DE4439758A1

DE4439758A1 - Test pin for test adaptor to check printed circuit and wiring boards

Info

Publication number: DE4439758A1
Application number: DE19944439758
Authority: DE
Inventors: Hans Hermann Higgen; Gruyter Falko De; Andreas Guelzow; Edward Dr Bruchwald
Original assignee: Luther and Maelzer GmbH
Current assignee: ATG Luther and Maelzer GmbH
Priority date: 1994-11-07
Filing date: 1994-11-07
Publication date: 1996-05-09
Anticipated expiration: 2014-11-08
Also published as: DE4439758C2

Abstract

The test pin consists of a test rod (2) made of conductive material. A test rod head (3) made of non-conductive material has an appropriately sized indent into which the bar is fitted. The distance (a) between the end of the bar and the head can vary from 0.1 mm to 1 mm, and is ideally 0.5 mm. For secure attachment, the bar and/or the head have nose and/or a recess (16).

Description

Die Erfindung bezieht sich auf einen Prüfstift und ein Verfahren zur Herstellung eines Prüfstiftes nach dem Oberbegriff des Anspruchs 1 oder 27.The invention relates to a test pin and a method for producing a Test pin according to the preamble of claim 1 or 27.

Mit der zunehmenden Forderung nach immer kleineren Leiterplatten von etwa nur Briefmarkengröße und noch kleiner ergeben sich immer kleinere Abstände der Kontaktinseln (pads) voneinander an der Leiterplatte. Hierdurch wird die Prüfung der Leiterplatte bzw. ihrer Kontaktinseln auf richtigen Durchgang des elektrischen Stromes nicht nur erschwert, sondern es sind bekannte Prüfstifte und Prüfadapter auch nicht geeignet, die in geringem Abstand voneinander angeordneten Kontaktinseln zu kontaktieren, die in in grid- und/oder of grid-Anordnung angeordnet sein können.With the increasing demand for ever smaller printed circuit boards of about only Postage stamp size and even smaller result in ever smaller distances between the Contact pads from each other on the circuit board. This will test the Printed circuit board or its contact islands on correct passage of the electrical current not only difficult, but also well-known test pins and test adapters suitable, the contact islands arranged at a short distance from each other Contact, which can be arranged in a grid and / or of grid arrangement.

Bekannte Prüfadapter sind in Form einer oder mehrerer, sich parallel zur prüfenden Leiterplatte erstreckenden Platten mit Durchgangslöchern zur Aufnahme der Prüfstifte gebildet, wobei die Durchgangslöcher sich je nach der geforderten Erstreckung der Prüfstifte bezüglich der Plattenebene rechtwinklig oder schräg erstrecken können, um z. B. eine leitende Verbindung zwischen einem im Raster befindlichen Prüfkontakt und einer in oder außer Raster angeordneten Kontaktinsel herstellen zu können.Known test adapters are in the form of one or more, parallel to the test Printed circuit board extending plates with through holes for receiving the test pins formed, the through holes depending on the required extension of the Test pins can extend at right angles or at an angle to the plate plane e.g. B. a conductive connection between a test contact located in the grid and to be able to produce a contact island arranged in or outside the grid.

Wegen des geringen Abstands der Kontaktinseln voneinander sind nur dünne bzw. schlanke Prüfstifte geeignet.Because of the small distance between the contact islands, only thin or slim test pins.

Bei einer bekannten Prüfstift-Art mit einem zylindrischen oder einem sich in zylindrischen Stufen stufenförmig verdickenden Schaft ist am der Prüfspitze abgewandten Ende ein Prüfstiftkopf in runder Form angeordnet, der durch eine Verdickung des Schaftes gebildet ist und somit einstückig ausgebildet ist und aus dem gleichen metallischen Material besteht, aus dem auch der Schaft hergestellt ist. Der Prüfstiftkopf ist erforderlich, um die Prüfstifte im Prüfadapter an einem Herausfallen aus dem Durchgangslöchern zu hindern. Bei der vorgenannten Prüfstift-Art ist der Prüfstiftkopf zugleich Kontaktelement des Prüfstiftes und er weist an seiner der Prüfspitze abgewandten Kopffläche die Kontaktfläche für einen zugehörigen Prüfkontakt einer Vorrichtung zum Prüfen von Leiterplatten auf.In a known type of test pin with a cylindrical or in cylindrical stepped thickened shaft is on the test tip opposite end of a test pin head arranged in a round shape by a Thickening of the shaft is formed and is thus formed in one piece and from which consists of the same metallic material from which the shaft is made. Of the Test pin head is required to keep the test pins in the test adapter from falling out to prevent from the through holes. With the aforementioned test pin type is the Test pin head at the same time contact element of the test pin and it points at its Probe tip facing away from the contact surface for an associated Test contact of a device for testing printed circuit boards.

