DE4133345C2 - Halbleiterspeichereinrichtung - Google Patents
HalbleiterspeichereinrichtungInfo
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Description
Die Erfindung bezieht sich auf eine Halbleiterspeichereinrichtung.
Die Erfindung ist insbesondere anwendbar auf
Mikroprozessoren zur Ausführung einer schnellen Fourier
transformation (FFT) oder einer Anordnungs-Umwandlung bei der
Bildverarbeitung.
Allgemein wird in der Datenverarbeitung eine Änderung der Folge
einer Mehrzahl von Daten oft benötigt. Beispielsweise wird bei
der Ausführung der Datenverarbeitung zur schnellen Fourier
transformation (im folgenden als FFT bezeichnet) die Reihen
folge einer Mehrzahl von Daten verändert. In diesem Falle
werden, wenn die Mehrzahl von Daten einmal in einem Datenarray
gespeichert ist, die Daten aus dem Datenarray entsprechend
einer bei der FFT erforderlichen Reihenfolge geliefert. Eine
genaue Beschreibung betreffend die FFT kann beispielsweise in
der Schrift "THE FAST FOURIER TRANSFORM" von E. ORAN BRIGHAM
(Prentice-Hall Inc.) gefunden werden.
Wenn durch einen Mikroprozessor ein Vorgang der FFT ausgeführt
wird, wird der FFT-Vorgang entsprechend einem in einem Speicher
des Mikroprozessors gespeicherten Programm ausgeführt. Das
heißt, die CPU führt den Prozeß des Änderns der bei der FFT
erforderlichen Folge von Daten entsprechend einem gespeicherten
Programm aus. Dies führt zu einem Anwachsen der durch die CPU
auszuführenden Verarbeitungsvorgänge. Dementsprechend wächst
auch die für die Verarbeitungsvorgänge durch die CPU benötigte
Zeit an. Beim FFT-Verarbeitungsprozeß ist insbesondere die
Reihenfolge der zu verarbeitenden Daten oft zu verändern, so
daß die Belastung der CPU ansteigt.
Neben der Umwandlung der Datenfolge für die erwähnte FFT ist
eine Umwandlung der Datenfolge oft auf dem Gebiet der
Bildverarbeitung erforderlich. Beispielsweise ist bei einer
Anordnungs-Umwandlung in der Bildverarbeitung, das heißt, etwa
in dem Falle, daß ein Bild um 90° gedreht wird, die Umwandlung
der Daten-Reihenfolge erforderlich. Im allgemeinen wird bei der
Bildverarbeitung eine Hochgeschwindigkeits-Datenverarbeitung
gefordert, so daß die Menge der Verarbeitungsvorgänge der CPU
in diesem Falle ebenfalls gesenkt werden sollte. Eine Senkung
der Anzahl der Verarbeitungsvorgänge der CPU trägt zu einer
Hochgeschwindigkeits-Datenverarbeitung bei.
Fig. 8 ist ein Blockschaltbild eines herkömmlichen statischen
Speichers mit wahlfreiem Zugriff (im folgenden als SRAM
bezeichnet), der in einem Mikroprozessor angeordnet ist. Wie
Fig. 8 zeigt, weist dieser SRAM 95 ein Speicherzellenarray 1,
das in m Zeilen und n Spalten (nicht gezeigt) angeordnete
Speicherzellen enthält, einen Dekoder 8 zur Bestimmung einer
Speicherzellenspalte, eine Eingangsschaltung 5 zum Einschreiben
von Eingangsdaten (parallelen Daten mit n BIT) DI, die an die
ausgewählte Speicherzellenzeile geliefert werden, und eine
Ausgangsschaltung 6 zum Auslesen der gespeicherten Daten aus
der ausgewählten Speicherzellenzeile auf. Ein Wert, der in das
Speicherzellarray eingeschrieben werden kann, enthält n BIT
(beispielsweise 8, 16, 32 BIT usw.). Im Speicherzellenarray 1
kann eine Gesamtmenge von m Werten gespeichert werden. Das
heißt, dieses Speicherzellarray 1 hat eine Speicherkapazität
von n BIT x m Worten. Um die Beschreibung zu vereinfachen, wird
der Fall m = 16 im folgenden beschrieben.
Beim Einschreibvorgang nimmt der Dekoder 8 ein von einer
Adreßerzeugungsschaltung im Mikroprozessor erzeugtes
Adreßsignal AD auf. Der Dekoder 8 bestimmt eine der 16
Speicherzellenzeilen M0-M15 in Reaktion auf das Adreßsignal
AD. Die Eingangsschaltung 5 empfängt den von einer
arithmetischen Einheit im Mikroprozessor erzeugten Eingangswert
DI. Die Eingangsschaltung 5 steuert eine (nicht gezeigte) Bit-
Leitung in Reaktion auf das Schreibfreigabesignal WE an, das
von der Steuerung im Mikroprozessor erzeugt wurde. Das heißt,
die Bit-Leitung wird auf der Grundlage des angelegten
Eingangswertes DI angesteuert. Im Ergebnis wird der Eingangs
wert DI in die ausgewählte Speicherzellenzeile eingeschrieben.
Beim Auslesevorgang wird, nachdem der Dekoder 8 eine
Speicherzellenzeile bestimmt hat, die einen (nicht gezeigten)
Leseverstärker enthaltende Ausgangsschaltung 6 in Reaktion auf
das Lesefreigabesignal SE aktiviert. Das Signal SE wird von der
Steuerung im Mikroprozessor erzeugt. Entsprechend werden die in
der ausgewählten Speicherzellenzeile gespeicherten Daten durch
die Ausgangsschaltung 6 verstärkt, und das verstärkte Signal
wird als Ausgangswert (Parallelwert mit 8 Bit) DO generiert.
Der Ausgangswert DO wird an die arithmetische Einheit
geliefert.
Fig. 9 zeigt ein Beispiel eines Schaltbildes der Eingangs
schaltung 5, der Ausgangsschaltung 6 und einer in Fig. 8
gezeigten Speicherzellenzeile. Wie Fig. 9 zeigt, enthält die
Eingangsschaltung 5 Bitleitungaktivierungsschaltungen 51-5n
zum Ansteuern von jeweils n-Paaren von Bitleitungen BL, BL.
