DE4224349A1 - Raumlichtmodulator aus silizium - Google Patents
Raumlichtmodulator aus siliziumInfo
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Description
Die Erfindung betrifft Raumlichtmodulatoren (SLM) und ins
besondere solche Raumlichtmodulatoren, die die Technologie
verformbarer Spiegel verwenden. Die Erfindung betrifft
besonders einen verbesserten Raumlichtmodulator mit einem
hohen Beugungswirkungsgrad, einer geringen falschen Beu
gung, einer ausgezeichneten Temperaturfestigkeit und einer
hohen Belastbarkeit.
Raumlichtmodulatoren werden in vielen Anwendungsbereichen
von optischen Prozessoren, beispielsweise in Korrelatoren
und optischen neuralen Netzwerken, als aktives Element
verwendet.
Es ist eine Form von Raumlichtmodulatoren mit verformbaren
Spiegeln bekannt, bei der eine Anordnung von Spiegelelemen
ten oder Bildelementen auf einer Membrane oder einem blu
menblattartigen Aufbau ausgebildet ist, die bzw. der auf
einem Gitter im Abstand zu einer entsprechenden Anordnung
von Elektroden angeordnet ist, die auf ein Substrat aufge
bracht sind und einzeln durch Aufbringung eines lokalen
elektrischen Feldes bewegbar sind, das auf jede Elektrode
aufgebracht wird, um das entsprechende Spiegelelement
abzulenken. Bei einer Ablenkung in ein geeignetes Muster,
das dem Zustand der aufgebrachten elektrischen Signale
entspricht, verursacht die gemeinsame Ablenkung der Elemen
te oder Bildelemente eine Phasenänderung in der Wellenfront
eines von der Anordnung reflektierten Lichtstrahls, so daß
eine in dem Zustand des elektrischen Signals mitgeführte
Information auf einen von der Anordnung reflektierten
Lichtstrahl kodiert wird.
Raumlichtmodulatoren dieser allgemeinen Art sind aus der
USA 44 41 791, der USA 45 71 603 und aus der Druckschrift
"Characteristics of the Deformable Mirror Device for Opti
cal Information Processing", Opt. Eng. Nov. - Dez. 1983,
Ausgabe 22, Nr. 6, Seiten 675-681 bekannt. In diesen
Veröffentlichungen wird ein Raumlichtmodulator vorgeschla
gen, bei dem eine Polymermembrane verwendet wird, die auf
einem Gitter über einer Anordnung von Elektroden gelagert
ist, die an einer Rückwand angebracht sind. Die Veröffent
lichungen beschreiben die Theorie der Betriebsweise einer
solchen Vorrichtung. Eine gründliche Analyse dieser Art von
Vorrichtung zeigt, daß der Beugungswirkungsgrad geringer
als gewünscht und weit geringer als ein nennenswerter
Prozentsatz des Erreichbaren ist. Die Temperaturempfind
lichkeit ist aufgrund der Verwendung von unterschiedlichen
Materialien bedeutend. Außerdem sind die Ablenkungsparame
ter weniger als optimal. Grund für diese Einschränkungen
ist in erster Linie die Verwendung von unterschiedlichen
Materialien, d. h. eines Polymermembranmaterials auf einer
Siliziumrückwand. Der Wärmeausdehnungskoeffizient des
Polymers unterscheidet sich sehr von dem des Siliziums, so
daß sich die Spannung, die sich in der Membrane entwickelt,
in einem Temperaturbereich dramatisch ändert. Außerdem ist
der Hohlraum zwischen der Rückwand und der Membrane druck
empfindlich, so daß der Wandler selbst druckempfindlich
wird. Die trommelähnliche Eigenschaft der Ablenkung der
Membrane beschränkt den Ablenkungs-Wirkungsgrad. Deswegen
sind die Vorrichtungen dieser bekannten Art nicht leicht
für eine Verwendung in einem weiten Temperaturbereich und
für Modulationszwecke anpaßbar, die einen Hochfrequenzbe
trieb mit sich bringen. Zusätzlich ist die Stärke des
einfallenden Lichtstrahls auch durch die Temperaturgrenzen
der Membrane begrenzt, die bei den meisten Kunststoffen
weniger als 200°C betragen.
Eine Vielzahl anderer dem Stand der Technik angehörender
Patente offenbaren Raumlichtmodulatoren unterschiedlichen
Aufbaus, die jedoch ähnliche Nachteile haben. Beispiele
solcher anderen Konstruktionen sind in der USA 49 56 619,
der EP-A 03 32 953 A2, der US 46 62 746, der
US-A 46 15 595 und der US 47 10 732 erläutert.
In den Fällen, in denen für den Aufbau eine Membrane ver
wendet wird, die einen blumenartigen oder klappenartigen
Aufbau hat, bei dem die Ränder jeder Klappe auf einer Seite
an einem Träger angelenkt sind und ansonsten vollkommen
frei sind, wie es beispielsweise in dem US-Patent 46 15 595
der Fall ist, treten auch dann, wenn keine beabsichtigte
Ablenkung des Blumenblatts vorhanden ist, Probleme wegen
einer fehlerhaften Ablenkung auf, deren Grund die Tendenz
jedes Blumenblatts ist, sich wegen der Spannungen einzurol
len, die während der Herstellung beim Ätzverfahren indu
ziert werden. Außerdem haben Lichtmodulatoren mit blumen
blattartigen Konstruktionen eine Eigenneigung, die auf den
Strahl übertragen wird, was unerwünscht ist.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, einen verbes
serten kompakten Raumlichtmodulator zu schaffen, der die
Einschränkungen und Nachteile des Stands der Technik über
windet und der besonders zur Phasenmodulation von Hoch
leistungslaserstrahlen geeignet ist.
Diese Aufgabe wird durch einen Raumlichtmodulator gelöst,
der eine(n) Siliziumrückwand oder -träger mit einer dünnen
Isolierschicht aufweist, auf der bzw. dem eine zweite
Schicht aus Isoliermaterial angebracht ist, die ein Ab
standsgitter zur Bildung einer Anordnung von Zellen bildet.
Das Material an dem Gitter hat einen ähnlichen Ausdehnungs
koeffizient wie Silizium. Auf der dünnen Isolierschicht auf
der Rückwand ist in jeder Zelle eine Elektrode angebracht.
