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    Patents

    1. Advanced Patent Search
    Publication numberDE4112695 A1
    Publication typeApplication
    Application numberDE19914112695
    Publication dateJul 2, 1992
    Filing dateApr 18, 1991
    Priority dateDec 21, 1990
    Also published asDE4112695C2, DE4112695C3
    Publication number19914112695, 914112695, DE 4112695 A1, DE 4112695A1, DE-A1-4112695, DE19914112695, DE4112695 A1, DE4112695A1, DE914112695
    InventorsHans J Dr Langer, Michel Cabrera
    ApplicantEos Electro Optical Syst
    Export CitationBiBTeX, EndNote, RefMan
    External Links: DPMA, Espacenet
    Verfahren und vorrichtung zum herstellen eines dreidimensionalen objekts
    DE 4112695 A1
    Claims(21)
    1. Verfahren zur Herstellung eines dreidimensionalen Ob­ jekts durch Verfestigen übereinanderliegender Schichten des Objekts, wobei auf einer bereits verfestigten Schicht eine nachfolgende Schicht aus zunächst flüssigem oder pulverförmigem, durch Lichteinwirkung oder dgl. verfestigbarem Material entsprechend der Form des Ob­ jekts verfestigt wird, dadurch gekennzeichnet, daß die Oberfläche und/oder die Kontur des Objekts gemessen und das Meßergebnis mit vor­ gegebenen Daten des Objekts verglichen wird und daß aus dem Vergleich Korrekturwerte für die Herstellung ermit­ telt werden.
    2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Oberflächenmessung dadurch erfolgt, daß auf die Oberfläche ein erstes Modulationsmuster projiziert wird, die Oberfläche über ein zweites Modulationsmuster unter einem Winkel zur Projektionsrichtung betrachtet wird und aus dem sich durch die Überlagerung der beiden Modulationsmuster ergebenden Linienmuster Koordinaten der Oberfläche bestimmt werden.
    3. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Messung nach der Verfestigung einer Schicht erfolgt und die ermittelten Korrekturwerte bei der Verfestigung der nachfolgenden Schicht verwendet werden.
    4. Verfahren nach Anspruch 2 oder 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Verfestigung in einem Bad aus zumindest teilweise fluoreszierenden oder phos­ phoreszierenden Material erfolgt und die Messung des Ob­ jekts nach der Verfestigung einer Schicht im Bad selbst durchgeführt wird.
    5. Verfahren nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Projektion des Modula­ tionsmusters mittels Licht mit einer die Fluoreszenz oder Phosphoreszenz anregenden Wellenlänge und die Be­ trachtung in einem Wellenlängenbereich der Fluoreszenz- oder Phosphoreszenzstrahlung erfolgt.
    6. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch ge­ kennzeichnet, daß das Objekt nach dem Verfestigen einer Schicht aus einem Bad des verfestigbaren Materials ent­ fernt, behandelt und gemessen wird und danach die Her­ stellung mit dem Verfestigen der nächsten Schicht fort­ gesetzt wird.
    7. Verfahren nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß vor der Messung eine Behandlung des Objekts zur Erzeu­ gung einer diffus reflektierenden Oberfläche erfolgt.
    8. Verfahren nach Anspruch 6 oder 7, dadurch gekennzeichnet, daß das Objekt vor der Messung nachgehärtet wird.
    9. Verfahren nach einem der Ansprüche 2 bis 8, dadurch gekennzeichnet, daß vor der Verfestigung einer Schicht die Oberfläche der noch unverfestigten Schicht zur Feststellung von Unebenheiten gemessen wird.
    10. Verfahren nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, daß die Verfestigung erst frei­ gegeben wird wenn die Unebenheiten der Oberfläche unter einem vorgegebenen Schwellenwert liegen.
    11. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 10, dadurch gekennzeichnet, daß die Korrekturwerte mit den vorgege­ benen Daten zur Bestimmung von korrigierten Objektdaten für die Herstellung nachfolgender Objekte verknüpft wer­ den.