Jede Bitleitungsaktivierungsschaltung 51-5n steuert ein Bit
leitungspaar BL, BL simultan in Reaktion auf das Schreibfrei
gabesignal WE an. Eine im Speicherzellarray 1 angeordnete
Speicherzellenzeile enthält n SRAM-Speicherzellen MC1-MCn,
die mit Wortleitungen WL verbunden sind. Die Wortleitungen WL
sind mit dem in Fig. 8 gezeigten Dekoder verbunden. Die
Ausgangsschaltung 6 enthält n Leseverstärker 61-6n, die
jeweils mit einem Bitleitungspaar BL, BL verbunden sind. Alle
Leseverstärker 61-6n werden simultan in Reaktion auf das
Lesefreigabesignal SE aktiviert.
Fig. 10 zeigt ein weiteres Beispiel eines herkömmlichen SRAM,
der in einem Mikroprozessor angeordnet ist. Während der in
Fig. 8 gezeigte SRAM 95 einen Dekoder 8 zur Auswahl nur einer
Zeile enthielt, enthält der in Fig. 10 gezeigte SRAM 97 einen
Spaltendekoder (C.D.) 8b zur Spaltenauswahl zusätzlich zum
Zeilendekoder 8a zur Zeilenauswahl. Der Spaltendekoder 8b
erzeugt ein Spaltenauswahlsignal zur Steuerung einer Auswahl
schaltung 9a in Reaktion auf ein von einer Adreßerzeugungs
schaltung geliefertes Spaltenadreßsignal. Die Auswahlschaltung
9a wählt in Reaktion auf das angelegte Spaltenauswahlsignal
eine Spalte aus, auf die zugegriffen werden soll.
Wenn der in Fig. 8 gezeigte SRAM zum Verändern der oben
beschriebenen Datenfolge verwendet wird, ist es unmöglich, das
Anwachsen der durch die CPU auszuführenden Verarbeitungs
vorgänge zu vermeiden. Das heißt, um einen Vorgang der
Veränderung der Datenfolge auszuführen, ist es notwendig, die
Folge zur Bestimmung einer Speicherzellenzeile, in die ein Wert
einzuschreiben ist, und die Folge zur Bestimmung einer Spei
cherzellenzeile, aus der ein Wert auszulesen ist, entsprechend
einer vorbestimmten Regel zu verändern. Beispielsweise wird zur
Ausführung einer bitverkehrten Adressierung für die FFT zuerst
ein Schreibadreßsignal von der Adreßerzeugungsschaltung
erzeugt, und der Eingangswert DI wird in die durch das Schreib
adreßsignal bestimmte Speicherzellenzeile eingeschrieben. Dann
wird ein Leseadreßsignal von der Adreßerzeugungsschaltung
entsprechend der bei der FFT verwendeten Regel erzeugt.
Entsprechend werden die gespeicherten Daten sequentiell aus der
ausgewählten Speicherzellenzeile ausgelesen. Die Folge der
ausgelesenen Daten unterscheidet sich von der Folge der
angelegten Eingangsdaten. Das heißt, die Reihenfolge der
ausgelesenen Daten steht in Übereinstimmug mit der für die FFT
benötigten Datenfolge.
Daher ergibt sich, daß die Anzahl der durch die CPU auszufüh
renden Verarbeitungsvorgänge vergrößert wird, um ein Schreib-
und Leseadreßsignal zu erzeugen, während die Adreßerzeu
gungsschaltung ein Schreibadreßsignal und ein Leseadreßsignal
erzeugt. Die CPU veranlaßt, daß ein Schreib- und ein Leseadreß
signal durch einen Verarbeitungsvorgang entsprechend einem im
Mikroprozessor gespeicherten Programm erzeugt werden. Ein
solcher Vorgang wird in einer arithmetischen Dateneinheit oder
in einer arithmetischen Adreßeinheit innerhalb der CPU aus
geführt. Die Anzahl der durch den Mikroprozessor auszufüh
renden Betriebsvorgänge wächst, so daß die Operationsge
schwindigkeit des Mikroprozessors verringert wird.
Aus der US 4 120 048 ist eine Halbleiterspeichereinrichtung bekannt,
die getrennte Dekoder für Lesen und Schreiben aufweist.
Ferner ist aus der DE-OS 23 43 158 eine Speichereinrichtung bekannt,
für die getrennte Schreibadressen- und Leseadressenzähler
vorgesehen sind.
Es ist Aufgabe der Erfindung, die zum Steuern der Reihenfolge
von in ein Speicherzellarray eingeschriebenen und der Reihen
folge von daraus ausgelesenen Daten erforderliche Adressierung
zu vereinfachen und die Anzahl der durch einen Mikroprozessor
zur Adressierung auszuführenden Vorgänge zu verringern.
Die Aufgabe wird durch die Halbleiterspeichereinrichtung
nach dem Patentanspruch 1 gelöst.
Vorteilhafte Weiterbildungen sind in den Unteransprüchen
beschrieben.
Eine Halbleiterspeichereinrichtung gemäß einer
Ausführungsform enthält eine Anordnung (ein Array) von Speicherzellen,
die in einer Matrix von Zeilen und Spalten angeordnet sind und
durch eine Zeilenadresse und eine Spaltenadresse bezeichnet
sind, eine Adreßeingangsschaltung zum aufeinanderfolgenden
Erzeugen von Adressen der zuzugreifenden Speicherzellen, eine
erste Bestimmungsschaltung zum Bestimmen einer ersten Folge von
zuzugreifenden Speicherzellen des Arrays in Reaktion auf durch
die Adreßeingangsschaltung erzeugte Adressen und eine zweite
Bestimmungsschaltung zum Bestimmen einer zweiten Folge von
zuzugreifenden Speicherzellen des Arrays in Reaktion auf die
durch die Adreßeingangschaltung erzeugten Adressen. Die erste
Folge und die zweite Folge haben eine vorbestimmte Beziehung
zueinander. Im Betrieb ist es, da die erste und zweite Bestim
mungsschaltung eine Folge von zuzugreifenden Speicherzellen in
Übereinstimmung mit einer vorbestimmten Beziehung bestimmen,
nicht nötig, einen Adressierungsvorgang außerhalb der Einrich
tung zur Steuerung der Datenfolge auszuführen.