Bei der Verwendung einer vorbeschriebenen Prüfstift-Art ist eine Verkleinerung des Abstands der Kontaktinseln an der Leiterplatte bzw. des Abstandes der Prüfstifte voneinander im Prüfadapter durch die Abmessungen der Prüfstiftköpfe und einen erforderlichen Sicherheitsabstand begrenzt, da bei einem zu geringen Abstand die Prüfstiftköpfe in Kontakt miteinander geraten können, was zu Fehlkontaktierungen und falschen oder unsicheren Prüfergebnissen führt.When using a test pin type described above, a reduction of the Distance between the contact pads on the circuit board and the distance between the test pins from each other in the test adapter by the dimensions of the test pin heads and one required safety distance is limited, because if the distance is too small, the Probe heads can come into contact with one another, leading to incorrect contacts and leads to incorrect or uncertain test results.

Bei einem vorliegenden Prüfstift handelt es sich um ein typisches Massenprodukt, das möglichst preiswert sein soll. Die bekannte Bauweise mit der einstückigen Kopffertigung ermöglicht zwar eine gute Kontaktierung, jedoch ist die Kopfverdickung sowohl bezüglich des Materials als auch der Fertigung nur mit einem verhältnismäßig großen Aufwand auszubilden. Dabei ist zu berücksichtigen, daß nicht nur eine einfachere Herstellung sondern auch eine kürzere Herstellungszeit zu einer Kostensenkung beitragen.An existing test pen is a typical mass product that should be as inexpensive as possible. The well-known design with the one-piece Head production enables good contacting, but the head thickening is only in relation to the material as well as the production with a relative to train a lot of effort. It should be borne in mind that not just one easier manufacturing but also a shorter manufacturing time at one Help reduce costs.

Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, einen Prüfstift und ein Verfahren der eingangs angegebenen Arten so weiterzubilden, daß bei Gewährleistung einer einfachen Bauweise bzw. Fertigung und sicheren Kontaktierung eine preiswerte Herstellung möglich ist.The invention has for its object a test pin and a method of types specified at the outset so that while ensuring a simple Construction or manufacturing and secure contact an inexpensive manufacture is possible.

Diese Aufgabe wird durch die Merkmale des Anspruchs 1 und 27 gelöst.This object is solved by the features of claims 1 and 27.

Beim erfindungsgemäßen Prüfstift besteht der Prüfstiftkopf aus einem besonderen Teil aus elektrisch nicht leitendem Material, das der Prüfstiftschaft in einem Durchgangsloch durchsetzt. Hierdurch ist es möglich, die Prüfstifte oder die Aufnahmelöcher im Prüfadapter oder die Kontaktinseln in einem geringeren Abstand voneinander anzuordnen, da ein Sicherheitsabstand zwischen den Prüfstiftköpfen wegen deren mangelnder elektrischer Leitfähigkeit nicht mehr eingehalten zu werden braucht. Selbst eine so verringerte Anordnung der Prüfstifte, daß ihre Prüfstiftköpfe einander berühren, ist wegen der mangelnden Leitfähigkeit unschädlich und kann verwirklicht werden. Weitere Vorteile der erfindungsgemäßen Ausgestaltung bestehen darin, daß der Prüfstiftkopf nicht nur aus preiswerterem Material als der Prüfstiftschaft hergestellt werden kann, sondern der Prüfstiftkopf läßt sich auch entweder als separates Bauteil vorfertigen oder auf dem Prüfstiftschaft anformen, insbesondere angießen oder anspritzen, was einfacher und preiswerter zu verwirklichen ist, als eine Anformung aus dem gleichen Material, aus dem der Prüfstiftschaft besteht. Dabei wird eine gute Kontaktierung im Bereich des Prüfstiftkopfes erreicht, weil der Prüfstiftschaft den Prüfstiftkopf durchsetzt und am Kopfende eine Kontaktfläche bildet, die mit dem zugehörigen Prüfkontakt einer Prüfvorrichtung in einfache Weise erreicht und kontaktiert werden kann.In the test pin according to the invention, the test pin head consists of a special part Made of electrically non-conductive material that the test pin stem in a through hole enforced. This makes it possible to insert the test pins or the mounting holes in the Test adapter or the contact islands at a closer distance from each other to be arranged because of a safety distance between the probe heads because of their lack of electrical conductivity no longer needs to be observed. Self such a reduced arrangement of the test pins that their test pin heads touch each other, is harmless due to the lack of conductivity and can be implemented. Further advantages of the configuration according to the invention are that the Probe head not only made of cheaper material than the probe stem can be, but the test pin head can also be either as a separate component prefabricate or mold on the test pen shaft, in particular pour or injection molding, which is easier and cheaper to implement than a molding the same material that the test pen shaft is made of. It will be a good one Contacting in the area of the test pin head reached because the test pin shaft Pen pin penetrates and forms a contact surface at the head end, which with the associated test contact of a test device in a simple manner and can be contacted.

Im Rahmen der Erfindung ist es möglich, den Prüfstiftkopf in unterschiedlichen Querschnittsformen zu realisieren. Es ist vorteilhaft, die der Prüfspitze des Prüfstifts zugewandte Seite des Prüfstiftkopfes gerundet insbesondere halbkugelförmig auszugestalten, um auch bei einer Schräglage des Prüfstifts im Prüfadapter eine gute Anlage am oberen Rand des zugehörigen Aufnahmelochs zu erreichen. Vorzugsweise wird der Prüfstiftkopf in einer kugelrunden Form verwirklicht.Within the scope of the invention it is possible to have the test pin head in different Realize cross-sectional shapes. It is advantageous to use the probe tip of the probe facing side of the test pin head rounded in particular hemispherical to design a good one even when the test pin is inclined in the test adapter To reach the system at the top of the associated receiving hole. Preferably the test pin head is realized in a spherical shape.

