DE69634515D1 - Verfahren, system und anordnung zur effizienten generierung binärer zahlen zum testen von spreichervorrichtungen - Google Patents

Verfahren, system und anordnung zur effizienten generierung binärer zahlen zum testen von spreichervorrichtungen

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    • G06F11/22Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/26Functional testing
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    • GPHYSICS
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    • G11C29/00Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
    • G11C29/04Detection or location of defective memory elements, e.g. cell constructio details, timing of test signals
    • G11C29/08Functional testing, e.g. testing during refresh, power-on self testing [POST] or distributed testing
    • G11C29/12Built-in arrangements for testing, e.g. built-in self testing [BIST] or interconnection details
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Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11185497A (ja) * 1997-12-24 1999-07-09 Mitsubishi Electric Corp 半導体記憶装置
GB2345976B (en) 1999-01-22 2003-06-25 Sgs Thomson Microelectronics Test circuit for memory
US6687867B2 (en) * 2000-12-05 2004-02-03 Xilinx, Inc. Method for testing a memory array

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4322812A (en) * 1979-10-16 1982-03-30 Burroughs Corporation Digital data processor providing for monitoring, changing and loading of RAM instruction data
JPS57194621A (en) * 1981-05-26 1982-11-30 Nec Corp Random number generator
FR2592957B1 (fr) * 1986-01-10 1988-04-08 Trt Telecom Radio Electr Dispositif de test de circuit logique combinatoire et circuit integre comportant un tel dispositif.
US4742293A (en) * 1987-04-06 1988-05-03 Hughes Aircraft Company Pseudo-memory circuit for testing for stuck open faults
EP0366757B1 (de) * 1988-04-01 1995-07-19 Digital Equipment Corporation Verfahren und vorrichtung zum speicherselbsttest
US5159599A (en) * 1990-07-31 1992-10-27 Sgs-Thomson Microelectronics, Inc. High speed testing for programmable logic devices
EP0470030A3 (en) * 1990-08-02 1993-04-21 International Business Machines Corporation Fast memory power-on diagnostics using direct memory addressing
US5228045A (en) * 1990-08-06 1993-07-13 Ncr Corporation Test driver for connecting a standard test port integrated circuit chip to a controlling computer
US5258986A (en) * 1990-09-19 1993-11-02 Vlsi Technology, Inc. Tightly coupled, low overhead RAM built-in self-test logic with particular applications for embedded memories
US5155732A (en) * 1990-10-09 1992-10-13 At&T Bell Laboratories Method and apparatus for data transfer to and from devices through a boundary-scan test access port
US5412665A (en) * 1992-01-10 1995-05-02 International Business Machines Corporation Parallel operation linear feedback shift register
GR920100088A (el) * 1992-03-05 1993-11-30 Consulting R & D Corp Koloni S Διαφανής έλεγχος ολοκληρωμένων κυκλωμάτων.
US5383195A (en) * 1992-10-19 1995-01-17 Motorola, Inc. BIST circuit with halt signal
US5444716A (en) * 1993-08-30 1995-08-22 At&T Corp. Boundary-scan-based system and method for test and diagnosis

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