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HINTERGRUND
DER ERFINDUNG
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Technisches Gebiet
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Die
Erfindung betrifft eine Mehrstrahl-Belichtungsvorrichtung gemäß Oberbegriff
des Anspruchs 1. Eine derartige Vorrichtung führt eine Belichtung durch,
indem eine Mehrstrahl-Lichtquelle auf Aufzeichnungsmaterialien wie
beispielsweise Photorezeptoren, lichtempfindliche Materialien und
wärmeempfindliche
Materialien abgebildet wird.
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Stand der
Technik
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Die
lithographische Druckplattenherstellung unter Verwendung von PS-Platten
(vorsensibilisierte Platten) ist in der Druckindustrie allgemein üblich. Um
ein Farbbild zu drucken, erfolgt ein Lesen mit einem Scanner für drei separierte
Farben R (Rot), G (Grün)
und B (Blau), die Bildsignale für
diese drei Farben werden in farbseparierte Halbtonsignale für vier Farben
C (Cyan), M (Magenta), Y (Gelb) und Bk (Schwarz) umgewandelt, es
werden lichtempfindliche Materialien, die als „Lith-Filme" bezeichnet werden,
für die
einzelnen Farben mit Hilfe von Lichtstrahlen belichtet, die auf
der Grundlage der erhaltenen farbseparierten Halbtonsignale moduliert
sind, um Lith-Platten für
die einzelnen Farben zu erstellen, und es werden Halbtonbilder für die einzelnen Farben
durch Belichten der PS-Platten
mit Hilfe der erstellten Lith-Platten erzeugt. Im Ergebnis erhält man lithographische
Druckplatten für
die vier Farben C, M, Y und Bk.
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In
den vergangenen Jahren ziehen die Direkt-Druckplattenherstellung
und das CTP-Verfahren
(Computer-Druckplatten-Verfahren) zunehmende Aufmerksamkeit auf
sich, da sie beitragen zur Vereinfachung des Druckplattenherstellungsprozesses
und zur Verkürzung
der Herstellungszeit. Diese Methoden erübrigen die Lith-Filme, die
Druckplatten werden durch direktes Zeichnen von Bildern auf PS-Platten
mit Lichtstrahlen, beispielsweise Laserstrahlen, unter Verwendung
der farbseparierten Halbtonsignale für die vier Farben C, M, Y und
Bk hergestellt, die mit Hilfe des Scannersystems aufgenommen wurden.
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Um
Druckbilder mit stärkerem
Kontrast und besserer Qualität
zu erstellen, muß die
Aufzeichnungsdichte bis zu 2.400-2.540 dpi erhöht werden, so daß der Fleckdurchmesser
der Lichtstrahlen, die die Halbtonpunkte erzeugen, sich auf etwa
10,0 bis 10,6 μm
verringert. Während
es notwendig ist, feinere Lichtflecken durch Erhöhen der Dichte der gedruckten
Bilder zu bilden, ist eine weitere Reduzierung der Druckplattenherstellungszeit
erforderlich, und PS-Platten mit einer Größe von bis zu 1.100 mm × 950 mm
werden vorzugsweise in möglichst
kürzester
Zeit von beispielsweise einigen Minuten belichtet. Dieses Erfordernis,
eine hochdichte Belichtung großer
Flächen
zu erreichen, besteht nicht nur auf dem Gebiet des Druckens, sondern
auch auf zahlreichen Bildaufzeichnungs-Anwendungsgebieten.
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Im
Fall der oben angesprochenen groß bemessenen PS-Druckplatten
macht es eine hochdichte Belichtung mit einem einzelnen Lichtstrahl
erforderlich, daß die
Trommel (die Außentrommel),
die mit der PS-Platte bestückt
ist, für
die Hauptabtastung mit einer Drehzahl von 10.000 U/min oder mehr
drehen sollte. Aus baulichen und steuerlichen Gesichtspunkten jedoch
ist diese Anforderung nahezu unmöglich
mit geringen Kosten zu erfüllen.
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Da
die hochdichte Belichtung mit einem einzelnen Lichtstrahl nicht
in kürzerer
Zeit erreicht werden kann, wurde vorgeschlagen, die Belichtungszeit
dadurch zu verkürzen,
daß mehrere
Linien mit mehreren Lichtstrahlen gezogen werden. Eine nach diesem
Prinzip arbeitende Vorrichtung wird als Mehrstrahl-Belichtungsvorrichtung
bezeichnet, Beispiele für
den einschlägigen
Stand der Technik finden sich in dem US-Patent Nr. 5 517 359, der
japanischen Patentanmeldung (JPA) Nr. 1864901994 und der internationalen
Veröffentlichung
(WO) Nr. 97/27065.
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Die
US-PS 5 517 359 offenbart eine Vorrichtung zum Abbilden des Lichts
einer Laserdiode über
ein lineares Mehrkanal-Lichtfilter. Das Licht von 19 Emittern für eine Hochleistungs-BALD
(broad area laser diode; großflächige Laserdiode)
wird auf das lineare Lichtventil mit Hilfe eines Linsenarrays abgebildet,
in welchem der Mittenabstand zwischen einzelnen Linsen etwa so groß ist wie
der Mittenabstand der Emitter. Die Abbilder der einzelnen Emitter
werden überlagert,
und das kleine lineare Lichtventil wird mit einem Hochleistungs-LD-Array
(einem Laserdiodenarray mit einer Leistung von 20 W insgesamt) beleuchtet,
so daß das
gewünschte
Bild auf einem wärmeempfindlichen
oder lichtempfindlichen Material erzeugt wird, um eine wirksame CTP
zu erhalten.
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Weil
das kleine lineare Lichtventilarray mit dem eine Leistung von 20
W aufweisenden Hochleistungs-LD-Array bestrahlt wird, erfordert
die Vorrichtung eine Feineinstellung der relativen Lagen der beiden
Arrays. Dies führt
zu zwei Problemen: erstens, wenn die LD-Lichtquelle ausfällt, muß sie durch ein neues LD-Array
ersetzt werden, allerdings sind die notwendigen Justierarbeiten
zu kompliziert, um vom Anwender ausgeführt werden zu können, und
die Vorrichtung muß deshalb
zum Hersteller oder zu einem geeigneten Servicezentrum gebracht
werden, wo eine zeitaufwendige Reparatur mit dem Austausch teurer
Teile stattfindet. Zweitens, um die Zuverlässigkeit des Geräts zu steigern,
muß die
Betriebslebensdauer des Hochleistungs-LD-Arrays gestreckt werden,
dies erfordert aber eine Wasserkühlung
des LD-Arrays, wodurch die Struktur der Vorrichtung komplex wird
und ihre Kosten zunehmen.
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Die
Mehrstrahl-Aufzeichnungsvorrichtung nach der japanischen Patentanmeldung
(JPA) Nr. 186490/1994 enthält
eine Mehrzahl von Lichtquellenbereichen, die jeweils aus eine diskreten
LD und einer Kollimatoreinheit bestehen, und die in einem spezifizierten
Muster angeordnet sind, um eine perforierte Platte zu beleuchten,
die mehrere Öffnungen
in einem Muster enthält,
welches entweder identisch oder ähnlich
dem Anordnungsmuster der Lichtquellenbereiche ist. Durch die Öffnungen
hindurchtretende Lichtstrahlen werden auf eine Abbildungsoptik (Verkleinerungsoptik)
gelenkt, so daß sie
auf ein lichtempfindliches Material (eine Aufzeichnungsfläche) abgebildet
werden. Mit dieser Aufzeichnungsvorrichtung brauchen die einzelnen
Lichtquellenbereiche nicht in dem spezifizierten Anordnungsmuster
mit hoher Genauigkeit positioniert zu werden, und es besteht nicht
das Erfordernis, die langwierige Einstellarbeit auszuführen, sondern
man kann bei einfacher Justierung qualitativ hochstehende Bilder
erhalten.
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Wird
diese Vorrichtung für
eine Hochgeschwindigkeitsaufzeichnung groß bemessener PS-Druckplatten
verwendet, so müssen
zig Lichtquellenbereiche verwendet werden, und um diese in einem
spezifischen Muster anzuordnen, muß eine Lichtquelleneinheit
beträchtlicher
Baugröße verwendet
werden.
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Die
Vorrichtung nach der JPA Nr. 186490/1994 erfordert nicht die präzise Positionierung
wie in dem Fall, daß keine
perforierte Platte verwendet wird. Andererseits aber müssen die
in der perforierten Platte befindlichen Öffnungen ausgerichtet werden
mit den Austrittszentren der Lichtstrahlen der betreffenden LDs,
so daß ein
Austausch von ausgefallenen LDs eine beträchtlich hohe Positionsgenauigkeit
erfordert, dementsprechend eine komplizierte Prozedur. Zweitens,
wegen der Verwendung zahlreicher teurer Hochleistungs-LDs, nehmen
die Kosten für
die Lichtquelleneinheit zu, die Gesamtsystemzuverlässigkeit
der Vorrichtung nimmt ab. Drittens, die Lichtstrahlen von sämtlichen
Lichtquellenbereichen in der baulich großen Lichtquelleneinheit müssen von
Linsen, einem Parabolspiegel und anderen optischen Bauteilen hoher
Präzision
und beträchtlicher Baugröße aufgenommen
werden, hinzu kommt eine komplizierte Verkleinerungsoptik (Abbildungsoptik),
um diese Lichtstrahlen auf eine ausreichend geringe Größe auf der
Aufzeichnungsfläche
des lichtempfindlichen Materials zu bringen. Dies trägt bei zu
einer Kostensteigerung der Vorrichtung.
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Die
internationale Veröffentlichung
(WO) 97/27065 zeigt eine Abbildungsvorrichtung zum Belichten von
Druckplattenherstellungsmaterialien und eine davon Gebrauch machende
Druckplattenherstellungsvorrichtung. In dieser Vorrichtung sind
mehrere an Lichtleitfasern gekoppelte LDs von 0,5-1,0 W angeordnet,
und ein Muster von aus den Fasern austretenden Lichtstrahlen gelangt
durch eine telezentrische Optik, so daß sie abgebildet werden (mit
kleinerem Maßstab
aufbelichtet werden) auf einem Druckplattenmaterial (einem wärmeempfindlichen
Material oder einem Wärmeablationsmaterial),
welches an einer Außentrommel
fixiert ist, so daß Lage
und Größe des Belichtungsflecks
eine spezifische Genauigkeit aufweisen, ungeachtet von Änderungen
des Abstands zwischen der Austrittsstirnfläche jeder Faser und der Aufzeichnungsoberfläche des
Druckplattenmaterials.
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Wird
diese Vorrichtung dazu benutzt, Druckplattenmaterialien mit der
oben angegebenen hohen Baugröße über eine
Dauer in der Größenordnung
von mehreren Minuten zu belichten, so müssen bis zu zig LDs verwendet
werden, so daß die
Kosten der Vorrichtung zunehmen und die Gesamt-Systemzuverlässigkeit abnimmt.
Reduziert man die Anzahl der LDs auf beispielsweise 24, so verlängert sich
die Belichtungszeit, die Produktivität nimmt ab.
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Übliche Laserdrucker
verwenden einen Polygonspiegel, der einen einzelnen Laserstrahl
für die Hauptabtastung
in einer Richtung parallel zur Drehachse einer Photorezeptortrommel
ablenkt, und sie bilden eine wesentlich kleinere Größe und geringere
Dichte als Vorrichtung zur Druckplattenherstellung. Die japanische
Gebrauchsmusteranmeldung (JMA) Nr. 137916/1986 zeigt einen Laserdrucker,
der von einem akustooptischen Lichtablenker (AOD; akusto-optic light
deflektor) Gebrauch macht, um einen Laserstrahl in einer Hilfs- oder
Nebenabtastrichtung (in welcher sich die Photorezeptortrommel dreht)
ablenkt, so daß eine
Mehrzahl von Zeilen (ein Raster) gleichzeitig bei einem Hauptabtastzyklus
aufgezeichnet wird. Um die Erscheinung von Treppeneffekten zu verringern,
die häufig
bei Bilderzeugungsvorrichtungen für Bilder geringer Dichte auftreten, zeigt
das japanische Patent Nr. 2783328 eine Bilderzeugungsvorrichtung,
die auf dem gleichen Prinzip der Ablenkung und der Hauptabtastung
wie der oben beschriebenen Laserdrucker beruht, und der von einem
AOD oder einem elektrooptischen Lichtablenker (EOD) Gebrauch macht,
um eine Ablenkung in einem Zick-Zack-Weg zu beschreiben, so daß ungeradzahlige
und geradzahlige Zeilen um ein halbes Pixel versetzt sind und dadurch
sichergestellt wird, daß schräge Linien
in den Zeichen und dergleichen glatt aussehen.
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Der
oben beschriebene Laserdrucker und die Bilderzeugungsvorrichtung,
die von einem Polygonspiegel Gebrauch machen, um einen Laserstrahl
für die
Hauptabtastung abzulen ken, haben ein gemeinsames Problem, welches
darin besteht, daß,
wenn mehrere Laserstrahlen verwendet werden, die Größe des Polygonspiegels
zunimmt und die Steuerung des Polygonspiegels zum konstanten Umlaufen
schwierig zu erreichen wird, oder daß dann, wenn mehr als ein Polygonspiegel
verwendet wird, um mehrere Laserstrahlen abzulenken, es Schwierigkeiten
bei der Steuerung der Polygonspiegel gibt. In jedem Fall sind der
Polygonspiegel oder sind die Polygonspiegel teuer und lassen sich
nicht einsetzen für
die hochdichte Belichtung von Druckplattenherstellungsmaterialien
großer
Abmessungen.