Im Rahmen der Erfindung gibt es verschiedene Möglichkeiten, den Prüfstiftkopf auf dem Prüfstiftschaft zu befestigen. Ein Angießen oder Anspritzen des Prüfstiftkopfes ist besonders vorteilhaft, weil es keiner Vorfertigung und auch keiner hierdurch vorgegebenen Lagerung des Prüfstiftkopfes bedarf und außerdem eine sichere Befestigung zwischen dem Prüfstiftschaft und dem Prüfstiftkopf erreicht wird.Within the scope of the invention, there are various options for opening the test pin head attach to the test pen shaft. Casting or spraying the test pin head is particularly advantageous because there is no prefabrication and none predetermined storage of the test pin head also requires a safe Attachment between the probe shaft and the probe head is achieved.

Das erfindungsgemäße Verfahren zeichnet sich durch einfache und sichere Verfahrensschritte aus, die sich mit geringem Verfahrens- und Zeitaufwand realisieren lassen, so daß sich nicht nur kostengünstige Prüfstifte herstellen lassen sondern auch Prüfstifte, die sich durch einen geringen Materialaufwand, geringes Gewicht, gute Festigkeit und eine sichere Kontaktierung auszeichnen. Diese Vorteile gelten auch für den Prüfstift selbst, da es möglich ist, ihn auch durch ein anderes als das erfindungsgemaße Verfahren herzustellen.The inventive method is characterized by simple and safe Process steps that can be implemented with little effort and time can, so that not only inexpensive test pins can be produced but also Test pins that are characterized by a low cost of materials, light weight, good Characterize strength and reliable contact. These advantages also apply to the test pen itself, as it is possible to use a pen other than that to produce methods according to the invention.

Nachfolgend werden die Erfindung und weitere durch sie erzielbare Vorteile anhand einer Zeichnung und bevorzugter Ausführungsbeispiele näher erläutert. Es zeigtThe invention and further advantages achievable by it are described below a drawing and preferred embodiments explained in more detail. It shows

Fig. 1 einen erfindungsgemäßen Prüfstift in der Seitenansicht; Fig. 1 shows a test probe according to the invention in side view;

Fig. 2 die in Fig. 1 mit X gekennzeichnete Einzelheit in vergrößerter Darstellung, teilweise geschnitten; FIG. 2 is marked in Fig 1 with X detail in an enlarged view, partly in section.

Fig. 3 eine Gießform zum Herstellen eines Prüfstiftkopfes im Schnitt; FIG. 3 shows a mold for producing a Prüfstiftkopfes in section;

Fig. 4 einen oder zwei Prüfadapter mit erfindungsgemäßen Prüfstiften im Schnitt. Fig. 4 one or two test adapters with test pins according to the invention in section.

Der Prüfstift 1 besteht aus zwei separaten Teilen, nämlich einem Prüfstiftschaft 2 und einem Prüfstiftkopf 3, der in dem der Prüfstiftspitze 4 abgewandten Endbereich des Prüfstiftschaftes 2 auf bzw. an letzterem befestigt ist. The test pin 1 consists of two separate parts, namely a test pin shaft 2 and a test pin head 3 which is fastened on or to the latter in the end region of the test pin shaft 2 facing away from the test pin tip 4 .

Bei der Ausgestaltung nach Fig. 1 ist der Prüfstiftschaft 2 durchgehend, d. h. mit gleichbleibender Querschnittsform und -größe, zylindrisch in Form einer dünnen Nadel mit einem Durchmesser d von vorzugsweise etwa 0,15 mm bis 0,5 mm, insbesondere etwa 0,25 mm, ausgebildet. Der in seiner Querschnittsform vorzugsweise kugelrunde Prüfstiftkopf 3 besteht aus elektrisch nicht leitendem Material, insbesondere Kunststoff, und er weist ein mittiges Durchgangsloch 5 in einer der Querschnittsgröße des Prüfstiftschaftes 2 entsprechenden Querschnittsgröße auf, mit dem er auf dem Prüfstiftschaft 2 sitzt und darauf unlösbar befestigt ist. Der Prüfstiftkopf 3 kann dabei so angeordnet sein, daß seine der Prüfstiftspitze 4 abgewandte Seite mit der zugehörigen Stirnfläche 6 des Prüfstiftschaftes 2 abschließt, wobei die Stirnfläche 6 eine frei zugängliche Kontaktfläche bildet. Vorzugsweise überragt der Prüfstiftschaft 2 den Prüfstiftkopf 3 geringfügig um das Maß a bis zu etwa 1 mm, insbesondere um etwa 0,5 mm. Hierdurch wird die Kontaktsicherheit verbessert, so daß auch bei einer Verschmutzung des Prüfstiftkopfes, die sich zwischen den Prüfstiftkopf 3 und einem nur in Fig. 4 dargestellten, zugehörigen Prüfkontakt sichern könnte, eine sichere Kontaktierung gewährleistet ist.In the embodiment according to FIG. 1, the test pin shaft 2 is continuous, ie with a constant cross-sectional shape and size, cylindrical in the form of a thin needle with a diameter d of preferably approximately 0.15 mm to 0.5 mm, in particular approximately 0.25 mm , educated. The test pin head 3 , which is preferably spherical in its cross-sectional shape, consists of electrically non-conductive material, in particular plastic, and it has a central through-hole 5 in a cross-sectional size corresponding to the cross-sectional size of the test pin shaft 2 , with which it sits on the test pin shaft 2 and is permanently attached to it. The test pin head 3 can be arranged such that its side facing away from the test pin tip 4 ends with the associated end face 6 of the test pin shaft 2 , the end face 6 forming a freely accessible contact area. The test pin shaft 2 preferably projects slightly beyond the test pin head 3 by a dimension of up to approximately 1 mm, in particular by approximately 0.5 mm. This improves the contact reliability, so that reliable contact is ensured even when the test pin head is contaminated, which could secure itself between the test pin head 3 and an associated test contact shown only in FIG. 4.

