WO2006035128A2 - Procede de montage d’un composant electronique sur un support de preference mou, et entite electronique ainsi obtenue, telle qu’un passeport - Google Patents

Procede de montage d’un composant electronique sur un support de preference mou, et entite electronique ainsi obtenue, telle qu’un passeport Download PDF

Info

Publication number
WO2006035128A2
WO2006035128A2 PCT/FR2005/002266 FR2005002266W WO2006035128A2 WO 2006035128 A2 WO2006035128 A2 WO 2006035128A2 FR 2005002266 W FR2005002266 W FR 2005002266W WO 2006035128 A2 WO2006035128 A2 WO 2006035128A2
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
support
insulating layer
boss
terminal
electronic
Prior art date
Application number
PCT/FR2005/002266
Other languages
English (en)
Other versions
WO2006035128A3 (fr
Inventor
Guy Enouf
Xavier Borde
Florian Demaimay
Original Assignee
Oberthur Card System Sa
Francois Charles Oberthur Fiduciaire
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Oberthur Card System Sa, Francois Charles Oberthur Fiduciaire filed Critical Oberthur Card System Sa
Priority to US11/663,555 priority Critical patent/US7948764B2/en
Priority to EP05802474.6A priority patent/EP1792528B8/fr
Priority to JP2007532919A priority patent/JP2008515178A/ja
Publication of WO2006035128A2 publication Critical patent/WO2006035128A2/fr
Publication of WO2006035128A3 publication Critical patent/WO2006035128A3/fr

Links

Classifications

    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/58—Structural electrical arrangements for semiconductor devices not otherwise provided for, e.g. in combination with batteries
    • H01L23/64—Impedance arrangements
    • H01L23/66—High-frequency adaptations
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06K—GRAPHICAL DATA READING; PRESENTATION OF DATA; RECORD CARRIERS; HANDLING RECORD CARRIERS
    • G06K19/00—Record carriers for use with machines and with at least a part designed to carry digital markings
    • G06K19/06—Record carriers for use with machines and with at least a part designed to carry digital markings characterised by the kind of the digital marking, e.g. shape, nature, code
    • G06K19/067—Record carriers with conductive marks, printed circuits or semiconductor circuit elements, e.g. credit or identity cards also with resonating or responding marks without active components
    • G06K19/07—Record carriers with conductive marks, printed circuits or semiconductor circuit elements, e.g. credit or identity cards also with resonating or responding marks without active components with integrated circuit chips
    • G06K19/077—Constructional details, e.g. mounting of circuits in the carrier
    • G06K19/07745—Mounting details of integrated circuit chips
    • G—PHYSICS
    • G07—CHECKING-DEVICES
    • G07D—HANDLING OF COINS OR VALUABLE PAPERS, e.g. TESTING, SORTING BY DENOMINATIONS, COUNTING, DISPENSING, CHANGING OR DEPOSITING
    • G07D7/00—Testing specially adapted to determine the identity or genuineness of valuable papers or for segregating those which are unacceptable, e.g. banknotes that are alien to a currency
    • G07D7/01—Testing electronic circuits therein
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/12—Mountings, e.g. non-detachable insulating substrates
    • H01L23/13—Mountings, e.g. non-detachable insulating substrates characterised by the shape
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/10—Bump connectors ; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/11—Manufacturing methods
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L24/81—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a bump connector
    • H—ELECTRICITY
    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/30—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
    • H05K3/32—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits
    • H05K3/325—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by abutting or pinching, i.e. without alloying process; mechanical auxiliary parts therefor
    • H05K3/326—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by abutting or pinching, i.e. without alloying process; mechanical auxiliary parts therefor the printed circuit having integral resilient or deformable parts, e.g. tabs or parts of flexible circuits
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/02—Bonding areas; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/04—Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process
    • H01L2224/05—Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process of an individual bonding area
    • H01L2224/0554—External layer
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/02—Bonding areas; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/04—Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process
    • H01L2224/05—Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process of an individual bonding area
    • H01L2224/0554—External layer
    • H01L2224/0556—Disposition
    • H01L2224/05568—Disposition the whole external layer protruding from the surface
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/02—Bonding areas; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/04—Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process
    • H01L2224/05—Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process of an individual bonding area
    • H01L2224/0554—External layer
    • H01L2224/05573—Single external layer
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/10—Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/11—Manufacturing methods
    • H01L2224/113—Manufacturing methods by local deposition of the material of the bump connector
    • H01L2224/1133—Manufacturing methods by local deposition of the material of the bump connector in solid form
    • H01L2224/1134—Stud bumping, i.e. using a wire-bonding apparatus
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/10—Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/12—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors prior to the connecting process
    • H01L2224/13—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors prior to the connecting process of an individual bump connector
    • H01L2224/13001—Core members of the bump connector
    • H01L2224/13099—Material
    • H01L2224/131—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron [B], silicon [Si], germanium [Ge], arsenic [As], antimony [Sb], tellurium [Te] and polonium [Po], and alloys thereof
    • H01L2224/13138—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron [B], silicon [Si], germanium [Ge], arsenic [As], antimony [Sb], tellurium [Te] and polonium [Po], and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 950°C and less than 1550°C
    • H01L2224/13144—Gold [Au] as principal constituent
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/10—Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/15—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
    • H01L2224/16—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/10—Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/15—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
    • H01L2224/16—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
    • H01L2224/161—Disposition
    • H01L2224/16151—Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/16221—Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/16225—Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/10—Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/15—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
    • H01L2224/16—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
    • H01L2224/161—Disposition
    • H01L2224/16151—Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/16221—Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/16225—Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • H01L2224/16227—Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation the bump connector connecting to a bond pad of the item
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/81—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a bump connector
    • H01L2224/8119—Arrangement of the bump connectors prior to mounting
    • H01L2224/81191—Arrangement of the bump connectors prior to mounting wherein the bump connectors are disposed only on the semiconductor or solid-state body
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/81—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a bump connector
    • H01L2224/818—Bonding techniques
    • H01L2224/81801—Soldering or alloying
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/83—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector
    • H01L2224/8312—Aligning
    • H01L2224/83136—Aligning involving guiding structures, e.g. spacers or supporting members
    • H01L2224/83138—Aligning involving guiding structures, e.g. spacers or supporting members the guiding structures being at least partially left in the finished device
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001—Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/00013—Fully indexed content
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001—Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/00014—Technical content checked by a classifier the subject-matter covered by the group, the symbol of which is combined with the symbol of this group, being disclosed without further technical details
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01—Chemical elements
    • H01L2924/01005—Boron [B]
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01—Chemical elements
    • H01L2924/01006—Carbon [C]
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01—Chemical elements
    • H01L2924/0101—Neon [Ne]
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01—Chemical elements
    • H01L2924/01029—Copper [Cu]
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01—Chemical elements
    • H01L2924/01033—Arsenic [As]
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01—Chemical elements
    • H01L2924/01047—Silver [Ag]
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01—Chemical elements
    • H01L2924/01052—Tellurium [Te]
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01—Chemical elements
    • H01L2924/01057—Lanthanum [La]
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01—Chemical elements
    • H01L2924/01058—Cerium [Ce]
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01—Chemical elements
    • H01L2924/01078—Platinum [Pt]
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01—Chemical elements
    • H01L2924/01079—Gold [Au]
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01—Chemical elements
    • H01L2924/01082—Lead [Pb]
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01—Chemical elements
    • H01L2924/01087—Francium [Fr]
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01—Chemical elements
    • H01L2924/01094—Plutonium [Pu]
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10—Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/102—Material of the semiconductor or solid state bodies
    • H01L2924/1025—Semiconducting materials
    • H01L2924/10251—Elemental semiconductors, i.e. Group IV
    • H01L2924/10253—Silicon [Si]
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15—Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/151—Die mounting substrate
    • H01L2924/1515—Shape
    • H01L2924/15151—Shape the die mounting substrate comprising an aperture, e.g. for underfilling, outgassing, window type wire connections
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15—Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/181—Encapsulation
    • H01L2924/183—Connection portion, e.g. seal
    • H01L2924/18301—Connection portion, e.g. seal being an anchoring portion, i.e. mechanical interlocking between the encapsulation resin and another package part
    • H—ELECTRICITY
    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2201/00—Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
    • H05K2201/03—Conductive materials
    • H05K2201/0332—Structure of the conductor
    • H05K2201/0364—Conductor shape
    • H05K2201/0367—Metallic bump or raised conductor not used as solder bump
    • H—ELECTRICITY
    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2201/00—Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
    • H05K2201/10—Details of components or other objects attached to or integrated in a printed circuit board
    • H05K2201/10613—Details of electrical connections of non-printed components, e.g. special leads
    • H05K2201/10621—Components characterised by their electrical contacts
    • H05K2201/10674—Flip chip
    • H—ELECTRICITY
    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2201/00—Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
    • H05K2201/10—Details of components or other objects attached to or integrated in a printed circuit board
    • H05K2201/10613—Details of electrical connections of non-printed components, e.g. special leads
    • H05K2201/10954—Other details of electrical connections
    • H05K2201/10977—Encapsulated connections
    • H—ELECTRICITY
    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2203/00—Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
    • H05K2203/11—Treatments characterised by their effect, e.g. heating, cooling, roughening
    • H05K2203/1189—Pressing leads, bumps or a die through an insulating layer
    • Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T29/00—Metal working
    • Y10T29/49—Method of mechanical manufacture
    • Y10T29/49002—Electrical device making
    • Y10T29/49117—Conductor or circuit manufacturing
    • Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T29/00—Metal working
    • Y10T29/49—Method of mechanical manufacture
    • Y10T29/49002—Electrical device making
    • Y10T29/49117—Conductor or circuit manufacturing
    • Y10T29/49124—On flat or curved insulated base, e.g., printed circuit, etc.
    • Y10T29/4913—Assembling to base an electrical component, e.g., capacitor, etc.
    • Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T29/00—Metal working
    • Y10T29/49—Method of mechanical manufacture
    • Y10T29/49002—Electrical device making
    • Y10T29/49117—Conductor or circuit manufacturing
    • Y10T29/49124—On flat or curved insulated base, e.g., printed circuit, etc.
    • Y10T29/4913—Assembling to base an electrical component, e.g., capacitor, etc.
    • Y10T29/49144—Assembling to base an electrical component, e.g., capacitor, etc. by metal fusion
    • Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T428/00—Stock material or miscellaneous articles
    • Y10T428/25—Web or sheet containing structurally defined element or component and including a second component containing structurally defined particles
    • Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T428/00—Stock material or miscellaneous articles
    • Y10T428/28—Web or sheet containing structurally defined element or component and having an adhesive outermost layer
    • Y10T428/2804—Next to metal

