DE60024146T2 - Methode und apparatfür die gleichmä ige gaszufuhr zu substraten bei cvd und pecvd verfahren - Google Patents
Methode und apparatfür die gleichmä ige gaszufuhr zu substraten bei cvd und pecvd verfahren Download PDFInfo
- Publication number
- DE60024146T2 DE60024146T2 DE60024146T DE60024146T DE60024146T2 DE 60024146 T2 DE60024146 T2 DE 60024146T2 DE 60024146 T DE60024146 T DE 60024146T DE 60024146 T DE60024146 T DE 60024146T DE 60024146 T2 DE60024146 T2 DE 60024146T2
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- channels
- passages
- channel
- distribution
- showerhead
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 46
- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims description 20
- 238000000623 plasma-assisted chemical vapour deposition Methods 0.000 title description 10
- 230000008569 process Effects 0.000 claims abstract description 22
- 230000007704 transition Effects 0.000 claims abstract description 14
- 239000007789 gas Substances 0.000 claims description 127
- 238000009826 distribution Methods 0.000 claims description 62
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 claims description 25
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 claims description 18
- 238000000576 coating method Methods 0.000 claims description 9
- 239000002826 coolant Substances 0.000 claims description 8
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 claims description 6
- 238000007789 sealing Methods 0.000 claims description 3
- 238000005192 partition Methods 0.000 claims description 2
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 abstract 3
- 238000010791 quenching Methods 0.000 abstract 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 11
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 6
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 5
- 239000002243 precursor Substances 0.000 description 5
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 5
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 4
- 238000005094 computer simulation Methods 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 4
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 4
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 4
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 3
- 230000008859 change Effects 0.000 description 2
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 2
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 2
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 2
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 2
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 2
- 238000013461 design Methods 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 2
- 230000009257 reactivity Effects 0.000 description 2
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 2
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 2
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 238000005219 brazing Methods 0.000 description 1
- 239000012707 chemical precursor Substances 0.000 description 1
- 239000013626 chemical specie Substances 0.000 description 1
- 230000001276 controlling effect Effects 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 238000002716 delivery method Methods 0.000 description 1
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000004836 empirical method Methods 0.000 description 1
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 1
- 238000005304 joining Methods 0.000 description 1
- 238000004886 process control Methods 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 230000001052 transient effect Effects 0.000 description 1
- 238000003466 welding Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/44—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
- C23C16/455—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for introducing gases into reaction chamber or for modifying gas flows in reaction chamber
- C23C16/45563—Gas nozzles
- C23C16/45574—Nozzles for more than one gas
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/44—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
- C23C16/455—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for introducing gases into reaction chamber or for modifying gas flows in reaction chamber
- C23C16/45561—Gas plumbing upstream of the reaction chamber
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/44—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
- C23C16/455—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for introducing gases into reaction chamber or for modifying gas flows in reaction chamber
- C23C16/45563—Gas nozzles
- C23C16/45565—Shower nozzles
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/44—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
- C23C16/455—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for introducing gases into reaction chamber or for modifying gas flows in reaction chamber
- C23C16/45563—Gas nozzles
- C23C16/45572—Cooled nozzles
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/32—Gas-filled discharge tubes
- H01J37/32431—Constructional details of the reactor
- H01J37/3244—Gas supply means
Description
- TECHNISCHES GEBIET DER ERFINDUNG
- Die Erfindung betrifft das Gebiet des chemischen Aufdampfens (CVD) einschließlich der plasmaunterstützten chemischen Aufdampfung (PECVD) und verwandter Prozesse und betrifft insbesondere Verfahren und Vorrichtungen zur Steuerung der Flußgleichmäßigkeit für die Gaszufuhr.
- TECHNISCHER HINTERGRUND DER ERFINDUNG
- Auf dem Gebiet der Dünnschichttechnologie, die in großem Umfang bei der Herstellung integrierter Schaltkreise eingesetzt wird, war und ist der Bedarf an dünneren Beschichtungen, besserer Gleichmäßigkeit über größere Oberflächen und höheren Ausbeuten treibende Kraft für entstehende Technologien, die von Geräteherstellern entwickelt werden. Während Halbleiterbauelemente kleiner und schneller werden, steigt die Notwendigkeit größerer Gleichmäßigkeit und der Prozeßsteuerung der Schichtdicke, Gleichmäßigkeit, Widerstandsfähigkeit und anderer Schichteigenschaften dramatisch an.
- Dem Fachmann für das Aufbringen von Dünnschichten auf Substrate in Fertigungsschritten für integrierte Schaltkreise (ICs) sind verschiedene Technologien bekannt. Zu den etablierteren Technologien, die für das Aufbringen von Dünnschichten verfügbar sind, gehört das chemische Aufdampfen (CVD), welches das plasmaunterstützte chemische Aufdampfen (PECVD) einschließt. Dies sind flußabhängige Anwendungen, die eine bestimmte und gleichmäßige Substrattemperatur benötigen und erfordern, daß sich Vorläufer (chemische Spezies) in der Bearbeitungskammer in einem Zustand der Gleichmäßigkeit befinden, um gewünschte Dünnschichteigenschaften auf einer Substratoberfläche zu erzeugen. Diese Anforderungen werden mit zunehmender Größe des Substrats und abnehmender Bauelementgröße (d. h. Linienbreite) kritischer und schaffen eine Notwendigkeit größerer Komplexität der Kammerkonstruktion und der Gasströmungsverfahren, um eine angemessene Gleichmäßigkeit aufrechtzuerhalten.
- CVD-Systeme nutzen verschiedene bekannte Vorrichtungen zur Zuführung von Vorläufergasen zu Targetsubstraten. Allgemein gesagt, sind Gaszufuhrsystem für CVD- und PECVD-Prozesse speziell für eine bestimmte Anwendung und Substratgröße ausgelegt. Daher sind Veränderungen des Gegenstands solcher Abgabevorrichtungen und -verfahren von den jeweiligen Prozeßparametern und Substratgrößen abhängig, die in einem einzelnen Reaktionsbehälter verarbeitet werden. Gasverteiler und Diffusoren der Stand der Technik sind aus verschiedenen Materialien hergestellt worden und weisen sehr unterschiedliche Konstruktionen auf. Zum Beispiel sind bestimmte Gasabgabeverteiler lange Röhren, die entweder gerade oder spiralförmig sind und ein Vielzahl von kleinen, oft unterschiedlich bemessenen Gasabgabelöchern aufweisen, die in Längsrichtung in Abständen entlang dem Verteiler angeordnet sind. Die meisten Diffusoren und Brauseköpfe sind im Grunde ablenkplattenartige Strukturen mit einer Vielzahl von Löchern, die in kreisförmigen oder spiralförmigen Anordnungen auf einander gegenüberliegenden Platten oder Oberflächen angeordnet sind. Oft sind die Löcher in einer Reihe von Kreisen mit größer werdenden Radien auf jeder Platte enthalten. Häufig ist eine solche Vorrichtung nur an einen Prozeßtyp angepaßt und kann nicht bei anderen Prozessen eingesetzt werden, welche die gleiche CVD-Einrichtung nutzen.
- Ein Charakteristikum, das in CVD-Gaszuführeinrichtungen allgemein erforderlich ist, besteht darin, daß die Lochgrößen und der Abstand zwischen den Löchern genau kontrolliert werden, so daß über eine bestimmte Oberfläche eine gleichmäßige Gasverteilung oder -zone aufrechterhalten wird. Ungleichmäßige Gasströmung entsteht oft, wenn einige Löcher im Vergleich zu einer mittleren Größe unabsichtlich zu groß ausgeführt oder in falschen Positionen angeordnet werden. Wenn ein größeres Substrat in einer gleichen oder verschiedenen Kammer eingesetzt wird, dann muß die Gaszufuhreinrichtung oft gegen eine andere ausgetauscht werden, die entsprechend der Veränderung der Substratgröße und/oder der Kammerparameter ausgelegt und daran angepaßt ist. An den Verteiler- und Diffusorkonstruktionen vorgenommene Verbesserungen sind oft weitgehend von empirischen Methoden auf diesem Gebiet abhängig, die zu zahlreichen Fällen von Produktverbrauch durch Chargentests führen.
- Die gleichmäßige Gaszufuhr bleibt eine äußerst schwierige Aufgabe bei der CVD-Verarbeitung von Substraten. Wenn die Gleichmäßigkeit der Gaszufuhr nicht genau reguliert werden kann, wird die Schichtdicke nicht gleichmäßig sein. Das Problem nimmt seinen Fortgang mit größerer Targetgröße und dem Hinzufügen weiterer Schichten. Außerdem weisen viele zu beschichtende Substrate bereits eine komplexe Topologie auf, die eine Forderung nach gleichmäßiger Stufenüberdeckung auslöst. PECVD hat in vielen Fällen aufgrund der Zufuhr von stärker reaktiven chemischen Vorläufern, die durch das Plasma aktiviert werden, Vorteile gegenüber CVD. Bisher bieten jedoch Verfahren zur Gaszufuhr in CVD-Systemen, einschließlich PECVD-Systemen, viel Raum für Verbesserung.
- Ein Problem bei vielen Verteilerbrausekopfsystemen betrifft die begrenzte Gasströmungsdynamik und Steuerungsfähigkeit. Zum Beispiel überstreicht durch einen typischen Brausekopf abgegebenes Gas eine Verteilungszone innerhalb der Kammer, die durch eine Anordnung von im Brausekopf angeordneten Verteilungslöchern erzeugt wird. Wenn ein System für die Verarbeitung eines 200 mm-Wafers oder einer Wafercharge konstruiert ist, erzeugt die mit diesem System verbundene Gasverteilungsvorrichtung eine Zone, die für diese Größe optimal ist. Wenn die Wafergröße über die festgelegte Zonentauglichkeit eines bestimmten Brausekopfs hinaus vergrößert oder verkleinert wird, dann muß eine neue Verteilungsvorrichtung bereitgestellt werden, um sie an die neue Größe anzupassen. Typischerweise gibt es keine Vereinbarungen für die Bereitstellung von mehr als einigen Zonen oder für wechselnde Vorläuferzufuhr für Substrate verschiedener Größe in einem Prozeß.
- In einem Milieu, wo gewöhnlich unterschiedliche Substratgrößen verarbeitet werden, ist es erwünscht, daß Verteilungsmethoden und -vorrichtungen flexibler sind, so daß eine Mehrzonenverteilung an Substraten unterschiedlicher Größe unter Verwendung eines Brausekopfsysteme durchführbar ist. Dies würde weniger Stillstandszeit in Verbindung mit dem Austausch von Einrichtungen für unterschiedliche Situationen und bessere Gleichmäßigkeit durch Kombination und Abwechseln verschiedener Zonen während der Verteilung ermöglichen. Verteilungsverfahren und -vorrichtungen nach dem Stand der Technik erfüllen Anforderungen nach dieser Art Flexibilität nicht.
- Ein weiteres Problem bei dieser Technologie ist, daß verschiedene Gase mit unterschiedlichen Eigenschaften für einen bestimmten Prozeß vermischt werden. Es treten Schwankungen der Dichte, Temperatur, Reaktivität und dergleichen auf, so daß eine vollkommene Gleichmäßigkeit in Zusammensetzung und Dichte des Gasgemischs keine präzise Gleichmäßigkeit bei der Schichtabscheidung erzeugt. In einigen Verfahren wird zur Erzeugung der Schichtgleichmäßigkeit eine absichtliche Ungleichmäßigkeit der Gaszufuhr erforderlich sein.