Es folgt die
Erläuterung von Ausführungsbeispielen anhand der
Figuren. Von den Figuren zeigt
Fig. 1 Ein Blockschaltbild eines SRAM, der eine
Ausführungsform darstellt,
Fig. 2 ein Blockschaltbild eines Mikroprozessors, der den
in Fig. 1 gezeigten SRAM enthält,
Fig. 3 ein Schaltbild der Schreibbestimmungsschaltung und
der Lesebestimmungsschaltung, die in Fig. 1
gezeigt sind,
Fig. 4 ein Schaltbild, das ein weiteres Beispiel für die
in Fig. 1 gezeigte Schreibbestimmungsschaltung
darstellt,
Fig. 5A ein Flußdiagramm des in der FFT erforderlichen
Signals,
Fig. 5B ein Signalflußdiagramm zur Beschreibung der
allgemeinen Verarbeitungsregel bei einer FFT,
Fig. 6A-6C Prinzipdarstellungen zur Erklärung einer
Anordnungs-Umwandlung bei der Bildverarbeitung,
Fig. 7 ein Blockschaltbild einer bei der Anordnungs-
Umwandlung in der Bildverarbeitung angewendeten
Lesebestimmungsschaltung,
Fig. 8 ein Blockschaltbild eines herkömmlichen SRAM,
Fig. 9 ein Schaltbild der Eingangsschaltung, der
Ausgangsschaltung und einer Speicherzellenreihe,
die in Fig. 8 gezeigt sind,
Fig. 10 ein Blockschaltbild, das ein weiteres Beispiel
eines in einem Mikroprozessor angeordneten
herkömmlichen SRAM zeigt,
Fig. 11 ein Blockschaltbild, das eine weitere
Ausführungsform zeigt,
Fig. 12 ein Schaltbild von drei Bestimmungsschaltungen und
einer Auswahlschaltung nach Fig. 11,
Fig. 13 ein Blockschaltbild, das eine weitere
Ausführungsform zeigt, und
Fig. 14 ein Schaltbild der in Fig. 13 gezeigten
Spaltenauswahlschaltungen.
Wie Fig. 2 zeigt, weist der Mikroprozessor 90 eine arithme
tische Einheit 91 zur Ausführung von Verarbeitungsvorgängen,
einen SRAM-Teil 92, der einen SRAM entsprechend der Erfindung
enthält, eine Schnittstelle 93 zum Bewirken der Eingabe und
Ausgabe von Daten und eines Steuersignals gegenüber einer
externen Einrichtung und eine Steuerung 94 zum Erzeugen einer
Mehrzahl von Steuersignalen DSEL, SE und WE auf. Die
arithmetische Einheit 91 enthält einen 4-Bit-Zähler 7 zum
Erzeugen von Adreßsignalen von 4 Bit A0-A3, die sequentiell
erhöht werden. Die arithmetische Einheit 91, der SRAM 92 und
die Schnittstelle 93 sind über einen Datenbus 96 miteinander
verbunden. Die Eingangsdaten DI und die Ausgangsdaten DO werden
über den Datenbus 96 übertragen.
Fig. 1 ist ein Blockschaltbild des in Fig. 2 gezeigten SRAM.
Wie Fig. 1 zeigt, enthält der SRAM 92 ein Speicherzellarray 1
mit einer Speicherkapazität von n Bit × m Worten, eine
Schreibbestimmungsschaltung (Schreibauswahlschaltung) 2a zur
Auswahl einer Speicherzellenzeile, in die ein Wert zu schreiben
ist, eine Lesebestimmungsschaltung (Leseauswahlschaltung) 3a
zur Auswahl einer Speicherzellenzeile, aus der ein Wert
auszulesen ist, eine Auswahlschaltung 4 zur Auswahl entweder
der Schreibbestimmungs- oder Lesebestimmungsschaltung, eine
Eingangsschaltung 5 zum Einschreiben eines angelegten
Eingangswertes DI in das Speicherzellarray 1 und eine
Ausgangsschaltung 6 zum Auslesen des im Speicherzellarray 1
gespeicherten Wertes. Die Schreibauswahlschaltung 2a und die
Leseauswahlschaltung 3a sind miteinander verbunden, um
Adreßsignale von 4 Bit A0-A3 aufzunehmen, die von dem in der
arithmetischen Einheit 91 nach Fig. 2 erzeugten 4-Bit-Zähler 7
erzeugt werden. Außerdem ist dieser SRAM 92 so geschaltet, daß
er Steuersignale DSEL, WE und SE, die von der in Fig. 2
gezeigten Steuerung 94 erzeugt werden, empfängt. Die Daten DI,
deren Reihenfolge gesteuert (oder verändert) werden sollte,
werden von der in Fig. 2 gezeigten arithmetischen Einheit 91
angelegt. Die Daten, deren Folge durch diesen SRAM 92 gesteuert
wird, das heißt die über die Ausgangsschaltung 6 ausgelesenen
Ausgangsdaten DO, werden an die arithmetische Einheit 91
zurückgegeben.
Fig. 3 ist ein Schaltbild der Schreibauswahlschaltung 2a, der
Leseauswahlschaltung 3a und der Auswahlschaltung 4, die in
Fig. 1 gezeigt sind. Wie Fig. 3 zeigt, enthält die
Schreibauswahlschaltung 2a 16 UND-Gatter 200-215, von denen
jeder vier Eingänge hat. Die Schreibauswahlschaltung 2a
empfängt die Adreßsignale A0-A3, die vom 4-Bit-Zähler 7 nach
Fig. 1 erzeugt werden. Es werden durch die vier Inverter
invertierte Adreßsignale A0-A3 erzeugt. Jedes UND-Gatter 200-215
ist so geschaltet, daß es entweder ein nicht invertiertes
Adreßbit oder ein invertiertes Adreßbit des 4-Bit-Adreßsignals
erhält. Im Ergebnis erzeugen beim in Fig. 3 gezeigten Beispiel
die UND-Gatter 200-215 sequentiell jeweils ein Signal auf
hohem Pegel in Reaktion auf die angelegten Adreßsignale A0-A3,
so daß die Speicherzellenspalten, in die die Daten
einzuschreiben sind, sequentiell ausgewählt werden. Die den
UND-Gattern 200-215 jeweils gegebenen Nummern "0", "1", ...
