DE4328777A1 - Optische Filtervorrichtung - Google Patents

Optische Filtervorrichtung

Info

Publication number
DE4328777A1
DE4328777A1 DE4328777A DE4328777A DE4328777A1 DE 4328777 A1 DE4328777 A1 DE 4328777A1 DE 4328777 A DE4328777 A DE 4328777A DE 4328777 A DE4328777 A DE 4328777A DE 4328777 A1 DE4328777 A1 DE 4328777A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
grating
section
waveguide
sections
wavelength
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
DE4328777A
Other languages
English (en)
Other versions
DE4328777B4 (de
Inventor
Olof Goeran Sahlen
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Telefonaktiebolaget LM Ericsson AB
Original Assignee
Telefonaktiebolaget LM Ericsson AB
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Telefonaktiebolaget LM Ericsson AB filed Critical Telefonaktiebolaget LM Ericsson AB
Publication of DE4328777A1 publication Critical patent/DE4328777A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE4328777B4 publication Critical patent/DE4328777B4/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/015Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on semiconductor elements with at least one potential jump barrier, e.g. PN, PIN junction
    • G02F1/025Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on semiconductor elements with at least one potential jump barrier, e.g. PN, PIN junction in an optical waveguide structure
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B82NANOTECHNOLOGY
    • B82YSPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
    • B82Y20/00Nanooptics, e.g. quantum optics or photonic crystals
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B6/00Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
    • G02B6/10Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings of the optical waveguide type
    • G02B6/12Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings of the optical waveguide type of the integrated circuit kind
    • G02B6/122Basic optical elements, e.g. light-guiding paths
    • G02B6/124Geodesic lenses or integrated gratings
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/011Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  in optical waveguides, not otherwise provided for in this subclass
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/29Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the position or the direction of light beams, i.e. deflection
    • G02F1/31Digital deflection, i.e. optical switching
    • G02F1/313Digital deflection, i.e. optical switching in an optical waveguide structure
    • G02F1/3132Digital deflection, i.e. optical switching in an optical waveguide structure of directional coupler type
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/10Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region
    • H01S5/1028Coupling to elements in the cavity, e.g. coupling to waveguides adjacent the active region, e.g. forward coupled [DFC] structures
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/50Amplifier structures not provided for in groups H01S5/02 - H01S5/30
    • H01S5/5045Amplifier structures not provided for in groups H01S5/02 - H01S5/30 the arrangement having a frequency filtering function
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F2201/00Constructional arrangements not provided for in groups G02F1/00 - G02F7/00
    • G02F2201/30Constructional arrangements not provided for in groups G02F1/00 - G02F7/00 grating
    • G02F2201/307Reflective grating, i.e. Bragg grating
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F2203/00Function characteristic
    • G02F2203/05Function characteristic wavelength dependent
    • G02F2203/055Function characteristic wavelength dependent wavelength filtering
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/02Structural details or components not essential to laser action
    • H01S5/026Monolithically integrated components, e.g. waveguides, monitoring photo-detectors, drivers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/06Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium
    • H01S5/062Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium by varying the potential of the electrodes
    • H01S5/0625Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium by varying the potential of the electrodes in multi-section lasers
    • H01S5/06255Controlling the frequency of the radiation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/10Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region
    • H01S5/1028Coupling to elements in the cavity, e.g. coupling to waveguides adjacent the active region, e.g. forward coupled [DFC] structures
    • H01S5/1032Coupling to elements comprising an optical axis that is not aligned with the optical axis of the active region
    • H01S5/1035Forward coupled structures [DFC]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/10Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region
    • H01S5/12Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region the resonator having a periodic structure, e.g. in distributed feedback [DFB] lasers
    • H01S5/1206Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region the resonator having a periodic structure, e.g. in distributed feedback [DFB] lasers having a non constant or multiplicity of periods
    • H01S5/1215Multiplicity of periods

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Nanotechnology (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Biophysics (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Optical Integrated Circuits (AREA)
  • Semiconductor Lasers (AREA)