- Was eindeutig benötigt wird, sind verbesserte Vorläuferzufuhreinrichtungen und -verfahren, die eine genaue und kombinierte Steuerung der Gasverteilung über mehrere Targetzonen in einem Reaktionsbehälter zulassen und mehrere Freiheitsgrade beim Vermischen, der Abgabe und der Gleichmäßigkeitskontrolle aufweisen. Ein solches System würde eine Fähigkeit bereitstellen, die Gasströmung so zu regulieren, daß eine Prozeßpunkt-Reaktionsgleichmäßigkeit erzielt werden kann, die eine hervorragende Gleichmäßigkeit der Schichteigenschaften liefert. Ein derartiges System kann so angepaßt werden, daß es bei vielen verschiedenen CVD- und PECVD-Anwendungen funktioniert.
- ZUSAMMENFASSUNG DER ERFINDUNG
- In einer bevorzugten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung wird eine Brausekopfverteilervorrichtung für ein CVD-Verfahren bereitgestellt, die aufweist: einen ersten Kanalbereich mit mehreren ersten unabhängigen radial-konzentrischen Kanälen und individuellen Gaszuflußöffnungen von einer ersten Seite der Vorrichtung zu individuellen ersten Kanälen; einen zweiten Kanalbereich mit mehreren zweiten unabhängigen radial-konzentrischen Kanälen und einer Struktur von Verteilungsdurchlässen von den zweiten Kanälen zu einer zweiten Seite der Vorrichtung; einen Übergangsbereich zwischen dem ersten Kanalbereich und dem zweiten Kanalbereich mit mindestens einem Übergangsgasdurchlaß zur Weiterleitung von Gas aus jedem ersten Kanal im ersten Bereich zu einem entsprechenden zweiten Kanal im zweiten Bereich; und eine Vakuumdichtungs-Schnittstelle für die Montage der Brausekopfvorrichtung an einer CVD-Reaktorkammer, so daß die erste Seite und die Zuflußöffnungen von der Reaktorkammer abgewandt sind und die zweite Seite und die von den zweiten Kanälen ausgehenden Verteilungsdurchlaßstrukturen in die Reaktorkammer münden.
- In bevorzugten Ausführungsformen weist die zweite Seite eine ebene Oberfläche auf, so daß die Verteilungsdurchlässe von den zweiten Kanälen auf einer Ebene in die Reaktorkammer münden. Außerdem weist in bevorzugten Ausführungsformen die Vakuumdichtungs-Schnittstelle einen Flansch mit Schraubenlöchern und einen O-Ring zur Montage und Abdichtung an einer Wand der Reaktorkammer auf.
- Zur Verbesserung der Gasverteilung und -vermischung sind in Ausführungsformen der Erfindung die Zuflußöffnungen zu den ersten Kanälen und die Übergangsdurchlässe von den ersten Kanälen in die zweiten Kanäle so gegeneinander versetzt, daß keine Zuflußöffnung auf einen Übergangsdurchlaß ausgerichtet ist. Bevorzugte Ausführungsformen weisen ferner Kühlmittelkanäle im zweiten Kanalbereich auf, die der Innenseite einer Reaktorkammer gegenüberliegen, um die Brausekopfvorrichtung gegen Hitze aus dem Inneren der Kammer zu schützen und Abscheidung der Prozeßschicht auf der Vorderseite des Brausekopfs zu erschweren.
- Nach einem anderen Aspekt der Erfindung wird ein CVD-Reaktorsystem bereitgestellt, das aufweist: eine Reaktorkammer mit einer Öffnung für eine Brausekopfvorrichtung; einen der Öffnung benachbarten Träger in der Kammer, wobei der Träger für ein zu verarbeitendes Substrat vorgesehen ist; und eine Brausekopfverteilervorrichtung für ein CVD-Verfahren, wobei der Brausekopf aufweist: einen ersten Kanalbereich mit mehreren ersten unabhängigen radial-konzentrischen Kanälen und individuellen Gaszuflußöffnungen von einer ersten Seite der Vorrichtung zu individuellen ersten Kanälen; einen zweiten Kanalbereich mit mehreren zweiten unabhängigen radial-konzentrischen Kanälen und einer Struktur von Verteilungsdurchlässen von den zweiten Kanälen zu einer zweiten Seite der Vorrichtung; einen Übergangsbereich zwischen dem ersten Kanalbereich und dem zweiten Kanalbereich mit mindestens einem Übergangsgasdurchlaß zur Weiterleitung von Gas aus jedem ersten Kanal im ersten Bereich zu einem entsprechenden zweiten Kanal im zweiten Bereich; und eine Vakuumdichtungs-Schnittstelle für die Montage der Brausekopfvorrichtung an einer CVD-Reaktorkammer, so daß die erste Seite und die Zuflußöffnungen von der Reaktorkammer abgewandt sind und die zweite Seite und die von den zweiten Kanälen ausgehenden Verteilungsdurchlaßstrukturen in die Reaktorkammer münden. In dem Reaktorsystem weist die zweite Seite eine ebene Oberfläche auf, so daß die Verteilungsdurchlässe von den zweiten Kanälen auf einer Ebene in die Reaktorkammer münden.
- Nach einem weiteren Aspekt der Erfindung wird ein Verfahren zur Verteilung von Gasen auf einen Wafer in einem CVD-Beschichtungsverfahren bereitgestellt, das die folgenden Schritte aufweist: (a) Einleiten von Gasen für das Verfahren durch individuelle Zuflußöffnungen in individuelle Kanäle von mehreren radial-konzentrischen ersten Kanälen eines ersten Kanalbereichs einer Brausekopfvorrichtung; (b) Durchleiten der Gase aus den ersten Kanälen durch Übergangsdurchlässe in entsprechende radial-konzentrische zweite Kanäle in einem zweiten Kanalbereich; und (c) Verteilen der Gase aus den zweiten Kanälen durch Verteilungsdurchlässe, die durch eine ebene Oberfläche der Brausekopfvorrichtung münden, die parallel zu dem zu beschichtenden Wafer und diesem benachbart ist.
- Nach einem weiteren Aspekt der Erfindung wird ein Verfahren zur Regulierung der Gasströmungsverteilung über einem Wafer in einem CVD-Beschichtungsvorgang bereitgestellt, das die folgenden Schritte aufweist: (a) Einleiten von Gasen für den Beschichtungsvorgang durch individuelle Zuflußöffnungen in individuelle Kanäle von mehreren radial-konzentrischen ersten Kanälen eines ersten Kanalbereichs einer Brausekopfvorrichtung; (b) Durchleiten der Gase aus den ersten Kanälen durch Übergangsdurchlässe in entsprechende radial-konzentrische zweite Kanäle in einem zweiten Kanalbereich; (c) Verteilen der Gase aus den zweiten Kanälen durch Verteilungsdurchlässe, die durch eine ebene Oberfläche der Brausekopfvorrichtung münden, die parallel zu dem zu beschichtenden Wafer und diesem benachbart ist, und (d) Regulieren der Gasstromverteilung über dem Wafer durch individuelles Dosieren des Massenzuflusses zu einzelnen von den individuellen Zuflußöffnungen der ersten Kanäle.
- In den Ausführungsformen der Erfindung wird erstmals ein Verteiler mit Flexibilität zur Regulierung des Gasverteilungsflusses auf mehrere verschiedene Arten bereitgestellt, der das Einwählen eines Verteilers ermöglicht, um viele Gasparameter zu berücksichtigen, wie z. B. die Reaktivität und dergleichen. Nachstehend werden verschiedene Ausführungsformen der Erfindung nachvollziehbar erläutert.
- KURZE BESCHREIBUNG DER ZEICHNUNGEN
-
1 zeigt eine perspektivische Ansicht eines Mehrzonenverteilers nach einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung. -
2 zeigt eine Schnittansicht des Mehrzonenverteilers von1 entlang der Schnittlinie A-A. -
3 zeigt ein Schema, das obere Gaszonen und Gasübergangsdurchlaßstellen nach einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung darstellt. -
4 zeigt ein Schema, das untere Gaszonen und Gasverteilungsdurchlässe nach einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung darstellt. -
5 zeigt ein Blockdiagramm, das drei Gastrennstufen in der Vorrichtung gemäß1 nach einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung darstellt. - BESCHREIBUNG DER BEVORZUGTEN AUSFÜHRUNGSFORMEN
- Wie im Abschnitt über den technischen Hintergrund beschrieben, ist das Erzielen einer einheitlichen und gleichmäßigen Materialschichtenbildung bei der Halbleiterfertigung ausschlaggebend für die Erzeugung hochwertiger Halbleiterbauelemente. Verteilervorrichtungen nach dem Stand der Technik weisen jedoch viele inhärente Beschränkungen auf, die Hersteller, welche CVD-Anwendungen oder Varianten davon anwenden, auch weiterhin belästigen. Der Erfinder bietet in der vorliegenden Offenbarung eine außergewöhnliche Vorrichtung und ein Verfahren zur Verbesserung der Verarbeitungsgleichmäßigkeit durch Nutzung von Mehrzonenfähigkeiten und genau gesteuerten Gaszufuhrmethoden. Das Verfahren und die Vorrichtung gemäß der vorliegenden Erfindung werden nachstehend auf nachvollziehbare Weise näher erläutert.