Definitions

  • the invention relates to the realization of an electrical connection between an electronic chip and its support, for example a soft support, such as that of an integrated smart passport.
  • a passport is made by means of a screen-printed antenna (for example by means of a conductive silver ink) directly on the cover.
  • a chip is then mounted, according to the so-called “flip-chip” technique (it is an assembly after reversal, generally performed with greater precision than in normal assembly, blind), so that some, predetermined, of its pads ("pads" in English) are electrically connected to appropriate terminals of the antenna.
  • these predetermined pads are previously provided with bosses (sometimes called "bumps” in English), which are protrusions relative to the level of these pads and those which are adjacent to them, and which guarantee in principle, especially in the case a mounting of a chip in a smart card (so rigid support), the antenna terminals, regardless of their size, will not come into contact with these pads adjacent to those who must be effectively connected.
  • bosses sometimes called "bumps” in English
  • this support can deform (by depression) only locally, so that the lateral portions of the terminals, not depressed, can create untimely connections with adjacent pads of the chip, despite the absence of bosses on them. This results in short circuit risks while the controls of the connection operation may have proved quite satisfactory.
  • FIG. 1 Such a situation is represented in FIG. 1, where the support 10, locally covered with a conductive ink terminal 11, is curved during the downward pressure of a chip 20 provided with studs 21 of which the one on the left is provided with of a boss 22: this boss locally depresses the support and the ink, while a lateral portion of the terminal 11, less depressed, comes into contact with the stud 21 on the right.
  • the conductive ink terminal is here represented as having a substantially constant thickness, but it should be noted that, depending on the technology used to deposit the terminal, particularly in the case of screen printing, it can be formed in practice. small side ink beads (not shown) whose height may be of the order of that of the bosses and which also generate a risk of inadvertent contact with adjacent pads.
  • the distance between two adjacent pads may indeed be only about 60 microns while their side is of the order of 80 microns, while the surface of the antenna terminals can go up to order of one square millimeter, with a width which is typically at least 150 microns (in the case of screen printing, in particular with an ink comprising conductive silver flakes with a diameter of 80 microns).
  • a width which is typically at least 150 microns (in the case of screen printing, in particular with an ink comprising conductive silver flakes with a diameter of 80 microns).
  • a chip placement machine with flipping option for example of the kind manufactured by the company DATACON (their cost may be of the order of 300,000 euros) comprises an automatic recognition system of the pads on the chip and alignment patterns on the support (a passport in the example).
  • the machine retrieves the chip (in practice within a disk of the order of 300 mm in diameter, formed by a multitude of similar chips), returns it and places it on the support according to the detected positions. Given that such a line, in such an operating option, is relatively slow (it can not exceed 1000 pieces per hour), it seems unacceptable to further strengthen the positioning constraints.
  • the same kind of problem may arise when it is desired to use pads or terminals of soft materials, even when the material constituting the support is not particularly soft, or when the terminal forming technique has shows large lateral beads, even on a rigid support.
  • the terminal (s) considered may be connected to one or more other different circuits of an antenna, such as another processor, a screen, etc. ; likewise the connection in question may concern not only the pads of a chip but also those of any other electronic component, for example those mentioned above.
  • the object of the invention is to overcome the aforementioned drawbacks, and aims at a method of mounting an electronic component, in particular an electronic chip, on a support which makes it possible to minimize the risks of inadvertent connection of a pad of the component with a terminal , even when the support is soft or when the formation technique of the terminal may cause side bumps to appear, while allowing a satisfactory rate of production in series, without having to reinforce the usual constraints of positioning the component vis-à-vis support, even by lightening them.
  • the invention also relates to an electronic entity comprising an electronic component, such as an electronic chip, mounted on a support, in particular but not necessarily an identity document such as a passport, whose pads of the component are reliably connected. terminals formed on the support, without inadvertent connection between such a terminal and another pad, even when the support is soft or when the terminals have side beads, and even when the (s) terminal (s) is (are) large size.
  • the invention proposes for this purpose a method of mounting an electronic component on a support, according to which:
  • connection pads of which at least one predetermined stud is provided with a boss, is taken
  • a support comprising at least one terminal to be electrically connected to said predetermined pad via said boss, this predetermined pin with the boss is brought into contact with this terminal, this boss is brought into contact with this terminal and fixed to each other, under given temperature and pressure conditions, characterized in that, before bringing into contact and fixing this boss and this terminal, the surface of this terminal is covered by an insulating layer, this insulating layer being of a material chosen so as to be traversed by this boss in said temperature and pressure conditions.
  • the electrical connection between a terminal and a pad which must be connected to it is established by a boss of which this pad is provided and which, when the component is brought into contact against the support, passes through the insulating layer; the insulating layer therefore remains everywhere else and maintains the electrical insulation between this terminal and any other pad that is not planned to connect (and which has not been provided with a boss).
  • the invention is particularly applicable in the case where the component is an electronic chip.
  • the interest of the invention can appear in many cases of supports, in particular rigid: in this case, the presence of the insulating layer can reduce the constraints on the conditions of contacting and fixing the stud and the terminal through the boss; fixing the boss and the terminal is now less likely than in known solutions to cause an inadvertent electrical connection between this terminal and another pad, especially when the formation of the terminals could bring up side bumps.
  • the invention is also particularly interesting in the case where the support is in a material capable of crashing under the given temperature and pressure conditions, since it is with such a type of support that the disadvantages may arise. described above about the manufacture of passports.
  • This concept of soft support can cover a wide range of materials, which firstly includes the case of supports made of a fibrous material, which corresponds to a wide range of medium cost media; in particular, there are paper-based materials that are easy to obtain for moderate costs.
  • a material that can be soft if a sufficiently low thickness is chosen
  • plastics for example PVC. It can be noted about the soft media that they may have, in some cases, the ability to be also partially traversed, such as the insulating layer (and therefore the terminal concerned) by the boss, which can result in a better electrical contact with this terminal.
  • the method can be applied to sheet media, and advantageously applies to the production of identity documents (passport, but also, possibly, access card, identity card, etc.). .
  • the boss can in principle be of any shape, including that of a simple extra thickness on a stud, since the insulating layer is capable of being traversed by the boss in the temperature and pressure conditions applied when setting in contact and fixation.
  • the boss advantageously has a shape that narrows away from the pad.
  • the invention takes advantage of bosses known per se (sometimes referred to in English as "stud bumps"), obtained by fusing the end of a fuse wire and which have a general shape of a ball (more or less irregular ) provided with a wedge portion or even a tip, generally considered hitherto as being rather a disadvantage.
  • the thickness of the boss is between 20 and 50 microns.
  • the boss may comprise pyramidal or prismatic portions. It is easily understood that, the more the geometry of the boss is pointed, the crossing of the insulating layer by it can be likened to a piercing of this layer, which can continue into the material constituting the terminal or the support.
  • the boss is made of gold or a gold alloy, although other materials may be considered, such as copper alloys for example.
  • the support comprises at least two terminals.
  • the terminals can be made by screen printing (or by pad printing, or flexography), using a conductive ink.
  • the ink may be deposited by gravure, offset, etc. ; it is also possible to obtain them by growing a metal or a metal alloy (for example copper) for example by electrolysis; in practice, the terminals can be formed at the same time as the conductive tracks of which they constitute the ends, for example the tracks of an antenna. It should be noted that it is also possible, for a number of flexible media, to form the terminals by a conventional photogravure.
  • the invention makes it possible to give these terminals a large area, which can thus reach between 66% and 95% of the surface of the support which is opposite of the electronic chip. This results in a significant reduction of the positioning constraints during the contacting.
  • these terminals Preferably, have an individual area greater than one square millimeter.
  • This layer may be continuous or discontinuous (in particular, there is advantageously a separation between the portions of this layer which cover, respectively, the terminals).
  • the terminals are part of an antenna formed on the support (which allows a contactless exchange of the component with the outside), and the insulating layer covers at least the major part of this antenna, in which case this layer has, near the component, an insulating function and, elsewhere, a protective function, for example mechanical or vis-à-vis moisture, the antenna and its support (especially if it is fibrous) .
  • the insulating layer may be made of various materials.
  • the capacity of the insulating layer to be traversed (which depends essentially on the material which constitutes it) can be an ability to evacuate laterally, by a kind of creep, under the thrust of the boss, or an ability to be punched, according to the geometry of the boss.
  • the insulating layer is in an insulating varnish, which corresponds to a well-known category of materials.
