DE69317250T2 - Verfahren zur uniformen Programmierung eines elektrisch programmierbaren Speichers und Speicher zur Durchführung des Verfahrens - Google Patents

Verfahren zur uniformen Programmierung eines elektrisch programmierbaren Speichers und Speicher zur Durchführung des Verfahrens

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07192481A (ja) * 1993-12-27 1995-07-28 Mitsubishi Electric Corp 半導体記憶装置
US5650734A (en) * 1995-12-11 1997-07-22 Altera Corporation Programming programmable transistor devices using state machines
US6157210A (en) * 1997-10-16 2000-12-05 Altera Corporation Programmable logic device with circuitry for observing programmable logic circuit signals and for preloading programmable logic circuits
US6507881B1 (en) * 1999-06-10 2003-01-14 Mediatek Inc. Method and system for programming a peripheral flash memory via an IDE bus
DE102004031700B4 (de) 2004-06-30 2010-02-18 Airbus Deutschland Gmbh Flugzeug mit Informationsanzeigesystem
TW200636471A (en) * 2005-04-01 2006-10-16 Mediatek Inc Method of parallel programmable memory and the system thereof

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5053990A (en) * 1988-02-17 1991-10-01 Intel Corporation Program/erase selection for flash memory
JPH04206094A (ja) * 1990-11-30 1992-07-28 Mitsubishi Electric Corp 不揮発性半導体記憶装置

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