Eine dünne Membrane aus dotiertem Silizium ist an dem
Abstandsgitter über der Anordnung von Zellen und Elektroden
angebracht. Auf der Membrane ist an der der Rückwand abge
wandten Seite eine hochreflektierende Oberfläche ange
bracht, um eine Anordnung von reflektierenden Bildelementen
über der Anordnung von Zellen zu schaffen, wodurch die
einzelnen Abschnitte der Membrane und des jede Zelle über
lagernden Bildelements durch elektrostatische Anziehung
zwischen der Membrane und der Elektrode abgelenkt werden,
wenn die jeweilige Elektrode selektiv geladen wird, wobei
die Ablenkung nach einem Muster erfolgt, das dem Zustand
der auf die Elektroden aufgebrachten elektrischen Signale
entspricht. In jeder Zelle ist von der Elektrodenseite der
Rückwand bis zu ihrer gegenüberliegenden Seite eine Entlüf
tungsöffnung ausgebildet, damit ein Gas aus der Zelle
austreten kann, wenn die Membrane abgelenkt wird. Nuten
erstrecken sich quer über die Fläche der Rückwand und über
die Zelle und schneiden die Entlüftungsöffnung, um ein
Entweichen von Gas aus der Zelle und durch die Öffnung zu
unterstützen. Die Entlüftungsöffnung ist in ihrer Größe und
ihrem Aufbau vorzugsweise für eine kritische Dämpfung der
Massenbewegung der abgelenkten Membrane an der Zelle ausge
legt, um die durch die elektrostatische Ablenkung verur
sachte Bewegung zu steuern. Biegestellen mit verringertem
Querschnitt sind in der Membrane längs einer geschlossenen
Linie ausgebildet, die sich um den Innenumfang des Ab
standsgitters erstreckt, so daß sich die Membrane in der
Biegestelle eher wie ein Kolben bewegt.
Der erfindungsgemäße Raumlichtmodulator ist für einen
Betrieb in einem weiten Temperaturbereich thermisch stabil.
Der Raumlichtmodulator ist außerdem bei sehr hohen Ein
gangsleistungspegeln von beispielsweise 1000 Watt einsetz
bar. Schließlich weist er einen sehr hohen Beugungswir
kungsgrad auf.
Ausführungsbeispiele der Erfindung werden nachstehend
anhand der Zeichnungen näher erläutert. Es zeigt:
Fig. 1 eine Draufsicht auf eine einzelne Zelle eines Raum
lichtmodulators, bei dem eine Membrane entfernt
ist, um die innere Struktur einer Zelle zu zeigen;
Fig. 2 den Schnitt 2-2 von Fig. 1, wobei eine starke rück
wärtige Befestigungsplatte entfernt ist;
Fig. 3 den Schnitt 3-3 von Fig. 1, wobei die starke rück
wärtige Befestigungsplatte angeordnet ist;
Fig. 4a ein Modell einer Zelle ohne Membranbiegestellen
der in den Fig. 1 bis 3 gezeigten Anordnung,
das seine Arbeitsweise in Ansprechung auf eine
Ablenkungsspannung zeigt;
Fig. 4B ein die Wirkungsweise des Modells von Fig. 4a
zeigendes Diagramm, das die Verschiebung als Funk
tion der Ablenkungsspannung zeigt;
Fig. 5 eine Draufsicht auf eine Zelle einer anderen Aus
führungsform des Raumlichtmodulators;
Fig. 6 den Schnitt 6-6 von Fig. 5;
Fig. 7 den Schnitt 7-7 von Fig. 5.
Der erfindungsgemäße Raumlichtmodulator 10 weist eine
Rückwand 11 aus Silizium auf, auf der ein Isolator 12 aus
einer Siliziumdioxidbeschichtung ausgebildet ist. Die
Rückwand 11 ist für eine Lagerung der gesamten Vorrichtung
mit einem starken Rückenteil 13 verklebt und auf diesem
gelagert. Ein Abstandsgitter 14 aus Isoliermaterial, wie
z. B. Siliziumdioxid, ist auf der Rückwand 11 ausgebildet
und bildet um eine Anordnung von Zellen, von denen eine,
15, näher gezeigt ist. Jede Zelle bildet ein Bildelement,
das, wie es gezeigt ist, quadratisch sein kann. In der
Fläche jeder Zelle ist eine Ablenkungselektrode 17 an der
Oxidbeschichtung 12 angebracht. Eine dotierte Siliziummem
brane 18 ist mittels einer geeigneten Einrichtung, bei
spielsweise einem Klebeverbindungsteil 19 aus Glas, mit dem
Gitter 14 verklebt. Nach außen gerichtete Spiegelelemente
20 sind auf der Membrane 18 angebracht, und zwar ein Ele
ment 20 auf jeder Zelle, um auf der Membrane 18 ein reflek
tierendes Bildelement zu bilden, oder es ist die gesamte
nach außen gerichtete Spiegelfläche mit dem Reflexions
material beschichtet.
Die Rückwand 11 ist aus einem p-dotierten Siliziumwafer
hergestellt, durch den Entlüftungsöffnungen 21 an einer
Mittellage in der Zelle 15 sowohl von der Oberseite als
auch von der Unterseite der Rückwand 11 aus geätzt sind, um
eine Durchgangsöffnung zu schaffen. Eine Vielzahl von Nuten
22 bis 28 ist auf der Oberseite der Rückwand 11 in jeder
Zelle 15 so ausgebildet, daß sie sich untereinander und das
jeweilige Entlüftungsloch 21 schneiden. Jedes Entlüftungs
loch 21 und die zugeordneten Nuten 22 bis 28 sind in ihrer
Größe so ausgelegt, daß Gas aus dem Inneren der Zelle durch
das Entlüftungsloch entweichen kann, wenn das Membranele
ment abgelenkt wird. Hierdurch wird außerdem eine Bewe
gungsdämpfung geschaffen, die auf eine kritische Dämpfungs
charakteristik eingestellt werden kann, um die Bewegung des
Membranelements anzuhalten, nachdem die aufgebrachte Span
nung verändert wurde.
Die Membrane 18 ist aus dotiertem Silizium hergestellt, so
daß sie eine Leitfähigkeit aufweist, die dazu ausreicht,
daß auf sie ein Bezugsgrundpotential für den Betrieb der
Vorrichtung aufgebracht werden kann. Ein Dotiergrad von
1018 pro cm3 ist für den Zweck ausreichend. Die Bewegung der
Membrane wird durch das elektrostatische Feld gesteuert,
das sich zwischen ihr und der Zellelektrode nach Aufbrin
gung der Ablenkungsspannung entwickelt.
Die Membrane ist um den Innenrand des Gitters um jede Zelle
15 geätzt, um eine dünnwandige Biegestelle 30 in Form einer
geschlossenen Kurve zu schaffen, die an der Außenseite
durch eine Rippe 32 begrenzt ist, die an dem Gitter 14
gelagert und mit diesem verklebt ist. Die Biegestelle 30
bildet einen zentralen Membrankolbenbereich 37, der an der
Innenseite der Biegestelle durchgehend dicker ist und
gegenüber der Zellelektrode 17 liegt. Während des Betriebes
zieht eine selektive Ladung einer Elektrode 17 mit einem
elektrischen Signal den Membrankolben an und verursacht
eine Ablenkung des Kolbens in Richtung der Elektrode und
der Rückwand, wobei das verdrängte Luftvolumen durch die
Entlüftungsöffnung 21 entweicht. Hierdurch wird eine Druck
empfindlichkeit vermieden und außerdem die Membranbewegun
gen nach einem Wechsel des aufgebrachten Signals mechanisch
stabilisiert.
Die der Rückwand abgewandte Seite der Membrane ist mit
einer reflektierenden Schicht versehen, die aus Chrom oder
aus anderen geeigneten, für die Wellenlänge des Vorgangs
ausgewählten, reflektierenden Materialien besteht.
Ein Leiter 33 erstreckt sich von der Elektrode 17 durch die
jeweilige Entlüftungsöffnung für eine Verbindung mit einem
elektrischen Abtast-Haltekreis 36, der zweckmäßigerweise
über einen Lötstoßkontakt 37 zwischen dem starken Rücken
teil 13 und der Rückwand 11 verbunden ist.