  • this insulating varnish is chosen so as to have a polymerization energy of less than 1000 mJ / cm 2 , preferably of the order of 500 mJ / cm 2 , which gives low shrinkage, and induces in practice no waviness of the support after drying and / or cooling.
  • the insulating layer may also be a non-conductive ink.
  • the insulating layer may in particular be deposited by screen printing. This insulating layer can be used to support a transverse conductive strand forming conductive bridge between two antenna tracks to be connected in series (see for example the document FR-2787609).
  • the insulating layer may also be a fibrous material, for example a thin sheet of paper (for example with a thickness of 15 microns).
  • a fibrous material for example a thin sheet of paper (for example with a thickness of 15 microns).
  • its thickness is advantageously between 5 and 25 microns, preferably between 10 and 15 microns.
  • An electronic entity obtained by the method of the invention is recognized in that it is an electronic entity comprising an electronic component, for example an electronic chip, on a medium, this medium comprising at least one terminal and this electronic component comprising studs of which at least one predetermined, is provided with a boss electrically connecting the stud to this terminal, characterized in that this terminal is covered with an insulating layer through which the boss.
  • Such an electronic entity obtained by the method of the invention advantageously has the particularity that the terminal further extends opposite a neighboring pad of the predetermined pad, this neighboring stud being devoid of boss and being separated from the terminal at least by said insulating layer.
  • FIG. 1 is a diagram of a detail of a section of the connection zone between a plot of a chip and an underlying terminal, according to the state of the art
  • FIG. 2 is a sectional view of a detail of a support according to a first step of the method of the invention
  • FIG. 3 is a sectional view of a detail of a chip that is to be connected to the support of FIG. 2, according to the invention
  • FIG. 4 is a sectional detail view, similar to that of FIG. 1, of the result of the assembly according to the invention of the electronic chip of FIG. 3, after reversal, on the support of FIG.
  • FIG. 5 is a schematic sectional view of an electronic entity according to an alternative embodiment of the invention.
  • FIG. 6 is a schematic sectional view of another electronic entity, according to another variant embodiment.
  • FIG. 7 is a view from below of the entity of FIG. 6, in the plane of the upper surface of the support, and
  • FIG. 8 is a diagrammatic perspective view of a passport including a sheet comprising a chip mounted on a support according to FIG.
  • FIG. 3 represents an electronic component 40, here an electronic chip, intended to be mounted, according to the invention, on the support 30 of FIG. 2.
  • the support 30 carries a terminal 31 (connected to a circuit not shown, also carried by the support, for example an antenna, see below). According to the invention, before mounting the chip, the surface of this terminal is covered with an insulating layer 32.
  • connection pads including pads 41A and 41B, one of which, here the pad 41A, is intended to be connected to the terminal 31; this stud is provided with a boss 42.
  • the mounting of the chip on the support is to put the pad 41 A provided with its boss (after flipping the chip vis-à-vis its configuration of Figure 3) facing the terminal 32 of the support, and then to contact the boss and the terminal and to fix them, under predetermined temperature and pressure conditions, the material constituting the insulating layer being such that, in said conditions of temperature and pressure, the boss passes through the insulating layer and establishes the connection of the pad with the terminal, without denuding the rest of the surface of the terminal. Consequently, although the support has been somewhat depressed at the point where the boss 42 is supported, the insulating layer 32 prevents the left-hand side portion of this terminal 31 from coming into contact with the stud 41 B, unlike the which has been found in relation to Figure 1.
  • the support is advantageously made of a material capable of crashing under the conditions of temperature and pressure, that is to say that the invention can be applied to soft materials, such as fibrous materials, preferably sheet-like.
  • the support can be in particular paper. This is for example the paper sold by the company FIBER MARK under the name SECURALIN ®. Alternatively, it may also be a fibrous material of the synthetic fiber paper type, etc.
  • this support is a plastic sheet, for example PVC, preferably less than 200 microns thick.
  • the boss with which the stud to be connected may be a boss of any shape, for example generally parallelepipedal (obtained for example by electrolytic growth), but, advantageously, it has a shape that narrows away from the stud, so as to facilitate the crossing of the insulating layer during the contacting / fixing step.
  • This shape can thus be that of a ball, spherical or flattened.
  • this boss comprises a wedge portion (for example a prismatic or pyramidal portion), or even a pointed portion.
  • the boss is advantageously of the type called "stud bump "in English, that is to say that it is obtained by fusing the end of a fuse wire, thanks to which this boss has the shape of a ball that has a pointed portion.
  • the obtaining of such a boss is shown schematically in Figure 3 where we see the wire 100 which has just detached a small mass forming the boss 42.
  • This boss can be obtained by an ultrasonic welding machine, starting with place the wire in a capillary tube; a ball is defined by melting the end of the wire by an electric discharge and then comes to crush this ball against the stud.
  • the capillary tube has a shape that creates a small tail when the capillary rises and the wire breaks at its junction with the ball.
  • the diameter of such a boss is typically 25 microns or 32 microns depending on operating conditions or son.
  • a boss such as that of Figure 3 has, without the wedge portion (namely the aforementioned tail), a thickness which is typically of the order of 20 to 50 microns, for example about 40 microns. It should be noted in FIG. 4 that, not only does the boss pass through the insulating layer, but it also passes through the layer forming the terminal and penetrates into the support itself, which ensures a very good electrical contact, with very good mechanical strength of this connection
  • the boss is preferably gold or gold alloy, it being understood that other conductive materials may be used.
  • FIG. 5 represents an electronic entity obtained by the method which has just been described, with however variants.
  • FIG. 5 represents a support 50 on which a chip 60 has been mounted. This support is shown with two terminals 51 extending to the right as to the left by a conductive track 55.
  • terminals are here both covered by the insulating layer 52. However, it is here discontinuous in that it does not extend over the surface of the support between these two terminals; this insulating layer however extends here on at least the major part of the surface of the support (covered or not by the terminals) facing the chip; it extends here furthermore on track portions 55 of which these terminals are extensions.
  • a filling resin 63 Before or after the contacting of the bosses 62 with the terminals 51 (the studs are not shown), there is advantageously deposited a filling resin 63, so as to fill the space between the support provided with its terminals and the insulating layer, and the electronic chip; this filling resin 63 is sometimes called in English "underfill".
  • the electronic chip has also been embedded in a protective resin 64.
  • FIGS. 6 and 7 represent an alternative embodiment of the electronic entity of FIG. 5.
  • the elements of the entity of these FIGS. 6 and 7 which are similar to those of the entity of FIG. same reference signs, although followed by the premium index.
  • terminals 51 ' are larger than in FIG. 5, to cover between 66% and 95% of the surface of the support which is opposite the electronic chip (leaving, of course, space between the terminals to avoid any short circuit between them).
  • the area of these terminals may exceed one square millimeter.
  • the insulating layer 52 extends, like that of the layer 52 of Figure 5, on almost the entire surface of the support facing the chip and on track portions 55 leading to these terminals 51, with here also a spacing between its respective portions covering the terminals.
  • the filler resin 63 here further extends in the mass of the support, between the terminals, to the point of causing an anchorage 63'A in the support.
  • this anchoring is represented with a depth quite exaggerated, and can not occur in particular with a support capable of being wetted by this filling resin.
  • the insulating layer may extend over as large a surface as may be desired for reasons of protection or for any other reason.
  • the support 52 of FIG. 5 is represented in the form of the cover, for example made of paper, of an identity document, here a passport
  • the chip (it is not possible to does not distinguish it in the mass of protective resin 64) is connected, via the terminals, to a circuit also carried by this support, here an antenna 55.
  • the insulating layer extends not only between the chip and the terminals (except where it is crossed by the bosses) but also on the entire antenna.
  • the insulating layer may be of various kinds.
  • it can be made of an insulating varnish, which corresponds to a type of material easy to install; we know how to deposit it and dry it by well-controlled techniques.
  • This varnish is advantageously chosen so as to have a polymerization energy of less than 1000 mJ / cm 2 , preferably of the order of 500 mJ / cm 2 , which gives this insulating varnish a slight shrinkage, and thus minimizes ripple phenomena that can affect the sheet after mounting and fixing the chip.
  • This varnish is for example a varnish known as ACHESON PF455.
  • the insulating layer may also be produced using a non-conductive ink.
  • This insulating layer may be deposited by screen printing. Alternatively one can proceed by spraying.
  • this layer may also be made of a fibrous material, for example paper (for example a thin sheet of 15 microns thick).
  • this insulating layer typically has a thickness of between 5 and 25 microns, preferably between 10 and 15 microns, which is a good compromise to allow a passage through the bosses while maintaining good electrical insulation elsewhere.
  • the conditions of temperature and pressure applied during the assembly of the chip may be, in the case considered a varnish, the polymerization conditions of the resin constituting this varnish, for example: heating head at 18O 0 C under a pressure 370 grams for 8 seconds.
  • the temperature of the table supporting the sheet forming the support is reduced to around 45 ° C. (a temperature of 60 ° C. in principle makes it possible to compensate losses, but can reveal too high to avoid a softening of the varnish which could then hinder the crossing of the bosses).
  • the positioning constraints of the chip are very moderate, typically at +/- 0.5 mm,
  • the same material (that of the insulating layer) allows both good insulation near the chip, and good protection of the circuit to which the terminals lead.