"15" bezeichnen durch 4-Bit-Adreßsignale A0-A3 dargestellte
Werte. Wenn die Daten angelegt werden, wird eine entsprechende
Speicherzellenzeile ausgewählt. In der Schreibauswahlschaltung
2a werden die in Fig. 1 gezeigten Speicherzellzeilen M0-M15
in Reaktion auf die Adreßsignale A0-A3, die sequentiell
anwachsen, sequentiell ausgewählt. Im Ergebnis dessen werden
die an die Eingangsschaltung 5 angelegten Eingangsdaten DI im
Einschreibvorgang sequentiell in die Speicherzellzeilen M0-M15
eingeschrieben.
Die Leseauswahlschaltung 3a enthält ebenfalls UND-Gatter 300-315,
die jeweils vier Eingänge haben. Jedes der UND-Gatter 300-315
ist ebenfalls so geschaltet, daß es entweder ein nicht
invertiertes Adreßbit oder ein invertiertes Adreßbit empfängt.
Jedoch unterscheiden sich die Verbindungsknoten der nicht
invertierten Adreßleitungen A0-A3 und der invertierten
Adreßleitungen A0-A3 mit den UND-Gattern 300-315 von denen
bei der Schreibauswahlschaltung 2a. Ein Verbindungsknoten in
der Leseauswahlschaltung 3a wird in Übereinstimmung mit der bei
der FFT erforderlichen Umwandlung der Datenfolge bestimmt. Das
heißt, das UND-Gatter 300 erzeugt in Reaktion auf den Wert "0",
der durch die angelegten Adreßsignale A0-A3 dargestellt wird,
ein Signal auf hohem Pegel. Das heißt, die Speicherzellenzeile
M0 wird ausgewählt. Wenn die den Wert "2" darstellenden
Adreßsignale A0-A3 geliefert werden, erzeugt nur das UND-
Gatter 304 ein Signal auf hohem Pegel. Entsprechend wird die
Speicherzellenzeile M4 ausgewählt. Damit werden die sequentiell
wachsenden Adreßsignale A0-A3 geliefert. Die Folge der durch
die Leseauswahlschaltung 3a ausgewählten Speicherzellenzeilen
steht in Übereinstimmung mit der bei der FFT benötigten Folge.
Das heißt, die Leseauswahlschaltung 3a kann die Speicherzel
lenzeilen M0-M15 in Übereinstimmung mit der bei der FFT
benötigten Folge in Reaktion auf die gelieferten Adreßsignale
A0-A3 auswählen.
Die Auswahlschaltung 4 wählt in Reaktion auf das Auswahlsignal
DSEL, das von der Steuerung 94 erzeugt wird, den Ausgang
entweder der Schreibauswahlschaltung 2a oder der Leseauswahl
schaltung 3a. Beispielsweise liefert die Schalteinrichtung 400
selektiv entweder einen der Ausgänge des UND-Gatters 200 oder
des UND-Gatters 300 in Reaktion auf das Auswahlsignal DSEL. Die
Auswahlschaltung 4 enthält eine Gesamtzahl von 16 Schalt
einrichtungen 400-415, die den gleichen Aufbau wie die Schal
tungseinrichtung 400 haben.
Anstelle der Schreibauswahlschaltung 2a, die in Fig. 3 gezeigt
ist, kann die Schreibauswahlschaltung 2b, wie sie in Fig. 4
gezeigt ist, angewendet werden. Die Schreibauswahlschaltung 2b
nach Fig. 4 weist eine eine Kaskadenverbindung von 16 Flip-Flops
(F/F) 700-715 enthaltende Ringzählerschaltung auf. Jeder der
Flip-Flops 700-715 ist so geschaltet, daß er ein Taktsignal
CLK und ein Reset-(Rücksetz-) Signal RS empfängt, das von der
Steuerung 94 nach Fig. 2 erzeugt wird.
Im Betrieb wird die Ringzählerschaltung in Reaktion auf das
Reset-Signal RS rückgesetzt und erzeugt dann sequentiell
Signale auf hohem Pegel in Reaktion auf das Taktsignal CLK. Das
heißt, die Flip-Flops 700-715 erzeugen sequentiell in
Reaktion auf das Taktsignal CLK Signale auf hohem Pegel.
Dementsprechend können die Speicherzellenzeilen M0-M15 nach
Fig. 1 aufeinanderfolgend ausgewählt werden. Es ist festzu
stellen, daß die Schreibauswahlschaltung 2b nach Fig. 4 die
gleiche Funktion wie die Schreibauswahlschaltung 2a nach Fig.
3 hat.
Unter Bezugnahme auf Fig. 5A wird im folgenden kurz die bei
einer FFT benötigte Umwandlung der Datenfolge, das heißt die
bitverkehrte Adressierung, beschrieben. Werte X(0)-X(15),
deren Datenfolge umzuwandeln ist, werden mittels eines
Signalverarbeitungs-Flußdiagramms für die FFT wie es in Fig.
5A gezeigt ist, in eine für die FFT benötigte Datenfolge
umgewandelt. Die Werte X(0)-X(15), deren Datenfolge zu
verändern ist, können als Ausgangsdaten DO erhalten werden. Die
Einzelheiten bezüglich der Signalverarbeitung nach Fig. 5
werden im oben erwähnten Buch von E. O. Brigham beschrieben. Es
ist zu beachten, daß die in den Fig. 3 und 4 gezeigte
Leseauswahlschaltung 3a bei der für die Signalverarbeitung, wie
sie in Fig. 5A gezeigt ist, erforderlichen Umwandlung der
Datenfolge vorzuziehen ist.
Der in Fig. 5A gezeigte Algorithmus der FFT ist, kurz
beschrieben, wie folgt. In der folgenden Beschreibung werden
Werte X(0)-X(15) durch a0-a15 und Werte X(0)-X(15) durch
e0 -e15 dargestellt; k1, k2, k3 und k4 stellen Primzahlen dar.
Werte b0 und c0 werden beispielsweise durch die folgenden
Gleichungen dargestellt:
b0 = a0 · k1 + a8 · k2 (1)
c0 = b0 · k3 + b4 · k4 (2)
Dementsprechend kann als allgemeine Regel, die durch den in
Fig. 5B gezeigten allgemeinen Ausdruck dargestellt wird, die
folgende Gleichung erhalten werden:
r = p · k1 + q · k2 (3).