Die Querabmessung des Prüfstiftkopfes 3, hier sein Durchmesser beträgt etwa 1 bis 2 mm, insbesondere etwa 1 ,4 mm.The transverse dimension of the test pin head 3 , here its diameter, is approximately 1 to 2 mm, in particular approximately 1.4 mm.

Die Prüfstiftspitze 4 ist durch eine kegelförmige Anspitzung des zylindrischen Prüfstiftschaftes 2 gebildet. Der Kegelwinkel w beträgt etwa 15 bis 90°, insbesondere etwa 30 bis 45°.The test pin tip 4 is formed by a conical tapering of the cylindrical test pin shaft 2 . The cone angle w is approximately 15 to 90 °, in particular approximately 30 to 45 °.

Zur Befestigung des Prüfstiftkopfes 3 auf dem Prüfstiftschaft 2 können verschiedene Maßnahmen vorgesehen sein.Various measures can be provided for fastening the test pin head 3 to the test pin shaft 2 .

Es ist möglich, den Prüfstiftkopf 3 mit einem Durchgangsloch entsprechenden Querschnitts vorzufertigen und fest mit dem Prüfstiftschaft 2 zu verbinden, z. B. durch Kleben oder Ein- bzw. Aufpressen.It is possible to prefabricate the test pin head 3 with a through hole of corresponding cross section and to connect it firmly to the test pin shaft 2 , e.g. B. by gluing or pressing or pressing.

Bei einer bevorzugten Befestigung ist der Prüfstiftkopf 3 auf dem Prüfstiftschaft 2 angeformt oder aufgespritzt. Bei dieser Ausgestaltung bedarf es keiner Vorfertigung und auch keiner Lagerhaltung des Prüfstiftkopfes 3.In the case of a preferred fastening, the test pin head 3 is molded onto or molded onto the test pin shaft 2 . With this configuration, there is no need for prefabrication or storage of the test pin head 3 .

Die Aufspritzung kann in einem Spritzwerkzeug 7 erfolgen, das in Fig. 3 vereinfacht dargestellt ist. Das Spritzwerkzeug 7 weist eine Spritzform 8 mit zwei Formhälften 8a, 8b auf, die symmetrisch einen der Form des Prüfstiftkopfes 3 entsprechenden Formraum 9, hier einen kugelrunden Formraum, begrenzen, wobei die Teilungsfuge 11 in einer den Mittelpunkt der Kugelform schneidenden Ebene liegen. In den Teilungsfugenflächen 11a, 11b befinden sich halbkreisförmige Aufnahmenuten 12a, 12b, deren Radius dem Radius des Prüfstiftschaftes 2 entspricht. Der Prüfstiftschaft 2 ist somit zwischen den Formhälften 8a, 8b einlegbar bzw. in wenigstens ein Nutenpaar einschiebbar, wobei die Formhälften den Prüfstiftschaft 2 im wesentlichen dicht umschließen und den Formraum 9 um den Prüfstiftschaft 2 herum begrenzen. In dieser Stellung kann durch eine Zuführungsleitung 12 flüssiger Kunststoff unter Druck von einer Plastifiziervorrichtung 13 durch einen mit der Zuführungsleitung 12 in Verbindung stehenden Kanal 14 in der Wandung der Spritzform 8 in den Formraum 9 eingespritzt werden. Die im Formraum 9 vorhandene Luft kann durch durch die vorhandenen geringen Spalte zwischen den Formhälften 8a, 8b und dem Prüfstiftschaft 2 entweichen, oder es kann auch ein bekanntes Steigloch in der Wandung der Spritzform 8 vorgesehen sein, durch die die Luft entweichen kann und die aus Vereinfachungsgründen nicht dargestellt ist. Nach dem Spritzvorgang und einer gewissen Abkühlung werden die Formhälften 8a, 8b voneinander getrennt, was durch eine nicht dargestellte Vorrichtung erfolgen kann. Danach kann der Prüfstiftschaft 2 mit dem fertiggeformten Prüfstiftkopf 3 entnommen werden.The injection can take place in an injection mold 7 , which is shown in simplified form in FIG. 3. The injection mold 7 has an injection mold 8 with two mold halves 8 a, 8 b, which symmetrically delimit a mold space 9 corresponding to the shape of the test pin head 3 , here a spherical mold space, the dividing joint 11 lying in a plane intersecting the center of the spherical shape. In the dividing joint surfaces 11 a, 11 b there are semicircular receiving grooves 12 a, 12 b, the radius of which corresponds to the radius of the test pin shaft 2 . The Prüfstiftschaft 2 is thus between the mold halves 8 a, 8 b or insertable into at least one pair of grooves insertable, said mold halves tightly enclose the Prüfstiftschaft 2 and substantially limit the molding space 9 around the Prüfstiftschaft 2 around. In this position, liquid plastic 12 of the mold, by a supply line under pressure from a plasticizing device 13 are injected into the mold space 9 8 by a communicating with the supply line 12 channel 14 in the wall. The air present in the mold space 9 can escape through the small gaps between the mold halves 8 a, 8 b and the test pin shaft 2 , or a known riser hole can also be provided in the wall of the injection mold 8 , through which the air can escape and which is not shown for reasons of simplification. After the spraying process and a certain cooling, the mold halves 8 a, 8 b are separated from each other, which can be done by a device, not shown. Then the test pin shaft 2 with the fully formed test pin head 3 can be removed.