-
1 zeigt eine perspektivische Ansicht eines Mehrzonenverteilers9 nach einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung. Der Verteiler9 ist an die Zufuhr von Vorläufergasen und Inertgasen zu Beschichtungszwecken bei CVD-Verfahren oder Varianten davon angepaßt. - Der Verteiler
9 ist eine Baugruppe, die in der vorliegenden Ausführungsform drei Grundkomponenten aufweist, eine obere Verteilungskanalbaugruppe11 , eine Gasübergangsablenkplatte13 und eine untere Verteilungskanalbaugruppe15 . Die Komponenten11 ,13 und15 werden in einer bevorzugten Ausführungsform durch Hartlöten oder ein anderes Verbindungsverfahren starr zu einem Ganzen zusammengefügt. - Der Verteiler
9 ist so konstruiert und eingerichtet, daß er durch einen Flansch und geeignete Dichtungselemente an einem Prozeßreaktor (nicht dargestellt) installiert wird, um Prozeßgase über ein geeignetes, darin enthaltenes Substrat zu verteilen. In einer bevorzugten Ausführungsform wird der Verteiler9 über einen Deckel eines Verarbeitungssystems für Einzelwafer angekuppelt. Ein unterer Abschnitt (in dieser Ansicht nicht sichtbar) der Kanalbaugruppe15 ragt in einen Reaktor hinein, wenn der Verteiler9 richtig montiert ist. Mehrere Durchgangslöcher19 am Flanschabschnitt der unteren Spiralbaugruppe15 sind für Bolzen vorgesehen, die bei der Montage an einem Deckel einer Reaktorkammer benutzt werden, und Löcher20 sind in einer alternativen Ausführungsform für die Montage einer HF-Elektrode in einem Reaktor zur Erzeugung und Aufrechterhaltung von Plasma vorgesehen, falls dies für irgendeinen Zweck erforderlich ist, wie z. B. für PECVD. - Der Verteiler
9 ermöglicht aufgrund der oben beschriebenen Komponenten eine dosierte Zufuhr von Gasen zu CVD-Prozessen oder deren Varianten gemäß vorausberechneten Parametern. Die Merkmale des Verteilers9 sind so ausgelegt, daß mehrere radiale Gaszonen über einem Target erzeugt werden, um eine verbesserte Steuerbarkeit der Beschichtungsgleichmäßigkeit zu erzielen, die früher bei Systemen nach dem Stand der Technik nicht erreicht worden ist. Der Verteiler9 bietet ferner die Fähigkeit zur dosierten, entweder abwechselnden oder kombinierten Zufuhr vieler verschiedener Gase zu einigen oder allen definierten Gaszonen. Diese außergewöhnliche Fähigkeit ermöglicht Herstellern eine leichte Feinabstimmung der Schichtgleichmäßigkeit während der Verarbeitung, um über einfachen und komplexen Topologien eine optimale und reproduzierbare Schichtgleichmäßigkeit zu erzielen. - Die obere Spiralbaugruppe
9 weist mehrere Gaszuflußdurchlässe17 auf, die durch eine obere Plattenoberfläche hindurchgehen. Jeder Zuflußdurchlaß17 speist eine von mehreren Gaszonen, die durch mehrere, in der Baugrppe11 vorgesehene radiale Kanäle definiert sind und in weiteren Figuren und nachstehenden Beschreibungen dargestellt werden. Für die Zuleitung von Gasen zu den Durchlässen17 eingerichtete Gaszuflußröhren und Anschlußstutzen sind hier der Einfachheit nicht dargestellt. Kühlmittelfördenöhren21 (ein Einlaß und ein Auslaß) sind in der Oberseite der Spiralbaugruppe11 vorgesehen und so angepaßt, daß sie den Kühlmittelumlauf durch Kühlmittelkanäle im Verteiler9 ermöglichen. Weitere Details über den Verteiler9 und innere Komponenten werden weiter unten angegeben. -
2 zeigt eine Schnittansicht des Verteilers9 von1 entlang der Schnittlinie AA. Die obere Kanalbaugruppe11 weist mehrere radiale Gaszonen mit unterschiedlichen Durchmessern auf, die konzentrisch beabstandet angeordnet sind. In diesem Beispiel sind insgesamt dreizehn Zonen23 vorhanden, jedoch können mehr oder weniger Zonen23 vorhanden sein. - Jede Zone
23 befindet sich in einem selbständigen kreisförmigen Kanal und wird durch einen Gaszuflußdurchlaß17 gespeist, von denen vier in dieser Schnittansicht dargestellt sind. Durch diese Anordnung können verschiedenen Gaszonen23 unabhängig voneinander ohne Vermischen von Gasen oder gegenseitige Beeinflussung von einer Zone zur anderen mit unterschiedlichen Gasen gespeist werden. Da zwischen einzelnen Zonen23 keine gegenseitige Beeinflussung auftritt, können überdies verschiedene Strömungsdrücke an jede besondere Zone angelegt werden. Zum Beispiel kann eine niedrig dosierte Strömung für einen Kanal bereitgestellt werden, der näher am Mittelpunkt des Verteilers liegt, während eine höher dosierte Strömung an eine Zone angelegt werden kann, die näher am äußeren Umfang liegt. Außerdem können die Zonen23 abwechselnd benutzt werden. Zum Beispiel können durch selektives Abschalten der Gaszufuhr zu einem Gaszuflußdurchlaß oder einer Kombination von Gaszuflußdurchlässen17 damit verbundene Zonen23 abgeschaltet werden, ohne den Gaszufluß zu anderen Zonen zu beeinflussen. Dies ermöglicht Bedienungspersonen eine viel größere Flexibilität beim Einleiten von getrennten Gasen in einen Prozeß. - Die untere Kanalbaugruppe
15 weist konzentrische Kanäle in der gleichen radialen Geometrie auf wie die obere Kanalbaugruppe11 , und die Ablenkplatte13 , die einen Mittelabschnitt des Verteilers9 bildet, weist mehrere strategisch darin angeordnete, langgestreckte Gasübergangsdurchlässe25 auf, die Gas von jedem oberen Kanal in einen entsprechenden unteren Kanal einspeisen. Die Ablenkplatte13 wird vorzugsweise aus einem massiven Metallstück gefertigt. Für jedes Paar von oberen und unteren Kanälen können eine beliebige Anzahl und beliebige Abstände von Übergangsdurchlässen25 durch das Ablenkplattenelement13 vorhanden sein. Zum Beispiel kann ein äußeres Kanalpaar viel mehr Übergangsdurchlässe als ein inneres Kanalpaar aufweisen. - Übergangsdurchlässe
25 sind aufgrund der Dicke der Platte13 im wesentlichen langgestreckt und weisen einen erheblich kleineren Durchmesser auf als Zuflußdurchlässe17 . Übergangsdurchlässe25 können, wie im vorliegenden Beispiel, alle vom gleichen Durchmesser sein oder können unterschiedliche Durchmesser aufweisen, wie sie beispielsweise festgelegt werden, um bestimmte gewünschte Gasströmungseigenschaften zu bewirken. Außer der Länge und dem Durchmesser von Übergangsdurchlässen25 können die zonenspezifische Orientierung und die Anzahl der Löcher25 pro Zone entsprechend berechneten Vorgabewerten variieren, die durch Computermodellierung ermittelt werden können, und sind dazu gedacht, optimale Gleichmäßigkeitseigenschaften zu erzeugen. Diese berechneten Vorgabewerte bestimmen auch die Dicke der Ablenkplattenbaugruppe13 und definieren daher die Länge der Durchlässe25 . - Kanäle
27 in der Baugruppe15 sind in der vorliegenden Ausführungsform etwas tiefer (Höhe) als Kanäle23 der Baugruppe11 . Dieses Merkmal fördert die weitere Verteilung von Gasen, bevor sie in einen Reaktor eingeleitet werden. Mehrere Gasverteilungsdurchlässe31 sind vorgesehen, die durch einen unteren Abschnitt der Kanalbaugruppe15 in einen Reaktor führen. Durchlässe31 erlauben die Einleitung von Gasen von Kanäle27 in den Reaktor. Die durch die Durchlässe31 in den Reaktor gelangenden Gase werden entsprechend vorgegebenen Parametern optimal verteilt. Die Anzahl der Gasverteilungsdurchlässe31 pro Kanal ist in Ausführungsformen der Erfindung typischerweise erheblich größer als die Anzahl der Gasübergangsdurchlässe25 pro Kanal. Zum Beispiel kann ein am weitesten außen liegender Kanal27 drei Übergangsdurchlässe25 (Einlaß in den Kanal) und vielleicht 30 Verteilungsdurchlässe31 (Auslaß aus dem Kanal) aufweisen. - In Ausführungsformen der Erfindung wird für jeden Kanal
27 ein HF-Sperring29 vorgesehen. HF-Ringe29 sind so konstruiert und angepaßt, daß sie die Durchlässe von den Kanälen27 in die Reaktorkammer so abschirmen, daß ein in der Kammer gezündetes bzw. erzeugtes Plasma nicht in die Kanäle27 oder den Verteiler9 wandert. Die HF-Ringe29 bestehen aus geeignetem, elektrisch leitfähigem Metall, und jeder HF-Ring29 ist vorzugsweise in jedem Kanal27 unmittelbar über der unteren Fläche des Kanals angeschweißt und läßt, wie dargestellt, an den Seiten Raum, so daß Gase, die aus jedem Kanal27 in einen Durchlaß31 fließen, einen gewundenen Weg durchlaufen müssen, dessen Abmessungen klein genug sind, um etwaiges Plasma zu löschen bzw. zu neutralisieren. In der Praxis werden Ringe29 in Positionen, die nicht in einer Linie mit Durchlässen31 liegen, mit drei oder mehr abwärts gerichteten Vertiefungen ausgebildet, wobei die Ringe so angeordnet sind, daß die Unterseite dieser Vertiefungen eine Fläche berührt, die ein wenig oberhalb des Bodens der entsprechenden Kanäle liegt, und die Ringe werden dann im Boden der Kanäle durch Punktschweißen mit dieser Montagefläche verbunden. - In den Trennwänden der Kanäle
27 in der Kanalbaugruppe19 sind Wasserdurchlässe33 vorgesehen, die eine Wasserkühlung ermöglichen, da zu verarbeitende Substrate typischerweise auf einem Herd in der Kammer auf eine hohe Temperatur erhitzt werden. Die Röhren21 bilden einen Einlaß und Auslaß für Kühlmittel, wie weiter oben beschrieben. - Für den Fachmann wird offensichtlich sein, daß der Verteiler
9 in vielen verschiedenen Durchmessern mit verschiedenen Anzahlen von Gaszonen und Kanälen hergestellt werden kann. In bevorzugten Ausführungsformen wird der Verteiler9 so hergestellt, daß er für eine bestimmte Halbleiterwafergröße Platz bietet, wie zum Beispiel für einen 200 mm- oder 300 mm-Wafer. Bei der praktischen Anwendung kann ein für eine Wafergröße hergestellter Verteiler für Wafer einer kleineren Größe eingesetzt werden, indem die Gaszufuhr zu äußeren Kanälen geschlossen und die Gaszufuhr zu den übrigen Kanälen angepaßt wird. - Für den Fachmann wird gleichfalls ersichtlich sein, daß ein Verteiler nach Ausführungsformen der vorliegenden Erfindung entsprechend Maßvorgabewerten gefertigt werden kann, die aus einer Computermodellierung der Gasströmungsdynamik abgeleitet sind. Auf diese Weise können umfangreiche praktische Erprobungen von Gleichmäßigkeitseigenschaften vermieden werden, die normalerweise in Anwendungen des Verfahrens nach dem Stand der Technik erforderlich sind. Die Feinabstimmung von Gleichmäßigkeitseigenschaften, wie z. B. durch Einstellen von Durchflußgeschwindigkeiten zu bestimmten Gaszonen, die Abschaltung bestimmter Gaszonen und dergleichen, kann jedoch während des Prozesses von Bedienungspersonen mit Hilfe des Verteilers
9 ausgeführt werden. -