Abstract

Pour monter un composant électronique, tel qu'une puce électronique, sur un support : * on prend un composant électronique 40 comportant des plots de connexion, dont un plot 41 A, prédéterminé, est muni d'un bossage 42, * on prend un support 30 comportant au moins un terminal 31 à connecter électriquement audit plot prédéterminé par l'intermédiaire dudit bossage, * on met en regard ce plot prédéterminé muni du bossage et ce terminal, on met en contact ce bossage et ce terminal et on les fixe l'un à l'autre dans des conditions données de température et de pression. Avant de mettre en contact et de fixer ce bossage et ce terminal, on recouvre la surface de ce terminal par une couche isolante 32, cette couche isolante étant en un matériau choisi en sorte d'être traversé par ce bossage dans lesdites conditions de température et de pression.

Description

Procédé de montage d'un composant électronique sur un support, de préférence mou, et entité électronique ainsi obtenue, telle qu'un passeport
L'invention concerne la réalisation d'une connexion électrique entre une puce électronique et son support, par exemple un support mou, tel que celui d'un passeport à puce intégrée.
On a déjà proposé de fabriquer des passeports dans lesquels une puce d'identification est intégrée à une feuille, par exemple une couverture, et est connectée à une antenne, réalisée dans l'épaisseur de cette feuille, grâce à laquelle cette puce peut communiquer avec l'extérieur sans contact (il n'y a donc pas de plot de contact apparent, ce qui assure une grande discrétion).
C'est ainsi que, selon une technique connue, un passeport est réalisé au moyen d'une antenne sérigraphiée (par exemple au moyen d'une encre conductrice à l'argent) directement sur la couverture. Une puce est ensuite montée, selon la technique dite « flip-chip » (c'est un montage après retournement, généralement effectué avec une plus grande précision qu'en montage normal, en aveugle), de telle sorte que certains, prédéterminés, de ses plots (« pads » en anglais) sont connectés électriquement à des terminaux appropriés de l'antenne. En pratique, ces plots prédéterminés sont préalablement munis de bossages (parfois appelés « bumps » en anglais), qui constituent des saillies par rapport au niveau de ces plots et de ceux qui leur sont voisins, et qui garantissent en principe, notamment dans le cas d'un montage d'une puce dans une carte à puce (donc à support rigide), que les terminaux d'antenne, indépendamment de leur taille, ne viendront pas en contact avec ces plots adjacents à ceux qui doivent être effectivement connectés. Mais il s'avère que, dans un produit souple tel que la couverture d'un passeport, l'étape de réalisation de la connexion entre la puce et les terminaux d'antenne est perturbée par le fait que le support est mou (c'est en pratique du papier) et que les plots des puces peuvent être très proches. Lorsque l'on presse la puce contre les terminaux de l'antenne (donc contre le support mou), ce support peut ne se déformer (par enfoncement) que localement, de sorte que les portions latérales des terminaux, non enfoncées, peuvent créer des connexions intempestives avec des plots adjacents de la puce, malgré l'absence de bossages sur ceux-ci. Il en découle des risques de court-circuit alors que les contrôles de l'opération de connexion peuvent s'être révélés tout à fait satisfaisants.
Une telle situation est représentée à la figure 1 , où le support 10, recouvert localement d'un terminal 11 en encre conductrice, est incurvé lors de la pression vers le bas d'une puce 20 munie de plots 21 dont celui de gauche est muni d'un bossage 22 : ce bossage enfonce localement le support et l'encre, tandis qu'une portion latérale du terminal 11 , moins enfoncée, vient en contact avec le plot 21 de droite. En fait, le terminal d'encre conductrice est ici représenté comme ayant une épaisseur sensiblement constante, mais il faut noter que, en fonction de la technologie utilisée pour déposer le terminal, notamment dans le cas de la sérigraphie, il peut se former en pratique des petits bourrelets d'encre latéraux (non représentés) dont la hauteur peut être de l'ordre de celle des bossages et qui génèrent donc aussi un risque de contact intempestif avec des plots adjacents.
La distance entre deux plots adjacents peut n'être en effet que de l'ordre de 60 microns alors que leur côté est de l'ordre de 80 microns, tandis que la surface des terminaux d'antenne peut aller jusqu'à de l'ordre du millimètre carré, avec une largeur qui est typiquement au moins égale à 150 microns (dans le cas d'une sérigraphie, en particulier avec une encre comportant des paillettes d'argent conductrices d'un diamètre de 80 microns). En pratique on peut considérer que le problème précité risque de se poser chaque fois qu'il y a des plots dont la distance (centre à centre) descend en dessous de 250 microns. On pourrait penser à réduire les dimensions des terminaux, mais cela impliquerait d'augmenter très sérieusement les contraintes de positionnement, au point d'empêcher toute production réelle en série. Il est rappelé ici qu'une machine de placement de puce avec option de retournement (cas « flip-chip »), par exemple du genre de celles fabriquées par la société DATACON (leur coût peut être de l'ordre de 300.000 euros) comporte un système de reconnaissance automatique des plots sur la puce et de motifs d'alignement sur le support (un passeport dans l'exemple considéré). La machine récupère la puce (en pratique au sein d'un disque de l'ordre de 300 mm de diamètre, formé d'une multitude de puces similaires), la retourne et vient la placer sur le support en fonction des positions détectées. Compte tenu de ce qu'une telle ligne, dans une telle option de fonctionnement, est relativement lente (elle ne peut pas dépasser 1000 pièces à l'heure), il paraît rédhibitoire de renforcer encore les contraintes de positionnement. On comprend que le même genre de problème peut se poser lorsque l'on souhaite utiliser des plots ou des terminaux en matériaux mous, même lorsque le matériau constitutif du support n'est pas particulièrement mou, ou encore lorsque la technique de formation des terminaux a fait apparaître des bourrelets latéraux importants, même sur un support rigide. Par ailleurs, le (ou les) terminal(aux) considéré(s) peut(peuvent) être connecté(s) à un ou plusieurs autres circuits différents d'une antenne, tels qu'un autre processeur, un écran, etc.. ; de même la connexion en cause peut concerner non seulement des plots d'une puce mais aussi ceux d'un quelconque autre composant électronique, par exemple ceux précités. L'invention a pour objet de pallier les inconvénients précités, et vise un procédé de montage d'un composant électronique, notamment une puce électronique, sur un support qui permette de minimiser les risques de connexion intempestive d'un plot du composant avec un terminal, même lorsque le support est mou ou lorsque la technique de formation du terminal risque de faire apparaître des bourrelets latéraux, tout en permettant une cadence satisfaisante de production en série, sans avoir à renforcer les contraintes habituelles de positionnement du composant vis-à-vis du support, voire en les allégeant. L'invention vise également une entité électronique comportant un composant électronique, tel qu'une puce électronique, monté sur un support, notamment mais pas nécessairement une pièce d'identité telle qu'un passeport, dont des plots du composant sont connectés de manière fiable à des terminaux formés sur le support, sans connexion intempestive entre un tel terminal et un autre plot, même lorsque le support est mou ou lorsque les terminaux comportent des bourrelets latéraux, et même lorsque le(s) terminal(aux) est(sont) de grande taille.
L'invention propose à cet effet un procédé de montage d'un composant électronique sur un support, selon lequel :
* on prend un composant électronique comportant des plots de connexion, dont au moins un plot, prédéterminé, est muni d'un bossage,
* on prend un support comportant au moins un terminal à connecter électriquement audit plot prédéterminé par l'intermédiaire dudit bossage, * on met en regard ce plot prédéterminé muni du bossage et ce terminal, on met en contact ce bossage et ce terminal et on les fixe l'un à l'autre, dans des conditions données de température et de pression, caractérisé en ce que, avant de mettre en contact et de fixer ce bossage et ce terminal, on recouvre la surface de ce terminal par une couche isolante, cette couche isolante étant en un matériau choisi en sorte d'être traversé par ce bossage dans lesdites conditions de température et de pression.
Ainsi, la connexion électrique entre un terminal et un plot qui doit lui être connecté est établie par un bossage dont ce plot est muni et qui, lors de la mise en contact du composant contre le support, traverse la couche isolante ; la couche isolante subsiste donc partout ailleurs et maintient l'isolation électrique entre ce terminal et tout autre plot qu'il n'est pas prévu de lui connecter (et qui n'a donc pas été muni d'un bossage).
L'invention s'applique tout particulièrement bien au cas où le composant est une puce électronique.
L'intérêt de l'invention peut apparaître dans de nombreux cas de supports, notamment rigides : dans ce cas, la présence de la couche isolante peut permettre de réduire les contraintes sur les conditions de mise en contact et de fixation du plot et du terminal par l'intermédiaire du bossage ; la fixation du bossage et du terminal a désormais moins de chances que dans les solutions connues de provoquer une connexion électrique intempestive entre ce terminal et un autre plot, surtout lorsque la formation des terminaux a pu faire apparaître des bourrelets latéraux. Mais l'invention est aussi tout particulièrement intéressante dans le cas où le support est en un matériau capable de s'écraser dans les conditions données de température et de pression, puisque c'est avec un tel type de support que peuvent se présenter les inconvénients décrits ci- dessus à propos de la fabrication de passeports.
