DE69634515D1 - Verfahren, system und anordnung zur effizienten generierung binärer zahlen zum testen von spreichervorrichtungen - Google Patents
Verfahren, system und anordnung zur effizienten generierung binärer zahlen zum testen von spreichervorrichtungenInfo
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- G06F11/26—Functional testing
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- G—PHYSICS
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- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/04—Detection or location of defective memory elements, e.g. cell constructio details, timing of test signals
- G11C29/08—Functional testing, e.g. testing during refresh, power-on self testing [POST] or distributed testing
- G11C29/12—Built-in arrangements for testing, e.g. built-in self testing [BIST] or interconnection details
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US5159599A (en) * | 1990-07-31 | 1992-10-27 | Sgs-Thomson Microelectronics, Inc. | High speed testing for programmable logic devices |
EP0470030A3 (en) * | 1990-08-02 | 1993-04-21 | International Business Machines Corporation | Fast memory power-on diagnostics using direct memory addressing |
US5228045A (en) * | 1990-08-06 | 1993-07-13 | Ncr Corporation | Test driver for connecting a standard test port integrated circuit chip to a controlling computer |
US5258986A (en) * | 1990-09-19 | 1993-11-02 | Vlsi Technology, Inc. | Tightly coupled, low overhead RAM built-in self-test logic with particular applications for embedded memories |
US5155732A (en) * | 1990-10-09 | 1992-10-13 | At&T Bell Laboratories | Method and apparatus for data transfer to and from devices through a boundary-scan test access port |
US5412665A (en) * | 1992-01-10 | 1995-05-02 | International Business Machines Corporation | Parallel operation linear feedback shift register |
GR920100088A (el) * | 1992-03-05 | 1993-11-30 | Consulting R & D Corp Koloni S | Διαφανής έλεγχος ολοκληρωμένων κυκλωμάτων. |
US5383195A (en) * | 1992-10-19 | 1995-01-17 | Motorola, Inc. | BIST circuit with halt signal |
US5444716A (en) * | 1993-08-30 | 1995-08-22 | At&T Corp. | Boundary-scan-based system and method for test and diagnosis |
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