    12. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 11, dadurch ge­ kennzeichnet, daß die vorgegebenen Daten um den Betrag der Abweichung der gemessenen Daten von den vorgegebenen Daten an der entsprechenden Stelle verändert werden.
    13.Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, da­ durch gekennzeichnet, daß die vorgegebenen Daten als Da­ tensätze von einem Rechner an eine Steuervorrichtung zur Steuerung eines gebündelten Lichtstrahls ausgegeben wer­ den und daß die gemessenen Oberflächendaten an den Rech­ ner zur Korrektur der CAD-Daten übergeben werden.
    14. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 13, dadurch ge­ kennzeichnet, daß vor dem Verfestigen einer Schicht eine flüssige Schicht mit einer Dicke, die größer ist als die Dicke der zu verfestigenden Schicht, erzeugt wird und die Dicke der flüssigen Schicht danach auf ein der Dicke der zu verfestigenden Schicht entsprechendes Maß redu­ ziert wird.
    15. Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens nach An­ spruch 1, mit einer Vorrichtung (1, 2, 4) zum Erzeugen aufeinanderfolgender Schichten eines flüssigen oder pulverförmigen, durch Lichteinwirkung oder dgl. verfestigbaren Materials (2) und einer Vorrichtung (7) zum definierten Verfestigen jeder dieser Schichten ent­ sprechend der Form des herzustellenden Objekts, dadurch gekennzeichnet, daß eine Meßvorrichtung (14) zum Abtasten des Objekts und eine Vorrichtung (13) zum Ver­ gleich der Meßdaten mit vorgegebenen Daten der Schicht vorgesehen ist und daß die Meßvorrichtung (14) und die Vergleichsvorrichtung (13) mit der Verfestigungs­ vorrichtung (7) zur Steuerung derselben in Abhängigkeit von dem von der Meßvorrichtung (14) ermittelten Meßergebnis verbunden sind.
    16. Vorrichtung nach Anspruch 15, dadurch gekennzeichnet, daß die Meßvorrichtung (14) und die Verfestigungs­ vorrichtung (7) mit einem Rechner (13) verbunden sind, der Datensätze des Objekts erstellt, mit den von der Meßvorrichtung (14) gelieferten Oberflächendaten ver­ gleicht und daraus korrigierte Objektdaten ermittelt und die Verfestigungsvorrichtung (13) in Abhängigkeit der korrigierten Objektdaten steuert.
    17. Vorrichtung nach Anspruch 15 oder 16, dadurch gekenn­ zeichnet, daß die Meßvorrichtung (14) eine Vorrichtung (15, 16) zur Beleuchtung des Objekts, eine Aufnahmeein­ richtung (21) zur Betrachtung des Objekts unter einem Winkel zur Beleuchtungsrichtung, ein erstes Gitter (20) im Beleuchtungsweg und ein zweites Gitter (26) im Be­ trachtungsweg sowie eine mit der Aufnahmeeinrichtung verbundene Auswerteeinrichtung (13) aufweist.
    18. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 15 bis 17, dadurch gekennzeichnet, daß die Vorrichtung (1, 2, 4) zum Erzeugen aufeinanderfolgender Schichten ein mit flüssigem, lichthärtbarem Kunststoff (2) gefülltes Bad (1) und eine im Bad in Richtung senkrecht zur Oberfläche des Kunst­ stoffs bewegbare Trägerplatte (4) aufweist.
    19. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 15 bis 18, dadurch gekennzeichnet, daß die Verfestigungsvorrichtung (7) eine Lichtquelle (9) zur Erzeugung eines gebündelten Lichtstrahls (11) und eine Steuervorrichtung (12,13) zum Steuern der Position des Lichtstrahls (11) über die Flä­ che der zu verfestigenden Schicht und zur Einstellung der Intensität des Lichtstrahls aufweist.
    20. Vorrichtung nach Anspruch 18 oder 19, dadurch gekennzeichnet, daß die Meßvorrichtung (14) so angeordnet ist, daß sie die Oberfläche des Bades (1) abtastet.
    21. Vorrichtung nach Anspruch 20, gekennzeichnet durch eine mit der Meßvorrichtung (14) verbundene Vergleichsvorrichtung zum Vergleich der ge­ messenen Oberflächendaten mit vorgegebenen Werten und eine mit der Vergleichsvorrichtung und der Verfesti­ gungsvorrichtung (7) verbundene Freigabeeinrichtung zum Freigeben der Verfestigungsvorrichtung.
    Description

    Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung zur Herstellung eines dreidimensionalen Objekts nach dem Ober­ begriff des Anspruchs 1 bzw. des Anspruchs 15.

    Ein Beispiel für ein derartiges Verfahren ist unter dem Be­ griff "Stereographie" oder "Stereolithographie" bekannt und in dem Artikel von Hideo Kodama, "Automatic method for fabricating a three-dimensional plastic model with photo-hardening polymer", Rev.Sci.Instrum. 52(11), Nov. 1981, Seiten 1770 bis 1773, beschrieben. Bei einem derartigen Ver­ fahren tritt das Problem auf, daß eine Maßhaltigkeit des Objekts nicht gewährleistet ist. Der Grund hierfür liegt ins­ besondere darin, daß die einzelnen Schichten während der Her­ stellung beim Verfestigen eine Volumenänderung erfahren und damit Spannungen und Formänderungen des gesamten geschichte­ ten Aufbaus bewirken.

    Es ist daher Aufgabe der Erfindung, die Genauigkeit bei der Herstellung des Objekts zu verbessern.

    Diese Aufgabe wird durch das in Anspruch 1 gekennzeichnete Verfahren bzw. die in Anspruch 15 gekennzeichnete Vorrichtung gelöst.

    Gemäß einer vorteilhaften Ausgestaltung der Erfindung erfolgt die Oberflächenmessung des Objekts mittels einer Moir´-Tech­ nik, wie sie beispielsweise in der DE-OS 33 28 753 beschrie­ ben ist. Diese Meßtechnik hat den Vorteil, daß Ungenauigkei­ ten der verfestigten Oberfläche des Objekts schnell und berührungslos ermittelt werden können. Ein weiterer besonde­ rer Vorteil ergibt sich hierbei daraus, daß zur Steuerung der Verfestigungsvorrichtung, also der Lichtquelle oder dgl., üblicherweise ein Rechner vorgesehen ist, der aufgrund eines CAD-Konstruktionsprogrammes auch die Daten des herzustellen­ den Objekts ermittelt und dem nunmehr auch die gemessenen Oberflächendaten zur Auswertung zugeführt werden können, so daß dieser Rechner ebenfalls die Korrektur der Objektdaten aufgrund des Meßergebnisses übernehmen kann. Eine zusätzliche Auswerteeinrichtung ist also nicht erforderlich.

    Weitere Merkmale und Zweckmäßigkeiten der Erfindung ergeben sich aus der Beschreibung von Ausführungsbeispielen anhand der Figuren. Von den Figuren zeigen

    Fig. 1 eine schematische Ansicht einer ersten Ausführungs­ form einer Vorrichtung zur Durchführung des erfin­ dungsgemäßen Verfahrens; und

    Fig. 2 eine schematische Ansicht einer zweiten Ausfüh­ rungsform einer erfindungsgemäßen Vorrichtung.

    Fig. 1 zeigt einen Behälter 1, der mit einem lichthärtbaren, flüssigen Kunststoff 2 bis zu einem Niveau bzw. einer Ober­ fläche 3 gefüllt ist. Im Behälter befindet sich eine im we­ sentlichen ebene Trägerplatte 4, die parallel zum Niveau 3 bzw. der Oberfläche des Kunststoffs 2 angeordnet ist und mit­ tels einer Verschiebeeinrichtung 5 senkrecht zur Ebene des Niveaus 3 auf und ab verschoben und positioniert werden kann.

    Auf der Trägerplatte 4 befindet sich das Objekt 6, das aus einer Mehrzahl von Schichten 6a, 6b, 6c und 6d, die sich je­ weils parallel zum Niveau 3 erstrecken, in der später be­ schriebenen Weise aufgebaut wird.

    Eine Vorrichtung 7 zum Verfestigen der an die Oberfläche 3 angrenzenden obersten Schicht 6d enthält eine Beleuchtungs­ vorrichtung 8 mit einer Lichtquelle 9, die über eine Optik 10 einen gebündelten Lichtstrahl 11 auf die Oberfläche des Kunststoffs 2 richtet. Als Lichtquelle kommt je nach Art des verwendeten Kunststoffs eine UV-Lichtquelle, ein Laser oder an­ dere Lichtquellen in Frage. Eine Aufhängung bzw. Positionier­ vorrichtung 12 für die Vorrichtung 7 erlaubt die Bewegung und Schwenkung der Vorrichtung 7 derart, daß der gebündelte Lichtstrahl an jeder Stelle der Oberfläche 3 positioniert werden kann. Diese Positionierung erfolgt durch einen Rechner 13, der mit der Vorrichtung 7 verbunden ist. Zusätzlich kann über diese Ankopplung eine Einstellung der Intensität des Lichtstahls 11 über eine Helligkeitsregelung der Lichtquelle 9 erfolgen.