Cette notion de support mou (on peut aussi dire qu'un tel support est compressible) peut recouvrir une large gamme de matériaux, qui comprend tout d'abord le cas des supports réalisés en un matériau fibreux, ce qui correspond à une large gamme de supports de coût modéré ; on y trouve en particulier les matériaux à base de papier, faciles à obtenir pour des coûts modérés. Un autre exemple intéressant de matériau pouvant être mou (si l'on choisit une épaisseur suffisamment faible) est celui des matières plastiques, par exemple le PVC. Il peut être noté à propos des supports mous qu'ils ont éventuellement, dans certains cas, la capacité d'être aussi en partie traversés, comme la couche isolante (et donc le terminal concerné) par le bossage, ce qui peut aboutir à un meilleur contact électrique avec ce terminal.
On comprend aisément que le procédé peut s'appliquer à des supports en feuille, et s'applique avantageusement à la réalisation de pièces d'identité (passeport, mais aussi, éventuellement, carte d'accès, carte d'identité, etc.).
Le bossage peut en principe avoir une forme quelconque, y compris celle d'une simple surépaisseur sur un plot, dès lors que la couche isolante est capable d'être traversée par le bossage dans les conditions de température et de pression appliquées lors de la mise en contact et la fixation. Toutefois, de manière préférée, pour favoriser la pénétration du bossage dans la couche isolante, celui-ci a avantageusement une forme qui se rétrécit à l'opposé du plot. En particulier, l'invention tire profit de bossages connus en soi (parfois désignés en anglais par « stud bumps »), obtenus par fusion de l'extrémité d'un fil fusible et qui ont une forme générale de boule (plus ou moins irrégulière) munie d'une portion en coin, voire en pointe, généralement considérée jusqu'ici comme étant plutôt un inconvénient. De manière préférée, l'épaisseur du bossage, sans la portion en coin, est comprise entre 20 et 50 microns. En variante, le bossage peut comporter des portions pyramidales ou prismatiques. On comprend aisément que, plus la géométrie du bossage est pointue, plus la traversée de la couche isolante par celui-ci peut être assimilée à un percement de cette couche, qui peut se poursuivre jusque dans le matériau constitutif du terminal, voire du support.
De manière générale, le bossage est en or ou en alliage d'or, même si d'autres matériaux peuvent être considérés, tels que les alliages de cuivre par exemple. De manière préférée, le support comporte au moins deux terminaux.
Les terminaux peuvent être réalisés par sérigraphie (voire par tampographie, ou flexographie), à l'aide d'une encre conductrice. En variante, l'encre peut être déposée par héliogravure, offset, etc. ; on peut aussi prévoir de les obtenir en faisant croître un métal ou un alliage métallique (par exemple du cuivre) par exemple par électroiyse ; en pratique, les terminaux peuvent être formés en même temps que les pistes conductrices dont elles constituent les extrémités, par exemple les pistes d'une antenne. Il mérite d'être noté qu'on peut aussi, pour un certain nombre de supports souples, procéder à la formation des terminaux par une photogravure classique. Compte tenu de la bonne isolation des terminaux par rapport à des plots non munis de bossages, l'invention permet de donner à ces terminaux une grande superficie, qui peut ainsi atteindre entre 66% et 95% de la surface du support qui est en regard de la puce électronique. Il en résulte une réduction sensible des contraintes de positionnement lors de la mise en contact. Préférentiellement, ces terminaux ont une superficie individuelle supérieure au millimètre carré. II n'y a pas de limite non plus à la superficie de la couche isolante, ce qui est tout à fait favorable à la minimisation des connexions intempestives. C'est ainsi qu'elle peut recouvrir les terminaux que comporte le support dans la région où le composant doit être monté. Elle peut même s'étendre au moins sur la majeure partie de la surface du support qui est en regard du composant électronique lors de l'étape de mise en contact. Cette couche peut être continue ou discontinue (en particulier, il y a avantageusement une séparation entre les portions de cette couche qui recouvrent, respectivement, les terminaux).
Dans un cas particulièrement intéressant, les terminaux font partie d'une antenne formée sur le support (ce qui permet un échange sans contact du composant avec l'extérieur), et la couche isolante couvre au moins la majeure partie de cette antenne, auquel cas cette couche a, auprès du composant, une fonction isolante et, ailleurs, une fonction de protection, par exemple mécanique ou vis-à-vis de l'humidité, de l'antenne et de son support (surtout s'il est fibreux).
La couche isolante peut être réalisée en des matériaux divers.
En fait, sans vouloir être limité par une explication physique, la capacité de la couche isolante à être traversée (ce qui dépend essentiellement du matériau qui la constitue) peut être une capacité à s'évacuer latéralement, par une sorte de fluage, sous la poussée du bossage, ou une capacité à être perforé, selon la géométrie du bossage.
C'est ainsi que de manière avantageuse, la couche isolante est en un vernis isolant, ce qui correspond à une catégorie de matériaux bien connue. De manière préférée, ce vernis isolant est choisi en sorte d'avoir une énergie de polymérisation de moins de 1000 mJ/cm2, de préférence de l'ordre de 500 mJ/cm2, ce qui confère un faible retrait, et n'induit en pratique aucune ondulation du support après séchage et/ou refroidissement.
Mais la couche isolante peut aussi être une encre non-conductrice.
Qu'il s'agisse d'un vernis ou d'une encre isolante, la couche isolante peut notamment être déposée par sérigraphie. Cette couche isolante peut être mise à profit pour servir de support à un brin conducteur transversal formant pont conducteur entre deux pistes d'antenne à connecter en série (voir par exemple le document FR-2787609).
Mais la couche isolante peut aussi être un matériau fibreux, par exemple une fine feuille de papier (par exemple d'épaisseur de 15 microns). En fait, quel que soit le matériau constitutif de la couche isolante, son épaisseur est avantageusement comprise entre 5 et 25 microns, préférentiellement entre 10 et 15 microns.
Selon des caractéristiques avantageuses connues en soi dans la fabrication de cartes à puce, après l'étape de mise en contact, on remplit l'espace compris entre le support, muni de ses terminaux et de la couche isolante, et la puce électronique, d'une résine de remplissage, et/ou on noie la puce électronique dans une résine de protection.
Une entité électronique obtenue par le procédé de l'invention se reconnaît en ce que c'est une entité électronique comportant un composant électronique, par exemple une puce électronique, sur un support, ce support comportant au moins un terminal et ce composant électronique comportant des plots dont l'un au moins, prédéterminé, est muni d'un bossage connectant électriquement ce plot à ce terminal, caractérisé en ce que ce terminal est recouvert d'une couche isolante traversée par le bossage. Une telle entité électronique obtenue par le procédé de l'invention a avantageusement la particularité que le terminal s'étend en outre en regard d'un plot voisin du plot prédéterminé, ce plot voisin étant dépourvu de bossage et étant séparé du terminal au moins par ladite couche isolante.
D'autres caractéristiques avantageuses de cette entité correspondent aux caractéristiques avantageuses mentionnées ci-dessus à propos du procédé de l'invention.
Des objets, caractéristiques et avantages de l'invention ressortent de la description qui suit, donnée à titre d'exemple illustratif non limitatif, en regard des dessins annexés sur lesquels : • la figure 1 est un schéma d'un détail d'une coupe de la zone de connexion entre un plot d'une puce et un terminal sous-jacent, selon l'état de la technique, • la figure 2 est une vue en coupe d'un détail d'un support selon une première étape du procédé de l'invention,
• la figure 3 est une vue en coupe d'un détail d'une puce que l'on veut connecter au support de la figure 2, conformément à l'invention,
• la figure 4 est une vue de détail en coupe, analogue à celle de la figure 1 , du résultat du montage selon l'invention de la puce électronique de la figure 3, après retournement, sur le support de la figure 2, • la figure 5 est une vue schématique en coupe d'une entité électronique conforme à une variante de réalisation de l'invention,
• la figure 6 est une vue schématique en coupe d'une autre entité électronique, selon une autre variante de réalisation,
• la figure 7 est une vue de dessous de l'entité de la figure 6, dans le plan de la surface supérieure du support, et
• la figure 8 est une vue schématique en perspective d'un passeport dont une feuille comporte une puce montée sur un support conformément à la figure 5.
La figure 3 représente un composant électronique 40, ici une puce électronique, destiné à être montée, selon l'invention, sur le support 30 de la figure 2.
Le support 30 porte un terminal 31 (connecté à un circuit non représenté, également porté par le support, par exemple une antenne, voir ci- dessous). Selon l'invention, avant d'y monter la puce, on recouvre la surface de ce terminal d'une couche isolante 32.
Quant à la puce 40, elle comporte des plots de connexion, dont des plots 41 A et 41 B, dont l'un, ici le plot 41 A, est destiné à être connecté au terminal 31 ; ce plot est muni d'un bossage 42.
