WO1998028640A3 - Optische anordnung zum scannen eines strahls in zwei im wesentlichen senkrecht zueinander liegenden achsen - Google Patents

Optische anordnung zum scannen eines strahls in zwei im wesentlichen senkrecht zueinander liegenden achsen Download PDF

Info

Publication number
WO1998028640A3
WO1998028640A3 PCT/DE1997/003014 DE9703014W WO9828640A3 WO 1998028640 A3 WO1998028640 A3 WO 1998028640A3 DE 9703014 W DE9703014 W DE 9703014W WO 9828640 A3 WO9828640 A3 WO 9828640A3
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
axis
axes
scanning
mirrors
optical device
Prior art date
Application number
PCT/DE1997/003014
Other languages
English (en)
French (fr)
Other versions
WO1998028640A2 (de
Inventor
Johann Engelhardt
Heinrich Ulrich
Original Assignee
Leica Lasertechnik
Johann Engelhardt
Heinrich Ulrich
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Leica Lasertechnik, Johann Engelhardt, Heinrich Ulrich filed Critical Leica Lasertechnik
Priority to JP52824398A priority Critical patent/JP3916259B2/ja
Priority to EP97953673A priority patent/EP0950208B1/de
Priority to DE59707665T priority patent/DE59707665D1/de
Priority to US09/331,457 priority patent/US6211988B1/en
Publication of WO1998028640A2 publication Critical patent/WO1998028640A2/de
Publication of WO1998028640A3 publication Critical patent/WO1998028640A3/de

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/0004Microscopes specially adapted for specific applications
    • G02B21/002Scanning microscopes
    • G02B21/0024Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
    • G02B21/0036Scanning details, e.g. scanning stages
    • G02B21/0048Scanning details, e.g. scanning stages scanning mirrors, e.g. rotating or galvanomirrors, MEMS mirrors
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/0004Microscopes specially adapted for specific applications
    • G02B21/002Scanning microscopes
    • G02B21/0024Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/0004Microscopes specially adapted for specific applications
    • G02B21/002Scanning microscopes
    • G02B21/0024Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
    • G02B21/0052Optical details of the image generation
    • G02B21/0072Optical details of the image generation details concerning resolution or correction, including general design of CSOM objectives
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/0004Microscopes specially adapted for specific applications
    • G02B21/002Scanning microscopes
    • G02B21/0024Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
    • G02B21/008Details of detection or image processing, including general computer control
    • G02B21/0084Details of detection or image processing, including general computer control time-scale detection, e.g. strobed, ultra-fast, heterodyne detection

Abstract

Eine optische Anordnung zum Scannen eines Strahls in zwei im wesentlichen senkrecht zueinander liegenden Achsen, insbesondere zur Anwendung bei konfokalen Laserscanmikroskopen, ist zur Vermeidung gravierender Abbildungsfehler dadurch gekennzeichnet, daß drei Spiegel (1, 2; 3) vorgesehen sind, von denen zwei Spiegel (1, 2) mittels eines ersten Antriebs um eine erste Achse (y-Achse) und ein Spiegel (3) mittels eines zweiten Antriebs um eine zweite Achse (x-Achse), die auf der ersten Achse (y-Achse) senkrecht steht, drehbar ist. Die beiden Spiegel (1, 2) sind einander in einer vorgegebenen Winkelposition drehfest zugeordnet, so daß sie gemeinsam um die y-Achse drehen und dabei den Strahl (4) um einen Drehpunkt drehen, der auf der Drehachse (x-Achse) des alleine drehenden dritten Spiegels (3) liegt.
PCT/DE1997/003014 1996-12-24 1997-12-23 Optische anordnung zum scannen eines strahls in zwei im wesentlichen senkrecht zueinander liegenden achsen WO1998028640A2 (de)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP52824398A JP3916259B2 (ja) 1996-12-24 1997-12-23 実質的に相互に垂直な2つの軸においてビームを走査するために光学装置
EP97953673A EP0950208B1 (de) 1996-12-24 1997-12-23 Optische anordnung zum scannen eines strahls in zwei im wesentlichen senkrecht zueinander liegenden achsen
DE59707665T DE59707665D1 (de) 1996-12-24 1997-12-23 Optische anordnung zum scannen eines strahls in zwei im wesentlichen senkrecht zueinander liegenden achsen
US09/331,457 US6211988B1 (en) 1996-12-24 1997-12-23 Optical device for scanning a beam in two axes that are substantially perpendicular to each other