3 zeigt ein Schema, das eine Anordnung von oberen Gaskanälen23 und typische Positionen von Gasübergangsdurchlässen25 gemäß einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung darstellt. Die Kanäle23 sind in Bezug aufeinander konzentrisch angeordnet, wie weiter oben beschrieben. Jeder Kanal23 steht in Verbindung mit bestimmten Gasübergangsdurchlässen25 , die in der Ablenkplatte13 ausgearbeitet sind. Zum Beispiel weist der mittelste Kanal23 einen Gasübergangsdurchlaß25 auf. Ein dritter Kanal23 (von der Mitte aus gezählt) weist zwei Gasübergangsdurchlässe25 auf. Zum Umfang hin weist jeder darauf folgende Kanal drei Gasübergangsdurchlässe25 auf. Diese besondere Anordnung im Sinne der Anzahl von Durchlässen25 pro Kanal23 ist nicht als Beschränkung aufzufassen, sondern einfach so, daß die mittelsten Gaskanäle typischerweise einen geringeren Gasdurchfluß als äußere Kanäle erfordern. - Die Übergangsdurchlässe
25 sind in dieser Ausführungsform in einer Formation mit gleichen Abständen (120-Grad-Anordnung) bezüglich jedes Kanals23 mit drei Durchlässen pro Kanal angeordnet. Jede Formation von Übergangsdurchlässen25 weist gegenüber Durchlaßpositionen in benachbarten Kanälen eine versetzte Orientierung auf. Dies trägt dazu bei, eine gleichmäßige Gasausbreitung von oberen Kanälen23 zu unteren Kanälen27 zu erleichtern, ist jedoch für die praktische Ausführung der vorliegenden Erfindung nicht erforderlich. Die Computermodellierung in unterschiedlichen Umgebungen liefert optimale Daten für die Menge und Positionierung von Übergangsdurchlässen25 , um eine optimale Gasströmungsdynamik zu erleichtern. - Der Verteiler
9 bietet mindestens vier Freiheitsgrade, um einen abgestuften Übergang von Gasen von äußeren zu inneren Gaskanälen zu erleichtern. Eine Option ist die Regulierung von Durchlaßabmessungen für Übergangsdurchlässe25 und die Bereitstellung einer konstanten Anzahl von Durchlässen25 für jeden Kanal23 , wobei die Durchlässe für die näher an der Mitte liegenden Kanäle kleiner sind und die Durchlaßgröße (Durchmesser) für Durchlässe in Kanälen von einem Kanal zum anderen zum Außendurchmesser des Verteilers hin größer wird. Ein weitere Option besteht darin, eine konstante Anzahl von Übergangsdurchlässen pro Kanal bereitzustellen, aber die Kanalkapazität durch Bereitstellen breiterer Kanäle zur Mitte hin und engerer Kanäle zum Außendurchmesser des Verteilers hin zu regulieren. Die Begrenzung der Anzahl von Übergangsdurchlässen zur Mitte hin, wie hier dargestellt, ist eine weitere Option. Eine weitere Option besteht einfach darin, die Gaszuflußgeschwindigkeiten zu jedem selbständigen Kanal durch kanalunabhängige Zuflußleitungen zu dosieren. -
4 zeigt ein Schema, das die Anordnung von Gasverteilungsdurchlässen in der unteren Kanalbaugruppe15 gemäß einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung darstellt. Jeder Kanal27 weist mehrere, in gleichen Abständen angeordnete Verteilungsdurchlässe in einem kreisförmigen Muster auf. Hierin sind nur zwei Kanäle27 mit Verteilungsdurchlässen31 dargestellt, um Verwirrung zu vermeiden, jedoch kann angenommen werden, daß alle Zonen Verteilungsdurchlässe31 aufweisen. - Ein ausgeprägter Unterschied zwischen der in
3 dargestellten Anordnung von Übergangsdurchlässen25 und derjenigen von Verteilungsdurchlässen31 ist, daß viel mehr Verteilungsdurchlässe31 als Übergangsdurchlässe25 vorhanden sind. In der vorliegenden Ausführungsform sind Durchlässe31 etwa alle 12 Grad angeordnet, oder 30 Löcher31 pro Kanal27 . - Der Lochabstand basiert nicht unbedingt in allen Ausführungsformen auf der Azimutposition. In einer Ausführungsform basieren die Löcher auf der Einhaltung eines Abstands von 0,375 zwischen jedem Loch und allen in der Nähe liegenden Löchern, einschließlich der Löcher auf dem nächsthöheren und/oder nächstniedrigeren Radius. Die gegenwärtige Konstruktion weist 69 Löcher in der äußersten Zone auf. Die auf 300 mm bezogene Konstruktion weist in ihrer äußersten Zone 125 Löcher auf. Der Zonenabstand basiert auf der Einhaltung des gleichen Abstands von 0,375. Die Anzahl der Verteilungsdurchlässe kann jedoch kleiner oder größer sein, und die Anzahl pro Kanal kann gleichfalls variieren.
- Die gleiche Flexibilität bezüglich der Durchlaßabmessungen, der Kanalbreite, der Kombination oder abwechselnden Nutzung von Kanälen, der Menge der Durchlässe und so weiter wird der unteren Kanalbaugruppe
15 zugeschrieben, wie oben in Bezug auf die Ablenkplatte13 und die obere Kanalbaugruppe11 beschrieben wurde. Der Gasdurchfluß durch die Verteilungsdurchlässe33 in irgendeinem Kanal27 kann reguliert werden, indem das Gas in unabhängige Gaszuflußleitungen dosiert wird, die in den Verteiler9 eintreten. In den meisten Ausführungsformen sind Verteilungsdurchlässe33 kleiner als Übergangsdurchlässe25 und Zuflußdurchlässe17 . Jede Stufe vergrößert die Gasverteilung bzw. -zerstreuung ohne Turbulenz, wodurch man eine bessere Gasverteilung und gleichmäßigen Durchfluß erhält. -
5 zeigt ein Schema, das drei Gastrennstufen darstellt, die durch den Verteiler9 gemäß einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung genutzt werden. Wie weiter oben beschrieben, weist der Verteiler9 eine obere Verteilungsstufe auf, die durch eine obere Kanalbaugruppe11 gebildet wird. Gas wird der oberen Kanalbaugruppe11 durch zonenunabhängige Gaszuflußleitungen17 zugeführt, die hier durch einen mit GasIn bezeichneten Pfeil dargestellt sind. In der oberen Verteilungsstufe wird Gas eingeleitet und verteilt sich in den Kanälen23 (3 ), bevor es durch die Ablenkplatte13 fließt. - Eine Gasübergangsphase wird durch die Ablenkplatte
13 mit Übergangsdurchlässen25 ausgeführt. Gas in den Kanälen23 wird weiter verteilt und beim Durchgang durch die Platte13 gelenkt. Eine untere Verteilungsphase wird in der Kanalbaugruppe15 ausgeführt. In der Endphase werden die Gase beim Durchgang durch die untere Kanalbaugruppe15 weiter verteilt. In einer Kammer entsprechen die eingeleiteten Gase mehreren radialen Zonen, die aufgrund der Anordnung und Positionierung der Verteilungslöcher darin erzeugt werden. Aufgrund der langen und gewundenen Durchlaßwege von Gasen in die Reaktorkammer treten außerdem die Gase schließlich ohne plötzliche Ausdehnung oder Turbulenz in die Kammer ein. Auf diese Weise kann ein Substrat gleichmäßig mit dem Gasstrom in Kontakt gebracht werden, wodurch eine gleichmäßige Schichtbildung erleichtert wird. Zur weiteren Verbesserung der Gleichmäßigkeit kann eine Feinabstimmung durchgeführt werden, indem der Gaszufluß zu getrennten Kanälen reguliert wird, indem bestimmte Kanäle benutzt werden, andere aber nicht, und so weiter. - Für den Fachmann wird offensichtlich sein, daß das Verfahren und die Vorrichtung gemäß der vorliegenden Erfindung für Prozeßbetreiber eine außergewöhnliche Verbesserung und Steuerung bieten, die durch in CVD-Prozessen eingesetzte Verteilungsvorrichtungen nach dem Stand der Technik nicht bereitgestellt werden. Die Bereitstellung von mehreren, aber getrennten Gaszuflußkanälen über einem Target ist eine wesentliche Verbesserung gegenüber dem Stand der Technik.
- Ferner wird für den Fachmann offensichtlich sein, daß wegen der Durchführung einer Computermodellierung der Gasströmungsdynamik, um optimale Parameter für Abmessungen von Elementen des Verteilers
9 zu ermitteln, diese Parameter für verschiedene Prozeßtypen variiert werden können. Derartige Parameter können sich auch wegen unterschiedlicher Vorgabewerte ändern, die aus verbesserten Modellierungsverfahren abgeleitet werden. Daher dürften das Verfahren und die Vorrichtung gemäß der vorliegenden Erfindung einen sehr breiten Umfang aufweisen. Die vorliegende Erfindung ist nur durch die nachstehenden Patentansprüche beschränkt.
Claims (12)
- Brausekopfverteilervorrichtung für ein CVD-Verfahren, die aufweist: einen ersten Kanalbereich mit mehreren ersten unabhängigen radial-konzentrischen Kanälen und individuellen Gaszuflussöffnungen von einer ersten Seite der Vorrichtung zu individuellen ersten Kanälen; einen zweiten Kanalbereich mit mehreren zweiten unabhängigen radial-konzentrischen Kanälen und einer Struktur von Verteilungsdurchlässen von den zweiten Kanälen zu einer zweiten Seite der Vorrichtung; einen Übergangsbereich zwischen dem ersten Kanalbereich und dem zweiten Kanalbereich mit mindestens einem Übergangsgasdurchlass zur Weiterleitung von Gas aus jedem ersten Kanal im ersten Bereich zu einem entsprechenden zweiten Kanal im zweiten Bereich; und eine Vakuumdichtungs-Schnittstelle für die Montage der Brausekopfvorrichtung an einer CVD-Reaktorkammer, so daß die erste Seite und die Zuflussöffnungen von der Reaktorkammer abgewandt sind und die zweite Seite und die von den zweiten Kanälen ausgehenden Verteilungsdurchlassstrukturen in die Reaktorkammer münden.
- Brausekopfvorrichtung nach Anspruch 1, wobei die zweite Seite eine ebene Oberfläche aufweist, so daß die Verteilungsdurchlässe von den zweiten Kanälen auf einer Ebene in die Reaktorkammer münden.
- Brausekopfvorrichtung nach Anspruch 1, wobei die Vakuumdichtungs-Schnittstelle einen Flansch mit Schraubenlöchern und einen O-Ring zur Montage und Abdichtung an einer Wand der Reaktorkammer aufweist.
- Brausekopfvorrichtung nach Anspruch 1, wobei die Zuflussöffnungen zu den ersten Kanälen und die Übergangsdurchlässe von den ersten Kanälen in die zweiten Kanäle so gegeneinander versetzt sind, daß keine Zuflussöffnung auf einen Übergangsdurchlass ausgerichtet ist.
- Brausekopfvorrichtung nach Anspruch 1, wobei die Übergangsdurchlässe in die zweiten Kanäle so gegen die Verteilungsdurchlässe in die Reaktorkammer versetzt sind, daß kein Übergangsdurchlass auf einen Verteilungsdurchlass ausgerichtet ist.
- Brausekopfvorrichtung nach Anspruch 1, die ferner Kühlmittelkanäle in Trennwänden zwischen zweiten Kanälen im zweiten Kanalbereich aufweist, wobei die Kühlmittelkanäle so untereinander verbunden sind, daß eine einzige Einlassöffnung und eine einzige Auslassöffnung Kühlmittel durch alle Kühlmittelkanäle bereitstellen.
- Brausekopfvorrichtung nach Anspruch 6, die ein Zufluss- und ein Abflussrohr aufweist, die von der ersten Seite ausgehen und an die Zufluss- und Abflussöffnungen angeschlossen sind.
- CVD-Reaktorsystem, das aufweist: eine Reaktorkammer mit einer Öffnung für eine Brausekopfvorrichtung; einen der Öffnung benachbarten Träger in der Kammer, wobei der Träger für ein zu verarbeitendes Substrat vorgesehen ist; und eine Brausekopfverteilervorrichtung für ein CVD-Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 7.