    Eine Meßvorrichtung 14 enthält einen mit einer Lichtquelle 15, z. B. einer Bogenlampe oder einem Laser, ausgerüsteten Projektor 16, der über eine Optik 17 ein Meßfeld 18 beleuch­ tet. An Stelle von Licht kann allerdings auch jede andere elektromagnetische Strahlung verwendet werden. Im Strahlen­ gang des Projektors 16 entlang der Projektionsrichtung 19 ist eine Modulationsvorrichtung in Form eines Projektionsgitters 20, das vorzugsweise als Strichgitter ausgebildet ist, oder eines Laserinterferometers zur Erzeugung eines Modulations­ musters angeordnet. Aufgrund der Divergenz des Strahlengangs führt das Strichgitter bzw. das Laserinterferometer zu einer Projektion räumlich divergierender Lichtebenen.

    Das Meßfeld 18 wird von einer Bildaufnahmeeinrichtung 21 un­ ter einer Betrachtungsrichtung 22, die einen Winkel zur Projektionsrichtung 19 einschließt, betrachtet. Die Bildauf­ nahmeeinrichtung 21 weist eine Kamera 23, vorzugsweise eine Video-, Fernseh- oder CCD-Kamera, sowie eine Betrachtungs­ optik 24 auf, mit der eine Scharfstellung auf eine im Meßfeld 18 angeordnete Oberfläche bzw. die in der später beschriebe­ nen Weise gebildete Oberfläche des Objekts 6 möglich ist. Im Betrachtungsstrahlengang 25 ist ein Referenzgitter 26 ange­ ordnet, das ebenfalls als Strichgitter ausgebildet ist. Die Ebene des Referenzgitters 26 ist vorzugsweise parallel zur Ebene des Projektionsgitters 20 bzw. des Laserinterferometers angeordnet.

    Die Bildaufnahmeeinrichtung 21 ist über eine Leitung 27 mit dem Rechner 13 gekoppelt. Ferner ist eine schematisch ange­ deutete Verschiebevorrichtung 28 vorgesehen, die mit dem Rechner 13 zur Verschiebung und Positionierung der Bildauf­ nahmeeinrichtung 21 in Richtung senkrecht zum betrachteten Meßfeld 18 verbunden ist.

    Im Betrieb werden zunächst im Rechner aufgrund eines Kon­ struktionsprogrammes oder dgl. Daten über die Form des Ob­ jekts 6 erstellt. Diese Daten werden für die Herstellung des Objekts 6 so aufbereitet, daß das Objekt in eine Vielzahl von horizontalen, im Vergleich zur Objektdimension dünnen Schich­ ten zerlegt wird und die Formdaten beispielsweise in Form von Datensätzen, z. B. CAD-Daten, für jede Schicht 6a...6d dieser Vielzahl von Schichten bereitgestellt werden. Die Erstellung und Aufbereitung der Daten für jede Schicht kann dabei vor der Herstellung oder auch gleichzeitig mit der Herstellung jeder Schicht erfolgen.

    Der Rechner 13 steuert dann die Verschiebeeinrichtung derart, daß die Trägerplatte 4 bis soweit unter die Oberfläche 3 des flüssigen Kunststoffs 2 angehoben wird, daß zwischen der Oberseite der Trägerplatte 4 und der Oberfläche 3 eine flüs­ sige Schicht des Kunststoffs mit einer der ersten Schicht 6a des Objekts entsprechenden Schichtdicke verbleibt. Anschlie­ ßend wird über die Positioniervorrichtung 12 die Beleuch­ tungsvorrichtung 8 so gesteuert, daß der Lichtstrahl 11 auf den im Rechner 13 erstellten und aufbereiteten Formdaten ent­ sprechenden Stellen der flüssigen Kunststoffschicht auf­ trifft. Durch die Einwirkung der Strahlung wird der Kunst­ stoff in bekannter Weise polymerisiert bzw. gehärtet, so daß sich die flüssige Schicht verfestigt.