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19654210.3 1996-12-24
DE19654210A DE19654210C2 (de) 1996-12-24 1996-12-24 Optische Anordnung zum Scannen eines Strahls in zwei im wesentlichen senkrecht zueinander liegenden Achsen

Publications (2)

Publication Number Publication Date
WO1998028640A2 WO1998028640A2 (de) 1998-07-02
WO1998028640A3 true WO1998028640A3 (de) 1998-10-08

Family

ID=7816135

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/DE1997/003014 WO1998028640A2 (de) 1996-12-24 1997-12-23 Optische anordnung zum scannen eines strahls in zwei im wesentlichen senkrecht zueinander liegenden achsen

Country Status (5)

Country Link
US (1) US6211988B1 (de)
EP (1) EP0950208B1 (de)
JP (1) JP3916259B2 (de)
DE (2) DE19654210C2 (de)
WO (1) WO1998028640A2 (de)

Families Citing this family (37)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE29907156U1 (de) * 1999-04-22 1999-08-12 Laser Optoelektronik Gmbh Z Vorrichtung zum Erzeugen einer optischen Markierung
DE19956439A1 (de) 1999-11-24 2001-05-31 Leica Microsystems Vorrichtung zur Strahlablenkung
DE10033549A1 (de) 2000-07-11 2002-01-24 Leica Microsystems Optische Anordnung zum Ablenken eines Lichtstrahls insbesondere in zwei im wesentlichen senkrecht zueinander liegenden Richtungen
DE10039520A1 (de) 2000-08-08 2002-02-21 Leica Microsystems Vorrichtung zur Untersuchung und Manipulation von mikroskopischen Objekten
US6582088B2 (en) * 2000-08-10 2003-06-24 Benq Corporation Optical path folding apparatus
DE10050529B4 (de) 2000-10-11 2016-06-09 Leica Microsystems Cms Gmbh Verfahren zur Strahlsteuerung in einem Scanmikroskop, Anordnung zur Strahlsteuerung in einem Scanmikroskop und Scanmikroskop
US7318912B2 (en) 2001-06-07 2008-01-15 Nanostream, Inc. Microfluidic systems and methods for combining discrete fluid volumes
DE10133017C2 (de) 2001-07-06 2003-07-03 Leica Microsystems Konfokales Mikroskop
DE10139920B4 (de) 2001-08-14 2008-07-31 Leica Microsystems Cms Gmbh Scanmikroskop und Verfahren zum Scannen eines Objekts
DE10209321A1 (de) * 2002-03-02 2003-09-25 Leica Microsystems Vorrichtung zum Ablenken eines Lichtstrahles und Scanmikroskop
DE10209322A1 (de) * 2002-03-02 2003-09-25 Leica Microsystems Vorrichtung zum Ablenken eines Lichtstrahles und Scanmikroskop
DE20207817U1 (de) * 2002-05-18 2002-08-14 Leica Microsystems Scanmikroskop und Strahlablenkeinrichtung
US7554710B2 (en) * 2002-10-16 2009-06-30 Canon Kabushiki Kaisha Two-dimensional scanning apparatus, and image displaying apparatus
WO2004086947A2 (en) * 2003-03-27 2004-10-14 The General Hospital Corporation Method and apparatus for dermatological treatment and fractional skin resurfacing
DE102004006836A1 (de) 2003-04-15 2004-11-18 E.On Ruhrgas Ag Vorrichtung und Verfahren zum optischen Abtasten von Medien, Objekten oder Flächen