Description

Die vorliegende Erfindung betrifft eine abstimmbare optische Filtervorrichtung, die aus einem eine Wellenlänge auswählenden optischen Filter besteht, das eine Gitterstruktur besitzt, die in einer Wellenleiterstruktur angeordnet ist.
Wichtige Anwendungen für optische Filter zum Abstimmen von Wellenlängen gibt es beispielsweise bei der optischen Übertra­ gungstechnologie und beim optischen Schalten bei der Telekom­ munikation. Weitere Anwendungsgebiete sind optische Verbin­ dungen, z. B. zwischen Leiterplatten, Teilsysteme etc. in ei­ nem Computer oder einer Telefonstation. Insbesondere kann ein Wellenlängenmultiplexen bemerkenswerte Wichtigkeit bei Tele- Netzen haben, und zwar teilweise aufgrund der Schwierigkeiten, die sich aufgrund einer Dispersion in optischen Fasern beim Aufbau von Übertragungssystemen auftreten, die für weite Entfernungen (beispielsweise mehr als 50 km) und mit Bit- Frequenzen (pro einzelnem Wellenlängenkanal), die höher als 20-40 Gb/S sind, benutzt werden sollen. Darüber hinaus wird die Flexibilität mit einem Wellenlängenmultiplexen bei dem Aufbau optischer Vermittlungsstellen größer, da verschiedene Kanäle durch die Verwendung der Wellenlänge getrennt werden können. Mit der Hilfe von Filtern, wie sie oben angegeben sind, ist es beispielsweise möglich, einen aus vielen Wellenlängenkanälen herauszufiltern, und die Möglichkeiten sowohl zur Übertragung als auch zum Schalten einer großen Informationsbandbreite wachsen, und die Filter finden auch Anwendung sowohl auf der Empfangsseite als auch bei den Vermittlungsstellen (Schaltern), wo unterschiedliche Kanäle voneinander getrennt werden können.
Es ist somit erstrebenswert, daß das System, in dem die Filter benutzt werden, mit sovielen Kanälen wie möglich umgehen kön­ nen sollte, d. h. eine Informationsbandbreite besitzen, die so groß wie möglich ist.
Bei einer Vielzahl unterschiedlicher Situationen ist es auch vorteilhaft, abstimmbare optische Filter in demselben Mate­ rialsystem herstellen zu können wie Laser, Detektoren, Opto- Schaltmatrizen und Modulatoren, und zwar insbesondere In- GaAsP/InP für lange Wellenlängen, nämlich 1300-1600 nm, und GaAs/AlGaAs für Wellenlängen zwischen 800 und 900 nm.
Es ist ein Problem, daß der Abstimmbereich für solche Filter aus physikalischen Gründen beschränkt ist. Der genaue Wert ist daher abhängig von der Wahl der Materialzusammensetzung (Bandlücke) in dem Wellenleitermaterial, des optischen Füll­ faktors (der Wellenleitermaterialdicke und der Brechzahl), des Dotierungspegels in dem Wellenleitermaterial und dem Mantelma­ terial und der thermischen Dissipationskapazität des Bauele­ ments (thermischer Widerstand). Je größer der Abstimmbereich ist, um so mehr Kanäle können benutzt werden. Bei einem Wellenlängen-Multiplexsystem ist die gesamte Informationsband­ breite (Anzahl von Wellenlängenkanälen mal Bitgeschwindig­ keit/Kanal) proportional zu dem Abstimmbereich des Filters. Normalerweise erreicht der Abstimmbereich eines optischen Fil­ ters bis zu etwa 5 bis 15 nm. Es ist daher von Bedeutung, ei­ nen Abstimmbereich erhalten zu können, insbesondere für eine vorgegebene Kombination von Wellenleiter- und Material­ parametern, der so groß wie möglich ist.
Zum Erhöhen des nutzbaren Wellenlängenbereichs von abstimmba­ ren Filtern, insbesondere von Gitterfiltern auf Wellenleiter­ basis, ist eine Anzahl von Lösungen vorgeschlagen worden.
Eine Anzahl verschiedener Filtertypen ist gezeigt worden, die aus verschiedenen Materialsystemen hergestellt sind, wie bei­ spielsweise Glas, Halbleitern, Polymeren und Lithiumniobat.
Eine Filterart besteht aus einem Monomode-Wellenleiter mit einem Gitter, das in den Wellenleiter geätzt ist, und zwar entweder in der Wellenleiterschicht selbst oder in einer sepa­ raten Gitterschicht, die von der Wellenleiterschicht um einen Abstand von etwa einigen 100 nm getrennt sein kann. Diese Fil­ ter können entweder per se als wellenlängen-selektive Bauele­ mente benutzt werden oder können dann einen Teil der Bauele­ mente von sogenannten wellenlängen-selektiven DBR-(distributed Bragg-Reflektor)-Lasern bilden. Ein Gitterfilter dieser Art arbeitet derart, daß Licht nur in einem schmalen Wellenlängen­ bereich reflektiert wird, der um λ0 zentriert ist, und zurück in den Wellenleiter läuft, wohingegen der Rest in der Vor­ wärtsrichtung durchläuft. Durch Einsetzen des Materials mit hohem Index (InGaAsP oder GaAs) in einem P-I-N-Übergang mit p- und n-dotierten Schichten mit niedrigem Index darüber und dar­ unter (Doppelheterostruktur) kann ein Strom injiziert werden. Durch Verwenden dieses Stroms wird eine Veränderung Δn der Brechzahl n des Wellenleitermaterials verursacht. Diese Ände­ rung der Brechzahl impliziert, daß die Wellenlänge, die reflektiert wird, sich zu einer kürzeren Wellenlänge, Δλ0 = (λ0/neff) · Δneff, verschiebt. Die Resonanz-Wellenlänge λ0 ist gemäß λ0= 2 · neff · Λ durch eine Gitterperiode gegeben, wobei A die Git­ terperiode ist. Die Änderung des effektiven Index Δneff ist dann näherungsweise gemäß Δneff≈Δn·Γ auf die Änderung des Index Δn des Wellenleitermaterials bezogen, wobei Γ der Füllfaktor ist, der angibt, wieviel der Leistung des optischen Modes in der Wellenleiterschicht liegt. Die Selektivität und das Refle­ xionsvermögen des Filters ist im wesentlichen durch die Länge L des Gitters und den Gitter-Kopplungskoeffizienten bzw. die Gitter-Kopplungskonstante gegeben. Wenn das Produkt ·L 2 (ungefähr) überschreitet, wird ein hohes Reflexionsvermögen erhalten, und die Linienbreite des Filters ist eindeutig durch den Wert von definiert. Zum Erhalten einer guten Leitungsfä­ higkeit des Filters, wenn es als diskretes Bauelement benutzt wird, d. h. wenn es nicht mit anderen Bauelementen auf demsel­ ben Substrat monolithisch integriert ist, müssen die elektri­ schen Schichten auf beiden Endoberflächen abgeschieden werden, um das Reflexionsvermögen zu minimieren. Beispiele von Filtern sind weiterhin in der EP-A-0 391 334 beschrieben.
