, daß
der erste und der zweite Transistor sowie das zweite resistive
Element wenigstens teilweise dieselbe Struktur ausweisen.
26. Vorrichtung nach Anspruch 23, dadurch gekennzeichnet, daß
das erste resistive Element und die Reihenschaltung von fotovoltaischen
Elementen wenigstens teilweise in derselben Struktur
verwirklicht sind.
27. Halbleitervorrichtung, welche die optische Ansteuerschaltung
nach Anspruch 1 bildet, dadurch gekennzeichnet, daß das
zweite resistive Element und die Reihenschaltung von fotovoltaischen
Elementen auf einem Substrat gebildet sind, worin der
erste und der zweite Transistor sowie das erste resistive Element
gebildet sind.
28. Vorrichtung nach Anspruch 27, dadurch gekennzeichnet, daß
der erste Transistor und das erste resistive Element jeweils
in einem der Gebiete eines ersten Leitfähigkeitstyps in der
Oberfläche eines Halbleitersubstrats eines zweiten Leitfähigkeitstyps
gebildet sind, welches die Drainelektrode bzw. den
Kollektor des zweiten Transistors bildet.
29. Vorrichtung nach Anspruch 27, dadurch gekennzeichnet, daß
der erste und der zweite Transistor sowie das erste resistive
Element wenigstens teilweise die gleiche Struktur aufweisen.
30. Vorrichtung nach Anspruch 27, dadurch gekennzeichnet, daß
das zweite resistive Element und die Reihenschaltung von fotovoltaischen
Elementen wenigstens teilweise dieselbe Struktur
aufweisen.
31. Halbleitervorrichtung, welche die optische Ansteuerschaltung
nach Anspruch 1 bildet, dadurch gekennzeichnet, daß der
erste Transistor und die Reihenschaltung von fotovoltaischen
Elementen auf einem Substrat gebildet sind, worin das erste
und das zweite resistive Element sowie der zweite Transistor
gebildet sind.
32. Vorrichtung nach Anspruch 31, dadurch gekennzeichnet, daß
das erste und das zweite resistive Element jeweils in einem
der Gebiete eines ersten Leitfähigkeitstyps in der Oberfläche
eines Halbleitersubstrats eines zweiten Leitfähigkeitstyps gebildet
sind, welches die Drainelektrode bzw. den Kollektor des
zweiten Transistors bildet.
33. Vorrichtung nach Anspruch 31, dadurch gekennzeichnet, daß
das erste und das zweite resistive Element in einem gemeinsamen
Gebiet eines ersten Leitfähigkeitstyps gebildet sind, das
in der Oberfläche eines Halbleitersubstrats eines zweiten Leitfähigkeitstyps
ausgebildet ist, welches die Drainelektrode bzw.
den Kollektor des zweiten Transistors bildet.
34. Vorrichtung nach Anspruch 31, dadurch gekennzeichnet, daß
das erste und das zweite resistive Element sowie der zweite
Transistor wenigstens teilweise dieselbe Struktur aufweisen.
35. Vorrichtung nach Anspruch 31, dadurch gekennzeichnet, daß
der erste Transistor und die Reihenschaltung von fotovoltaischen
Elementen wenigstens teilweise dieselbe Struktur aufweisen.
36. Halbleitervorrichtung, welche die optische Ansteuerschaltung
nach Anspruch 1 bildet, dadurch gekennzeichnet, daß die
Reihenschaltung von fotovoltaischen Elementen auf einem Substrat
gebildet ist, worin der erste und der zweite Transistor
sowie das erste und das zweite resistive Element ausgebildet
sind.
37. Vorrichtung nach Anspruch 36, dadurch gekennzeichnet, daß
der erste Transistor, das erste und das zweite resistive Element
in Gebieten eines ersten Leitfähigkeitstyps gebildet sind,
die in der Oberfläche eines Halbleitersubstrats eines zweiten
Leitfähigkeitstyps ausgebildet sind, welches die Drainelektrode
bzw. den Kollektor des zweiten Transistors bildet.
38. Vorrichtung nach Anspruch 37, dadurch gekennzeichnet, daß
das erste und das zweite resistive Element in dem gemeinsamen
Gebiet dieser Gebiete gebildet sind und der erste Transistor
in einem dieser Gebiete ausgebildet ist.
39. Vorrichtung nach Anspruch 37, dadurch gekennzeichnet, daß
der erste Transistor, das erste und das zweite resistive Element
jeweils in einem der Gebiete ausgebildet sind.
40. Vorrichtung nach Anspruch 36, dadurch gekennzeichnet, daß
der erste und der zweite Transistor und das erste sowie das
zweite resistive Element wenigstens teilweise in gleicher
Struktur ausgebildet sind.
41. Vorrichtung nach Anspruch 36, dadurch gekennzeichnet, daß
die fotovoltaischen Elemente in Richtung der Dicke des Substrats
aufeinander schichtförmig aufgebaut sind.
42. Schaltung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der
erste und der zweite Transistor mit isoliertem Gate ausgebildet
sind.
43. Schaltung nach Anspruch 42, dadurch gekennzeichnet, daß
der erste Transistor eine Schwellspannung aufweist, die höher
eingestellt ist als die des zweiten Transistors.
44. Schaltung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das
erste resistive Element einen Transistor mit isoliertem Gate
umfaßt, dessen Gate und Drain miteinander verbunden sind, während
die Sourceelektrode mit einem Gate des ersten Transistors
verbunden ist und diese Drainelektrode ferner mit der Sourceelektrode
des ersten Transistors verbunden ist.
45. Schaltung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das
zweite resistive Element einen Transistor vom "depression"-Typ
und mit isoliertem Gate umfaßt, dessen Gate und Source miteinander
verbunden sind, wobei die Sourceelektrode ferner mit dem
Gate des ersten Transistors verbunden ist und die Drainelektrode
mit dem Gate des zweiten Transistors verbunden ist.
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