Das durch die Gleichung (3) bezeichnete methodische Vorgehen
wird wiederholt ausgeführt, und schließlich können Daten X(0)-X(15)
als Ergebnis erhalten werden. Die Datenfolge, das heißt
die Reihenfolge der Daten auf der Frequenzachse, ist jedoch
nicht vollständig, so daß eine Umwandlung der Datenfolge
erforderlich ist.
Eine Schaltung ähnlich der in Fig. 1 gezeigten Schaltung kann
zur Umwandlung der Datenfolge auf dem oben erwähnten Gebiet der
Videoverarbeitung verwendet werden. Unter Bezugnahme auf die
Fig. 6A-6C wird im folgenden das Prinzip der Anordnungs-
Umwandlung bei der Videoverarbeitung beschrieben. Bei der
gegebenen Beschreibung wird angenommen, daß Bildelemente, die
einen Schirm SC bilden, in vier Zeilen und vier Spalten
angeordnet seien, um die Beschreibung zu vereinfachen. Der
Schirm SC wird abgetastet (gescannt) entsprechend der in Fig.
6A gezeigten Folge.
Angenommen, daß das auf dem Schirm SC dargestellte Bild durch
die Bildwerte p0-p15 nach Fig. 6B repräsentiert sei, ist es
erforderlich, die Bildelementdaten in die in Fig. 6C gezeigte
Folge umzuwandeln, um dieses Bild um 90° entgegen dem Uhrzei
gersinn zu drehen. Das heißt, die Folge von Original-Bildele
mentdaten (p0, p1, p2, p3, p4, ... p15) wird in eine neue Folge
(p3, p7, p11, p15, p2, ... p12) umgewandelt. Um eine Anord
nungsumwandlung bei der Videoverarbeitung zu bewirken, wird so
eine vorbestimmte Umwandlung der Folge der Bildelementdaten
benötigt.
Fig. 7 ist ein Blockschaltbild der Schaltung zum Bewirken der
Umwandlung der in Fig. 6C gezeigten Bildelementdaten. Nach
Fig. 7 kann entweder die Schaltung 2a oder die Schaltung 2b,
die in den Fig. 3 und 4 gezeigt sind, als Schreibaus
wahlschaltung 2c angewendet werden. Die Schreibauswahlschaltung
2c wählt sequentiell die Speicherzellenspalten M0-M15 in
Reaktion auf Adreßsignale A0-A3 (nicht gezeigt) beim
Einschreibvorgang aus. Umgekehrt wählt die Leseauswahlschaltung
3b entsprechend der Folge der Adreßdaten, die im Schaltungs
block 7b in Fig. 7 dargestellt sind, eine Speicherzellenzeile
im Speicherzellenarray 1 aus. Dementsprechend werden die im
Speicherzellarray 1 gespeicherten Bildelementdaten in der
Reihenfolge (p3, p7, p11, p15, p2, ... p12) ausgelesen. Das
heißt, es wird die Änderung der Datenfolge für die in Fig. 6C
gezeigte Anordnungs-Umwandlung bewirkt.
Wie Fig. 11 zeigt, enthält der SRAM 97 drei Auswahlschaltungen
2a, 3a und 23. Im Vergleich zum SRAM 92 nach Fig. 1 ist eine
zusätzliche Auswahlschaltung 23 zur Zeilenauswahl beim Auslesen
oder Einschreiben vorgesehen. Es ist hervorzuheben, daß die
Erfindung auf einen Halbleiterspeicher oder Mikroprozessor
angewendet werden kann, der mehr als zwei Auswahlschaltungen
hat, wie in Fig. 11 gezeigt, während der in Fig. 1 gezeigte
SRAM 92 nur zwei Auswahlschaltungen 2a und 3a enthielt. Fig.
12 zeigt die Einzelheiten der drei Auswahlschaltungen 2a, 3a
und 23 und einer Auswahlschaltung 4a.
Unter Bezugnahme auf Fig. 12 liefert jede Schalteinrichtung,
zum Beispiel 400′, die in der Auswahlschaltung 4a angeordnet
ist, wahlweise eines der drei entsprechenden Auswahlsignale,
die von den drei entsprechenden Auswahlschaltungen 2a, 3a und
23 geliefert wurden, in Reaktion auf zwei Auswahlsignale DSEL0
und DSEL1, die von einer verbesserten Steuerung 94 geliefert
werden, an die Wortleitung WL0. Jede Schalteinrichtung enthält
fünf CMOS-Übertragungsgates, wie in Fig. 12 gezeigt.
Wie Fig. 13 zeigt, enthält ein SRAM 98 im Vergleich zu dem in
Fig. 1 gezeigten SRAM 92 weiter Schaltungen zur Spalten
auswahl. Das heißt, der SRAM 98 enthält einen Ein-Bit-Dekoder
(Spaltendekoder (80) zur Spaltenauswahl, eine Auswahl
einrichtung (SEL) 81, die in Reaktion auf ein von der Steuerung
94 geliefertes Auswahlsignal DSEL arbeitet und Auswahlschal
tungen 82, die in Reaktion auf Spaltenauswahlsignale Y0 und Y1,
die von der Auswahleinrichtung 81 geliefert werden, entweder
eine Spalte mit ungeradzahliger Nummer oder geradzahliger
Nummer für den Zugriff auswählen. Der Spaltendekoder 80
empfängt und dekodiert das signifikanteste Bit A4 von den
Adreßsignalen A0-A4 von 5 Bit, die von einem 5-Bit-Zähler 7′
erzeugt werden. Andere Adreßsignale A0-A3 werden auf die
gleiche Weise wie im Falle der Fig. 1 an die Auswahlschal
tungen 2a und 3a geliefert. Fig. 14 zeigt die Spaltenaus
wahlschaltungen und die Ausgangsschaltung 6, die in Fig. 13
gezeigt sind. Es ist zu beachten, daß, während der in Fig. 13
und 14 gezeigte Spaltendekoder 80 den Ein-Bit-Dekoder enthält,
wenn erforderlich, ein Spaltendekoder verwendet werden kann,
der zum Dekodieren von Adreßsignalen von zwei oder mehr Bit in
der Lage ist. In einem solchen Falle dekodiert ein solcher
Spaltendekoder ebenfalls sequentiell ein wachsendes (oder sich
änderndes) Adreßsignal und wählt sequentiell eine zuzugreifende
Spalte aus.