DE10337297A1 (de) 2003-08-14 2005-03-10 Leica Microsystems Strahlablenkeinrichtung
JP4522109B2 (ja) * 2004-02-19 2010-08-11 キヤノン株式会社 2次元走査装置及びそれを用いた走査型画像表示装置
JP4642397B2 (ja) * 2004-07-12 2011-03-02 オリンパス株式会社 光走査型顕微鏡装置
EP1835527A4 (de) * 2004-12-16 2011-01-05 Nikon Corp Optisches projektionssystem, belichtungsvorrichtung, belichtungssystem und belichtungsverfahren
US7345800B2 (en) 2005-02-04 2008-03-18 Leica Microsystems Cms Gmbh Optical arrangement for deflecting a light beam
JP4915348B2 (ja) * 2005-12-28 2012-04-11 株式会社ニコン 光走査装置、光走査型顕微鏡、観察方法、制御装置、及び制御プログラム
JP5157241B2 (ja) * 2007-05-08 2013-03-06 ブラザー工業株式会社 光走査装置、及び網膜走査型表示装置
IL185355A (en) * 2007-08-19 2012-05-31 Sason Sourani Optical device for projection of light beams
WO2010069987A1 (de) 2008-12-19 2010-06-24 Deutsches Krebsforschungszentrum Verfahren und vorrichtung zur dynamischen verlagerung eines lichtstrahls gegenüber einer den lichtstrahl fokussierenden optik
DE102009050340B4 (de) 2009-10-23 2017-08-10 Leica Microsystems Cms Gmbh Vorrichtung zum Ablenken eines Lichtstrahls in zwei unterschiedliche Richtungen und Scan-Mikroskop
DE102010037786A1 (de) 2010-09-27 2012-03-29 Leica Microsystems Cms Gmbh Verfahren zur Detektion von transmittiertem Licht im konfokalen Laserscan-Mikroskop und konfokales Laserscan-Mikroskop
JP5603749B2 (ja) 2010-11-18 2014-10-08 オリンパス株式会社 顕微鏡装置
DE102010061612B4 (de) 2010-12-29 2023-12-28 Leica Microsystems Cms Gmbh Verfahren zum Ermitteln von Scankoordinaten zum Betreiben einer Scaneinheit eines konfokalen Scan-Mikroskops und konfokales Scan-Mikroskop
CN103299231B (zh) 2011-01-20 2017-07-21 通用电气医疗集团生物科学公司 光扫描系统
WO2012133623A1 (ja) * 2011-03-31 2012-10-04 株式会社ニコン 走査型顕微鏡
KR101119815B1 (ko) 2011-04-05 2012-03-06 나노스코프시스템즈 (주) 빔 편향 장치
DE102011106097B4 (de) 2011-06-09 2017-02-16 Cero Gmbh Verfahren und Vorrichtung zum Bearbeiten eines Werkstückes
WO2015057306A1 (en) * 2013-08-30 2015-04-23 Nowatzyk Andreas G Optical beam scanning system having a synthetic center of beam rotation
WO2019147936A1 (en) 2018-01-26 2019-08-01 Vanderbilt University Systems and methods for non-destructive evaluation of optical material properties and surfaces
TWI781243B (zh) * 2018-10-31 2022-10-21 國立清華大學 級聯鏡列及包含其之掃描系統
US11493751B2 (en) 2019-01-23 2022-11-08 Vanderbilt University Systems and methods for compact optical relay
WO2023049225A2 (en) * 2021-09-22 2023-03-30 The Research Foundation For The State University Of New York Scattering-type scanning near-field optical microscopy with akiyama piezo-probes

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4874215A (en) * 1987-04-23 1989-10-17 General Scanning, Inc. Tunable resonant mechanical system
US5225923A (en) * 1992-07-09 1993-07-06 General Scanning, Inc. Scanning microscope employing improved scanning mechanism