Um auch bei hohen Temperaturschwankungen einen festen Sitz des aufgespritzten Prüfstiftkopfes 3 zu gewährleisten, ist es vorteilhaft eine formschlüssig wirksame Verbindung bzw. Verankerung 15 zwischen dem Prüfstiftschaft 2 und dem Prüfstiftkopf vorzusehen, die beim Aufspritzen selbsttätig gebildet wird und von hoher Festigkeit ist. Diese Verankerung 15 wird durch einen Vorsprung oder eine Ausnehmung am Prüfstiftschaft 2 in dem Bereich gebildet, in dem der Prüfstiftkopf 3 aufgespritzt wird. Ein solcher Vorsprung und/oder eine solche Ausnehmung können durch eine Quetschung oder eine Eindrückung, z. B. mittels eines Körners (nicht dargestellt), am Prüfstiftschaft 2 ausgebildet werden. Beim Aufspritzen des Prüfstiftkopfes 3 dringt der flüssige Kunststoff in die Ausnehmung 16 ein oder ein Vorsprung wird vom flüssigen Kunststoff umspritzt, so daß die Verankerung 15 selbsttätig gebildet wird.In order to ensure a tight fit of the sprayed test pin head 3 even in the case of high temperature fluctuations, it is advantageous to provide a form-fitting connection or anchoring 15 between the test pin shaft 2 and the test pin head, which is formed automatically when sprayed on and is of high strength. This anchoring 15 is formed by a projection or a recess on the test pin shaft 2 in the area in which the test pin head 3 is sprayed on. Such a projection and / or such a recess can be caused by a pinch or indentation, for. B. by means of a grain (not shown) on the probe shaft 2 are formed. When the test pin head 3 is sprayed on, the liquid plastic penetrates into the recess 16 or a projection is encapsulated by the liquid plastic, so that the anchoring 15 is formed automatically.

Der Prüfstiftschaft 2 besteht aus einem harten elektrisch leitendem Material, vorzugsweise hartem oder gehärtetem Stahl. Die Oberfläche oder zumindest die Mantelfläche des Prüfstiftschaftes 2 ist sehr glatt, was durch Polieren erreicht werden kann. Vorzugsweise ist die Oberfläche oder wenigstens die Mantelfläche mit einer dünnen Schicht aus korrosionsfestem Material insbesondere Metall beschichtet. Hierzu eignet sich Nickel und/oder Gold. Bei der vorliegenden Ausgestaltung ist die Oberfläche oder zumindest die Mantelfläche zweischichtig beschichtet, vorzugsweise vernickelt und dann vergoldet.The test pin shaft 2 consists of a hard electrically conductive material, preferably hard or hardened steel. The surface or at least the outer surface of the test pin shaft 2 is very smooth, which can be achieved by polishing. The surface or at least the outer surface is preferably coated with a thin layer of corrosion-resistant material, in particular metal. Nickel and / or gold is suitable for this. In the present embodiment, the surface or at least the outer surface is coated in two layers, preferably nickel-plated and then gold-plated.