Wie oben beschrieben, ist es möglich, ohne Abhängigkeit vom
Betrieb der CPU durch Vorsehen des SRAM 92 nach Fig. 1 im
Mikroprozessor leicht eine Speicherzellenzeile auszuwählen, die
zur Änderung der Datenfolge, wie sie bei der FFT benötigt wird,
erforderlich ist. Die Schreibauswahlschaltung 2a und die Lese
auswahlschaltung 3a nach Fig. 1 können eine Speicherzellen
zeile, die bei der FFT benötigt wird, in Reaktion auf
sequentiell anwachsende Adreßsignale A0-A3 bestimmen. Mit
anderen Worten ist es nicht nötig, ein sich auf eine
komplizierte Weise änderndes Adreßsignal vorzusehen, um eine
bitverkehrte Adressierung zu bewirken, so daß die CPU kein
solch kompliziertes Adreßsignal erzeugen muß. Das heißt, zur
Erzeugung eines Adreßsignals ist der Betrieb der CPU nicht
nötig. Dies trägt dazu bei, die Anzahl der durch die CPU
durchzuführenden Verarbeitungsvorgänge zu verringern. Damit
wird eine hohe Geschwindigkeit der CPU gewährleistet. Auf einem
Gebiet wie der FFT oder der Videoverarbeitung usw. wird der
Hochgeschwindigkeitsbetrieb der CPU gebraucht. Es ist daher zu
beachten, daß es äußerst günstig ist, daß die Anzahl der durch
die CPU auszuführenden Verarbeitungsvorgänge durch die
Anwendung des SRAM nach Fig. 1 verringert wird.
Obgleich bei den beschriebenen Ausführungsformen die Umwandlung
einer Datenfolge auf den Gebieten der FFT und der Videoverar
beitung beschrieben wurde, ist zu beachten, daß die vorliegende
Erfindung allgemein auf dem Gebiet der Datenverarbeitung, wo
eine Umwandlung einer Datenfolge erforderlich ist, angewendet
werden kann.
Claims (14)
1. Halbleiterspeichereinrichtung mit
einem Array (1) von in einer Matrix von Zeilen und Spalten angeordneten und durch eine Zeilenadresse und eine Spalten adresse bezeichneten Speicherzellen,
einer Adresseneingangseinrichtung (7) zum aufeinanderfolgenden Erzeugen von Adressen der Speicherzellen, auf die zugegriffen werden soll,
einer ersten Auswahleinrichtung (2a) zur Bestimmung einer ersten Folge von zuzugreifenden Speicherzellen im Array in Reaktion auf durch die Adresseneingangseinrichtung erzeugte Adressen und
einer zweiten Auswahleinrichtung (3a) zur Bestimmung einer zweiten Folge zuzugreifender Speicherzellen des Arrays in Reaktion auf durch die Adresseneingangseinrichtung erzeugte Adressen, wobei die erste Folge und zweite Folge eine vorbestimmte Beziehung zueinander haben.
einem Array (1) von in einer Matrix von Zeilen und Spalten angeordneten und durch eine Zeilenadresse und eine Spalten adresse bezeichneten Speicherzellen,
einer Adresseneingangseinrichtung (7) zum aufeinanderfolgenden Erzeugen von Adressen der Speicherzellen, auf die zugegriffen werden soll,
einer ersten Auswahleinrichtung (2a) zur Bestimmung einer ersten Folge von zuzugreifenden Speicherzellen im Array in Reaktion auf durch die Adresseneingangseinrichtung erzeugte Adressen und
einer zweiten Auswahleinrichtung (3a) zur Bestimmung einer zweiten Folge zuzugreifender Speicherzellen des Arrays in Reaktion auf durch die Adresseneingangseinrichtung erzeugte Adressen, wobei die erste Folge und zweite Folge eine vorbestimmte Beziehung zueinander haben.
2. Halbleiterspeichereinrichtung nach Anspruch 1,
gekennzeichnet durch eine Schreibeinrichtung (5) zum Einschreiben
von Daten in die Speicherzellen in einem Einschreibvorgang,
eine Ausleseeinrichtung (6) zum Auslesen von in den
Speicherzellen gespeicherten Daten in einem Auslesevorgang und
eine Folgesteuereinrichtung (4) zur Auswahl entweder der ersten
oder der zweiten Auswahleinrichtung während des
Einschreibvorganges und entweder der ersten oder der zweiten
Auswahleinrichtung während des Auslesevorganges, wodurch eine
Speicherzellenzugriffsfolge zum Einschreiben sich vom Spei
cherzellenzugriff zum Auslesen unterscheiden kann.
3. Halbleiterspeichereinrichtung nach Anspruch 2, gekenn
zeichnet dadurch,
daß eine Zeilenaktivierungseinrichtung zum Aktivieren einer Zeile zuzugreifender Speicherzellen vorgesehen ist,
daß die Adresseneingangseinrichtung eine Zählereinrichtung (7), die in Reaktion auf ein gepulstes Taktsignal Adreßsignale er zeugt, die sich mit aufeinander folgenden Taktimpulsen abwech seln, aufweist,
daß die erste und zweite Auswahleinrichtung jeweils eine Mehr zahl logischer Schaltungen (200-215, 300-315), von denen jede logische Schaltung einer entsprechenden Zeile von Speicherzellen entspricht, aufweisen, und
daß die Folgesteuereinrichtung eine Schalteinrichtung (4) auf weist, die mit der ersten und zweiten Auswahleinrichtung ver bundene Eingänge zur Aufnahme von Ausgängen der logischen Schaltungen hat und deren Ausgänge mit der Zeilenaktivierungs einrichtung zum Zugreifen auf Speicherzellen in einer ausge wählten Folge verbunden sind.
daß eine Zeilenaktivierungseinrichtung zum Aktivieren einer Zeile zuzugreifender Speicherzellen vorgesehen ist,
daß die Adresseneingangseinrichtung eine Zählereinrichtung (7), die in Reaktion auf ein gepulstes Taktsignal Adreßsignale er zeugt, die sich mit aufeinander folgenden Taktimpulsen abwech seln, aufweist,
daß die erste und zweite Auswahleinrichtung jeweils eine Mehr zahl logischer Schaltungen (200-215, 300-315), von denen jede logische Schaltung einer entsprechenden Zeile von Speicherzellen entspricht, aufweisen, und
daß die Folgesteuereinrichtung eine Schalteinrichtung (4) auf weist, die mit der ersten und zweiten Auswahleinrichtung ver bundene Eingänge zur Aufnahme von Ausgängen der logischen Schaltungen hat und deren Ausgänge mit der Zeilenaktivierungs einrichtung zum Zugreifen auf Speicherzellen in einer ausge wählten Folge verbunden sind.
