DE60308089T2 - Verfahren und Anordnung zum Einhalten eines Abstandes zwischen Kontakten - Google Patents

Verfahren und Anordnung zum Einhalten eines Abstandes zwischen Kontakten Download PDF

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Description

  • HINTERGRUND DER ERFINDUNG
  • Bereich der Erfindung
  • Die vorliegende Erfindung betrifft im Allgemeinen die Herstellung von Bauelementen, die Leiterplatten und Komponenten beinhalten, die mit den Leiterplatten gekoppelt werden sollen. Spezieller betrifft die vorliegende Erfindung Systeme und Verfahren zum Verbessern der Einheitlichkeit von Verbindungen zwischen Kontakten auf einer Leiterplatte und Kontakten auf einer Komponente, die mit der Leiterplatte verbunden wird.
  • Beschreibung der verwandten Technik
  • Viele Bauelemente, z.B. nichtflüchtige Speichersysteme wie Flash-Speicherkarten, weisen Leiterplatten auf, auf die verschiedene elektronische Komponenten gelötet werden können. Solche Leiterplatten lassen im Allgemeinen die Herstellung von Verbindungen zwischen den Komponenten zu, z.B. Halbleitergehäuse und Ein-/Ausgangsverbinder. Solche Verbindungen erfolgen gewöhnlich über elektrische Kontaktinseln, die sowohl auf den Leiterplatten als auch auf den Komponenten vorhanden sind. 1 zeigt eine Leiterplatte und ein Halbleitergehäuse, die so angeordnet sind, dass ein elektrischer Kontakt durch Kontaktinseln entsteht. Eine Leiterplatte 140 beinhaltet ein Muster oder eine Matrix von Kontaktinseln 144, die im Allgemeinen mit Lotpaste bedeckt, z.B. „bedruckt" werden. Kontaktinseln 144 werden mit elektronischen Schaltungen oder Leiterbahnen auf der Leiterplatte 144 gekoppelt. Ein Halbleitergehäuse 150 beinhaltet ein Muster oder eine Matrix von Kontaktinseln 154, die häufig mit Gold oder einem ähnlichen Material überzogen sind. Wie die Kontaktinseln 144, so werden auch die Kontaktinseln 154 gewöhnlich mit Schaltungen oder Leiterbahnen gekoppelt, die mit dem Halbleitergehäuse 150 assoziiert sind. Sowohl die Kontaktinseln 144 als auch die Kontaktinseln 154 sind so ausgeführt, dass Signale von und zu der Leiterplatte 140 bzw. dem Halbleitergehäuse 150 gelesen oder gesendet werden können.
  • Wenn ein Halbleitergehäuse 150 auf die Leiterplatte 140 gelötet werden soll, dann können die Kontaktinseln 154 auf die Kontaktinseln 144 ausgerichtet werden. Das Ausrichten der Kontaktinseln 154 auf die Kontaktinseln 144 ist dann möglich, wenn das Muster und die Abstände zwischen Kontaktinseln 154 mit dem Muster und den Abständen zwischen den Kontaktinseln 144 der Leiterplatte 140 übereinstimmen. Nach dem Ausrichten der Kontaktinseln 154 und der Kontaktinseln 144 kann die Lotpaste auf den Kontaktinseln 144 erhitzt und elektrische Verbindungen können zwischen den Kontaktinseln 154 und den Kontaktinseln 144 hergestellt werden, wenn die Lotpaste die Kontaktinseln 154 effektiv mit entsprechenden Kontaktinseln 144 bondet. Das heißt, die Kontaktinseln 154 werden so auf die Kontaktinseln 144 ausgerichtet und damit verlötet, dass die Kontaktinsel 154a mit der Kontaktinsel 144a in elektrischem Kontakt ist und die Kontaktinsel 154b mit der Kontaktinsel 144b in elektrischem Kontakt ist.
  • Im Allgemeinen werden die Kontaktinseln 154, wie oben beschrieben, mit Lotpaste im Wesentlichen beschichtet oder bedruckt. 2a ist eine schematische Seitenansicht einer Leiterplatte oder eines Substrats mit Kontaktinseln. Eine Leiterplatte 200 wird so ausgebildet, dass sie Inseln 204 auf wenigstens einer Oberseite der Leiterplatte 200 aufweist. Zur leichteren Illustration wurden Merkmale wie verschiedene Schichten und Verbindungen, die mit der Leiterplatte 200 assoziiert sind, nicht dargestellt. Jede Insel 209 auf der Leiterplatte 200 beinhaltet typischerweise eine Schicht Lotpaste 208 wie zuvor erwähnt.
  • Wenn eine Komponente mit einer Kontaktinsel, z.B. die Komponente 210 mit der Kontaktinsel 214 wie in 2b gezeigt, elektrisch mit der Leiterplatte 200 gekoppelt werden soll, dann wird die Komponente 210 so über der Leiterplatte 200 positioniert, dass die Insel 214 effektiv auf eine entsprechende Insel 204, z.B. die Insel 204a, ausgerichtet ist. Nach dem ordnungsgemäßen Ausrichten der Insel 214 auf die Insel 204a kann die Insel 214 mit der Lotpastenschicht 208a wie in 2c gezeigt in Kontakt gebracht werden. Wenn die Lotpastenschicht 208a erhitzt wird, dann kann eine elektrische Kopplung zwischen der Insel 214 und der Insel 204a durch die Lotpastenschicht 208a erzielt werden.
  • Die Dicke der Lotpastenschicht 208 lässt sich relativ schwer regeln, wenn die Lotpaste erhitzt wurde, um die Inseln 204, 214 effektiv zu bonden. Besonders dann, wenn es mehrere Inseln 204, 214 gibt, die verbunden werden sollen, kann die Regelung der Dicke der Lotpastenschicht 208, z.B. die Größe des Abstands zwischen der Insel 214 und der Insel 204a, schwierig sein. Es entstehen häufig Zuverlässigkeitsprobleme in Verbindung mit der Leistung der Leiterplatte 200, wenn der Abstand zwischen den Inseln 204, 214 nicht sorgfältig geregelt wird.
  • 2d ist eine schematische Seitenansicht der Leiterplatte 200 und der Komponente 210, wenn der Abstand zwischen den Kontaktinseln 204, 214 relativ groß ist. Wenn die Insel 214 zu weit von der Insel 204a beabstandet ist, dann kann die Lotpastenschicht 208a' relativ dick, aber weniger dicht sein. Infolgedessen kann die von der Lotpastenschicht 208' gebildete „Verbindungsstelle" reißen, wodurch die elektrische Konnektivität zwischen der Insel 214 und der Insel 204a Schaden leidet. Die elektrische Konnektivität zwischen der Insel 214 und der Insel 204a mag zwar durch eine relativ dicke Lötpastenschicht 208a' nicht beeinträchtigt werden, aber die Intaktheit der Verbindungen zwischen anderen Inseln (nicht dargestellt) auf der Komponente 210 und den Inseln 204 kann beeinträchtigt werden. So kann beispielsweise der Abstand zwischen einigen Inseln oder Pins der Komponente 210 und den Inseln 204 derart sein, dass einige Lötstellen effektiv „offen" sind. Mit anderen Worten, wenn der Abstand zwischen Inseln der Komponente 210 und den Inseln 204 zu groß ist, dann kann eine Lotpastenschicht 208 die Distanz zwischen Inseln der Komponente 210 und der Inseln 204 möglicherweise nicht erfolgreich überbrücken. Somit gibt es entweder keine Verbindung oder eine uneinheitliche Verbindung zwischen Inseln der Komponente 210 und den Inseln 204.
  • 2e ist eine schematische Seitenansicht der Leiterplatte 200 und der Komponente 210, wenn der Abstand zwischen den Kontaktinseln 204, 214 derart ist, dass die Lotpastenschicht 208a die Kontaktinseln 204a, 214 nicht effektiv verbindet. Wenn die Kontaktinsel 214 zu weit von der Kontaktinsel 204a beabstandet ist, dann kann die Lotpastenschicht 208a'' möglicherweise die Distanz zwischen den Kontaktinseln 204a, 214 nicht effektiv überbrücken. Somit gibt es möglicherweise keinen elektrischen Kontakt zwischen den Inseln 204a, 214 durch die Lotpastenschicht 208a''. Speziell, bei einem zu großen Abstand zwischen den Kontaktinseln 204, 214 kann es zu offenen Kontakten kommen, d.h. es gibt möglicherweise effektiv keine elektrische Konnektivität zwischen den Inseln 204a, 214.