Der Abtast-Haltekreis 36 ist ein gewöhnlicher Stromkreis,
wie er z. B. in dem monolithischen BIFET-Abtast- und Halte
kreis verwendet wird, der von National Semiconductor unter
der Bezeichnung LF-198 beziehbar ist, und der durch einen
XY-Treiber mit einem analogen logischen Eingang (nicht
gezeigt) antreibbar ist, der eine Ausgangsspannung von 0
bis ungefähr 18 Volt hat.
Der obere Abschnitt des starken Rückenteils 13 ist eine
Schicht 38. Die Schicht 38 ist ein integrierter Schaltkreis
aus Silizium, der einen geeigneten Schaltkreis 36 für jede
Zelle und andere Schaltkreise (nicht gezeigt) enthält, wie
es für die XY-Adressierbarkeit notwendig ist. Ein starker
Rückenteil 39 aus Silizium ist mit der Siliziumschicht 38
mittels einer Klebeschicht 40 verklebt. Die Klebeschicht 40
kann eine Glasschicht oder eine andere Schicht sein, die
geeignet ist, um zwei Siliziumoberflächen miteinander zu
verbinden.
Die Siliziumrückwand 11 ist geätzt, um Kontaktauflagen 41
zu bilden. Klebestellen 42 aus Glas oder aus anderen Klebe
mitteln verkleben die Kontaktauflagen mit der Silizium
schicht 38. Der Zweck der Kontaktauflagen ist der, daß der
Zwischenraum zwischen der Rückwand 11 und der Schicht 38
genau aufrechterhalten wird. Der elektrische Kontakt kann
außerdem durch eine mechanische Verbindung hergestellt
werden, die bei Anwendung den Lötanschluß ersetzen könnte.
Die beim Aufbau verwendeten Materialien wurden für eine
Temperaturbeständigkeit der zusammengebauten Vorrichtung
sorgfältig ausgewählt. Die Vorrichtung ist mikrobearbeitet
und mittels allgemein bekannter Siliziumform- und klebe
technologien zusammengebaut. Ein Beispiel eines Herstel
lungsverfahrens für einen erfindungsgemäßen Raumlichtmodu
lator wird nachstehend beschrieben.
Die Grundplatte wird von einem Siliziumwafer des p-Typs
(Bor, 1016/cm3) gebildet, der einen Durchmesser von 7,5 bis
15 cm und eine Dicke von 0,03 bis 0,06 cm hat. Als erstes
wird der Wafer so behandelt, daß die Nuten 22 bis 28 geätzt
werden und der Abschnitt der Entlüftungslöcher 21 von der
Oberseite der Rückwand 11 aus geätzt werden. Dann wird der
Rest der Entlüftungslöcher 21 von der Unterseite der Rück
wand 11 aus geätzt. Dann läßt man eine 4 µm dicke Silizium
oxidschicht wachsen, um das Distanzgitter 14 zu bilden,
wonach die Feldschicht 12 von ungefähr 5000 Ångström
0,5 µm) für eine elektrische Isolierung zwischen den Ele
menten erfolgt.
Danach wird eine leitende Hochtemperatur-Elektrodenschicht
aus Platin-Polysilizium (in polykristallines Silizium zur
Bildung von Platin-Silizid gesintertes Pt) gebildet, um die
Leiter 33 und jede der Elektroden 17 herzustellen. Eine
Schicht klebendes Glas 19 wird selektiv auf das Gitter 14
aufgetragen, damit das letztere für ein Verkleben der
Membrane mit dem Gitter verwendet werden kann. Das Glas ist
7059 (Corning) Borsilikatglas, damit es mit den thermischen
Eigenschaften des Siliziums übereinstimmt.
Alternativ kann ein einfaches Metall, beispielsweise Alumi
nium anstatt des Platinsilizids mit einer Klebeglasschicht
für niedrigere Temperaturen wie z. B. Corning 7556 verwendet
werden.
Die Membrane ist aus einem p-leitenden Einkristallsilizi
umwafer (Bor, 1016/cm3) hergestellt, der einen Durchmesser
von 7,5 bis 15 cm hat und auf dessen einer Seite eine
n-leitende Siliziumschicht (Arsen oder Phosphor, 1018/cm3)
epitaktisch gewachsen ist, die eine Dicke von 3 µm hat, und
zusammen mit dem ursprünglichen Wafer einen pn-Übergang
bildet, der elektrisch vorgespannt ist, um einen Ätzan
schlag an der Übergangsgrenzfläche für eine Verwendung in
einem späteren Ätzprozeß zu bilden. Ziel der Verwendung der
Technik des epitaktischen Wachsens ist es, daß fast der
ganze ursprüngliche Wafer nacheinander entfernt werden kann
(durch Ätzen) und nur noch die epitaktisch gewachsene
Schicht verbleibt, die an dem Umfangsrand von einem Ring
aus ursprünglichem Material getragen wird. Das verbleibende
bezüglich seiner Dicke sorgfältig kontrollierte Membran
element besteht dann nur noch aus der epitaktisch gewachse
nen, 3 µm dicken n-Schicht, die in einem Ring gelagert ist.
Das Muster der Biegestellen wird mit geeigneter Photolitho
graphie aufgebracht und die Biegestellen 30 2 µm tief in die
epitaktische Schicht geätzt, wobei ein Biegungsstreifen von
1 µm verbleibt, der eine geschlossene Kurve bildet, die um
den Innenrand jeder Zelle liegt.
Die Membrane wird dann genau zu der Rückwand und dem Gitter
ausgerichtet. Ein geringer Unterdruck wird durch die Ent
lüftungsöffnungen abgezogen, um einen Klebedruck zwischen
der Membran und der Rückwand auszuüben. Dann wird die
Anordnung auf eine Klebetemperatur von 825°C (für das
Klebeglas 7059) erwärmt, die ausreichend ist, um die Glas
beschichtung mit dem Gitter und der Membran zu verschmelzen
und einen vollkommen verklebten Aufbau zwischen der Mem
brane und dem Gitter zu schaffen. Die Chromschicht wird auf
die gesamte nach außen zeigende Oberfläche der Membrane
durch eine Schattenmaske aufgedampft. Falls es für speziel
le Eigenschaften, z. B. den Wellenlängen-Reflexionswir
kungsgrad notwendig ist, kann zusätzliches Metall wie z. B.
Silber oder Gold auf die Chromschicht aufgetragen werden.
Wenn verschiedene Modulatoranordnungen auf einem einzelnen
Wafer hergestellt werden, können vorher geätzte V-Nuten als
Bruchlinien zu deren Trennung verwendet werden.