Le montage de la puce sur le support consiste à mettre le plot 41 A muni de son bossage (après retournement de la puce vis-à-vis de sa configuration de la figure 3) en regard du terminal 32 du support, puis à mettre en contact ce bossage et ce terminal et à les fixer, dans des conditions de température et de pression prédéterminées, le matériau constitutif de la couche isolante étant tel que, dans lesdites conditions de température et de pression, le bossage traverse la couche isolante et établit la connexion du plot avec le terminal, sans pour autant dénuder le reste de la surface du terminal. En conséquence, bien que le support se soit quelque peu enfoncé à l'endroit où appuie le bossage 42, la couche isolante 32 empêche que la portion latérale gauche de ce terminal 31 vienne en contact avec le plot 41 B, à la différence de ce qui a été constaté à propos de la figure 1.
Dans l'exemple considéré, le support est en effet avantageusement réalisé en un matériau capable de s'écraser dans les conditions de température et de pression, c'est-à-dire que l'invention peut s'appliquer à des matériaux mous, tels que des matériaux fibreux, avantageusement en forme de feuille. C'est ainsi que le support peut être notamment du papier. Il s'agit par exemple du papier vendu par la société FIBER MARK sous la désignation SECURALIN ®. En variante il peut s'agir aussi d'un matériau fibreux du type papier à fibres synthétiques, etc.
En variante, ce support est une feuille de matière plastique, par exemple du PVC, d'une épaisseur avantageusement inférieure à 200 microns.
Ainsi qu'on le verra plus loin le choix du papier, ou d'une matière plastique, permet notamment que l'invention puisse s'appliquer à une pièce d'identité.
Le bossage dont le plot à connecter est muni peut être un bossage de forme quelconque, par exemple globalement parallélépipédique (obtenu par exemple par croissance électrolytique), mais, de manière avantageuse, il a une forme qui se rétrécit à l'opposé du plot, en sorte de faciliter la traversée de la couche isolante lors de l'étape de mise en contact/fixation.
Cette forme peut ainsi être celle d'une boule, sphérique ou aplatie. Toutefois, de manière préférée, ce bossage comporte une portion en coin (par exemple une portion prismatique ou pyramidale), voire une portion en pointe. C'est ainsi que le bossage est avantageusement du type appelé « stud bump » en anglais, c'est-à-dire qu'il est obtenu par fusion de l'extrémité d'un fil fusible, grâce à quoi ce bossage a la forme d'une boule qui comporte une portion en pointe. L'obtention d'un tel bossage est schématisée à la figure 3 où l'on voit le fil 100 dont on vient de détacher une petite masse formant le bossage 42. Ce bossage peut être obtenu par une machine de soudure ultrasonique, en commençant par placer le fil dans un tube capillaire ; on définit une boule en faisant fondre le bout du fil par une décharge électrique et on vient écraser ensuite cette boule contre le plot. Le tube capillaire a une forme telle qu'on crée une petite queue lorsque le capillaire remonte et que le fil se casse à sa jonction avec la boule. Le diamètre d'un tel bossage est typiquement de 25 microns ou de 32 microns en fonction des conditions opératoires ou des fils.
Un bossage tel que celui de la figure 3 a, sans la portion en coin (à savoir la queue précité), une épaisseur qui est typiquement de l'ordre de 20 à 50 microns, par exemple de 40 microns environ. II mérite d'être noté sur la figure 4 que, non seulement le bossage traverse la couche isolante, mais il traverse en outre la couche formant le terminal et pénètre dans le support lui-même, ce qui assure un très bon contact électrique, avec une très bonne tenue mécanique de cette liaison
Le bossage est avantageusement en or ou en alliage d'or, étant bien entendu que d'autres matériaux conducteurs peuvent être utilisés.
La figure 5 représente une entité électronique obtenue par le procédé qui vient d'être décrit, avec toutefois des variantes.
Cette figure 5 représente un support 50 sur lequel une puce 60 a été montée. Ce support est représenté avec deux terminaux 51 se prolongeant à droite comme à gauche par une piste conductrice 55.
Ces terminaux sont ici tous deux recouverts par la couche isolante 52. Toutefois, celle-ci est ici discontinue en ce sens qu'elle ne s'étend pas sur la surface du support entre ces deux terminaux ; cette couche isolante s'étend néanmoins ici sur au moins la majeure partie de la surface du support (recouverte ou non par les terminaux) en regard de la puce ; elle s'étend ici en outre sur des portions de piste 55 dont ces terminaux sont des prolongements. Avant ou après la mise en contact des bossages 62 avec les terminaux 51 (les plots ne sont pas représentés), il y a avantageusement dépose d'une résine de remplissage 63, en sorte de remplir l'espace compris entre le support, muni de ses terminaux et de la couche isolante, et la puce électronique ; cette résine de remplissage 63 est parfois appelée en anglais « underfill ». Par ailleurs on a en outre noyé la puce électronique dans une résine de protection 64. La présence de telles résines de remplissage et/ou de protection étant connue en soi dans le domaine des cartes à puce, elles ne seront pas détaillées ici. Les figures 6 et 7 représentent une variante de réalisation de l'entité électronique de la figure 5. Les éléments de l'entité de ces figures 6 et 7 qui sont analogues à ceux de l'entité de la figure 5 y sont affectés par les mêmes signes de référence, quoique suivis de l'indice « prime ».
On observe que les terminaux 51' sont de plus grande taille que sur la figure 5, au point de recouvrir entre 66% et 95% de la surface du support qui est en regard de la puce électronique (en laissant subsister, bien sûr, un espace entre les terminaux pour éviter tout court-circuit entre eux). La superficie de ces terminaux peut dépasser le millimètre carré.
En outre, la couche isolante 52' s'étend, comme celle de la couche 52 de la figure 5, sur la quasi-totalité de la surface du support en regard de la puce ainsi que sur des portions de piste 55 aboutissant à ces terminaux 51 , avec ici aussi un espacement entre ses portions respectives couvrant les terminaux. Par contre, la résine de remplissage 63' s'étend ici en outre dans la masse du support, entre les terminaux, au point de provoquer un ancrage 63'A dans le support. Bien entendu, cet ancrage est représenté avec une profondeur tout à fait exagérée, et ne peut se produire notamment qu'avec un support capable d'être mouillé par cette résine de remplissage.
La couche isolante peut s'étendre sur une surface aussi grande qu'on peut le souhaiter pour de raisons de protection ou pour toute autre raison. C'est ainsi que, sur la figure 8, où le support 52 de la figure 5 est représenté sous la forme de la couverture, par exemple en papier, d'un document d'identité, ici un passeport, la puce (on ne la distingue pas dans la masse de résine de protection 64) est connectée, par l'intermédiaire des terminaux, à un circuit également porté par ce support, ici une antenne 55. La couche isolante s'étend non seulement entre la puce et les terminaux (sauf là où elle est traversée par les bossages) mais en outre sur la totalité de l'antenne.
La couche isolante peut être de diverses natures. C'est ainsi qu'elle peut être réalisée en un vernis isolant, ce qui correspond à un type de matériau facile à poser ; on sait le déposer et le faire sécher par des techniques bien maîtrisées. Ce vernis est avantageusement choisi en sorte d'avoir une énergie de polymérisation de moins de 1000 mJ/cm2, préférentiellement de l'ordre de 500 mJ/cm2, ce qui confère à ce vernis isolant un faible retrait, et minimise donc les phénomènes d'ondulations qui peuvent affecter la feuille après le montage et la fixation de la puce. Ce vernis est par exemple un vernis connu sous l'appellation ACHESON PF455. En variante non représentée, la couche isolante peut aussi être réalisée à l'aide d'une encre non conductrice.
Cette couche isolante peut être déposée par sérigraphie. En variante on peut procéder par pulvérisation.
Mais cette couche peut aussi être réalisée en un matériau fibreux, par exemple en papier (par exemple une fine feuille de 15 microns d'épaisseur).
Quelle que soit sa composition, cette couche isolante a typiquement une épaisseur comprise entre 5 et 25 microns, préférentiellement entre 10 et 15 microns, ce qui est un bon compromis pour permettre une traversée par les bossages tout en maintenant ailleurs une bonne isolation électrique. Les conditions de température et de pression appliquées lors du montage de la puce peuvent être, dans le cas considéré d'un vernis, les conditions de polymérisation de la résine constituant ce vernis, par exemple : tête chauffante à 18O0C, sous une pression de 370 grammes pendant 8 secondes. Toutefois, de manière avantageuse, la température de la table supportant la feuille formant le support est réduite aux alentours de 45 0C (une température de 600C permet en principe de compenser les pertes, mais peut se révéler trop élevée pour éviter un ramollissement du vernis qui pourrait alors gêner la traversée par les bossages).
On appréciera que selon l'invention :
- on ne connecte que les plots qui doivent l'être, - il n'y a pas d'impératif sur la taille des terminaux,
- les contraintes de positionnement de la puce sont très modérées, typiquement à +/- 0.5 mm,
- il est même possible de déposer les puces en aveugle, (la machine n'a plus besoin de savoir reconnaître les plots sur la puce,
- il n'est plus nécessaire d'avoir la précision de positionnement des machines ayant l'option « flip-chip » (il suffit de positionner les puces en configuration déjà retournée), ce qui permet à la fois d'utiliser des machines moins coûteuses que les machines de grande précision capables d'effectuer un tel retournement, et d'atteindre des cadences élevées, par exemple de l'ordre de 5000 puces à l'heure,
- un même matériau (celui de la couche isolante) permet à la fois une bonne isolation à proximité de la puce, et une bonne protection du circuit auquel mènent les terminaux.