  • Während eine zu große Beabstandung zwischen der Insel 204a und der Insel 214 in dem Ausmaß, dass die Lotpastenschicht 208a dicker als gewünscht ist oder eine unvollständige Verbindungsstelle ergibt, möglicherweise unerwünscht ist, kann auch eine zu dichte Beabstandung zwischen der Insel 204a und der Insel 214 unerwünscht sein. Wie in 2f gezeigt, kann eine Lotpastenschicht 208a''' für eine relativ dünne Verbindung zwischen der Insel 204a und der Insel 214 ausreichen. Wenn die Lotpastenschicht 208a''' zu dünn ist, dann ist möglicherweise die durch die Lotpastenschicht 208a''' erzeugte Verbindung relativ schwach. Mit anderen Worten, wenn die Lotpastenschicht 208a''' relativ dünn ist, dann kann zwar eine elektrische Konnektivität zwischen der Insel 204a und der Insel 214 erzielt werden, aber die Stärke der Verbindung kann beeinträchtigt werden. Zum Beispiel, wenn die Dicke der Lotpastenschicht 208a''' zwischen der Insel 204a und der Insel 214 etwa null Millimeter beträgt, dann hat die durch die Lotpastenschicht 208a''' erzeugte Verbindungsstelle im Wesentlichen keine Stärke.
  • Die Wahrung der Einheitlichkeit zwischen Verbindungen, die zwischen verschiedenen Inseln, Leitungen oder Kontakten einer Leiterplatte und Komponenten der Leiterplatte gebildet werden, ist häufig deshalb schwierig, weil das Regulieren der Größe des Abstands zwischen zwei Inseln, die elektrisch verbunden werden sollen, keine einfache Aufgabe ist. Selbst dann, wenn der Abstand zwischen zwei bestimmten Inseln akzeptabel ist, ist der Abstand zwischen zwei anderen Inseln möglicherweise nicht akzeptabel, da es schwierig ist, einen einheitlichen Abstand zwischen jeder Insel einer Komponente und entsprechenden Inseln einer Leiterplatte innerhalb einer Baugruppe zu halten. Wenn kein gewünschter Raum zwischen Inseln und somit keine einheitliche Stärke von Lotpastenmaterial zum Füllen des Raums erzeugt und gehalten werden kann, kommt es häufig zu einer Beeinträchtigung der Gesamtintaktheit eines Bauelementes, das die Baugruppe beinhaltet.
  • Die Zuverlässigkeit von Verbindungen, die zwischen Inseln, Leitungen oder Kontakten einer Leiterplatte und Komponenten der Leiterplatte gebildet wurden, ist wichtig, um zu gewährleisten, dass ein Bauelement, das die Leiterplatte beinhaltet, Leistungsnormen erfüllt. Wenn Verbindungen nicht zuverlässig sind, dann werden möglicherweise Signale, die durch die Verbindungen geführt werden sollen, nicht erfolgreich geleitet. Wie oben erörtert, können unzuverlässige Verbindungen oder Brücken zwischen Inseln offene Verbindungen und schwache Verbindungen beinhalten. Das Vorliegen auch nur einer einzigen unzuverlässigen Verbindung innerhalb eines Bauelementes kann die Leistung des Bauelementes stark beeinträchtigen.
  • Daher besteht Bedarf an einem Verfahren und einer Vorrichtung zum Verbessern der Intaktheit von Verbindungen zwischen einer Leiterplatte und Komponenten der Leiterplatte. Das heißt, gewünscht werden ein Verfahren und ein System, mit denen die Dicke einer Lotpastenschicht, die Inseln einer Komponente mit Inseln einer Leiterplatte bondet, effektiv reguliert werden kann.
  • In der verwandten Technik offenbart die US-Patentanmeldung mit der Veröffentlichungsnummer US-A-2002/0008966 mikroelektrische Kontakte, die flexible, zungenartige, freitragende Kontakte sind. Die Kontakte werden mit in einem regelmäßigen Muster angeordneten Grobkörnigkeiten vorgesehen. Die US-A-6142823 offenbart einen elektronischen Komponentenverbinder mit zwei Verbindungsabschnitten, die in unterschiedlichen Radien in einer Vertiefung in einem Isoliergehäuse angeordnet sind. Der Verbinder ist so gestaltet, dass er mit einer elektronischen Komponente mit entsprechenden vorgespannten Verbindern elektronisch verbunden werden kann, so dass sie federnd auf den Komponentenverbinder passen.
  • ZUSAMMENFASSUNG DER ERFINDUNG
  • Die vorliegende Erfindung betrifft ein System und ein Verfahren zum Regeln des Abstands zwischen Kontaktinseln oder Leitungen, die miteinander verbunden werden sollen, und stellt ein elektrisches Gehäuse gemäß Definition in Anspruch 1 und eine Baugruppe gemäß Definition in Anspruch 12 bereit. Fakultative Merkmale sind in den Unteransprüchen dargelegt. Gemäß einem weiteren Aspekt der vorliegenden Erfindung beinhaltet ein elektrisches Gehäuse einen Körper und einen Kontakt. Der Körper beinhaltet elektrische Schaltungen wie z.B. Leiterbahnen. Der Kontakt ist auf dem Körper angeordnet und beinhaltet einen Kontaktkörper und ein Kontaktmerkmal. Das Kontaktmerkmal ist ein Vorsprung, der sich im Wesentlichen von dem Kontaktkörper erstreckt und so angeordnet ist, dass er mit einer Außenfläche in Kontakt kommmt. In einer Ausgestaltung ist die Außenfläche ein externer Kontakt und das Kontaktmerkmal ist so angeordnet, dass es den Kontaktkörper im Wesentlichen von dem externen Kontakt weg beabstandet.
  • In einer weiteren Ausgestaltung hat der Kontaktkörper eine erste Oberfläche und das Kontaktmerkmal weist eine Kontaktfläche auf, die eine zweite Oberfläche hat. Die Kontaktfläche erhält Kontakt mit der Außenfläche und ist mehr als etwa zwanzig Mal kleiner als die erste Oberfläche. In noch einer anderen Ausgestaltung sind ein Kontaktkörper und das Kontaktmerkmal elektrisch gekoppelt.
  • Die Verwendung einer Kontaktinsel, die zwei im Wesentlichen integrale Bestandteile wie z.B. einen Körper und ein Abstandshaltermerkmal beinhaltet, erlaubt die Regulierung der Distanz zwischen der Kontaktinsel und einer anderen Kontaktinsel, die mit der Kontaktinsel verbunden oder gebondet werden soll. Das Abstandshaltermerkmal auf einer Kontaktinsel kommt mit der anderen Kontaktinsel in Kontakt und erzeugt einen Versatz zwischen dem Körper der Kontaktinsel und der anderen Kontaktinsel. Da die Größe des Versatzes durch die Höhe des Abstandshaltermerkmals geregelt werden kann, kann die Stärke einer Lotverbindung, die so gebildet ist, dass sie die beiden Kontaktinseln enthält, reguliert werden. Somit kann effektiv verhindert werden, dass eine Lotschicht zwischen dem Körper einer Kontaktinsel und der anderen Kontaktinsel entweder zu dünn oder zu dick wird. Wenn die Lotschicht zu dünn wird, dann kann dadurch die Festigkeit der durch die Lotschicht gebildeten Bindung nachteilig beeinflusst werden. Alternativ können, wenn die Lotschicht zu dick ist, offene Verbindungen in einer Gesamtbaugruppe entstehen, die die Lotschicht und die Kontaktinseln beinhaltet. Daher wird dadurch, dass verhütet wird, dass die Lotschicht zu dünn oder zu dick ist, die Zuverlässigkeit der Gesamtbaugruppe erhöht, die die Kontaktinseln beinhaltet.