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Die
Bilderzeugungsvorrichtung nach dem japanischen Patent Nr. 2783328
hat ein weiteres Problem insofern, als man die Pixeldichte nicht
adäquat
steigern kann.
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Wenn
ein einzelner Lichtstrahl von der Vorrichtung nach der japanischen
Gebrauchsmusteranmeldung (JMA) Nr. 137916/1986 und dem japanischen
Patent Nr. 2783328 verwendet wird, so ist das Verfahren zum Aufzeichnen
von zwei oder mehr Zeilen gleichzeitig in einem Ablenkzyklus für die Hauptabtastung
unter Verwendung eines AOD, eines AOM oder dergleichen nicht anwendbar,
um eine hochdichte Belichtung von Druckplattenmaterialien großer Abmessungen
zu erreichen.
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Noch
einmal zurückkehrend
zu der Mehrstrahl-Belichtungsvorrichtung nach der US-PS 5 517 359,
der JPA Nr. 186490/1994 und der WO 97/27065, so muß, wenn
man die Dauer der hochdichten Belichtung von Druckplattenmaterialien
großer
Abmessungen mit einer geringen Anzahl von mehreren Strahlen verkürzen will,
die Hauptabtastgeschwindigkeit steigern, indem man die Drehzahl
der externen Trommel auf beispielsweise 2.000 U/min oder darüber heraufsetzt.
Allerdings ist die für
die Drehung mit hoher Drehzahl geeignete Trommel nicht nur äußerst teuer,
sondern es besteht auch die Gefahr, daß die an der Trommel befestigte Druckplatte
weggeschleudert wird. Eine Trommel für geringere Drehzahl ist vorteilhaft
im Hinblick auf die Kosten und die Sicherheit, andererseits wird
die Belichtungszeit verlängert.
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Wenn
die Anzahl von Mehrfachstrahlen, von denen die Mehrstrahl-Belichtungsvorrichtung
Gebrauch macht, um ein ausreichendes Maß erhöht wird, um da durch die angestrebte
hochdichte Belichtung von Druckplattenmaterialien großer Abmessungen
zu erreichen, so löst
man damit die Probleme der hohen Trommelkosten und der langen Belichtungszeit,
andererseits aber nimmt die Anzahl von LDs oder anderer Lichtquellen
für die
Erzeugung von Lichtstrahlen ebenso zu wie die dazugehörigen Bauteile,
so daß schließlich die
Gesamtkosten der Vorrichtung steigen.
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Die
Erhöhung
der Anzahl von Lichtquellen wie beispielsweise von LDs, führt zu dem
Problem einer höheren
Ausfallrate. Angenommen, es werden gleichzeitig zehn LDs eingeschaltet,
so kommt es 10.000 Stunden später
zu dem ersten Ausfall. Werden hundert LDs gleichzeitig eingeschaltet,
so kommt der erste Ausfall 1.000 Stunden später. Dies bedeutet, daß die Abschaltzeitspanne
der Vorrichtung und damit die Wartungskosten zunehmen. Im Ergebnis
nimmt die Zuverlässigkeit
des Geräts
ab.
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Gemäß Oberbegriff
des Anspruchs 1 zeigt die US-A-5 515 097 eine Mehrstrahl-Belichtungsvorrichtung,
in der ein Strahlschieber vorgesehen ist, um jeden von mehreren
Strahlen um einen gewissen Betrag zu verschieben und so die Auflösung zu
verdoppeln.
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Die
US-A-5 896 162 zeigt eine Mehrstrahl-Belichtungsvorrichtung mit
einer Reihe von LEDs und mehreren Lichtverschlüssen zwischen den LEDs und
einem Aufzeichnungsträger.
Das von den LEDs emittierte Licht kann durch die Lichtverschlüsse gelangen
oder kann von diesen gesperrt werden.
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Die
US-A-5 170 180 zeigt eine Mehrstrahl-Belichtungsvorrichtung mit
einer Mehrzahl von lichtemittierenden Elementen, die ein gemeinsames
optisches System dazu benutzen, sämtliche Lichtstrahlen auf vorbestimmte
Flecken eines Aufzeichnungsträgers
zu lenken.
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OFFENBARUNG
DER ERFINDUNG
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Ein
Ziel der vorliegenden Erfindung ist es daher, eine Mehrstrahl-Belichtungsvorrichtung
zu schaffen, die sich für
eine hochdichte Aufzeichnung auf Aufzeichnungsmaterialien großer Abmessungen
durch eine Mehrstrahlbelichtung eignet, und die in der Lage ist, innerhalb
kurzer Zeit (1 bis 3 Minuten) eine Belichtung ohne nennenswerte
Zunahme der Anzahl von Lichtstrahlen aus Lichtquellen wie beispielsweise
Halbleiterlasern vorzunehmen, und ohne daß dabei die Hauptabtastgeschwindigkeit
gesteigert wird, beispielsweise die Drehzahl einer externen Trommel.
Dabei soll die Vorrichtung die Vorteile von Sicherheit, einer geringen
Teilezahl, geringen Kosten, geringer Ausfallrate der Lichtquellen
wie beispielsweise Halbleiterlasern, hohe Zuverlässigkeit des Belichtungssystems,
geringe Stillstandzeit und geringe Wartungskosten aufweisen.
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Erreicht
werden kann dieses Ziel der Erfindung durch eine Mehrstrahl-Belichtungsvorrichtung
mit den Merkmalen des Anspruchs 1.
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Vorzugsweise
ist die Hauptabtasteinheit eine rotierende Außentrommel, auf deren Umfangsfläche ein Aufzeichnungsmaterial
aufgebracht ist.
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Vorzugsweise
ist die Lichtquelle eine Mehrstrahl-Emissionseinheit in Array-Form.
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Vorzugsweise
ist die Lichtquelle ein Lichtleitfaser-Array, welches die Mehrfachstrahlen
emittiert.
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Vorzugsweise
ist die Lichtquelle ein Array aus diskreten Halbleiterlasern, die
individuelle Strahlen emittieren.
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Vorzugsweise
ist die Lichtquelle ein monolithisches Halbleiterlaserarray, welches
die Mehrfachstrahlen emittiert.
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Vorzugsweise
umfaßt
die Vorrichtung eine Kollimatorlinse, die sich zwischen der Lichtquelle
und der Ablenkeinheit befindet, wobei außerdem zwischen der Ablenkeinheit
und dem Aufzeichnungsträger
ein Abbildungsobjektiv vorgesehen ist.
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Weiterhin
ist bevorzugt, wenn die Mehrstrahl-Belichtungsvorrichtung eine Reduzieroptik
zwischen der Ablenkeinheit und der Kollimatorlinse aufweist.
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Vorzugsweise
besitzt die Ablenkeinheit ein akustooptisches Bauelement.
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Vorzugsweise
ist das akustooptische Bauelement ein akustooptischer Ablenker.
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Vorzugsweise
ist das akustooptische Bauelement ein akustooptischer Modulator.
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Vorzugsweise
werden Beugungslicht erster Ordnung und Beugungslicht nullter Ordnung,
die von dem akustooptischen Modulator ausgegeben werden, so eingestellt,
daß sie
gleiche Intensität
besitzen.
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Vorzugsweise
werden die Mehrfachstrahlen von dem akustooptischen Bauelement in
einer Richtung rechtwinklig zu einer Anordnungsrichtung der Mehrfachstrahlen
abgelenkt.
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Vorzugsweise
wird eine Richtung der Ultraschallausbreitung von dem akustooptischen
Bauelement so eingestellt, daß sie
rechtwinklig zu einer Richtung verläuft, in welcher die Mehrfachstrahlen
verlaufen.
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Vorzugsweise
besitzt die Ablenkeinheit ein optisches Bauelement mit elektrooptischem
Effekt.
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Vorzugsweise
werden die Mehrfachstrahlen von dem optischen Bauelement mit elektrooptischem
Effekt in einer Richtung parallel zur einer Anordnungsrichtung der
Mehrfachstrahlen abgelenkt.
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Vorzugsweise
werden die Mehrfachstrahlen von dem optischen Bauelement mit elektrooptischem
Effekt in einer Richtung rechtwinklig zu der Richtung abgelenkt,
in der die Mehrfachstrahlen angeordnet sind.
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Vorzugsweise
enthält
die Ablenkeinheit: einen polarisierten Strahlenteiler zum Trennen
der Mehrfachstrahlen in zwei Komponenten abhängig von einer Polarisationsrichtung;
einen ersten Polarisationsdreher, mit dem die Polarisationsrichtung
der von dem polari sierten Strahlenteiler separierten Komponente
derart gedreht wird, daß die
Richtung parallel ist zu der Polarisationsrichtung derjenigen Komponente,
die durch den polarisierten Strahlenteiler hindurchgegangen ist;
wobei eine erste und eine zweite Einheit des optischen Bauelements
mit elektrooptischem Effekt, die jeweils eine Komponente, die durch
den polarisierten Strahlenteiler hindurchgegangen ist, und eine
Komponenten, die in der Polarisationsrichtung von dem ersten Polarisationsdreher
gedreht wurde, ablenken; einen zweiten Polarisationsdreher zum Drehen
der Polarisationsrichtung einer Komponente, die von der ersten Einheit
des optischen Bauelements mit elektrooptischem Effekt abgelenkt wurde;
und ein Wellenkoppelbauelement, mit welchem eine Komponente der
Mehrfachstrahlen, deren Polarisationsrichtung von dem zweiten Polarisationsdreher
gedreht wurde, kombiniert wird mit einer Komponente, die von der
zweiten Einheit des optischen Bauelements mit elektrooptischem Effekt
abgelenkt wurde.
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Vorzugsweise
ist die Mehrfachstrahl-Emissionseinheit in Arrayform in mehr als
einer Reihe angeordnet, wobei die Pixel, die zwischen den von einer
einzelnen Reihe der Mehrfachstrahl-Emissionseinheit emittierten
Mehrfachstrahlen nicht-aufgezeichnet bleiben, uneingeschränkt von
den Mehrfachstrahlen aufgezeichnet werden, die von sämtlichen
anderen Reihen der Mehrfachstrahl-Emissionseinheit emittiert werden.
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Vorzugsweise
werden die Pixel, die zwischen den von der Mehrfachstrahl-Emissionseinheit
in Arrayform emittierten Mehrfachstrahlen nicht-aufgezeichnet bleiben,
durch Zwischenzeilenbelichtung durchgängig aufgezeichnet.
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Vorzugsweise
ist das Aufzeichnungsmaterial in Photorezeptor, ein lichtempfindliches
Material oder ein wärmeempfindliches
Material.