Eines der Probleme bei diesen Filtern besteht darin, daß der Abstimmbereich Δλ0max im wesentlichen auf zwischen 5 und 15 nm beschränkt ist, wobei der exakte Wert von einer Anzahl von Faktoren abhängt, wie beispielsweise der Materialzusammen­ setzung, dem optischen Füllfaktor, dem Dotierungspegel, etc. Die eigene physikalische Beschränkung hängt von der maximalen Ladungsträgerdichte ab, die in die aktive Schicht injiziert werden kann. Normalerweise ist es erstrebenswert, einen Ab­ stimmbereich zu haben, der so groß wie möglich ist, und zwar insbesondere größer als 5 bis 15 nm, da dann unter anderem mehr Kanäle in dem System benutzt werden können. In Telekommu­ nikationssystemen wird oft ein Abstimmbereich von etwa 20 bis 30 nm angestrebt, der insbesondere dem Wellenlängenfenster entspricht, in dem optische Verstärker, insbesondere sogenannte Erbium-dotierte Faserverstärker oder Halbleiter- Laserverstärker leicht verwendet werden können.
In der EP-A-0 391 334 ist ein abstimmbares Halbleiter- Laserelement beschrieben, wobei der sogenannte Stark-Effekt benutzt wird. Bei dieser Anwendung wird ein Abnehmen der Ver­ luste erreicht, während kein bemerkenswertes Anwachsen des Abstimmbereichs erhalten wird.
Die EP-A-0 397 045 beschreibt einen Halbleiterlaser, der Licht in einem größeren Wellenlängenbereich emittieren kann. Ein Liniengitter wird benutzt, das wenigstens aus zwei unter­ schiedlichen Untergittern besteht. Diese Untergitter sind je­ doch durch doppeltes Belichten auf demselben Wellenleiterab­ schnitt übereinander gelagert. Die Erfindung, die in dem Doku­ ment offenbart ist, betrifft einen Laser und nicht ein separa­ tes optisches Filter. Weiterhin bietet diese Vorrichtung kein zufriedenstellendes Erhöhen des Abstimmbereichs.
Eine Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es, eine abstimm­ bare optische Filtervorrichtung gemäß dem Oberbegriff des An­ spruchs 1 mit einem Abstimmbereich zu schaffen, der so groß wie möglich ist. Insbesondere soll der Abstimmbereich für eine vorgegebene Kombination von Wellenleiter- und Materialpara­ metern bemerkenswert größer als für herkömmliche auf Gittern basierenden Filtern sein. Es ist weiterhin eine Aufgabe der Erfindung, eine Vorrichtung zu schaffen, die leicht herzustel­ len ist und die nicht teuer ist, oder aufgrund einer hohen Komplexität oder ähnlichem schwierig herzustellen ist. Eine weitere Aufgabe der Erfindung ist es, eine sogenannte Gesamt- Abstimmbarkeit zu erhalten, was bedeutet, daß alle Wellenlän­ gen innerhalb des betrachteten Wellenlängenbereichs ausgewählt werden können. Eine weitere Aufgabe der Erfindung ist es, eine Vorrichtung mit einer geringen und gut steuerbaren Filterband­ breite, einer geringen Durchgangsdämpfung und einem geringen Übersprechen zwischen verschiedenen Kanälen zu schaffen.
Weiterhin sollte es möglich sein, die Vorrichtung aus demsel­ ben Material wie beispielsweise Laser, Detektoren, optische Schaltmatrizen oder Modulatoren herstellen zu können. Es ist weiterhin eine Aufgabe der Erfindung, ein Filter zu schaffen, das selbst ein Bauelement bildet. Gemäß einem bevorzugten Aus­ führungsbeispiel kann die Vorrichtung gemäß der Erfindung mit einem oder mehreren anderen Bauelement(en) integriert sein.
Eine Vorrichtung, durch die diese wie auch andere Aufgaben erreicht werden, ist durch die Merkmale des kennzeichnenden Teils des Anspruchs 1 gegeben. Weiter Ausführungsbeispiele sind durch die Merkmale der Unteransprüche gegeben.
Die Erfindung wird im folgenden weiterhin unter Bezugnahme auf die beigefügten Zeichnungsseiten auf eine darstellende und keineswegs beschränkende Weise beschrieben, wobei
Fig. 1 eine schematische Querschnittsansicht eines Filters zeigt, das aus zwei Gitterabschnitten besteht,
Fig. 2 eine Querschnittsansicht eines zweiten Ausführungs­ beispiels eines Filters gemäß der Erfindung zeigt,
Fig. 3a informationsführende Kanäle in einem Wellenlängenbe­ reich schematisch darstellt,
Fig. 3b schematisch darstellt, wie die Wellenlängen der Fig. 3a durch jeden der zwei Abschnitte abgedeckt sind,
Fig. 4 eine Vorrichtung gemäß der Erfindung schematisch darstellt, die aus einem Verstärkungsabschnitt besteht,
Fig. 5 eine Vorrichtung gemäß der Erfindung darstellt, die als Richtkoppler mit Gitter ausgebildet ist.
Bei dem in Fig. 1 gezeigten Ausführungsbeispiel ist eine akti­ ve Schicht 5, insbesondere aus Indium-Gallium-Arsenid-Phosphid (InGaAsP), das intrinsisch und nicht dotiert ist, und somit Änderungen der Brechzahl verursacht, auf einem Substrat 3 aus beispielsweise Indiumphosphid (InP) angeordnet, das bei dem gezeigten Ausführungsbeispiel n-dotiert, n⁺, ist und eine Dicke von etwa 500 µm hat. Diese aktive Schicht 5 ist insbesondere auf dem Substrat 1 aufgewachsen, wie möglicherweise auch eine Pufferschicht aus demselben Materials wie das Substrat 3, das auf dem Substrat 1 zum Ermöglichen des Aufwachsens angeordnet ist. Das Aufwachsen wird durch Epitaxie erreicht und die Größe der möglicherweise vorhandenen Pufferschicht 4 kann etwa 1 µm erreichen. Auf der aktiven Schicht 5 ist eine Schicht 6 an­ geordnet, die vorzugsweise aus InGaAsP besteht, das jedoch eine Zusammensetzung hat, die etwas unterschiedlich von jener der aktiven Schicht 5 ist; beispielsweise kann sie eine größe­ re Bandlücke und eine andere Brechzahl besitzen. Auf dieser Wellenleiterschicht 6 sind ein erstes Gitter 1a und ein zwei­ tes Gitter 2a mit unterschiedlichen Gitterperioden Λ1 bzw. Λ2 geätzt, die einen ersten 1 und einen zweiten Gitterabschnitt 2 bilden. Auf dem ersten bzw. dem zweiten Gitter ist eine Schicht 7 angeordnet, die beispielsweise aus reinem Indium­ phosphid InP besteht. Das erste Gitter 1a bzw. das zweite Git­ ter 2a bilden eine Grenzfläche zwischen der Wellenleiter­ schicht 6 und der Schicht 7. Strominjektionselektroden 11 bzw. 12 sind auf der Schicht 7 bzw. dem Substrat 3 angeordnet. In der Figur stellt I1 den Strom dar, der zu dem ersten Gitterab­ schnitt 1 injiziert wird, wohingegen I2 den Strom darstellt, der zu dem Gitterabschnitt 2 injiziert wird. Pin stellt zu der Vorrichtung einfallendes Licht dar, wohingegen Pout herauskom­ mendes Licht darstellt.