  • Gemäß einem weiteren Aspekt der vorliegenden Erfindung beinhaltet eine Baugruppe ein erstes Gehäuse und ein zweites Gehäuse. Das erste Gehäuse beinhaltet einen ersten elektrischen Kontakt, der eine Kontaktfläche hat. Ein zweiter elektrischer Kontakt, der einen Körperabschnitt und einen Abstandshalterabschnitt hat, ist in dem zweiten Gehäuse enthalten. Der Abstandshalterabschnitt ist so angeordnet, dass er mit der Kontaktfläche des ersten elektrischen Kontakts verbunden wird, um eine Distanz zwischen der Kontaktfläche des ersten elektrischen Kontakts und dem Körperabschnitt des zweiten elektrischen Kontakts zu definieren. In einer Ausgestaltung beinhaltet die Baugruppe auch eine Lotmaterialschicht, die den ersten elektrischen Kontakt mit dem zweiten elektrischen Kontakt koppelt. Eine solche Lotmaterialschicht befindet sich zwischen der Kontaktfläche des ersten elektrischen Kontakts und dem Körperabschnitt des zweiten elektrischen Kontakts.
  • Diese und andere Vorteile der vorliegenden Erfindung werden nach einer Lektüre der nachfolgenden ausführlichen Beschreibung und einem Studium der verschiedenen Figuren der Zeichnungen hervorgehen.
  • KURZBESCHREIBUNG DER ZEICHNUNGEN
  • Die Erfindung wird mit Bezug auf die folgende Beschreibung in Verbindung mit den Begleitzeichnungen besser verständlich. Dabei zeigt:
  • 1 eine Darstellung einer Leiterplatte und eines Halbleitergehäuses, die so gestaltet sind, dass ein elektrischer Kontakt durch Kontaktinseln entsteht;
  • 2a eine schematische Seitenansicht einer Leiterplatte mit Kontaktinseln;
  • 2b eine schematische Seitenansicht einer Leiterplatte, z.B. der Leiterplatte 200 von 2a, mit einer Komponente, die mit der Leiterplatte verbunden werden soll;
  • 2c eine schematische Seitenansicht einer Komponente, z.B. der Komponente 210 von 2a, die mit einer Leiterplatte verbunden werden soll, z.B. der Leiterplatte 200 von 2a;
  • 2d eine schematische Seitenansicht einer Leiterplatte und einer Komponente, z.B. der Leiterplatte 200 und der Komponente 210, wenn der Abstand zwischen den Kontaktinseln der Leiterplatte und der Komponente relativ groß ist;
  • 2e ist eine schematische Seitenansicht einer Leiterplatte und einer Komponente, z.B. der Leiterplatte 200 und der Komponente 210, wenn Kontaktinseln der Leiterplatte und der Komponente effektiv nicht verbunden sind;
  • 2f eine schematische Seitenansicht einer Leiterplatte und einer Komponente, z.B. der Leiterplatte 200 und der Komponente 210, wenn der Abstand zwischen Kontaktinseln der Leiterplatte und der Komponente relativ gering ist;
  • 3 eine schematische Darstellung einer Kontaktinsel mit einem Abstandshaltermerkmal gemäß einer ersten Ausgestaltung der vorliegenden Erfindung;
  • 4 eine schematische Seitenansicht einer Komponente, die eine Insel mit einem Abstandshaltermerkmal beinhaltet, die mit einer Leiterplatte gemäß einer Ausgestaltung der vorliegenden Erfindung verbunden wird;
  • 5 eine schematische Darstellung einer Insel mit einem Abstandshaltermerkmal, das mit einer Insel ohne Abstandshaltermerkmal gemäß einer Ausgestaltung der vorliegenden Erfindung verbunden ist;
  • 6 eine schematische Darstellung einer Insel mit einem Abstandshaltermerkmal gemäß einer zweiten Ausgestaltung der vorliegenden Erfindung;
  • 7a eine schematische Darstellung einer Insel mit einem Abstandshaltermerkmal gemäß einer dritten Ausgestaltung der vorliegenden Erfindung;
  • 7b eine schematische Darstellung einer Insel mit einem Abstandshaltermerkmal gemäß einer vierten Ausgestaltung der vorliegenden Erfindung;
  • 8a eine schematische Darstellung einer Insel mit einem Abstandshaltermerkmal gemäß einer fünften Ausgestaltung der vorliegenden Erfindung;
  • 8b eine schematische Darstellung einer Insel mit einem Abstandshaltermerkmal gemäß einer sechsten Ausgestaltung der vorliegenden Erfindung;
  • 9a eine schematische Darstellung einer Insel mit einem Abstandshaltermerkmal gemäß einer siebten Ausgestaltung der vorliegenden Erfindung;
  • 9b eine schematische Darstellung einer Insel mit einem Abstandshaltermerkmal gemäß einer achten Ausgestaltung der vorliegenden Erfindung;
  • 10 eine schematische Darstellung eines allgemeinen Hostsystems, das ein nichtflüchtiges Speicherbauelement beinhaltet, das ein elektrisches Gehäuse gemäß einer Ausgestaltung der vorliegenden Erfindung aufweist;
  • 11 eine schematische Darstellung eines nichtflüchtigen Speicherbauelementes, z.B. des nichtflüchtigen Speicherbauelementes 120 von 10.
  • AUSFÜHRLICHE BESCHREIBUNG DER AUSGESTALTUNGEN
  • Wenn Verbindungen oder Fugen zwischen Kontaktinseln oder Leitungen einer Leiterplatte und Komponenten der Leiterplatte nicht zuverlässig sind, dann ist ein gesamtes Bauelement, das die Leiterplatte beinhaltet, möglicherweise relativ unzuverlässig und erfüllt die Leistungsnormen eventuell nicht. Wenn Verbindungen nicht zuverlässig sind, dann werden Signale möglicherweise nicht erfolgreich zwischen der Leiterplatte und Komponenten der Leiterplatte geleitet. Unzuverlässige Verbindungen oder Brücken zwischen Inseln einer Komponente und Inseln einer Leiterplatte können dann auftreten, wenn die Inseln beim Zusammenlöten zu weit voneinander beabstandet sind, was zu offenen Verbindungen führen kann. Eine unzuverlässige Verbindung kann auch dann auftreten, wenn der Raum zwischen einer Insel einer Komponente und einer Insel einer Leiterplatte zu klein ist, wenn die Inseln miteinander verlötet werden sollen, da die Stärke einer solchen Verbindung relativ gering sein kann. Das Vorliegen auch nur einer einzigen unzuverlässigen Verbindung in einem Bauelement kann eine signifikante nachteilige Auswirkung für die Leistung des Bauelementes haben.
  • Die Verwendung eines Abstandshalters zwischen einer Insel eines Substrats, z.B. einer Komponente, und einer Insel eines anderen Substrats, z.B. einer Leiterplatte oder einer anderen Komponente, kann eine wirksame Regelung der Dicke eines Lotmaterials zwischen den Inseln ermöglichen, da die Dicke der Lotmaterialschicht im starken Maße durch die Höhe des Abstandshalters definiert werden kann. Wenn die Oberfläche des Abstandshalters, der Kontakt mit der Insel der Leiterplatte hat, relativ klein ist, dann wird die Stärke der Lotverbindung zwischen der Insel der Komponente und der Insel der Leiterplatte nicht erheblich beeinträchtigt und die Wahrscheinlichkeit des Auftretens einer offenen Verbindung wird reduziert. Ein Abstandshalter wird gewöhnlich als ein Merkmal einer ganzen Kontaktinsel eingebaut, so dass beim Bilden der ganzen Kontaktinsel, z.B. mit einem chemischen Ätzvorgang oder einem Stanzvorgang, der Abstandshalter als Teil der gesamten Kontaktinsel ausgebildet wird.