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KURZE BESCHREIBUNG DER
ZEICHNUNGEN
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1 ist
eine vereinfachte perspektivische Ansicht, die schematisch eine
Mehrstrahl-Belichtungsvorrichtung
gemäß einer
Ausführungsform
der Erfindung zeigt;
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2A ist
eine vereinfachte Frontansicht eines ersten Beispiels der Abbildungseinheit
in der Mehrstrahl-Belichtungsvorrichtung nach 1 bei
Betrachtung in einer Richtung rechtwinklig zu der Anordnungsrichtung
optischer Fasern in einem Faserarray;
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2B ist
eine vereinfachte Bodenansicht der Abbildungseinheit bei Betrachtung
in Array-Richtung des Faserarrays;
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3 ist
eine Darstellung, welche zeigt, wie Mehrfachstrahlen von dem Faserarray
in der in 2 gezeigten Abbildungseinheit
einer zwei Pixel umfassenden Feinablenkung auf der Bildebene unterzogen
werden können;
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4A ist
eine vereinfachte Frontansicht eines zweiten Beispiels der Abbildungseinheit
in der Mehrstrahl-Belichtungsvorrichtung nach 1 bei
Betrachtung in einer Richtung rechtwinklig zur Array-Richtung des
Faserarrays;
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4B ist
eine vereinfachte Bodenansicht der Abbildungseinheit bei Betrachtung
in Array-Richtung des Faserarrays;
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5 ist
eine Darstellung, die zeigt, wie Mehrfachstrahlen von dem Faserarray
in der in 4 gezeigten Abbildungseinheit
einer drei Pixel umfassenden Feinablenkung in der Bildebene unterzogen
werden können;
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6 ist
eine vereinfachte Bodenansicht eines dritten Beispiels der Abbildungseinheit
in der Mehrstrahl-Belichtungsvorrichtung nach 1 bei
Betrachtung in einer Richtung rechtwinklig zur Array-Richtung des
Faserarrays;
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7A, 7B und 7C sind
Darstellungen, die zeigen, wie Lichtstrahlen von akustooptischen Modulatoren
in der in 6 gezeigten Abbildungseinheit
abgelenkt werden;
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8A ist
eine vereinfachte Frontansicht eines vierten Beispiels der Abbildungseinheit
in der Mehrstrahl-Belichtungsvorrichtung nach 1 bei
Betrachtung in der Richtung, in der LDs in einem LD-Array angeordnet
sind;
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8B ist
eine vereinfachte Bodenansicht der Abbildungseinheit;
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9 ist
eine Darstellung, die zeigt, wie Mehrfachstrahlen einer zwei Pixel
umfassenden Feinablenkung in der Bildebene mit Hilfe des LD-Arrays
in der in 8 gezeigten Abbildungseinheit
unterzogen werden können;
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10A ist eine vereinfachte Frontansicht eines fünften Beispiels
der Abbildungseinheit der Mehrstrahl-Belichtungsvorrichtung nach 1 bei
Betrachtung in einer Richtung rechtwinklig zu der Richtung, in der
die optischen Fasern in dem LD-Array angeordnet sind;
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10B ist eine vereinfachte Bodenansicht der Abbildungseinheit
bei Betrachtung in Array-Richtung des LD-Arrays;
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11 ist
eine vereinfachte Frontansicht eines sechsten Beispiels der Abbildungseinheit
der Mehrstrahl-Belichtungsvorrichtung nach 1 bei Betrachtung
in einer Richtung rechtwinklig zur Array-Richtung des LD-Arrays;
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12A ist eine vereinfachte Frontansicht eines siebten
Beispiels der Abbildungseinheit in der in 1 gezeigten
Mehrstrahl-Belichtungsvorrichtung bei Betrachtung in einer Richtung
rechtwinklig zu der Richtung, in der optische Fasern in einem Faserarray
angeordnet sind;
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12B ist eine vereinfachte Bodenansicht der Abbildungseinheit
bei Betrachtung in Array-Richtung des Faserarrays;
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13 ist
eine Darstellung, die zeigt, wie das zweidimensionale Faserarray
in der in 1 gezeigten Mehrstrahl-Belichtungsvorrichtung
auf der Bildebene orientiert ist, und wie Mehrfachstrahlen aus dem
Faserarray einer zwei Pixel umfassenden Feinablenkung in der Bildebene
unterzogen werden können;
und
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14 ist
eine Darstellung, die zeigt, wie das Faserarray in der in 1 gezeigten
Mehrstrahl-Belichtungsvorrichtung in der Bildebene orientiert ist,
und wie Mehrfachstrahlen aus dem Faserarray einer verschachtelten,
zwei Pixel umfassenden Feinablenkung in der Bildebene unterzogen
werden können.
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BEVORZUGTE
AUSFÜHRUNGSFORMEN
DER ERFINDUNG
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Die
Mehrstrahl-Belichtungsvorrichtung gemäß der Erfindung wird im folgenden
detailliert unter Bezugnahme auf die bevorzugten, in den begleitenden
Zeichnungen dargestellten Ausführungsformen
beschrieben.
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1 ist
ein vereinfachtes Blockdiagramm, welches schematisch eine Mehrstrahl-Belichtungsvorrichtung
gemäß einer
Ausführungsform
der Erfindung darstellt. Die Mehrstrahl-Belichtungsvorrichtung,
die in 1 allgemein mit 10 bezeichnet ist, wird
im folgenden einfach als Belichtungsvorrichtung bezeichnet, sie enthält einen
Lichtquellenteil 12 zum Emittieren einer spezifizierten
Anzahl von in Hilfs- oder Nebenabtastrichtung mit Abstand angeordneten
Lichtstrahlen, einen Hauptabtastteil 14 zum Durchführen einer
Hauptabtastung eines Aufzeichnungsmaterials A, wobei dieses mit
einer spezifizierten Anzahl von Mehrfachstrahlen belichtet wird,
einer Abbildungsoptik 16, mit der die spezifizierte Anzahl
von seitens des Lichtquellenteils 12 emittierten Mehrfachstrahlen
auf das Aufzeichnungsmaterial A in dem Hauptabtastteil 14 abgebildet
wird, und einen Feinablenkteil 18 zum Ablenken der spezifizierten
Anzahl von Mehrfachstrahlen in kollektiver Weise auf Hauptabtastlinien
mit Hilfe einer spezifizierten Anzahl von Ablenkungen in der Weise,
daß der
Abstand zwischen benachbarten Strahlen der spezifizierten Anzahl
von Mehrfachstrahlen belichtet wird.
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Wie
in 1 gezeigt ist, enthält der Lichtquellenteil 12 eine
spezifizierte Anzahl (i) von Halbleiterlaser-/Faserkopplungseinheiten 20a, 20b,
..., 20i, die Halbleiterlaser wie beispielsweise LDs (Laserdioden,
nicht dargestellt) enthalten, welche eine spezifizierte Anzahl (i)
von Mehrfachstrahlen emittieren (diese Kopplungseinheiten werden
im folgenden einfach als LD/Faserkopplungseinheiten bezeichnet),
wobei spezifizierte Längenabschnitte
der optischen Fasern (im folgenden einfach als Fasern bezeichnet) 22a, 22b,
..., 22i mit ihren Eintrittsstirnflächen an die zugehörigen LDs
in den LD/Faserkopplungseinheiten 20 (20a-20i)
gekoppelt sind, wobei an den LD-Faserkopplungseinheiten 20a-20i eine
Wärmesenke 24 an
Ort und Stelle fixiert ist, um die Kopplungseinheiten auf bestimmten
Temperaturen zu halten. Der Lichtquellenteil 12 enthält weiterhin
ein Verbinderarray 28, welches die Fasern 22a-22i in
Array-Form auf einer Trägerplatte 27 in
ihrer jeweiligen Längsmitte
fixiert, und ein Faserarray 30, in welchem die Austrittsstirnflächen der
Fasern 22a-22i auf einer Trägerplatte 29 in Nebenabtastrichtung
derart beabstandet angeordnet sind, daß die spezifizierte Anzahl
von Mehrfachstrahlen, die von den Austrittsstirnflächen der
Fasern 22a-22i emittiert werden, auf dem Aufzeichnungsmaterial
A in Richtung der Nebenabtastung beabstandet sind.
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Die
LD/Faserkopplungseinheiten 20 koppeln die Halbleiterlaser
(im folgenden einfach als LDs bezeichnet) mit den Fasern 22 (22a-22i)
und bestehen jeweils aus einer LD, einer (nicht gezeigten) Linse,
mit der der von der LD emittierte Laserstrahl auf den Kern der Eintrittsstirnfläche der
zugehörigen
Faser 22 abgebildet wird, und dem Kopplungsteil der Faser 22.
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Erfindungsgemäß muß der Abstand
zwischen benachbarten Strahlen der spezifizierten Anzahl von Mehrfachstrahlen
auf dem Aufzeichnungsmaterial A im Hauptabtastteil 14 ein
Integral der (spezifizierten Anzahl von Feinablenkungen durch den
Feinablenkungsteil 18 plus 1), multipliziert mit dem Pixel-Mittenabstand (ihrem
Abstand) in Nebenabtastrichtung sein.
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Der
Lichtquellenteil 12 in 1 ist vom
Typ „Lichtleitfaserarray
in Verbindung mit LDs",
allerdings handelt es sich hierbei nicht um den einzigen Typ von
Lichtquellen, die im Rahmen der Erfindung verwendet werden können, man
kann jede Strahlen emittierende Lichtquelle verwenden, solange diese
Mehrfachstrahlen emittiert. Jede bekannte Lichtquelle in Array-Form
ist möglich,
beispielsweise Lichtleitfaserarrays wie ein Mehrfachmoden-Lichtleitfaserarray
und ein Einzelmoden-Lichtleitfaserarray, monolithische LD-Array und andere
LD-Arrays.
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Die
in der LD/Faserkopplungseinheit 20 verwendeten LDs sind
nicht in spezieller Weise beschränkt, möglich sind
sämtliche
bekannten LDs, beispielsweise Einzelmoden-LDs, Mehrfachmoden-LDs
und Breitbereichs-LDs. Diese LDs besitzen selbst Kollimatorlinsen
oder Aperturen.
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Die
Lichtleitfasern 22 sind ebenfalls in keiner Weise beschränkt. Solange
sie eine adäquate
Lichtführung
gestatten, werden die Lichtleitfasern 22 möglichst
dünn ausgebildet,
so daß sie
in dem Faserarray 30 dicht gepackt werden können. Selbst
wenn die Lichtleitfasern 12 dünn sind, sollte der Kerndurchmesser
den höchstmöglichen
Prozentsatz des Gesamtdurchmessers der Faser ausmachen. Die Wärmesenke 24,
auf der die LD/Faserkopplungseinheiten 20 ruhen, ist ebenfalls
in keiner speziellen Weise beschränkt, sie kann aus einer Metallplatte,
zum Beispiel einer Aluminiumplatte, oder aus einem Peltier-Kühlelement
bestehen. Außerdem
sind die Trägerplatte 27 in
dem Verbinderarray 28 und die Trägerplatte 29 in dem
Faserarray 30 nicht in spezieller Weise beschränkt, möglich sind
verschiedene bekannte Trägerplatten.
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Der
Hauptabtastteil 14 dient zum Durchführen einer Belichtung vom sogenannten „Außentrommel"-Typ, und er enthält eine
Trommel 32, die an ihrer Außenumfangsfläche mit
dem Aufzeichnungsmaterial A, zum Beispiel einer PS-Druckplatte,
bestückt
ist, und die in Hauptabtastrichtung dreht, eine Antriebsquelle (nicht
dargestellt) zum drehenden Antreiben der Trommel 32, und
einen Nebenabtastmechanismus 36, mit dem eine Abbildungseinheit 34,
die mindestens eine Abbildungsoptik 16 enthält, und
die Trommel 32 relativ zueinander in Richtung der Nebenabtastung,
die die Hauptabtastrichtung rechtwinklig schneidet, bewegt.
-
Um
die Abbildungseinheit 34 in Nebenabtastrichtung gegenüber der
Trommel 32 zu bewegen, ist gemäß 1 die Abbildungseinheit 34 vorzugsweise
eine integrale Anordnung aus mindestens dem Faserarray 30 in
dem Lichtquellenteil 12, der Abbildungsoptik 16 und
dem Feinablenkteil 18, die auf einem gemeinsamen Bewegungstisch 33 fixiert
sind. In diesem Fall enthält
der Hilfsabtastmechanismus 36: den beweglichen Tisch 33,
der einen geradlinigen Vorsprung 33a und einen Hohlgewindeabschnitt 33b aufweist,
der sich in Pfeilrichtung c (der Nebenabtastrichtung) parallel zur
Drehachse der Trommel 32 erstreckt und die Abbildungseinheit 34 als
integrale Anordnung fixiert; eine Kugelumlaufspindel (Antriebsspindel) 35,
die mit dem Hohlgewindeteil 33b des beweglichen Tisches 33 kämmt, und
einen Tisch 37 mit einer Nut 37a, die sich in
Nebenabtastrichtung gemäß Pfeil
C erstreckt, um den geradlinigen Vorsprung 33a an dem beweglichen
Tisch 33 anzupassen und den beweglichen Tisch 33 derart
zu lagern, daß er
bei Drehung der Kugelumlaufspindel 35 eine Bewegung ausführen kann.
Der geradlinige Vorsprung 33a des beweglichen Tischs 33 und
die Nut 37a in dem Tisch 37, die zu dem Vorsprung
paßt,
sind nicht auf die dargestellte dreieckige Form beschränkt, es
sind auch andere Formen möglich.
Die Bewegungseinheit ist außerdem
nicht auf den beweglichen Tisch (die Wandermutter) 33 beschränkt, der
den Hohlgewindeteil 33b enthält, welcher mit der Kugelumlaufspindel 35 kämmt, es
kann jeder andere Typ vorgesehen werden, der eine translatorische
Bewegung des beweglichen Tischs erreicht.
-
Überflüssig zu
sagen, daß die
Abbildungseinheit 34 in Nebenabtastrichtung gegenüber der
Trommel 32 integral mit sämtlichen Bestandteilen des
Lichtquellenteils 12 bewegt wird, einschließlich die
LD/Faserkopplungseinheiten 20, die Fasern 22,
die Wärmesenke 24 und
das Verbinderarray 28, fixiert an einem einzigen Trägertisch
und als Bewegungseinheit bewegt, beispielsweise durch Bewegen des
einzelnen Trägertisches.
-
Wenn
hingegen die Trommel relativ zu der Abbildungseinheit 34 in
Hilfsabtastrichtung bewegt werden soll, so werden die beiden Komponenten
vorzugsweise als Bewegungseinheit dadurch bewegt, daß entweder die
Antriebsquelle für
die Trommel 32 auf dem (nicht gezeigten) Tisch gelagert
wird, welcher die Trommel 32 drehbar lagert, oder aber
der Trägertisch
und die Antriebsquelle auf einem getrennten Tisch fixiert sind.