In den Fig. 4a und 4b ist ein Modell der Betriebsweise
der Zelle zusammen mit den Ablenkungskurven gezeigt. Bei
Verwendung eines vereinfachten Modells beträgt dann die
inkrementale Anziehungskraft an einer kreisförmigen Mem
brane, wie es in Fig. 4a angenommen ist,
wobei d der Abstand der Elektrode von der ablenkenden
Membran, r der Radialabstand von der Symmetrieachse, w die
Membranablenkung und V die angelegte Spannung ist. Als
Annäherung kann die relative Form der Membranablenkung, wie
es in Gleichung (2) vorgegeben ist, angenommen werden. Die
Gleichung (2) für die relative Anlenkung ist für eine
Membrane geeignet, die durch einen Druckunterschied über
der Membrane abgelenkt wird, wobei sich die Beziehung von
wm den Druckunterschieden aus Gleichung (3) ergibt. Bei
dieser Berechnung wird angenommen, daß die Amplitude und
Form der Membranablenkung dieselbe ist, wenn die Gesamt
druckkraft an der Membrane gleich der gesamten elektrischen
Anziehungskraft ist, die auf die Membrane ausgeübt wird.
Es wird angenommen
w(r) = wm(a²-r²)²/a⁴ (2)
wobei
w(r=o) = wm
wm = 0.22qa⁴/Eh³ (3)
wm = 0.22qa⁴/Eh³ (3)
wobei q der Druckunterschied über der Membrane, E das
Young-Modul und h die Membrandicke ist.
Die inkrementale Kraft kann dann integriert und die gesamte
elektrische Kraft Fe an der Membran erhalten werden
wobei
Hierdurch läßt sich wm als Funktion von V berechnen, indem
Fe geteilt durch die gesamte Membranfläche für q in Glei
chung (3) eingesetzt wird. Die berechnete Ansprechkennlinie
50 ist in durchgehender Linie in Fig. 4b gezeigt, während
die gemessene Kurve 52 sehr ähnlich ist.
Die gesamte Vorrichtung ist eine Anordnung von identischen
Zellen auf einem einzelnen Wafer, von denen jede der in
Fig. 1 bis 3 gezeigten entspricht. Die Anordnung kann in
verschiedenen Größen hergestellt sein. Beispiele hierfür
sind Anordnungen mit 16×16 und 128×128. Bei einer
Vorrichtung mit relativ wenig Zellen, beispielsweise 16×16
Zellen, ist es praktisch, jede Ablenkungselektrode mit
einer einzelnen Drahtverbindungsauflage um den Umfang der
Vorrichtung zu versehen. Bei einer Vorrichtung mit vielen
Elementen, beispielsweise 128×128 Zellen, ist es nicht
praktisch, einzelne Auflagen zu haben. Der für große Anord
nung geeignete Aufbau, der in den Fig. 1 bis 3 gezeigt
ist, erfordert es, daß die Elektroden zweckmäßigerweise
durch die Entlüftungslöcher zu einem an der Rückwand befe
stigten Stromkreis hindurchgehen. In diesem Fall reduzieren
XY-adressierende Techniken die Anzahl von Leitungen, und
die Verwendung der Entlüftungslöcher sorgt für einen ein
fachen Zugang.
Bei der in den Fig. 5 bis 7 gezeigten weiteren Ausfüh
rungsform der Erfindung ist jede Zelle oder jedes Bild
element unabhängig ausgefüllt. Dies funktioniert bei klei
neren Anordnungen gut, bei denen die Anzahl der Zuführ
leitungen begrenzt ist. Um Wiederholungen zu minimieren,
haben die gleichen Teile in Fig. 5 bis 7 das gleiche Be
zugszeichen wie die in Fig. 1 bis 3, jedoch um 100 erhöht.
Die Elektrode 117 ist durch den Leiter 160 ausgefüllt,
andere Leiter 161 (von denen nur einer gezeigt ist) können
durch die Zelle hindurchgehen und durch die Öffnungen
durchgehen, die an den Schnittstellen des Gitters herge
stellt sind, damit sie ungehindert durch die Zellanordnung
hindurchgehen können. Es ist klar, daß die Anzahl der
Leiter 161 mit dem Quadrat der Anordnungsfläche ansteigt,
so daß dieser Schritt begrenzt ist.
Die Dimensionen und Eigenschaften einer typischen
128×128-Anordnung sind folgende:
- - Gesamter aktiver Bereich: 10 cm×10 cm (hergestellt aus 15 cm-Siliziumwafern),
- - Rückwand: p-leitendes Silizium (Bor), 0,5 mm dick.
- - Gitter: 4 µm SiO2×50 µm,
- - Feldoxidschicht: 5000 Å SiO2,
- - Starkes Rückenteil: Siliziumschicht mit XY-adressier baren Stromkreisen, die auf ein dickes Teil geklebt sind, ∼1 cm dick, aus Silizium oder 7740-Glas,
- - Membrandicke nach der Bearbeitung: 3 µm,
- - Biegestellendicke: 1 µm,
- - Zelleinheit: 0,8 mm×0,8 mm,
- - Bildelementreflexionsvermögen <0,98,
- - Bildelementablenkung: 0 bis 1 µm,
- - Flächenfüllfaktor <0,6,
- - Frequenzgang des Bildelements: Gleichstrom bis 20 kHz,
- - Betriebsbereich der Elektrode: 0 bis 17 V,
- - Membranempfindlichkeit δ = 0,5 µm/12 V,
- - Spannung bei δ = 0,5 µm: 17 MPa.
Claims (17)
1. Raumlichtmodulator mit
- - einer Siliziumrückwand (11), in der eine Isolier schicht (12) vorgesehen ist,
- - einem Abstandsgitter (14) aus Isoliermaterial, das auf der Rückwand (11) angebracht ist und eine Anord nung von Zellen (15) bildet, die einen Teil ihrer Fläche abdeckt und darauf eine zweite Schicht bildet,
- - einer Vielzahl von Elektroden (17), wobei jede Elek trode (17) in einer der Zellen (15) auf der Rückwand (11) angebracht ist,
- - einer Membrane (18) aus dotiertem Silizium, die auf dem Abstandsgitter (14) sich über die Anordnung von Zellen (15) und Elektroden (17) erstreckend befestigt ist, und
- - einer Einrichtung (20), die eine Spiegelfläche auf der Membrane (18) auf der der Rückwand (11) abgewand ten Seite bildet.
2. Raumlichtmodulator nach Anspruch 1, gekennzeichnet
durch Einrichtungen für ein selektives Laden und Ent
laden jeder Elektrode (17), wobei die einzelnen Ab
schnitte der Membrane (18), die jede entsprechende
Zelle (15) überlagern, durch jede geladene Elektrode
(17) durch eine elektrostatische Anziehung zwischen der
Membrane (18) und der Elektrode (17) nach einem Muster
abgelenkt werden, das dem Zustand der auf die Elek
troden (17) angebrachten elektrischen Signale ent
spricht.
3. Raumlichtmodulator nach Anspruch 1, gekennzeichnet
durch eine Einrichtung, die in jeder Zelle eine Entlüf
tungsöffnung (21) von der Elektrodenseite der Rückwand
(11) bis zu ihrer gegenüberliegenden Seite bildet,
damit Gas aus der Zelle (15) entweichen kann, wenn die
Membrane (18) abgelenkt wird.
4. Raumlichtmodulator nach Anspruch 3, gekennzeichnet
durch eine Nuteneinrichtung (22 bis 28), die sich quer
über die Fläche der Rückwand (11) und über der Zelle
(15) erstreckt, so daß sie die Entlüftungsöffnung (21)
schneidet, um das Entweichen von Gas aus der Zelle (15)
und durch die Öffnung (21) zu unterstützen.