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5561544A (en) * 1995-03-06 1996-10-01 Macken; John A. Laser scanning system with reflecting optics

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4874215A (en) * 1987-04-23 1989-10-17 General Scanning, Inc. Tunable resonant mechanical system
US5225923A (en) * 1992-07-09 1993-07-06 General Scanning, Inc. Scanning microscope employing improved scanning mechanism

Also Published As

Publication number Publication date
DE19654210A1 (de) 1998-06-25
US6211988B1 (en) 2001-04-03
JP2001506378A (ja) 2001-05-15
DE59707665D1 (de) 2002-08-08
EP0950208B1 (de) 2002-07-03
DE19654210C2 (de) 1999-12-09
WO1998028640A2 (de) 1998-07-02
JP3916259B2 (ja) 2007-05-16
EP0950208A2 (de) 1999-10-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
WO1998028640A3 (de) Optische anordnung zum scannen eines strahls in zwei im wesentlichen senkrecht zueinander liegenden achsen
EP0671238B1 (de) Lasermarkierungsgerät
CA1176879A (en) Single facet wobble free scanner
CA2135368A1 (en) Laser deflection apparatus for a conical laser reference instrument
US4797696A (en) Beam splitting apparatus
GB2143649B (en) Optical apparatus for laser welding pipes
WO2003023485A3 (en) Scanning sensor system with multiple rotating telescope subassemblies
US5828481A (en) Mid-objective laser scanner
JPS61117516A (ja) 光学レ−ザビ−ム偏向装置
EP1293817A3 (de) Vorrichtung und Verfahren zur Fokuskontrolle in einem Mikroskop mit digitaler Bildgebung, vorzugsweise einem konfokalen Mikroskop
KR20010014242A (ko) 레이저 스캐너용 왜상 스캔 렌즈
JP2988762B2 (ja) 走査型顕微鏡の光軸調整装置
JP2532164Y2 (ja) 双眼鏡筒を備えた顕微鏡
JPH11267873A (ja) レーザ光の走査光学系及びレーザ加工装置
JPH0368914A (ja) レーザディスプレイ装置
CA2454194A1 (en) Scanning apparatus
CA2125707A1 (en) Compact ROS Imaging System
EP0110231A3 (de) Vorrichtung zum Fokussieren und Mischen eines Laserstrahls
JPS5815768B2 (ja) ソウサコウガクケイ
JP2002296533A (ja) 光学偏向装置およびこれを用いたレーザ加工装置
JP3008133B2 (ja) ビームスキャナ
JPH07146448A (ja) レーザ走査装置
JP2655456B2 (ja) 機械的走査光学装置
WO2000025171A3 (de) Anordnung zur optischen abtastung eines objekts
JPS63167326A (ja) 光ビ−ム偏向装置

Legal Events

Date Code Title Description
AK Designated states

Kind code of ref document: A2

Designated state(s): JP US

AL Designated countries for regional patents

Kind code of ref document: A2

Designated state(s): AT BE CH DE DK ES FI FR GB GR IE IT LU MC NL PT SE

DFPE Request for preliminary examination filed prior to expiration of 19th month from priority date (pct application filed before 20040101)
AK Designated states

Kind code of ref document: A3

Designated state(s): JP US

AL Designated countries for regional patents

Kind code of ref document: A3

Designated state(s): AT BE CH DE DK ES FI FR GB GR IE IT LU MC NL PT SE

ENP Entry into the national phase

Ref country code: JP

Ref document number: 1998 528243

Kind code of ref document: A

Format of ref document f/p: F

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 1997953673

Country of ref document: EP

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 09331457

Country of ref document: US

121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application
WWP Wipo information: published in national office

Ref document number: 1997953673

Country of ref document: EP

WWG Wipo information: grant in national office

Ref document number: 1997953673

Country of ref document: EP