- Verfahren zur Verteilung von Gasen auf einen Wafer in einem CVD-Beschichtungsverfahren, mit den folgenden Schritten: (a) Einleiten von Gasen für das Verfahren durch individuelle Zuflussöffnungen in individuelle Kanäle von mehreren radial-konzentrischen ersten Kanälen eines ersten Kanalbereichs einer Brausekopfvorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 7; (b) Durchleiten der Gase aus den ersten Kanälen durch Übergangsdurchlässe in entsprechende radial-konzentrische zweite Kanäle in einem zweiten Kanalbereich; und (c) Verteilen der Gase aus den zweiten Kanälen durch Verteilungsdurchlässe, die durch eine ebene Oberfläche der Brausekopfvorrichtung münden, die parallel zu dem zu beschichtenden Wafer und diesem benachbart ist.
- Verfahren nach Anspruch 9, wobei die Zuflussöffnungen, die Übergangsdurchlässe und die Verteilungsdurchlässe nichtlinear angeordnet sind.
- Verfahren zur Regulierung der Gasstromverteilung über einen Wafer bei einem CVD-Beschichtungsvorgang, mit den folgenden Schritten: (a) Einleiten von Gasen für den Beschichtungsvorgang durch individuelle Zuflussöffnungen in individuelle Kanäle von mehreren radial-konzentrischen ersten Kanälen eines ersten Kanalbereichs einer Brausekopfvorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 7; (b) Durchleiten der Gase aus den ersten Kanälen durch Übergangsdurchlässe in entsprechende radial-konzentrische zweite Kanäle in einem zweiten Kanalbereich; (c) Verteilen der Gase aus den zweiten Kanälen durch Verteilungsdurchlässe, die durch eine ebene Oberfläche der Brausekopfvorrichtung münden, die parallel zu dem zu beschichtenden Wafer und diesem benachbart ist; und (d) Regulieren der Gasstromverteilung über den Wafer durch individuelles Dosieren des Massenzuflusses zu einzelnen von den individuellen Zuflussöffnungen der ersten Kanäle.
- Verfahren nach Anspruch 11 mit einem Schritt zur Regulierung der Gasstromverteilung durch Umschalten individueller Gase zwischen individuellen ersten Kanälen des ersten Kanalbereichs.
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US350417 | 1989-05-11 | ||
US09/350,417 US6206972B1 (en) | 1999-07-08 | 1999-07-08 | Method and apparatus for providing uniform gas delivery to substrates in CVD and PECVD processes |
PCT/US2000/040314 WO2001004931A2 (en) | 1999-07-08 | 2000-07-06 | Method and apparatus for providing uniform gas delivery to substrates in cvd and pecvd processes |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE60024146D1 DE60024146D1 (de) | 2005-12-22 |
DE60024146T2 true DE60024146T2 (de) | 2006-08-03 |
Family
ID=23376624
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE60024146T Expired - Fee Related DE60024146T2 (de) | 1999-07-08 | 2000-07-06 | Methode und apparatfür die gleichmä ige gaszufuhr zu substraten bei cvd und pecvd verfahren |
Country Status (8)
Country | Link |
---|---|
US (5) | US6206972B1 (de) |
EP (1) | EP1274875B1 (de) |
JP (1) | JP2003504866A (de) |
KR (1) | KR100446486B1 (de) |
AT (1) | ATE310107T1 (de) |
AU (1) | AU6803900A (de) |
DE (1) | DE60024146T2 (de) |
WO (1) | WO2001004931A2 (de) |
Families Citing this family (203)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20020053694A1 (en) | 1998-06-10 | 2002-05-09 | Sutcliffe Victor C. | Method of forming a memory cell with self-aligned contacts |
US6395640B2 (en) * | 1999-12-17 | 2002-05-28 | Texas Instruments Incorporated | Apparatus and method for selectivity restricting process fluid flow in semiconductor processing |
US6206972B1 (en) * | 1999-07-08 | 2001-03-27 | Genus, Inc. | Method and apparatus for providing uniform gas delivery to substrates in CVD and PECVD processes |
US7554829B2 (en) | 1999-07-30 | 2009-06-30 | Micron Technology, Inc. | Transmission lines for CMOS integrated circuits |
US8048806B2 (en) | 2000-03-17 | 2011-11-01 | Applied Materials, Inc. | Methods to avoid unstable plasma states during a process transition |
US6502530B1 (en) * | 2000-04-26 | 2003-01-07 | Unaxis Balzers Aktiengesellschaft | Design of gas injection for the electrode in a capacitively coupled RF plasma reactor |
KR100419756B1 (ko) * | 2000-06-23 | 2004-02-21 | 아넬바 가부시기가이샤 | 박막 형성 장치 |
US6896737B1 (en) * | 2000-08-28 | 2005-05-24 | Micron Technology, Inc. | Gas delivery device for improved deposition of dielectric material |
DE10043601A1 (de) * | 2000-09-01 | 2002-03-14 | Aixtron Ag | Vorrichtung und Verfahren zum Abscheiden insbesondere kristalliner Schichten auf insbesondere kristallinen Substraten |
KR100516844B1 (ko) * | 2001-01-22 | 2005-09-26 | 동경 엘렉트론 주식회사 | 처리 장치 및 처리 방법 |
US6852167B2 (en) * | 2001-03-01 | 2005-02-08 | Micron Technology, Inc. | Methods, systems, and apparatus for uniform chemical-vapor depositions |
KR100413482B1 (ko) * | 2001-06-12 | 2003-12-31 | 주식회사 하이닉스반도체 | 화학적 강화제(ce) 처리 챔버 |
KR100400044B1 (ko) * | 2001-07-16 | 2003-09-29 | 삼성전자주식회사 | 간격 조절 장치를 가지는 웨이퍼 처리 장치의 샤워 헤드 |
JP4236882B2 (ja) * | 2001-08-01 | 2009-03-11 | 東京エレクトロン株式会社 | ガス処理装置およびガス処理方法 |
JP3886424B2 (ja) * | 2001-08-28 | 2007-02-28 | 鹿児島日本電気株式会社 | 基板処理装置及び方法 |
US6844203B2 (en) * | 2001-08-30 | 2005-01-18 | Micron Technology, Inc. | Gate oxides, and methods of forming |
US8026161B2 (en) * | 2001-08-30 | 2011-09-27 | Micron Technology, Inc. | Highly reliable amorphous high-K gate oxide ZrO2 |
TW573053B (en) * | 2001-09-10 | 2004-01-21 | Anelva Corp | Surface processing apparatus |
US6590344B2 (en) * | 2001-11-20 | 2003-07-08 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. | Selectively controllable gas feed zones for a plasma reactor |
US6953730B2 (en) | 2001-12-20 | 2005-10-11 | Micron Technology, Inc. | Low-temperature grown high quality ultra-thin CoTiO3 gate dielectrics |
US6670071B2 (en) * | 2002-01-15 | 2003-12-30 | Quallion Llc | Electric storage battery construction and method of manufacture |
US6767795B2 (en) * | 2002-01-17 | 2004-07-27 | Micron Technology, Inc. | Highly reliable amorphous high-k gate dielectric ZrOXNY |
US6793733B2 (en) | 2002-01-25 | 2004-09-21 | Applied Materials Inc. | Gas distribution showerhead |
US20040060514A1 (en) * | 2002-01-25 | 2004-04-01 | Applied Materials, Inc. A Delaware Corporation | Gas distribution showerhead |
US6812100B2 (en) * | 2002-03-13 | 2004-11-02 | Micron Technology, Inc. | Evaporation of Y-Si-O films for medium-k dielectrics |
US20050081788A1 (en) * | 2002-03-15 | 2005-04-21 | Holger Jurgensen | Device for depositing thin layers on a substrate |
US7279432B2 (en) * | 2002-04-16 | 2007-10-09 | Applied Materials, Inc. | System and method for forming an integrated barrier layer |
US7160577B2 (en) | 2002-05-02 | 2007-01-09 | Micron Technology, Inc. | Methods for atomic-layer deposition of aluminum oxides in integrated circuits |
US7205218B2 (en) * | 2002-06-05 | 2007-04-17 | Micron Technology, Inc. | Method including forming gate dielectrics having multiple lanthanide oxide layers |
US7135421B2 (en) | 2002-06-05 | 2006-11-14 | Micron Technology, Inc. | Atomic layer-deposited hafnium aluminum oxide |
US6804136B2 (en) | 2002-06-21 | 2004-10-12 | Micron Technology, Inc. | Write once read only memory employing charge trapping in insulators |
US7193893B2 (en) * | 2002-06-21 | 2007-03-20 | Micron Technology, Inc. | Write once read only memory employing floating gates |
US7221586B2 (en) | 2002-07-08 | 2007-05-22 | Micron Technology, Inc. | Memory utilizing oxide nanolaminates |
US6821347B2 (en) * | 2002-07-08 | 2004-11-23 | Micron Technology, Inc. | Apparatus and method for depositing materials onto microelectronic workpieces |
US7221017B2 (en) * | 2002-07-08 | 2007-05-22 | Micron Technology, Inc. | Memory utilizing oxide-conductor nanolaminates |
KR100476370B1 (ko) * | 2002-07-19 | 2005-03-16 | 주식회사 하이닉스반도체 | 배치형 원자층증착장치 및 그의 인시튜 세정 방법 |
US6921062B2 (en) * | 2002-07-23 | 2005-07-26 | Advanced Technology Materials, Inc. | Vaporizer delivery ampoule |
US6921702B2 (en) * | 2002-07-30 | 2005-07-26 | Micron Technology Inc. | Atomic layer deposited nanolaminates of HfO2/ZrO2 films as gate dielectrics |
GB2406583B (en) * | 2002-08-08 | 2005-12-21 | Trikon Technologies Ltd | Improvements to showerheads |
US6884739B2 (en) * | 2002-08-15 | 2005-04-26 | Micron Technology Inc. | Lanthanide doped TiOx dielectric films by plasma oxidation |
US6955725B2 (en) * | 2002-08-15 | 2005-10-18 | Micron Technology, Inc. | Reactors with isolated gas connectors and methods for depositing materials onto micro-device workpieces |
US20040036129A1 (en) * | 2002-08-22 | 2004-02-26 | Micron Technology, Inc. | Atomic layer deposition of CMOS gates with variable work functions |
US6884296B2 (en) * | 2002-08-23 | 2005-04-26 | Micron Technology, Inc. | Reactors having gas distributors and methods for depositing materials onto micro-device workpieces |
US6967154B2 (en) | 2002-08-26 | 2005-11-22 | Micron Technology, Inc. | Enhanced atomic layer deposition |
US7199023B2 (en) * | 2002-08-28 | 2007-04-03 | Micron Technology, Inc. | Atomic layer deposited HfSiON dielectric films wherein each precursor is independendently pulsed |
US7456116B2 (en) | 2002-09-19 | 2008-11-25 | Applied Materials, Inc. | Gap-fill depositions in the formation of silicon containing dielectric materials |