5. Raumlichtmodulator nach Anspruch 3, bei dem die Entlüf
tungsöffnung (21) in ihrer Größe und ihrem Aufbau für
eine kritische Dämpfung der Massenbewegung der abge
lenkten Membrane (18) an der Zelle (15) ausgelegt ist.
6. Raumlichtmodulator nach Anspruch 4, bei dem die Entlüf
tungsöffnung (21) und die Nut (22 bis 28) zusammen eine
Größe zur Schaffung einer kritischen Dämpfung der
Massenbewegung der abgelenkten Membrane haben.
7. Raumlichtmodulator nach Anspruch 1, gekennzeichnet
durch eine Vielzahl von elektrischen Leitern (33), die
jeweils mit einer Elektrode (17) verbunden sind.
8. Raumlichtmodulator nach Anspruch 4, gekennzeichnet
durch eine Vielzahl von elektrischen Leitern (33), die
jeweils durch die jeweilige Entlüftungsöffnung (21) für
jedes Element mit einer der Elektroden (17) verbunden
sind.
9. Raumlichtmodulator nach Anspruch 1, bei dem die Mem
brane (18) eine dotierte dünne Beschichtung aus Silizi
um aufweist, die epitaktisch auf einem Siliziumwafer
gewachsen ist, von dem im wesentlichen der ganze ur
sprüngliche Wafer weggeätzt wurde.
10. Raumlichtmodulator nach Anspruch 1, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Elektroden (17) aus Platinsilizid
hergestellt sind.
11. Raumlichtmodulator nach Anspruch 1, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Elektroden (17) aus einer Schicht aus
einem elementaren Metall oder Schichten von elementaren
Metallen hergestellt sind.
12. Raumlichtmodulator nach Anspruch 1, dadurch gekenn
zeichnet, daß das Abstandsgitter (14) aus Siliziumdi
oxid (SiO2) hergestellt ist, das auf der Siliziumrück
wand (11) angebracht ist.
13. Raumlichtmodulator nach Anspruch 1, bei dem die Mem
brane (18) ungefähr 3 µm dick und das Abstandsgitter
(14) ungefähr 4 µm hoch sind.
14. Raumlichtmodulator nach Anspruch 1, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Rückwand (11) und die Membrane (18)
aus einem Einkristall aus Siliziummaterial hergestellt
sind.
15. Raumlichtmodulator nach Anspruch 1, gekennzeichnet
durch eine dünne Oxidschicht, die die Elektrode (17)
abdeckt, um ein Anhaften der Membrane (18) an der
Elektrode (17) zu verhindern.
16. Raumlichtmodulator nach Anspruch 1, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Membrane (18) mit Einrichtungen
versehen ist, die Biegestellen (30) mit verringertem
Querschnitt bilden, die darin entlang einer geschlosse
nen Linie ausgebildet sind, die sich um den Innenumfang
des Abstandsgitters (14) erstreckt, so daß sich die
Membrane (18) innerhalb der Biegestelleneinrichtung
(30) eher in einem Kolbenmodus bewegt.
17. Raumlichtmodulator mit
- - einer Rückwand (11), die aus einem dotierten Hoch temperatur-Einkristall hergestellt ist,
- - einer Membrane (18), die aus einem dotierten Ein kristallmaterial hergestellt ist, das den gleichen Wärmeausdehnungskoeffizient hat, wie das Material der Rückwand (11),
- - einem auf einer Seite der Rückwand (11) ausgebildeten Abstandsgitter (14),
- - wobei das Gitter (14) eine Vielzahl von erhobenen Rippen (32) aufweist, die von einer Seite zur Rück wand (11) hin hervorstehen und den Umfang einer Vielzahl von Flächenelementen (15) bilden und die Membrane (18) von der Rückwand (11) im Abstand hal ten,
- - Einrichtungen zum Verbinden der Membrane (18) mit dem Gitter (14),
- - einer Vielzahl von Elektroden (17), die jeweils auf der Rückwand (11) innerhalb jedes der Vielzahl von Flächenelementen (15) angeordnet ist,
- - wobei die Membrane (18) eine Dicke hat, die gering genug ist, damit sie durch elektrostatische Kräfte leicht gebogen werden kann, die zwischen der Elek trode (17) und der Membrane (18) aufgebracht werden,
- - Einrichtungen in der Membrane (18) für eine Bildung von Biegestellen (30) darin um die Innenseite jedes Flächenumfangs, so daß sich der Bereich der Membrane (18) innerhalb der Biegestellen vorzugsweise in einem Kolbenmodus bewegt, wenn sie gebogen wird,
- - Einrichtungen, die eine Vielzahl von Entlüftungsöff nungen (21) in der Rückwand (11) bilden, wobei wenig stens eine Entlüftungsöffnung (21) in jedem Flächen element (15) angeordnet ist und jede Entlüftungs öffnung (21) so bemessen ist, daß die durch die Elektrode (17) verursachte Bewegung der Membrane (18) kritisch gedämpft wird, und
- - einer elektrischen Verbindungseinrichtung (33) für eine Verbindung jeder Elektrode (17) durch das jewei lige Entlüftungsloch (21) zur gegenüberliegenden Seite der Rückwand (11).