  • 3 ist eine schematische Darstellung einer Kontaktinsel mit einem Abstandshaltermerkmal gemäß einer Ausgestaltung der vorliegenden Erfindung. Ein Kontakt in der Form einer Kontaktinsel 300 kann aus einem Kontaktmaterial wie Kupfer, Nickel oder ähnlichen Metallen ausgebildet und z.B. mit Gold, Nickel, Zinn, Blei oder anderen Lotmaterialien überzogen werden. Die Kontaktinsel 300 beinhaltet einen Kontaktkörper in Form eines Inselabschnitts 305 und ein Kontaktmerkmal in Form eines Abstandshaltermerkmals 310, das mit dem Inselabschnitt 305 gekoppelt ist. Der Inselabschnitt 305 und das Abstandshaltermerkmal 310 werden gewöhnlich während eines Ätzvorgangs oder eines Stanzvorgangs als im Wesentlichen einziges Stück ausgebildet. Das Abstandshaltermerkmal 310 kann im Wesentlichen jede beliebige geeignete Form, z.B. in Topologie oder Querschnitt, haben. Wie gezeigt, hat das Abstandshaltermerkmal 310 einen etwa dreieckigen Querschnitt und dient effektiv als eine Spitze, die von dem Inselabschnitt 305 vorsteht. In einer Ausgestaltung kann das Abstandshaltermerkmal 310 relativ starr sein.
  • Im Allgemeinen wird die Kontaktinsel 300 so angeordnet, dass sie in einer Komponente wie z.B. einem Halbleitergehäuse enthalten ist, das mit einer Leiterplatte oder spezieller einer Kontaktinsel auf der Leiterplatte verlötet werden soll. Das Abstandshaltermerkmal 310 ist so angeordnet, dass es Kontakt mit einer Kontaktinsel einer Leiterplatte erhält, wie nachfolgend mit Bezug auf 4 beschrieben wird, wenn die Kontaktinsel 300 effektiv mit der Kontaktinsel der Leiterplatte verlötet wird. Der Abschnitt des Abstandshaltermerkmals 310, der mit einer Kontaktinsel auf einer Leiterplatte in Kontakt kommen soll, ist eine Kontaktfläche in Form eines Kontaktbereichs 314. In einer Ausgestaltung kann der Kontaktbereich 314 so gestaltet sein, dass er effektiv einen Kontaktpunkt bildet.
  • Die Abmessungen des Kontaktbereichs 314 und allgemeiner des Abstandshaltermerkmals 310 können je nach einer Reihe verschiedener Faktoren stark variieren. Zum Beispiel, die Abmessungen des Kontaktbereichs 314 können von der Gesamtgröße der Kontaktinsel 300 abhängen. Die Abmessungen des Kontaktbereichs 314 werden typischerweise so gewählt, dass der Kontaktbereich 314 einen relativ kleinen Prozentanteil, d.h. weniger als etwa fünf Prozent, der Gesamtfläche in Verbindung mit dem Inselabschnitt 305 einnimmt. Wenn der Kontaktbereich 314 im Vergleich zu einer Oberfläche des Inselabschnitts 305 oder einem Bereich des Inselabschnitts 305, der mit Lotmaterial in Kontakt kommen soll, relativ klein ist, dann ist ein Reißen in der Verbindung zwischen der Kontaktinsel 300 und einer entsprechenden Kontaktinsel auf einer Leiterplatte weniger wahrscheinlich. Das heißt, die Stärke der Verbindungsstelle wird wohl weniger wahrscheinlich beeinträchtigt. Die Abmessungen des Abstandshaltermerkmals 310, z.B. die Höhe des Abstandshaltermerkmals 310, wird typischerweise so gewählt, dass eine gewünschte Lotmaterialschichtdicke erzielt werden kann, wie nachfolgend mit Bezug auf 5 erläutert wird.
  • Die Kontaktinsel 300 kann zwar Teil von praktisch jeder Leiterplatte oder Komponente sein, aber die Kontaktinsel 300 ist typischerweise Teil eines Halbleitergehäuses, das auf Inseln auf der Oberfläche einer Kontaktinsel gelötet werden soll. Speziell, die Kontaktinsel 300 kann auf eine entsprechende mit Lotpaste bedruckte Insel auf der Oberfläche einer Leiterplatte gelötet werden. 4 ist eine schematische Seitenansicht einer Komponente, die eine Insel mit einem Abstandshaltermerkmal beinhaltet, d.h. die Kontaktinsel 300 von 3, die auf eine Insel auf der Oberfläche einer Leiterplatte gemäß einer Ausgestaltung der vorliegenden Erfindung gelötet wird. Die Kontaktinsel 300, die das Abstandshaltermerkmal 310 beinhaltet, ist eine elektrische Leitung oder Kontaktinsel, die mit einem Körper einer Komponente 408 assoziiert ist, z.B. einem Halbleitergehäuse. Die Kontaktinsel 300 ist gewöhnlich in elektrischer Kommunikation mit einem elektrischen Schaltkomplex und mit Leiterbahnen (nicht dargestellt), die im Körper der Komponente 408 enthalten sind. Das Abstandshaltermerkmal 310 ist effektiv ein Vorsprung auf der Kontaktinsel 300, der es zulässt, dass eine Distanz, z.B. die Dicke einer Lotschicht 420a, zwischen einer Kontaktinsel 412a der Leiterplatte 400 im Wesentlichen geregelt wird. Speziell, das Abstandshaltermerkmal 310 verhindert, dass die Lotschicht 420a sowohl zu dünn als auch zu dick ist, um eine Distanz zwischen der Kontaktinsel 412a und dem Inselabschnitt 305 effektiv zu definieren. Die Dicke der Lotschicht 420a, wenn die Lotschicht 420a zum Erzeugen einer Verbindungsstelle im Wesentlichen zwischen der Kontaktinsel 300 und der Kontaktinsel 412a verwendet wird, ist etwa äquivalent zur Höhe des Abstandshaltermerkmals 310.
  • Mit Bezug auf 5, die Wahl der Höhe eines Abstandshaltermerkmals, z.B. des Abstandshaltermerkmals 310 von 3, wird gemäß einer Ausgestaltung der vorliegenden Erfindung beschrieben. Eine Höhe 'x' 508 ist eine Höhe des Abstandshaltermerkmals 310. In der beschriebenen Ausgestaltung kommt, wenn die Kontaktinsel 300 auf die Insel 412a gelötet werden soll, das Abstandshaltermerkmal 310 mit der Insel 412a in Kontakt und somit bestimmt die Höhe 'x' 508 effektiv die Dicke einer Lotmaterialschicht, die zwischen der Kontaktinsel 300 und der Insel 412a ausgebildet wird. Da die Dicke einer Lotmaterialschicht, z.B. die Schicht 420a von 4, gewöhnlich zwischen etwa 0,05 mm (0,002 Zoll) und etwa 0,08 mm (0,003 Zoll) liegt, kann die Höhe 'x' 508 zwischen etwa 0,05 mm (0,002 Zoll) und etwa 0,08 mm (0,003 Zoll) liegen.
  • Wie die Fachperson verstehen wird, wenn eine Lotmaterialschicht relativ dünn ist, z.B. dünner als etwa 0,03 mm (0,001 Zoll), dann kann die Stärke der zwischen der Kontaktinsel 300 und der Insel 412a gebildeten Verbindung geringer als akzeptabel sein. Alternativ wird, wenn die Lotmaterialschicht relativ dick ist, die Wahrscheinlichkeit, dass die Kontaktinsel 300 oder eine Kontaktinsel (nicht dargestellt) in Verbindung mit der Kontaktinsel 300 effektiv ein offener Pin ist, effektiv erhöht. Daher beträgt die Höhe 'x' 508, obwohl sie stark variieren kann, um auf wirksame Weise zu gewährleisten, dass ein die Kontaktinsel 300 beinhaltendes Produkt oder Bauelement zuverlässig ist, wenigstens etwa 0,03 mm (0,001 Zoll) und höchstens etwa 0,08 mm (0,003 Zoll).