Claims

REVENDICATIONS
1. Procédé de montage d'un composant électronique sur un support, selon lequel :
* on prend un composant électronique (40, 60, 60') comportant des plots de connexion, dont au moins un plot (41A), prédéterminé, est muni d'un bossage (42, 62, 62'),
* on prend un support (30, 50, 50') comportant au moins un terminal (31 , 51 , 51') à connecter électriquement audit plot prédéterminé par l'intermédiaire dudit bossage, * on met en regard ce plot prédéterminé muni du bossage et ce terminal, on met en contact ce bossage et ce terminal et on les fixe l'un à l'autre, dans des conditions données de température et de pression, caractérisé en ce que, avant de mettre en contact et de fixer ce bossage et ce terminal, on recouvre la surface de ce terminal par une couche isolante (32, 52, 52'), cette couche isolante étant en un matériau choisi en sorte d'être traversé par ce bossage dans lesdites conditions de température et de pression.
2. Procédé selon la revendication 1 , caractérisé en ce que le composant est une puce électronique.
3. Procédé selon la revendication 1 ou la revendication 2, caractérisé en ce que le support est en un matériau capable de s'écraser dans les conditions de température et de pression.
4. Procédé selon l'une quelconque des revendications 1 à 3, caractérisé en ce que le support est réalisé en un matériau fibreux.
5. Procédé selon la revendication 4, caractérisé en ce que le support est réalisé en un matériau à base de papier.
6. Procédé selon l'une quelconque des revendications 1 à 3, caractérisé en ce que le support est réalisé en une matière plastique.
7. Procédé selon l'une quelconque des revendications 1 à 6, caractérisé en ce que le support fait partie d'une pièce d'identité.
8. Procédé selon l'une quelconque des revendications 1 à 7, caractérisé en ce que ledit bossage du plot prédéterminé du composant électronique a une forme qui se rétrécit à l'opposé du plot, en sorte de faciliter la traversée de la couche isolante lors de l'étape de mise en contact.
9. Procédé selon la revendication 8, caractérisé en ce que ledit bossage est formé par fusion de l'extrémité d'un fil fusible, grâce à quoi ce bossage a la forme d'une boule qui comporte une portion en coin.
10. Procédé selon la revendication 9, caractérisé en ce que l'épaisseur du bossage, sans la portion en coin, est comprise entre 20 et 50 microns.
11. Procédé selon l'une quelconque des revendications 8 à 10, caractérisé en ce que l'on fait traverser la couche isolante et le terminal par le bossage jusqu'à pénétrer dans le support.
12. Procédé selon l'une quelconque des revendications 1 à 11 , caractérisé en ce que le bossage est en or ou en alliage d'or.
13. Procédé selon l'une quelconque des revendications 1 à 12, caractérisé en ce que le support comporte au moins deux terminaux.
14. Procédé selon la revendication 13, caractérisé en ce que ces terminaux recouvrent entre 66% et 95% de la surface du support qui est en regard du composant électronique.
15. Procédé selon la revendication 13 ou la revendication 14, caractérisé en ce que la couche isolante, continue ou non, recouvre ces terminaux.
16. Procédé selon la revendication 15, caractérisé en ce que la couche isolante s'étend au moins sur la majeure partie de la surface du support qui est en regard du composant électronique lors de l'étape de mise en contact.
17. Procédé selon l'une quelconque des revendication 13 à 16, caractérisé en ce que les terminaux font partie d'une antenne formée sur le support, et la couche isolante couvre au moins la majeure partie de cette antenne.
18. Procédé selon l'une quelconque des revendications 1 à 17, caractérisé en ce que la couche isolante est en un vernis isolant.
19. Procédé selon la revendication 18, caractérisé en ce que ce vernis isolant est choisi en sorte d'avoir une énergie de polymérisation de moins de 1000 mJ/cm2, ce qui confère un faible retrait.
20. Procédé selon la revendication 19, caractérisé en ce que le vernis isolant a une énergie de polymérisation de l'ordre de 500 mJ/cm2.
21. Procédé selon l'une quelconque des revendications 1 à 20, caractérisé en ce que on dépose cette couche isolante par sérigraphie.
22. Procédé selon Tune quelconque des revendications 1 à 21 , caractérisé en ce que l'épaisseur de la couche isolante est comprise entre 5 et 25 microns, préférentiellement entre 10 et 15 microns.
23. Procédé selon l'une quelconque des revendications 1 à 22, caractérisé en ce que, avant ou après l'étape de mise en contact, on dépose une résine de remplissage en sorte de remplir l'espace compris entre le support, muni de ses terminaux et de la couche isolante, et le composant électronique.
24. Entité électronique comportant un composant électronique sur un support, ce support (30, 50, 50') comportant au moins un terminal (31 , 51, 51') et ce composant électronique (40, 60, 60') comportant des plots dont l'un au moins (41A), prédéterminé, est muni d'un bossage (42, 62, 62') connectant électriquement ce plot à ce terminal, caractérisée en ce que ce terminal est recouvert d'une couche isolante (32, 52, 52') traversée par le bossage.
25. Entité électronique selon la revendication 24, caractérisée en ce que le composant électronique est une puce électronique.
26. Entité électronique selon la revendication 24 ou la revendication 25, caractérisée en ce que le terminal s'étend en outre en regard d'un plot voisin du plot choisi, ce plot voisin étant dépourvu de bossage et étant séparé du terminal au moins par ladite couche isolante.
27. Entité électronique selon l'une quelconque des revendications 24 à 26, caractérisée en ce que le support est réalisé en un matériau fibreux.
28. Entité électronique selon la revendication 27, caractérisée en ce que le support est réalisé en un matériau à base de papier.
29. Entité électronique selon l'une quelconque des revendications 24 à 26, caractérisée en ce que le support est réalisé en une matière plastique.
30. Entité électronique selon l'une quelconque des revendications 24 à 29, caractérisée en ce que le support fait partie d'une pièce d'identité.
31. Entité électronique selon la revendication 30, caractérisée en ce que le support fait partie de la couverture d'un passeport.
32. Entité électronique selon l'une quelconque des revendications 24 à 31 , caractérisée en ce que ledit bossage a une forme qui se rétrécit à l'opposé du plot.
33. Entité électronique selon la revendication 32, caractérisée en ce que ledit bossage a la forme d'une boule qui comporte une portion en coin.
34. Entité électronique selon la revendication 33, caractérisée en ce que l'épaisseur du bossage, sans la portion en coin, est comprise entre 20 et 50 microns.
35. Entité électronique selon l'une quelconque des revendications 32 à 34, caractérisée en ce que le bossage traverse la couche isolante et le terminal jusqu'à pénétrer dans le support.
36. Entité électronique selon l'une quelconque des revendications 24 à 35, caractérisée en ce que le bossage est en or ou en alliage d'or.
37. Entité électronique selon l'une quelconque des revendications 24 à 36, caractérisée en ce que le support comporte au moins deux terminaux.
38. Entité électronique selon la revendication 37, caractérisée en ce que ces terminaux recouvrent entre 66% et 95% de la surface du support qui est en regard du composant électronique.
39. Entité électronique selon la revendication 37 ou la revendication
38, caractérisée en ce que la couche isolante, continue ou non, recouvre ces terminaux.
40. Entité électronique selon la revendication 39, caractérisée en ce que la couche isolante s'étend au moins sur la majeure partie de la surface du support qui est en regard du composant électronique.
41. Entité électronique selon l'une quelconque des revendication 37 à 40, caractérisée en ce que les terminaux font partie d'une antenne formée sur le support, et la couche isolante couvre au moins la majeure partie de cette antenne.
42. Entité électronique selon l'une quelconque des revendications 24 à 41 , caractérisée en ce que la couche isolante est en un vernis isolant.
43. Entité électronique selon la revendication 42, caractérisée en ce que ce vernis isolant a une énergie de polymérisation de moins de 1000 mJ/cm2.
44. Entité électronique selon la revendication 43, caractérisée en ce que le vernis isolant a une énergie de polymérisation de l'ordre de 500 mJ/cm2.
45. Entité électronique selon l'une quelconque des revendications 24 à 44, caractérisée en ce que cette couche isolante est déposée par sérigraphie.
46. Entité électronique selon l'une quelconque des revendications 24 à 45, caractérisée en ce que l'épaisseur de la couche isolante est comprise entre 5 et 25 microns, préférentiellement entre 10 et 15 microns.
47. Entité électronique selon l'une quelconque des revendications 24 à 46, caractérisée en ce que l'espace compris entre le support, muni de ses terminaux et de la couche isolante, et le composant électronique, est rempli d'une résine de remplissage.
PCT/FR2005/002266 2004-09-24 2005-09-13 Procede de montage d’un composant electronique sur un support de preference mou, et entite electronique ainsi obtenue, telle qu’un passeport WO2006035128A2 (fr)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US11/663,555 US7948764B2 (en) 2004-09-24 2005-09-13 Method for mounting an electronic component on a preferably soft support, and resulting electronic entity, such as a passport
EP05802474.6A EP1792528B8 (fr) 2004-09-24 2005-09-13 Procede de montage d'un composant electronique sur un support, de preference mou, et entite electronique ainsi obtenue, telle qu'un passeport
JP2007532919A JP2008515178A (ja) 2004-09-24 2005-09-13 好ましくは軟質の支持体上に電子コンポーネントを組立てる方法及びかくして得られたパスポートといった電子物品

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FR0410146A FR2875995B1 (fr) 2004-09-24 2004-09-24 Procede de montage d'un composant electronique sur un support, de preference mou, et entite electronique ainsi obtenue, telle q'un passeport
FR0410146 2004-09-24

Publications (2)

Publication Number Publication Date
WO2006035128A2 true WO2006035128A2 (fr) 2006-04-06
WO2006035128A3 WO2006035128A3 (fr) 2006-06-01

Family

ID=34951427

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/FR2005/002266 WO2006035128A2 (fr) 2004-09-24 2005-09-13 Procede de montage d’un composant electronique sur un support de preference mou, et entite electronique ainsi obtenue, telle qu’un passeport

Country Status (6)

Country Link
US (1) US7948764B2 (fr)
EP (1) EP1792528B8 (fr)
JP (1) JP2008515178A (fr)
CN (1) CN101044802A (fr)
FR (1) FR2875995B1 (fr)
WO (1) WO2006035128A2 (fr)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102007015817B4 (de) * 2007-03-30 2011-11-10 W.C. Heraeus Gmbh Systemträgerband für elektronische Bauteile
US7768812B2 (en) 2008-01-15 2010-08-03 Micron Technology, Inc. Memory cells, memory cell programming methods, memory cell reading methods, memory cell operating methods, and memory devices

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5928458A (en) * 1994-08-12 1999-07-27 Fraunhofer-Gesellschaft Zur Forderung Der Angewandten Forschung E.V. Flip chip bonding with non conductive adhesive
FR2779255A1 (fr) * 1998-05-27 1999-12-03 Gemplus Card Int Procede de fabrication d'un dispositif electronique portable comportant au moins une puce de circuit integre
US6281048B1 (en) * 1998-04-30 2001-08-28 Schlumberger Systemes Method of making an electronic component, and an electronic component
EP1167068A1 (fr) * 1999-10-08 2002-01-02 Dai Nippon Printing Co., Ltd. Support de donnees et puce de circuit integre sans contact