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US07/735,392 US5170283A (en) | 1991-07-24 | 1991-07-24 | Silicon spatial light modulator |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE4224349A1 true DE4224349A1 (de) | 1993-03-04 |
Family
ID=24955591
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE4224349A Withdrawn DE4224349A1 (de) | 1991-07-24 | 1992-07-23 | Raumlichtmodulator aus silizium |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5170283A (de) |
JP (1) | JPH05257070A (de) |
DE (1) | DE4224349A1 (de) |
FR (1) | FR2679665B1 (de) |
GB (1) | GB2258055B (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102016101182A1 (de) * | 2016-01-15 | 2017-07-20 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | MEMS-Struktur und Verfahren zu ihrer Herstellung |
Families Citing this family (137)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5240818A (en) * | 1991-07-31 | 1993-08-31 | Texas Instruments Incorporated | Method for manufacturing a color filter for deformable mirror device |
US5223971A (en) * | 1991-12-31 | 1993-06-29 | Texas Instruments Incorporated | Light beam steering with deformable membrane device |
US6219015B1 (en) | 1992-04-28 | 2001-04-17 | The Board Of Directors Of The Leland Stanford, Junior University | Method and apparatus for using an array of grating light valves to produce multicolor optical images |
US5408253A (en) * | 1992-08-03 | 1995-04-18 | Eastman Kodak Company | Integrated galvanometer scanning device |
US7830587B2 (en) * | 1993-03-17 | 2010-11-09 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Method and device for modulating light with semiconductor substrate |
US6674562B1 (en) | 1994-05-05 | 2004-01-06 | Iridigm Display Corporation | Interferometric modulation of radiation |
US5585956A (en) * | 1993-07-31 | 1996-12-17 | Daewoo Electronics Co, Ltd. | Electrostrictive actuated mirror array |
US5444566A (en) * | 1994-03-07 | 1995-08-22 | Texas Instruments Incorporated | Optimized electronic operation of digital micromirror devices |
US8081369B2 (en) * | 1994-05-05 | 2011-12-20 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | System and method for a MEMS device |
US7826120B2 (en) * | 1994-05-05 | 2010-11-02 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Method and device for multi-color interferometric modulation |
US7776631B2 (en) * | 1994-05-05 | 2010-08-17 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | MEMS device and method of forming a MEMS device |
US7738157B2 (en) * | 1994-05-05 | 2010-06-15 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | System and method for a MEMS device |
US7852545B2 (en) * | 1994-05-05 | 2010-12-14 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Method and device for modulating light |
US7839556B2 (en) * | 1994-05-05 | 2010-11-23 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Method and device for modulating light |
US8014059B2 (en) | 1994-05-05 | 2011-09-06 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | System and method for charge control in a MEMS device |
US7808694B2 (en) | 1994-05-05 | 2010-10-05 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Method and device for modulating light |
US7800809B2 (en) * | 1994-05-05 | 2010-09-21 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | System and method for a MEMS device |
US7460291B2 (en) | 1994-05-05 | 2008-12-02 | Idc, Llc | Separable modulator |
KR100213281B1 (ko) * | 1994-10-31 | 1999-08-02 | 전주범 | 광로조절장치 |
KR960018646A (ko) * | 1994-11-14 | 1996-06-17 | 배순훈 | 광로조절장치의 제조방법 |
KR100203577B1 (ko) * | 1994-12-19 | 1999-06-15 | 배순훈 | 광로조절장치와 그 제조방법 |
US7898722B2 (en) * | 1995-05-01 | 2011-03-01 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Microelectromechanical device with restoring electrode |
US5841579A (en) | 1995-06-07 | 1998-11-24 | Silicon Light Machines | Flat diffraction grating light valve |
KR0165432B1 (ko) * | 1995-09-13 | 1999-03-20 | 김광호 | Ccd를 이용한 반사형 영상표시 장치 |
TW409192B (en) * | 1996-07-23 | 2000-10-21 | Ibm | A spatial light modulator and a method of assembling the same |
US7929197B2 (en) * | 1996-11-05 | 2011-04-19 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | System and method for a MEMS device |
US7830588B2 (en) * | 1996-12-19 | 2010-11-09 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Method of making a light modulating display device and associated transistor circuitry and structures thereof |
US5844711A (en) * | 1997-01-10 | 1998-12-01 | Northrop Grumman Corporation | Tunable spatial light modulator |
US5982553A (en) | 1997-03-20 | 1999-11-09 | Silicon Light Machines | Display device incorporating one-dimensional grating light-valve array |
US6088102A (en) | 1997-10-31 | 2000-07-11 | Silicon Light Machines | Display apparatus including grating light-valve array and interferometric optical system |
WO1999052006A2 (en) | 1998-04-08 | 1999-10-14 | Etalon, Inc. | Interferometric modulation of radiation |
US8928967B2 (en) | 1998-04-08 | 2015-01-06 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Method and device for modulating light |
US6271808B1 (en) | 1998-06-05 | 2001-08-07 | Silicon Light Machines | Stereo head mounted display using a single display device |
DK79198A (da) * | 1998-06-11 | 1999-12-12 | Microtronic As | Fremgangsmåde til fremstilling af en transducer med en membran med en forudbestemt opspændingskraft |
US6130770A (en) | 1998-06-23 | 2000-10-10 | Silicon Light Machines | Electron gun activated grating light valve |
US6101036A (en) | 1998-06-23 | 2000-08-08 | Silicon Light Machines | Embossed diffraction grating alone and in combination with changeable image display |
US6215579B1 (en) | 1998-06-24 | 2001-04-10 | Silicon Light Machines | Method and apparatus for modulating an incident light beam for forming a two-dimensional image |
US6303986B1 (en) | 1998-07-29 | 2001-10-16 | Silicon Light Machines | Method of and apparatus for sealing an hermetic lid to a semiconductor die |
US6115326A (en) * | 1998-10-22 | 2000-09-05 | Integrated Medical Systems, Inc. | Ultrasonic micro-machined selectable transducer array |
WO2003007049A1 (en) * | 1999-10-05 | 2003-01-23 | Iridigm Display Corporation | Photonic mems and structures |
US6307663B1 (en) | 2000-01-26 | 2001-10-23 | Eastman Kodak Company | Spatial light modulator with conformal grating device |
US6608711B2 (en) * | 2000-03-03 | 2003-08-19 | Axsun Technologies, Inc. | Silicon on insulator optical membrane structure for fabry-perot MOEMS filter |
US6411425B1 (en) | 2000-09-27 | 2002-06-25 | Eastman Kodak Company | Electromechanical grating display system with spatially separated light beams |
US6476848B2 (en) | 2000-12-21 | 2002-11-05 | Eastman Kodak Company | Electromechanical grating display system with segmented waveplate |
US6788981B2 (en) | 2001-02-07 | 2004-09-07 | Movaz Networks, Inc. | Multiplexed analog control system for electrostatic actuator array |
DE10117170A1 (de) * | 2001-04-06 | 2002-10-10 | Zeiss Carl Jena Gmbh | Anordnung zum Druckausgleich für optische Geräte |
US6707591B2 (en) | 2001-04-10 | 2004-03-16 | Silicon Light Machines | Angled illumination for a single order light modulator based projection system |
US6747781B2 (en) | 2001-06-25 | 2004-06-08 | Silicon Light Machines, Inc. | Method, apparatus, and diffuser for reducing laser speckle |
US6782205B2 (en) | 2001-06-25 | 2004-08-24 | Silicon Light Machines | Method and apparatus for dynamic equalization in wavelength division multiplexing |
US6829092B2 (en) | 2001-08-15 | 2004-12-07 | Silicon Light Machines, Inc. | Blazed grating light valve |