    Nach der Herstellung der ersten Schicht 6a wird die Verschie­ beeinrichtung 5 vom Rechner so gesteuert, daß die Träger­ platte 4 um die Dicke der nächsten Schicht nach unten bewegt wird, so daß wiederum eine der Dicke der nächsten Schicht 6b entsprechende Schicht flüssigen Kunststoffs die Oberfläche der ersten Schicht 6a bedeckt. Die Verfestigung dieser Schicht 6b erfolgt in der gleichen Weise wie bei der ersten Schicht 6a. Durch anschließendes Abwärtsbewegen der Träger­ platte 4 und Verfestigen der nachfolgenden Schichten 6c, 6d wird das Objekt fertiggestellt.

    Nach der Herstellung wird das Objekt 6 nachbehandelt. Hierzu wird zunächst das Objekt von anhaftenden Resten flüssigen Kunststoffs befreit, beispielsweise durch Anblasen und Trock­ nen oder mittels geeigneter Lösungsmittel. Danach erfolgt, falls erforderlich, eine Nachhärtung durch Lichteinwirkung. Zur nachfolgenden Messung ist es ferner erforderlich, die Oberfläche so zu behandeln, daß sie matt bzw. diffus reflektierend ist. Dies kann durch Anätzen, Färben, Auftragen einer entsprechenden diffus reflektierenden Schicht oder ähn­ liche bekannte Mattierverfahren geschehen.

    Nach der Nachbehandlung erfolgt die Messung des Objekts 6. Hierzu wird das Objekt 6 in der im rechten Teil der Figur ge­ zeigten Weise auf einem Meßtisch 29 so positioniert, daß seine zu messende Oberfläche im Meßfeld 18 der Meßvorrichtung 14 liegt. Die Oberfläche wird mit dem Projektor 16 beleuchtet und mit der Bildaufnahmeeinrichtung 21 betrachtet, die zu diesem Zweck in ihrem Abstand von der Oberfläche des Objekts bzw. vom Meßtisch 29 justiert wird. Aufgrund der Überlagerung des projizierten Gitters bzw. Modulationsmusters 20 mit dem Referenzgitter 26 ergeben sich auf der Oberfläche Moir´-Li­ nien, die Höhenschichtlinien des Objekts 6 darstellen. Ein Bild dieses Linienmusters wird von der Bildaufnahmeeinrich­ tung 21 aufgenommen, die für jeden der beispielsweise 512×512 Abtastpunkte einen Grauwert an den Rechner 13 liefert. Dieser rechnet nach bekannten Verfahren (z. B. dem Phasen-Shift-Ver­ fahren; vgl. die DE-OS 33 28 753) die Grauwertverteilung in entsprechende Werte für die Höhe der Objektoberfläche an je­ der Meßstelle um, vergleicht sie mit einem Sollwert und er­ rechnet aus diesem Vergleich einen Korrekturwert, der zur Verwendung bei der Herstellung der nachfolgenden Objekte ab­ gespeichert wird.

    Bei der Herstellung nachfolgender gleicher Objekte 6 erfolgt nun eine Korrektur aufgrund der abgespeicherten Korrektur­ werte. Hierzu werden im Rechner 13 die zu den einzelnen CAD-Daten des Objekts 6 zugehörigen Korrekturwerte der Mes­ sung beispielsweise durch eine "best fit"-Analyse zugeordnet. Durch Verknüpfung dieser Korrekturwerte mit den zugehörigen CAD-Daten, beispielsweise durch entsprechende Berücksichti­ gung der festgestellten Formabweichung des Objekts in Be­ trachtungsrichtung 22 und in Richtung senkrecht dazu, werden vom Rechner 13 korrigierte CAD-Daten ermittelt und für die Herstellung des nächsten Objekts verwendet. Dies kann alternativ oder zusätzlich auch dadurch geschehen, daß bei­ spielsweise die Schichtdicke der einzelnen Schichten 6a...6d durch Veränderung der Intensität des Lichtstrahls 11, z. B. durch entsprechende Veränderung der Leistung der Lichtquelle 9, oder veränderte Positionierung des Lichtstrahls 11 durch die Positioniervorrichtung 12 an den Stellen, an denen ein vom Sollwert abweichendes Maß des Objekts 6 festgestellt wurde derart verändert wird, daß dort die Form und Kontur des Objekts wieder einem Sollwert entspricht. Ebenso ist eine Korrektur der Konturmaße bei der Herstellung des nächsten Ob­ jekts möglich.