  • Um die Kontaktinsel 300 mit dem Abstandshaltermerkmal 310 auszubilden, kann das Kontaktmaterial geätzt werden, und zwar so, dass das Abstandshaltermerkmal 310 auf der Kontaktinsel 300 ausgebildet wird, und kann dann plattiert werden. Während das Ätzen ein geeignetes Verfahren zum Ausbilden der Kontaktinsel 300 ist, können auch andere Verfahren zum Ausbilden der Kontaktinsel 300 angewendet werden. Zum Beispiel kann die Kontaktinsel 300 mit einem Stanzverfahren aus einer Kontaktmaterialfolie ausgestanzt werden. Bei Anwendung eines Stanzvorgangs werden mehrere Kontaktinseln 300 aus einer Kontaktmaterialfolie auf eine Weise ausgestanzt, durch die der Ertrag aus einer einzelnen Kontaktmaterialfolie effektiv optimiert wird. 6 ist eine schematische Darstellung einer Kontaktinsel, die ein Abstandshaltermerkmal beinhaltet und so gestaltet ist, dass bei der Kontaktinsel in einer zweiten Ausgestaltung der vorliegenden Erfindung wenigstens eine Seite ihre Kontur mit der einer anderen Kontaktinsel gemeinsam hat. Eine Kontaktinsel 610 beinhaltet ein Abstandshaltermerkmal 614. Wenn die Kontaktinsel 610 aus einer Kontaktmaterialfolie ausgestanzt werden soll, dann kann die Kontaktinsel 610 so angeordnet werden, dass eine zweite Kontaktinsel 618 eine gemeinsame Seite mit der Kontaktinsel 610 hat. Wie gezeigt, ist ein Abstandshaltermerkmal 622 der zweiten Kontaktinsel 618 so gestaltet, dass es im Wesentlichen in eine mit der Kontaktinsel 610 assoziierte Vertiefung passt. Da die zweite Kontaktinsel 618 an die Kontaktinsel 610 angrenzt, wird auf wirksame Weise Kontaktmaterial eingespart. Ferner kann ein Stanzvorgang effizienter werden, wenn die Kontaktinsel 610 eine gemeinsame Seite mit der zweiten Kontaktinsel 618 hat. Nach dem Ausstanzen der Kontaktinseln 610, 618 können die Kontaktinseln 610, 618 einem Plattierungsvorgang unterzogen werden, d.h. einem Vorgang, bei dem die Kontaktinseln 610, 618 mit Gold überzogen werden.
  • Die Gesamtform einer Kontaktinsel oder, spezieller, eines Abstandshaltermerkmals der Kontaktinsel, kann stark variieren. Die Varianz der Gesamtkonfiguration einer Kontaktinsel kann, wenigstens teilweise, auf Herstellungsfaktoren zurückzuführen sein, die u.a. die Leichtigkeit beinhalten können, mit der eine Kontaktinsel einer bestimmten Form ausgebildet werden kann, sowie die Materialmenge, die zum Ausbilden einer Kontaktinsel einer bestimmten Form benötigt wird. In einer Ausgestaltung kann ein Abstandshaltermerkmal einer Kontaktinsel einen etwas abgerundeten Rand haben, der es ermöglicht, dass ein Kontaktbereich des Abstandshaltermerkmals relativ glatt ist. Die 7a und 7b sind schematische Darstellungen von Kontaktinseln mit abgerundeten Abstandshaltermerkmalen gemäß einer Ausgestaltung der vorliegenden Erfindung. Eine Kontaktinsel 720 von 7a weist ein abgerundetes Abstandshaltermerkmal 730 auf, während eine Kontaktinsel 750 von 7b ein abgerundetes Abstandshaltermerkmal 760 und eine abgerundete Vertiefung 770 aufweist. Während beide Kontaktinseln 720, 750 mit einem Ätzverfahren ausgebildet werden können, kann die Kontaktinsel 750 auch so gestaltet werden, dass, wenn die Kontaktinsel 750 mit einem Stanzvorgang gebildet wird, ein Abstandshaltermerkmal einer benachbarten Kontaktinsel (nicht dargestellt) im Wesentlichen aus aus der Vertiefung 770 entferntem Material gebildet werden kann.
  • Die 8a und 8b sind schematische Darstellungen von Kontaktinseln mit abgerundeten Abstandshaltermerkmalen gemäß einer anderen Ausgestaltung der vorliegenden Erfindung. Eine Kontaktinsel 820 von 8a weist ein Abstandshaltermerkmal 830 mit einer im Wesentlichen abgerundeten Spitze auf, während eine Kontaktinsel 850 von 8b ein Abstandshaltermerkmal 860 mit einer im Wesentlichen abgerundeten Spitze und einer entsprechend geformten Vertiefung 870 aufweist. Die Kontaktinseln 820, 850 können mit einem Ätzvorgang ausgebildet werden. Die Kontaktinseln 820, 850 können zwar beide mit einem Stanzvorgang gebildet werden, aber die Kontaktinsel 850 ist besonders gut für eine Ausbildung mit einem Stanzvorgang geeignet, da die Kontaktinsel 850 die Vertiefung 870 aufweist, die so gestaltet ist, dass ein Abstandshaltermerkmal einer benachbarten Kontaktinsel (nicht dargestellt) im Wesentlichen aus dem aus der Vertiefung 870 entfernten Material gebildet werden kann.
  • Es ist zwar gewöhnlich ein relativ geringer Prozentanteil einer Kontaktinsel, z.B. weniger als etwa fünf Prozent, so ausgeführt, dass er mit einer anderen Kontaktinsel während eines Lötvorgangs in Kontakt kommt, aber es kann zuweilen wünschenswert sein, einen größeren Prozentanteil der Kontaktinsel mit einer anderen Kontaktinsel in Kontakt zu bringen. Wenn ein größerer Prozentanteil einer Kontaktinsel, die mit einer Komponente assoziiert ist, mit einer Kontaktinsel, die mit einer Leiterplatte assoziiert ist, in Kontakt gebracht werden soll, dann kann ein mit der Kontaktinsel der Komponente assoziiertes Abstandshaltermerkmal so gestaltet werden, dass es eine größere Kontaktfläche hat. Die 9a und 9b sind schematische Darstellungen von Kontaktinseln mit Abstandshaltermerkmalen, die gemäß einer Ausgestaltung der vorliegenden Erfindung einen relativ großen Kontaktbereich haben. Wie gezeigt, weisen die Kontaktinseln 920, 950 jeweils im Wesentlichen quadratische Abstandshaltermerkmale 930, 960 auf. Die Abstandshaltermerkmale 930, 960 sind so ausgeführt, dass ein unterer Teil der Abstandshaltermerkmale 930, 960 mit einer Kontaktinsel einer Leiterplatte Kontakt erhält. Die Kontaktinsel 950 weist auch eine Vertiefung 970 auf, die so gestaltet sein kann, dass sie einen Stanzvorgang erleichtert, mit dem eine Kontaktinsel 950 aus einer Kontaktmaterialfolie ausgestanzt wird.
  • Die Verwendung von Kontaktinseln mit Abstandshaltern ist im Allgemeinen in praktisch jedem System anwendbar, in dem Kontaktinseln oder Leitungen auf eine Oberfläche gelötet werden sollen, z.B. eine andere Kontaktinsel oder eine andere Leitung. In einer Ausgestaltung, wie oben beschrieben, können Kontaktinseln mit Abstandshaltermerkmalen auf einem Halbleitergehäuse integriert werden, das mit einer Leiterplatte gekoppelt werden soll. Wie die Fachperson verstehen wird, werden für viele Bauelemente, z.B. elektronische Bauelemente und Speicherbauelemente, Leiterplatten verwenden, auf die verschiedene Komponenten gelötet werden. Ein Beispiel für ein Bauelement, das Komponenten aufweisen kann, die Kontaktinseln mit Abstandshaltermerkmalen verwenden, ist ein nichtflüchtiges Speicherbauelement wie z.B. eine Flash-Speicherkarte. Eine Flash-Speicherkarte kann eine Leiterplatte beinhalten, auf die ein Steuer- oder Flash- Speicherchip gelötet werden kann, die beide Kontaktinseln mit Abstandshaltermerkmalen aufweisen können.