Somit stellt Fig. 1 zwei Gitterabschnitte 1 und 2 dar, die voneinander elektrisch isoliert sind, wobei der erste Ab­ schnitt 1 eine Gitterperiode Λ1 besitzt, die länger als die Gitterperiode Λ2 des zweiten Gitterabschnitts 2 ist. Die un­ terschiedlichen Gitterabschnitte können beispielsweise durch Elektronenstrahllithographie erhalten werden, wodurch Gitter mit einer optionalen und variablen Periode hergestellt werden können. Die elektrische Isolierung kann durch eine Kombination von Ätzen und Implantation von beispielsweise Protonen oder Heliumionen erreicht werden. Die Gitterabschnitte 1 und 2 be­ sitzen jeweils einen Abstimmbereich (Δλ0)max, der beispielsweise etwa 10 nm sein kann, wobei sich die zwei Abstimmbereiche et­ was überlappen; prinzipiell ist es ausreichend, daß sie einan­ der kontaktieren, aber aus praktischen Gründen ist es erstre­ benswert, einen gewissen Überschuß in der Form einer Überlap­ pung zu haben.
Im folgenden wird auf eine vereinfachte Art beschrieben, wie die Vorrichtung benutzt werden kann. Von dem tatsächlichen Wellenlängenbereich, d. h. dem Bereich, in dem die unterschied­ lichen Kanäle angeordnet sind, wird angenommen, daß er von λL bis λH geht, wie es in Fig. 3a schematisch dargestellt ist. Die zwei Gitterperioden Λ1 und Λ2 werden, wie es in Fig. 3b darge­ stellt ist, nun derart ausgewählt, daß der Abschnitt 1 über die obere Hälfte des Intervalls abstimmbar ist, während der Abschnitt 2 an der unteren Hälfte des Intervalls abstimmbar ist. Die Gitterperiode Λ1 des Abschnitts 1 wird ausreichend groß gewählt, so daß der Abschnitt vollständig durchlässig ist, wenn der Strom durch den Abschnitt 1 Null ist, was für alle Wellenlängen in dem Intervall [λL, λH] gültig sein sollte. Daher wird, wenn ein Kanal mit einer Wellenlänge, die in die untere Hälfte des Intervalls fällt, herauszufiltern ist, kein Strom in den Abschnitt 1 injiziert, so daß der erste Abschnitt 1 in einer Position A in Fig. 3b "geparkt" werden wird. Danach wird der Strom I₂ durch den Abschnitt 2 derart gewählt, daß der gewünschte Kanal, beispielsweise B, herausgefiltert wird. Wenn andererseits ein Kanal C in der oberen Hälfte des Intervalls herauszufiltern ist, wird ein geeigneter Strom I1 in den Ab­ schnitt 1 injiziert. Zur gleichen Zeit wird der Strom durch den Abschnitt 2 ausreichend groß gewählt, so daß die Resonan­ zwellenlänge des Gitters zur Position D versetzt wird, d. h. zu einer Wellenlänge, die kürzer als irgendeine der Wellenlängen ist, die den Kanälen in dem Intervall [λL, λH] entspricht. Somit wird es klar, daß es im allgemeinen nicht möglich ist, den gesamten Abstimmbereich zu verdoppeln, und zwar hauptsächlich aus zwei Gründen. Als erstes ist eine gewisse Überlappung zwischen den Gitterfiltern 1, 2 aus praktischen Gründen zweck­ mäßig. Ein derartiges Überlappen kann beispielsweise etwa 1 nm erreichen. Weiterhin muß ein Teil des zugreifbaren Abstimmbe­ reichs jedes Gitterabschnitts oder der Gitterfilter 1, 2 zum "Parken" des jeweiligen Gitters außerhalb des Intervalls [λL, λH] benutzt werden. Die interne Abfolge der zwei Abschnitte 1, 2 ist wichtig. Wenn ein Strom in den Wellenleiter zum Än­ dern der Brechzahl injiziert wird, wird ein bestimmtes Anwach­ sen der Absorption erhalten, d. h. die Verluste werden gleich­ zeitig größer. Somit ist es wesentlich, daß der Abschnitt 1 eine Gitterperiode Λ1besitzt, die länger als die Gitterperiode Λ2 des Abschnitts 2 ist, so daß der Abschnitt 1 in seiner Ru­ heposition, der Position A, ohne irgendeine Strominjektion "geparkt" werden kann, d. h. ohne daß der Wellenlängenkanal, der durch den Abschnitt 2 herausgefiltert wird, bei seinem doppelten Durchgang durch den Abschnitt 1 irgendwelche Verlu­ ste erleidet. Weiterhin wird, wenn beide Abschnitte 1, 2 in ihren jeweiligen Endpositionen (in der Fig. 2b entsprechend A bzw. D) "geparkt" sind, die gesamte Vorrichtung für alle Wel­ lenlängen in dem Intervall [λL, λH] durchlässig. Mit der Vor­ richtung ist es beispielsweise möglich, entweder einen aus allen Kanälen herauszufiltern oder alle Kanäle unverändert durch die Vorrichtung durchzulassen.
Im folgenden sind mögliche Wellenlängenwerte, etc. angegeben, um darzustellen, um wieviel der Abstimmbereich eines optischen Filters dadurch größer werden würde, daß er in zwei Gitterab­ schnitte 1, 2 aufgeteilt wird, verglichen mit einem ungeteil­ ten optischen Filter. Bei dem beschriebenen Ausführungsbei­ spiel wird angenommen, daß die Lichtsignale um eine Wellenlän­ ge von 1550 nm zentriert sind. Weiterhin ist angenommen, daß das Wellenleitermaterial 6 aus 300 nm undotiertem InGaAsP (Gitter ist angepaßt an InP) besteht, und eine Lumineszenzwel­ lenlänge von 1400 nm hat, während die Filterabschnitte 1, 2 jeweils durch einen Gitter-Kopplungskoeffizienten von 15 cm-1 charakterisiert sind. In diesem Fall ist der Abstimmbereich eines Gitterabschnitts 1 bzw. 2 etwa 10 nm, während der klein­ ste mögliche Abstand zwischen unterschiedlichen Kanälen etwa 1 nm ist, und zwar unter der Annahme, daß das Übersprechen ge­ ringer als -10 dB ist. Bei der Vorrichtung gemäß der Erfin­ dung hat sich die Anzahl von zugreifbaren Kanälen von 10, was einem einzelnen Abschnitt entspricht, auf 17 erhöht, was den zwei Abschnitten 1, 2 entspricht. Folglich wächst der gesamte Abstimmbereich in Abhängigkeit von der exakten Form der Vor­ richtung, insbesondere der Linienbreite des Filters und der Anzahl von Kanälen in dem gewünschten Wellenlängenintervall um etwa 60-80% an, im Vergleich zu dem Fall mit nur einem ho­ mogenen Gitterabschnitt.
Durch die Erfindung kann man auf alle Wellenlängen in dem In­ tervall [λL, λH] zugreifen.