    Das beschriebene Verfahren erlaubt somit eine Korrektur der Herstellung des Objekts in Form eines geschlossenen Regel­ kreises, die außer den primären Formänderungsursachen, näm­ lich den durch die Volumenänderung bzw. Schrumpfung beim Verfestigen und/oder Nachhärten auftretenden Spannungen und Formänderungen, sämtliche Ungenauigkeiten wie z. B. Justier­ fehler der Beleuchtungsvorrichtung, Unregelmäßigkeiten des Kunststoffs, Schwankungen in der Höheneinstellung der Träger­ platte etc. berücksichtigt.

    Bei der in Fig. 2 gezeigten Vorrichtung sind der Fig. 1 entsprechende Teile mit den gleichen Bezugszeichen versehen. Diese Vorrichtung unterscheidet sich von der nach Fig. 1 im wesentlichen dadurch, daß die Meßvorrichtung 14 so mit der Verfestigungsvorrichtung 7 kombiniert ist, daß das Meßfeld 18 in der Oberfläche 3 im Bereich der zu verfestigenden Schich­ ten des Objekts 6 liegt. Um die bei der Moir´-Messung stö­ rende spiegelnde Reflexion an der Oberfläche 3 zu vermeiden, wird die Moir´-Messung mit Fluoreszenz- oder Phosphoreszenz- Strahlung durchgeführt. Zu diesem Zweck besitzt der Kunst­ stoff 2 eine fluoreszierende oder phosphoreszierende Eigen­ schaft bzw. ein Farbstoff mit einer derartigen Eigenschaft ist dem Kunststoff 2 zugemischt, und die Beleuchtung durch die Lichtquelle 15 erfolgt mit einer die Fluoreszenz oder Phosphoreszenz anregenden Wellenlänge. Beispielsweise kann hierfür eine UV-Lichtquelle oder in der in Fig. 2 gezeigten Weise ein nur oder bevorzugt die Anregungswellenlänge, bei­ spielsweise UV-Strahlung, durchlassendes Filter 29 im Be­ leuchtungsstrahlengang vorgesehen sein. Entsprechend ist im Betrachtungsstrahlengang 25 ein Filter 30 vorgesehen, das nur oder bevorzugt die Fluoreszenz- oder Phosporeszenzstrahlung des Kunststoffs oder Farbstoffs passieren läßt.

    Mit der Vorrichtung nach Fig. 2 wird zunächst nach der Verfestigung einer Schicht und dem darauffolgenden Absenken der Trägerplatte um ein der nächsten Schichtdicke entspre­ chendes Maß die Oberfläche des noch flüssigen Kunststoffs ge­ messen und mit im Rechner 13 gespeicherten Werten verglichen. Diese Messung wird in kurz aufeinanderfolgenden Zeitabschnit­ ten wiederholt, bis im Rechner festgestellt wird, daß die Schichtdicke der flüssigen Schicht und ihre Unebenheiten in­ nerhalb der vorgegebenen Toleranzwerte liegt. Dann wird die Verfestigung einer Schicht freigegeben, die in gleicher Weise wie bei der Vorrichtung nach Fig. 1 erfolgt. Dies hat den Vorteil, daß jeweils die kürzestmögliche Wartezeit vor dem Verfestigen bestimmt und eingehalten werden kann. Zur Be­ schleunigung kann zusätzlich und vor oder nach der Messung der Oberfläche der flüssigen Schicht eine Absenkung der Trä­ gerplatte 4 unter das der nächsten Schicht entsprechende Niveau erfolgen und die sich damit einstellende dickere flüs­ sige Schicht mit einer (nicht gezeigten) Wischvorrichtung, die horizontal über die Oberfläche 3 bewegt wird, auf das korrekte Maß reduziert werden.