Fig. 4 zeigt zwei von mehreren Prüfstiften 1 in einem Prüfadapter 21 aus elektrisch nicht leitendem Material, insbesondere Kunststoff, der an oder auf einer zu prüfenden Leiterplatte 22 an- bzw. aufliegt. Die Prüfstifte 1 sind in den Prüfadapter 21 quer zur Leiterplatte 22 durchsetzenden Aufnahmelöchern 23 aufgenommen, wobei die Prüfstiftköpfe 3 auf dem oberen Rand des Aufnahmelochs 23 aufliegen und so lang bemessen sind, daß die Prüfstiftspitze 4 den Prüfadapter 21 geringfügig überragt (siehe Maß Ü in Fig. 1) und somit die zugehörige Kontaktinsel (pad) 24 an der Leiterplatte 22 kontaktieren kann. Auf der der Leiterplatte 22 abgewandten Seite des Prüfadapters 21 ist einer Prüfvorrichtung 25 zugeordneter elektrischer Prüfmodul 26 angeordnet, von dem Prüfkontakte 27 vorragen, die vorzugsweise längsverschiebbar gelagert und durch eine Federkraft nach außen, d. h. in Richtung auf die Prüfstifte 1, elastisch vorgespannt sind und im Betrieb mit der Federkraft gegen die Kontaktflächen bzw. Stirnflächen 6 der Prüfstifte 1 drücken. Dabei können z. B. aufgrund der Anlage des Prüfadapters 21 an der Leiterplatte 22 die Prüfstiftköpfe 3 von den Rändern der Aufnahmelöcher 23 abheben, so daß die Prüfstiftspitzen 4 mit Federspannung gegen die Kontaktinseln 24 vorgespannt sind. FIG. 4 shows two of a plurality of test pins 1 in a test adapter 21 made of electrically non-conductive material, in particular plastic, which rests or rests on or on a printed circuit board 22 to be tested. The test pins 1 are received in the test adapter 21 transversely to the circuit board 22 receiving holes 23 , the test pin heads 3 rest on the upper edge of the receiving hole 23 and are dimensioned so long that the test pin tip 4 slightly protrudes over the test adapter 21 (see dimension Ü in Fig thus, the corresponding contact pad (pad) 24 can contact to the printed circuit board 22. 1) and. On the side of the test adapter 21 facing away from the printed circuit board 22 , an electrical test module 26 associated with a test device 25 is arranged, from which test contacts 27 protrude, which are preferably mounted in a longitudinally displaceable manner and are elastically prestressed by a spring force to the outside, ie in the direction of the test pins 1 and in Press operation with the spring force against the contact surfaces or end surfaces 6 of the test pins 1 . Here, for. B. due to the system of the test adapter 21 on the circuit board 22, the test pin heads 3 lift off from the edges of the receiving holes 23 , so that the test pin tips 4 are spring-loaded against the contact islands 24 .

Normalerweise befinden sich die Prüfkontakte 27 in einem vorgegebenen Raster. Die Kontaktinseln 24 an der Leiterplatte 22 können dagegen sowohl im Raster als auch außer Raster angeordnet sein. Hierdurch ergeben sich jeweils Aufnahmebohrungen 23, die sich gerade oder schräg erstrecken. Ein im geraden Aufnahmeloch 23 sitzender Prüfstift 1 kontaktiert eine Kontaktinsel 24 im Raster, während ein schräger Prüfstift 1 eine außer Raster angeordnete Kontaktinsel 24 kontaktiert.The test contacts 27 are normally located in a predetermined grid. The contact islands 24 on the printed circuit board 22 , on the other hand, can be arranged both in the grid and outside the grid. This results in receiving bores 23 which extend straight or obliquely. A seated in the straight receiving hole 23 test pin 1 contacts a contact pad 24 in the grid contacts a grid disposed apart from pad 24 during an inclined test pin. 1

Bei der vorliegenden Ausgestaltung ist der Prüfadapter 21 ein Mehrplattenadapter, mit vorzugsweise drei übereinander und einen Abstand voneinander aufweisenden Adapterplatten 21a, 21b, 21c, die durch Distanzstücke voneinander distanziert und miteinander verbunden sind. Die Positionszahlen 23 für die in den Adapterplatten 21a, 21b, 21c vorhandenen Lochabschnitte sind mit entsprechenden Buchstaben ergänzt. Die Lochabschnitte 23a, 23b, 23c sind sowohl bei der geraden Erstreckung als auch bei der schrägen Erstreckung durch sich rechtwinklig in der zugehörigen Adapterplatte erstreckende Löcher gebildet. Bei einem schrägen Aufnahmeloch 23 müssen die zugehörigen Lochabschnitte 23a, 23b, 23c dem Querschnitt entsprechend größer bemessen sein, damit der zugehörige Prüfstift 1 eingeschoben werden kann, wobei er an gegenüberliegenden Randabschnitten der zugehörigen Lochabschnitte 23a, 23b, 23c anliegt bzw. daran geführt ist.In the present embodiment, the test adapter 21 is a multi-plate adapter, preferably with three adapter plates 21 a, 21 b, 21 c, one above the other and at a distance from one another, which are spaced apart and connected to one another by spacers. The position numbers 23 for the hole sections present in the adapter plates 21 a, 21 b, 21 c are supplemented with corresponding letters. The hole sections 23 a, 23 b, 23 c are formed both in the straight extension and in the oblique extension by holes extending at right angles in the associated adapter plate. With an oblique insertion hole 23, the corresponding hole portions 23 have a, 23 b, 23 c be dimensioned correspondingly larger the cross-section, so that the associated test pin 1 can be inserted, whereby it abuts against the opposite edge portions of the respective hole portions 23 a, 23 b, 23 c or is performed on it.