US6800238B1 (en) | 2002-01-15 | 2004-10-05 | Silicon Light Machines, Inc. | Method for domain patterning in low coercive field ferroelectrics |
US6513939B1 (en) * | 2002-03-18 | 2003-02-04 | Nortel Networks Limited | Micro-mirrors with variable focal length, and optical components comprising micro-mirrors |
US6767751B2 (en) | 2002-05-28 | 2004-07-27 | Silicon Light Machines, Inc. | Integrated driver process flow |
US6728023B1 (en) | 2002-05-28 | 2004-04-27 | Silicon Light Machines | Optical device arrays with optimized image resolution |
US6822797B1 (en) | 2002-05-31 | 2004-11-23 | Silicon Light Machines, Inc. | Light modulator structure for producing high-contrast operation using zero-order light |
US6829258B1 (en) | 2002-06-26 | 2004-12-07 | Silicon Light Machines, Inc. | Rapidly tunable external cavity laser |
US6714337B1 (en) | 2002-06-28 | 2004-03-30 | Silicon Light Machines | Method and device for modulating a light beam and having an improved gamma response |
US6813059B2 (en) | 2002-06-28 | 2004-11-02 | Silicon Light Machines, Inc. | Reduced formation of asperities in contact micro-structures |
US6801354B1 (en) | 2002-08-20 | 2004-10-05 | Silicon Light Machines, Inc. | 2-D diffraction grating for substantially eliminating polarization dependent losses |
US6712480B1 (en) | 2002-09-27 | 2004-03-30 | Silicon Light Machines | Controlled curvature of stressed micro-structures |
KR100459408B1 (ko) * | 2002-10-24 | 2004-12-03 | 엘지전자 주식회사 | 레이저 디스플레이용 공간 광 모듈레이터 소자 및 그제조방법 |
KR100459409B1 (ko) * | 2002-10-24 | 2004-12-03 | 엘지전자 주식회사 | 공간 광 모듈레이터 및 그 제조방법 |
KR100459410B1 (ko) * | 2002-10-31 | 2004-12-03 | 엘지전자 주식회사 | 광모듈레이터 소자 및 생산방법 |
US6930487B2 (en) * | 2002-12-12 | 2005-08-16 | Howard L. North, Jr. | Method for electronic damping of electrostatic positioners |
US6806997B1 (en) | 2003-02-28 | 2004-10-19 | Silicon Light Machines, Inc. | Patterned diffractive light modulator ribbon for PDL reduction |
US6829077B1 (en) | 2003-02-28 | 2004-12-07 | Silicon Light Machines, Inc. | Diffractive light modulator with dynamically rotatable diffraction plane |
US7476327B2 (en) * | 2004-05-04 | 2009-01-13 | Idc, Llc | Method of manufacture for microelectromechanical devices |
JP4602722B2 (ja) * | 2004-09-10 | 2010-12-22 | オリンパス株式会社 | 可変形状鏡 |
US7623142B2 (en) * | 2004-09-14 | 2009-11-24 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Flexure |
US7944599B2 (en) | 2004-09-27 | 2011-05-17 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Electromechanical device with optical function separated from mechanical and electrical function |
US7936497B2 (en) | 2004-09-27 | 2011-05-03 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | MEMS device having deformable membrane characterized by mechanical persistence |
US7304784B2 (en) | 2004-09-27 | 2007-12-04 | Idc, Llc | Reflective display device having viewable display on both sides |
US7130104B2 (en) * | 2004-09-27 | 2006-10-31 | Idc, Llc | Methods and devices for inhibiting tilting of a mirror in an interferometric modulator |
US7583429B2 (en) | 2004-09-27 | 2009-09-01 | Idc, Llc | Ornamental display device |
US7420725B2 (en) | 2004-09-27 | 2008-09-02 | Idc, Llc | Device having a conductive light absorbing mask and method for fabricating same |
US7564612B2 (en) | 2004-09-27 | 2009-07-21 | Idc, Llc | Photonic MEMS and structures |
US7527995B2 (en) | 2004-09-27 | 2009-05-05 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Method of making prestructure for MEMS systems |
US7302157B2 (en) | 2004-09-27 | 2007-11-27 | Idc, Llc | System and method for multi-level brightness in interferometric modulation |
US7289259B2 (en) | 2004-09-27 | 2007-10-30 | Idc, Llc | Conductive bus structure for interferometric modulator array |
US7630119B2 (en) | 2004-09-27 | 2009-12-08 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Apparatus and method for reducing slippage between structures in an interferometric modulator |
US8008736B2 (en) | 2004-09-27 | 2011-08-30 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Analog interferometric modulator device |
US7372613B2 (en) * | 2004-09-27 | 2008-05-13 | Idc, Llc | Method and device for multistate interferometric light modulation |
US7192144B2 (en) * | 2004-11-30 | 2007-03-20 | Northrop Grumman Corporation | Bi-directionally actuated thin membrane mirror |
US7172921B2 (en) * | 2005-01-03 | 2007-02-06 | Miradia Inc. | Method and structure for forming an integrated spatial light modulator |
US8207004B2 (en) * | 2005-01-03 | 2012-06-26 | Miradia Inc. | Method and structure for forming a gyroscope and accelerometer |
US7884989B2 (en) | 2005-05-27 | 2011-02-08 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | White interferometric modulators and methods for forming the same |
CN100362387C (zh) * | 2005-11-18 | 2008-01-16 | 重庆大学 | 静电简支梁式干涉光调制器 |
US7916980B2 (en) | 2006-01-13 | 2011-03-29 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Interconnect structure for MEMS device |
US7649671B2 (en) | 2006-06-01 | 2010-01-19 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Analog interferometric modulator device with electrostatic actuation and release |
US7835061B2 (en) | 2006-06-28 | 2010-11-16 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Support structures for free-standing electromechanical devices |
US7527998B2 (en) | 2006-06-30 | 2009-05-05 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Method of manufacturing MEMS devices providing air gap control |
US7629197B2 (en) | 2006-10-18 | 2009-12-08 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Spatial light modulator |
US7684106B2 (en) * | 2006-11-02 | 2010-03-23 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Compatible MEMS switch architecture |
JP2008152016A (ja) * | 2006-12-18 | 2008-07-03 | Toshiba Corp | 可変形状ミラー装置および眼底観察装置 |
US8115987B2 (en) | 2007-02-01 | 2012-02-14 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Modulating the intensity of light from an interferometric reflector |
WO2008103632A2 (en) | 2007-02-20 | 2008-08-28 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Equipment and methods for etching of mems |
US7742220B2 (en) | 2007-03-28 | 2010-06-22 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Microelectromechanical device and method utilizing conducting layers separated by stops |
US7715085B2 (en) | 2007-05-09 | 2010-05-11 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Electromechanical system having a dielectric movable membrane and a mirror |
US7643202B2 (en) | 2007-05-09 | 2010-01-05 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Microelectromechanical system having a dielectric movable membrane and a mirror |
US7782517B2 (en) | 2007-06-21 | 2010-08-24 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Infrared and dual mode displays |
US7630121B2 (en) | 2007-07-02 | 2009-12-08 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Electromechanical device with optical function separated from mechanical and electrical function |
KR20100066452A (ko) | 2007-07-31 | 2010-06-17 | 퀄컴 엠이엠스 테크놀로지스, 인크. | 간섭계 변조기의 색 변이를 증강시키는 장치 |
JP2009042458A (ja) * | 2007-08-08 | 2009-02-26 | Toshiba Corp | 形状可変鏡装置およびこの形状可変鏡装置を用いた眼底観察装置 |
CN101802985A (zh) * | 2007-09-14 | 2010-08-11 | 高通Mems科技公司 | 用于微机电系统生产的蚀刻工艺 |
US7847999B2 (en) | 2007-09-14 | 2010-12-07 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Interferometric modulator display devices |
US7773286B2 (en) | 2007-09-14 | 2010-08-10 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Periodic dimple array |
WO2009052326A2 (en) | 2007-10-19 | 2009-04-23 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Display with integrated photovoltaics |