US20070212850A1 (en) * | 2002-09-19 | 2007-09-13 | Applied Materials, Inc. | Gap-fill depositions in the formation of silicon containing dielectric materials |
US7335609B2 (en) * | 2004-08-27 | 2008-02-26 | Applied Materials, Inc. | Gap-fill depositions introducing hydroxyl-containing precursors in the formation of silicon containing dielectric materials |
US7431967B2 (en) * | 2002-09-19 | 2008-10-07 | Applied Materials, Inc. | Limited thermal budget formation of PMD layers |
US7141483B2 (en) * | 2002-09-19 | 2006-11-28 | Applied Materials, Inc. | Nitrous oxide anneal of TEOS/ozone CVD for improved gapfill |
US7494560B2 (en) * | 2002-11-27 | 2009-02-24 | International Business Machines Corporation | Non-plasma reaction apparatus and method |
US6958302B2 (en) | 2002-12-04 | 2005-10-25 | Micron Technology, Inc. | Atomic layer deposited Zr-Sn-Ti-O films using TiI4 |
US7101813B2 (en) | 2002-12-04 | 2006-09-05 | Micron Technology Inc. | Atomic layer deposited Zr-Sn-Ti-O films |
US7018940B2 (en) * | 2002-12-30 | 2006-03-28 | Genus, Inc. | Method and apparatus for providing uniform gas delivery to substrates in CVD and PECVD processes |
US7270713B2 (en) * | 2003-01-07 | 2007-09-18 | Applied Materials, Inc. | Tunable gas distribution plate assembly |
US6942753B2 (en) * | 2003-04-16 | 2005-09-13 | Applied Materials, Inc. | Gas distribution plate assembly for large area plasma enhanced chemical vapor deposition |
US7335396B2 (en) * | 2003-04-24 | 2008-02-26 | Micron Technology, Inc. | Methods for controlling mass flow rates and pressures in passageways coupled to reaction chambers and systems for depositing material onto microfeature workpieces in reaction chambers |
CN101068950A (zh) * | 2003-05-30 | 2007-11-07 | 阿维扎技术公司 | 气体分配系统 |
US7413612B2 (en) * | 2003-07-10 | 2008-08-19 | Applied Materials, Inc. | In situ substrate holder leveling method and apparatus |
US7220665B2 (en) * | 2003-08-05 | 2007-05-22 | Micron Technology, Inc. | H2 plasma treatment |
US7344755B2 (en) * | 2003-08-21 | 2008-03-18 | Micron Technology, Inc. | Methods and apparatus for processing microfeature workpieces; methods for conditioning ALD reaction chambers |
US7235138B2 (en) * | 2003-08-21 | 2007-06-26 | Micron Technology, Inc. | Microfeature workpiece processing apparatus and methods for batch deposition of materials on microfeature workpieces |
US7422635B2 (en) * | 2003-08-28 | 2008-09-09 | Micron Technology, Inc. | Methods and apparatus for processing microfeature workpieces, e.g., for depositing materials on microfeature workpieces |
US20050050708A1 (en) * | 2003-09-04 | 2005-03-10 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. | Embedded fastener apparatus and method for preventing particle contamination |
US7056806B2 (en) * | 2003-09-17 | 2006-06-06 | Micron Technology, Inc. | Microfeature workpiece processing apparatus and methods for controlling deposition of materials on microfeature workpieces |
US7282239B2 (en) * | 2003-09-18 | 2007-10-16 | Micron Technology, Inc. | Systems and methods for depositing material onto microfeature workpieces in reaction chambers |
US7323231B2 (en) * | 2003-10-09 | 2008-01-29 | Micron Technology, Inc. | Apparatus and methods for plasma vapor deposition processes |
US7647886B2 (en) * | 2003-10-15 | 2010-01-19 | Micron Technology, Inc. | Systems for depositing material onto workpieces in reaction chambers and methods for removing byproducts from reaction chambers |
US7258892B2 (en) * | 2003-12-10 | 2007-08-21 | Micron Technology, Inc. | Methods and systems for controlling temperature during microfeature workpiece processing, e.g., CVD deposition |
US7472432B2 (en) * | 2003-12-30 | 2009-01-06 | Letty Ann Owen | Bathtub insert “Take-Five” |
US20050164626A1 (en) * | 2004-01-26 | 2005-07-28 | Kloostra Marvin L. | High mix air diffuser |
US7906393B2 (en) | 2004-01-28 | 2011-03-15 | Micron Technology, Inc. | Methods for forming small-scale capacitor structures |
US20050233477A1 (en) * | 2004-03-05 | 2005-10-20 | Tokyo Electron Limited | Substrate processing apparatus, substrate processing method, and program for implementing the method |
US20050223984A1 (en) * | 2004-04-08 | 2005-10-13 | Hee-Gyoun Lee | Chemical vapor deposition (CVD) apparatus usable in the manufacture of superconducting conductors |
US20050223983A1 (en) | 2004-04-08 | 2005-10-13 | Venkat Selvamanickam | Chemical vapor deposition (CVD) apparatus usable in the manufacture of superconducting conductors |
US8083853B2 (en) | 2004-05-12 | 2011-12-27 | Applied Materials, Inc. | Plasma uniformity control by gas diffuser hole design |
US20050249873A1 (en) * | 2004-05-05 | 2005-11-10 | Demetrius Sarigiannis | Apparatuses and methods for producing chemically reactive vapors used in manufacturing microelectronic devices |
US8133554B2 (en) | 2004-05-06 | 2012-03-13 | Micron Technology, Inc. | Methods for depositing material onto microfeature workpieces in reaction chambers and systems for depositing materials onto microfeature workpieces |
US8074599B2 (en) * | 2004-05-12 | 2011-12-13 | Applied Materials, Inc. | Plasma uniformity control by gas diffuser curvature |
US8328939B2 (en) | 2004-05-12 | 2012-12-11 | Applied Materials, Inc. | Diffuser plate with slit valve compensation |
US7699932B2 (en) * | 2004-06-02 | 2010-04-20 | Micron Technology, Inc. | Reactors, systems and methods for depositing thin films onto microfeature workpieces |
US20060021703A1 (en) * | 2004-07-29 | 2006-02-02 | Applied Materials, Inc. | Dual gas faceplate for a showerhead in a semiconductor wafer processing system |
JP5519105B2 (ja) * | 2004-08-02 | 2014-06-11 | ビーコ・インストゥルメンツ・インコーポレイテッド | 化学気相成長の方法及び化学気相成長リアクタ用のガス供給システム |
US7642171B2 (en) * | 2004-08-04 | 2010-01-05 | Applied Materials, Inc. | Multi-step anneal of thin films for film densification and improved gap-fill |
US20070212847A1 (en) * | 2004-08-04 | 2007-09-13 | Applied Materials, Inc. | Multi-step anneal of thin films for film densification and improved gap-fill |
US7429410B2 (en) * | 2004-09-20 | 2008-09-30 | Applied Materials, Inc. | Diffuser gravity support |
US7387811B2 (en) * | 2004-09-21 | 2008-06-17 | Superpower, Inc. | Method for manufacturing high temperature superconducting conductors using chemical vapor deposition (CVD) |
US7572340B2 (en) * | 2004-11-29 | 2009-08-11 | Applied Materials, Inc. | High resolution substrate holder leveling device and method |
GB0426766D0 (en) * | 2004-12-06 | 2005-01-12 | Q Chip Ltd | Device for fluid transport |
US20060165873A1 (en) * | 2005-01-25 | 2006-07-27 | Micron Technology, Inc. | Plasma detection and associated systems and methods for controlling microfeature workpiece deposition processes |
US7687409B2 (en) | 2005-03-29 | 2010-03-30 | Micron Technology, Inc. | Atomic layer deposited titanium silicon oxide films |
US20060237138A1 (en) * | 2005-04-26 | 2006-10-26 | Micron Technology, Inc. | Apparatuses and methods for supporting microelectronic devices during plasma-based fabrication processes |
US7662729B2 (en) | 2005-04-28 | 2010-02-16 | Micron Technology, Inc. | Atomic layer deposition of a ruthenium layer to a lanthanide oxide dielectric layer |
WO2006121264A1 (en) * | 2005-05-09 | 2006-11-16 | Asm Genitech Korea Ltd. | Multiple inlet tomic layer deposition reactor |
KR100731164B1 (ko) * | 2005-05-19 | 2007-06-20 | 주식회사 피에조닉스 | 샤워헤드를 구비한 화학기상 증착 방법 및 장치 |
US7313310B2 (en) * | 2005-05-25 | 2007-12-25 | Honeywell International Inc. | Plasma directing baffle and method of use |
US7927948B2 (en) | 2005-07-20 | 2011-04-19 | Micron Technology, Inc. | Devices with nanocrystals and methods of formation |
CN100358099C (zh) * | 2005-08-05 | 2007-12-26 | 中微半导体设备(上海)有限公司 | 等离子体处理装置 |
US20070044714A1 (en) * | 2005-08-31 | 2007-03-01 | Applied Materials, Inc. | Method and apparatus for maintaining a cross sectional shape of a diffuser during processing |
CN100405537C (zh) * | 2005-12-07 | 2008-07-23 | 北京北方微电子基地设备工艺研究中心有限责任公司 | 等离子体反应装置 |
US7685965B1 (en) * | 2006-01-26 | 2010-03-30 | Lam Research Corporation | Apparatus for shielding process chamber port |
US7709402B2 (en) | 2006-02-16 | 2010-05-04 | Micron Technology, Inc. | Conductive layers for hafnium silicon oxynitride films |
US20070234956A1 (en) * | 2006-04-05 | 2007-10-11 | Dalton Jeremie J | Method and apparatus for providing uniform gas delivery to a reactor |
US7811085B2 (en) * | 2006-05-04 | 2010-10-12 | Honeywell International Inc. | Gas preheater for chemical vapor processing furnace |
US7771194B2 (en) * | 2006-05-26 | 2010-08-10 | Honeywell International Inc. | Gas preheater for chemical vapor processing furnace having circuitous passages |
US20080241805A1 (en) * | 2006-08-31 | 2008-10-02 | Q-Track Corporation | System and method for simulated dosimetry using a real time locating system |
US7563730B2 (en) * | 2006-08-31 | 2009-07-21 | Micron Technology, Inc. | Hafnium lanthanide oxynitride films |
KR100849929B1 (ko) | 2006-09-16 | 2008-08-26 | 주식회사 피에조닉스 | 반응 기체의 분사 속도를 적극적으로 조절하는 샤워헤드를구비한 화학기상 증착 방법 및 장치 |
US7854820B2 (en) * | 2006-10-16 | 2010-12-21 | Lam Research Corporation | Upper electrode backing member with particle reducing features |
CN100451163C (zh) * | 2006-10-18 | 2009-01-14 | 中微半导体设备(上海)有限公司 | 用于半导体工艺件处理反应器的气体分布装置及其反应器 |