Wie Fig. 4 zeigt, können auch zu beiden Seiten der Leiterplatte 22 zwei Prüfadapter 21a, 21b in spiegelbildlicher Position vorgesehen und in der Prüfvorrichtung 25, 26 gehalten sein, sofern der eine Prüfadapter 21b unter der Leiterplatte 22 angeordnet ist, ist an dessen Unterseite ein plattenförmiges Halteelement 31 aus elektrisch nicht leitendem Material anzuordnen, das die Prüfstiftköpfe 3 untergreift und und gegen ein Herausfallen sichert und aus einer Folie, insbesondere aus Kunststoff, bestehen kann, deren Dichte d1 ist. Bei einer solchen Ausgestaltung ist bei einem starren Halteelement 31 ein Abstand b von der zugehörigen gegenüberliegenden Seite des Prüfadapters 21b vorzusehen, derAs shown in FIG. 4, two test adapters 21 a, 21 b can also be provided in a mirror image position on both sides of the printed circuit board 22 and held in the test device 25 , 26 , provided that one test adapter 21 b is arranged under the printed circuit board 22 is on the underside of which is to arrange a plate-shaped holding element 31 made of electrically non-conductive material, which engages under the test pin heads 3 and secures them against falling out and can consist of a film, in particular made of plastic, the density of which is d1. With such a configuration, a distance b from the associated opposite side of the test adapter 21 b is to be provided in the case of a rigid holding element 31

b oder < d + üb or <d + ü

entspricht. Dabei könntecorresponds. It could

a < üa <ü

oderor

a oder < ü + d1a or <ü + d1

sein.his.

Bei einem festen Halteelement 31 sind darin Löcher 32 für die Prüfstiftschaftüberstände a vorzusehen. Eine Folie kann auch von den Überständen a durchstoßen sein.In the case of a fixed holding element 31 , holes 32 are to be provided for the test pin shaft protrusions a. A protrusion can also be penetrated by a film.

Die Erfindung bezieht sich auch auf ein vorteilhaftes Verfahren zum Befestigen des Prüfstiftkopfes 3 auf den Prüfstiftschaft 2 und/oder zum Herstellen des Prüfstiftes 1. Das Anspritzen des Prüfstiftkopfes 3 erfolgt vorzugsweise nach der Oberflächenbehandlung bzw. -beschichtung des Prüfstiftschaftes 2 insbesondere als letzter Verfahrensschritt.The invention also relates to an advantageous method for attaching the test pin head 3 to the test pin shaft 2 and / or for producing the test pin 1 . The test pin head 3 is preferably molded on after the surface treatment or coating of the test pin shaft 2, in particular as the last method step.

Im folgenden werden vorteilhafte Verfahrensschritte zur Herstellung des Prüfstiftes 1 nacheinander aufgezählt, wobei die Prüfstifte von einem geraden oder aufgerollten Draht abgezogen, abgelängt und weiter verarbeitet werden.In the following, advantageous method steps for producing the test pin 1 are enumerated one after the other, the test pins being pulled off a straight or rolled-up wire, cut to length and processed further.

Richten des Drahtes. Straightening the wire.

Ablängen des Drahtes vor oder nach dem Richten.Cut the wire to length before or after straightening.

Anbringen eines Vorsprungs und/oder einer Ausnehmung am Prüfstiftschaft 2 im Bereich des Sitzes des Prüfstiftkopfes 3, z. B. durch Quetschen oder Eindrücken vor oder nach dem Ablängen.Attaching a projection and / or a recess on the test pin shaft 2 in the area of the seat of the test pin head 3 , for. B. by squeezing or pressing in before or after cutting to length.

Härten des Prüfstiftschaftes 2, sofern ein härtbarer Stahl verwendet wird.Hardening the test pin shaft 2 if a hardenable steel is used.

Anschleifen der Prüfstiftspitze vor oder nach dem Härten, sofern ein härtbarer Werkstoff verwendet wird.Grind the test pen tip before or after hardening, if a hardenable material is used.

Oberflächenbehandlung, z. B. Polieren und/oder Beschichten, vorzugsweise Vernickeln und Vergolden.Surface treatment, e.g. B. polishing and / or coating, preferably nickel plating and gilding.

Anformen bzw. Anspritzen des Prüfstiftkopfes 3.Forming or injection molding the test pin head 3 .

Claims

1. test pin ( 1 ) for a test adapter ( 21 ) for testing printed circuit boards ( 22 ), consisting of a test pin shaft ( 2 ) made of electrically conductive material, which has a test pin head ( 3 ) next to one end, characterized in that the test pin head ( 3 ) is a special component attached to the test pin shaft ( 2 ) and consists of electrically non-conductive material.

That the Prüfstiftkopf (3) has a cross-sectional size of the Prüfstiftschaftes (2) corresponding through hole (5) 2. test pin according to claim 1, characterized in that sitting and with this through hole on the Prüfstiftschaft (2).

3. Test pin according to claim 1 or 2, characterized in that the test pin head ( 3 ) is arranged at a distance (a) from the associated end of the test pin shaft ( 2 ).

4. test pin according to claim 3, characterized, that the distance (a) is about 0.1 to 1 mm, preferably about 0.5 mm.

5. Test pin according to one of the preceding claims, characterized in that the test pin head ( 3 ) consists of plastic.

6. Test pin according to one of the preceding claims, characterized in that the test pin head ( 3 ) is permanently attached to the test pin shaft ( 2 ).