US8058549B2 (en) | 2007-10-19 | 2011-11-15 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Photovoltaic devices with integrated color interferometric film stacks |
CN101836137A (zh) | 2007-10-23 | 2010-09-15 | 高通Mems科技公司 | 基于微机电系统的可调整透射装置 |
US8941631B2 (en) | 2007-11-16 | 2015-01-27 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Simultaneous light collection and illumination on an active display |
US7715079B2 (en) | 2007-12-07 | 2010-05-11 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | MEMS devices requiring no mechanical support |
DE102008004639A1 (de) * | 2008-01-16 | 2009-07-23 | Robert Bosch Gmbh | Mikromechanisches Bauteil und Herstellungsverfahren für ein mikromechanisches Bauteil |
US8164821B2 (en) | 2008-02-22 | 2012-04-24 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Microelectromechanical device with thermal expansion balancing layer or stiffening layer |
US7944604B2 (en) | 2008-03-07 | 2011-05-17 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Interferometric modulator in transmission mode |
US7612933B2 (en) | 2008-03-27 | 2009-11-03 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Microelectromechanical device with spacing layer |
US7898723B2 (en) | 2008-04-02 | 2011-03-01 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Microelectromechanical systems display element with photovoltaic structure |
US7969638B2 (en) | 2008-04-10 | 2011-06-28 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Device having thin black mask and method of fabricating the same |
US20110138902A1 (en) * | 2008-05-27 | 2011-06-16 | Tufts University | Mems microphone array on a chip |
US7768690B2 (en) * | 2008-06-25 | 2010-08-03 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Backlight displays |
US7746539B2 (en) | 2008-06-25 | 2010-06-29 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Method for packing a display device and the device obtained thereof |
US8023167B2 (en) | 2008-06-25 | 2011-09-20 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Backlight displays |
US7859740B2 (en) | 2008-07-11 | 2010-12-28 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Stiction mitigation with integrated mech micro-cantilevers through vertical stress gradient control |
US7855826B2 (en) * | 2008-08-12 | 2010-12-21 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Method and apparatus to reduce or eliminate stiction and image retention in interferometric modulator devices |
US8358266B2 (en) | 2008-09-02 | 2013-01-22 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Light turning device with prismatic light turning features |
US8270056B2 (en) | 2009-03-23 | 2012-09-18 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Display device with openings between sub-pixels and method of making same |
KR20120030460A (ko) | 2009-05-29 | 2012-03-28 | 퀄컴 엠이엠스 테크놀로지스, 인크. | 조명장치 및 그의 제조방법 |
US8270062B2 (en) | 2009-09-17 | 2012-09-18 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Display device with at least one movable stop element |
US8488228B2 (en) | 2009-09-28 | 2013-07-16 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Interferometric display with interferometric reflector |
WO2011079826A1 (en) * | 2010-01-04 | 2011-07-07 | Shanghai Lexvu Opto Microelectronics Technology Co., Ltd | A tri wavelength diffraction modulator and a method for modulation |
JP2013524287A (ja) | 2010-04-09 | 2013-06-17 | クォルコム・メムズ・テクノロジーズ・インコーポレーテッド | 電気機械デバイスの機械層及びその形成方法 |
KR20130091763A (ko) | 2010-08-17 | 2013-08-19 | 퀄컴 엠이엠에스 테크놀로지스, 인크. | 간섭 디스플레이 장치에서의 전하 중성 전극의 작동 및 교정 |
US9057872B2 (en) | 2010-08-31 | 2015-06-16 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Dielectric enhanced mirror for IMOD display |
US9134527B2 (en) | 2011-04-04 | 2015-09-15 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Pixel via and methods of forming the same |
US8963159B2 (en) | 2011-04-04 | 2015-02-24 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Pixel via and methods of forming the same |
US8659816B2 (en) | 2011-04-25 | 2014-02-25 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Mechanical layer and methods of making the same |
US8736939B2 (en) | 2011-11-04 | 2014-05-27 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Matching layer thin-films for an electromechanical systems reflective display device |
US11650422B2 (en) | 2017-10-23 | 2023-05-16 | Vuzix Corporation | Active correction of aberrations in optical systems |
Family Cites Families (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3001447A (en) * | 1957-08-29 | 1961-09-26 | Zeiss Ikon A G Stuttgart | Image reproducing device for visible and invisible radiation images |
US3463572A (en) * | 1966-10-21 | 1969-08-26 | Perkin Elmer Corp | Optical phase modulation apparatus |
US3796480A (en) * | 1968-12-26 | 1974-03-12 | Perkin Elmer Corp | Membrane light modulator |
US3746785A (en) * | 1971-11-26 | 1973-07-17 | Bendix Corp | Deflectable membrane optical modulator |
US4087810A (en) * | 1976-06-30 | 1978-05-02 | International Business Machines Corporation | Membrane deformographic display, and method of making |
US4248504A (en) * | 1978-12-08 | 1981-02-03 | Itek Corporation | Piezoelectric wavefront modulator |
US4229732A (en) * | 1978-12-11 | 1980-10-21 | International Business Machines Corporation | Micromechanical display logic and array |
US4441791A (en) * | 1980-09-02 | 1984-04-10 | Texas Instruments Incorporated | Deformable mirror light modulator |
US4571603A (en) * | 1981-11-03 | 1986-02-18 | Texas Instruments Incorporated | Deformable mirror electrostatic printer |
US4710732A (en) * | 1984-07-31 | 1987-12-01 | Texas Instruments Incorporated | Spatial light modulator and method |
US4566935A (en) * | 1984-07-31 | 1986-01-28 | Texas Instruments Incorporated | Spatial light modulator and method |
US4662746A (en) * | 1985-10-30 | 1987-05-05 | Texas Instruments Incorporated | Spatial light modulator and method |
US5061049A (en) * | 1984-08-31 | 1991-10-29 | Texas Instruments Incorporated | Spatial light modulator and method |
US4615595A (en) * | 1984-10-10 | 1986-10-07 | Texas Instruments Incorporated | Frame addressed spatial light modulator |
ATE61487T1 (de) * | 1985-10-16 | 1991-03-15 | British Telecomm | Ablenkungsvorrichtung fuer strahlung. |
US4956619A (en) * | 1988-02-19 | 1990-09-11 | Texas Instruments Incorporated | Spatial light modulator |
DE68909075T2 (de) * | 1988-03-16 | 1994-04-07 | Texas Instruments Inc | Spatialer Lichtmodulator mit Anwendungsverfahren. |
US4954789A (en) * | 1989-09-28 | 1990-09-04 | Texas Instruments Incorporated | Spatial light modulator |
-
1991
- 1991-07-24 US US07/735,392 patent/US5170283A/en not_active Expired - Lifetime
-
1992
- 1992-07-21 GB GB9215419A patent/GB2258055B/en not_active Expired - Fee Related
- 1992-07-23 DE DE4224349A patent/DE4224349A1/de not_active Withdrawn
- 1992-07-23 FR FR9209101A patent/FR2679665B1/fr not_active Expired - Fee Related
- 1992-07-24 JP JP4198602A patent/JPH05257070A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102016101182A1 (de) * | 2016-01-15 | 2017-07-20 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | MEMS-Struktur und Verfahren zu ihrer Herstellung |
DE102016101182B4 (de) | 2016-01-15 | 2020-07-02 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | MEMS-Struktur und Verfahren zu ihrer Herstellung |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
GB2258055A (en) | 1993-01-27 |
FR2679665A1 (fr) | 1993-01-29 |
GB2258055B (en) | 1995-07-26 |
FR2679665B1 (fr) | 1994-04-01 |
GB9215419D0 (en) | 1992-09-02 |
US5170283A (en) | 1992-12-08 |
JPH05257070A (ja) | 1993-10-08 |
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