-
Das
Aufzeichnungsmaterial A, welches in dem Hauptabtastteil 14 verwendet
wird, ist auf keinen besonderen Typ beschränkt, es sind verschiedene bekannte
Aufzeichnungsmaterialien, zum Beispiel PS-Druckplatten, einsetzbar,
auf die das gewünschte
Bild entweder als latentes oder als sichtbares Bild mit Hilfe der Lichtstrahlen
in einem Photonenmodus oder einem Erwärmungsmodus aufgezeichnet werden
kann. Beispiele beinhalten Druckplattenherstellungsmaterialien wie
beispielsweise lichtempfindliche Materialien, die bei Belichtung
mit einem Laser mäßiger Leistung
in einem Photonenmodus bei anschließender optischer Entwicklung
eine photochemische Reaktion im belichteten Bereich unter Aushärtung des
Polymers ausführt
oder anderweitig tinten- oder wasseraufnahmefähig wird, ferner licht- und
wärmeempfindliche
Materialien, wärmeempfindliche
Materialien und Wärmeablationsmaterialien,
die bei Exposition mit Wärmeenergie
durch einen Laser vergleichsweise hoher Leistung in einen erhitzten
Zustand gelangen, wobei die exponierten Bereiche tinten- oder wasseraufnahmefähig werden,
außerdem
lichtempfindliche Bildaufzeichnungsmaterialien, licht- und wärmeempfindliche
Materialien, lichtempfindliche und thermisch entwickelbare Materialien,
wärmeempfindliche Materialien
und Wärmeablationsmaterialien.
-
Die
Trommel 32 selbst kann eine Photorezeptortrommel sein.
-
Die
Abbildungsoptik 16 ist eine Reduzieroptik, mit der die
von dem Lichtquellenteil 12 emittierten Mehrfachstrahlen
schließlich
auf spezifizierte Fleck- oder Punktgrößen abgebildet werden. Die
Abbildungsoptik 16 enthält
eine Kollimatorlinse 38 und eine Abbildungslinse 40.
Die Kollimatorlinse 38 befindet sich stromabwärts bezüglich des
Faserarrays 30 in Laufrichtung des Lichts und wirkt auf
sämtliche
Lichtstrahlen aus dem Faserarray 30 ein, so daß die Strahlen
in den Feinablenkteil 18 in Form kollimierten (parallelen)
Lichts eingeleitet werden, wobei zwischen der Kollimatorlinse 38 und
der Aufzeichnungsfläche
A am Umfang der Trommel 32 die Abbildungslinse 40 angeordnet
ist, die die Lichtstrahlen auf das Aufzeichnungsmaterial A im Hauptabtastteil 14 abbildet.
Der Feinablenkteil 18 befindet sich im Brennpunkt der Kollimatorlinse 38,
und die Abbildungslinse 40 ist derart positioniert, daß die durch
den Feinablenkteil 18 hindurchlaufenden oder dort abgelenkten Lichtstrahlen
auf spezifizierte Fleckgrößen auf
der Aufzeichnungsfläche A
am Umfang der Trommel 32 abgebildet werden. Die Abbildungsoptik 16 ist
nicht auf den dargestellten Fall beschränkt, es kann jede Reduzieroptik
eingesetzt werden, solange sie in der Lage ist, sicherzustellen,
daß die
von dem Lichtquellenteil 12 emittierten Mehrfachstrahlen
schließlich
auf die spezifizierten Fleckgrößen abgebildet
werden. Auf Wunsch können mehrere
derartige Reduzieroptiken vorgesehen werden.
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Der
Feinablenkteil 18 ist derart beschaffen, daß während der
Hauptabtastung Mehrfachstrahlen einer kollektiven Feinablenkung
in einer Richtung rechtwinklig zu der Anordnungsrichtung (Array-Richtung)
unterzogen werden. Ein Beispiel für den Feinablenkteil 18 ist
eine Einrichtung, die Gebrauch vom akustooptischen oder elektrooptischen
Effekt macht, um eine kollektive Feinablenkung der Mehrfachstrahlen
in einer Richtung rechtwinklig zur Array-Richtung auszuführen. Beispiele
für Ablenkeinrichtungen,
die von dem akustooptischen Effekt Gebrauch machen, sind akustooptische
Ablenker (im folgenden als AODs abgekürzt) und akustooptischen Modulatoren
(im folgenden als AOMs abgekürzt).
Beispiele für
Ablenkeinrichtungen, die den elektrooptischen Effekt nutzen, beinhalten
elektrooptische Ablenker (im folgenden als EODs abgekürzt). Die
AODs, AOMs und EODs, die im Rahmen der Erfindung verwendet werden
können,
sind nicht auf spezielle Weise beschränkt, man kann verschiedene
bekannte Ablenkeinrichtungen mit akustooptischem oder elektrooptischem Effekt
verwenden.
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Wenn
die von einem Multimoden-Faserarray emittierten Mehrfachstrahlen
in dem Lichtquellenteil 12 emittiert werden, können die
Lichtstrahlen nicht in der Polarisationsrichtung gesteuert werden.
Um mit diesem Problem fertig zu werden, kann der Feinablenkteil 18 ein
EOD in Kombination mit einem Polarisationsstrahl-Aufteiler, einem
Polarisationsdreher und einem Wellenkoppler verwendet werden. Ein
auftreffender Lichtstrahl wird in zwei kleine Strahlen unterschiedlicher
Polarisationsrichtung aufgetrennt, wobei die Polarisationsrichtung
des einen kleinen Strahls derart gedreht wird, daß sie der
Polarisationsrichtung des anderen kleinen Strahls gleicht, gefolgt
von einer Feinablenkung mit dem EOD, so daß die Polarisationsrichtung
des anderen kleinen Strahls gedreht wird, woraufhin die beiden kleinen
Strahlen kombiniert werden.
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Die
oben beschriebenen Ablenkeinrichtungen, die von dem akustooptischen
oder dem elektrooptischen Effekt Gebrauch machen, sind nicht die
einzigen Beispiele für
den Feinablenkteil, der im Rahmen der Erfindung verwendet werden
kann, es können
mechanische Deflektoren wie beispielsweise Spiegel-Lichtablenker,
die von schnell ansprechenden piezoelektrischen Bauelementen Gebrauch
machen, eingesetzt werden, solange sie in der Lage sind, eine kollektive
Feinablenkung der Mehrfachstrahlen in einer Richtung rechtwinklig
zur Array-Erstreckung zu vollziehen.
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Oben
wurde der Grundaufbau der erfindungsgemäßen Belichtungsvorrichtung
beschrieben. Auf den folgenden Seiten wird die Abbildungseinheit 34 für die Anwendung
bei der Belichtungsvorrichtung 10 gemäß der Erfindung in größerer Einzelheit
unter Bezugnahme auf die verschiedenen in den 2 bis 14 gezeigten
Ausführungsformen
erläutert.
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2A ist
eine vereinfachte Frontansicht der Abbildungseinheit 34 in
der in 1 gezeigten Belichtungsvorrichtung 10 bei
Betrachtung in einer Richtung rechtwinklig zur Array-Erstreckung
des Faserarrays 30, und 2B ist
eine vereinfachte Bodenansicht der selben Abbildungseinheit 34 bei
Betrachtung in Array-Richtung. 3 ist eine
anschauliche Darstellung der Orte der Hauptabtastaktionen (2-Pixel-Feinablenkungen) einschließlich der
Aktion der Feinablenkung von Mehrstrahlflecken von dem Faserarray 30,
wenn die Orte die Oberfläche
des Aufzeichnungsmaterials A (im folgenden einfach als Aufzeichnungsfläche oder
Bildebene A bezeichnet) abtasten.
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Die
Abbildungseinheit 34 nach 2A und 2B ist
eine erste Ausführungsform
der Erfindung, sie enthält
das Faserarray 30 und den Lichtquellenteil 12 der
in 1 gezeigten Belichtungsvorrichtung 10 sowie die
Abbildungsoptik 16 und den Feinablenkteil 18.
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Bei
dem Faserarray 30 handelt es sich um ein Multimodenfaser-Array.
Die Abbildungsoptik 16 enthält die Kollimatorlinse 38 und
die Abbildungslinse 40. Der Feinablenkteil 18 enthält ein AOD 42 und
eine Treiberenergiequelle 44, die eine Spannung zum Treiben
der AOD 42 liefert.
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Die
Kollimatorlinse 38 der Abbildungsoptik 16 ist
von dem Faserarray 30 in Lichtausbreitungsrichtung um ein
Stück in
Stromabwärtsrichtung
versetzt, welches der Brennweite f1 der Kollimatorlinse 38 entspricht. Das
AOD 42 befindet sich stromabwärts der Kollimatorlinse 38 und
ist von dieser um die Brennweite f1 beabstandet. Die Abbildungslinse 40 befindet
sich stromabwärts
des AOD 42, um Lichtstrahlen auf der Aufzeichnungsfläche A des
Aufzeichnungsmaterials in dem Hauptabtastteil 14 abzubilden.
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Die
Mehrfachstrahlen A, die durch den Durchlauf durch die Kollimatorlinse 38 kollimiert
(parallel gemacht) wurden, müssen
derart in das AOD 42 eingegeben werden, daß sie exakt
unter dem Bragg-Winkel bezüglich
des Ultraschalls von dem AOD 42 gebeugt werden, wie in 2B gezeigt
ist. Aus diesem Grund muß das
Faserarray 30 ebenso wie das AOD 42 eine gewisse
Lagebeziehung in der Weise erfüllen,
daß in
der Ebene, die das AOD 42 bildet (rechtwinklig zur optischen
Achse der Abbildungsoptik 16) die Array-Richtung des Faserarrays 30 exakt
den Bragg-Winkel mit der Ultraschall-Ausbreitungsrichtung seitens des AOD 42 bildet. Andererseits
ist es, wie 2A zeigt, nicht unbedingt notwendig,
daß in
der Ebene, die das AOD 42 bildet, die Mehrfachstrahlen
L exakt rechtwinklig zu der Ultraschallausbreitungsrichtung seitens
des AOD 42 verlaufen, sie können etwas geneigt sein. Damit
besitzt das AOD 42 zwei Einfallrichtungen, von denen eine
Bedingungen strikt erfüllen
muß, die
andere hingegen nicht, wobei mehrere Lichtstrahlen aus der weniger
strengen Richtung in das AOD 42 eingegeben und in gleicher
Weise kollektiv abgelenkt werden können.
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Wie 2B zeigt,
schaltet die Treiberspannungsquelle 44 die Frequenz des
erzeugten Ultraschalls zwischen fr1 und fr2 auf einer Zeitbasis
um und ändert
die Periode des Beugungsgitters, welches durch die Frequenzänderungen
im Brechungsindex des AOD 42 hervorgerufen werden, demzufolge
der Ablenkwinkel der einfallenden Mehrfachstrahlen seitens des AOD 42 um
beispielsweise 1,0 bis 3,0 Grad geändert wird. Hierdurch erreicht
das AOD 42 eine kollektive Feinablenkung der einfallenden
Mehrfachstrahlen L.
-
Weiterhin
auf die 2A und 2B bezugnehmend,
die die Feinablenkung von Mehrfachstrahlen durch das Faserarray 30 mit
Hilfe des AOD 42 veranschaulichen, sind die folgenden drei
Merkmale der Erwähnung
wert. Erstens: die Richtung der Feinablenkung kreuzt sich mit der
Array-Richtung des Faserarrays 30 unter rechten Winkeln
auf dem Aufzeichnungsmaterial A auf der Trommel 32, wie
in 3 gezeigt ist.
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Zweitens:
die Array-Richtung des Faserarrays 30 ist gegenüber der
Hilfsabtastrichtung rechtwinklig zur Drehrichtung der Trommel gemäß Pfeil
b in 3 geneigt (entgegen der Hauptabtastrichtung),
und der Neigungswinkel sowie der Faser-Mittenabstand pf auf der
Bildebene ist so, wie es in 3 gezeigt
ist, das heißt,
die Belichtungspunkte durch die Lichtstrahlen L aus den einzelnen
Fasern fallen zusammen mit den Stellen integraler Pixel auf dem
Aufzeichnungsmaterial (der Bildebene) A, welche den in 3 gezeigten
Gitterpunkten entsprechen; im dargestellten Fall sind die Belichtungspunkte
um 4 Pixel in Hauptabtastrichtung und um 2 Pixel in Hilfs- oder
Nebenabtastrichtung versetzt.
-
Drittens:
die Ablenkrichtung ist derart, daß, wenn ein Belichtungspunkt
sich um eine spezifizierte Strecke bewegt (im dargestellten Fall
um ein halbes Pixel in Hauptabtastrichtung), um zu einer benachbarten
Zeile abgelenkt zu werden, so befindet sich der Belichtungspunkt
an der Stelle eines integralen Pixels, bei dem es sich im dargestellten
Fall um ein Pixel beabstandet in Nebenabtastrichtung handelt.
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Selbst
wenn die Belichtungspunkte durch die Lichtstrahlen L aus den einzelnen
Fasern gegenüber
den Stellen der integralen Pixel etwas versetzt sind, kann die erfindungsgemäße Belichtungsvorrichtung 10 das Aufzeichnungsmaterial
auf der gesamten Oberfläche
belichten, ohne daß irgendein
Teil unbelichtet bleibt. Wenn allerdings die Belichtungspunkte gegenüber den
Stellen der integralen Pixel etwas versetzt sind, kollidieren sie
möglicherweise
mit der Periode der Halbtonpunkte, und auf dem Aufzeichnungsmaterial
kommt es zu unerwünschten
Mustern, beispielsweise Moiré.
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Im
folgenden soll eine spezifische Diskussion des Schreibens p für die Pixel-Mittenabstände gemäß 3 anschließen. Ein
Lichtstrahl L belichtet die Stelle eines Pixels auf einer gewissen
Linie (einer ungeraden Linie) mit einem spezifizierten Fleckdurchmesser
(in 3 durch einen ausgezogenen Fleck angedeutet).
Anschließend
be wegt sich der Strahl L um (1/2)p in der Hauptabtastrichtung, wobei
er gleichzeitig um (√5/2)p
in einer Richtung rechtwinklig zur Array-Erstreckung abgelenkt wird,
so daß er
die Stelle eines Pixels auf einer benachbarten Linie (einer geraden
Linie) benachbart zu dem zuerst erwähnten Pixel in Nebenabtastrichtung belichtet.
Erneut bewegt sich der Strahl L um (1/2)p in die Hauptabtastrichtung,
während
er gleichzeitig um (√5/2)p
in die entgegengesetzte Richtung ebenfalls rechtwinklig zur Array-Erstreckung
abgelenkt wird, um die Stelle eines Pixels auf der anfänglichen
ungeraden Zeile oder Linie zu belichten, die dem zuerst erwähnten Pixel
in der Hauptabtastrichtung benachbart ist. Dieser Vorgang wird wiederholt.
Ein benachbarter Lichtstrahl L, der um den Faser-Mittenabstand pf
(= 2√5p)
beabstandet ist, wiederholt den gleichen Vorgang der Belichtung
von zwei Zeilen, jeweils ungerade und gerade, für zwei Rasterabstände. Auf
diese Weise führt
die dargestellte Abbildungseinheit 34 eine vollständige abdeckende
Belichtung des Aufzeichnungsmaterials A mit Mehrfachstrahlen durch
und zeichnet so ein latentes oder ein sichtbares Bild auf. Da ein
Lichtstrahl zwei Raster belichtet, können 32 Mehrfachstrahlen gleichzeitig
64 Raster aufzeichnen. Der Pixel-Mittenabstand p beträgt 10 μm, während die
Aufzeichnungsdichte 2.540 dpi beträgt, und beträgt 10,6 μm, wenn die
Aufzeichnungsdichte 2.400 dpi beträgt.
-
Aus
Gründen
der Klarheit ist der Fleckdurchmesser des Lichtstrahls L gemäß 3 kleiner
gemacht als der Pixel-Mittenabstand, allerdings ist dies nicht der
einzige Fall für
die Erfindung, und in einer bevorzugten Ausführungsform ist der Fleckdurchmesser
des Lichtstrahls L ausreichend größer, damit der Pixel-Mittenabstand
p über
das Pixel hinweg eine Aufzeichnung vollziehen kann.
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Oben
wurde der Grundaufbau der Abbildungseinheit 34 der ersten
Ausführungsform
der Erfindung beschrieben, die eine zwei Pixel umfassende Feinablenkung
der Lichtstrahlen aus dem Faserarray mittels des AOD ausführt.
-
4A ist
eine vereinfachte Frontansicht der Abbildungseinheit 50 einer
zweiten Ausführungsform
der Erfindung, die eine drei Pixel umfassende Feinablenkung durch
das AOD ausführt,
dargestellt in einer Richtung rechtwinklig zur Array-Erstreckungsrichtung des
Faserarrays, und 4B ist eine vereinfachte Bodenansicht
derselben Abbildungseinheit 50 bei Betrachtung in Erstreckungsrichtung
des Arrays. 5 ist eine anschauliche Darstellung
der Orte der Hauptabtastvorgänge
(3-Pixel-Feinablenkungen) einschließlich der Wirkungsweise der
Feinablenkung von Mehrfachstrahl-Flecken, wenn diese die Bildebene
des Aufzeichnungsmaterials A abtasten.
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Die
in den 4A und 4B dargestellte
Abbildungseinheit 50 hat den gleichen Aufbau wie die in 2A und 2B dargestellte
Abbildungseinheit 34, ausgenommen die Treiberenergiequelle 44 für das AOD 42 in
dem Feinablenkungsteil 18. Gleiche Bestandteile sind hier
mit gleichen Bezugszeichen versehen und werden nicht noch einmal
im einzelnen erläutert.
-
In
der in den 4A und 4B dargestellten
Abbildungseinheit 50 ist anstelle der Treiberenergiequelle 44 nach 2B,
die die Frequenz des Ultraschalls zwischen fr1 und fr2 umschaltet,
eine Treiberenergiequelle 52 vorgesehen, die die Frequenz
des Ultraschalls zwischen fr1, fr2 und fr3 umschaltet.
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Wie 4B zeigt,
schaltet die Treiberenergiequelle 52 die Frequenz des erzeugten
Ultraschalls zwischen fr1, fr2 und fr3 auf Zeitbasis um und ändert die
Periodendauer des Beugungsgitters, welches durch die Frequenz von Änderungen
im Brechungsindex des AOD 42 hervorgerufen wird, demzufolge
der Ablenkwinkel der einfallenden Mehrfachstrahlen durch das AOD 42 geändert wird
und das AOD 42 zu einer kollektiven Feinablenkung der einfallenden
Mehrfachstrahlen L führt.
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Der
Neigungswinkel der Array-Erstreckung des Faserarrays 30 und
der Faser-Mittenabstand
pf der Bildebene gemäß 5,
das sind die Belichtungspunkte durch Belichtung mit den Lichtstrahlen
L aus den einzelnen Fasern, sind 9 Pixel in Hauptabtastrichtung
und 3 Pixel in Nebenabtastrichtung versetzt.
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Die
Ablenkrichtung ist derart angelegt, daß, wenn ein Belichtungspunkt
sich um ein Drittel eines Pixels in Hauptabtastrichtung bewegt,
um eine Ablenkung zu einer benachbarten Zeile auszuführen, dieser
Belichtungspunkt um ein Pixel in Nebenabtastrichtung verlagert wird.
-
Im
folgenden soll eine spezifische Diskussion in bezug auf 5 erfolgen,
wobei p der Mittenabstand von Pixeln ist. Ein Lichtstrahl L belichtet
die Stelle eines Pixels auf einer gewissen Linie oder Zeile (die
erste Zeile) mit einem spezifizierten Fleckdurchmesser (in 5 durch
einen ausgefüllten
Punkt angedeutet); anschließend
bewegt sich der Strahl L um p/3 in Hauptabtastrichtung, während er
gleichzeitig um (√10/3)p
in einer Richtung rechtwinklig zur Array-Erstreckung bewegt wird,
um die Stelle eines Pixels auf einer benachbarten Zeile (der zweiten
Zeile) zu belichten, die dem erstgenannten Pixel in Hilfsabtastrichtung
benachbart ist; der Strahl L bewegt sich um p/9 in Hauptabtastrichtung,
während
er gleichzeitig um (√10/3)p
in einer Richtung rechtwinklig zur Array-Erstreckung abgelenkt wird,
um die Stelle eines Pixels einer benachbarten Zeile (der dritten
Zeile) zu belichten, die dem zweiten genannten Pixel in Nebenabtastrichtung
benachbart ist; wiederum bewegt sich der Strahl L um p/3 in Hauptabtastrichtung,
während
er gleichzeitig um 2(√10/3)p
in die entgegengesetzte Richtung bewegt wird, ebenfalls rechtwinklig
zur Array-Erstreckung, um die Stelle eines Pixels auf der ersten
Zeile zu belichten, benachbart zu dem als erstes erwähnten Pixel
in der Hauptabtastrichtung. Dieser Prozeß wird wiederholt. Ein benachbarter
Lichtstrahl L, der um den Faser-Mittenabstand pf (= 3√10)p) entfernt ist,
wiederholt den gleichen Prozeß des
Belichtens von drei Zeilen, nämlich
der ersten, der zweiten und der dritten Zeile. Auf diese Weise führt die
dargestellte Abbildungseinheit 50 eine vollständige abdeckende
Belichtung des Aufzeichnungsmaterials A mit Mehrfachstrahlen durch
und zeichnet damit ein latentes oder ein sichtbares Bild auf. Da
ein Lichtstrahl drei Raster belichtet, können 32 Mehrfachstrahlen gleichzeitig
96 Raster aufzeichnen.
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Oben
wurde der Grundaufbau der Abbildungseinheit 50 der zweiten
Ausführungsform
der Erfindung beschrieben, die eine drei Pixel umfassende Feinablenkung
der Lichtstrahlen aus dem Faserarray mit Hilfe des AOD ausführt.
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7 ist eine vereinfachte Vorderansicht
der Abbildungseinheit 54 einer dritten Ausführungsform
der Erfindung, die eine zwei Pixel umfassende Feinablenkung mittels
AOM ausführt,
betrachtet in einer Richtung rechtwinklig zur Array-Erstreckung
des Faserarrays 30. 7A, 7B und 7C sind
Darstellungen, die drei verschiedene Fälle für die Wirkungsweise der Feinablenkung
der Lichtstrahlen mit Hilfe des Lichts erster Ordnung (Licht der
Beugung erster Ordnung) und des Lichts nullter Ordnung (Licht mit
der Beugung nullter Ordnung) durch den AOM ausführt.
-
Die
in 6 gezeigte Abbildungseinheit 54 hat den
gleichen Aufbau wie die in 2B gezeigte
Abbildungseinheit 34, ausgenommen den Feinablenkteil 18.
Folglich sind gleiche Bauteile mit ähnlichen Bezugszeichen versehen
und werden nicht näher
beschrieben.
-
In
der in 6 gezeigten Abbildungseinheit 54 verwendet
der Feinablenkteil 18 einen AOM 56 anstelle des
AOD 42 nach 2B, und er enthält außerdem eine
Treiberenergiequelle 58, die eine Spannung zum Treiben
des AOM 56 anlegt.
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Der
AOM 56 arbeitet nach dem gleichen Prinzip und hat den gleichen
Aufbau wie das AOD 42. Er verwendet den akustooptischen
Effekt oder die Lichtbeugung durch Frequenzänderungen im Brechungsindex (Beugungsgitter),
die durch Ultraschallausbreitung erzeugt werden. Durch Ändern der
Treiberleistung aus der Treiberenergiequelle 58 wird anstelle
der Frequenz die Intensität
des Ultraschalls geändert.
Im dargestellten Fall liegt die Frequenz fr1 bei 80 MHz fest, und
die Treiberleistung seitens der Treiberenergiequelle 58 wird geändert, um
eine Intensitätsmodulation
des Lichts erster Beugungsordnung und des Lichts nullter Beugungsordnung
zu erreichen. Im Fall der AOD-Modulation ist allgemein gefordert,
daß die
Ultraschallfrequenz zwischen zwei Werten fr1 und fr2 geändert wird,
wobei die Differenz zwischen fr1 und fr2 vorzugsweise auf den oben
genannten Wert von 80 MHz eingestellt ist. Wenn allerdings die Mittenfrequenz
(= (fr1 + fr2)/2) zunimmt, wird die Differenz zwischen fr1 und fr2
bis zu etwa 200 MHz groß,
wenn der Pixel-Mittenabstand etwa 10 μm beträgt. Dies steigert die Kosten
des AOD und führt
zu Schwierigkeiten bei dessen Ausgestaltung. Um mit dieser Situation
fertig zu werden, wird vorzugsweise der AOM verwendet, wobei die
Ultraschallfrequenz auf etwa 80 MHz fest gelegt wird, während die
Treiberleistung für
die Ultraschallwelle und damit die Intensität geändert wird.
-
Diese
Vorgehensweise ist in den 7A bis 7C dargestellt.
Zuerst wird auf 7A bezug genommen, in der das
Multimoden-Faserarray 30 Lichtstrahlen L mit einer Leistung
(PLD) von 1.000 mW emittiert und der AOM 56,
der eine spezifische Treiberleistung (Hochleistung) von der Treiberenergiequelle 58 erhält, Licht erster
Beugungsordnung mit einem Wirkungsgrad (ηAO)
von 90 % erzeugt. Dabei beugt der AOM 56 die einfallenden
Lichtstrahlen L, um abgelenktes Licht erster Beugungsordnung mit
einer Intensität
von 900 mW zu emittieren (dargestellt durch die ausgezogene Linie).
Das um die Trommel 32 in Hauptabtastrichtung 14 geschlungene
Aufzeichnungsmaterial A wird ebenfalls mit Licht nullter Beugungsordnung
bei einer Intensität
von 100 mW (dargestellt durch die gestrichelte Linie) belichtet,
wobei dieses Licht ohne Beugung durch den AOM 56 hindurchgelangt
ist. Wenn die Belichtung oder die Wärmeempfindlichkeit des Aufzeichnungsmaterials
A derart beschaffen ist, daß das
Material mit den Lichtstrahlen einer Intensität von 900 mW vollständig angeregt
wird, hingegen bei Lichtstrahlen mit einer Intensität von 100
mW nicht angeregt wird, so kann verhindert werden, daß das Material
durch unerwünschtes
Licht nullter Beugungsordnung (angedeutet durch die gestrichelte
Linie) angeregt wird.
-
Alternativ
kann gemäß 7B der
AOM 56 mit einer geringeren Leistung aus der Teileenergiequelle 58 gespeist
werden, so daß der
Wirkungsgrad der Beugung um 10 % gesenkt wird. In diesem Fall läuft einfach ein
Anteil von 90 % der einfallenden Lichtstrahlen L durch den AOM 56,
der Licht einer Beugung nullter Ordnung mit einer Intensität von 900
mW (dargestellt durch eine ausgezogene Linie) emittiert, während der
AOM 56 10 % der einfallenden Lichtstrahlen L beugt und
Licht der Beugung erster Ordnung mit einer Intensität von 100
mW (angegeben durch die gestrichelte Linie) emittiert. Falls erwünscht, kann
die Antriebsenergiequelle 58 ausgeschaltet werden, so daß dem AOM 56 keine
Treiberenergie zugeleitet wird. Darüber hinaus ist das Faserarray 30 so
eingestellt, daß es
Lichtstrahlen mit einer Leistung (PLD) von
900 mW erzeugt. Wie in 7C dargestellt ist, laufen sämtliche
einfallenden Lichtstrahlen L einfach durch den AOM 56,
der nur 900 mW Licht einer Beugung von nullter Ordnung (es wird
kein Licht erster Ordnung erzeugt) emittiert.
-
Mit
Hilfe jedes dieser Verfahren kann der AOM 56 eine Feinablenkung
der Lichtstrahlen L vornehmen, um fein abgelenkte Lichtstrahlen
gleicher Intensität
zu bilden.
-
Es
wurden hiermit verschiedene Verfahren beschrieben, mit deren Hilfe
die von dem Faserarray 30 emittierten Mehrfachstrahlen
L kollektiv mit Hilfe des AOM 56 einer Feinablenkung unterzogen
werden.
-
Die
Orte der Strahlflecken, die durch Belichtung mit Mehrfachstrahlen
gezogen werden, wenn diese einer zwei Pixel umfassenden Feinablenkung
der dritten Ausführungsform
der Erfindung unterzogen werden, sind vollständig die gleichen, wie sie
in 3 dargestellt sind, und brauchen nicht näher erläutert zu
werden.
-
Es
wurde oben der grundlegende Aufbau der Abbildungseinheit 54 der
dritten Ausführungsform
der Erfindung erläutert,
bei der eine zwei Pixel umfassende Feinablenkung der Lichtstrahlen
aus dem Faserarray mit Hilfe des AOD vorgenommen wird.
-
8A ist
eine vereinfachte Frontansicht der Belichtungsvorrichtung (Abbildungseinheit) 60 einer vierten
Ausführungsform
der Erfindung, die eine zwei Pixel umfassende Feinablenkung mittels
EOD von Licht aus einem monolithischen LD-Array vornimmt, bezogen
auf eine Betrachtung in Richtung rechtwinklig zur Array-Richtung
des Faserarrays, und 8B ist eine vereinfachte Bodenansicht
der selben Belichtungsvorrichtung 60 bei Betrachtung in
Array-Richtung. 9 ist eine Darstellung der Orte
der Hauptabtastaktionen (Zwei-Pixel-Feinablenkungen) einschließlich der
Wirkungsweise der Feinablenkung von Mehrstrahl-Flecken, wenn diese
die Oberfläche
der Bildebene des Aufzeichnungsmaterials A abtasten.
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Die
Belichtungsvorrichtung (Abbildungseinheit) 60 gemäß 8A und 8B hat
den gleichen Aufbau wie die Abbildungseinheit 34 in den 2A und 2B,
ausgenommen der Lichtquellenteil 12 und der Feinablenkteil 18.
Folglich werden gleiche Bestandteile mit gleichen Bezugszeichen
versehen und nicht näher erläutert.
-
Die
in den 8A und 8B dargestellte
Belichtungsvorrichtung (Abbildungseinheit) 60 bildet die vierte
Ausführungsform
der Erfindung und enthält
einen Lichtquellenteil 12, eine Abbildungsoptik 16,
einen Feinablenkteil 18 und einen Hauptabtastteil 14.
-
In
der Belichtungsvorrichtung 60 setzt sich der Lichtquellenteil 12 selbst
zusammen aus einem monolithischen LD-Array 62 anstelle
des Faserarrays 30 nach 2A, der
Abbildungsoptik 16 mit der Kollimatorlinse 38 und
der Abbildungslinse 40 wie in der ersten Ausführungsform,
und den Feinablenkteil 18, der ein EOD 64 und
eine Treiberenergiequelle 66 zum Anlegen einer Treiberspannung
an den EOD 64 anstelle des AOD 42 und der Treiberenergiequelle 44 aufweist.
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Die
LDs in dem monolithischen LD-Array 62 können individuell ein- und ausgeschaltet
werden.
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Der
EOD 64 ist ein Prisma aus einem Kristall mit einem starken
elektrooptischen Effekt, beispielsweise KH2PO4 (KDP) oder LiNbO3.
Beim Anlegen einer Spannung ändert
sich der Brechungsindex des Kristalls, wodurch die einfallenden
Lichtstrahlen abgelenkt werden. EODs besitzen eine ziemlich rasche
Ansprechgeschwindigkeit von weniger als 100 ns, sie ermöglichen
allerdings nur geringe Ablenkwinkel. Folglich besteht der EOD 64 aus
zwei oder mehr Prismen (im dargestellten Fall sechs Prismen), die
derart miteinander verklebt sind, daß ihre optischen Achsen einander
entgegengesetzt sind. Auf diese Weise wird die äquivalente Brechungsindex-Änderung
erhöht,
und der geringe Ablenkwinkel, der durch ein Einzelprisma erzielt
wird, wird verstärkt
auf einen ausreichend großen
Wert, wenn mehrere Prismen miteinander kombiniert werden.
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Der
EOD, der bei der vierten Ausführungsform
der Erfindung verwendet wird, ist nicht in spezieller Weise beschränkt, es
können
verschiedene bekannte EOD-Typen verwendet werden, beispielsweise
der EOD, der beschrieben ist in IEEE Journal of Quantum Electronics,
Vol. QE-9, Nr. 8, Seiten 791-795 (1973).
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Im
dargestellten Fall werden die Mehrfachstrahlen L des aufgrund des
Durchlaufs durch die Kollimatorlinse 38 kollimierten Lichts
in den EOD 64 eingeleitet, so daß sie unter exakt rechten Winkeln
bezüglich
der Richtung verlaufen, in der die Lichtstrahlen von dem EOD 64 abgelenkt
werden (vergleiche 8B), wohingegen die einfallenden
Lichtstrahlen L in bezug auf die Grenzflächen zwischen benachbarten
Prismen innerhalb des EOD 64 etwas geneigt werden (vergleiche 8A).
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Man
beachte, daß bei
Verwendung eines EOD 64 die Polarisationsrichtung jedes
Lichtstrahls L, der auf den EOD 64 auftrifft, übereinstimmt
mit der Array-Richtung, in welcher die Mehrfachstrahlen angeordnet sind.
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Der
dargestellte Fall für
die Feinablenkung durch den EOD 64 besitzt folgende charakteristische
Merkmale: Erstens wird die Richtung der Feinablenkung der Mehrfachstrahlen
L in Übereinstimmung
mit der Array-Richtung des monolithischen LD-Arrays 62 gebracht.
Damit stimmt gemäß 9 die
Richtung der Feinablenkung der einzelnen Mehrfachstrahlen L auf
dem Aufzeichnungsmaterial A auf der Trommel 32 auch mit
der Array-Richtung
der Strahlen überein.
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Zweitens
ist die Array-Richtung der Mehrfachstrahlen L in bezug auf die Nebenabtastrichtung,
die rechtwinklig zur Umdrehungsrichtung der Trommel gemäß Pfeil
b in 9 verläuft
(entgegen der Hauptabtastrichtung) geneigt, wobei der Neigungswinkel
und der Mitten-Abstand pf des LD-Arrays auf der Bildebene den in 9 dargestellten
Wert annimmt, das heißt,
die Belichtungspunkte der Lichtstrahlen L aus den einzelnen Fasern
stimmen überein
mit den Positionen der integralen Pixel auf dem Aufzeichnungsmaterial
(der Bildebene) A, die den Gitterpunkten in 9 entsprechen.
Im dargestellten Fall befinden sich die Belichtungspunkte um ein
Pixel in Hauptabtastrichtung und um zwei Pixel in Nebenabtastrichtung
versetzt.
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Drittens
ist die Ablenkrichtung derart, daß, wenn ein Belichtungspunkt
sich um eine spezifizierte Distanz (im dargestellten Fall um ein
halbes Pixel in Hauptabtastrichtung) zur Ablenkung auf die Nachbarzeile
bewegt, der Belichtungspunkt sich an der Stelle des integralen Pixels
befindet, bei der es sich im dargestellten Fall um einen Pixel entfernt
in Nebenabtastrichtung handelt.
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Im
folgenden soll anhand der 9 das Schreiben
mit dem Pixel-Mittenabstand p diskutiert werden. Ein Lichtstrahl
L belichtet die Stelle eines Pixels auf einer gewissen Linie (ungeraden
Linie) mit einem spezifizierten Fleckdurchmesser (in 9 durch
einen ausgezogenen Punkt dargestellt). Anschließend bewegt sich der Lichtstrahl
L um (1/2)p in Hauptabtastrichtung, während er gleichzeitig um (√5/2)p in
Array-Richtung abgelenkt wird, so daß er die Stelle eines Pixels
auf einer Nachbarzeile (einer geraden Zeile) belichtet, die dem
erstgenannten Pixel in Nebenabtastrichtung benachbart ist, jedoch
entgegen dem in 3 dargestellten Fall. Wiederum
bewegt sich der Lichtstrahl L um (1/2)p in Hauptabtastrichtung,
während
er gleichzeitig um (√5/2)p
in entgegengesetzter Richtung parallel zur Array-Richtung abgelenkt
wird, um die Stelle eines Pixels auf der anfänglichen ungeraden Zeile zu
belichten, die dem erstgenannten Pixel in Hauptabtastrichtung benachbart
ist. Dieser Prozeß wird
wiederholt. Ein benachbarter Lichtstrahl L, der um den LD-Array-Mittenabstand
(Faser-Mittenabstand) pf (= √5p)
beabstandet ist, wiederholt denselben Vorgang bei der Belichtung
von zwei Zeilen, einer geraden und einer ungeraden Zeile. Auf diese
Weise führt
die dargestellte Abbildungseinheit 60 eine vollabdeckende
Belichtung des Aufzeichnungsmaterials A mit Mehrfachstrahlen aus,
um dadurch ein latentes oder ein sichtbares Bild aufzuzeichnen.
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Im
Gegensatz zu dem AOD und dem AOM beruht der Betrieb des EOD als
Feinablenkungseinrichtung nicht auf Beugung. Damit ist die Ablenkrichtung
des EOD nicht auf eine einzelne Richtung begrenzt, rechtwinklig
zu der Array-Richtung der Mehrfachstrahlen, sondern kann parallel
dazu verlaufen, wie bei der vierten Ausführungsform der Erfindung, die
in den 8A und 8B dargestellt
ist. Auf Wunsch kann die Ablenkrichtung durch den EOD rechtwinklig
zur Array-Richtung der Mehrfachstrahlen verlaufen, so wie im Fall
des AOD und des AOM.
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10A und 10b zeigen
die Belichtungsvorrichtung (Abbildungseinheit) 68 einer
fünften
Ausführungsform
der Erfindung, bei der die Mehrfachstrahlen von einem monolithischen
LD-Array einer zwei Pixel umfassenden Feinablenkung durch den EOD
in einer Richtung rechtwinklig zur Array-Richtung der Mehrfachstrahlen
unterworfen werden.
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Die
in den 10A und 10B dargestellte
Belichtungsvorrichtung 68 ist die gleiche wie die in 8A und 8B dargestellte
Belichtungsvorrichtung 60, nur daß die Orientierung des EOD 64 um
90 Grad gedreht ist. Aufgrund dieser Ausgestaltung werden die Mehrfachstrahlen
L, die von dem monolithischen LD-Array 62 emittiert werden,
einer Feinablenkung in einer Richtung rechtwinklig zur Array-Richtung
unterzogen, wie in 10B dargestellt ist.
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Damit
sind die Orte der Strahlflecken, die durch die Belichtung mit den
Mehrfachstrahlen gezogen werden, welche einer zwei Pixel umfassenden
Feinablenkung durch die fünfte
Ausführungsform
der Erfindung unterzogen werden, vollständig die gleichen, wie sie
in 3 dargestellt sind und brauchen nicht näher beschrieben
zu werden.
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Oben
wurde der grundlegende Aufbau der Belichtungsvorrichtungen (Abbildungseinheiten) 60 und 68 der
vierten und der fünften
Ausführungsform
der Erfindung beschrieben, die eine zwei Pixel umfassende Feinablenkung
mittels EOD der Lichtstrahlen aus dem monolithischen LD-Array ausführen.
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11 ist
eine vereinfachte Frontansicht der Belichtungsvorrichtung (Abbildungseinheit) 70 einer sechsten
Ausführungsform
der Erfindung, die eine Zwei-Pixel-Feinablenkung von Licht aus einem Array
diskreter LDs mittels EOD vornimmt, betrachtet in einer Richtung
rechtwinklig zur Array-Richtung des LD-Arrays.
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Die
Belichtungsvorrichtung (Abbildungseinheit) 70 nach 11 hat
den gleichen Aufbau wie die Belichtungsvorrichtung (Abbildungseinheit) 60 nach 8A,
ausgenommen den Lichtquellenteil 12 und einen Teil der
optischen Einheit. Folglich sind gleiche Bestandteile mit gleichen
Bezugszeichen versehen und werden nicht näher erläutert.
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Die
in 11 dargestellte Belichtungsvorrichtung (Belichtungseinheit) 70 enthält einen
Lichtquellenteil 12, eine optische Einheit mit einer Verkleinerungsoptik 72 und
einer Abbildungsoptik 16, einen Feinablenkteil 18 und
einen Hauptabtastteil 14.
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In
der Belichtungsvorrichtung 70 enthält der Lichtquellenteil 12 ein
LD-Array 74 mit einer Mehrzahl diskreter LDs 26a, 26b,
..., 26i in Array-Form, Kollimatorlinsen 76 (76a, 76b,
..., 76i) an den Austrittsenden der LDs 26 (26a-26i)
und eine perforierte Platte 79 mit Öffnungen 78 (78a, 78b,
..., 78i), angeordnet in Entsprechung der zugehörigen Kollimatorlinsen 76 (76a-76i).
Dieser Lichtquellenteil 12 wird anstelle des in 8A gezeigten
monolithischen LD-Arrays 62 verwendet.
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Die
bei der sechsten Ausführungsform
verwendeten diskreten LDs 26 können solche vom Einzel- oder solche
vom Mehrfachmodus sein, wobei es sich ohne besondere Beschränkung um
bekannte LDs handeln kann. Im dargestellten Fall können der
Lichtquellenteil 12, das LD-Array 74 zum Emittieren
von Mehrfachstrahlen, die Kollimatorlinsen 76 und die Öffnungen 78 in
beliebiger Kombination entweder als eindimensionales oder als zweidimensionales
Muster angeordnet sein.
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Die
diskreten LDs 26 haben eine vergleichsweise hohe Baugröße, und
die emittierten Mehrfachstrahlen können nicht so dicht angeordnet
werden, als wenn das Faserarray 30 oder das monolithische
LD-Array 62 verwendet wird. Dementsprechend besitzen die Öffnungen 78 eine
Größe von 1-3
mm. Wenn die auf der Aufzeichnungsfläche des Aufzeichnungsmaterials
A erzeugten Flecken eine Größe von 10-15 μm besitzen, beträgt das Untersetzungsverhältnis zwischen
1/100 und 1/200. Bei diesem kleinen Wert kann die Abbildungsoptik 16,
lediglich bestehend aus der Kollimatorlinse 38 und der
Abbildungslinse 40 wie in den Abbildungseinheiten 34, 50, 56, 60 und 68 gemäß den 2A, 4A, 6, 8A und 10A, keine Bildverkleinerung bis zu der gewünschten
Fleckgröße auf dem
Aufzeichnungsmaterial A in dem Hauptabtastteil 14 erreichen.
Um mit dieser Situation fertig zu werden, besitzt die in 11 dargestellte
optische Einheit eine Verkleinerungsoptik 72, die vor der
Abbildungsoptik 16 (zwischen dem Belichtungsteil 12 und
der Abbildungsoptik 16) angeordnet ist.
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Die
Verkleinerungsoptik 72 enthält eine Kollimatorlinse 80 und
eine Abbildungslinse 82. Dies ist nicht der einzige Fall
im Rahmen der Erfindung. Die Linsen 80 und 82 können mit
verschiedenen anderen Linsen kombiniert werden. Alternativ kann
man von einer bekannten Verkleinerungsoptik oder von mehreren Verkleinerungsoptiken
Gebrauch machen, die in mehreren Stufen angeordnet sind. In 11 ist
die perforierte Platte 79 unmittelbar stromabwärts bezüglich der
Kollimatorlinsen 76 (76a-76i) im Lichtquellenteil 12 vorgesehen.
Alternativ kann die perforierte Platte 79 selbst oder kann
eine andere perforierte Platte mit Öffnungen entsprechend den Öffnungen 78 an
der Stelle 84 angeordnet sein, wo sich der Brennpunkt der
Abbildungslinse 82 der Verkleinerungsoptik 72 befindet.
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Die
hier betrachtete sechste Ausführungsform
ist nicht darauf beschränkt,
daß der
EOD 64 im Feinablenkteil 18 sich an der in 11 gezeigten
Stelle befindet. Die Richtung bei der Feinablenkung verläuft parallel zur
Array-Richtung des LD-Arrays 74. Bei Bedarf kann der EOD 64 um
90 Grad gedreht werden, wie dies in den 10A und 10B gezeigt ist, so daß die Richtung der Feinablenkung
rechtwinklig zu der Array-Richtung des LD-Arrays 74 verläuft. In
dem Feinablenkteil 18 kann der EOD 64 ersetzt
werden durch ein AOD oder einen AOM, wie er in 2A oder 6 gezeigt
ist.
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Damit
sind die Orte der Strahlflecken, die durch die Belichtung mit den
Mehrfachstrahlen gezogen werden, die der Zwei-Pixel-Feinablenkung
im Rahmen der sechsten Ausführungsform
der Erfindung unterzogen wurden, vollständig die gleichen wie in 3,
und brauchen daher nicht näher
beschrieben zu werden.
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Die
obige Beschreibung bezieht sich auf die grundlegende Struktur der
Belichtungsvorrichtung (der Abbildungseinheit) 70 der sechsten
Ausführungsform
der Erfindung, die eine zwei Pixel umfassende Feinablenkung mittels
EOD an den Lichtstrahlen aus dem diskreten LD-Array vornimmt.
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Wenn
der EOD 64 verwendet wird, wird eine zum Steuern der Polarisationsrichtung
der emittierten Lichtstrahlen geeignete Lichtquelle in dem Lichtquellenteil 12 verwendet,
bei spielsweise in Form des monolithischen LD-Arrays 62 (siehe 8A und 8B und 10) und des diskreten LD-Arrays 74 (siehe 11). Dies
hat den Zweck, sicherzustellen, daß die Polarisationsrichtung
der Lichtstrahlen übereinstimmt
mit der Array-Richtung
der Mehrfachstrahlen.
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Wenn
allerdings ein Multimoden-Faserarray 30 in dem Lichtquellenteil 12 verwendet
wird, können
die von den einzelnen optischen Fasern 22 in dem Multimoden-Faserarray 30 emittierten
Lichtstrahlen keine definierte Polarisationsrichtung einnehmen.
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Um
mit dieser Situation fertig zu werden, wird die in den 12A und 12B dargestellte
Ausgestaltung vorzugsweise dann angewendet, wenn das Multimoden-Faserarray 30 in
dem Lichtquellenteil 12 verwendet wird. Um genau zu sein,
werden Lichtstrahlen unterschiedlicher Polarisationsrichtungen an
einer Stelle stromaufwärts
des EOD 64 in dem Feinablenkteil 18 aufgetrennt,
und die aufgetrennten Lichtstrahlen werden verarbeitet, so daß sie gleiche
Polarisationsrichtung besitzen. Nach dieser Verarbeitung werden
die aufgetrennten Lichtstrahlen zur Feinablenkung in den EOD 64 eingeleitet
und fein abgelenkt, wobei aufgetrennte Strahlen umgekehrt werden,
so daß sie
die anfängliche
Beziehung für
die Polarisationsrichtung besitzen. Die aufgetrennten Strahlen werden
dann miteinander kombiniert und von dem Feinablenkteil 18 ausgegeben.
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12A ist eine vereinfachte Frontansicht der Belichtungsvorrichtung
(Abbildungseinheit) 86 in einer siebten Ausführungsform
der Erfindung, die eine Zwei-Pixel-Feinablenkung durch EOD von dem Licht
aus einem Faserarray vornimmt, betrachtet in einer Richtung rechtwinklig
zur Array-Richtung, und 12B ist
eine vereinfachte Bodenansicht derselben Belichtungsvorrichtung
bei Betrachtung in Array-Richtung.
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Die
Belichtungsvorrichtung (Abbildungseinheit) 86 nach den 12A und 12B hat
den gleichen Aufbau wie die Belichtungsvorrichtung (die Abbildungseinheit) 60 nach
den 8A und 8B, nur
daß der Lichtquellenteil 12 und
der Feinablenkteil 18 anders sind. Folglich werden Bestandteile
hier mit gleichen Bezugszeichen versehen und nicht im einzelnen
erläutert.
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In
der Belichtungsvorrichtung 86 besteht der Lichtquellenteil 12 aus
dem Faserarray 30 (2A und 2B)
anstelle des in 8A gezeigten monolithischen
LD-Array 62.
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Der
Feinablenkteil 18 besteht aus einem ersten Strahlaufteiler 88 für polarisierte
Strahlen, einem ersten rechtwinkligen Prisma 89, einer
ersten λ/2-Platte 90,
zwei EODs 64a und 64b, einer zweiten λ/2-Platte 92, einem
zweiten rechtwinkligen Prisma 93, einem zweiten Strahlaufspalter 94 für polarisierte
Strahlen, und einer Treiberenergiequelle 66 zum Treiben
der beiden EODs.
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Die
Belichtungsvorrichtung 86 arbeitet in folgender Weise:
das Multimoden-Faserarray 30 emittiert Lichtstrahlen, die
aufgrund des Durchgangs durch die Kollimatorlinse 38 kollimiert
werden. Die kollimierten Lichtstrahlen L werden in den ersten Strahlaufspalter 88 eingeleitet,
der die erste Strahlkomponente mit einer spezifizierten Polarisationsrichtung
durchläßt und eine
zweite Strahlkomponente, die in einer Richtung rechtwinklig zur
Polarisationsrichtung der ersten Strahlkomponente um 90 Grad ablenkend
reflektiert. Die so abgetrennte zweite Strahlkomponente trifft auf
das erste rechtwinklige Prisma 89 auf, wird in ihrer Ausbreitungsrichtung
um 90 Grad abgeknickt, um parallel zu der ersten Strahlkomponente
zu werden, wird in die erste λ/2-Platte 90 eingeleitet,
wobei ihre Polarisationsrichtung um 90 Grad gedreht wird, so daß sie identisch
ist mit der Polarisationsrichtung der ersten Strahlkomponente. Die
erste und die zweite Strahlkomponente sind nun parallele Strahlen
mit gleicher Polarisationsrichtung und werden in das erste bzw.
das zweite EOD 64a bzw. 64b eingeleitet, so daß sie in
gleicher Weise einer Feinablenkung unterzogen werden.
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Die
erste Strahlkomponente, die der Feinablenkung von dem ersten EOD 64a unterzogen
wurde, wird in die zweite λ/2-Platte 92 eingeleitet,
so daß ihre
Polarisationsrichtung um 90 Grad gedreht wird. Anschließend trifft
die erste Strahlkomponente auf das zweite rechtwinklige Prisma 93 auf
und wird in seiner Ausbreitungsrichtung um 90 Grad abgeknickt. Die
erste Strahlkomponente wird dann in den zweiten Strahlaufspalter 94 eingeleitet,
zusammen mit der zweiten Strahlkomponente, die von dem zweiten EOD 64b einer Feinablenkung
unterzogen wurde. Die beiden Strahlkomponenten, die um 90 Grad in
Polarisationsrichtung versetzt sind, werden in dem zweiten Strahlaufspalter 94 kombiniert.
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Die
kombinierten Lichtstrahlen L treffen auf die Abbildungslinse 40 auf,
durch die sie hindurchtreten, um auf der Aufzeichnungsfläche des
Aufzeichnungsmaterials A in dem Hauptabtastbereich 14 ein
Bild zu erzeugen.
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Die
Orte der Strahlflecken, die durch die Belichtung mit Mehrfachstrahlen
nach einer Zwei-Pixel-Feinablenkung von der siebten Ausführungsform
der Erfindung gezogen werden, sind insgesamt die gleichen wie in 3 und
brauchen nicht im einzelnen beschrieben zu werden.
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Oben
wird der Grundaufbau der Belichtungsvorrichtung (der Abbildungseinheit) 86 der
siebten Ausführungsform
der Erfindung beschrieben, die eine Zwei-Pixel-Feinablenkung mittels
des EOD für
Lichtstrahlen aus dem Faserarray vornimmt.
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Die
Mäntel
der optischen Fasern (Lichtleitfasern) in dem Rahmen der Erfindung
verwendeten Faserarray (typischerweise in 2 mit 30 bezeichnet)
besitzen Durchmesser von etwa 80-125 μm, die entweder identisch oder
im wesentlichen die gleichen sind, unabhängig davon, ob es sich um Multimoden-
oder Einzelmoden-Fasern handelt. Andererseits besitzt der Kern,
der der Übertrager
der Lichtstrahlen ist, einen Durchmesser von etwa 50- 100 μm im Fall
der Multimoden-Faser, während
im Fall der Einzelmoden-Faser der Durchmesser 5-10 μm beträgt. Der
Manteldurchmesser der Einzelmoden-Fasern ist also viel größer als
der Kerndurchmesser, so daß selbst
dann, wenn die Fasern in Berührung
miteinander stehend angeordnet sind, der Abstand zwischen den Kernen
benachbarter optischer Fasern nicht kleiner werden kann als der
Manteldurchmesser, und die Flecken benachbarter Lichtstrahlen, die
auf der Abbildungsebene (Aufzeichnungsfläche) des Aufzeichnungsmaterials
A entstehen und dem Faserkern entsprechen, nicht dichter benachbart
sein können,
als es einem spezifischen Abstand entspricht. Es wird auf 13 zur
Erläuterung
verwiesen. Innerhalb der Bildebene müssen die Strahlflecken BSP, die dem Faserkern entsprechen und durch
ausgezogene Punkte oder Kreise dargestellt sind, eine vorbestimmte
Größe in bezug
auf den Pixel-Mittenabstand p besitzen, so daß der Abstand zwischen benachbarten
Strahlflecken BSP des Faser-Mittenabstands
pf in der Bildebene nicht kleiner werden kann als DCD,
bei dem es sich um den Manteldurchmesser jeder Faser handelt.
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Um
diese Beschränkung
zu überwinden,
sind Faserarrays in einem zweidimensionalen Muster angeordnet, welches
typischerweise zwei Reihen gemäß 13 umfaßt. Diejenigen
Zeilen (Hauptabtastzeilen), die von der ersten Faserreihe nicht
belichtet werden können,
werden mit der zweiten Reihe belichtet. Falls notwendig, kann eine
dritte Reihe oder können
mehr Reihen von Fasern vorhanden sein, um zu garantieren, daß sämtliche
Zeilen (Hauptabtastzeilen) in Nebenabtastrichtung belichtet und
abgetastet werden können. 13 zeigt
den Fall der Verwendung eines zweidimensionalen Faserarrays aus
zwei Faserreihen und benachbarten Strahlflecken BSP in
jeder Reihe, beabstandet voneinander um 8 Pixel in Hauptabtastrichtung.
Da m oder die Anzahl von auszuführenden
Feinablenkungen den Wert 1 hat, beträgt der Mittenabstand der Pixel
in Nebenabtastrichtung 2(m + 1), und benachbarte Strahlflecken BSP sind um vier Pixel in Nebenabtastrichtung
voneinander beabstandet. Im Ergebnis beträgt der Faser-Mittenabstand
pf in jeder Reihe, gemessen in der Bildebene, 4√5p (p ist der Pixel-Mittenabstand).
In dem in 13 gezeigten Fall werden die
von jeder Faserreihe emittierten Lichtstrahlen in der gleichen Weise
einer Feinablenkung unterzogen wie in 3, nämlich um √5p/2 in einer
Richtung rechtwinklig zu der Array-Richtung der Faserarrays.
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Im
dargestellten Fall setzt sich das zweidimensionale Faserarray aus
zwei Faserreihen zusammen. Falls erwünscht können drei oder noch mehr Faserreihen
vorgesehen sein, um eine Belichtung mit einem zweidimensionalen
Mehrstrahl-Array auszuführen.
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Das
oben angesprochene zweidimensionale Mehrstrahl-Array ist ein zweidimensionales
Muster aus Einzelmoden-Faser-Arrays, jedoch ist dies nicht das einzige
Beispiel der Erfindung, es sind verschiedene andere Array von Lichtquellen
einschließlich
Laserarrays, beispielsweise Multimoden-Faser-Arrays, monolithische
LD-Arrays und diskrete LD-Arrays
in Form zweidimensionaler Muster möglich.
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Im
dargestellten Fall erfolgt die zwei Pixel umfassende Feinablenkung,
wobei diese Feinablenkung aber natürlich auch für drei und
noch mehr Pixel ausgeführt
werden kann.
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In
dem in 13 dargestellten Fall sind die
Lücken
zwischen Fasern, die nicht durch eine gewünschte Fleckgröße belichtet
werden könnten,
falls das Faserarray aus nur einer Faserreihe bestünde, dadurch
aufgefüllt,
daß die
Fasern in zwei oder mehr Reihen angeordnet sind und folglich keine
Faser-Lücken
unbelichtet bleiben. Es ist dies nicht der einzige Fall der Erfindung,
der gleiche Effekt läßt sich
mit einer einzigen Faserreihe dann erreichen, wenn eine verschachtelte
Belichtung in der in 14 dargestellten Weise vorgenommen wird.
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In
dem in 14 dargestellten Fall werden
Mehrfachstrahlen von einer einzelnen Faserreihe zunächst einer
zwei Pixel umfassenden Feinablenkung in der gleichen Weise wie in 13 unterzogen,
wodurch mehr als ein Paar von zwei Zeilen, angedeutet mit En, gleichzeitig
von der n-ten Hauptabtastung (Trommeldrehung) belichtet werden.
Anschließend
werden die Mehrfachstrahlen von der einzelnen Faserreihe in Nebenabtastrichtung
relativ bewegt (Pfeil c), und das Paar aus zwei Zeilen En+1, die sich zwischen den beiden Zeilenpaaren
En befinden, werden von der nächsten Hauptabtastung,
nämlich
der (n+1)-ten Hauptabtastung
belichtet. Durch Ausführen
einer verschachtelten Belichtung auf diese Weise reicht ein Faserarray,
welches aus lediglich einer Faserreihe besteht, für eine Belichtung
der gesamten Aufzeichnungsfläche
aus, ohne daß irgendwelche Bereiche
unbelichtet bleiben, selbst wenn es zwischen den Fasern Lücken gibt.
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Im
dargestellten Fall werden sämtliche
von einer einzelnen Hauptabtastung unbelichtet bleibende Lücken durch
zwei aufeinanderfolgende Hauptabtastungen aufgefüllt. Es ist dies nicht der
einzige Fall der Erfindung, die beiden Hauptabtastungen, die zum
Auffüllen
der Lücken
zwischen Fasern dienen, können,
brauchen aber nicht direkt aufeinander zu folgen. Auf Wunsch können auch
drei oder mehr aufeinanderfolgende oder nicht aufeinanderfolgende
Hauptabtastungen ausgeführt
werden, um die Lücken
zwischen Fasern zu füllen.
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Im
dargestellten Fall ist das Faserarray, mit welchem eine verschachtelte
Belichtung ausgeführt
wird, ein Einzelmoden-Faser-Array, es ist dies aber nicht das einzige
Beispiel der Erfindung, vielmehr sind verschiedene andere Arrays
aus Lichtquellen möglich,
darunter Laserarrays wie zum Beispiel ein Multimoden-Faser-Array,
ein monolithisches LD-Array und ein diskretes LD-Array.
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Im
dargestellten Fall erfolgt eine zwei Pixel umfassende Feinablenkung,
jedoch kann die Feinablenkung natürlich auch für drei oder
noch mehr Pixel erfolgen.
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Die
folgenden Beispiele dienen zum Veranschaulichen der Mehrstrahl-Belichtungsvorrichtung
gemäß der Erfindung.
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Beispiele 1 und 2
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Es
wurden Modelle der in 1 gezeigten Mehrstrahl-Belichtungsvorrichtung 10 mit
der Abbildungseinheit 34 gemäß der ersten Ausführungsform
der Erfindung (vergleiche 2A und 2B und 3)
entworfen und gebaut. Die Belichtungsvorrichtung 10 führte eine
zwei Pixel umfassende Feinablenkung mittels AOD 42 der
von dem Faserarray 30 emittierten Lichtstrahlen aus. Auf
der Bildebene (der Aufzeichnungsfläche) des Aufzeichnungsmaterials
A auf der Trommel 32 erzeugte die Array-Richtung des Faserarrays 30 einen
Winkel von 34 Grad gegenüber
der Hauptabtastrichtung. Die Optik besaß einen Wirkungsgrad von 90
%, das AOD 42 besaß einen
Wirkungsgrad von 80 % und bestand aus Tellurdioxid (TeO2),
und es wurden Longitudinalwellen mit einer Geschwindigkeit (Va)
von 4.260 m/s erzeugt.
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Die
Spezifikationen des Belichtungssystems sind in Tabelle 1 angegeben,
und die übrigen
Belichtungsparameter sind ebenso wie die Angaben zu dem Faserarray
(dem Faserbündel-LD-Array) 30 und
des AOD 42 in Tabelle 2 angegeben.
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Tabelle
1. Spezifikationen des Belichtungssystems
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Vergleichsbeispiel 1
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Zum
Vergleich wurde ein Modell der Mehrstrahl-Aufzeichnungsvorrichtung
nach der japanischen Patentanmeldung (JPA) Nr. 186490/1994 entworfen
und aufgebaut.
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Wie
bei den Beispielen 1 und 2 besaß die
Optik einen Wirkungsgrad von 90 %. Die Spezifikationen des Belichtungssystems
sind in Tabelle 1 angegeben, die übrigen Belichtungsparameter
sowie die Angaben zu dem LD-Array und dem AOD sind in Tabelle 2
gezeigt.
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Wie
aus Tabelle 2 hervorgeht, wurde die Belichtungszeit, die beim Vergleichsbeispiel
4 Minuten betrug, auf weniger als den halben Wert reduziert, als
de Vorrichtung nach Beispiel 1 (1,8 Minuten) bzw. die Vorrichtung
nach Beispiel 2 (1,5 Minuten) verwendet wurde.
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Beispiel 3
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Es
wurde ein Modell der Mehrstrahl-Belichtungsvorrichtung 10 nach 1 hergestellt,
die die Abbildungseinheit 50 gemäß der zweiten Ausführungsform
der Erfindung (vergleiche 4A und 4B und 5)
enthielt, entworfen und gebaut. Die Belichtungsvorrichtung 10 sollte
eine drei Pixel umfassende Feinablenkung mittels AOD 42 de
von dem Faserarray 30 emittierten Lichtstrahlen ausführen. In
der Bildebene (Aufzeichnungsfläche)
des Aufzeichnungsmaterials A auf der Trommel bildete die Array-Richtung
des Faserarrays 30 einen Winkel von 18 Grad bezüglich der
Hauptabtastrichtung. Die Optik besaß einen Wirkungsgrad von 90
%, der Faserwirkungsgrad betrug 80 %, das AOD 42 hatte
einen Wirkungsgrad von 80 % und bestand aus Tellurdioxid (TeO2) und erzeugte Longitudinalwellen mit einer
Geschwindigkeit (Va) von 4.260 m/s.
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Die
Spezifikationen des Belichtungssystems sind in Tabelle 3 angegeben,
die übrigen
Belichtungsparameter sowie die Angaben zu dem Faserarray (Faserbündel-LD-Array) 30 und
des AOD 42 sind in Tabelle 4 angegeben.
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Tabelle
3. Spezifikationen des Belichtungssystems
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Vergleichsbeispiel 2
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Zum
Vergleich wurde ein Modell der Mehrstrahl-Aufzeichnungsvorrichtung
nach der japanischen Patentanmeldung (JPA) Nr. 186490/1994 entworfen
und aufgebaut. Die Optik besaß einen
Wirkungsgrad von 30 %. Die Spezifikationen des Belichtungssystems
sind in Tabelle 3 angegeben, die übrigen Belichtungsparameter
sowie die Angaben zu dem LD-Array und dem AOD finden sich in Tabelle
4.
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Wie
aus Tabelle 4 ersichtlich ist, wurde die Belichtungszeit, die bei
der Vorrichtung gemäß Vergleichsbeispiel
2 4,2 Minuten betrug, mit Hilfe der Vorrichtung nach Beispiel 3
(1,0 Minute) auf weniger als ein Viertel reduziert.
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Während die
Mehrstrahl-Belichtungsvorrichtung gemäß der Erfindung im einzelnen
anhand verschiedener Ausführungsformen
erläutert
wurde, ist die Erfindung keineswegs auf diese Ausführungsformen
beschränkt,
sondern es versteht sich, daß verschiedene
Verbesserungen und Design-Modifikationen vorgenommen werden können, ohne
vom Schutzumfang und Grundgedanken der Erfindung abzuweichen.
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Wie
auf den obigen Seiten im einzelnen beschrieben wurde, eignet sich
die erfindungsgemäße Vorrichtung
für eine
hochdichte Aufzeichnung auf groß bemessenen
Aufzeichnungsträgern
mittels Mehrstrahlbelichtung, wobei die Belichtungszeit verkürzt werden
kann, ohne dazu die Anzahl von Lichtstrahlen zu erhöhen, die
von Lichtquellen wie beispielsweise Halbleiterlasern ausgegeben
werden, und ohne die Hauptabtastgeschwindigkeit, beispielsweise
die Drehgeschwindigkeit der externen Trommel zu erhöhen.
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Der
fehlende Zwang, die Hauptabtastgeschwindigkeit, beispielsweise die
Trommeldrehzahl zu erhöhen,
bietet den zusätzlichen
Vorteil der Sicherheit.
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Ein
weiterer Vorteil der erfindungsgemäßen Vorrichtung besteht darin,
daß diese
von einer geringen Anzahl von Bauteilen Gebrauch macht und folglich
billiger gefertigt werden kann.
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Die
geringere Bauteilzahl trägt
bei zu einer geringeren Ausfallrate der Lichtquelle, beispielsweise
eines Halbleiterlasers.
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Als
Ergebnis dieser Vorteile wird bei der erfindungsgemäßen Vorrichtung
die Zuverlässigkeit
des gesamten Belichtungssystems gesteigert, es werden kürzere Stillstandzeiten
erreicht, und man kommt mit geringeren Wartungskosten aus.