Family Cites Families (40)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4749120A (en) * 1986-12-18 1988-06-07 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Method of connecting a semiconductor device to a wiring board
JPH0369951A (ja) * 1989-08-10 1991-03-26 Oriental Photo Ind Co Ltd 感光体および多色画像形成方法
EP0524786B1 (fr) * 1991-07-18 2009-02-18 Mitsui Chemicals, Inc. Compositions durcissables, gels aqueuses et procédé de leur préparation et applications de ces gels
ZA941671B (en) * 1993-03-11 1994-10-12 Csir Attaching an electronic circuit to a substrate.
US5667884A (en) * 1993-04-12 1997-09-16 Bolger; Justin C. Area bonding conductive adhesive preforms
DE69622412T2 (de) * 1995-08-29 2003-03-20 Minnesota Mining & Mfg Verfahren zur herstellung einer elektronischen anordnung mit klebeverbindung mittels eines nachgiebigen substrats
JPH10178145A (ja) * 1996-12-19 1998-06-30 Texas Instr Japan Ltd 半導体装置及びその製造方法並びに半導体装置用絶縁基板
EP1448033A1 (fr) * 1996-12-27 2004-08-18 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Procedé et dispositif pour monter des composants électroniques sur une plaquette de circuit
US5975408A (en) * 1997-10-23 1999-11-02 Lucent Technologies Inc. Solder bonding of electrical components
JPH11328355A (ja) * 1998-05-20 1999-11-30 Dainippon Printing Co Ltd Ｉｃカード用ｉｃモジュール
US6189208B1 (en) * 1998-09-11 2001-02-20 Polymer Flip Chip Corp. Flip chip mounting technique
JP2000315705A (ja) * 1999-04-30 2000-11-14 Toppan Forms Co Ltd Ｉｃベアチップの実装方法
CN1201383C (zh) * 1999-01-29 2005-05-11 松下电器产业株式会社 电子部件的安装方法、安装装置及电子部件装置
JP2000260819A (ja) * 1999-03-10 2000-09-22 Toshiba Corp 半導体装置の製造方法
US6483195B1 (en) * 1999-03-16 2002-11-19 Sumitomo Bakelite Company Limited Transfer bump street, semiconductor flip chip and method of producing same
US6410415B1 (en) * 1999-03-23 2002-06-25 Polymer Flip Chip Corporation Flip chip mounting technique
US6395124B1 (en) * 1999-07-30 2002-05-28 3M Innovative Properties Company Method of producing a laminated structure
JP2001175829A (ja) * 1999-10-08 2001-06-29 Dainippon Printing Co Ltd 非接触式データキャリアおよびｉｃチップ
US6362525B1 (en) * 1999-11-09 2002-03-26 Cypress Semiconductor Corp. Circuit structure including a passive element formed within a grid array substrate and method for making the same
TW512653B (en) * 1999-11-26 2002-12-01 Ibiden Co Ltd Multilayer circuit board and semiconductor device
FR2801707B1 (fr) * 1999-11-29 2002-02-15 A S K Procede de fabrication d'une carte a puce hybride contact- sans contact avec un support d'antenne en materiau fibreux
US6573610B1 (en) * 2000-06-02 2003-06-03 Siliconware Precision Industries Co., Ltd. Substrate of semiconductor package for flip chip package
JP3506233B2 (ja) * 2000-06-28 2004-03-15 シャープ株式会社 半導体装置及びその製造方法
JP3822040B2 (ja) * 2000-08-31 2006-09-13 株式会社ルネサステクノロジ 電子装置及びその製造方法
JP2002083832A (ja) * 2000-09-08 2002-03-22 Toppan Forms Co Ltd Ｉｃチップの固定方法
US6862189B2 (en) * 2000-09-26 2005-03-01 Kabushiki Kaisha Toshiba Electronic component, circuit device, method for manufacturing the circuit device, and semiconductor device
US6507119B2 (en) * 2000-11-30 2003-01-14 Siliconware Precision Industries Co., Ltd. Direct-downset flip-chip package assembly and method of fabricating the same
JP2002198395A (ja) * 2000-12-26 2002-07-12 Seiko Epson Corp 半導体装置及びその製造方法、回路基板並びに電子機器
JP3939504B2 (ja) * 2001-04-17 2007-07-04 カシオ計算機株式会社 半導体装置並びにその製造方法および実装構造
FR2826153B1 (fr) * 2001-06-14 2004-05-28 A S K Procede de connexion d'une puce a une antenne d'un dispositif d'identification par radio-frequence du type carte a puce sans contact
JPWO2003007370A1 (ja) * 2001-07-12 2004-11-04 株式会社日立製作所 配線ガラス基板およびその製造方法ならびに配線ガラス基板に用いられる導電性ペーストおよび半導体モジュールならびに配線基板および導体形成方法
US6927018B2 (en) * 2001-10-29 2005-08-09 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Three dimensional printing using photo-activated building materials
US7307119B2 (en) * 2002-08-01 2007-12-11 Electronics And Telecommunications Research Institute Thin film material using pentaerythritol acrylate for encapsulation of organic or polymeric light emitting device, and encapsulation method for LED using the same
US7023347B2 (en) * 2002-08-02 2006-04-04 Symbol Technologies, Inc. Method and system for forming a die frame and for transferring dies therewith
EP2062680A1 (fr) * 2002-08-07 2009-05-27 The Penn State Research Foundation Système et procédé pour monter et démonter une pièce de travail sur un accessoire de fabrication
JP4029697B2 (ja) * 2002-08-30 2008-01-09 王子製紙株式会社 Ｉｃチップ実装体
JP3625815B2 (ja) * 2002-11-12 2005-03-02 沖電気工業株式会社 半導体装置とその製造方法
US6774497B1 (en) * 2003-03-28 2004-08-10 Freescale Semiconductor, Inc. Flip-chip assembly with thin underfill and thick solder mask
TWI241702B (en) * 2003-07-28 2005-10-11 Siliconware Precision Industries Co Ltd Ground pad structure for preventing solder extrusion and semiconductor package having the ground pad structure
US7213739B2 (en) * 2004-04-02 2007-05-08 Fry's Metals, Inc. Underfill fluxing curative

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5928458A (en) * 1994-08-12 1999-07-27 Fraunhofer-Gesellschaft Zur Forderung Der Angewandten Forschung E.V. Flip chip bonding with non conductive adhesive
US6281048B1 (en) * 1998-04-30 2001-08-28 Schlumberger Systemes Method of making an electronic component, and an electronic component
FR2779255A1 (fr) * 1998-05-27 1999-12-03 Gemplus Card Int Procede de fabrication d'un dispositif electronique portable comportant au moins une puce de circuit integre
EP1167068A1 (fr) * 1999-10-08 2002-01-02 Dai Nippon Printing Co., Ltd. Support de donnees et puce de circuit integre sans contact

Also Published As

Publication number Publication date
JP2008515178A (ja) 2008-05-08
CN101044802A (zh) 2007-09-26
WO2006035128A3 (fr) 2006-06-01
FR2875995A1 (fr) 2006-03-31
EP1792528A2 (fr) 2007-06-06
FR2875995B1 (fr) 2014-10-24
EP1792528B8 (fr) 2014-08-20
US7948764B2 (en) 2011-05-24
US20090200064A1 (en) 2009-08-13
EP1792528B1 (fr) 2014-07-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP1062635B1 (fr) Procede de fabrication de cartes sans contact
EP0688051B1 (fr) Procédé de fabrication et d'assemblage de carte à circuit intégré.
EP2151010B1 (fr) Procédé de réalisation d'un dispositif comportant une antenne de transpondeur connectée à des plages de contact et dispositif obtenu
EP2339618B1 (fr) Procédé d'assemblage d'au moins une puce avec un élément filaire, puce électronique à élément de liaison déformable, procédé de fabrication d'une pluralité de puces, et assemblage d'au moins une puce avec un élément filaire
EP0753827A1 (fr) Procédé de production et d'assemblage de carte à circuit intégré et carte ainsi obtenue
EP3164908B1 (fr) Support d'antenne destiné à être integré dans un document électronique
EP3201842B1 (fr) Document électronique à extrémités d'antenne inclinées, support d'antenne pour un tel document électronique et procédé de fabrication d'un tel document
EP1846874B1 (fr) Procede de placement d'un ensemble electronique sur un substrat et dispositif de placement d'un tel ensemble
EP1076882B1 (fr) Carte a circuit integre comportant un bornier d'interface et procede de fabrication d'une telle carte
CA2541356C (fr) Procede de fabrication d'une carte a double interface, et carte a microcircuit ainsi obtenue
EP0972268B1 (fr) Procede de fabrication de carte sans contact avec connexion d'antenne par fils soudes
WO1998056019A1 (fr) Procede de fabrication de bobine pour transpondeurs et transpondeur fabrique selon ce procede
CA2120583C (fr) Objet portatif et procede de fabrication
WO2020212661A1 (fr) Module de capteur biométrique pour carte à puce et procédé de fabrication d'un tel module
EP1495442B1 (fr) Procede de conditionnement de microcircuits pour carte a puce et module ainsi obtenu
EP2002384B1 (fr) Dispositif radiofrequence
EP1792528B1 (fr) Procede de montage d'un composant electronique sur un support, de preference mou, et entite electronique ainsi obtenue, telle qu'un passeport
EP3317820B1 (fr) Document électronique tel qu'une carte à puce à métallisation réduite
EP1084482B1 (fr) Procede de fabrication d'une carte a circuit integre et carte obtenue
EP0688050A1 (fr) Procédé d'assemblage de carte à circuit intégré et carte ainsi obtenue
EP0915431B1 (fr) Carte à microcircuit et procédé de fabrication d'une telle carte
FR2938380A1 (fr) Couche support d'antenne filaire et/ou d'elements de connexion filaire pour carte a microcircuit
EP2738714A1 (fr) Procédé de fabrication de dispositif électrique ou électronique à interface d'alimentation ou de communication
WO2007077356A2 (fr) Procede de fabrication d'une carte a microcircuit, et carte a microcircuit associee
EP2341472A1 (fr) Procédé de réalisation par transfert d'un dispositif électronique comportant une interface de communication

Legal Events

Date Code Title Description
AK Designated states

Kind code of ref document: A2

Designated state(s): AE AG AL AM AT AU AZ BA BB BG BR BW BY BZ CA CH CN CO CR CU CZ DE DK DM DZ EC EE EG ES FI GB GD GE GH GM HR HU ID IL IN IS JP KE KG KM KP KR KZ LC LK LR LS LT LU LV MA MD MG MK MN MW MX MZ NA NG NI NO NZ OM PG PH PL PT RO RU SC SD SE SG SK SL SM SY TJ TM TN TR TT TZ UA UG US UZ VC VN YU ZA ZM ZW

AL Designated countries for regional patents

Kind code of ref document: A2

Designated state(s): GM KE LS MW MZ NA SD SL SZ TZ UG ZM ZW AM AZ BY KG KZ MD RU TJ TM AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR HU IE IS IT LT LU LV MC NL PL PT RO SE SI SK TR BF BJ CF CG CI CM GA GN GQ GW ML MR NE SN TD TG

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 2005802474

Country of ref document: EP

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 2007532919

Country of ref document: JP

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: DE

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 200580036099.X

Country of ref document: CN

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 11663555

Country of ref document: US

WWP Wipo information: published in national office

Ref document number: 2005802474

Country of ref document: EP