DE60021705D1 - Verfahren und integrierte schaltung gestaltet zur beschickung eines prüfmusters auf einen einzelnen gemeinsamen anschlussstift - Google Patents

Verfahren und integrierte schaltung gestaltet zur beschickung eines prüfmusters auf einen einzelnen gemeinsamen anschlussstift

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    • G01R31/317—Testing of digital circuits
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Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7157813B2 (en) * 2003-10-03 2007-01-02 Power Integrations, Inc. Method and apparatus for mode selection for high voltage integrated circuits
DE102004016387A1 (de) * 2004-04-02 2005-10-27 Texas Instruments Deutschland Gmbh Schnittstellenschaltung für einen einzelnen Logik-Eingangspin eines elektronischen Systems
CN101128803B (zh) * 2005-02-24 2013-06-26 密克罗奇普技术公司 启用数字装置中的特殊模式
US7526693B1 (en) * 2006-03-09 2009-04-28 Semiconductor Components Industries, Llc Initial decision-point circuit operation mode
US9159420B1 (en) * 2011-08-16 2015-10-13 Marvell Israel (M.I.S.L) Ltd. Method and apparatus for content addressable memory parallel lookup
CN117095729B (zh) * 2023-10-17 2023-12-26 江苏帝奥微电子股份有限公司 一种用于芯片测试模式的单Pin输入控制码产生电路

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58207648A (ja) * 1982-05-28 1983-12-03 Toshiba Corp 集積回路のテストモ−ド設定回路
JPS60131480A (ja) * 1983-12-20 1985-07-13 Sharp Corp マルチモ−ドテスト回路
JP2552103B2 (ja) * 1983-12-28 1996-11-06 セイコーエプソン株式会社 半導体集積回路
JPH0353316Y2 (de) * 1987-03-18 1991-11-21
JP2561164B2 (ja) * 1990-02-26 1996-12-04 三菱電機株式会社 半導体集積回路
US5161159A (en) * 1990-08-17 1992-11-03 Sgs-Thomson Microelectronics, Inc. Semiconductor memory with multiple clocking for test mode entry
JPH052052A (ja) * 1991-06-26 1993-01-08 Nec Ic Microcomput Syst Ltd 半導体装置のテスト信号発生回路
US5198758A (en) * 1991-09-23 1993-03-30 Digital Equipment Corp. Method and apparatus for complete functional testing of a complex signal path of a semiconductor chip
JPH05256913A (ja) * 1992-03-11 1993-10-08 Oki Electric Ind Co Ltd 半導体集積回路装置
US5457400A (en) * 1992-04-10 1995-10-10 Micron Technology, Inc. Semiconductor array having built-in test circuit for wafer level testing
US6101457A (en) * 1992-10-29 2000-08-08 Texas Instruments Incorporated Test access port
US5726995A (en) * 1994-12-15 1998-03-10 Intel Corporation Method and apparatus for selecting modes of an intergrated circuit
US5798653A (en) * 1995-04-20 1998-08-25 Sun Microsystems, Inc. Burn-in system for reliable integrated circuit manufacturing

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