4. Halbleiterspeichereinrichtung nach Anspruch 2, dadurch ge
kennzeichnet, daß das Array von Speicherzellen einen statischen
Speicher mit wahlfreiem Zugriff bildet und die Speicherein
richtung weiter eine Zeilenaktivierungseinrichtung zum Aktivie
ren einer ausgewählten Zeile von Speicherzellen, in der auf
eine Mehrzahl von Speicherzellen gleichzeitig zugegriffen wird,
aufweist, und daß
die erste Auswahleinrichtung eine Ringzählereinrichtung (2b), die auf ein Taktsignal anspricht, aufweist,
daß die zweite Auswahleinrichtung eine Mehrzahl logischer Schaltungen (300-315), von denen jede logische Schaltung einer entsprechenden Zeile von Speicherzellen entspricht, auf weist, und
daß die Folgesteuereinrichtung eine Schalteinrichtung (4) auf weist, deren Eingänge mit der ersten und zweiten Auswahlein richtung verbunden sind und deren Ausgänge mit der Zeilenakti vierungseinrichtung zum Zugriff auf Speicherzellen in einer ausgewählten Folge verbunden sind.
die erste Auswahleinrichtung eine Ringzählereinrichtung (2b), die auf ein Taktsignal anspricht, aufweist,
daß die zweite Auswahleinrichtung eine Mehrzahl logischer Schaltungen (300-315), von denen jede logische Schaltung einer entsprechenden Zeile von Speicherzellen entspricht, auf weist, und
daß die Folgesteuereinrichtung eine Schalteinrichtung (4) auf weist, deren Eingänge mit der ersten und zweiten Auswahlein richtung verbunden sind und deren Ausgänge mit der Zeilenakti vierungseinrichtung zum Zugriff auf Speicherzellen in einer ausgewählten Folge verbunden sind.
5. Halbleiterspeichereinrichtung nach Anspruch 1, dadurch
gekennzeichnet,
daß die erste Auswahleinrichtung eine erste Zeilenauswahlein richtung (2a) aufweist, die in Reaktion auf die durch die Adresseneingangseinrichtung erzeugten Adressen eine erste Folge von Zeilen zuzugreifender Speicherzellen im Array bestimmt, und daß die zweite Auswahleinrichtung eine zweite Zeilenaus wahleinrichtung (3a) aufweist, die in Reaktion auf die durch die Adresseneingangseinrichtung erzeugten Adressen eine zweite Folge von Zeilen zuzugreifender Speicherzellen im Array be stimmt.
daß die erste Auswahleinrichtung eine erste Zeilenauswahlein richtung (2a) aufweist, die in Reaktion auf die durch die Adresseneingangseinrichtung erzeugten Adressen eine erste Folge von Zeilen zuzugreifender Speicherzellen im Array bestimmt, und daß die zweite Auswahleinrichtung eine zweite Zeilenaus wahleinrichtung (3a) aufweist, die in Reaktion auf die durch die Adresseneingangseinrichtung erzeugten Adressen eine zweite Folge von Zeilen zuzugreifender Speicherzellen im Array be stimmt.
6. Halbleiterspeichereinrichtung nach Anspruch 1, dadurch
gekennzeichnet,
daß die erste Zeilenauswahleinrichtung eine sequentielle Zei lenauswahleinrichtung (2a) aufweist, die in Reaktion auf die durch die Adresseneingangseinrichtung erzeugten Adressen se quentiell eine Speicherzellenzeile im Speicherzellenarray aus wählt, in die Daten einzuschreiben sind, und
daß die zweite Zeilenauswahleinrichtung eine gesteuerte Zeilen auswahleinrichtung (3a) aufweist, die in Reaktion auf die durch die Adresseneingangseinrichtung erzeugten Adressen im Speicher zellenarray eine Speicherzellenzeile entsprechend der vorbe stimmten Beziehung auswählt, aus der Daten auszulesen sind.
daß die erste Zeilenauswahleinrichtung eine sequentielle Zei lenauswahleinrichtung (2a) aufweist, die in Reaktion auf die durch die Adresseneingangseinrichtung erzeugten Adressen se quentiell eine Speicherzellenzeile im Speicherzellenarray aus wählt, in die Daten einzuschreiben sind, und
daß die zweite Zeilenauswahleinrichtung eine gesteuerte Zeilen auswahleinrichtung (3a) aufweist, die in Reaktion auf die durch die Adresseneingangseinrichtung erzeugten Adressen im Speicher zellenarray eine Speicherzellenzeile entsprechend der vorbe stimmten Beziehung auswählt, aus der Daten auszulesen sind.
7. Halbleiterspeichereinrichtung nach Anspruch 6, dadurch ge
kennzeichnet,
daß die durch die Adresseneingangseinrichtung erzeugten Adres sen eine erste Mehrzahl von Adreß-Bits aufweisen,
daß die sequentielle Zeilenauswahleinrichtung eine zweite Mehr zahl erster logischer Multipliziereinrichtungen aufweist, die zur Aufnahme der ersten Mehrzahl von Adreß-Bits auf eine erste Schaltungsweise geschaltet sind,
daß die gesteuerte Zeilenauswahleinrichtung eine zweite Mehrzahl zweiter logischer Multipliziereinrichtungen aufweist, die zur Aufnahme der ersten Mehrzahl von Adreß-Bits auf eine zweite Schaltungsweise geschaltet sind, und
daß die erste und zweite Schaltungsweise entsprechend der vor bestimmten Beziehung bestimmt sind.
daß die durch die Adresseneingangseinrichtung erzeugten Adres sen eine erste Mehrzahl von Adreß-Bits aufweisen,
daß die sequentielle Zeilenauswahleinrichtung eine zweite Mehr zahl erster logischer Multipliziereinrichtungen aufweist, die zur Aufnahme der ersten Mehrzahl von Adreß-Bits auf eine erste Schaltungsweise geschaltet sind,
daß die gesteuerte Zeilenauswahleinrichtung eine zweite Mehrzahl zweiter logischer Multipliziereinrichtungen aufweist, die zur Aufnahme der ersten Mehrzahl von Adreß-Bits auf eine zweite Schaltungsweise geschaltet sind, und
daß die erste und zweite Schaltungsweise entsprechend der vor bestimmten Beziehung bestimmt sind.