7. Test pin according to one of the preceding claims, characterized in that the test pin head ( 3 ) is integrally formed, in particular by injection molding.

8. Test pin according to one of the preceding claims, characterized in that the test pin shaft ( 2 ) is cylindrical at least in the region of the test pin head ( 3 ), preferably over its entire length.

9. Test pin according to one of the preceding claims, characterized in that the test pin head ( 3 ) is positively connected to the test pin shaft ( 2 ).

10. Test pin according to one of the preceding claims, characterized in that the test pin head ( 3 ) and / or the test pin shaft ( 2 ) in the region of the test pin head ( 3 ) has a radial projection and / or a recess ( 16 ).

11. Test pin according to claim 10, characterized in that the projection and / or the recess ( 16 ) is or are formed by an indentation or crushing of the test pin shaft ( 2 ).

12. Test pin according to one of the preceding claims, characterized in that the test pin head ( 3 ) is rounded on its side facing away from the associated end of the test pin shaft ( 2 ), preferably rounded in a hemispherical manner.

13. Test pin according to claim 12, characterized in that the test pin head ( 3 ) is rounded spherically.

14. Test pin according to one of the preceding claims, characterized in that the end of the test pin shaft ( 2 ) facing away from the test pin head ( 3 ) is pointed.

15. Test pin according to claim 14 characterized, that the point has a conical shape.

16. test pin according to claim 15, characterized, that the cone angle is about 10 to 60 degrees, especially about 30 degrees.

17. Test pin according to one of the preceding claims, characterized in that the surface or the outer surface of the test pin shaft ( 2 ) is polished.

18. test pin according to one of the preceding claims, characterized, that the surface or the outer surface of the probe stem simple or is coated several times, in particular twice.

19. Test pin according to one of the preceding claims, characterized in that the test pin shaft ( 2 ) consists of steel, in particular alloy steel or hardened steel.

20. test pin according to claim 18 or 19, characterized, that the coating is made of metal.

21. test pin according to claim 20, characterized, that the coating consists of nickel and / or gold.

22. Test pin according to one of the preceding claims, characterized in that the test pin shaft ( 2 ), which is round in cross section, has a diameter of 0.1 to 0.5 mm, preferably approximately 0.25 mm.

23. Test pin according to one of the preceding claims, characterized in that the transverse dimension of the test pin head ( 3 ) is approximately 1 to 2 mm, in particular approximately 1.4 mm.

24. Test adapter ( 21 ) for testing printed circuit boards ( 22 ) in a printed circuit board test device ( 25 ) with a plurality of continuous receiving holes ( 23 ) for test pins ( 1 ), characterized by, test pins ( 1 ) according to at least one of the preceding claims.

25. Test adapter according to claim 24, characterized in that it at a distance (b) from the head side of the test adapter ( 21 b) a test pin heads ( 3 ) overlapping plate or film-shaped securing element ( 31 ) with holes ( 32 ) for the test pin shaft protrusions (a).

26. Test adapter according to claim 24 or 25, characterized in that it is a multi-plate adapter with preferably three or four adapter plates ( 21 a, 21 b, 21 c, 31 ).

27. A method for producing a test pin ( 1 ) for a test adapter ( 21 ) for testing printed circuit boards ( 22 ), the test pin ( 1 ) having a test pin shaft ( 2 ) and in one end region thereof a test pin head ( 3 ), characterized in that that the Prüfstiftkopf (3) is produced as a special component and connected to the partial or complete preparation of the Prüfstiftschaftes (2) with the Prüfstiftschaft (3).

28. The method according to claim 27, characterized in that the test pin head ( 3 ) on the test pin shaft ( 2 ) is formed, in particular by injection molding.

29. The method according to claim 27 or 28, characterized by the use of an electrically non-conductive material, in particular plastic, for the test pin head ( 3 ).

30. The method according to any one of the preceding claims, characterized in that in the region of the seat for the test pin head ( 3 ) on the test pin shaft ( 2 ) a radial projection and / or a recess ( 16 ) is formed or molded, in particular by squeezing or pressing , and then the test pin head ( 3 ) is formed.

31. The method according to any one of the preceding claims, characterized in that the test pin shaft ( 2 ) is cut to length from a straight or rolled long wire and the wire is directed before or after cutting to length.

32. The method according to any one of the preceding claims, characterized in that the the Prüfstiftkopf (3) facing away from the end of the Prüfstiftschafts (2) is pointed, in particular by grinding.

33. The method according to any one of the preceding claims, characterized in that hardenable steel is used for the test pin shaft ( 2 ) and the test pin shaft is hardened.

34. The method according to claim 30, characterized in that the surface or the outer surface of the test pin shaft ( 2 ) is surface treated, in particular is polished.

35. The method according to any one of the preceding claims, characterized in that the surface or the outer surface of the test pin shaft ( 2 ) is coated once or twice, in particular with metal, preferably nickel and / or gold.

36. The method according to any one of the preceding claims 28 to 35, characterized in that the molding of the test pin head ( 3 ) is carried out as the last manufacturing step after one of the aforementioned manufacturing steps or all manufacturing steps.