US8702866B2 (en) | 2006-12-18 | 2014-04-22 | Lam Research Corporation | Showerhead electrode assembly with gas flow modification for extended electrode life |
US20080166880A1 (en) * | 2007-01-08 | 2008-07-10 | Levy David H | Delivery device for deposition |
US20080194112A1 (en) * | 2007-02-09 | 2008-08-14 | International Business Machines Corporation | Method and system for plasma etching having improved across-wafer etch uniformity |
US7674394B2 (en) * | 2007-02-26 | 2010-03-09 | Applied Materials, Inc. | Plasma process for inductively coupling power through a gas distribution plate while adjusting plasma distribution |
US20080236490A1 (en) * | 2007-03-29 | 2008-10-02 | Alexander Paterson | Plasma reactor with an overhead inductive antenna and an overhead gas distribution showerhead |
DE102007026349A1 (de) * | 2007-06-06 | 2008-12-11 | Aixtron Ag | Aus einer Vielzahl diffusionsverschweißter Scheiben bestehender Gasverteiler |
US20080317973A1 (en) | 2007-06-22 | 2008-12-25 | White John M | Diffuser support |
US20080314311A1 (en) * | 2007-06-24 | 2008-12-25 | Burrows Brian H | Hvpe showerhead design |
US20090149008A1 (en) * | 2007-10-05 | 2009-06-11 | Applied Materials, Inc. | Method for depositing group iii/v compounds |
US20090159002A1 (en) * | 2007-12-19 | 2009-06-25 | Kallol Bera | Gas distribution plate with annular plenum having a sloped ceiling for uniform distribution |
US8512509B2 (en) * | 2007-12-19 | 2013-08-20 | Applied Materials, Inc. | Plasma reactor gas distribution plate with radially distributed path splitting manifold |
US20090162261A1 (en) * | 2007-12-19 | 2009-06-25 | Kallol Baera | Plasma reactor gas distribution plate having a vertically stacked path splitting manifold |
WO2009078921A1 (en) * | 2007-12-19 | 2009-06-25 | Applied Materials, Inc. | Plasma reactor gas distribution plate with path splitting manifold |
US20090162262A1 (en) * | 2007-12-19 | 2009-06-25 | Applied Material, Inc. | Plasma reactor gas distribution plate having path splitting manifold side-by-side with showerhead |
US20090159213A1 (en) * | 2007-12-19 | 2009-06-25 | Applied Materials, Inc. | Plasma reactor gas distribution plate having a path splitting manifold immersed within a showerhead |
US8876024B2 (en) * | 2008-01-10 | 2014-11-04 | Applied Materials, Inc. | Heated showerhead assembly |
US8721836B2 (en) * | 2008-04-22 | 2014-05-13 | Micron Technology, Inc. | Plasma processing with preionized and predissociated tuning gases and associated systems and methods |
KR101588482B1 (ko) * | 2008-07-07 | 2016-01-25 | 램 리써치 코포레이션 | 플라즈마 처리 챔버에 사용하기 위한 진공 갭을 포함하는 플라즈마 대향 프로브 장치 |
US8206506B2 (en) * | 2008-07-07 | 2012-06-26 | Lam Research Corporation | Showerhead electrode |
US8221582B2 (en) | 2008-07-07 | 2012-07-17 | Lam Research Corporation | Clamped monolithic showerhead electrode |
KR101606736B1 (ko) | 2008-07-07 | 2016-03-28 | 램 리써치 코포레이션 | 플라즈마 프로세싱 챔버에서 플라즈마 불안정성을 검출하기 위한 패시브 용량성-결합된 정전식 (cce) 프로브 장치 |
US8161906B2 (en) * | 2008-07-07 | 2012-04-24 | Lam Research Corporation | Clamped showerhead electrode assembly |
US20100037820A1 (en) * | 2008-08-13 | 2010-02-18 | Synos Technology, Inc. | Vapor Deposition Reactor |
US8470718B2 (en) * | 2008-08-13 | 2013-06-25 | Synos Technology, Inc. | Vapor deposition reactor for forming thin film |
US20110239940A1 (en) * | 2008-10-08 | 2011-10-06 | Giacomo Benvenuti | Vapor phase deposition system |
US9714465B2 (en) * | 2008-12-01 | 2017-07-25 | Applied Materials, Inc. | Gas distribution blocker apparatus |
US20110048325A1 (en) * | 2009-03-03 | 2011-03-03 | Sun Hong Choi | Gas Distribution Apparatus and Substrate Processing Apparatus Having the Same |
US8402918B2 (en) * | 2009-04-07 | 2013-03-26 | Lam Research Corporation | Showerhead electrode with centering feature |
US8272346B2 (en) | 2009-04-10 | 2012-09-25 | Lam Research Corporation | Gasket with positioning feature for clamped monolithic showerhead electrode |
US8491720B2 (en) * | 2009-04-10 | 2013-07-23 | Applied Materials, Inc. | HVPE precursor source hardware |
US8183132B2 (en) | 2009-04-10 | 2012-05-22 | Applied Materials, Inc. | Methods for fabricating group III nitride structures with a cluster tool |
CN102449743A (zh) * | 2009-04-24 | 2012-05-09 | 应用材料公司 | 用于后续高温第三族沉积的基材预处理 |
US20100273291A1 (en) * | 2009-04-28 | 2010-10-28 | Applied Materials, Inc. | Decontamination of mocvd chamber using nh3 purge after in-situ cleaning |
WO2010127156A2 (en) * | 2009-04-29 | 2010-11-04 | Applied Materials, Inc. | Method of forming in-situ pre-gan deposition layer in hvpe |
US8758512B2 (en) * | 2009-06-08 | 2014-06-24 | Veeco Ald Inc. | Vapor deposition reactor and method for forming thin film |
US8147614B2 (en) * | 2009-06-09 | 2012-04-03 | Applied Materials, Inc. | Multi-gas flow diffuser |
US8419959B2 (en) * | 2009-09-18 | 2013-04-16 | Lam Research Corporation | Clamped monolithic showerhead electrode |
TWI385272B (zh) * | 2009-09-25 | 2013-02-11 | Ind Tech Res Inst | 氣體分佈板及其裝置 |
US20110076421A1 (en) * | 2009-09-30 | 2011-03-31 | Synos Technology, Inc. | Vapor deposition reactor for forming thin film on curved surface |
WO2011044451A2 (en) * | 2009-10-09 | 2011-04-14 | Applied Materials, Inc. | Multi-gas centrally cooled showerhead design |
KR200464037Y1 (ko) * | 2009-10-13 | 2012-12-07 | 램 리써치 코포레이션 | 샤워헤드 전극 어셈블리의 에지-클램핑되고 기계적으로 패스닝된 내부 전극 |
WO2011062779A1 (en) | 2009-11-20 | 2011-05-26 | Eastman Kodak Company | Method for selective deposition and devices |
US20110120544A1 (en) | 2009-11-20 | 2011-05-26 | Levy David H | Deposition inhibitor composition and method of use |
US9111729B2 (en) * | 2009-12-03 | 2015-08-18 | Lam Research Corporation | Small plasma chamber systems and methods |
JP5835722B2 (ja) | 2009-12-10 | 2015-12-24 | オルボテック エルティ ソラー,エルエルシー | 自動順位付け多方向直列型処理装置 |
US9190289B2 (en) * | 2010-02-26 | 2015-11-17 | Lam Research Corporation | System, method and apparatus for plasma etch having independent control of ion generation and dissociation of process gas |
US20110256692A1 (en) | 2010-04-14 | 2011-10-20 | Applied Materials, Inc. | Multiple precursor concentric delivery showerhead |
US9449793B2 (en) | 2010-08-06 | 2016-09-20 | Lam Research Corporation | Systems, methods and apparatus for choked flow element extraction |
US9967965B2 (en) | 2010-08-06 | 2018-05-08 | Lam Research Corporation | Distributed, concentric multi-zone plasma source systems, methods and apparatus |
US8999104B2 (en) | 2010-08-06 | 2015-04-07 | Lam Research Corporation | Systems, methods and apparatus for separate plasma source control |
US9155181B2 (en) | 2010-08-06 | 2015-10-06 | Lam Research Corporation | Distributed multi-zone plasma source systems, methods and apparatus |
US20120052216A1 (en) * | 2010-08-27 | 2012-03-01 | Applied Materials, Inc. | Gas distribution showerhead with high emissivity surface |
US8573152B2 (en) | 2010-09-03 | 2013-11-05 | Lam Research Corporation | Showerhead electrode |
US9057030B2 (en) | 2010-10-30 | 2015-06-16 | General Electric Company | System and method for protecting gasifier quench ring |
US8840958B2 (en) | 2011-02-14 | 2014-09-23 | Veeco Ald Inc. | Combined injection module for sequentially injecting source precursor and reactant precursor |
TWI534291B (zh) | 2011-03-18 | 2016-05-21 | 應用材料股份有限公司 | 噴淋頭組件 |
US8459276B2 (en) | 2011-05-24 | 2013-06-11 | Orbotech LT Solar, LLC. | Broken wafer recovery system |
US9177762B2 (en) | 2011-11-16 | 2015-11-03 | Lam Research Corporation | System, method and apparatus of a wedge-shaped parallel plate plasma reactor for substrate processing |
US10283325B2 (en) | 2012-10-10 | 2019-05-07 | Lam Research Corporation | Distributed multi-zone plasma source systems, methods and apparatus |
US9508530B2 (en) | 2011-11-21 | 2016-11-29 | Lam Research Corporation | Plasma processing chamber with flexible symmetric RF return strap |
US8872525B2 (en) | 2011-11-21 | 2014-10-28 | Lam Research Corporation | System, method and apparatus for detecting DC bias in a plasma processing chamber |
US9083182B2 (en) | 2011-11-21 | 2015-07-14 | Lam Research Corporation | Bypass capacitors for high voltage bias power in the mid frequency RF range |
US10586686B2 (en) | 2011-11-22 | 2020-03-10 | Law Research Corporation | Peripheral RF feed and symmetric RF return for symmetric RF delivery |
US9396908B2 (en) | 2011-11-22 | 2016-07-19 | Lam Research Corporation | Systems and methods for controlling a plasma edge region |
US9263240B2 (en) | 2011-11-22 | 2016-02-16 | Lam Research Corporation | Dual zone temperature control of upper electrodes |
US8898889B2 (en) | 2011-11-22 | 2014-12-02 | Lam Research Corporation | Chuck assembly for plasma processing |
WO2013078098A1 (en) * | 2011-11-23 | 2013-05-30 | Lam Research Corporation | Multi zone gas injection upper electrode system |
KR102031393B1 (ko) * | 2011-11-23 | 2019-10-11 | 램 리써치 코포레이션 | 상부 전극들의 이중 존 온도 제어 |
US8900364B2 (en) * | 2011-11-29 | 2014-12-02 | Intermolecular, Inc. | High productivity vapor processing system |
US8618003B2 (en) | 2011-12-05 | 2013-12-31 | Eastman Kodak Company | Method of making electronic devices using selective deposition |
WO2013181521A2 (en) | 2012-05-31 | 2013-12-05 | Advanced Technology Materials, Inc. | Source reagent-based delivery of fluid with high material flux for batch deposition |