8. Halbleiterspeichereinrichtung nach Anspruch 6, dadurch ge
kennzeichnet,
daß die Adresseneingangseinrichtung eine Taktsignalerzeugungs einrichtung zur Erzeugung eines Taktsignals, wenn auf die Adressen der Speicherzellen zuzugreifen ist, aufweist, und
daß die sequentielle Zeilenauswahleinrichtung eine Ringzähler einrichtung (2b) aufweist, die in Reaktion auf das Taktsignal sequentiell eine Speicherzellenzeile innerhalb des Speicherzel lenarrays bestimmt, in die Daten einzuschreiben sind.
daß die Adresseneingangseinrichtung eine Taktsignalerzeugungs einrichtung zur Erzeugung eines Taktsignals, wenn auf die Adressen der Speicherzellen zuzugreifen ist, aufweist, und
daß die sequentielle Zeilenauswahleinrichtung eine Ringzähler einrichtung (2b) aufweist, die in Reaktion auf das Taktsignal sequentiell eine Speicherzellenzeile innerhalb des Speicherzel lenarrays bestimmt, in die Daten einzuschreiben sind.
9. Halbleiterspeichereinrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 8, dadurch ge
kennzeichnet, daß die vorbestimmte Beziehung eine Datenanord
nungs-Umwandlungsregel für die schnelle Fourier-Transformation
(FFT) darstellt.
10. Halbleiterspeichereinrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 8, dadurch ge
kennzeichnet, daß die vorbestimmte Beziehung eine Scanning
folgen-Umwandlungsregel bei der Bildverarbeitung darstellt.
11. Halbleiterspeichereinrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 10, dadurch gekennzeichnet, daß
die erste Auswahleinrichtung (2a) vorgesehen ist zum Bestimmen einer ersten
Mehrzahl von Speicherzellorten, auf die im Array in Reaktion
auf durch die Adresseneingangseinrichtung erzeugte einzelne
Adressen zugegriffen werden soll,
die zweite Auswahleinrichtung (3a) vorgesehen ist zum Bestimmen einer Mehrzahl von zweiten Spei cherzellorten des Arrays, auf die in Reaktion auf die einzel nen Adressen zugegriffen werden soll, wobei die erste und die zweite Mehrzahl von Speicherzellorten eine vorbestimmte Bezie hung zueinander haben.
die zweite Auswahleinrichtung (3a) vorgesehen ist zum Bestimmen einer Mehrzahl von zweiten Spei cherzellorten des Arrays, auf die in Reaktion auf die einzel nen Adressen zugegriffen werden soll, wobei die erste und die zweite Mehrzahl von Speicherzellorten eine vorbestimmte Bezie hung zueinander haben.
12. Verwendung der Halbleiterspeichereinrichtung nach
einem der Ansprüche 1 bis 11 in einem Mikroprozessor.
13. Verwendung der Halbleiterspeichereinrichtung nach einem der
Ansprüche 1 bis 11 in einer
Datenfolgeänderungsschaltung zum Ändern der Folge einer
Mehrzahl von Daten entsprechend einer vorbestimmten Beziehung.
14. Halbleiterspeichereinrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 11, dadurch gekennzeichnet, daß das
Array (1) eine Mehrzahl von Speicher
zellgebieten mit jeweils einer Mehrzahl von Speicherzellen
aufweist, die erste Auswahleinrichtung
eine erste Dekodereinrichtung (2a) mit einer Mehrzahl von Schreibadreßdekodern zum Schreiben von Daten ist, wobei jeder Schreibadreßdekoder im entsprechenden Speicherzellgebiet ange ordnet ist und ein Signal zum Aktivieren des entsprechenden Speicherzellgebietes in Reaktion auf ein Schreibadreßsignal zum Bestimmen des entsprechenden Speicherzellgebietes erzeugt,
die zweite Auswahleinrichtung eine zweite Dekodereinrichtung (3a) mit einer Mehrzahl von Leseadreßdekodern zum Auslesen von Daten ist, wobei jeder Lese adreßdekoder im entsprechenden Speicherzellgebiet angeordnet ist und ein Signal zum Aktivieren des entsprechenden Speicher zellgebietes in Reaktion auf ein Leseadreßsignal zum Bestimmen des entsprechenden Speicherzellgebietes liefert, und
eine Schalteinrichtung (4) vorgesehen ist zum Verbinden der ersten Dekoder einrichtung mit dem entsprechenden Speicherzellgebiet beim Schreibvorgang und zum Verbinden der zweiten Dekodereinrichtung mit dem entsprechenden Speicherzellgebiet beim Lesevorgang, wobei das Schreibadreßsignal und das Leseadreßsignal sich ent sprechend einer vorbestimmten Beziehung voneinander unterschei den.
eine erste Dekodereinrichtung (2a) mit einer Mehrzahl von Schreibadreßdekodern zum Schreiben von Daten ist, wobei jeder Schreibadreßdekoder im entsprechenden Speicherzellgebiet ange ordnet ist und ein Signal zum Aktivieren des entsprechenden Speicherzellgebietes in Reaktion auf ein Schreibadreßsignal zum Bestimmen des entsprechenden Speicherzellgebietes erzeugt,
die zweite Auswahleinrichtung eine zweite Dekodereinrichtung (3a) mit einer Mehrzahl von Leseadreßdekodern zum Auslesen von Daten ist, wobei jeder Lese adreßdekoder im entsprechenden Speicherzellgebiet angeordnet ist und ein Signal zum Aktivieren des entsprechenden Speicher zellgebietes in Reaktion auf ein Leseadreßsignal zum Bestimmen des entsprechenden Speicherzellgebietes liefert, und
eine Schalteinrichtung (4) vorgesehen ist zum Verbinden der ersten Dekoder einrichtung mit dem entsprechenden Speicherzellgebiet beim Schreibvorgang und zum Verbinden der zweiten Dekodereinrichtung mit dem entsprechenden Speicherzellgebiet beim Lesevorgang, wobei das Schreibadreßsignal und das Leseadreßsignal sich ent sprechend einer vorbestimmten Beziehung voneinander unterschei den.
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