  • Im Allgemeinen kann, wenn ein nichtflüchtiges Speicherbauelement wie z.B. eine Speicherkarte, die Kontaktinseln mit Abstandshaltermerkmalen aufweist, wie z.B. solche in elektrischen Gehäusen gemäß der vorliegenden Erfindung, mit einem Hostsystem verbunden wird, das Host-System mit dem nichtflüchtigen Speicherbauelement kommunizieren, um zu bewirken, dass Bits auf das nichtflüchtige Speicherbauelement geschrieben, davon gelesen oder gelöscht werden. Es wird nun, zunächst mit Bezug auf 10, ein allgemeines Host-System beschrieben, das ein nichtflüchtiges Speicherbauelement beinhaltet, wie z.B. eine Compact Flash-Speicherkarte. Das in 10 illustrierte System und das in 11 illustrierte nichtflüchtige Speicherbauelement beinhalten das elektrische Gehäuse der vorliegenden Erfindung, sind jedoch selbst nicht Teil der vorliegenden Erfindung. Das System und das Speicherbauelement werden nachfolgend nur für illustrative Zwecke beschrieben. Ein Host- oder Computersystem 100 beinhaltet im Allgemeinen einen Systembus 104, der Kommunikationen zwischen einem Mikroprozessor 108, einem Arbeitsspeicher (RAM) 112 und Ein-/Ausgabeschaltungen 116 zulässt. Es ist zu verstehen, dass das Hostsystem 100 im Allgemeinen andere Komponenten beinhaltet, z.B. Anzeigevorrichtungen und eine Vernetzungsvorrichtung, die für Illustrationszwecke nicht dargestellt sind.
  • Das Hostsystem 100 kann möglicherweise Informationen wie z.B. unter anderem Festbildinformationen, Audioinformationen und Videoinformationen erfassen. Solche Informationen können in Echtzeit erfasst werden und können drahtlos zum Host-System 100 übertragen werden. Das Host- System 100 kann zwar im Wesentlichen jedes beliebige System sein, aber es ist typischerweise ein System wie z.B. eine Digitalkamera, eine Videokamera oder ein Computersystem. Es ist jedoch zu verstehen, dass das Hostsystem 100 im Allgemeinen im Wesentlichen jedes System sein kann, das Daten oder Informationen speichert und Daten oder Informationen abruft.
  • Das Hostsystem 100 kann auch ein System sein, das entweder nur Daten erfasst oder nur Daten abruft. Das heißt, das Hostsystem 100 kann ein dediziertes System sein, das Daten speichert, oder das Hostsystem 100 kann ein dediziertes System sein, das Daten liest. Zum Beispiel kann das Hostsystem 100 ein Memory-Writer sein, der im Wesentlichen nur zum Schreiben oder Speichern von Daten ausgeführt ist. Alternativ kann das Hostsystem 100 ein Gerät wie z.B. ein MP3-Player sein, der typischerweise die Aufgabe hat, Daten zu lesen oder abzurufen, aber nicht Daten zu erfassen.
  • Ein nichtflüchtiges Speicherbauelement 120 ist in einer Ausgestaltung ein entfernbares nichtflüchtiges Speicherbauelement, das typischerweise für eine Verbindung mit dem Bus 104 ausgeführt ist, um Informationen durch eine Ein-/Ausgabeschaltungsschnittstelle 130 zu speichern. Die Ein-/Ausgabeschnittstelle 130, die gewöhnlich ein Leser oder ein Adapter ist, kann zum Reduzieren der Last auf dem Bus 104 dienen, wie die Fachperson verstehen wird. Das nichtflüchtige Speicherbauelement 120 beinhaltet einen nichtflüchtigen Speicher 124 und ein Speichersteuersystem 128. In einer Ausgestaltung kann das nichtflüchtige Speicherbauelement 120 auf einem einzelnen Chip implementiert werden, z.B. einem einzelnen Chip, der Kontaktinseln mit Abstandshaltern aufweisen kann. Alternativ kann das nichtflüchtige Speicherbauelement 120 auf einem Multichip-Modul oder auf mehreren diskreten Komponenten ausgeführt werden, die zusammen als nichtflüchtiges Speicherbauelement 120 benutzt werden können. Eine Ausgestaltung des nichtflüchtigen Speicherbauelementes 120 wird nachfolgend mit Bezug auf 11 ausführlicher beschrieben.
  • Der nichtflüchtige Speicher 124 hat die Aufgabe, Daten so zu speichern, dass nach Bedarf darauf zugegriffen werden kann und sie gelesen werden können. Im nichtflüchtigen Speicher 124 gespeicherte Daten können auch nach Bedarf gelöscht werden, obwohl zu verstehen ist, dass einige Daten im nichtflüchtigen Speicher 124 möglicherweise nicht löschbar sind. Die Vorgänge des Speicherns von Daten, des Lesens von Daten und des Löschens von Daten werden im Allgemeinen vom Speichersteuersystem 128 gesteuert.
  • Das nichtflüchtige Speicherbauelement 120 wurde allgemein so beschrieben, dass es ein Speichersteuersystem 128, d.h. einen Controller beinhaltet. Das nichtflüchtige Speicherbauelement 120 beinhaltet häufig separate Chips für Funktionen wie nichtflüchtiger Speicher 124 und Speichersteuersystem 128, d.h. Controller-Funktionen. Zum Beispiel, nichtflüchtige Speicherbauelemente wie z.B., aber nicht begrenzt auf, PC-Karten, CompactFlash-Karten, MultiMedia-Karten und sichere Digitalkarten, können zwar Controller beinhalten, die auf einem separaten Chip ausgeführt sind, aber andere nichtflüchtige Speicherbauelemente beinhalten möglicherweise keine Controller, die auf einem separaten Chip ausgeführt sind. In einer Ausgestaltung, in der das nichtflüchtige Speicherbauelement 120 keine separaten Speicher- und Controller-Chips beinhaltet, können die Speicher- und Controller-Funktionen auf einem einzelnen Chip integriert sein, wie die Fachperson verstehen wird.
  • Mit Bezug auf 11 wird nun das nichtflüchtige Speicherbauelement 120 ausführlicher gemäß einer Ausgestaltung der vorliegenden Erfindung beschrieben. Wie oben beschrieben, weist das nichtflüchtige Speicherbauelement 120 den nichtflüchtigen Speicher 124 und das Speichersteuersystem 128 auf. Der Speicher 124 und das Steuersystem 128, oder die Steuerung, sind primäre Komponenten des nichtflüchtigen Speicherbauelementes 120. Der Speicher 124 kann eine Anordnung von Speicherzellen sein, die auf einem Halbleitersubstrat ausgebildet sind, wobei ein oder mehrere Datenbits in den individuellen Speicherzellen werden, indem ein oder mehrere Ladungspegel auf individuellen Speicherelementen der Speicherzellen gespeichert werden. Ein nichtflüchtiger, elektrisch löschbarer, programmierbarer Flash-Arbeitsspeicher (EEPROM) ist ein Beispiel für einen üblichen Speichertyp für solche Systeme.
  • Das Steuersystem 128 kommuniziert über einen Bus 15 mit einem Host-Computer oder einem anderen System, das das Speichersystem zum Speichern von Daten verwendet. Der Bus 15 ist im Allgemeinen ein Teil des Busses 104 von 10. Das Steuersystem 128 steuert auch den Betrieb des Speichers 124, der eine Speicherzellenanordnung 11 beinhalten kann, um vom Host bereitgestellte Daten zu schreiben, vom Host angeforderte Daten zu lesen und verschiedene Haushaltungsfunktionen im Betriebsspeicher 124 auszuführen. Das Steuersystem 128 weist im Allgemeinen einen Universalmikroprozessor auf, mit dem ein nichtflüchtiger Software-Speicher, verschiedene Logikschaltungen und dergleichen assoziiert sind. Eine oder mehrere Zustandsmaschinen sind häufig zum Regeln der Leistung spezieller Routinen vorhanden.