US9088085B2 (en) * | 2012-09-21 | 2015-07-21 | Novellus Systems, Inc. | High temperature electrode connections |
JP2014082354A (ja) * | 2012-10-17 | 2014-05-08 | Hitachi High-Technologies Corp | プラズマ処理装置 |
KR20140087215A (ko) * | 2012-12-28 | 2014-07-09 | 주식회사 윈텔 | 플라즈마 장치 및 기판 처리 장치 |
US9018108B2 (en) | 2013-01-25 | 2015-04-28 | Applied Materials, Inc. | Low shrinkage dielectric films |
US8970114B2 (en) | 2013-02-01 | 2015-03-03 | Lam Research Corporation | Temperature controlled window of a plasma processing chamber component |
DE102013101534A1 (de) * | 2013-02-15 | 2014-08-21 | Aixtron Se | Gasverteiler für einen CVD-Reaktor |
TWI473903B (zh) | 2013-02-23 | 2015-02-21 | Hermes Epitek Corp | 應用於半導體設備的噴射器與上蓋板總成 |
JP6007143B2 (ja) * | 2013-03-26 | 2016-10-12 | 東京エレクトロン株式会社 | シャワーヘッド、プラズマ処理装置、及びプラズマ処理方法 |
KR102156795B1 (ko) * | 2013-05-15 | 2020-09-17 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 증착 장치 |
JP6199619B2 (ja) * | 2013-06-13 | 2017-09-20 | 株式会社ニューフレアテクノロジー | 気相成長装置 |
JP6153401B2 (ja) * | 2013-07-02 | 2017-06-28 | 株式会社ニューフレアテクノロジー | 気相成長装置および気相成長方法 |
US9353440B2 (en) * | 2013-12-20 | 2016-05-31 | Applied Materials, Inc. | Dual-direction chemical delivery system for ALD/CVD chambers |
KR101575844B1 (ko) | 2014-05-09 | 2015-12-08 | 제주대학교 산학협력단 | 원자층 증착용 헤드 및 이를 구비하는 원자층 증착 장치 |
JP6169040B2 (ja) * | 2014-05-12 | 2017-07-26 | 東京エレクトロン株式会社 | プラズマ処理装置の上部電極構造、プラズマ処理装置、及びプラズマ処理装置の運用方法 |
TWI733712B (zh) * | 2015-12-18 | 2021-07-21 | 美商應用材料股份有限公司 | 用於沉積腔室的擴散器及用於沉積腔室的電極 |
US11694911B2 (en) * | 2016-12-20 | 2023-07-04 | Lam Research Corporation | Systems and methods for metastable activated radical selective strip and etch using dual plenum showerhead |
JP7035581B2 (ja) * | 2017-03-29 | 2022-03-15 | 東京エレクトロン株式会社 | 基板処理装置及び基板処理方法。 |
KR102096700B1 (ko) | 2017-03-29 | 2020-04-02 | 도쿄엘렉트론가부시키가이샤 | 기판 처리 장치 및 기판 처리 방법 |
US11220747B2 (en) * | 2018-10-29 | 2022-01-11 | Applied Materials, Inc. | Complementary pattern station designs |
JP6937806B2 (ja) * | 2019-09-25 | 2021-09-22 | 株式会社Kokusai Electric | 基板処理装置、及び半導体の製造方法 |
KR20210150978A (ko) * | 2020-06-03 | 2021-12-13 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 샤워 플레이트, 기판 처리 장치 및 기판 처리 방법 |
DE102020123076A1 (de) | 2020-09-03 | 2022-03-03 | Aixtron Se | Gaseinlassorgan eines CVD-Reaktors mit zwei Einspeisestellen |
Family Cites Families (25)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3689110A (en) * | 1970-08-05 | 1972-09-05 | William B Ferguson | Fluid line coupling |
US4226164A (en) * | 1979-01-10 | 1980-10-07 | Carter Alton L | Split threaded coupling nut |
US4923349A (en) * | 1985-05-28 | 1990-05-08 | Hartley Logsdon | Threaded split coupling nut |
US5000113A (en) * | 1986-12-19 | 1991-03-19 | Applied Materials, Inc. | Thermal CVD/PECVD reactor and use for thermal chemical vapor deposition of silicon dioxide and in-situ multi-step planarized process |
US6379466B1 (en) * | 1992-01-17 | 2002-04-30 | Applied Materials, Inc. | Temperature controlled gas distribution plate |
GB9313633D0 (en) * | 1993-07-01 | 1993-08-18 | Black & Decker Inc | A clamp nut |
US5628829A (en) * | 1994-06-03 | 1997-05-13 | Materials Research Corporation | Method and apparatus for low temperature deposition of CVD and PECVD films |
US5558717A (en) * | 1994-11-30 | 1996-09-24 | Applied Materials | CVD Processing chamber |
JP3362552B2 (ja) * | 1995-03-10 | 2003-01-07 | 東京エレクトロン株式会社 | 成膜処理装置 |
JP3380091B2 (ja) * | 1995-06-09 | 2003-02-24 | 株式会社荏原製作所 | 反応ガス噴射ヘッド及び薄膜気相成長装置 |
US5725675A (en) * | 1996-04-16 | 1998-03-10 | Applied Materials, Inc. | Silicon carbide constant voltage gradient gas feedthrough |
US5906683A (en) * | 1996-04-16 | 1999-05-25 | Applied Materials, Inc. | Lid assembly for semiconductor processing chamber |
US5846883A (en) * | 1996-07-10 | 1998-12-08 | Cvc, Inc. | Method for multi-zone high-density inductively-coupled plasma generation |
US5653808A (en) * | 1996-08-07 | 1997-08-05 | Macleish; Joseph H. | Gas injection system for CVD reactors |
US5882414A (en) * | 1996-09-09 | 1999-03-16 | Applied Materials, Inc. | Method and apparatus for self-cleaning a blocker plate |
US5950925A (en) * | 1996-10-11 | 1999-09-14 | Ebara Corporation | Reactant gas ejector head |
US6266462B1 (en) | 1998-02-12 | 2001-07-24 | Ultraband Fiber Optics | Acousto-optic filter |
US5968276A (en) * | 1997-07-11 | 1999-10-19 | Applied Materials, Inc. | Heat exchange passage connection |
US6161500A (en) * | 1997-09-30 | 2000-12-19 | Tokyo Electron Limited | Apparatus and method for preventing the premature mixture of reactant gases in CVD and PECVD reactions |
US6110556A (en) * | 1997-10-17 | 2000-08-29 | Applied Materials, Inc. | Lid assembly for a process chamber employing asymmetric flow geometries |
US5997649A (en) * | 1998-04-09 | 1999-12-07 | Tokyo Electron Limited | Stacked showerhead assembly for delivering gases and RF power to a reaction chamber |
US6126753A (en) * | 1998-05-13 | 2000-10-03 | Tokyo Electron Limited | Single-substrate-processing CVD apparatus and method |
US6096564A (en) * | 1999-05-25 | 2000-08-01 | Wisconsin Alumni Research Foundation | Plasma-aided treatment of surfaces against bacterial attachment and biofilm deposition |
US6123775A (en) * | 1999-06-30 | 2000-09-26 | Lam Research Corporation | Reaction chamber component having improved temperature uniformity |
US6206972B1 (en) * | 1999-07-08 | 2001-03-27 | Genus, Inc. | Method and apparatus for providing uniform gas delivery to substrates in CVD and PECVD processes |
-
1999
- 1999-07-08 US US09/350,417 patent/US6206972B1/en not_active Expired - Lifetime
-
2000
- 2000-07-06 KR KR10-2002-7000226A patent/KR100446486B1/ko not_active IP Right Cessation
- 2000-07-06 WO PCT/US2000/040314 patent/WO2001004931A2/en active IP Right Grant
- 2000-07-06 JP JP2001509065A patent/JP2003504866A/ja not_active Ceased
- 2000-07-06 AT AT00955920T patent/ATE310107T1/de not_active IP Right Cessation
- 2000-07-06 EP EP00955920A patent/EP1274875B1/de not_active Expired - Lifetime
- 2000-07-06 DE DE60024146T patent/DE60024146T2/de not_active Expired - Fee Related
- 2000-07-06 AU AU68039/00A patent/AU6803900A/en not_active Abandoned
- 2000-11-08 US US09/709,228 patent/US6626998B1/en not_active Expired - Fee Related
-
2001
- 2001-01-24 US US09/769,634 patent/US6284673B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2001-08-23 US US09/939,272 patent/US20010054391A1/en not_active Abandoned
-
2002
- 2002-12-30 US US10/335,404 patent/US6616766B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
ATE310107T1 (de) | 2005-12-15 |
EP1274875B1 (de) | 2005-11-16 |
US6284673B2 (en) | 2001-09-04 |
US6626998B1 (en) | 2003-09-30 |
AU6803900A (en) | 2001-01-30 |
US20010002582A1 (en) | 2001-06-07 |
WO2001004931A2 (en) | 2001-01-18 |
US6206972B1 (en) | 2001-03-27 |
US20030101934A1 (en) | 2003-06-05 |
EP1274875A2 (de) | 2003-01-15 |
EP1274875A4 (de) | 2004-10-20 |
JP2003504866A (ja) | 2003-02-04 |
KR100446486B1 (ko) | 2004-09-01 |
WO2001004931A3 (en) | 2001-05-03 |
US20010054391A1 (en) | 2001-12-27 |
DE60024146D1 (de) | 2005-12-22 |
US6616766B2 (en) | 2003-09-09 |
KR20020031380A (ko) | 2002-05-01 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE60024146T2 (de) | Methode und apparatfür die gleichmä ige gaszufuhr zu substraten bei cvd und pecvd verfahren | |
DE60201383T2 (de) | Dosierrohr für Gasabgabe | |
DE4120176C1 (de) | ||
US7018940B2 (en) | Method and apparatus for providing uniform gas delivery to substrates in CVD and PECVD processes | |
EP0697376B1 (de) | Einteiliges Injektionsgerät und Verfahren zum Abgeben von Gasen auf eine Oberfläche | |
DE69629412T2 (de) | Anlage zur Dampfabscheidung von Dünnschichten | |
DE4014351C2 (de) | Vorrichtung zum Ätzen der oder zum Bilden von Schichten auf der Oberfläche von Halbleitern | |
DE3923390C2 (de) | ||
EP1349968B1 (de) | Fluidverteilungsvorrichtung für mehrere fluide | |
EP2167270B1 (de) | Aus einer vielzahl diffusionsverschweisster scheiben bestehender gasverteiler und ein verfahren zur fertigung eines solchen gasverteilers | |
EP2470685B1 (de) | Cvd-reaktor und verfahren zum abscheiden einer schicht | |
DE102008036642A1 (de) | Sprühkopf und CVD-Vorrichtung, welche diesen aufweist | |
DE112014003341B4 (de) | Epitaxiereaktor | |
WO2020083917A1 (de) | Schirmplatte für einen cvd-reaktor | |
EP3847293A2 (de) | Verfahren zur regelung der deckentemperatur eines cvd-reaktors | |
EP1485518A1 (de) | Vorrichtung zum abscheiden von d nnen schichten auf einem su bstrat | |
DE102006013801A1 (de) | Gaseinlassorgan mit gelochter Isolationsplatte | |
DE102017104223A1 (de) | Verzweigungsstruktur | |
EP3255173B1 (de) | Fluidtemperierter gasverteiler in schichtbauweise | |
DE102020101066A1 (de) | CVD-Reaktor mit doppelter Vorlaufzonenplatte | |
DE102004004858A1 (de) | Vorrichtung zum Beschichten von Substratscheiben, Gaszufuhreinrichtung und Verfahren zu ihrer Herstellung | |
DE102021103368A1 (de) | CVD-Reaktor mit einem ein Gaseinlassorgan umgebenden Temperrierring | |
EP4208584A2 (de) | Gaseinlassorgan eines cvd-reaktors mit zwei einspeisestellen | |
DE102020112568A1 (de) | Gaseinlassorgan für einen CVD-Reaktor | |
DE102015104307B4 (de) | Sputtervorrichtung zur Beschichtung eines Substrats |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |