DE60032218T2 - Wellenlängenstabilisierungsvorrichtung und dessen Arbeitswellenlängenjustierungsverfahren - Google Patents
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Description
- Die Erfindung basiert auf einem Verfahren zum Einstellen der Arbeitswellenlänge von Lasern und einer Wellenlängenstabilisierungsüberwachung zum Regeln der Wellenlänge eines Lasers mit einem optischen Eingang, einem Teiler, einem Wellenlängenfilter in einem Arm und zwei Fotodetektoren.
- Verfahren zur Wellenlängenstabilisierung und -einstellung sind aus dem Stand der Technik, z. B. aus der
US 4,583,228 bekannt. Eine Wellenlängenüberwachung wird in diesen Wellenlängenstabilisierungsverfahren verwendet. Hier durchquert das Licht eines Lasers zuerst einen Strahlteiler und trifft dann auf einen Fotodetektor in jedem von zwei Armen. Einer der beiden Arme enthält ein Fabry-Perot-Interferometer. Die von den beiden Fotodioden bereitgestellten Fotoströme werden in einem Differenzverstärker verglichen und liefern ein resultierendes Fehlersignal, das für den Steuerschaltkreis benötigt wird. Die Wellenlängenüberwachung ist auf eine definierte Wellenlänge eingestellt oder auf Gruppen von Wellenlängen. Zu diesem Zweck wird das Fabry-Perot-Filter in einem optischen Arm abgestimmt, und in dem anderen optischen Arm wird das Referenzniveau durch absichtliche Abschwächung des Signals eingestellt. Der bekannte Stand der Technik ist auch detailliert in den1 bis3 beschrieben. Jedoch stellt dies ein kompliziertes Verfahren und eine entsprechende Überwachung dar. Abstimmbare Fabry-Perot-Filter sind mechanisch empfindlich und können nicht in ein Modul mit geeigneten kleinen strukturellen Dimensionen integriert werden. - Auch ist der Einfallswinkel des optischen Strahls eine empfindliche Größe. Es ist aus der
US 4,998,256 bekannt, das Etalon für eine bessere Einstellung der zentralen Wellenlänge der Wellenlängenüberwachung vor dem optischen Strahl zu drehen. Diese Art der Einstellung innerhalb einer geringen Toleranzbandbreite ist in einer industriellen Umgebung schwierig zu erreichen. Wieder ist diese Art der Lösung eine Lösung mit hohen Kosten, welche keinen Anhaltspunkt für ein preiswertes Produkt liefert. -
EP 0 818 859 offenbart eine Wellenlängenüberwachungsvorrichtung, die den divergenten Ausgang von einer Laserdiode filtert, wobei ein Fabry-Perot-Etalon verwendet wird. Die Abschwächung des gefilterten Ausgangs wird durch Drehen des Fabry-Perot-Etalons kalibriert. Der gefilterte Ausgang wird dann an unterschiedlichen räumlichen Orten durch zwei Fotodioden überwacht. Die Fotodioden sind kalibriert, so daß die Differenz zwischen den Signalen von je der Fotodiode bei der Betriebswellenlänge einer Laserquelle Null ist. Nach der Kalibrierung verursacht eine Änderung der Betriebswellenlänge der Laserquelle eine von Null verschiedene Differenz zwischen den Signalen von jeder Fotodiode, was eine Wellenlängenänderung anzeigt. - Wie in der folgenden Beschreibung dargelegt, wird eine Vorrichtung gemäß Anspruch 1 und ein Verfahren gemäß Anspruch 5 beansprucht.
- Der Vorteil der Wellenlängenüberwachung und des Verfahrens gemäß der Erfindung ist, daß es leicht möglich ist, die Überwachung durch gegeneinander Bewegen von Funktionsbausteinen mit verschiedenen Komponenten an verschiedene Wellenlängen anzupassen. Hier wird ein Wellenlängenfilter verwendet, das nicht abstimmbar ist und das daher eine verringerte Empfindlichkeit in Bezug auf mechanische Probleme aufweist. Das Verfahren ermöglicht eine optimale Anpassung für eine Wellenlänge in einem Befestigungsprozeß mit einem zusätzlichen Schritt des Fixierens der Funktionsbausteine in Bezug zueinander.
- Beispielhafte Ausführungsformen der Erfindung sind in den Zeichnungen dargestellt und im Detail in der folgenden Beschreibung erklärt. Die Zeichnungen zeigen:
-
1 stellt eine Wellenlängenüberwachung gemäß dem Stand der Technik dar, -
2 stellt das Differenzsignal einer Wellenlängenüberwachung dar, -
3 stellt das Fehlersignal einer Überwachung gemäß dem Stand der Technik dar, -
4 stellt ein Fabry-Perot-Etalon dar, -
5 stellt eine Änderung der Fokussierlinse dar, -
6 stellt schematisch eine erste Ausführungsform einer Wellenlängenüberwachung gemäß der Erfindung dar und -
7 stellt schematisch eine zweite Ausführungsform einer Wellenlängenüberwachung gemäß der Erfindung dar. - Eine Wellenlängenstabilisierungsüberwachung
1 ist schematisch in1 dargestellt. Ein Strahlteiler3 ist mit einem optischen Eingang2 verbunden. Der Strahlteiler3 teilt das Licht in zwei Arme. Der erste Ausgang des Strahlteilers3 führt direkt zu einer Fotodiode P1. Der zweite optische Ausgang des Strahlteilers3 führt zu dem Eingang eines Wellenlängenfilters4 , dessen optischer Ausgang zu einer Fotodiode P2 führt. Die Fotodioden, deren elektrische Verbindungen hier nicht gezeigt sind, liefern Fotoströme. Die Fotodiode P1 liefert einen konstanten Referenzstrom I1 in Bezug auf Änderungen der Wellenlänge des Lasers, dessen Licht auf den optischen Eingang2 gegeben wird. Als Folge des Wellenlängenfilters liefert die Fotodiode P2 eine Filterfunktion12 in Abhängigkeit von der Wellenlänge. Die zwei Fotoströme werden in Bezug auf ihre Differenz oder ihr Verhältnis analysiert und liefern eine in2 dargestellte Funktion. Der Schnittpunkt dieser Funktionen ist durch die Auswahl eines Filters und/oder durch den Referenzstrom auf die gewünschte Wellenlänge eingestellt. Es ist in2 angedeutet, daß die Wellenlänge des Lasers durch Erwärmen oder Kühlen des Lasers eingestellt werden kann, wodurch ein Schnittpunkt, der noch nicht bei der exakten Wellenlänge liegt, verschoben werden kann. Der Referenzstrom I1 muß einen Wert bereitstellen, so daß das Fehlersignal bei der erwünschten einzustellenden Wellenlänge Null wird. Das Fehlersignal wird dann verwendet, um die Lasertemperatursteuerungsstufe zu betreiben. Wenn die Wellenlänge zu kleineren Wellenlängen driftet, kompensiert der Steuerschaltkreis dies durch Erwärmen des Lasers. Wenn die Wellenlänge zu größeren Wellenlängen driftet, kühlt der Steuerschaltkreis den Laser. Wenn eine Wellenlängenüberwachung dieser Art für Wellenlängenmultiplexübertragungssysteme verwendet wird, ist es wirkungsvoll, Wellenlängenfilter mit einer periodischen Charakteristik auszuwählen. Es ist bekannt, hierfür Fabry-Perot-Filter zu verwenden. In dem einfachsten Fall verwendet man z. B. ein Luftspalt-Fabry-Perot-Etalon als dispersives Element. Die Verwendung eines Fabry-Perot-Etalons erlaubt es, die Periode des Interferometers einzustellen, so daß sie dem Wellenlängenmuster für das Wellenlängenmultiplexen entspricht. Die Fehlerkurve in dem Fall der Verwendung solch eines periodischen Filters ist in3 dargestellt. Hier ist das Fehlersignal des periodischen Wellenlängenfilters gegen die Wellenlänge aufgetragen. Es ist ersichtlich, daß aufgrund der periodischen Funktion der Wert "Null" immer an dem Schnittpunkt zwischen Referenzsignal und Filterfunktion auftritt, wodurch die gewünschten Wellenlängen in dem Abstand der freien spektralen Länge der Funktion eingestellt werden können. Auf diese Weise ist es möglich, einen Laser bei verschiedenen Wellenlängen einzustellen. Dies reduziert die Anzahl von verschiedenen durch einen Betreiber eines Wellenlängenmultiplexübertragungssystems zu verwendenden unterschiedlichen Laser. Gemäß den Bestimmungen der International Telecommunication Union (ITU) muß die Genauigkeit, mit der die Wellenlängen eingestellt werden, ein Zehntel des Kanalabstands zwischen den Wellenlängen betragen. Daher sind Genauigkeitsniveaus mit Kanalabständen von 200 GHz zu erwarten. Jedoch sind WDM-Systeme mit wesentlich kleineren Kanalabständen für die Zukunft geplant, welche die Anforderungen auf die Wellenlängenüberwachungen und die Steuerschaltkreise erhöhen werden. Wird das in3 dargestellte Verfahren zur Wellenlängenstabilisierung betrachtet, so ist offensichtlich, daß es, wenn der Kanalabstand zwischen individuellen Wellenlängen reduziert wird, notwendig ist, die Periode des Fabry-Perot-Etalons anzupassen. -
4 zeigt ein Etalon mit zwei Platten5 und einen Luftspalt der Länge L zwischen diesen. Die optische Achse6 ist senkrecht zu den Platten5 . Um Rückreflektionen in den Laserresonator zu verhindern, weist der einfallende Strahl4 einen Winkel θ zwischen der senkrechten Achse und dem Strahl4 auf. -
- Dies bedeutet, daß bei λm = 1,55 μm und θ = 2° die Winkelabhängigkeit der Wellenlänge –1 nm/° beträgt.
- Um die erforderliche Präzision bei der Mittenwellenlänge zu erreichen, sind die Toleranzen für die Winkelanordnung des Strahls sehr eng. Zum Beispiel wird bei λm = 1,55 μm und θ = 2°, a ± 30 pm an Präzision der Zentralwellenlänge eine Präzision des Einfallswinkels besser als ± 0,03° benötigt.
- Die einfachste Möglichkeit, die erfindungsgemäßen Ideen anzuwenden, ist es, zwei Funktionsbausteine zu realisieren. Jeder von Ihnen enthält eine Anzahl der zuvor aufgezählten Elemente, die passiv an den Funktionsbausteinen befestigt werden (z. B. durch Löten oder Kleben). Die Linse und die Laserdiode müssen auf getrennten Funktionsbausteinen liegen, um die dynamische Anpassung zu ermöglichen.
- Es ist offensichtlich, daß die Zeichnungen nur Verschiebungen entlang der x-Achse zeigen. Der gleiche Effekt könnte durch Verschiebungen entlang der y-Achse erreicht werden. Die z-Achse wird verwendet, um die Kollimation der Linse einzustellen.
- Eine Möglichkeit, den Einfallswinkel eines Strahls zu verändern, ist in
5 dargestellt. Eine Kollimationslinse8 ist in den Emissionspfad der Laserdiode7 eingebaut. Der Abstand zwischen dem Brennpunkt der Linse und der Laserdiode ist die Brennweite f. Der resultierende Strahl ist parallel, wenn Laser und Linse ausgerichtet sind. In5b ) ist die Kollimationslinse8 senkrecht zu der optischen Achse um einen Abstand d verschoben. Dies führt zu einer Winkelabweichung von Φ. -
6 zeigt eine erste Ausführungsform der Erfindung. Die Wellenlängenüberwachung ist auf zwei unterschiedlichen Funktionsbausteinen12 und13 befestigt. Der Fuktionsbaustein12 weist die Laserdiode7 , das dispersive Element9 und die zwei Fotodioden, die Wellenlängenüberwachungsdiode10 und die Leistungsüberwachungsfotodiode11 auf. Der Funktionsbaustein13 weist die Kollimationslinse8 auf. - In den Zeichnungen wird die Strahlaufteilung durch räumliches Teilen erreicht. Andere Mittel, um die Aufteilung durchzuführen (Strahlteilerwürfel, Teilerplatten ...) könnten ebenfalls verwendet werden. Der Typ des dispersiven Elements ist ebenfalls nicht präzisiert, da es ein Fabry-Perot-Etalon oder ein Interferenzfilter sein kann. In der Tat könnten alle Wellenlängenfilter passen, so lange sie eine ausreichende spektrale Empfindlichkeit gegenüber dem Einfallswinkel des Eingangsstrahls aufweisen.
- Die
6b zeigt die Änderungen, die durch Bewegen des Bausteins12 in Bezug auf den Baustein13 hervorgerufen werden. - Eine zweite Ausführungsform der Erfindung ist in
7 gegeben. - Es werden zwei mit
14 und15 bezeichnete Funktionsbausteine verwendet. Der Funktionsbaustein14 weist die Kollimationslinse8 , das dispersive Element9 , die Wellenlängenüber wachungsfotodiode10 und die Leistungsüberwachungsfotodiode11 auf. Auf dem Funktionsbaustein15 ist nur die Laserdiode7 befestigt. -
7b zeigt die Änderung, welche durch Bewegen des Funktionsbausteins14 relativ zu dem Baustein15 hervorgerufen wird. - Das Verfahren, welches verwendet wird, um die Wellenlängenüberwachung einzustellen, beginnt in der rechten Position mit zwei Funktionsbausteinen, wobei mindestens einer von diesen bewegbar auf einer Bodenplatte befestigt ist. Die Laserdiode ist so mit dem Treiberschaltkreis verbunden, daß sie arbeitet. Der Laserstrahl wird durch die Fotodioden und den verbundenen elektronischen Schaltkreis analysiert. Das Verfahren zum Analysieren des elektrischen Signals der Fotodioden ist nicht der Kern der Erfindung. Diese Analyse kann auf eine Weise ausgeführt werden, die im Stand der Technik, z. B. der
US 4,583,228 , beschrieben ist. Diese Messungen zeigen, daß es notwendig ist, die Funktionsbausteine gegeneinander zu bewegen. Die Funktionsbausteine werden vorsichtig bis zu einer Position bewegt, in der die Signale der Fotodioden ein perfektes Nulldurchgangssignal bei der gewünschten Wellenlänge zeigen. Dann werden die Funktionsbausteine auf der Bodenplatte oder aneinander befestigt. Die Befestigung kann z. B. durch Laserschweißen, wobei ein YAG-Laser verwendet wird, oder irgendein anderes Befestigungsverfahren erfolgen. - Die oben beschriebenen Funktionsbausteine können aus irgendeinem Material hergestellt sein, das für optoelektronische Komponenten verwendet wird. Es können z. B. metallische Materialien (wie z. B. Kovar, Invar, ....), Silizium, Glas. Keramiken, ... sein.
- Die Funktionsbausteine sind auf einer Bodenplatte aus einem Material montiert, das verwendet werden kann, um den Funktionsbaustein nach einer Einstellung zu fixieren. Die Bodenplatte kann die gleichen Materialien wie die Funktionsbausteine verwenden (was es ermöglicht, den thermischen Ausdehnungskoeffizienten anzupassen). In vielen Fällen können es auch die Keramiken eines Peltier-Kühlers sein.
Claims (10)
- Wellenlängenstabilisierungsüberwachung mit: einer Laserquelle (
7 ), um einen Laserausgang zu erzeugen, einem mindestens einmal bewegbaren kollimierenden Element (8 ), das so angeordnet ist, daß es den Laserausgang unter einem Winkel kollimiert, wobei das kollimierende Element mindestens einmal relativ zu der Laserquelle bewegbar ist, einer ersten Fotodiode (11 ), die so angeordnet ist, daß sie die Intensität eines Teils des kollimierten Laserausgangs mißt, der einen konstanten Referenzstrom relativ zu Änderungen der Wellenlänge des Laserausgangs erzeugt, einem winkelabhängigen Wellenlängenfilter (9 ), das so angeordnet ist, daß es den anderen Teil des kollimierten Laserausgangs filtert in Abhängigkeit von der Position des kollimierenden Elements relativ zu dem Filter, einer zweiten Fotodiode (10 ), die so angeordnet ist, daß sie die Intensität des gefilterten Teils des kollimierten Laserausgangs mißt, der einen Strom in Abhängigkeit von der Wellenlänge des Laserausgangs erzeugt. - Wellenlängenstabilisierungsüberwachung nach Anspruch 1, darüber hinaus mit einem ersten Funktionsbaustein (
12 ) und einem zweiten Funktionsbaustein (13 ), wobei die Laserquelle (7 ), die erste Fotodiode (11 ), die zweite Fotodiode (10 ) und das winkelabhängige Wellenlängenfilter (9 ) an dem ersten Funktionsbaustein (12 ) befestigt sind und das kollimierende Element (8 ) an dem zweiten Funktionsbaustein (13 ) befestigt ist. - Wellenlängenstabilisierungsüberwachung nach Anspruch 1, darüber hinaus mit einem dritten Funktionsbaustein (
15 ) und einem vierten Funktionsbaustein (14 ), wobei die Laserquelle (7 ) an dem dritten Funktionsbaustein (15 ) befestigt ist und die erste Fotodiode (11 ), die zweite Fotodiode (10 ), das winkelabhängige Wellenlängenfilter (9 ) und das kollimierende Element (8 ) an dem vierten Funktionsbaustein (14 ) befestigt sind. - Wellenlängenstabilisierungsüberwachung nach Anspruch 2 oder 3, dadurch gekennzeichnet, daß irgendwelche aus der Gruppe des ersten Funktionsbausteins (
12 ), des zweiten Funktionsbausteins (13 ), des dritten Funktionsbausteins (14 ) oder des vierten Funktionsbausteins (15 ) bewegt werden und diese dann relativ zueinander fixiert werden. - Verfahren zum Einstellen der Arbeitswellenlänge einer Laserquelle (
7 ), die einen Laserausgang aufweist, mit: Kollimieren des Laserausgangs unter einem Winkel mit einem kollimierenden Element (8 ), Messen der Intensität eines Teils des kollimierten Laserausgangs mit einer ersten Photodiode (11 ), die einen konstanten Referenzstrom relativ zu Änderungen der Wellenlänge des Laserausgangs erzeugt, Filtern des anderen Teils des kollimierten Laserausgangs mit einem winkelabhängigen Wellenlängenfilter (9 ) in Abhängigkeit von der Position des kollimierenden Elements in Bezug auf das Filter, Messen der Intensität des anderen Teils des kollimierten Laserausgangs nach der Filterung durch das winkelabhängige Wellenlängenfilter (9 ) mit einer zweiten Fotodiode (10 ), welche einen Strom in Abhängigkeit von der Wellenlänge des Laserausgangs erzeugt, Bewegen des kollimierenden Elements (8 ) in Bezug auf die Laserquelle, bis die Differenz zwischen dem ersten Fotodiodenstrom, der bei der Arbeitswellenlänge gemessen wird, und dem zweiten Fotodiodenstrom, der bei der Arbeitswellenlänge gemessen wird, einen Sollwert erreicht, Einstellen der Arbeitswellenlänge der Laserquelle, wenn die Differenz zwischen dem ersten Strom und dem zweiten Strom sich vom Sollwert ändert. - Verfahren nach Anspruch 5, darüber hinaus mit einem ersten Funktionsbaustein (
12 ) und einem zweiten Funktionsbaustein (13 ), wobei die Laserquelle (7 ), die erste Fotodiode (11 ), die zweite Fotodiode (10 ) und das winkelabhängige Wellenlängenfilter (9 ) auf dem ersten Funktionsbaustein befestigt sind und das Kollimationselement (8 ) auf dem zweiten Funktionsbaustein (13 ) befestigt ist. - Verfahren nach Anspruch 5, darüber hinaus mit einem dritten Funktionsbaustein (
15 ) und einem vierten Funktionsbaustein (14 ), wobei die Laserquelle (7 ) auf dem dritten Funktionsbaustein (15 ) befestigt ist, und die erste Fotodiode (11 ), die zweite Fotodiode (10 ), das winkelabhängige Wellenlängenfilter (9 ) und das Kollimationselement (8 ) auf dem vierten Funktionsbaustein befestigt sind. - Verfahren nach Anspruch 6 oder 7, dadurch gekennzeichnet, daß der erste Funktionsblock, der zweite Funktionsblock (
13 ), der dritte Funktionsblock (14 ) und der vierte Funktionsblock (15 ) entlang einer x- oder y-Achse bewegt werden. - Verfahren nach Anspruch 6, 7 oder 8, dadurch gekennzeichnet, daß der erste Funktionsblock, der zweite Funktionsblock (
13 ), der dritte Funktionsblock (14 ) und der vierte Funktionsblock (15 ) in einer Position relativ zueinander fixiert werden, wenn die gewünschte Wellenlänge erreicht wird. - Verfahren nach einem der Ansprüche 5 bis 9, dadurch gekennzeichnet, daß der Sollwert Null ist.
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