  • Die Speicherzellenarray 11 wird typischerweise vom Steuersystem 128 durch Adress-Decoder 17 adressiert. Die Decoder 17 legen die richtigen Spannungen an die Gatter- und Bitleitungen der Array 11 an, um auf eine Gruppe von vom Steuersystem 128 adressierten Speicherzellen Daten zu programmieren, davon zu lesen oder zu löschen. Zusätzliche Schaltungen 19 beinhalten Programmiertreiber, die an Elemente der Array angelegte Spannungen steuern, die von den zu einer adressierten Zellengruppe programmierten Daten abhängig sind. Die Schaltungen 19 beinhalten auch Leseverstärker und andere Schaltungen, die zum Lesen von Daten von einer adressierten Gruppe von Speicherzellen nötig sind. In die Array 11 zu programmierende Daten oder kürzlich aus der Array 11 gelesene Daten werden typischerweise in einem Pufferspeicher 21 im Steuersystem 128 gespeichert. Das Steuersystem 128 enthält gewöhnlich auch verschiedene Register zum vorübergehenden Speichern von Befehls- und Statusdaten und dergleichen.
  • Die Array 11 ist in eine große Zahl von Blöcken 0 – N von Speicherzellen unterteilt. Wie für Flash-EEPROM-Systeme üblich ist, ist der Block die Löscheinheit. Das heißt, jeder Block enthält die Mindestzahl an Speicherzellen, die zusammen gelöscht werden. Jeder Block ist typischerweise in eine Reihe von Seiten unterteilt, wie in 10 ebenfalls illustriert ist. Eine Seite ist die Programmiereinheit. Das heißt, in einer Grundprogrammieroperation werden Daten in mindestens eine Seite von Zellen geschrieben. Ein oder mehrere Datensektoren werden gewöhnlich innerhalb jeder Seite gespeichert. Wie in 11 gezeigt, beinhaltet ein Sektor Benutzerdaten und Overhead-Daten. Overhead-Daten beinhalten typischerweise einen Fehlerkorrekturcode (ECC), der von den Benutzerdaten des Sektors berechnet wurde. Ein Teil 23 des Steuersystems 128 berechnet den ECC, wenn die Daten in die Array 11 programmiert werden, und prüft auch den ECC, wenn Daten aus der Array 11 gelesen werden. Alternativ werden die ECCs in anderen Seiten oder anderen Blöcken gespeichert als die Benutzerdaten, zu denen sie gehören.
  • Ein Sektor von Benutzerdaten hat typischerweise 512 Byte, was der Größe eines Sektors in Magnetplattenlaufwerken entspricht. Overhead-Daten haben typischerweise zusätzliche 28 Byte. Üblicherweise enthält jede Seite einen Datensektor, aber stattdessen kann eine Seite auch von zwei oder mehreren Sektoren gebildet werden. Viele Seiten, z.B. von etwa acht Seiten bis 512, 1024 oder mehr Seiten, bilden einen Block. Die Zahl der Blöcke wird so gewählt, dass sie eine gewünschte Datenspeicherkapazität für das Speichersystem ergibt. Die Array 11 wird gewöhnlich in ein paar Subarrays (nicht dargestellt) unterteilt, die jeweils einen Anteil der Blöcke enthalten, die etwas unabhängig voneinander arbeiten, um den Grad an Parallelismus beim Ausführen verschiedener Speicheroperationen zu erhöhen. Ein Beispiel für die Verwendung mehrerer Subarrays ist im US-Patent Nr. 5,890,192 beschrieben, das hierin in seiner Gesamtheit durch Bezugnahme eingeschlossen ist.
  • Es wurden zwar nur einige wenige Ausgestaltungen der vorliegenden Erfindung beschrieben, aber es ist zu verstehen, dass die vorliegende Erfindung in vielen anderen speziellen Formen ausgestaltet werden kann, ohne von Wesen oder Umfang der vorliegenden Erfindung abzuweichen. Zum Beispiel, es wurde zwar allgemein eine Flash-Speicherkarte so beschrieben, dass sie Komponenten oder Gehäuse beinhaltet, die Kontaktinseln mit Abstandshaltermerkmalen haben, aber es können auch Komponenten oder Gehäuse, die Kontaktinseln mit Abstandshaltermerkmalen haben, in einer Reihe verschiedener anderer Systeme zum Einsatz kommen. Es ist zu verstehen, dass Kontaktinseln mit Abstandshaltermerkmalen in im Wesentlichen jede Anwendung integriert werden können, in denen der Abstand zwischen mit einer Lötverbindung zusammengefügten Kontaktinseln, d.h. die Dicke einer Lötverbindung, reguliert werden soll oder wesentlich ist.
  • Die mit einem Abstandshaltermerkmal assoziierten Abmessungen wurden so beschrieben, dass sie eine Höhe beinhalten, die im Wesentlichen gleich der gewünschten Dicke einer Lotmaterialschicht ist, und eine Kontaktfläche mit einem Bereich, der etwa gleich oder kleiner als ein vorbestimmter Prozentanteil des Gesamtbereiches einer Kontaktinsel ist. Es ist jedoch zu verstehen, dass die mit einem Abstandshaltermerkmal assoziierten Abmessungen stark variieren können.
  • Es wurden zwar Abstandshaltermerkmale allgemein so beschrieben, dass sie mit Komponenten wie Halbleitergehäusen, Chips oder Siliciumchips assoziierte Kontaktinseln aufweisen, aber die Abstandshaltermerkmale können sich auch auf mit Leiterplatten assoziierten Kontaktinseln befinden. Mit anderen Worten, Leiterplatten können mit Inseln oder Leitungen ausgebildet werden, die Abstandshaltermerkmale aufweisen. Solche Leiterplatten können mit Komponenten verbunden oder gebondet werden, die herkömmliche Inseln haben, um den Abstand zwischen den Inseln der Leiterplatten und den Inseln der Komponenten mit den mit den Leiterplatten assoziierten Abstandshaltermerkmalen effektiv zu regeln.
  • Ferner können Kontaktinseln mit Abstandshaltermerkmalen im Allgemeinen auf im Wesentlichen jedem Substrat vorhanden sein, z.B. Halbleitergehäuse oder Leiterplatte, das mit einem anderen Substrat verbunden oder gebondet werden soll. So kann beispielsweise ein Halbleitergehäuse oder ein Siliciumchip, das/der Kontaktinseln mit Abstandshaltermerkmalen aufweist, mit einem anderen, z.B. einem größeren Halbleitergehäuse verbunden werden.
  • Im Allgemeinen kann ein Halbleitergehäuse oder Chip, das/der Kontaktinseln mit Abstandshaltermerkmalen aufweist, mehrere Kontaktinseln mit Abstandshaltermerkmalen aufweisen, die jeweils eine bestimmte Größe haben. Das heißt, im Wesentlichen alle Kontaktinseln in Verbindung mit einem bestimmten Halbleitergehäuse können dieselben Abstandshaltermerkmale beinhalten. In einer Ausgestaltung kann jedoch ein bestimmtes Halbleitergehäuse Kontaktinseln mit unterschiedlichen Abstandshaltermerkmalen aufweisen, ohne vom Umfang der vorliegenden Erfindung abzuweichen.
  • Kontaktinseln mit Abstandshaltermerkmalen können in ein Gehäuse integriert werden, das in einen Träger eingerastet werden soll. Mit anderen Worten, Abstandshaltermerkmale können benutzt werden, um eine zuverlässige Kontaktstelle zwischen einem Gehäuse und einem Träger herzustellen, in dem das Gehäuse integriert werden soll. Zum Beispiel, ein Träger kann so gestaltet werden, dass er eine Speicherkomponente aufnimmt, indem er so konfiguriert wird, dass er eine Fassung für die Speicherkomponente aufweist. Wenn entweder der Träger, z.B. ein Träger in Verbindung mit einer elastomeren Oberfläche, oder die Speicherkomponente eine Kontaktinsel mit einem Abstandshaltermerkmal aufweist, dann fördert das Abstandshaltermerkmal nach dem Einrasten der Speicherkomponente in den Träger effektiv einen zuverlässigen Punktkontakt zwischen der Kontaktinsel der Speicherkomponente und einer Kontaktinsel des Trägers. Der zuverlässige Punktkontakt kann dann erzielt werden, wenn das Abstandshaltermerkmal mit einem Abschnitt der Kontaktinsel des Trägers in Kontakt kommt, selbst dann, wenn die Kontaktinsel mit dem Abstandshaltermerkmal nicht mit der Kontaktinsel des Trägers verlötet werden soll.
  • Daher sind die vorliegenden Beispiele als illustrativ und nicht als einschränkend anzusehen und die Erfindung ist nicht auf die hierin gegebenen Details begrenzt, sondern kann im Rahmen der beiliegenden Ansprüche modifiziert werden.
  • Jedes in der vorliegenden Spezifikation (und dieser Begriff beinhaltet die Ansprüche) offenbarte und/oder in den Zeichnungen dargestellte Merkmal kann unabhängig von anderen offenbarten und/oder illustrierten Merkmalen in die Erfindung eingebaut werden.
  • Aussagen in dieser Beschreibung über die „Aufgaben der Erfindung" beziehen sich auf bevorzugte Ausgestaltungen der Erfindung, aber es fallen nicht unbedingt alle Ausgestaltungen der Erfindung in die Ansprüche.
  • Die Beschreibung der Erfindung mit Bezug auf die Zeichnungen ist lediglich beispielhaft.
  • Es werden Verfahren und Vorrichtungen zum Regeln des Abstands zwischen Kontaktinseln oder Leitungen, die verbunden werden sollen, offenbart. Gemäß einem Aspekt der vorliegenden Erfindung weist ein elektrisches Gehäuse einen Körper und einen Kontakt auf. Der Körper beinhaltet einen elektrischen Schaltkomplex wie z.B. Leiterbahnen. Der Kontakt ist auf dem Körper angeordnet und beinhaltet einen Kontaktkörper und ein Kontaktmerkmal. Das Kontaktmerkmal ist ein Vorsprung, der sich im Wesentlichen von dem Kontaktkörper erstreckt, und ist so ausgeführt, dass er mit einer Außenfläche in Kontakt kommt. In einer Ausgestaltung ist die Außenfläche ein externer Kontakt und das Kontaktmerkmal ist so ausgeführt, dass es den Kontaktkörper im Wesentlichen vom externen Kontakt beabstandet.

Claims (17)

  1. Ein elektrisches Gehäuse, das geeignet oder angeordnet ist, um über eine Mehrzahl von Kontakten an eine Außenfläche gelötet zu werden, wobei das Gehäuse Folgendes umfasst einen Körper (408) und eine Mehrzahl von Kontakten (300), wobei sich jeder Kontakt im Wesentlichen an dem Körper (408) befindet und einen Kontaktkörper (305) und ein Kontaktmerkmal (310) aufweist, wobei jedes genannte Kontaktmerkmal (310) im Wesentlichen aus seinem entsprechenden genannten Kontaktkörper (305) vorsteht und angeordnet ist, um einen Teil einer Außenfläche, die eine Kontaktebene aufweist, zu berühren, dadurch gekennzeichnet, dass das Gehäuse derart geeignet ist, dass eine Oberfläche jedes der Kontaktkörper (305) im Wesentlichen parallel zu der Kontaktebene liegt, wenn die Kontaktmerkmale (310) in lötbarem Kontakt mit der Außenfläche sind, wodurch die Kontaktkörper (305) von der Außenfläche beabstandet sind, um eine im Wesentlichen gleichmäßige Lotschicht bereitzustellen, wenn sie gelötet sind.
  2. Elektrisches Gehäuse nach Anspruch 1, bei dem der Körper (408) zum Enthalten einer elektrischen Schaltungsanordnung angeordnet ist und der Kontakt (300) im Wesentlichen mit dem Körper (408) gekoppelt ist.
  3. Elektrisches Gehäuse nach Anspruch 1 oder 2, bei dem das elektrische Gehäuse eines der Folgenden ist: ein Halbleitergehäuse, ein Siliziumchip, ein Chip und eine gedruckte Schaltung.
  4. Elektrisches Gehäuse nach einem der vorhergehenden Ansprüche, bei dem eine Kontaktfläche (314) des Kontaktmerkmals (310) mehr als etwa zwanzigmal kleiner ist als die Oberfläche des Kontaktkörpers (305).
  5. Elektrisches Gehäuse nach einem der vorhergehenden Ansprüche, bei dem der Kontakt (300) vergoldet ist.
  6. Elektrisches Gehäuse nach einem der vorhergehenden Ansprüche, bei dem das elektrische Gehäuse eine Komponente einer Speicherkarte ist, die einen nichtflüchtigen Speicher aufweist.
  7. Elektrisches Gehäuse nach Anspruch 6, bei dem die Speicherkarte eine aus der Gruppe bestehend aus einer Secure-Digital-Karte, einer Compact-Flash-Karte, einer Multimediakarte, einer Smart-Media-Karte und einer Memory-Stick-Karte ausgewählte Speicherkarte ist.
  8. Elektrisches Gehäuse nach einem der vorhergehenden Ansprüche, bei dem das Kontaktmerkmal (310) einstückig mit dem Kontaktkörper (305) ausgebildet ist.
  9. Elektrisches Gehäuse nach einem der vorhergehenden Ansprüche, bei dem das Kontaktmerkmal (310) so angeordnet ist, dass es den Kontaktkörper (305) im Wesentlichen von der Außenfläche weg beabstandet.
  10. Elektrisches Gehäuse nach Anspruch 8 oder 9, bei dem das Kontaktmerkmal (310) angeordnet ist, um den Kontaktkörper (305) um zwischen etwa 0,05 mm (0,002 Zoll) und etwa 0,08 mm (0,003 Zoll) vom externen Kontakt weg zu beabstanden.
  11. Elektrisches Gehäuse nach einem der vorhergehenden Ansprüche, bei dem der Kontaktkörper (305) und das Kontaktmerkmal (310) elektrisch gekoppelt sind.
  12. Baugruppe, die Folgendes umfasst: ein erstes elektrisches Gehäuse, das das Gehäuse nach einem der Ansprüche 1 bis 11 ist; ein zweites elektrisches Gehäuse, das die Außenfläche als eine äußere elektrische Kontaktfläche (412a) aufweist, und eine jeweilige Schicht Lotmaterial (420), die zum Koppeln der Außenfläche (412a) des zweiten Gehäuses mit jedem der Kontakte (300) des ersten Gehäuses angeordnet ist, wobei die Schichten Lotmaterial (420a) zwischen der Außenfläche (412a) des zweiten Gehäuses und den Kontaktkörpern (305) angeordnet sind und die jeweiligen Kontaktmerkmale (310) des ersten Gehäuses so angeordnet sind, dass sie eine Schnittstelle mit der Außenfläche (412a) des zweiten Gehäuses bilden, um einen Abstand zwischen der Außenfläche (412a) des zweiten Gehäuses und einer Oberfläche jedes jeweiligen Kontaktkörpers (305) des ersten Gehäuses zu definieren.
  13. Baugruppe nach Anspruch 12, bei der der Abstand zwischen der Außenfläche des zweiten elektrischen Gehäuses und den Kontaktkörperflächen zwischen etwa 0,05 mm (0,002 Zoll) und etwa 0,08 mm (0,003 Zoll) beträgt.
  14. Baugruppe nach Anspruch 12 oder 13, bei der eine Dicke jeder Schicht Lotmaterial (420a) im Wesentlichen von einer Höhe der Kontaktmerkmale (310) definiert wird.
  15. Baugruppe nach einem der Ansprüche 12 bis 14, bei der die jeweiligen Kontaktmerkmale (310) so angeordnet sind, dass sie die Außenfläche des zweiten Gehäuses berühren, wenn die jeweiligen Schichten Lotmaterial (420a) die Außenfläche des zweiten Gehäuses mit den Kontakten (300) des ersten Gehäuses koppeln.
  16. Baugruppe nach einem der Ansprüche 12 bis 15, bei dem das Kontaktmerkmal (310) und der Kontaktkörper (305) jedes genannten Kontaktes (300) ein einzelnes Stück sind.
  17. Baugruppe nach einem der Ansprüche 12 bis 16, bei der das zweite Gehäuse eines der Folgenden ist: ein Halbleitergehäuse, ein Chip, ein Siliziumchip und eine gedruckte Schaltung.
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