In Fig. 2 ist eine Vorrichtung 20 dargestellt, die der in Fig. 1 gezeigten Vorrichtung 10 ähnlich ist und aus einem optischen Monomode-Wellenleiter besteht, der auf einem Halbleitersub­ strat mit zwei separaten elektrisch isolierten Gitterabschnit­ ten 1′, 2′ hergestellt ist. Auf einem dicken Substrat 3′, das bei dem gezeigten Ausführungsbeispiel aus n-dotiertem Indium­ phosphid (n⁺-InP) mit einer Pufferschicht 4′ aus demselben Ma­ terial wie das Substrat 3′ besteht, ist beispielsweise mittels MBE (Molekularstrahlepitaxie) oder MOVPE (metallorganische Aufdampfphasenepitaxie) eine aktive Schicht 5′ aus undotiertem Indium-Gallium-Arsenid-Phosphid (i-InGaAsP) aufgewachsen, wel­ che Schicht somit die Änderung der Brechzahl verursacht, und eine Schicht aus p-dotiertem Indiumphosphid (p⁺-InP), in der das Gitter mit der Hilfe von Indium-Gallium-Arsenid-Phosphid ausgebildet ist, das in der Indiumphosphid-Schicht 6′ derart angeordnet ist, daß eine Gitterperiode Λ1 in dem Abschnitt 1 erhalten wird, während eine weitere und kleinere Gitterperiode Λ2 in dem Abschnitt 2 erhalten wird. Bei dem Übergang zwischen den zwei Abschnitten 1, 2 ist das Material teilweise mit der Hilfe von beispielsweise Protonenbeschuß oder ähnlichem amor­ phorisiert, was einen hohen elektrischen Widerstand ergibt, der der Zone entspricht, die in Fig. 2 durch das Bezugszeichen 15 angezeigt ist. Darauf sind zwei Elektroden 11′, 11′ zur Injektion eines Stroms I1, I2 dargestellt, die jedem Abschnitt 1, 2 entsprechen, während an dem Boden eine Metallelektrode 12′ angeordnet ist.
Im allgemeinen ist die Vorrichtung für das Ausführungsbeispiel gemäß Fig. 1 wie auch für das Ausführungsbeispiel gemäß Fig. 2 in einer Form einer Doppelheterostruktur in einem Halbleiter (z. B. dem GaAs/AlGaAs-System oder dem InGaAsP/InP-System) her­ gestellt, wobei die Gitter beispielsweise durch Elektronenstrahl-Lithographie oder irgendeine andere ähnliche lithographische Technologie, der ein Ätzen folgt, bestimmt werden können.
Fig. 4 zeigt eine Vorrichtung 30 in Verbindung mit einem opti­ schen Verstärker in der Form eines zusätzlichen Wellenlei­ terabschnitts 16 ohne Gitter und mit einer kleineren Bandlücke als die abstimmbaren Gitterabschnitte 1, 2, die monolithisch integriert sein können. Diese (Verstärker) wird mit einer Vor­ wärtsspannung betrieben und mit einer ausreichenden Stromin­ jektion Ig, dem Verstärkungsstrom, wird eine stimulierte Ver­ stärkung erhalten. Verwendet man die Vorrichtung gemäß Fig. 4, kann sie bezüglich der Dämpfung und der Verluste beim Ein- und Auskoppeln von Licht zu/aus dem Bauelement abgeglichen werden, um ein Filter ohne Verluste zu erhalten. Das aktive Material oder die Schicht 17 in dem Verstärkungsabschnitt 16 hat eine Bandlücke, die kleiner als jene in der aktiven Schicht 5′ der Gitterabschnitte 1, 2 ist, die dem Filter entsprechen, so daß eine stimulierte Verstärkung bei der Signalwellenlänge erhal­ ten wird, wenn ein Strom injiziert wird. Zu dem Verstärkungs­ abschnitt 16 wird ein Strom Ig zu der Elektrode 18 injiziert. Gemäß einem Ausführungsbeispiel könnte die Bandlücke Eg des aktiven Material in dem Verstärker etwa 0,8 eV erreichen, wäh­ rend die Bandlücke des aktiven Materials des Filters 20 etwa Eg=1,0 eV erreichen könnte. Der Verstärkungsabschnitt besteht aus einer Anti-Reflexionsschicht oder einem Überzug 19.
Gemäß einem weiteren alternativen Ausführungsbeispiel besteht die Erfindung aus einem gitterunterstützenden Richtkoppler 40 bzw. Richtkoppler 40 mit Gitter. Mit einem derartigen Koppler ist es möglich, einfallende von reflektierten Signalen durch Verwendung zweier gekoppelter Wellenleiter 21, 22 zu trennen. Die zwei Wellenleiter 21, 22 können parallel sein, wobei der zweite Wellenleiter 22 eine Dispersionscharakteristik besitzt, die unterschiedlich von jener des ersten Wellenleiters 21 ist, und beispielsweise lateral oder höhenmäßig von dem ersten Wel­ lenleiter getrennt ist.
In Fig. 5 sind zwei parallel gekoppelte Wellenleiter schema­ tisch dargestellt, und zwar einer für einfallendes Licht und der andere für reflektiertes Licht, die im wesentlichen paral­ lel angeordnet sind. Die Dicke (Wa) und die Materialzusammen­ setzung des zweiten Wellenleiters 22 sind etwas unterschied­ lich von dem ersten Wellenleiter 21 (Wb), so daß diese Disper­ sionscharakteristiken besitzen, die sich voneinander unter­ scheiden. Die Gitterperiode ist derart gewählt, daß eine Re­ flexion in der Rückwärtsrichtung von dem Wellenleiter 21 zu dem Wellenleiter 22 erhalten wird. In der Fig. sind die Ab­ schnitte, die den unterschiedlichen Gitterkonstanten entspre­ chen, schematisch dargestellt und sind mit Λ1 und Λ2 bezeichnet. Der Abstand d zwischen den Wellenleitern kann bei dem gezeigten Ausführungsbeispiel etwa 0,5-5 µm und vorzugs­ weise 0,2-2 µm betragen.
Gemäß einem alternativen Ausführungsbeispiel ist es statt des­ sen möglich, eine Brechzahländerung in der Form eines Erhöhens durch Anlegen einer Rückspannung zu erzeugen, z. B. über die sogenannte Stark-Verschiebung in Potentialtopf- bzw. QW- (=quantum well)- bzw. Quantenmulden-Strukturen. Auf diese Wei­ se wird die Brechzahl somit in einer positiven Weise mit an­ wachsender Rückwärtsspannung geändert, genauso wie die Absorp­ tion mit anwachsender Rückwärtsspannung anwächst. Gemäß diesem Ausführungsbeispiel ist die innere Folge der zwei Abschnitte umgekehrt, so daß Λ1 kleiner als Λ2 ist, um eine Minimierung der Absorptionsverluste zu erreichen. Dies bedeutet folglich, daß man den Abschnitt 1 in der kurzwelligen Endposition "par­ ken" kann, entsprechend der Nullspannung an der Zuführelektro­ de des Abschnitts und somit unbedeutenden Verlusten für die Signalwellenlängen, die durch den ersten Abschnitt laufen, um durch den zweiten Abschnitt reflektiert zu werden.
Natürlich ist die Erfindung nicht auf die gezeigten Ausfüh­ rungsbeispiele beschränkt, sondern kann innerhalb des Schutz­ umfangs der Ansprüche frei abgeändert werden. Somit können beispielsweise unterschiedliche Materialien oder Material­ systeme benutzt werden, unterschiedliche Abschnitte können hinzugefügt werden, etc., und auch das Prinzip und die Art, auf die ein Gitter erhalten wird, können unterschiedlich sein. Unterschiedliche Kombinationen mit weiteren Bauelementen ver­ schiedener Arten etc. sind auch möglich.

Claims (13)

1. Abstimmbare optische Filtervorrichtung mit einem wellen­ längenselektiven optischen Filter, das aus einer Gitter­ struktur besteht, die in einer Wellenleiterstruktur an­ geordnet ist, dadurch gekennzeichnet, daß die Gitterstruktur aus zwei steuerbaren Gitterab­ schnitten (1, 2) besteht, die voneinander elektrisch iso­ liert sind, und daß die Gitterabschnitte (1, 2) unter­ schiedliche Gitterperioden (Λ1, Λ2) besitzen.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Wellenleiterstruktur aus einem Monomode-Wellenleiter besteht, der in einem Halbleitersubstrat hergestellt ist.
3. Vorrichtung nach einem der vorangehenden Ansprüche, da­ durch gekennzeichnet, daß an jedem Abschnitt (1, 2) Ein­ richtungen zum Ändern der Brechzahl des entsprechenden Gitterabschnitts (1, 2) vorgesehen sind.
4. Vorrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Einrichtungen zum Ändern der Brechzahl Einrichtungen zum Injizieren von Strom (I1, I2) zu jedem der jeweiligen Abschnitte sind.
5. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch ge­ kennzeichnet, daß die Gitterabschnitte (1, 2) aufeinander­ folgend in der Ausbreitungsrichtung angeordnet sind, und daß jedem Gitterabschnitt (1, 2) ein Abstimmbereich (ΔλL, ΔλH) entspricht.
6. Vorrichtung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß die Abstimmbereiche (ΔλL, ΔλH), die den jeweiligen Gitterabschnitten (1, 2) entsprechen, etwas überlappen.
7. Vorrichtung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß die Überlappung etwa 1 nm beträgt.
8. Vorrichtung nach einem der vorangehenden Ansprüche, da­ durch gekennzeichnet, daß die Gitterperiode (Λ1) des ersten Gitterabschnitts (1) in der Ausbreitungsrichtung länger als die Gitterperiode (Λ2) des zweiten Gitterabschnitts (2) ist.
9. Vorrichtung nach einem der vorangehenden Ansprüche, da­ durch gekennzeichnet, daß die unterschiedlichen Gitterab­ schnitte (1, 2) derart angeordnet sind, daß Verluste aufgrund induzierter Absorption minimiert werden, wenn ein Gitterabschnitt (2) in Folge mit einem anderen Gitterab­ schnitt (1) benutzt wird, um einen gewünschten Kanal oder eine Wellenlänge herauszufiltern.
10. Vorrichtung nach einem der vorangehenden Ansprüche, da­ durch gekennzeichnet, daß die niedrigsten und höchsten Wellenlängen, die jeweils dem gesamten Abstimmbereich der Vorrichtung entsprechen, kleiner bzw. größer als (λL) bzw. (λH) sind, so daß das Intervall [λLH] völlig abgedeckt ist.
11. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch ge­ kennzeichnet, daß die aktive Schicht aus Quantenmulden anstelle von Substratmaterial besteht, und daß eine Ände­ rung der Brechzahl in den jeweiligen Gitterabschnitten (1, 2) durch Anlegen einer Rückwärtsspannung erreicht wird, so daß die Brechzahl erhöht wird.
12. Vorrichtung nach einem der vorangehenden Ansprüche, da­ durch gekennzeichnet, daß parallel zu einem ersten Wel­ lenleiter (21), der in der Wellenleiterstruktur enthalten ist, ein zweiter paralleler Wellenleiter (22) angeordnet ist, dessen Dispersionscharakteristik unterschiedlich von jener des ersten Wellenleiters (21) ist, und der höhenmä­ ßig oder lateral von dem ersten Wellenleiter (21) um einen Abstand (d) getrennt ist, um einen Richtkoppler (40) mit Gitter zu bilden.
13. Vorrichtung nach einem der vorangehenden Ansprüche, da­ durch gekennzeichnet, daß sie einen weiteren Wellen­ leiterabschnitt (16) besitzt, der einen Verstärkungsab­ schnitt (16) bildet, wobei die Vorrichtung (30) somit eine Vorrichtung (30) für eine stimulierte Verstärkung bildet.
DE4328777A 1992-08-26 1993-08-26 Optische Filtervorrichtung Expired - Lifetime DE4328777B4 (de)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SE9202446 1992-08-26
SE9202446A SE470454B (sv) 1992-08-26 1992-08-26 Optisk filteranordning

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE4328777A1 true DE4328777A1 (de) 1994-03-17
DE4328777B4 DE4328777B4 (de) 2007-11-22

Family

ID=20387011

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE4328777A Expired - Lifetime DE4328777B4 (de) 1992-08-26 1993-08-26 Optische Filtervorrichtung

Country Status (6)

Country Link
US (1) US5416866A (de)
JP (1) JPH06194613A (de)
DE (1) DE4328777B4 (de)
FR (1) FR2695212B1 (de)
GB (1) GB2270174B (de)
SE (1) SE470454B (de)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4432410A1 (de) * 1994-08-31 1996-03-07 Deutsche Telekom Ag Optoelektronisches Multi-Wellenlängen Bauelement

Families Citing this family (43)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
BE1006207A3 (nl) * 1992-09-24 1994-06-07 Imec Inter Uni Micro Electr Geintegreerd afstembaar optisch filter.
US5621828A (en) * 1992-09-24 1997-04-15 Interuniversitair Micro-Elektronica Centrum Vzw Integrated tunable optical filter
GB2286057A (en) * 1994-01-21 1995-08-02 Sharp Kk Electrically controllable grating
FR2716303B1 (fr) * 1994-02-11 1996-04-05 Franck Delorme Laser à réflecteurs de Bragg distribués, accordable en longueur d'onde, à réseaux de diffraction virtuels activés sélectivement.
US5581642A (en) * 1994-09-09 1996-12-03 Deacon Research Optical frequency channel selection filter with electronically-controlled grating structures
US5491762A (en) * 1994-09-09 1996-02-13 Deacon Research ATM switch with electrically-controlled waveguide-routing
FR2725527B1 (fr) * 1994-10-10 1996-12-20 Talneau Anne Filtre optique pour plusieurs longueurs d'ondes guidees
GB9423105D0 (en) * 1994-11-16 1995-01-04 Northern Telecom Ltd Optical wave grating filter
US20050225861A1 (en) * 1995-03-13 2005-10-13 Thomas Mossberg Segmented complex diffraction gratings
US5875272A (en) * 1995-10-27 1999-02-23 Arroyo Optics, Inc. Wavelength selective optical devices
AU711424B2 (en) 1995-08-29 1999-10-14 Arroyo Optics, Inc. Wavelength selective grating assisted optical couplers
US6236782B1 (en) 1995-08-29 2001-05-22 Arroyo Optics, Inc. Grating assisted coupler devices
JP2001526793A (ja) * 1995-10-27 2001-12-18 アロヨ・オプティクス・インコーポレイテッド 波長選択型光学装置
JP3654383B2 (ja) * 1995-12-07 2005-06-02 Kddi株式会社 光アド/ドロップ多重素子
US6169830B1 (en) 1996-08-26 2001-01-02 Arroyo Optics, Inc. Methods of fabricating grating assisted coupler devices
US6078597A (en) * 1996-11-19 2000-06-20 At & T Corp. Method and apparatus for optical signal processing by photo-induced loss and/or gain gratings
US5926493A (en) * 1997-05-20 1999-07-20 Sdl, Inc. Optical semiconductor device with diffraction grating structure
US6011881A (en) * 1997-12-29 2000-01-04 Ifos, Intelligent Fiber Optic Systems Fiber-optic tunable filter
US6088495A (en) * 1998-04-21 2000-07-11 Technion Research & Development Foundation Ltd. Intermediate-state-assisted optical coupler
SE520951C2 (sv) * 1998-06-17 2003-09-16 Ericsson Telefon Ab L M Multivåglängdsselektiv switch för switchning och omdirigering av optiska våglängder
US6208773B1 (en) * 1999-02-18 2001-03-27 Trw Inc. Addressable, semiconductor adaptable Bragg gratings (ASABG)
JP2001215542A (ja) * 2000-02-04 2001-08-10 Kddi Corp 非線形光素子
US7058245B2 (en) * 2000-04-04 2006-06-06 Waveguide Solutions, Inc. Integrated optical circuits
GB2362720A (en) * 2000-05-25 2001-11-28 Roke Manor Research Improvements in or relating to optical switching
US6549708B2 (en) * 2000-08-21 2003-04-15 Lockheed Martin Corporation Dual-side waveguide-based wavelength demultiplexer
SE518476C2 (sv) * 2001-02-22 2002-10-15 Altitun Ab Metod för att förbättra selektiviteten i ett avstämbart vågledarfilter
SE0100611L (sv) * 2001-02-22 2002-08-23 Altitun Ab Förfarande för att förlustkompensera ett avstämbart filter för en laser, jämte ett dylikt filter
CA2449707C (en) * 2001-05-17 2012-10-09 Sioptical, Inc. Integrated optical/electronic circuits and associated methods of simultaneous generation thereof
US6580740B2 (en) * 2001-07-18 2003-06-17 The Furukawa Electric Co., Ltd. Semiconductor laser device having selective absorption qualities
US7092419B2 (en) * 2001-09-10 2006-08-15 San Jose Systems, Inc. Wavelength agile laser
US7653093B2 (en) * 2001-09-10 2010-01-26 Imec Widely tunable twin guide laser structure
US20030064537A1 (en) * 2001-09-28 2003-04-03 The Furukawa Electric Co., Ltd. Semiconductor laser device and method for effectively reducing facet reflectivity
US7189497B2 (en) * 2002-07-24 2007-03-13 Intel Corporation Method for writing a planar waveguide having gratings of different center wavelengths
JPWO2006051981A1 (ja) 2004-11-15 2008-05-29 日立化成工業株式会社 光反射器、光合分波器及び光システム
JP4603581B2 (ja) * 2005-07-25 2010-12-22 富士通株式会社 半導体チップモジュール
EP2403079B1 (de) 2010-06-30 2014-01-15 Alcatel Lucent Reflektiver optischer Halbleiterverstärker für optische Netzwerke
EP2437087A1 (de) * 2010-09-29 2012-04-04 Alcatel Lucent Einstellbarer optischer Filter, optische Vorrichtung mit einem solchen Filter und Verfahren zur Filterung eines optischen Signals
AU2017363078B2 (en) 2016-11-18 2022-09-29 Magic Leap, Inc. Waveguide light multiplexer using crossed gratings
EP3545357B1 (de) * 2016-11-23 2023-06-14 Rockley Photonics Limited Optoelektronische vorrichtung
CN110462460B (zh) 2017-01-23 2022-10-14 奇跃公司 用于虚拟、增强或混合现实系统的目镜
IL274977B2 (en) 2017-12-15 2023-10-01 Magic Leap Inc Eyepieces for an augmented reality display system
EP3884337A4 (de) 2018-11-20 2022-08-17 Magic Leap, Inc. Okulare für erweiterte realitätsanzeigesysteme
CN114286962A (zh) * 2019-06-20 2022-04-05 奇跃公司 用于增强现实显示系统的目镜

Family Cites Families (31)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3814498A (en) * 1972-05-04 1974-06-04 Bell Telephone Labor Inc Integrated optical circuit devices employing optical gratings
DE2442723A1 (de) * 1974-09-06 1976-03-18 Siemens Ag Steuerbarer elektrooptischer gitterkoppler
US4775980A (en) * 1983-12-14 1988-10-04 Hitachi, Ltd. Distributed-feedback semiconductor laser device
JPS60260024A (ja) * 1984-06-07 1985-12-23 Kokusai Denshin Denwa Co Ltd <Kdd> 光変調素子
US4794346A (en) * 1984-11-21 1988-12-27 Bell Communications Research, Inc. Broadband semiconductor optical amplifier structure
GB8502013D0 (en) * 1985-01-26 1985-02-27 Plessey Co Plc Integrated optical device
US4750801A (en) * 1985-09-30 1988-06-14 American Telephone And Telegraph Company, At&T Bell Laboratories Optical waveguide resonator filters
US4730327A (en) * 1985-12-16 1988-03-08 Lytel Incorporated Dual channel fabry-perot laser
JPS62241387A (ja) * 1986-04-11 1987-10-22 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 半導体光周波数フイルタ
JP2659187B2 (ja) * 1987-04-14 1997-09-30 日本電気株式会社 光フィルタ素子
JP2749038B2 (ja) * 1987-07-31 1998-05-13 株式会社日立製作所 波長可変半導体レーザ
GB2209408B (en) * 1987-09-04 1991-08-21 Plessey Co Plc Optical waveguide device having surface relief diffraction grating
JP2825508B2 (ja) * 1987-10-09 1998-11-18 株式会社日立製作所 半導体レーザ装置および光通信システム
JP2659199B2 (ja) * 1987-11-11 1997-09-30 日本電気株式会社 可変波長フィルタ
JPH01186918A (ja) * 1988-01-20 1989-07-26 Nec Corp 光分波器
DE69011921T2 (de) * 1989-04-04 1995-03-02 Canon Kk Halbleiterlaser mit veränderbarer Emissionswellenlänge und selektives Wellenlängenfitter und Verfahren zum Betrieb derselben.
DE3915625A1 (de) * 1989-05-12 1990-11-15 Standard Elektrik Lorenz Ag Halbleiterlaser
JPH0357288A (ja) * 1989-07-17 1991-03-12 Siemens Ag 半導体レーザーを有するデバイスおよびその使用方法
US5022730A (en) * 1989-12-12 1991-06-11 At&T Bell Laboratories Wavelength tunable optical filter
US5016967A (en) * 1989-12-26 1991-05-21 United Technologies Corporation Multi-core optical waveguide Bragg grating light redirecting arrangement
US5007705A (en) * 1989-12-26 1991-04-16 United Technologies Corporation Variable optical fiber Bragg filter arrangement
US5011264A (en) * 1989-12-28 1991-04-30 General Dynamics Corp., Electronics Divn. Wide linear dynamic range optical modulator
JP2914741B2 (ja) * 1990-10-03 1999-07-05 株式会社東芝 分布帰還型半導体レーザ
DE69220585T2 (de) * 1991-01-22 1998-02-05 Canon Kk Lichtdetektor-Vorrichtungen für mehrere Wellenlängen mit reihenweise angeordneten Gitter-Richtkopplern
US5233187A (en) * 1991-01-22 1993-08-03 Canon Kabushiki Kaisha Multi-wavelength light detecting and/or emitting apparatuses having serially arranged grating directional couplers
US5367588A (en) * 1992-10-29 1994-11-22 Her Majesty The Queen In Right Of Canada, As Represented By The Minister Of Communications Method of fabricating Bragg gratings using a silica glass phase grating mask and mask used by same
JPH05205486A (ja) * 1991-04-26 1993-08-13 Naohiro Tanno 光導波路記録媒体及び光再生装置
US5363226A (en) * 1992-04-06 1994-11-08 Eastman Kodak Company Apparatus and method for dispersion compensation for a grating coupler using a surface relief reflection grating
CA2101411C (en) * 1992-08-14 2003-06-10 Jean-Pierre Weber Tunable optical filter
US5339157A (en) * 1993-02-19 1994-08-16 At&T Bell Laboratories Rapidly tunable integrated optical filter
US5351324A (en) * 1993-09-10 1994-09-27 The Regents Of The University Of California, Office Of Technology Transfer Fiber optic security seal including plural Bragg gratings

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4432410A1 (de) * 1994-08-31 1996-03-07 Deutsche Telekom Ag Optoelektronisches Multi-Wellenlängen Bauelement
DE4432410B4 (de) * 1994-08-31 2007-06-21 ADC Telecommunications, Inc., Eden Prairie Optoelektronisches Multi-Wellenlängen-Bauelement

Also Published As

Publication number Publication date
SE470454B (sv) 1994-04-11
GB2270174A (en) 1994-03-02
US5416866A (en) 1995-05-16
DE4328777B4 (de) 2007-11-22
SE9202446L (sv) 1994-02-27
SE9202446D0 (sv) 1992-08-26
GB9317245D0 (en) 1993-10-06
FR2695212B1 (fr) 1995-07-13
GB2270174B (en) 1996-03-27
FR2695212A1 (fr) 1994-03-04
JPH06194613A (ja) 1994-07-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE4328777B4 (de) Optische Filtervorrichtung
DE60028366T2 (de) Optischer Verstärker mit verstellbarer stabilisierter Verstärkung
EP0187198B1 (de) Verfahren zur Herstellung einer integriert - optischen Anordnung
EP0418705B1 (de) Interferometrischer Halbleiterlaser
EP0829121B1 (de) Dfb-laserdiodenstruktur mit komplexer optischer gitterkopplung
DE3210980C2 (de) Optisches Schaltelement und optische Schaltmatrix
DE69635410T2 (de) Halbleiterlaser und dessen herstellungsverfahren
DE60118035T2 (de) Resonanzreflektor zur verwendung mit optoelektronischen einrichtungen
DE69534989T2 (de) Integriertes optisches Regelelement und Verfahren zu seiner Herstellung und integriertoptisches Element und es verwendende integriertoptische Schaltkreisanordnung
DE102009019996B4 (de) DFB Laserdiode mit lateraler Kopplung für große Ausgangsleistungen
DE4327102A1 (de) Abstimmbares optisches Filter
DE3631971C2 (de) Optische Verstärkungsvorrichtung mit Störschutzfilterfunktion
DE3228586C2 (de)
DE19519608A1 (de) Wellenlängenabstimmbare Halbleiter-Laservorrichtung
DE19633373A1 (de) Aufbau eines in der Wellenlänge abstimmbaren Lasers
DE3306085A1 (de) Halbleiterlaser
DE60200132T2 (de) Sich verjüngender Wellenleiter (Taper) mit lateralen strahlbegrenzenden Rippenwellenleitern
DE60028743T2 (de) Optischer koppelpunktschalter mit vertical gekoppelter wellenleiterstruktur
EP0925520A1 (de) Anordnung zum aneinanderkoppeln von wellenleitern
DE10136727C2 (de) Photonische Halbleitervorrichtung und Verfahren zu ihrer Herstellung
DE60204168T2 (de) Phasenverschobene oberflächenemittierende dfb laserstrukturen mit verstärkenden oder absorbierenden gittern
DE60202683T2 (de) Abstimmbarer laser
DE69730872T2 (de) Laservorrichtung
DE60105154T2 (de) Hochleistungslaser mit gesampeltem gitter und verteiltem bragg-reflektor
DE602004008096T2 (de) Steuerung der ausgangsstrahldivergenz in einem halbleiterwellenleiterbauelement

Legal Events

Date Code Title Description
8110 Request for examination paragraph 44
8125 Change of the main classification

Ipc: G02F 1/025

8364 No opposition during term of opposition
R071 Expiry of right
R071 Expiry of right