    Im Unterschied zur Ausführungsform nach Fig. 1 wird das Ob­ jekt 6 zur Messung nicht aus dem Kunststoffbad 2 herausgenom­ men, sondern die Messung der verfestigten Oberfläche und der Kontur der Schicht erfolgt direkt im Bad selbst an der Ober­ fläche 3, vorzugsweise jeweils nach dem Verfestigen einer Schicht. Dies ist möglich, weil die angeregte Fluoreszenz­ oder Phosphoreszentstrahlung des Kunststoffs diffus abstrahlt und durch das Filter 30 die spiegelnden Strahlungsanteile ausgeblendet werden. Der Zeitaufwand für die Nachbehandlung des Objekts 6 vor der Messung entfällt damit. Ferner wird er­ findungsgemäß eine bei der Messung der Schicht festgestellte Unregelmäßigkeit der Oberfläche oder der Kontur der Schicht direkt an den Rechner übermittelt, der daraufhin die Form­ daten der nachfolgenden Schicht zum Ausgleich dieser Abwei­ chungen entsprechend korrigiert, so daß eine Korrektur des Ob­ jekts 6 selbst und nicht nur eine Korrektur nachfolgender gleicher Objekte möglich ist.

    Abwandlungen der beschriebenen Vorrichtungen und Verfahren sind möglich. So kann beispielsweise die Verfestigung des Kunststoffs abhängig von dessen Eigenschaften auch durch jede andere Form von elektromagnetischer Strahlung, durch Wärme oder chemische Einwirkung oder durch deren Kombination erfol­ gen. Die Schichtdicke des flüssigen Kunststoffs vor der Verfestigung kann anstatt durch Absenken der Trägerplatte 4 auch durch entsprechend veränderliche Einstellung bzw. ein Anheben des Niveaus 3 mittels Pumpen, Verdrängern oder dgl. bei feststehender Trägerplatte oder durch Aufbringen einer definierten Schichtdicke auf der verfestigten Oberfläche bei­ spielsweise durch Aufsprühen erfolgen. Die Messung der Oberflächenkoordinaten kann auch mit anderen bekannten opti­ schen Verfahren wie z. B. der Laserinterferometrie oder der Laserabtastung mittels phasenmodulierter Laufzeitverfahren (Laserradar) erfolgen. Der Meßtisch kann ferner kardanisch so aufgehängt sein, daß er eine Betrachtung und Messung des Ob­ jekts 6 von allen Seiten ermöglicht. Ferner ist es auch bei der Vorrichtung nach Fig. 1 möglich, die Meßvorrichtung 14 in die Herstellung zu integrieren. Hierzu ist die Meßvorrichtung 14 so angeordnet, daß sie das Objekt 6 in ei­ ner Stellung messen kann, in der dieses durch die Träger­ platte 4 aus dem Bad des Kunststoffs 2 über die Oberfläche 3 hinausgehoben ist. In diesem Fall erübrigt sich der Transport des Objekt von der Trägerplatte 4 zum Meßtisch 29.

    Die Erfindung ist auch nicht auf flüssige Kunststoffe be­ schränkt. So können beispielsweise auch Kunststoff- oder Me­ tallpulver anstelle des flüssigen Kunststoffs verwendet wer­ den und durch Licht- oder Lasereinwirkung gesintert werden (Lasersintern).

    Die Erfindung erlaubt somit eine genaue Herstellung von Mo­ dellen und Werkstücken durch Modellierung mittels Licht- oder Lasereinwirkung. Besonders vorteilhaft ist dabei die Herstel­ lung von größeren Serien, da dann die Maßkorrektur nur einmal zu Beginn bzw. wenige Male zwischendurch erfolgen muß.

    Patent Citations
    Cited PatentFiling datePublication dateApplicantTitle
    EP0171069A2 *Aug 6, 1985Feb 12, 19863D SYSTEMS, INC. (a California corporation)Stereolithographische Vorrichtung und Verfahren zur Herstellung von dreidimensionalen Gegenständen
    EP0250121A2 *Jun 2, 1987Dec 23, 1987Cubital Ltd.Gerät zur Entwicklung dreidimensionaler Modelle
    EP0361847A2 *Sep 26, 1989Apr 4, 19903D Systems, Inc.Auftragen von stereolithographischen Schichten
    GB2233928A * Title not available
    US4132575 *Sep 16, 1977Jan 2, 1979Fuji Photo Optical Co., Ltd.Method of producing three-dimensional replica
    US4575330 *Aug 8, 1984Mar 11, 1986Uvp, Inc.Apparatus for production of three-dimensional objects by stereolithography
    US4915757 *May 5, 1988Apr 10, 1990Spectra-Physics, Inc.Creation of three dimensional objects
    Non-Patent Citations
    Reference
    1 *3D Systems' SLA 250 User's Reference Manual, April 1989, pp. 9-13
    2 *BEYOND PROTOTYPES USING STEREOLITHOGRAPHY FOR PRO-DUCTION-QUALITY PARTS, by Frost Prioleau, presen- ted at the National Conference on Rapid Prototy- ping in Dayton, Ohio, June 5, 1990 and published in the Conference Proceedings, pp. 145-147
    3 *Solid Object Generation, A.J. Herbert, August 1982, Journal of Applied Photographic Engineering,pp. 185-188
    4 *STEREOLITHOGRAPHY PROTOTYPES: "BEYOND SHOW AND TELL", by Chris J. Borman, The National Conferen- ce on Rapid Prototyping in Dayton, Ohio, June 4-5,1990, Conference Proceedings, pp. 139-142
    Referenced by
    Citing PatentFiling datePublication dateApplicantTitle
    DE19632563A1 *Aug 13, 1996Jul 10, 1997Deutsche Telekom AgVerfahren und Vorrichtung zur Herstellung strukturierter lambda/4-Plättchen, Spiegel, Gitter und Prismen auf dreidimensionalen Flächen
    DE19906564A1 *Feb 17, 1999Aug 31, 2000Peschges Klaus JuergenVerfahren zur Herstellung von dreidimensionalen Gegenständen mittels Stereolithographie
    DE19906564C2 *Feb 17, 1999Jan 25, 2001Peschges Klaus JuergenVerfahren zur Herstellung von dreidimensionalen Gegenständen mittels Stereolithographie
    DE102008058177A1 *Nov 20, 2008Jun 24, 2010Eos Gmbh Electro Optical SystemsVerfahren zur Identifizierung von Lasersinterpulvern
    DE102014117519A1 *Nov 28, 2014Jun 2, 2016Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V.Verfahren zur Herstellung und Überprüfung von Werkstücken und Werkstück
    DE102014117519B4 *Nov 28, 2014Jun 9, 2016Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V.Verfahren zur Herstellung und Überprüfung von Werkstücken und Werkstück
    US5832415 *Sep 21, 1995Nov 3, 1998Eos Gmbh Electro Optical SystemsMethod and apparatus for calibrating a control apparatus for deflecting a laser beam
    US6232046Aug 24, 1996May 15, 2001Deutsche Telekom AgProcess for improving the contrast in the structure of 3-dimensional surfaces
    US6291139Aug 24, 1996Sep 18, 2001Deutsche Telekom AgProcess for fabricating three-dimensional polymer layer structures
    US8784721Nov 25, 2008Jul 22, 2014Eos Gmbh Electro Optical SystemsMethod of manufacturing three-dimensional objects by laser sintering
    WO1996012217A1 *Sep 21, 1995Apr 25, 1996Eos Gmbh Electro Optical SystemsVerfahren und vorrichtung zum kalibrieren einer steuerung zur ablenkung eines laserstrahls
    WO2009068165A1 *Nov 7, 2008Jun 4, 2009Eos Gmbh Electro Optical SystemsVerfahren zum herstellen eines dreidimensionalen objekts mittels lasersintern
    WO2012069037A3 *Nov 10, 2011Dec 20, 2012Mtu Aero Engines GmbhVerfahren zum schichtweisen herstellen eines bauteils sowie vorrichtung
    Classifications
    International ClassificationG03F7/00, B29C67/00, B29C35/08, B44B1/02, G01S17/36, G03C9/08
    Cooperative ClassificationG03F7/0037, B29C67/0066
    European ClassificationG03F7/00S, B29C67/00R2D2
    Legal Events
    DateCodeEventDescription
    Jul 2, 1992OP8Request for examination as to paragraph 44 patent law
    May 19, 1993D2Grant after examination
    Oct 28, 19938363Opposition against the patent
    May 28, 19988366Restricted maintained after opposition proceedings
    Jul 23, 1998D4Patent maintained restricted
    Jul 23, 19988305Restricted maintenance of patent after opposition
    Feb 9, 20068339Ceased/non-payment of the annual fee